JPH0551094B2 - - Google Patents
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- JPH0551094B2 JPH0551094B2 JP60116891A JP11689185A JPH0551094B2 JP H0551094 B2 JPH0551094 B2 JP H0551094B2 JP 60116891 A JP60116891 A JP 60116891A JP 11689185 A JP11689185 A JP 11689185A JP H0551094 B2 JPH0551094 B2 JP H0551094B2
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- fiber
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- cutoff wavelength
- optical fiber
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/08—Testing mechanical properties
- G01M11/088—Testing mechanical properties of optical fibres; Mechanical features associated with the optical testing of optical fibres
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は電気通信用光フアイバーに関し、特に
第１高次モードの遮断波長を測定する方法（プロ
セス）と装置に関する。
第１高次モードの遮断波長を測定する方法（プロ
セス）と装置に関する。
従来の技術
今日、単一モードフアイバー（即ち、唯一の電
磁モード、即ち基本モードだけを伝搬させること
が出来るフアイバー）は、時間単位で伝送され得
る情報容量が高く、減衰が少ないので、通常は電
気通信に利用されている。公知のように、ガイド
されたモードの電搬特性とモード数は規格化され
た周波数Ｖに強く依存し、該周波数は関係式Ｖ＝
2π・ａ・Δ／λに従つて、半径ａのフアイバー
コアに対するそのターン、最大数値開口Δ、及び
動作波長λに依存する。特に、或る周波数値Vp
が存在し、それを越えると（又波長λ。が存在
し、それ以下では）フアイバーはもはや単一モー
ドフアイバーとして動作しなくなる。というの
は、これ等の状態の下では基本モード以下の他の
モードが伝搬可能になるためである。以上の利点
はフアイバーの単一モード性に強く依存するの
で、Vp或いはλpを正確に知る必要がある。
磁モード、即ち基本モードだけを伝搬させること
が出来るフアイバー）は、時間単位で伝送され得
る情報容量が高く、減衰が少ないので、通常は電
気通信に利用されている。公知のように、ガイド
されたモードの電搬特性とモード数は規格化され
た周波数Ｖに強く依存し、該周波数は関係式Ｖ＝
2π・ａ・Δ／λに従つて、半径ａのフアイバー
コアに対するそのターン、最大数値開口Δ、及び
動作波長λに依存する。特に、或る周波数値Vp
が存在し、それを越えると（又波長λ。が存在
し、それ以下では）フアイバーはもはや単一モー
ドフアイバーとして動作しなくなる。というの
は、これ等の状態の下では基本モード以下の他の
モードが伝搬可能になるためである。以上の利点
はフアイバーの単一モード性に強く依存するの
で、Vp或いはλpを正確に知る必要がある。
λpの値は屈折率分布からフアイバーターンに対
して決定された値Vpを用いて得ることが出来る。
しかし、屈折率分布を正確に決定するには複雑な
測定が必要であり、しかも得られた値は実際には
あまり重要ではない。事実、実際に用いられる値
は周囲条件に厳しく依存する有効値であり、従つ
て決定された値には経験的な補正が必要である。
従つて、λpの有効値は直接測定されるべきであ
る。
して決定された値Vpを用いて得ることが出来る。
しかし、屈折率分布を正確に決定するには複雑な
測定が必要であり、しかも得られた値は実際には
あまり重要ではない。事実、実際に用いられる値
は周囲条件に厳しく依存する有効値であり、従つ
て決定された値には経験的な補正が必要である。
従つて、λpの有効値は直接測定されるべきであ
