JPS58191950A - 光損失測定方法 - Google Patents
光損失測定方法Info
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- JPS58191950A JPS58191950A JP7479182A JP7479182A JPS58191950A JP S58191950 A JPS58191950 A JP S58191950A JP 7479182 A JP7479182 A JP 7479182A JP 7479182 A JP7479182 A JP 7479182A JP S58191950 A JPS58191950 A JP S58191950A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は光通信の分野で用いられる光伝送路のうち、
とくに大容量通信用伝送路である巣−モードファイバに
おける第１高次モードの光損失掬定法に関するものであ
る。
とくに大容量通信用伝送路である巣−モードファイバに
おける第１高次モードの光損失掬定法に関するものであ
る。
〈発明の背景〉
単一モード光ファイバは、動作波長を第１高次モードで
あるＬＰＩＩモードの遮断波長より長波長側のいわゆる
単一モード波長領域に定め、基本モードであるＬＰ・１
モードのみの導波を可能にするものである。このＬＰｓ
＊モードの遣断波長Ｆｉ環論的には光ファイバの屈折率
分布によって決まり、例えばステップ形の場合には次式
で定義される規格化周波数■ （こ＼でト１＆及びΔはそれぞれ光ファイバのコア中心
部の屈折率、コア半径及びコア、クラッド間の比屈折率
差を表わし、λは光源波長を表わす）がＶ＜２．４なる
条件で定められる。しかしながら光源との結合損失＋法
絖横失の低減化のためＫは動作Ｖ咳をより拡大すること
が望ましく、現状でＶｉ実際のが、ファイバにおけるＬ
Ｐロモードの減衰特性を勘案して動作ｖイーは、理論上
ＬＰ・ｘ＋ＬＰＨ肉モードか４波ｏＪ症である３＋！４
度まで拡大されている。
あるＬＰＩＩモードの遮断波長より長波長側のいわゆる
単一モード波長領域に定め、基本モードであるＬＰ・１
モードのみの導波を可能にするものである。このＬＰｓ
＊モードの遣断波長Ｆｉ環論的には光ファイバの屈折率
分布によって決まり、例えばステップ形の場合には次式
で定義される規格化周波数■ （こ＼でト１＆及びΔはそれぞれ光ファイバのコア中心
部の屈折率、コア半径及びコア、クラッド間の比屈折率
差を表わし、λは光源波長を表わす）がＶ＜２．４なる
条件で定められる。しかしながら光源との結合損失＋法
絖横失の低減化のためＫは動作Ｖ咳をより拡大すること
が望ましく、現状でＶｉ実際のが、ファイバにおけるＬ
Ｐロモードの減衰特性を勘案して動作ｖイーは、理論上
ＬＰ・ｘ＋ＬＰＨ肉モードか４波ｏＪ症である３＋！４
度まで拡大されている。
単一モードイーファイバではこの動作Ｖ値を定めること
がファイバパラメータ設計上極めて１賛な意味をもち、
しだがってＬＰロモードの減衰特性を正確に知り所要の
ファイバ長の光フアイバ出力端でＬＰロモードがＬＰｅ
ｉモードと比較して十分滅Ｉ［！することを保証する厳
大■値を動作Ｖ値に遇ぶ会費かある。
がファイバパラメータ設計上極めて１賛な意味をもち、
しだがってＬＰロモードの減衰特性を正確に知り所要の
ファイバ長の光フアイバ出力端でＬＰロモードがＬＰｅ
ｉモードと比較して十分滅Ｉ［！することを保証する厳
大■値を動作Ｖ値に遇ぶ会費かある。
本来、個青のモードの光損失の画定ｒｉ特定モー特定モ
ードを分離すゐことにより可能となるが、現状ではこれ
らの技術はいずれも確立されていない。したがって、従
来ＦｉＬＰｓｔモードの減衰特性はパルス伝ばん特性か
ら調べてい友。しかしこの方法ではＬＰ＠ｓモードとＬ
Ｐｔｔモードとの鮮速度差が小さい場合、即ち試料ファ
イバ長が短い場合、あるいはこれら２モードの群速度が
等しくなる波長帯（ステップ形ファイバではＶ〜３．ｌ
）でｔまこれら２モードのパルスが出力端で重なり識別
できないため個々のモードの減衰特性を分ｍ ｌＳｌ＋
＋定することは困難であった。
ードを分離すゐことにより可能となるが、現状ではこれ
らの技術はいずれも確立されていない。したがって、従
来ＦｉＬＰｓｔモードの減衰特性はパルス伝ばん特性か
ら調べてい友。しかしこの方法ではＬＰ＠ｓモードとＬ
