JPS58206908A - 仕上げ面の凹凸の検知方法 - Google Patents
仕上げ面の凹凸の検知方法Info
- Publication number
- JPS58206908A JPS58206908A JP9066582A JP9066582A JPS58206908A JP S58206908 A JPS58206908 A JP S58206908A JP 9066582 A JP9066582 A JP 9066582A JP 9066582 A JP9066582 A JP 9066582A JP S58206908 A JPS58206908 A JP S58206908A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ruggedness
- finished surface
- shadows
- optical filter
- pitch
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は仕上げ面の凹凸の検知方法Ｃ関するものである
。
。
従来、仕上げ面の仕上げ精度は「表面粗さ」を測定して
険知されるものである。しかしながら仕上げ面に比較的
滑らかでかつ大きな凹凸があるときは「表面粗さ」をも
って表現することは困難であり、又、測定も困難である
。このような比較的滑らかでかつ大きな凹凸が問題じな
る場合としては例えばガラス板、鉄板、プラスチック板
等を扱う場合が例として挙げられるが、これらの材料に
かかる支障があると印刷、塗装、精密な切削加工を行な
うときは所定の加工が行なわれず著しく製品の価値を損
なうものである。
険知されるものである。しかしながら仕上げ面に比較的
滑らかでかつ大きな凹凸があるときは「表面粗さ」をも
って表現することは困難であり、又、測定も困難である
。このような比較的滑らかでかつ大きな凹凸が問題じな
る場合としては例えばガラス板、鉄板、プラスチック板
等を扱う場合が例として挙げられるが、これらの材料に
かかる支障があると印刷、塗装、精密な切削加工を行な
うときは所定の加工が行なわれず著しく製品の価値を損
なうものである。
非常（二原始的な検知方法としては人間の眼による監視
があるか、絶えず材料を眺めていなければならず、検知
の速度、精度の点で難点がある。
があるか、絶えず材料を眺めていなければならず、検知
の速度、精度の点で難点がある。
或いは材料の表面に一定万回より光を照射し、その反射
光を検出することにより、凹凸のある丙所１：おける反
射光徽の変化を検知する方法もあるが、検知の精度を同
上するには反射先受元部を細かく（に設置する必要かあ
るし、叉、光反射性の低い材料には回かない。
光を検出することにより、凹凸のある丙所１：おける反
射光徽の変化を検知する方法もあるが、検知の精度を同
上するには反射先受元部を細かく（に設置する必要かあ
るし、叉、光反射性の低い材料には回かない。
本発明は上記従来技術の欠点を解消するため番：為され
たものであって、透明性基板の表面に一定ピッチの遮光
性の直線状の寺条が設けられていを光学フィルターを介
して平行光線を照射することを特徴とする仕上げ面の凹
凸の検知方法をその要旨とするものである 以下に本発明について詳細に説明する一第１図は本発明
において用いる光字フィルタ−を部分的（二拡大した平
面図であり、透明性基板１の表面に直線状の線条２が等
間隔（：無数に設けられている状態を示している。各線
条のピッチは２５４〜１０．１６馴であり、又、１ピツ
チにおける線条１本の巾は任意４二設定することができ
る。
たものであって、透明性基板の表面に一定ピッチの遮光
性の直線状の寺条が設けられていを光学フィルターを介
して平行光線を照射することを特徴とする仕上げ面の凹
凸の検知方法をその要旨とするものである 以下に本発明について詳細に説明する一第１図は本発明
において用いる光字フィルタ−を部分的（二拡大した平
面図であり、透明性基板１の表面に直線状の線条２が等
間隔（：無数に設けられている状態を示している。各線
条のピッチは２５４〜１０．１６馴であり、又、１ピツ
チにおける線条１本の巾は任意４二設定することができ
る。
上記における透明性基板および線条について次４二説明
する。
する。
６明性基板としては、通常の′光学フィルターの基板と
して用いられているものであればいずれでもよく、例え
ばガラス板又はプラスチック板若しくはプラスチックシ
ートを挙げることができる。又、上記におけるプラスチ
ックとじ又は、光透過率の高い、ポリエステル、ポリプ
ロピレン、ポリ刀−ボネート、ポリスチレン、ポリ塩化