る。
λpの正確な測定は試験下のフアイバートランク
により基本モードでガイドされた、波長に対す
る、パワー部分の決定に基づいてなされるべきで
あり、このようにして、高次モードでガイドされ
たパワーの減少を定量的に観測することが出来、
又遮断波長を、基本モードでガイドされたパワー
部分が閾値（例えば、長さ２ｍのフアイバートラ
ンクに対して90％）以上になり、従つて高次モー
ドでガイドされたパワーが省略できる程になる波
長として定義することが出来る。
により基本モードでガイドされた、波長に対す
る、パワー部分の決定に基づいてなされるべきで
あり、このようにして、高次モードでガイドされ
たパワーの減少を定量的に観測することが出来、
又遮断波長を、基本モードでガイドされたパワー
部分が閾値（例えば、長さ２ｍのフアイバートラ
ンクに対して90％）以上になり、従つて高次モー
ドでガイドされたパワーが省略できる程になる波
長として定義することが出来る。
この決定法に基づく若干の遮断波長測定法は既
に公知である。最初の例が、1982年９月21日〜24
日にカンヌで開催された第８回ECOCにジー・グ
ロツソ（G.Grosso）、ピー・スパノ（P.Spano）、
ジー・ドマルチス（G.De Marchis）によりコン
フアレンスプロシーデイングズの98〜101頁に
「単一モード」フアイバーの遮断波長の新しい測
定法」と題して報告されている。
に公知である。最初の例が、1982年９月21日〜24
日にカンヌで開催された第８回ECOCにジー・グ
ロツソ（G.Grosso）、ピー・スパノ（P.Spano）、
ジー・ドマルチス（G.De Marchis）によりコン
フアレンスプロシーデイングズの98〜101頁に
「単一モード」フアイバーの遮断波長の新しい測
定法」と題して報告されている。
この方法は試験下のフアイバーの出力端部での
電磁場のコヒーレンス測定により異なるモードで
ガイドされた相対的なパワー部分を決定するもの
であり、遮断波長の正確な値が得られるが、複雑
な装置が必要である。
電磁場のコヒーレンス測定により異なるモードで
ガイドされた相対的なパワー部分を決定するもの
であり、遮断波長の正確な値が得られるが、複雑
な装置が必要である。
第２の方法は、1983年10月23〜26日付ジユネー
ブで開催された第９回ECOCに本発明者等により
提出され、コンフアレンスプロシーデイングズの
193〜196頁に「単一モードフアイバーにおける遮
断波長の偏光測定」と題して報告されている。
ブで開催された第９回ECOCに本発明者等により
提出され、コンフアレンスプロシーデイングズの
193〜196頁に「単一モードフアイバーにおける遮
断波長の偏光測定」と題して報告されている。
この方法は、高次モードに対して基本モードの
偏光特性が異なるという利点を有し、また簡単な
測定装置により実施可能であるが、被試フアイバ
ーの物理的条件を正確に制御しなければならず、
従つて測定に時間がかかり、不経済である。
偏光特性が異なるという利点を有し、また簡単な
測定装置により実施可能であるが、被試フアイバ
ーの物理的条件を正確に制御しなければならず、
従つて測定に時間がかかり、不経済である。
発明が解決しようとする問題点
逆に本発明による方法は、複雑な装置も、フア
イバー条件に関する時間のかかる制御も必要とし
ないものである。
イバー条件に関する時間のかかる制御も必要とし
ないものである。
本発明は、第１高次モード（或いは高次モー
ド）に関してのみ損失を与えるように被試フアイ
バーに対して制御された外乱を導入することに基
づくものであり、この方法は遮断波長だけが決定
されることを可能にするだけでなく、このような
損失に関して定量的な情報が得られることを可能
にし、これは製造時のフアイバーの特徴付けに有
用なものである。
ド）に関してのみ損失を与えるように被試フアイ
バーに対して制御された外乱を導入することに基
づくものであり、この方法は遮断波長だけが決定
されることを可能にするだけでなく、このような
損失に関して定量的な情報が得られることを可能
にし、これは製造時のフアイバーの特徴付けに有
用なものである。
被試フアイバー内に外乱を導入することを必要
とする（特に完全ターンにおいて）遮断波長測定
法が既に提案されている。
とする（特に完全ターンにおいて）遮断波長測定
法が既に提案されている。
この方法は、Y.カツヤマ、M.タクダ、N.ウチ
