JPS582112A - チップの整列装置 - Google Patents

チップの整列装置

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Publication number
JPS582112A
JPS582112A JP9705581A JP9705581A JPS582112A JP S582112 A JPS582112 A JP S582112A JP 9705581 A JP9705581 A JP 9705581A JP 9705581 A JP9705581 A JP 9705581A JP S582112 A JPS582112 A JP S582112A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chips
surface plate
lid
chip
gap
Prior art date
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Pending
Application number
JP9705581A
Other languages
English (en)
Inventor
Toru Fukuda
徹 福田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Proterial Ltd
Original Assignee
Hitachi Metals Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Metals Ltd filed Critical Hitachi Metals Ltd
Priority to JP9705581A priority Critical patent/JPS582112A/ja
Publication of JPS582112A publication Critical patent/JPS582112A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67793Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations with orientating and positioning by means of a vibratory bowl or track

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
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  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
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  • Feeding Of Articles To Conveyors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はチップの整列装置に関するものである。チップ
の表面及び裏面を加工する場合K 1個ずつり2ンプで
きない程、チップが小さい時は一般に第1図(平面図)
に示すようにチップ1を定盤上に整列させた後、61着
剤を塗布した別の定盤にて上方から圧着して移し替え、
同チップ1の加工を行なう方法が用いられている。
そしてチップ1を第1図に示すように定盤上に整列する
場合、従来においてはパーツ、フィーダから送り出され
るチップ1を定盤上に手作業にて整列させていた。この
場合チップ1が二重に重なり易く、そして重なった場合
はその都度手作業により重なったチップを落して一枚に
する修正作業を必要とした為作業能率が低下していた。
本発明の目的は従来の手作業による整列作業を解消して
、チップを別の加工定盤へ確実に移し替えが行なえるよ
うに自動的に整列定盤上へ整列させ1作業能率を向上さ
せることにある。
以下本発明の実施例について第2図〜第9図に基づき説
明する。
942図は斜視図、第3図は一部を断面にした側面図、
第4図は要部詳細図、第5図は第4図のJ −A矢視図
、第6図はチップの進行状態を示す図である。第7,8
図は第2図〜第6図図に示す実施例と別の実施例を示す
図である。第9図は第8図のB −B矢視図である。
第2.5図に訃いて2はチップ1を送や出すパーツ、フ
ィーダ、3は定盤4ヘチツプ1を搬送する振動シェード
、5は定盤4とによりチップ1を収容する為の間隙を形
成するよう支持具6にて上方へ支持した蓋である。なお
、定盤4と蓋5とで形成する間隙の高さはチップ1が二
重になるのを防ぐ為チップ1の厚さより若干大きくなっ
ている。7は振動シェード5から定盤4上へ落下したチ
ップ1を定盤4と蓋5とC形成する間隙へ向って前進さ
せ咳間隙にチップ1を収容して整列させる為の振−76
−ダ、9は定盤4上に整列したチップ1を加工定盤(図
示せず)へ移し替える為の移し替え装置である。
10は定盤4を振動フィーダ7へ搬送する装置。
11はチップ1を収容した定盤4を爪12にて係止し、
右方の移し替え装置9へ移送する定盤移送装置である。
第4図は蓋5の詳細断面図である。
蓋5の左端には空気供給源(図示せず)へ連結する空気
管13と該空気管13から導いた空気室14を設け、該
空気室14から蓋5の底へ矢印16の方向に空気を噴出
するように複数の空気孔15が貫かれている。第5図は
第4図0) 4−4矢視図である。
次に以上の構成からなる整列装置の作動について説明ス
る。パーツ、フィ一ダ2により送り出されたチップ1は
振動シェード5を鏝て、振動フィーダ7上の所定位置へ
搬送された定盤4上へ落下する。落下したチップ1は振
動フィーダ7により定盤4上を前進し定盤4と蓋5とで
形成する間隙へ至り1間隙全面に整列される。
その後パーツ、フィーダ2及び振動シェード3は稼動を
停止する。以上の整列過程においてチップ1d$6図に
示すように振動フィーダ7の振動によシ定盤4の上面を
浮上ったり落下したり交互に繰り返しながら前記間隙へ
向って前進する。従って後方のチップが前方のチップ・
へ重なり前記間隙の入口で図示の様につかえて通過でき
なくなも場合が生じる。又チップ1の厚みのバラツキが
原因で間隙の入口で二枚に重なったチップを噛み込む場
合がある。このようfc!なったチップを空気孔15か
ら間歇的に噴出される空気圧にて吹き飛ばし後退させて
、一枚になるように修正した後再前進させ前記間隙へ整
列させる。そして一定時間後チップ1が前記間隙へ充填
されて整列された後パーツ、フィーダ2及び振動シー−
)5.1!動フイーダ7は稼動を停止する。そこで余分
のチップ1は定盤4上へ残されるが空気孔15から噴出
される空気圧にて第2.3図に示すシ為−ト8から定盤
4外へ至り、後にパーツ、フィーダ?、へ回収されるよ
うになっている。この後爪12を有する定盤移送装置1
1により整列済の定盤4を移し替え装置19へ移動させ
再び空の定盤4を定盤移送装置1GICより撮動フィー
ダ7上の所定位置へ移動させる。
この後同様の作動を繰9返して整列作業を行なう。  
     ・ 以上第2図〜第6図に示す実施例ではチップ1が定盤4
と蓋5と、で形成する間隙へ充填されて整列された後、
定盤4上へ残された余分のチップ1を空気孔15からの
噴出空気にて定盤4外へ排出する場合を示、すが、余分
のチップ1の量が多層場合、あるいはチップ1が重い場
合は第7図、第8図に示す実施例のように特別にチップ
1の除去装置を設ける必要かある。第9図は第8図のJ
t−J矢視図である。以下第7,8゜9図について説明
する。
第7図において1,4,5.7〜15は第1図〜第6図
の1.4,5.7−15と同−個所及び同一名称である
。1ノはチップ1が定盤4と蓋5とで形成する間隙全面
に整列された後、定盤4上の前記間隙外に、残りた余分
のチップ1をシーート8へ掻き落し除外する為に図示し
ない駆動装置により回転するブラシでありシリンダー1
8により斜め方向に昇降自在となっている。19は蓋5
t−昇降する為のシリンダーで上方(図示せず)へ支持
されている。
第8図はプラン17の作動を示す図である。第8図にお
いてチップ1の整列完了後、蓋5をシリンダー19によ
り上昇させ、その後ブラシ1ノを斜め上方よりシリンダ
ー1811Cて定盤4上のチップ1上まで下前せしめて
矢印20の方向へ回転させる。また同時に定盤4をシリ
ンダー(図示せず)に連設された爪12を有する定盤移
送装置11により移し替え装置9へ移動させる。このよ
うVC作動させることにより定盤4上のチップ1を回転
するブラシ17により掻き落してン為−ト8へ落下させ
る。掻き落し終了後ブラシ17は原位置へ復帰する。そ
の後定盤4を搬送装置10からa#7(−ダ7上の所定
位置へ移動させる。この後第2図〜第6図の実施例と同
様の整列作業を行なう。
以上の説明から明らかな通り本″発EJAKよる整列装
置fはパーツ、フィーダにより順次チップを定盤へ送り
出し、この定盤の上方へ蓋を設けてチップを収容し整列
させる為の間隙を形成し。
又該間隙の入口にて二枚に重なって噛込んだチップは前
記蓋に設けた孔からの空気噴出により修正後、前記間隙
へ整列させる。従って次のチップ移し替え装置で確実に
チップの移し替えができる状態に自動的に整列させるこ
とができる◎この為本発明は従来に比較して著しく作業
能率を向上させうる屯のである。なお実施例に示した定
盤の移送装置は他の種々の方式でも同様の効果が得られ
るものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は定盤上におけるチップの整列状態を示す平面図
、第2図〜第6図は本発明の一実施例を示し、第2図は
斜視図、第5図は一部を断面にした側面図、第4図は蓋
の要部断面図、第5図は第4図の4−4矢視図、第6図
はチップの進行状態を示す図である。第7図〜第9図は
本発明の他の実施例を示し、第9図は第8図のB−B矢
視図である。 1・・・チップ       2・・・パーツ、フィー
4・・・整列定盤      5・・・蓋7・・・振動
フィーダ    15・・・孔17・・・チップの除去
装置 0 第3図 才4図 才5図 オ6図 オフ図 jl f8図 @B

