JPS58195840A - 線状光源装置 - Google Patents

線状光源装置

Info

Publication number
JPS58195840A
JPS58195840A JP57078164A JP7816482A JPS58195840A JP S58195840 A JPS58195840 A JP S58195840A JP 57078164 A JP57078164 A JP 57078164A JP 7816482 A JP7816482 A JP 7816482A JP S58195840 A JPS58195840 A JP S58195840A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
elastic member
gap
arc
light source
arcuate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP57078164A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH058413B2 (ja
Inventor
Masayoshi Serizawa
芹澤 正芳
Hidezo Sano
秀造 佐野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP57078164A priority Critical patent/JPS58195840A/ja
Publication of JPS58195840A publication Critical patent/JPS58195840A/ja
Publication of JPH058413B2 publication Critical patent/JPH058413B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B27/00Photographic printing apparatus
    • G03B27/32Projection printing apparatus, e.g. enlarger, copying camera
    • G03B27/52Details
    • G03B27/54Lamp housings; Illuminating means
    • G03B27/542Lamp housings; Illuminating means for copying cameras, reflex exposure lighting

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Projection-Type Copiers In General (AREA)
  • Light Sources And Details Of Projection-Printing Devices (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は光源からの紫外光を孤線状に形成せしめる線状
光源装置に関する。
従来、ミラー反射型グロジエクシーンfライナによりウ
ェハを露光するためには、露光光学系超高圧水銀灯光源
から発生した紫外線を孤線状とし、マスクに結儂せしめ
ると共に上記ウェハ上に紫外光線結儂させて行っていた
。この場合、ウェハ上に結儂される露光エネルギーが弧
線状光線の全長にわたって均一のものにならずパターン
の解儂度に影響を与えこの解決のため複雑な調整装置を
必要とするような問題点が生じていた。
すなわち、第1図において、超高圧水銀灯光源5から発
生した紫外光はコンデンサレンズ6を纏り、線状光線装
置11のスリットプレート7に光#I儂を投影結儂され
た後、レンズ8によ投影光学装置10内のマスク4上に
投影結儂される。
投影光学装置10内では、第2図にも示す如くマスク4
上に結像された半径rLIの円弧線状光線(点線で示す
)の一点0上の光は、凹面鏡1で反射し、次に凸面鏡2
で反射し、更にもう1度凹面鏡1で反射した後、ウェハ
5上に1対1の倍率で結像する。同様にして、半径re
の円弧線状光線(点線で示す)がウェハ3上に結像され
る。そして、ウェハ3の全面露光は、上記円弧−状光線
をウェハ3上に結像させると共に、マスク4およびウニ
・・3を示矢X、人に示す反対方向にスキャンさせて行
われる。
第3図に示す如く、線状光線装置11のスリットプレー
ト7のスリット9は一定幅Wの間隙を有する円弧線状に
形成されているため、ウエノ・3上に結像される紫外光
も一定幅Wの円弧線状光線が結像される。今、第4図に
示す如く、横軸にウェハ5の上記円弧−状光線長手寸法
をとり、縦軸に露光エネルギーEをとると、露光エネル
ギーE#i均一とならず、バラツキ幅σを有すると共に
ウェハ3の長手方向の両端側で小さな値を示している。
ここで、露光エネルギーEは、ウェハ5上に照射された
紫外光の照度にウェハ3等をスキャンさせる時間を掛け
たものでスキャンする時間が一定とすれば、紫外光の照
度に比例する。
上記の如く、円弧線状光線の長手方向に露光エネルギー
Eのバラツキが生ずると、ウェハ3のパターン解偉度に
影響を与える問題点が生ずることになる。
このように、露光エネルギーEが均一にならないのは、
従来使用されている超高圧水銀灯光源5のランプが円孤
状をしだロングアーク型から形成され、この両端電極部
付近の照度が不足であることと、上記スリットプレート
7のスリット輪9が一定であること等に起因する。
そこで、従来では、超高圧水銀灯光源5を、直線移動お
よび回動自在な位置調整装置に係合せしめ、上記光源5
の位置を調整して照度分布をある範囲内に収めるような
調整手段を採用していた。しかしながら、この方法では
照度調整に時間を要し、作業効率が低下するのみならず
操作に熟練を必要とする等の欠点が有った。
本発明は上記の欠点等を解決すべく創案されたものであ
り、その目的は、露光エネルギーのバラツキをなくシ、
良好な解儂度を得るようにすると共に1調整が容易で作
業効率が向上できかつ、製品の歩留夛が向上し得る簡便
な線状光線装置を提供することKある。
本発明は上記の目的を達成するために、雄型弧状部を形
成する第1の弾性部材と雌型孤状部を形成する第2の弾
性部材とを間隙を距てて相対向して設け、孤線状のスリ
ット空間を形成すると共に、上記弾性部材の弧状部に上
記スリット空間の広がる方向に延出する切込みを多数列
適宜の間隔で上dピ孤状部の孤に清って形成せしめ、多
数の舌状部を形成し、かつ、上記弾性部材には、上記切
込み方向に往復動し得る多数個の押圧手段を係合せしめ
、これを往復動じて上記スリット空間の間隙を微細に変
化せしめ、このスリット空間を通過する紫外光線を加減
せしめてウェハ上の露光エネルギーを均一にせしめるよ