ビニル、セルロースアセテート等の各償ツ旨を挙げるこ
とができる。
して用いられているものであればいずれでもよく、例え
ばガラス板又はプラスチック板若しくはプラスチックシ
ートを挙げることができる。又、上記におけるプラスチ
ックとじ又は、光透過率の高い、ポリエステル、ポリプ
ロピレン、ポリ刀−ボネート、ポリスチレン、ポリ塩化
ビニル、セルロースアセテート等の各償ツ旨を挙げるこ
とができる。
上記基板に設ける線条について次１：説明すると、該線
条は１イ）印刷手法により設けられたもの、（口１感光
性樹」旨を用いて設けたもの、（ハ）エツチングないし
はめつきにより設けたもの、（一基板表面の微細な溝に
塗料組成物を用いて充填したもの、１ホ１凸状に設けら
れた線条の表面に印刷、塗布手段により設けたもの等が
あり、更に精度が良く簡便なものとしてはｚｍ塩写具フ
ィルムや乾板にスキャナーを用いて焼付し現像して設け
たものがある。特にスキャナーを用いて設ける場合には
スキャナーの送りのピッチが一定であることを利用して
形成することができ、スキャナーの送りのピッチは４０
本／ａＸ程度が通常可能であるので充分達成しつる。父
、ピッチを一定にしておき、線条の巾を変える（＝はス
キャナーの露光ヘッド１：おけるピントをすらすことに
より行なえる。
条は１イ）印刷手法により設けられたもの、（口１感光
性樹」旨を用いて設けたもの、（ハ）エツチングないし
はめつきにより設けたもの、（一基板表面の微細な溝に
塗料組成物を用いて充填したもの、１ホ１凸状に設けら
れた線条の表面に印刷、塗布手段により設けたもの等が
あり、更に精度が良く簡便なものとしてはｚｍ塩写具フ
ィルムや乾板にスキャナーを用いて焼付し現像して設け
たものがある。特にスキャナーを用いて設ける場合には
スキャナーの送りのピッチが一定であることを利用して
形成することができ、スキャナーの送りのピッチは４０
本／ａＸ程度が通常可能であるので充分達成しつる。父
、ピッチを一定にしておき、線条の巾を変える（＝はス
キャナーの露光ヘッド１：おけるピントをすらすことに
より行なえる。
以上のような光学フィルターを介して仕上げ面に平行光
線を照射する。平行度の極めて心い光線ｌ用いるときは
光学フィルターと仕上げ面は離してもよいが、平行度が
充分でないときは光学フィルターと仕上げ面とを近づけ
、光源は光学フィルターより、出来るだけ螺子とよい。
線を照射する。平行度の極めて心い光線ｌ用いるときは
光学フィルターと仕上げ面は離してもよいが、平行度が
充分でないときは光学フィルターと仕上げ面とを近づけ
、光源は光学フィルターより、出来るだけ螺子とよい。
更（＝平行度をあまり考慮上下に行なえる万伝としては
、仕上げ面に光学フィルターを密番させておいて光を照
射する方法が挙げられる。
、仕上げ面に光学フィルターを密番させておいて光を照
射する方法が挙げられる。
仕上げ面に弗２図１＝示すように光学フィルター３を介
して平行光線４を照射すると、光学フィルターの表面≦
：設けられた一定ピッチの遮光性の線条Ｃ：よって影５
が生じ、影は仕上げ面６に到達する。従って仕上げ面に
凹凸が全くなければ影も又、一定ピツチの線条状じなる
。しかしながら、仕上げ面に凹凸があると影は凹凸に沿
うために、第３図に示すよう（：結果的Ｃ二凹凸部分で
は影のピッチが乱れたり、直線状から逸脱することにな
るので、凹凸の全くない箇所と比ｆ２すると影の見え万
が異なってくる。第３図は仕上げ［ｊ０６′（二凹部７
がある場合を例示する。
して平行光線４を照射すると、光学フィルターの表面≦
：設けられた一定ピッチの遮光性の線条Ｃ：よって影５
が生じ、影は仕上げ面６に到達する。従って仕上げ面に
凹凸が全くなければ影も又、一定ピツチの線条状じなる
。しかしながら、仕上げ面に凹凸があると影は凹凸に沿
うために、第３図に示すよう（：結果的Ｃ二凹凸部分で
は影のピッチが乱れたり、直線状から逸脱することにな
るので、凹凸の全くない箇所と比ｆ２すると影の見え万
が異なってくる。第３図は仕上げ［ｊ０６′（二凹部７
がある場合を例示する。
或いは第４図及び第５図に示すごとく仕上げ面にフィル
ターを密番させ、光の照射方向と影を観察する方向を街
整すると、成る、最も影の見えにくい位置が見い出せる
であろう。仕上げ面ｌ二凹凸がなければ影の見え万は、
仕上げ面を有する材料を収り替えても変わらない。しか
しながら、仕上げ面に凹凸があると影は正常な位置から
逸脱し、このため凹凸部のみ、フィルターの線条の影が
見えてくる。上記の説明でも明らかなように、本発明に
おいてはフィルターと平行光を用いることにより、仕上
げ面の凹凸はフィルターの線条の影の歪み（二なり、非