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 t チップの整列装置にシかてチップを送抄出すパーツ
    、フィーダと該パーツ、フィーダから送り出されたチッ
    プを収容する振動フィーダ上の整列定盤と骸整列定盤の
    上方へ設けて前記整列定盤とにより前記チップを収容し
    て整列する為の間隙を形成し、且つ前記チップの重なり
    を修正する為の複数個の空気噴出孔を設けた蓋とからな
    ることを特徴とするチップの整列装量。 2、特許請求の範囲第1項記載の装置において整列定盤
    の上方における蓋を昇降自在とし。 下降時に前記整列定盤とによりチップを収容する為の間
    隙を形成するよ5に設は且つ前記間隙の全面に前記チッ
    プを収容して整列後、前記整列定盤上の前記間隙外に残
    った前記チップの除去装置を設けたことを特徴とする装
    置。
JP9705581A 1981-06-23 1981-06-23 チップの整列装置 Pending JPS582112A (ja)

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JP9705581A JPS582112A (ja) 1981-06-23 1981-06-23 チップの整列装置

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JP9705581A JPS582112A (ja) 1981-06-23 1981-06-23 チップの整列装置

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JPS582112A true JPS582112A (ja) 1983-01-07

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ID=14181968

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JP9705581A Pending JPS582112A (ja) 1981-06-23 1981-06-23 チップの整列装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0306021A2 (en) * 1987-09-01 1989-03-08 Sumitomo Electric Industries Limited Chip mounting apparatus
CN102673989A (zh) * 2012-05-15 2012-09-19 东南大学 光纤适配器基座复合式自动上料装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5127266A (ja) * 1974-08-29 1976-03-06 Seiko Instr & Electronics Buhinseiretsusochi
JPS5539917B2 (ja) * 1977-02-02 1980-10-14

Patent Citations (2)

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