ダ、M.ナカハラにより「単一モード光フアイバ
ーのＶ値の新しい測定法」と題して報告されてい
るが、基本モードによりガイドされたパワーを決
定するのではなく、異なるモードの遮断波長に対
応し、外乱に起因する、減衰ピークを検出するも
のである。第１高次モードに比してピークがむし
ろ大きいと、測定は完全に不確定になり、結果が
不正確になり、さらにこの結果は再現困難な外乱
特性に強く依存する。
ダ、M.ナカハラにより「単一モード光フアイバ
ーのＶ値の新しい測定法」と題して報告されてい
るが、基本モードによりガイドされたパワーを決
定するのではなく、異なるモードの遮断波長に対
応し、外乱に起因する、減衰ピークを検出するも
のである。第１高次モードに比してピークがむし
ろ大きいと、測定は完全に不確定になり、結果が
不正確になり、さらにこの結果は再現困難な外乱
特性に強く依存する。
本発明は、光フアイバーの第１高次モードの遮
断波長を測定するにあたり、前記の遮断波長は、
基本モードでガイドされる光線のパワー部分（ε
（λ））が閾値を超える場合の波長を意味し、フア
イバー２に、波長を異にする光線が照射され、フ
アイバー２の出力パワーのスペクトル走査が少な
くとも３つの異なる外乱条件の下で実施され、そ
の第１条件は外乱の無い場合のものであり、第２
条件及び第３条件は、基本モードのモード反転及
び減衰をもたらさない公知特性のそれぞれ第１及
び第２の機械的及び／又は幾何学的変更の導入に
よつて与えられるものであり、これらの種々の条
件下における出力パワーの値が記憶され、そし
て、基本モードでガイドされたパワー部分が前記
値の組合せから得られるように構成された光フア
イバーの第１高次モードの遮断波長を測定する方
法において、前記の第３の外乱条件が、同じ長さ
の光フアイバーについて前記の第２の機械的及
び／又は幾何学的変更を、前記の第２の外乱条件
に付加することによつて与えられるものであるこ
とを特徴とする光フアイバーの第１高次モードの
遮断波長測定方法に関するものである。
断波長を測定するにあたり、前記の遮断波長は、
基本モードでガイドされる光線のパワー部分（ε
（λ））が閾値を超える場合の波長を意味し、フア
イバー２に、波長を異にする光線が照射され、フ
アイバー２の出力パワーのスペクトル走査が少な
くとも３つの異なる外乱条件の下で実施され、そ
の第１条件は外乱の無い場合のものであり、第２
条件及び第３条件は、基本モードのモード反転及
び減衰をもたらさない公知特性のそれぞれ第１及
び第２の機械的及び／又は幾何学的変更の導入に
よつて与えられるものであり、これらの種々の条
件下における出力パワーの値が記憶され、そし
て、基本モードでガイドされたパワー部分が前記
値の組合せから得られるように構成された光フア
イバーの第１高次モードの遮断波長を測定する方
法において、前記の第３の外乱条件が、同じ長さ
の光フアイバーについて前記の第２の機械的及
び／又は幾何学的変更を、前記の第２の外乱条件
に付加することによつて与えられるものであるこ
とを特徴とする光フアイバーの第１高次モードの
遮断波長測定方法に関するものである。
本発明はまた、異なる波長の照射光線を試験下
のフアイバー２に送出する光源１と、異なる波長
を選別するモノクロメータ６と、フアイバー２か
ら出た放射を受け、この等の放射を電気信号に変
換する光検出器８と、前記の異なる波長の電気信
号のパワーを測定し且つ該パワーから、基本モー
ドでガイドされたパワー部分（ε（λ））を算出す
る測定・計算システム９，１０とを備え、前記光
検出器８は前記測定・計算システム９，１０と共
同動作し、そして前記測定・計算システム９，１
０は、少なくとも３つの異なる外乱条件の下で波
長毎に得られる電気信号のパワー値から前記パワ
ー部分を得るために配置されたものである、光フ
アイバーの第１高次モードの遮断波長測定装置に
おいて、前記の遮断波長は、基本モードでガイド
される光線のパワー部分が閾値を超える場合の波
長を意味し、フアイバー２が通る一対の装置４
ａ，４ｂがフアイバーに沿つて配置され、これ等
の装置４ａ，４ｂは、反復自在な且制御された方
法で外乱をフアイバー内に導入するために個別に
動作可能なものであり、そして、第１の外乱条件
の場合には２つの装置４ａ，４ｂはフアイバーと
係合せずに保たれ、すなわち外乱の無い状態にさ
れ、第２の外乱条件の場合には２つの装置４ａ，