′ｇに視認しやすくなる。更に上記の例のごとく、影と
フィルターの線条とを干渉させると光学濃度の変化とし
て捉えることも可能になり、ビデオカメラとマイクロコ
ンピュータを用いて一定以上の凹凸を有する仕上げ材料
の検知の行なえることは容易に想到できよう。或いは又
、同一仕上げ面を照射角度の異なる平行光線で逐次＃４
射して得られる光学濃度の分布を解析することにより凹
凸の深さ若しくは高さをチェックすることも可能である
。
ターを密番させ、光の照射方向と影を観察する方向を街
整すると、成る、最も影の見えにくい位置が見い出せる
であろう。仕上げ面ｌ二凹凸がなければ影の見え万は、
仕上げ面を有する材料を収り替えても変わらない。しか
しながら、仕上げ面に凹凸があると影は正常な位置から
逸脱し、このため凹凸部のみ、フィルターの線条の影が
見えてくる。上記の説明でも明らかなように、本発明に
おいてはフィルターと平行光を用いることにより、仕上
げ面の凹凸はフィルターの線条の影の歪み（二なり、非
′ｇに視認しやすくなる。更に上記の例のごとく、影と
フィルターの線条とを干渉させると光学濃度の変化とし
て捉えることも可能になり、ビデオカメラとマイクロコ
ンピュータを用いて一定以上の凹凸を有する仕上げ材料
の検知の行なえることは容易に想到できよう。或いは又
、同一仕上げ面を照射角度の異なる平行光線で逐次＃４
射して得られる光学濃度の分布を解析することにより凹
凸の深さ若しくは高さをチェックすることも可能である
。
又、本発明Ｃおいて用いる光学フィルターの基板を可禰
性の材料、例えばプラスチックシート等で構成しておけ
ば、第６図に示すごとく２り元の曲面である円柱、円錐
の外側面や内側面における凹凸の検知も行なえるので便
利である。
性の材料、例えばプラスチックシート等で構成しておけ
ば、第６図に示すごとく２り元の曲面である円柱、円錐
の外側面や内側面における凹凸の検知も行なえるので便
利である。
以上の本発明の方法によれば仕上げ闇の凹凸の検知が容
易かつ確゛実であるので横町速度も迷く、光反射性の低
い仕上げ面にも適用しやすい。
易かつ確゛実であるので横町速度も迷く、光反射性の低
い仕上げ面にも適用しやすい。
なお、本発明の方法はビデオカメラ、′コンピュータと
組み合わせることにより凹凸検知の自動化に役Ｊつもの
である。
組み合わせることにより凹凸検知の自動化に役Ｊつもの
である。
知方法ヲ説明するための模式的な１ＩＴＩｔＩ図である
。 １・・・・・・・・・・・・逼明基板 ２・・・・・・・・・・・・線条 ３・・・・・・・・・・・・光学フィルター４・・・・
・−・・・・・先縁 ５・・・・・・・・・・・影 ６・・・・・・・・・・・・仕上げ面 第１図 才２図 特許出願人 大日本印刷株式会社 牙８図 才４図 す 牙δ図 オ６図
。 １・・・・・・・・・・・・逼明基板 ２・・・・・・・・・・・・線条 ３・・・・・・・・・・・・光学フィルター４・・・・
・−・・・・・先縁 ５・・・・・・・・・・・影 ６・・・・・・・・・・・・仕上げ面 第１図 才２図 特許出願人 大日本印刷株式会社 牙８図 才４図 す 牙δ図 オ６図
Claims (2)
- （１）透明性基板の表面に一定ピッチの遮光性の直線状
の線条が設けられている光学フィルターを介して平行光
線を照射することを特徴とする仕上げ面の凹凸の検知方
法。 - （２）光学フィルターのう明性基板は可撓性であること
を特徴とする特許請求の範囲第（１）項の方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9066582A JPS58206908A (ja) | 1982-05-28 | 1982-05-28 | 仕上げ面の凹凸の検知方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9066582A JPS58206908A (ja) | 1982-05-28 | 1982-05-28 | 仕上げ面の凹凸の検知方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58206908A true JPS58206908A (ja) | 1983-12-02 |
Family
ID=14004827
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9066582A Pending JPS58206908A (ja) | 1982-05-28 | 1982-05-28 | 仕上げ面の凹凸の検知方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58206908A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61147101A (ja) * | 1984-12-21 | 1986-07-04 | Machida Seisakusho:Kk | 対象物の面形状および距離の測定方法 |