Ｐｔｔモードとの鮮速度差が小さい場合、即ち試料ファ
イバ長が短い場合、あるいはこれら２モードの群速度が
等しくなる波長帯（ステップ形ファイバではＶ〜３．ｌ
）でｔまこれら２モードのパルスが出力端で重なり識別
できないため個々のモードの減衰特性を分ｍ ｌＳｌ＋
＋定することは困難であった。
〈発明の概要〉
この発明はＬＰｅ１モードとＬＰｔｔモードとが導波可
能な波長領域においてＬＰｓｓモードのみの光損失を測
定することを可能にしたものである。
能な波長領域においてＬＰｓｓモードのみの光損失を測
定することを可能にしたものである。
この発明によれば、光源からの光の入射端の近くで被測
定ファイバに曲げを与えてＬＰＩＩモードを完全に減衰
させ、その状−で被測定ファイバの出射端での出力パワ
ーを測定し、またその曲げを与え九直恢でファイバを切
断し、その切断点の出射光パワー會側足する。また被測
定ファイバに１Ｆｆを与えることな（ＬＰ＠ｔモード、
ＬＰロモードが導波できる状態で出射端での出力パワー
と、その出射端の近くで曲げを与えてＬＰＩＩ モード
を完全に減ｌ１８ゼた状紬で出射端の出力パワーとをそ
れぞれ側足し、ナの測定の後に入射熾の近くでファイバ
を切断ｒＬ、その切断点よりの出力パワーを側足する。
定ファイバに曲げを与えてＬＰＩＩモードを完全に減衰
させ、その状−で被測定ファイバの出射端での出力パワ
ーを測定し、またその曲げを与え九直恢でファイバを切
断し、その切断点の出射光パワー會側足する。また被測
定ファイバに１Ｆｆを与えることな（ＬＰ＠ｔモード、
ＬＰロモードが導波できる状態で出射端での出力パワー
と、その出射端の近くで曲げを与えてＬＰＩＩ モード
を完全に減ｌ１８ゼた状紬で出射端の出力パワーとをそ
れぞれ側足し、ナの測定の後に入射熾の近くでファイバ
を切断ｒＬ、その切断点よりの出力パワーを側足する。
ＪＪ上の５つの測定菫よシ演算によシＬＰｘｔモードの
九偵失奮求める。
九偵失奮求める。
＜＊ ＭｊＡ１／す〉
第１図ハキ第３図はこの発明の実施例を示し、先ず第１
図に丁す↓うに光源ｌよυの光を集光用し・ンズ２（ｒ
介して被測定ファイバ３の一端に入射する。この入射光
の波長はファイバ３でＬＰ・１及びＬＰ■モードのみが
導波可能な領域である。ファイバ３は光−１物りにおい
て円形に−げられた光ファイバ曲がり部５とされ、この
光ファイバ曲が抄部５１よりＬＰ＋ｓ モードが減衰さ
れ、−が９部６を通處した点６ においてはＬＰ１１
モードは完全に減衰した状態とされる。被測定ファイバ
３の他端７より出射する光はＬＰ・菖モードのみとなり
、この出射光を受光素子４で受光して出力パワーＰｏｕ
””を測定する。その後、曲がｐ部５を通過した点６で
ファイバ３を切断してその点６よシの出射光、つま９切
断前に点６よシ受光素子４Ｎに入（１）１ 射される光の入力パワーＰｉｎ を測定する。これｔ
ｔ＋’ ｉ１１’ ら出力パワーＰＯｕ ％入力パワーＰｉｎ の巣位長当
りの比α会を求める。
図に丁す↓うに光源ｌよυの光を集光用し・ンズ２（ｒ
介して被測定ファイバ３の一端に入射する。この入射光
の波長はファイバ３でＬＰ・１及びＬＰ■モードのみが
導波可能な領域である。ファイバ３は光−１物りにおい
て円形に−げられた光ファイバ曲がり部５とされ、この
光ファイバ曲が抄部５１よりＬＰ＋ｓ モードが減衰さ
れ、−が９部６を通處した点６ においてはＬＰ１１
モードは完全に減衰した状態とされる。被測定ファイバ
３の他端７より出射する光はＬＰ・菖モードのみとなり
、この出射光を受光素子４で受光して出力パワーＰｏｕ
””を測定する。その後、曲がｐ部５を通過した点６で
ファイバ３を切断してその点６よシの出射光、つま９切
断前に点６よシ受光素子４Ｎに入（１）１ 射される光の入力パワーＰｉｎ を測定する。これｔ
ｔ＋’ ｉ１１’ ら出力パワーＰＯｕ ％入力パワーＰｉｎ の巣位長当
りの比α会を求める。
Ｌ・は点６．７間のファイバ長である。このようにして
ＬＰ＊ｔモードの光損失を測定する。このとき注意する
ことは曲がり部５の曲げ半径ＲをＬＰロモードが完全に
減衰するように選ぶことであり、電磁界理論の計算及び
実験から、通常のステップ形光ファイバでコア直径約Ｉ
ＱｊｌｌｌＥＩ、比屈折率差約０．２５ ％の単一モー
ドファイバではＲ”：； ２ ｍとすればＬＰロモード
の光損失は遮断波長近傍では数百ｄＢ／−以上となり、