４ｂのうちの１つだけがフアイバーと係合して作
動し、これによつて第１の機械的および／または
幾何学的変更がなされ、第３の外乱条件の場合に
は２つの装置４ａ，４ｂの両者共作動して前記の
第１の機械的および／または幾何学的変更と、第
２の機械的および／または幾何学的変更とがなさ
れることを特徴とする光フアイバーの第１高次モ
ードの遮断波長測定装置にも関する。
のフアイバー２に送出する光源１と、異なる波長
を選別するモノクロメータ６と、フアイバー２か
ら出た放射を受け、この等の放射を電気信号に変
換する光検出器８と、前記の異なる波長の電気信
号のパワーを測定し且つ該パワーから、基本モー
ドでガイドされたパワー部分（ε（λ））を算出す
る測定・計算システム９，１０とを備え、前記光
検出器８は前記測定・計算システム９，１０と共
同動作し、そして前記測定・計算システム９，１
０は、少なくとも３つの異なる外乱条件の下で波
長毎に得られる電気信号のパワー値から前記パワ
ー部分を得るために配置されたものである、光フ
アイバーの第１高次モードの遮断波長測定装置に
おいて、前記の遮断波長は、基本モードでガイド
される光線のパワー部分が閾値を超える場合の波
長を意味し、フアイバー２が通る一対の装置４
ａ，４ｂがフアイバーに沿つて配置され、これ等
の装置４ａ，４ｂは、反復自在な且制御された方
法で外乱をフアイバー内に導入するために個別に
動作可能なものであり、そして、第１の外乱条件
の場合には２つの装置４ａ，４ｂはフアイバーと
係合せずに保たれ、すなわち外乱の無い状態にさ
れ、第２の外乱条件の場合には２つの装置４ａ，
４ｂのうちの１つだけがフアイバーと係合して作
動し、これによつて第１の機械的および／または
幾何学的変更がなされ、第３の外乱条件の場合に
は２つの装置４ａ，４ｂの両者共作動して前記の
第１の機械的および／または幾何学的変更と、第
２の機械的および／または幾何学的変更とがなさ
れることを特徴とする光フアイバーの第１高次モ
ードの遮断波長測定装置にも関する。
本装置の説明に入る前に、本発明のプロセスの
目的を以下に説明する。
目的を以下に説明する。
所与の波長に対して我々は：
−基本モードにより（モードLP01）ガイドされ
たパワーをP0により、 −高次モードにより（一般的にはモードLP11）
ガイドされたパワーP1により示すものとする。
たパワーをP0により、 −高次モードにより（一般的にはモードLP11）
ガイドされたパワーP1により示すものとする。
この時、基本モードで伝搬するパワー部分は：
ε（λ）＝P0／P0＋P1
で表わされる。
このパワー部分を得るために、本発明に従つ
て、モード変換も基本モードにおける有意の損失
も与えないように、制御された外乱がフアイバー
内に導入され、ε（λ）の値は異なる外乱条件の
下でフアイバー内に伝送されるパワーＷの異なる
測定を通し、又その結果を組合わせることにより
得ることが出来る。特に、外乱のない場合に伝搬
されるパワー測定は次の値： Ｗ＝Ｋ（P0＋P1） (1) を与える。
て、モード変換も基本モードにおける有意の損失
も与えないように、制御された外乱がフアイバー
内に導入され、ε（λ）の値は異なる外乱条件の
下でフアイバー内に伝送されるパワーＷの異なる
測定を通し、又その結果を組合わせることにより
得ることが出来る。特に、外乱のない場合に伝搬
されるパワー測定は次の値： Ｗ＝Ｋ（P0＋P1） (1) を与える。
第１の外乱Ａをフアイバーに沿つて導入して実
施される第２の測定は伝送されるパワーに対して
次の値 Wa＝Ｋ〔P0＋P1exp（−γa）〕 (2) を与え、ここにγaは外乱Ａに起因して高次モード
により与えられる損失である。
施される第２の測定は伝送されるパワーに対して
次の値 Wa＝Ｋ〔P0＋P1exp（−γa）〕 (2) を与え、ここにγaは外乱Ａに起因して高次モード
により与えられる損失である。
更にフアイバーに沿つて第２外乱Ｂもまた存在
する場合に行われる第３の測定は、値： Wab＝Ｋ〔P0＋P1exp（−γa−γb） (3) を与え、ここにγbは外乱Ｂに起因して高次モード
により与えられる損失である。
する場合に行われる第３の測定は、値： Wab＝Ｋ〔P0＋P1exp（−γa−γb） (3) を与え、ここにγbは外乱Ｂに起因して高次モード
により与えられる損失である。
最後に、外乱Ｂのみが存在する場合に行われる
他の測定は、値： Wb＝Ｋ〔P0＋P1exp（−γb）〕 (4) を与える。