うにした線状光線装置を特徴としたものである。
以下、本発明の一実施例を図に基づき説明する。
まず、実施例の線状光線装置11の概要、を第5図によ
り説明する。基台18上には第1の弾性部材17と第2
の弾性部材13とが設けられている。
本実施例では$1の弾性部材17は固定型としているの
で必ずしも弾性体で形成されたものでなくともよい。第
1の弾性部材17と第2の弾性部材15との間には間隙
Wの孤線状のスリット空間20が形成されている。又、
第2の弾性部材15には、多数の切込21が形成され、
多数の舌状部12が形成されている。又、基台18には
多数個の抑圧手段22が取付けられ、各抑圧手段22は
第2の弾性部材15に係合している。以上の構成から、
押圧手段22を往復動すると、その抑圧手段22が作用
する位置およびその近傍の上記舌状部が往復動するため
、スリット空間2゜の間隙Wが部分的かつ円滑に変化す
る。以上により、スリット空間20の長手方向の全幅に
わ九り、その間vjWを任意に、かつ微細に変化させる
ことができ、ここを通過する紫外光線を増減することが
できる。
以下、更に峰しく、実施例を説明する。
第5図および第6図に示す如く、基台18F′!平板状
に形成され、その中央部近傍には紫外光線を通過させる
所定の間隙■゛より大きな幅を形成する長孔18−が貫
通形成される。基台18には第1の弾性部材17が上記
長孔18−の測長辺側を覆って載置される。第1の弾性
部材17は本実施例では平板状に形成され、基台18上
に固定される。
又、第1の弾性部材17の一端一には雄型弧状部17m
が形成され、上記の如く上記基台18の長孔1811の
測長辺側を覆っている。
次に、第2の弾性部材13はL形状の弾性体から形成さ
れ、L形状の一辺側は、基台18上に設けられ、基台1
8の長孔18−の他の長辺側を覆っている。この−辺側
端には上記雄型弧状部17−とほぼ同一半径の雌型弧状
部1511が形成される。
この雌型弧状部L5gは雄型弧状部17−に対して関@
Wを距てて設けられている。従って第1の弾性部材17
と第2の弾性部材15との間には、間隙Wを有する円弧
線状のスリット空間2oが形成されることになる。
又、第2の弾性部材15の上記−辺側には上記スリット
空間20の間隙の広がる方向に延出する切込み21が多
数形成される。この切込み21は雌個孤状部15−の弧
に沿って、適宜の間隔に形成されるため、Is型型状状
部15mは、相互に隣接する多数の舌状部12が形成さ
れることになる。
なお、第7図および第8図に示す如く、実際に上記舌状
部12を作成するには、まず、第7図の如く、第2の雌
伏部材15の一辺側に上記の如く切込み21を入れ、次
に、第8図に示す如く全体を弧状に”λ形することによ
って行う。従って、切込み21の切込み−によ・ては干
渉し合う場合も生ずるので、相互に重合せしめて、干渉
を防止するようにする。
次に1第2の弾性部材15の他辺側には、その長手方向
に沿って複数個の押圧手段22が係合している。すなわ
ち、抑圧手段22tf、駆動部16と、駆動部16に連
結し、駆動部16によって往復動されるネジ部15と、
ネジ部15の先端側に設けられたピン部14とから構成
され、ピン部14の先端部は第2の弾性部材15の一辺
側にそれぞね枢着されている。なお、ネジ部15は基台
18上に載Jされた支持台23と螺合し、かつ支持され
ている。
次に、本実施例の作用を説明する。
上記の如く、紫外光はスリット空間2oの間隙Wを通過
しマスク4に結像される。この通過後の紫外光の4光エ
ネルギーを弧線状光線長手方向にわたりマスク4面上で
測定する。この測定結果に基づき、この測定値に対応す
る長手方向の位置近傍にちる抑圧手段22の駆動部16
を所定方向に駆動する。これにょシ、ネジ部15か新装
方向に移動し、ピン部14により第2の弾性部材13を
移動せしめる。第2の弾性部材15Fi弾性体で形成さ
れ、かつ、舌状部12を形成しているので、抑圧手段2
2によって押圧された箇所近傍のみが主に変化する。こ
れにょクスリット空間20、)関1!JWは変化する。
以上により、複数個所のスリット空間20の間隙Wを任
意に変化させることができ、露光エネルギーを均一に保
持することが可能となる。又、第2の弾性部材13は上
記の如く、多数個の舌状部を形成しているが、全体とし
て一体状に連続しているものであり、かつ、上記のごと
く弾性体で形成するため、間隙Wは長手方向の全域にわ
た多連続的かつ円滑に調整することができる。上記の如
くして、スリット空間20の両端側の間隙W1を中央の
間隙Wtに較べて、広くとることができ、これにより上
記した超高圧水銀灯光源5の両端側の照度不足は解消さ
れ、上記した如く、複雑な位置調整装置等が不要となる
なお、関@Wを広げることKより、非点収差が生じ、解
傷度が低下する恐れが生ずる。
しかし、露光エネルギーの変動率は±10%程度であり
、これを均一にするための間FjWxに対する間隙WI
のt化率は数饅以下のため、上記の非点収差の問題につ
いては無視することができる。
本実施例によると、露光エネルギーの変化率は±2ない
し3チ以下となシ、従来に較ぺて大幅に改善されたこと
が実証された。
上記の実施例において、第1の弾性部材17を固定型と
しだが、これを第2の弾性部材13の如きものとし、第
1および第2の弾性部材1715によって間隙Wを微調
整するものであってもよい。又、第2の弾性部材13を
一体型のIJ状とし九が、舌状部12を形成した板状部
材とこれにL形状に係合したバネ部材とを組合せたもの
アありてもよい。又、第1および第2の弾性部材をすべ
て平板状のバネ部材とし、これに舌状部を形成せし9て
、曲率方向に変化させるようにしたものであっても購わ
ない。
又、抑圧手段22についても、上記に勿論限定しない。
以上の説明によって明らかの如く、本発明によれば、露
光エネルギーを均一圧することができると共に、作業効
率の向上と、製品歩留の向上ができる効果が上げられる
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のンラー反射型グロジェクションアライナ
の露光光学系を説明する説明図、第2図はその投影光学
系を説明する斜視図、第3図はスリット形状を示す平面
図、第4図はスリ、  ット長手方向における露光エネ
ルギーの分布を示す線図、第5図は本発明一実施例の構
成を示す斜視図、第6図は第5図のV+−Vt線矢視の
断面図、87図および第6図は実施例の主要部の弾性部
材を説明する斜視図である。 3川ウエハ      4・・マスク 5・・超高圧水銀灯光線 11・・・線状光練製−12
・・・舌状部      15・・・第2の弾性部材1
4・・・ビン、1fl115中ネジ部16・・・駆動部
      17・・・第1の弾性部材18・・A 台
20・・・スリット空間21・・・切込み      
22・・・抑圧手段23・・・支持台 第3巴 9 第4口