−力、ＬＰ・ｌモードの光損失ＦｉＩＯ（ｄＢ／Ｉｓ）
のオーダとなるので上記条件けはソ満たされる。
ＬＰ＊ｔモードの光損失を測定する。このとき注意する
ことは曲がり部５の曲げ半径ＲをＬＰロモードが完全に
減衰するように選ぶことであり、電磁界理論の計算及び
実験から、通常のステップ形光ファイバでコア直径約Ｉ
ＱｊｌｌｌＥＩ、比屈折率差約０．２５ ％の単一モー
ドファイバではＲ”：； ２ ｍとすればＬＰロモード
の光損失は遮断波長近傍では数百ｄＢ／−以上となり、
−力、ＬＰ・ｌモードの光損失ＦｉＩＯ（ｄＢ／Ｉｓ）
のオーダとなるので上記条件けはソ満たされる。
次に第２図及び第３図に示すようにしてＬＰｅｌ、ＬＰ
ＩＩモードの両モードを入射し次状態での光損失の（ｑ
′、定をイエなうが、このときに杜最終的に光ファイバ
を切断するまで入射条件を一定に採っておく。先ず第２
図に示すように徴測定光ファイバ３をＡｌｆｔにした状
吻で出方パワ〜を測定し、次に結３図に小すように出力
端に曲は部５を作ってＬＰ１１モードを減衰させた状態
で出方パワーを測定し、＊＊に入射端の近くの点８で光
ファイバ３を切断し、その点８より出射パワー、っ壕シ
切断前の点８より出射端７廁へ入射される入力パワーを
＃ｌｆｆ１する。いｉ Ｌ、Ｐ＠ｌ、ＬＰｔ ｓモード
の入力パワーをそ（リ （１） れぞれＰｉｎ 、Ｐｉｎ とし、第２図におけるＬ
Ｐｓｓ。
ＩＩモードの両モードを入射し次状態での光損失の（ｑ
′、定をイエなうが、このときに杜最終的に光ファイバ
を切断するまで入射条件を一定に採っておく。先ず第２
図に示すように徴測定光ファイバ３をＡｌｆｔにした状
吻で出方パワ〜を測定し、次に結３図に小すように出力
端に曲は部５を作ってＬＰ１１モードを減衰させた状態
で出方パワーを測定し、＊＊に入射端の近くの点８で光
ファイバ３を切断し、その点８より出射パワー、っ壕シ
切断前の点８より出射端７廁へ入射される入力パワーを
＃ｌｆｆ１する。いｉ Ｌ、Ｐ＠ｌ、ＬＰｔ ｓモード
の入力パワーをそ（リ （１） れぞれＰｉｎ 、Ｐｉｎ とし、第２図におけるＬ
Ｐｓｓ。
（鳳）
ｐｏｕ ％ また切断点８から出射ｆ１７ｔでのファ
イバ畏をＬ＋とするとし、 を定義する。第３図において出力パワーは出力端で与え
る曲げ半径Ｒを上記のように適当に選ぶことによっては
’３：ＬＰｔｔ モードのみに減衰を与える（１） ことができ、このときには出力パワーはＰｏｕ とな
る５、このとき なる量を定義する。以上のＭ１図、第２図、繭８図の測
定によシ得られた演算蓋α１．α雪、α易を用いてＬＰ
＊ｔモードの巣位当りの光損失αを以下の手職で求める
。式＜２Ｊ 、 （３１より（５） が倚られる。一方、式！１１ 、 ＋３１を用い、史に
でろることを考慮に入れれば が得ら７＋る。式１５１ 、１７１より所望のＬＰロモ
ードの損失は として得られる。
イバ畏をＬ＋とするとし、 を定義する。第３図において出力パワーは出力端で与え
る曲げ半径Ｒを上記のように適当に選ぶことによっては
’３：ＬＰｔｔ モードのみに減衰を与える（１） ことができ、このときには出力パワーはＰｏｕ とな
る５、このとき なる量を定義する。以上のＭ１図、第２図、繭８図の測
定によシ得られた演算蓋α１．α雪、α易を用いてＬＰ
＊ｔモードの巣位当りの光損失αを以下の手職で求める
。式＜２Ｊ 、 （３１より（５） が倚られる。一方、式！１１ 、 ＋３１を用い、史に
でろることを考慮に入れれば が得ら７＋る。式１５１ 、１７１より所望のＬＰロモ
ードの損失は として得られる。
との測定でポイントとなる点＃′ｉ第３図においてＬＰ
・１七−ドに損失を与えずＬＰｓｓ モードのみを減衰
きせるような曲げ半径Ｒを選ぶことである。
・１七−ドに損失を与えずＬＰｓｓ モードのみを減衰
きせるような曲げ半径Ｒを選ぶことである。
先に述べたように現在広く用いられているコア直径約ｌ
Ｏμｎｌ、比屈折率差０．２５％のパラメータ値をもつ
波長１．３μ【Ω帝用の早−モードファイバにおい−【
番まステッププレ屈折率の場合にはＬＰｓｔモードの失
効、Ｅの迎−［Ｖ値は２．４ ＜ Ｖ ＜ ３．２に含
壕れていることが種々の検討から明らかにされておシ、
このＶ値の範囲では曲げ半径を約２１とすれば、ＬＰ・
１モードにほとんど損失を与えることなく 、ＬＰ １
１ モードをはソ光全に減衰させることができることが
理論的、実験的にもＡＭされている。
Ｏμｎｌ、比屈折率差０．２５％のパラメータ値をもつ