他の測定は、値： Wb＝Ｋ〔P0＋P1exp（−γb）〕 (4) を与える。
外乱Ｂが、Wa＝Wbのように、Ａに一致する場
合は後者の測定は明らかに不要であり、装置の説
明で示すように、フアイバーに２つの同等な外乱
が導入されても問題にはならない。
合は後者の測定は明らかに不要であり、装置の説
明で示すように、フアイバーに２つの同等な外乱
が導入されても問題にはならない。
簡単な数学的演算により、前記の関係は：
ε（γ）＝P0／P0＋P1＝WWab−WaWb／Ｗ（Ｗ−Wa−Wb＋
Wab）(5) となる。
Wab）(5) となる。
さらに、同じ測定により損失係数γa，γbが与え
られる。特に： γa＝−log〔Wab−Wa）／（Wb−Ｗ）〕 γb＝−log〔Wab−Wb）／（Wa−Ｗ）〕 (6) が与えられる。
られる。特に： γa＝−log〔Wab−Wa）／（Wb−Ｗ）〕 γb＝−log〔Wab−Wb）／（Wa−Ｗ）〕 (6) が与えられる。
実施例
第１図を参照すると、光フアイバー伝送に通常
用いられる波長の放射からなる光源がフアイバー
トランクの２の端部を照明し、適切な光学系３を
通して前記端部に集光される。この光の径路にあ
るフアイバー２は一対の装置４ａ，４ｂ内を通過
し、該装置はフアイバーに制御された外乱を与え
るか、外乱なしに放置されるものである。
用いられる波長の放射からなる光源がフアイバー
トランクの２の端部を照明し、適切な光学系３を
通して前記端部に集光される。この光の径路にあ
るフアイバー２は一対の装置４ａ，４ｂ内を通過
し、該装置はフアイバーに制御された外乱を与え
るか、外乱なしに放置されるものである。
フアイバーから出射した光は第２光学系５を通
してモノクロメータ６に集光され、該モノクロメ
ータは波長の異なる単色放射を前記光から分離す
る。
してモノクロメータ６に集光され、該モノクロメ
ータは波長の異なる単色放射を前記光から分離す
る。
また、モノクロメータ６を被試フアイバー２の
上流側の場所（すなわち、光源１とフアイバー２
との間の適当な場所）に配置することも可能であ
る。モノクロメータ６から出射した単色放射は、
第３光学系７を通して光検出器８に集光され、該
光検出器はこれから出射する電気信号のパワーを
決定する装置９に接続され、次に計算器１０が配
置され、該計算器は関係式(5)により異なる波長で
基本モードでガイドされたパワー部分ε（γ）と
関係式(6)により高次モードの損失との両者を測定
するものである。ε（γ）の挙動はまた必要に応
じて表示可能である。
上流側の場所（すなわち、光源１とフアイバー２
との間の適当な場所）に配置することも可能であ
る。モノクロメータ６から出射した単色放射は、
第３光学系７を通して光検出器８に集光され、該
光検出器はこれから出射する電気信号のパワーを
決定する装置９に接続され、次に計算器１０が配
置され、該計算器は関係式(5)により異なる波長で
基本モードでガイドされたパワー部分ε（γ）と
関係式(6)により高次モードの損失との両者を測定
するものである。ε（γ）の挙動はまた必要に応
じて表示可能である。
被試フアイバー２に対する外乱を得る非常に簡
単な方法は該フアイバーをして曲げ半径が非常に
小さい蛇行路を追随せしめることにより与えられ
る。この場合、装置４ａ，４ｂは第２図に示した
構造を持つことが出来る。
単な方法は該フアイバーをして曲げ半径が非常に
小さい蛇行路を追随せしめることにより与えられ
る。この場合、装置４ａ，４ｂは第２図に示した
構造を持つことが出来る。
１対の板１３，１４が１対の水平ガイド１１，
１２に固定され、第１の板は固定されるが、第２
の板はばね１５，１６作用して抗にガイド１１，
１２に沿つて移動可能であり、ここに該ばねの１
端部は板を押圧するが、他端部はガイドに嵌合し
た第２固定要素１７に対して当接するものであ
る。これ等の２枚の板は軸線が平行する２つのロ
ーラ群（例えば、固定板１３の２つのローラ１８
ａ，１８ｂ、及び移動板１４のローラ１９）を与
え、フアイバーはこれ等のローラ間を通過するよ
うに配列される。移動板１４は、固定板１３に取
り付けられ、変位制御を可能にする目盛尺２１付
きマイクロマニピユレータ２０により変位可能で
ある。ローラ間にフアイバー２を維持する装置は
簡単のため図示してない。
１２に固定され、第１の板は固定されるが、第２
の板はばね１５，１６作用して抗にガイド１１，