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ウェハを露光するためにマスク上に光源からの紫外光を
    弧線状にして結儂させるための線状□光源装置において
    、雄型弧状部を形成する第1の弾性部材と、該第1の弾
    性部材の上記雄型弧状部を覆う雌型弧状部を形成する第
    2の弾性部材とを設け、上記第1および第2の弾性部材
    の上記雄型弧状部と雌型弧状部とを間隙を距てて相対向
    せしめ、孤線状スリット空間を形成し、上記弾性部材の
    上記弧状部を形成する側には、上記間隙の広がる方向に
    延出する切込みを上記弧状部の弧に沿って多数列形成せ
    しめ、上記弾性部材の弧状部に各個の舌状部を形成する
    と共に、上記弾性部材の他側には、上記切込み方向に往
    復動じ得る抑圧手段を多数個係合せしめ、該押圧手段を
    往復動せしめて、上記孤線状のスリット空間の間隙を変
    化せしめるように構成したことを特徴とする線状光源装
    置。
JP57078164A 1982-05-12 1982-05-12 線状光源装置 Granted JPS58195840A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57078164A JPS58195840A (ja) 1982-05-12 1982-05-12 線状光源装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57078164A JPS58195840A (ja) 1982-05-12 1982-05-12 線状光源装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58195840A true JPS58195840A (ja) 1983-11-15
JPH058413B2 JPH058413B2 (ja) 1993-02-02