| JPS61223605A (ja) * | 1985-03-29 | 1986-10-04 | Fuji Photo Film Co Ltd | 表面形状検査方法 |
| JPS6454338A (en) * | 1987-08-26 | 1989-03-01 | Toyota Motor Corp | Surface defect inspection instrument |
| US4895448A (en) * | 1988-01-13 | 1990-01-23 | Laird Richard P | Method and apparatus for determining the surface quality of an object |
| US5075562A (en) * | 1990-09-20 | 1991-12-24 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for absolute Moire distance measurements using a grating printed on or attached to a surface |
| US5075560A (en) * | 1990-09-20 | 1991-12-24 | Eastman Kodak Company | Moire distance measurements using a grating printed on or attached to a surface |
| US5311286A (en) * | 1992-04-01 | 1994-05-10 | Materials Technologies Corporation | Apparatus and method for optically measuring a surface |
-
1982
- 1982-05-28 JP JP9066582A patent/JPS58206908A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61147101A (ja) * | 1984-12-21 | 1986-07-04 | Machida Seisakusho:Kk | 対象物の面形状および距離の測定方法 |
| JPS61223605A (ja) * | 1985-03-29 | 1986-10-04 | Fuji Photo Film Co Ltd | 表面形状検査方法 |
| JPS6454338A (en) * | 1987-08-26 | 1989-03-01 | Toyota Motor Corp | Surface defect inspection instrument |
| US4895448A (en) * | 1988-01-13 | 1990-01-23 | Laird Richard P | Method and apparatus for determining the surface quality of an object |
| US5075562A (en) * | 1990-09-20 | 1991-12-24 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for absolute Moire distance measurements using a grating printed on or attached to a surface |
| US5075560A (en) * | 1990-09-20 | 1991-12-24 | Eastman Kodak Company | Moire distance measurements using a grating printed on or attached to a surface |
| US5311286A (en) * | 1992-04-01 | 1994-05-10 | Materials Technologies Corporation | Apparatus and method for optically measuring a surface |
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