１２に沿つて移動可能であり、ここに該ばねの１
端部は板を押圧するが、他端部はガイドに嵌合し
た第２固定要素１７に対して当接するものであ
る。これ等の２枚の板は軸線が平行する２つのロ
ーラ群（例えば、固定板１３の２つのローラ１８
ａ，１８ｂ、及び移動板１４のローラ１９）を与
え、フアイバーはこれ等のローラ間を通過するよ
うに配列される。移動板１４は、固定板１３に取
り付けられ、変位制御を可能にする目盛尺２１付
きマイクロマニピユレータ２０により変位可能で
ある。ローラ間にフアイバー２を維持する装置は
簡単のため図示してない。
以上に記載した装置を用い、本発明に従つて与
えられるプロセスは次のようになる。即ち、装置
４ａ，４ｂのローラ間にフアイバーが置かれ、こ
れ等の装置は初めは、フアイバー２に如何なる外
乱も導入されない距離に置かれており、光源１か
らの光がフアイバー２に送られ、波長の異なる出
射パワーＷが測定され、得られた値が計算器１０
に記憶される。
えられるプロセスは次のようになる。即ち、装置
４ａ，４ｂのローラ間にフアイバーが置かれ、こ
れ等の装置は初めは、フアイバー２に如何なる外
乱も導入されない距離に置かれており、光源１か
らの光がフアイバー２に送られ、波長の異なる出
射パワーＷが測定され、得られた値が計算器１０
に記憶される。
次に、装置４ａを通して、第１の外乱がフアイ
バー２に導かれ、マイクロマニピユレータ２０を
通してローラ１８ａ，１８ｂ，１９を支柱１３，
１４を近くに移動させ、これによりフアイバーは
ローラ間で蛇行路を形成し、また波長の異なる
Waの値が測定され、記憶される。この測定は装
置４ｂを通して第２の外乱を導入して反復され、
かくしてWabの値が得られる。
バー２に導かれ、マイクロマニピユレータ２０を
通してローラ１８ａ，１８ｂ，１９を支柱１３，
１４を近くに移動させ、これによりフアイバーは
ローラ間で蛇行路を形成し、また波長の異なる
Waの値が測定され、記憶される。この測定は装
置４ｂを通して第２の外乱を導入して反復され、
かくしてWabの値が得られる。
目盛２１付きマニピユレータ２０は、装置４ｂ
と４ａのローラの支柱が充分同じ距離にあるよう
に制御されることを可能にし、次に第２の外乱は
第１のものに同じであり、従つて第２外乱のみが
存在する場合の第４の測定はもはや不要となる。
と４ａのローラの支柱が充分同じ距離にあるよう
に制御されることを可能にし、次に第２の外乱は
第１のものに同じであり、従つて第２外乱のみが
存在する場合の第４の測定はもはや不要となる。
ここで、異なる波長におけるＷ，Wa（＝Wb），
Wabの値が計算器１０に記憶され、該計算器は関
係式(5)に従つてε（λ）の値を獲得し、ε（λ）が
閾値に達する波長を検出し、更に、関係式(6)に従
つて高次モードの損失λa（＝λb）値を供給する。
Wabの値が計算器１０に記憶され、該計算器は関
係式(5)に従つてε（λ）の値を獲得し、ε（λ）が
閾値に達する波長を検出し、更に、関係式(6)に従
つて高次モードの損失λa（＝λb）値を供給する。
以上の説明からわかるように、λp。の測定は複
雑な装置も長い制御動作も必要としない。事実、
全ての装置要素は光学測定に共通に用いられ、或
いは容易に入手できる部品により実施される。更
に、異なる外乱を導入するためにローラ１８，１
９の位置調節が唯一の手動操作（これは自動化で
きる）により行われるが、これは非常に迅速な操
作である。他の全ての動作は計算器１０により自
動的に実施される。
雑な装置も長い制御動作も必要としない。事実、
全ての装置要素は光学測定に共通に用いられ、或
いは容易に入手できる部品により実施される。更
に、異なる外乱を導入するためにローラ１８，１
９の位置調節が唯一の手動操作（これは自動化で
きる）により行われるが、これは非常に迅速な操
作である。他の全ての動作は計算器１０により自
動的に実施される。
第３図及び第４図は、遮断波長（上記のように
定義した）が1280mmのフアイバーのＷ，Wa，
Wab及びλa，ε（λ）対波長を図示したものであ
る。
定義した）が1280mmのフアイバーのＷ，Wa，
Wab及びλa，ε（λ）対波長を図示したものであ
る。
第３図では、縦座標が任意単位で与えられ、第
４図では左手の縦座標はε値に関係し、右手の縦
座標はdBで表わした減衰量γに関係する。
４図では左手の縦座標はε値に関係し、右手の縦
