JPS5821859B2 - フリツプ.フロツプカイロ - Google Patents
フリツプ.フロツプカイロInfo
- Publication number
- JPS5821859B2 JPS5821859B2 JP49055750A JP5575074A JPS5821859B2 JP S5821859 B2 JPS5821859 B2 JP S5821859B2 JP 49055750 A JP49055750 A JP 49055750A JP 5575074 A JP5575074 A JP 5575074A JP S5821859 B2 JPS5821859 B2 JP S5821859B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transistor
- enhancement
- type
- flip
- flop
- Prior art date
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- Expired
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、フリップ・フロップ回路、特にエンハンスメ
ント・デプレッション形フリップ・フロップにおいて、
負荷側となるデプレッション形トランジスタとして暗電
流を供給し得る状態に保持し、消費電力を減少したクリ
ップ・フロップ回路に関するものである。
ント・デプレッション形フリップ・フロップにおいて、
負荷側となるデプレッション形トランジスタとして暗電
流を供給し得る状態に保持し、消費電力を減少したクリ
ップ・フロップ回路に関するものである。
この種のフリップ・フロップを用いるMOSメモリにお
い、では、一般にスタテック・タイプとダイナミック・
タイプとが知られる。
い、では、一般にスタテック・タイプとダイナミック・
タイプとが知られる。
この場合前者は消費電力が犬となる欠点をもち、後者は
消費電力が小さくて済む利点をもつが所定時間内に情報
を再書込みすることが必要となる。
消費電力が小さくて済む利点をもつが所定時間内に情報
を再書込みすることが必要となる。
このことからスタテック・タイプのもとて消費電力を軽
減する方策が望まれる。
減する方策が望まれる。
まだスタテック・タイプのフリップ・フロップヲ構成ス
ル場合、エンハンスメント・エンハンスメント形のフリ
ップ・フロップとエンハンスメント・デプレッション形
のフリップ・フロップとが考慮されるが、前者の場合負
荷側に接続されるエンハンスメント形トランジスタのだ
めにドライバ側ソース電圧が閾値電圧分だけ小さくなる
欠点をもつ。
ル場合、エンハンスメント・エンハンスメント形のフリ
ップ・フロップとエンハンスメント・デプレッション形
のフリップ・フロップとが考慮されるが、前者の場合負
荷側に接続されるエンハンスメント形トランジスタのだ
めにドライバ側ソース電圧が閾値電圧分だけ小さくなる
欠点をもつ。
本発明は、上記の点を考慮して、エンハンスメント・デ
プレッション形のフリップ・フロッフニおいて消費電力
を減少することを目的としており、本発明のクリップ・
フロップ回路はゲートとドレインヲ交差接続した1対の
エンハンスメント形MO8)ランジスタト、該エンハン
スメント形MO8)ランジスタのドレインと電源(■D
D)との間に負荷として動作すべく挿入されたデプレッ
ション形MO8)ランジスタをそれぞれ設けてなるエン
ハンスメント・デプレッション形フリップ・フロップに
おいて、該デプレッション形MO8)ランジスタのゲー
トに所定の電圧を印加し該トランジスタを暗電流を供給
する状態に保持せしめて、オン状態にある側のエンハン
スメント形MO8)ランジスタに導通状態を維持せしめ
たことを特徴としている。
プレッション形のフリップ・フロッフニおいて消費電力
を減少することを目的としており、本発明のクリップ・
フロップ回路はゲートとドレインヲ交差接続した1対の
エンハンスメント形MO8)ランジスタト、該エンハン
スメント形MO8)ランジスタのドレインと電源(■D
D)との間に負荷として動作すべく挿入されたデプレッ
ション形MO8)ランジスタをそれぞれ設けてなるエン
ハンスメント・デプレッション形フリップ・フロップに
おいて、該デプレッション形MO8)ランジスタのゲー
トに所定の電圧を印加し該トランジスタを暗電流を供給
する状態に保持せしめて、オン状態にある側のエンハン
スメント形MO8)ランジスタに導通状態を維持せしめ
たことを特徴としている。
以下図面を参照しつつ説明する。第1図は従来のエンハ
ンスメント・デプレッション形フリップ・フロップ回路
の一例、第2図は本発明の詳細な説明する特性図、第3
図は本発明によるフリップ・フロップ回路の一実施例、
第4図ハエンハンスメント形トランジスタと本発明によ
るデプレッション形トランジスタとの組合わせ図f:通
常のエンハンスメント・デプレッション形ゲートとして
使用する回路構成を示す。
ンスメント・デプレッション形フリップ・フロップ回路
の一例、第2図は本発明の詳細な説明する特性図、第3
図は本発明によるフリップ・フロップ回路の一実施例、
第4図ハエンハンスメント形トランジスタと本発明によ
るデプレッション形トランジスタとの組合わせ図f:通
常のエンハンスメント・デプレッション形ゲートとして
使用する回路構成を示す。
第1図においてQl、Q3は夫々ドライバとなるエンハ
