JPS58200272A - 画像形成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子写真や静電記録等の手法により像担持体（
感光体・誘電体等）の面に静電潜像を形成し、その潜像
を可転写性像として現像し、その現像ｇｌを転写材面に
転写し、像転写を受けた転写材は像定着して複写物とし
て機外へ排出しｔ）１・転写部を通過した像担持体面は
クリー二／グ手段により転写残り像やシーズ付着物を除
去して像形成に繰り返し利用する。転写方式の画像形成
装置に係る。

便宜上第１図に転写方式電子写真複写機の一例の極く概
略の構成を示す。

１は軸１１　を中心に矢方向に所定一定速度で回転駆動
されるドラム型の電子写真感光体（以下ドラムと略記す
る）、２はそのドラム面を一様に帯電するコロナ放電器
、３はドラムの帯電面に複写すべき原稿（図に省略）の
光像を結像露光（スリット露光）する光学系で、この帯
電、露光によりドラム面に露光像バク−／に対応した静
電潜像が形成される。４は現像装置で、該装置によりド
ラム面の潜像がトナー像として現像される。５は転写用
コロナ放電器で、該放電器５とドラム１との間に給紙機
構６から選定したサイズ或は紙質の転写材Ｐ（Ｐ勺がド
ラム１の回転と同期どりされて給送され、その給送転写
材面にドラム面側の現像像が順次に転写される。像転写
を受けた転写材は分離チャージャー７によりドラム面か
ら順次に分離されて定着装置８に導入されて像定着を受
け。

複写物として核外へ排出される。転写材の分離されたド
ラム１面はクリーナ９（ブレード式１回転ブラシ式、ウ
ェブ式など）により転写残り像やルーズ付着物の除去が
なされて清浄化され、像形成に繰り返して使用される。

ところで上記のような転写方式画像形成装置に於てはド
ラム１面即ち像担持体面は像形成サイクル毎にクリーナ
９により、転写残り像、及びその他部担持体１面にルー
ズな付着汚染物（例えば転写材から遊離した小さな紙片
拳繊維片、空気中浮遊塵など）の除去処理がなされて清
浄化されるけれども、繰り返し使用されているうちには
上記クリーナ９では除去し切れない強固付着物で次第に
汚染状態になる。

例えば、コロナ放電により放電界の空気中に生じる窒化
物・酸化物等の反応生成物の強固付着。

像担持体面に付着した空気中浮遊物或はその付着物と像
担持体の表面物質とのコロナ放電による反応・変性によ
る強固付着、Ｉ＃！相持体の表面そのもののコロナ放電
による又は経時的自然な変性化。

現像剤のフイルミ／グ付着等である。

而して像担持体１面が上記のような強固付着物で汚染さ
れていくと像担持体面の表面抵抗率が次第に低下してい
き、その結果１例えば形成した潜像の画像暗部対応領域
（電荷保有領域）の電荷が画像明部対応領域へ広がって
現像画像がイ／り流れしたような不整像となってしまう
（画像流れと呼ばれている）、或は解像性、コノトラス
ト等が低下するなど画像形成能が悪化する。

そこで従来、上記の像担持体面の強固付着物汚染に基づ
く画質低下を防止するために一般に像担持体面研磨方式
が採用されている。

これは現像剤中に研磨剤を配合しておくことにより、或
は研磨部材を像担持体面に抑圧接触させておくことによ
□：り像担持体面をわずかづつ研磨して強固付着物を落
し像担持体面を常にバージンな面に保つものである。同
現像剤中に研磨剤を配合した場合はクリーナ９による転
写残り像除去時の拭掃力等で転写残り像即ち転写残り現
像剤中に含まれる研磨剤が像担持体面にこすり付けられ
て研磨作用を生じる。

この方法は強固付着物を除去するに効果的な方法ではあ
るが、研磨剤を現像剤中に配合した場合は勿論、研磨部
材に依る場合でも従来装置ではその研磨部材を像担持体
面に常時抑圧接触させた状態にしであるので、像担持体
面は装置稼動中は常に研磨を受は続けている。その結果 （１）それだけ像担持体面の摩耗が早く、像担持体寿命
が短かいものとなる。

（２）研磨により像担持体面は微視的な粗れを生じるが
、連続的な離層によりその粗れの程度が大きくなり１例
えば画像を大きく悪化させる。現像剤のフィルミング融
着現象を生じ易くなる。

（３）像担持体１面が例えばアモルファスＳｅや同８ｉ
等アモルファス相料のように性質上外力を受けることに
より結晶化？起して抵抗値等の特性が変化し易いもので
ある場合には連続的な研磨力を受は続けることにより特
性変化を生じ易い。