座標はdBで表わした減衰量γに関係する。
グラフはそれ自身でわかるようにしてあり、従
つてそれ以上の詳細な説明は与えない。
つてそれ以上の詳細な説明は与えない。
上記の説明は制限のない例の形で与えられただ
けであり、従つて本発明の範囲から逸脱すること
なく幾つかの偏光、修正が可能である。
けであり、従つて本発明の範囲から逸脱すること
なく幾つかの偏光、修正が可能である。
特に、上記の説明が蛇行路内にフアイバーを拘
束して得られる外乱に関係しても、フアイバー
は、制御可能で反復自在に機械的及び／又は幾何
学的特性（例えば、圧縮）を変える他の外乱を受
けることができる。
束して得られる外乱に関係しても、フアイバー
は、制御可能で反復自在に機械的及び／又は幾何
学的特性（例えば、圧縮）を変える他の外乱を受
けることができる。
第１図は、本発明によるプロセスを実施する装
置の概略図であり、第２図は、制御された外乱を
フアイバーに導入する装置の１例であり、第３図
及び第４図は本発明に従つて得られた結果を図示
したグラフである。 １……光源、２……フアイバートランク、３，
５，７……光学系、４ａ，４ｂ……１対の装置、
６……モノクロメータ、８……光検出器、９……
電気信号パワー決定装置、１０……計算器、１
１，１２……ガイド、１３，１４……１対の板、
１５，１６……ばね、１７……固定要素、１９…
…ローラ、２０……マイクロマニピユレータ、２
１……目盛。
置の概略図であり、第２図は、制御された外乱を
フアイバーに導入する装置の１例であり、第３図
及び第４図は本発明に従つて得られた結果を図示
したグラフである。 １……光源、２……フアイバートランク、３，
５，７……光学系、４ａ，４ｂ……１対の装置、
６……モノクロメータ、８……光検出器、９……
電気信号パワー決定装置、１０……計算器、１
１，１２……ガイド、１３，１４……１対の板、
１５，１６……ばね、１７……固定要素、１９…
…ローラ、２０……マイクロマニピユレータ、２
１……目盛。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 光フアイバーの第１高次モードの遮断波長を
測定するにあたり、前記の遮断波長は、基本モー
ドでガイドされる光線のパワー部分（ε（λ））が
閾値を超える場合の波長を意味し、フアイバー２
に、波長を異にする光線が照射され、フアイバー
２の出力パワーのスペクトル走査が少なくとも３
つの異なる外乱条件の下で実施され、その第１条
件は外乱の無い場合のものであり、第２条件及び
第３条件は、基本モードのモード反転及び減衰を
もたらさない公知特性のそれぞれの第１及び第２
の機械的及び／又は幾何学的変更の導入によつて
与えられるものであり、これらの種々の条件下に
おける出力パワーの値が記憶され、そして、基本
モードでガイドされたパワー部分が前記値の組合
せから得られるように構成された光フアイバーの
第１高次モードの遮断波長を測定する方法におい
て、前記の第３外乱条件が、同じ長さの光フアイ
バーについて前記の第２の機械的及び／又は幾何
学的変更を、前記の第２の外乱条件に付加するこ
とによつて与えられるものであることを特徴とす
る光フアイバーの第１高次モードの遮断波長測定
方法。 ２ 第１及び第２の変更が同じである特許請求の
範囲第１項に記載の光フアイバーの第１高次モー
ドの遮断波長測定方法。 ３ 第１及び第２の変更が異なるものであり、フ
アイバー２の出力パワーのさらに別のスペクトル
走査が、第２の変更のみをフアイバー２に導入し
て得られる第４外乱条件において実施される特許
請求の範囲第１項に記載の光フアイバーの第１高
次モードの遮断波長測定方法。 ４ 各々の変更は、蛇行路にフアイバーを拘束し
て与えられる特許請求の範囲第１項乃至第３項の
いずれか一項に記載の光フアイバーの第１高次モ
ードの遮断波長測定方法。 ５ 異なる波長の照射光線を試験下のフアイバー
２に送出する光源１と、異なる波長を選別するモ
ノクロメータ６と、フアイバー２から出た放射を
受け、これ等の放射を電気信号に変換する光検出
器８と、前記の異なる波長の電気信号のパワーを
測定し且つ該パワーから、基本モードでガイドさ
れたパワー部分（ε（λ））を算出する測定・計算
システム９，１０とを備え、前記光検出器８は前
記測定・計算システム９，１０と共同動作し、そ
して前記測定・計算システム９，１０は、少なく
とも３つの異なる外乱条件の下で波長毎に得られ