ンスメント形トランジスタ、Q2.Q4は夫夫ロードと
なるデプレッション形トランジスタを表わし、各トラン
ジスタの特性を■。
ンスメント形トランジスタ、Q2.Q4は夫夫ロードと
なるデプレッション形トランジスタを表わし、各トラン
ジスタの特性を■。
−J’:%性で示すと第3図においてQl、Q3および
Q2.Q4として図示されている。
Q2.Q4として図示されている。
今トランジスタQ3かオンされトランジスタQ1がオフ
状態にあるとすると点Aの電位は第2図においてV2
レベルにあり、トランジスタQ1はオフ状態に保たれる
が、一方トランジスタQ4のドレーン電流は■2 とな
る。
状態にあるとすると点Aの電位は第2図においてV2
レベルにあり、トランジスタQ1はオフ状態に保たれる
が、一方トランジスタQ4のドレーン電流は■2 とな
る。
このために消費電力はVDD・■2 となり、MOSメ
モリを構成する。
モリを構成する。
場合1ビット当りVDD・■2 ワットを必要とする。
しかシ、このエンハンスメント・デプレッション形フリ
ップ・フロップの場合、トランジスタQ1は完全にオフ
状態にあるので、点Bの電位はドレーン電圧VDDがそ
のまま印加され、ドライノ℃トランジス4りQ3αンピ
ーグンスを小さくできる利点をそなえている。
ップ・フロップの場合、トランジスタQ1は完全にオフ
状態にあるので、点Bの電位はドレーン電圧VDDがそ
のまま印加され、ドライノ℃トランジス4りQ3αンピ
ーグンスを小さくできる利点をそなえている。
なおロード側]のトランジスタQ2.Q4を夫々エンハ
ンスメント形トランジスタとし、エンハンスメント・エ
ンハンスメント形フリップ・フロップとした場合上記と
同様な状態のもとて点Bの電位はvDD−vthとなり
、第1図図示の場合にくらべてトランジスタQ4のイン
ピーダンスを小さくとれず、オン状態とオフ状態とのレ
ベル差が接近する欠点をもっている。
ンスメント形トランジスタとし、エンハンスメント・エ
ンハンスメント形フリップ・フロップとした場合上記と
同様な状態のもとて点Bの電位はvDD−vthとなり
、第1図図示の場合にくらべてトランジスタQ4のイン
ピーダンスを小さくとれず、オン状態とオフ状態とのレ
ベル差が接近する欠点をもっている。
本発明の場合、ロード側のデプレッション形トランジス
タQ2.Q4の特性に配慮を与え、消費電力を減少せし
めるようにしている。
タQ2.Q4の特性に配慮を与え、消費電力を減少せし
めるようにしている。
即ちイオン・インプランテーションでバルク濃度を制御
し、デプレッション形のトランジスタを製造するとき、
ドーズ(dose )量によって、トランジスタQ2゜
Q4の特性は第2図図示曲線Cの如くなり、Nチャンネ
ルの場合ゲート電圧を負にもって行くときドレイン電流
が完全にカット・オフされス暗電流が生ずるようになる
ことが知られている。
し、デプレッション形のトランジスタを製造するとき、
ドーズ(dose )量によって、トランジスタQ2゜
Q4の特性は第2図図示曲線Cの如くなり、Nチャンネ
ルの場合ゲート電圧を負にもって行くときドレイン電流
が完全にカット・オフされス暗電流が生ずるようになる
ことが知られている。
これは、イオン・インプランテーションされた不純物濃
度分布のピーク点がバルク内部に存在することとなる事
実などから説明されている。
度分布のピーク点がバルク内部に存在することとなる事
実などから説明されている。
第3図は上記暗電流を生ずるように配慮されたデプレッ
ション形トランジスタQllQjを用いて消費電力を減
少しつつ、エンハンスメント・デプレッション形フリッ
プ・フロップのもつ利点全享受できるようにしている。
ション形トランジスタQllQjを用いて消費電力を減
少しつつ、エンハンスメント・デプレッション形フリッ
プ・フロップのもつ利点全享受できるようにしている。
図示Q、、Q3はエンハンスメント形トランジスタ、Q
2′、Q4′は特性に配慮を加えたデプレッション形ト
ランジスタを表わしている。
2′、Q4′は特性に配慮を加えたデプレッション形ト
ランジスタを表わしている。
この場合トランジスタQ2′、Q4′の夫々のソース電
位は共に、両トランジスタQ2′、Q4′が暗電流を供
給し得るレベルに保たれる。
位は共に、両トランジスタQ2′、Q4′が暗電流を供
給し得るレベルに保たれる。
このようにしたことにより、トランジスタQ3がオン状
態、トランジスタQ1がオフ状態にあるとするとき、デ
プレッション形トランンスタQ4′は暗電流レベルにあ
りドレーン電流は第2図図示の■1 に抑えられる。
態、トランジスタQ1がオフ状態にあるとするとき、デ
プレッション形トランンスタQ4′は暗電流レベルにあ
りドレーン電流は第2図図示の■1 に抑えられる。
−刃組3図図示の点Bの電位はドレーン電圧■DDと等
しい電位となり、トランジスタQ3のインピーダンスを
十分小さくできる。
しい電位となり、トランジスタQ3のインピーダンスを
十分小さくできる。
即ち、第3図図示の場合の消費電力はVDD・■1
となり、MOSメモリを構成する場合1ビット当りVD
D・11 ワットとなる。
となり、MOSメモリを構成する場合1ビット当りVD
D・11 ワットとなる。
この暗電流11は一般にμ△以下程度のものであること
から、MOSメモリ全体で大幅な電力節約となる。
から、MOSメモリ全体で大幅な電力節約となる。
第3図図示の如きデプレッション形トランジスタQ2′
tQ、’を製造するとき、同一基板上のデプレッション