波長１．３μ【Ω帝用の早−モードファイバにおい−【
番まステッププレ屈折率の場合にはＬＰｓｔモードの失
効、Ｅの迎−［Ｖ値は２．４ ＜ Ｖ ＜ ３．２に含
壕れていることが種々の検討から明らかにされておシ、
このＶ値の範囲では曲げ半径を約２１とすれば、ＬＰ・
１モードにほとんど損失を与えることなく 、ＬＰ １
１ モードをはソ光全に減衰させることができることが
理論的、実験的にもＡＭされている。
このことは、この発明の測定法の有効性を保吐するもの
であり、更にこの発明の測定法による実績データも理輌
から得られるＬＰｓｓ モードの減衰特性と良い一敏を
示すことか確認されている。
であり、更にこの発明の測定法による実績データも理輌
から得られるＬＰｓｓ モードの減衰特性と良い一敏を
示すことか確認されている。
なお、第２図及び第３図に示した測定を先Ｋｈつ九後、
第１図Ｖ【示した測定を行ってもよく、壕九第２１！！
！、ｌ及び第３図に示した測定は何れを先に行って吃よ
いが先に述べえように測定条件をｌ”ｌＪ−にして各出
射端７でのｌ１ｍ定を行った後に点８での切断後の−ｊ
定を行う。
第１図Ｖ【示した測定を行ってもよく、壕九第２１！！
！、ｌ及び第３図に示した測定は何れを先に行って吃よ
いが先に述べえように測定条件をｌ”ｌＪ−にして各出
射端７でのｌ１ｍ定を行った後に点８での切断後の−ｊ
定を行う。
く効 果〉
以上述べたようにこの発明の光損失−１１定法によれば
従来広く用いられている切断法による光損失測定を、被
＃ｊ定光ファイバを真直の状態及び入力端、出力端に曲
げを与え次状態で行なうだけの簡便な方法でるり、ＬＰ
ロモードのみの光損失測定に極めて有力な測定法である
。
従来広く用いられている切断法による光損失測定を、被
＃ｊ定光ファイバを真直の状態及び入力端、出力端に曲
げを与え次状態で行なうだけの簡便な方法でるり、ＬＰ
ロモードのみの光損失測定に極めて有力な測定法である
。
第１図乃至第３図はそれぞれこの発明による損失測定法
の実施例を示す図である。 １：た源、２：集光用レンズ、３；被測定光ファイバ、
４：受光素子、５：曲がシ部、７：出Ｈｙｂａ、６＊
ｓ ：充ファイバ切断点。 、侍軒出１人 日本゛鴫偏電話公社 代理人革野 卓
の実施例を示す図である。 １：た源、２：集光用レンズ、３；被測定光ファイバ、
４：受光素子、５：曲がシ部、７：出Ｈｙｂａ、６＊
ｓ ：充ファイバ切断点。 、侍軒出１人 日本゛鴫偏電話公社 代理人革野 卓
Claims (1)
- （１） 光ファイバの基本モードであるＬＰ・１モー
ドと第１高次モードであるＬＰロモードの２つのモード
が導波される波喪領埴において、 光源からの光の入射端で被測定ファイバに曲げを与えＬ
Ｐ口 モードを完全に減衰させ良状態で、＊調定ファイ
バのもう一方の出射端での光量と、前記曲１部分の１１
後でそのファイバを切断し、その切断点よりの出射光菫
を測定し、両者の比をとることによってＬＰａ＋ モー
ドの光損失を一定を行う第１］−程と、 前記被測定ファイバに曲げを与えず前記２つのモードが
導波する状態でＭｌ出力パワーを測定し、壇九出射端近
傍でそのファイバに曲げを与えてＬｐｓｔモードを完全
に減衰させた状態でｊ［２出力）くワーを測定Ｌ２、こ
れら絢測定の後に入射端直後で光ファイバを１７ＪＭＬ
、その切断点よりの第３出力パワーを測定し、その第３
出力パワーに対する第１、第２出力パワーの比をそれぞ
れとる第２工機と、 前記第１．第２工程でそれぞれ得られた測定値からＬＰ
ｓｓモードのみの光損失を計算する第３工程とをもつ光
損失測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7479182A JPS58191950A (ja) | 1982-05-04 | 1982-05-04 | 光損失測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7479182A JPS58191950A (ja) | 1982-05-04 | 1982-05-04 | 光損失測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58191950A true JPS58191950A (ja) | 1983-11-09 |
| JPS6251412B2 JPS6251412B2 (ja) | 1987-10-29 |