等の問題点がある。

を常時研磨状態におくのではなく、像担持体面の強固付
着物による汚染度が許容できる範囲外になった時点毎に
研磨を実行させる間欠研磨方式にすることにより上記（
１）〜（３）等のような問題点を解消し得た。改善され
た転写方式画像形成装置を提供することを目的とするも
ので、転写方式の画像形成装置に於て、像担持体面の繰
り返し使用に伴なう経時的な強固付着物汚染度合を検出
する手段と。

像担持体面に研磨部ｌｆ４を押圧接触させて強固付着物
を研磨除去する手段を具備させ、汚染度合検出手段によ
る汚染度検出値が所定値以上になったとき強固付着物研
磨除去手段？所定時間、或Ｆｉ像相持体面の汚染度が研
磨除去により許容値以下になったことが汚染度合検出手
段により検出されるまで像担持体面に作用させ、それ以
外時は非作用状態に保たせるようにした。ことを特徴と
する特許形成装置を要旨とする。

即ち像担持体面の強固付着物による汚染は像担持体の繰
り返し利用が進むにつれて少しづつ逐次に進行しその汚
染度合が成る程度以上になると汚染に基づく画像流れ等
の悪現象が見られはじめる。

従って像担持体面を常時研磨状態にしなくとも汚染が許
容できる程度以上に進行した時点々々でそれまでに蓄積
付着している強固付着物を研磨除去するようにしても実
質的に画像形成に悪影響は生じない。本発明はこの考え
に基いて上記のように必要時点々々のみに研磨を実行さ
せて像担持体の研磨による悪影響を大幅に軽減せしめ前
記（１）〜（３）のような問題を解消するものである。

像担持体面の強固付着物による汚染の進行・度合は例え
ば、汚染が進むにつれて像担持体面の表面抵抗が低下方
向に変化し１画像流れが生じる程度ｔ″″′″′汚染′
れき０７０：、１抗値“／＜　−９７の像担持体面のそ
れよりも２−Ｊ３桁下の値となるので、この表面抵抗値
を定期的に或はリアルタイムで測定することにより検出
できる。

或は、汚染が進むにつれて像担持体面の、一定帯電条件
１に於ける帯電電位値（カールソ／プロゼスに於ては潜
像の暗部表面電位に相当）が低下方向に変化するからこ
の電位値の低下程度を表面電位セ／すで測定することに
よっても検出することができる。

表面抵抗の測定により汚染度を検出する場合はその検出
子を第１図中符号１０で示すようにクリーナ９の次位に
配設すればよい。第２図は絶縁性高分子羽料ボディ１０
１の前端面に間隔をあけて一対の電極板面１０２・１０
３を露呈させ、そのボディの電極板面露呈面を表面抵抗
全測定すべき面に押し付は被測定面を介して電極板１０
２・１０３間に流れる電流量で表面抵抗を検出するタイ
プのものを示す。１０４・１０５は夫々電極板ドラム面
に押し付けたのではドラム面を傷損する　　　　゛ので
、ドラム１の回転中は接離機構（図に省略）によりドラ
ム面から離して逃し状態となし９回転停止時に抑圧接触
させてドラム１０表面抵抗を測定させる。例えば複写機
使用のため電源が投入された後ドラム１０回転駆動が開
始される前に接離機構によりドラム１面に接触させ、ド
ラム１０表面抵抗、即ち汚染度合を測定検出させる。

第３図は被測定面に対する一対の接触電極１０２・１０
３を回転ローラにしたタイプのもので、こラム回転中で
もリアルタイムで一統的にドラム面の表面抵抗を測定検
出できる。１０６はローラ電極１０２の軸受支持体であ
る。

表面電位の測定により汚染度を測定する場合はその表面
電位セ／す（非接触タイプ）を第１図中符号１１で示す
ように像担持体たるドラム１面を一様に帯電するコロナ
放電器２と光像露光部６と゛の間に配設すればよい。

ドラム１面の表面抵抗或は表面電位の測定位置は大小倒
れの転写材も対応する面位置がよい。蓋しドラム１面の
表面抵抗や表面電位の経時低下は９− 転写材中に含まれる吸湿物質のドラム面への付着等にも
一つの原因として挙げられるからである。

ドラム１面の研磨手段１２はクリーナ９からコロナ放電
器２との間、クリーナ９の次位に表面抵抗検出子１０を
配設した場合はその検出子１０とコロナ放電器２との開
位置に配設すればよい。