形トランジスタも同じ特性をもつこととなるが、周辺回
路としてのゲート回路などに使用しても何んら特別の問
題は生じない。
tQ、’を製造するとき、同一基板上のデプレッション
形トランジスタも同じ特性をもつこととなるが、周辺回
路としてのゲート回路などに使用しても何んら特別の問
題は生じない。
第4図はゲート回路を示している。
第4図においてQlはエンハンスメント形トランジスタ
、Q2′は暗電流レベルをとるよう特性に配慮をカロえ
られたデプレッション形トランジスタを表わしている。
、Q2′は暗電流レベルをとるよう特性に配慮をカロえ
られたデプレッション形トランジスタを表わしている。
図示の場合トランジスタQ2′のソースはVout端子
に接続されている。
に接続されている。
このため、トランジスタQ2′のソースには少なくとも
正電位(Nチャンネルの場合)が印加され、通常の特性
のデプレッション形トランジスタの場合と同じレベルで
動作されることとなり、伺んら特別の問題は生じない。
正電位(Nチャンネルの場合)が印加され、通常の特性
のデプレッション形トランジスタの場合と同じレベルで
動作されることとなり、伺んら特別の問題は生じない。
以上説明した如く、本発明によればMOSメモリを構成
する場合にもスタアツク・タイプをとりながら消費電力
を十分小さくでき、またエンハンスメント・デプレッシ
ョン形の利点を享受できる。
する場合にもスタアツク・タイプをとりながら消費電力
を十分小さくでき、またエンハンスメント・デプレッシ
ョン形の利点を享受できる。
第1図は従来のエンハンスメント・デプレッション形フ
リップ・フロップ回路の一例、第2図は本発明の詳細な
説明する特性図、第3図は本発明によるクリップ・フロ
ップ回路の一実施例、第4図はエンハンスメント形トラ
ンジスタと本発明によるデプレッション形トランジスタ
との組合わせ回路ヲ通常ノエンハンスメント・デプレッ
ション形ゲートとして使用する回路構成を示す。 図中、Ql、Q2はエンハンスメント形トランジスタ、
Q2′+Q4′は暗電流レベルをとるよう配慮されたデ
プレッション形トランジスタを示す。
リップ・フロップ回路の一例、第2図は本発明の詳細な
説明する特性図、第3図は本発明によるクリップ・フロ
ップ回路の一実施例、第4図はエンハンスメント形トラ
ンジスタと本発明によるデプレッション形トランジスタ
との組合わせ回路ヲ通常ノエンハンスメント・デプレッ
ション形ゲートとして使用する回路構成を示す。 図中、Ql、Q2はエンハンスメント形トランジスタ、
Q2′+Q4′は暗電流レベルをとるよう配慮されたデ
プレッション形トランジスタを示す。
Claims (1)
- 1 ゲートとドレインを交差接続した1対のエンハンス
メント形MOSトランジスタト、該エンハンスメント形
MOSトランジスタのドレインと電源(■DD)との間
に負荷として動作すべく挿入されたデプレッション形M
O3)ランジスタをそれぞれ設けてなるエンハンスメン
ト・デプレッション形フリップ・フロップにおいて、該
デプレッション形MO8)ランジスタのゲートに所定の
電圧を剛力1し該トランジスタを暗電流を供給する状態
に保持せしめて、オン状態にある側のエンハンスメント
形MO8)ランジスタに導通状態を維持せしめたことを
特徴とするフリップ・フロップ回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP49055750A JPS5821859B2 (ja) | 1974-05-17 | 1974-05-17 | フリツプ.フロツプカイロ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP49055750A JPS5821859B2 (ja) | 1974-05-17 | 1974-05-17 | フリツプ.フロツプカイロ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS50147861A JPS50147861A (ja) | 1975-11-27 |
JPS5821859B2 true JPS5821859B2 (ja) | 1983-05-04 |
Family
ID=13007519
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP49055750A Expired JPS5821859B2 (ja) | 1974-05-17 | 1974-05-17 | フリツプ.フロツプカイロ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5821859B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4441168A (en) * | 1982-01-13 | 1984-04-03 | Sperry Corporation | Storage logic/array (SLA) circuit |
-
1974
- 1974-05-17 JP JP49055750A patent/JPS5821859B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS50147861A (ja) | 1975-11-27 |
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