Family

ID=13654284

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57078164A Granted JPS58195840A (ja) 1982-05-12 1982-05-12 線状光源装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58195840A (ja)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50114227U (ja) * 1974-02-28 1975-09-18
JPS5268411A (en) * 1975-12-04 1977-06-07 Jiyuntarou Suzuki Method of improving uniform exposure and image quality in scan copying machine
JPS54123877A (en) * 1978-03-18 1979-09-26 Canon Inc Baking unit
JPS5581337A (en) * 1978-12-15 1980-06-19 Ricoh Co Ltd Lighting device for exposure in slit exposure type copying machine
JPS57182728A (en) * 1981-05-01 1982-11-10 Perkin Elmer Corp Apparatus for controlling transmission of light to image duplicating member from light source

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50114227U (ja) * 1974-02-28 1975-09-18
JPS5268411A (en) * 1975-12-04 1977-06-07 Jiyuntarou Suzuki Method of improving uniform exposure and image quality in scan copying machine
JPS54123877A (en) * 1978-03-18 1979-09-26 Canon Inc Baking unit
JPS5581337A (en) * 1978-12-15 1980-06-19 Ricoh Co Ltd Lighting device for exposure in slit exposure type copying machine
JPS57182728A (en) * 1981-05-01 1982-11-10 Perkin Elmer Corp Apparatus for controlling transmission of light to image duplicating member from light source

Also Published As

Publication number Publication date
JPH058413B2 (ja) 1993-02-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3264224B2 (ja) 照明装置及びそれを用いた投影露光装置
USRE37309E1 (en) Scanning exposure apparatus
US4497015A (en) Light illumination device
US4682885A (en) Illumination apparatus
US4939630A (en) Illumination optical apparatus
US4688932A (en) Exposure apparatus
US20040119959A1 (en) Projection exposure apparatus
JP2006048049A (ja) レーザー斑点を除去した照明系、及びそれを採用したプロジェクションシステム
JPH05283317A (ja) 照明装置及びそれを用いた投影露光装置
JPH04225214A (ja) 照明光学装置および投影露光装置並びに露光方法および素子製造方法
EP0844529A2 (en) Illumination system with controllable partial coherence
USRE34634E (en) Light illumination device
EP0651291A1 (en) Pattern projecting method
JPS622540A (ja) ライトインテグレ−タとそれを含むケ−ラ−照明系
JPH09219358A (ja) 露光装置及びそれを用いたデバイスの製造方法
JP2002033272A (ja) 露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法
JP2002289505A (ja) 露光装置,露光装置の調整方法,マイクロデバイスの製造方法
JPS58195840A (ja) 線状光源装置
JPH0812843B2 (ja) 光学結像装置及び方法
KR100674174B1 (ko) 투영-마이크로리소그래픽 장치
US10747117B2 (en) Extreme ultraviolet lithography system that utilizes pattern stitching
JPH11150051A (ja) 露光方法及び装置
JPH11329948A (ja) 電子ビーム転写方法
JPS5883836A (ja) 円弧状照明光形成スリツト
JPS6380243A (ja) 露光装置用照明光学装置