研磨手段１２は第１図例の場合は研磨剤として例えば１
粒径数１０ｍμ程度の酸化セリウムを分散させた弾性体
ローラを抑圧接触させるようにした例で、研磨効果を上
げるためにそのローラ１２をドラム１の回転方向と同方
向に回転駆動させるとよい。このローラ１２は図に省略
した接離機構にドラム１面に対して接離自在に支持させ
である第４図のものは研磨剤を含ませたウェッブ１２１
をドラム１面に抑圧接触させることによりドラム面の研
ＦＭヲ行なうようにしたもので、ウェッブ１２１はロー
ル咎にして繰り出し軸１２２に支持させてあり、その自
由端を押圧ローラ１２３とドラム１の間を通して咎き取
り軸１２４に保持させである。抑圧ローラ１２３は図に
省略した接離機１０− 構によりドラム１に対して揺動され、それに対応してウ
ェッブ１２１がドラム１面に抑圧、抑圧解除される。ウ
ェッブ１２１は研磨作用時に繰り出し軸１２２側から巻
き取り軸１２６側に少しづつ間欠的に或は連続的に巻き
取られて移動しドラム１面が新しいウェッブ面で研磨を
受は続けるようになっている。

而して表面抵抗検出子１０或は表面電位セ／す１１で定
期的に或はリアルタイムで勢続的に検出されるドラム１
の測定出力Ｖｘ（第５図）が比較回路１３で基準値電位
Ｖｃと比較される。基準値電位Ｖｃはドラム１面の許容
上限汚染度　（画像流れ等の画像悪影響を生じ始める汚
染度よりも少し手前の汚染度）に対応するドラム１面の
表面抵抗値或は表面電位値を電位に換算して比較回路１
３に設定される。Ｖｘ）Ｖｃのときは汚染度大としてマ
イクロッ／ピユータ等の制御回路ＭＣにより研磨ローラ
１２或は押圧ローラ１　’２３をドラム１方向に変位さ
せて研磨ローラ１２或は研磨ウェッブ１２１をドラム１
面に接触状態にさせることによリドラム面の研磨を実行
させる。この研磨は成る定め本所定時間実行させた後解
除させる。或は表面抵抗又は表面電位をリアルタイムで
継続測定している場合は研磨により汚染が除去され比較
回路１３に於けるＶｘとＶｃとの比較がＶｘ（Ｖｃにな
ったとき、又はＶｃよりも低く定めたＶｃ’との比較に
於てＶｘ（Ｖｃ’になったとき研磨解除を行なわせる。

一方Ｖｘ（Ｖｃの関係にある間は研磨ローラ１２或は押
圧ローラ１２３ｔ−ドラム１から離れる方向に変位させ
てローラ１２又はウェッブ１２１をドラム１に対して非
接触状態に保持させて研磨は行なわせないように制御す
るものである。

以上本発明は像担持体１の研磨処理を必要時点を検出し
、必要時点々々のみに実行させる方式であるから、前述
従来のように常時継続的に研磨処理する場合に於けるよ
うな（１）〜（３）の問題点が解消されると共に、研磨
材料の消費も少なくう／二／グコストもそれだけ低減さ
れる等の効果が得られ。

転写方式画像形成装置の改善として有効適切である。

伺本発明は第１の像担持体に静電潜像（マスター潜像）
を形成し、その潜像に基づき第２の像担持体に静電転写
法等で潜像転写を行ない、その転写潜像全現像して転写
劇に転写させる方式の画像形成装置ｉ！（高速タイプに
多い）に於ける第１及び第２の像担持体面の研磨方式と
しても有効に適用されることは勿論である。

【図面の簡単な説明】

第１図は転写方式画像形成装置の一例の極く概略の構成
図、第２図・第６図は夫々表面抵抗検出子例の拡大斜面
図、第４図はウェッブ式研磨装置の側面図、第５図は制
御系のブロック図。 １は像担持体たるドラム型電子写真感光体、１０は表面
抵抗検出子、１１は表面電位検出子、１２は研磨装置。 １３− 箋４目 等５図 箋１同 等２票 んｅ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）転写方式の画像形成装置に於て１ｇｌ担持体面押
   圧接触させて強固付着物を研磨除去する手段を具備させ
   、汚染度合検出手段による汚染度検出値が所定値以上に
   なったきき強固付着物研磨除去手段を所定時間、或は像
   担持体面の汚染度が研磨除去により許容値以下になった
   ことが汚染度合検出手段により検出されるまで像担持体
   面に作用させ。 それν外時は非作用状態に保たせるようにした。 ことを特徴とする画像形成装置。