Family
ID=13557463
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7479182A Granted JPS58191950A (ja) | 1982-05-04 | 1982-05-04 | 光損失測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58191950A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60262028A (ja) * | 1984-06-05 | 1985-12-25 | クセルト セントロ・ステユデイ・エ・ラボラトリ・テレコミニカチオーニ・エツセ・ピー・アー | 光ファイバーの第１高次モードの遮断波長測定方法および装置 |
| EP0185949A2 (en) * | 1984-11-26 | 1986-07-02 | Sumitomo Electric Industries Limited | Apparatus for measuring the cut-off wavelength of a single-mode optical fiber |
| JP2002039911A (ja) * | 2000-07-27 | 2002-02-06 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 導波路特性評価装置 |
| JP2012242238A (ja) * | 2011-05-19 | 2012-12-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 伝搬損失測定方法、伝搬損失測定システム、伝搬損失測定装置及びそのプログラム |
-
1982
- 1982-05-04 JP JP7479182A patent/JPS58191950A/ja active Granted
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60262028A (ja) * | 1984-06-05 | 1985-12-25 | クセルト セントロ・ステユデイ・エ・ラボラトリ・テレコミニカチオーニ・エツセ・ピー・アー | 光ファイバーの第１高次モードの遮断波長測定方法および装置 |
| EP0172328A2 (en) * | 1984-06-05 | 1986-02-26 | CSELT Centro Studi e Laboratori Telecomunicazioni S.p.A. | Process and equipment for measuring the cut-off wavelength of the first higher order mode in optical fibres |
| JPH0551094B2 (ja) * | 1984-06-05 | 1993-07-30 | Cselt Centro Studi Lab Telecom | |
| EP0185949A2 (en) * | 1984-11-26 | 1986-07-02 | Sumitomo Electric Industries Limited | Apparatus for measuring the cut-off wavelength of a single-mode optical fiber |
| JP2002039911A (ja) * | 2000-07-27 | 2002-02-06 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 導波路特性評価装置 |
| JP2012242238A (ja) * | 2011-05-19 | 2012-12-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 伝搬損失測定方法、伝搬損失測定システム、伝搬損失測定装置及びそのプログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6251412B2 (ja) | 1987-10-29 |
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