る電気信号のパワー値から前記パワー部分を得る
ために配置されたものである、光フアイバーの第
１高次モードの遮断波長測定装置において、前記
の遮断波長は、基本モードでガイドされる光線の
パワー部分が閾値を超える場合の波長を意味し、
フアイバー２が通る一対の装置４ａ，４ｂがフア
イバーに沿つて配置され、これ等の装置４ａ，４
ｂは、反復自在な且制御された方法で外乱をフア
イバー内に導入するために個別に動作可能なもの
であり、そして、第１の外乱条件の場合には２つ
の装置４ａ，４ｂはフアイバーと係合せずに保た
れ、すなわち外乱の無い状態にされ、第２の外乱
条件の場合には２つの装置４ａ，４ｂのうちの１
つだけがフアイバーと係合して作動し、これによ
つて第１の機械的および／または幾何学的変更が
加えられ、第３の外乱条件の場合には２つの装置
４ａ，４ｂの両者共作動して前記の第１の機械的
および／または幾何学的変更と、第２の機械的お
よび／または幾何学的変更とが加えられることを
特徴とする光フアイバーの第１高次モードの遮断
波長測定装置。 ６ ２つの装置４ａ，４ｂが試験下の光フアイバ
ー２内に等しい外乱を導入するものである特許請
求の範囲第５項に記載の光フアイバーの第１高次
モードの遮断波長測定装置。 ７ 装置４ａ，４ｂがフアイバーに非常に小さな
半径の曲げを与えることができるものである特許
請求の範囲第５項または第６項に記載の光フアイ
バーの第一高次モードの遮断波長測定装置。 ８ 装置４ａ，４ｂが、試験中のフアイバー２が
通過するガイドを画定する２群１８ａ，１８ｂ，
１９の対面ローラのごとき対向円筒面を含み、こ
の２群の一方が、２群の円筒面１８ａ，１８ｂ，
１９間の距離を変え且つこの距離の値を表示する
装置２０，２１と共働する移動支持体１４上に配
置される特許請求の範囲第７項に記載の光フアイ
バーの第一高次モードの遮断波長測定装置。 ９ 測定・計算システム９，１０は、異なる外乱
条件ににおいて計算された電気信号のパワー値か
ら、高次モードにおける各外乱によりもたらされ
る減衰値γa，γbを更に得る事が出来るものであ
る特許請求の範囲第５項乃至第８項のいずれか一
項に記載の光フアイバーの第一高次モードの遮断
波長測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| IT67580-A/84 | 1984-06-05 | ||
| IT67580/84A IT1180071B (it) | 1984-06-05 | 1984-06-05 | Procedimento e apparecchiatura per la misura della lunghezza d'onda di taglio del primo modo d'ordine superiore in fibre ottiche |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60262028A JPS60262028A (ja) | 1985-12-25 |
| JPH0551094B2 true JPH0551094B2 (ja) | 1993-07-30 |
Family
ID=11303608
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60116891A Granted JPS60262028A (ja) | 1984-06-05 | 1985-05-31 | 光ファイバーの第１高次モードの遮断波長測定方法および装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4657388A (ja) |
| EP (1) | EP0172328B1 (ja) |
| JP (1) | JPS60262028A (ja) |
| CA (1) | CA1225843A (ja) |
| DE (2) | DE3573019D1 (ja) |
| IT (1) | IT1180071B (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AU573924B2 (en) * | 1984-02-13 | 1988-06-23 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Measuring cut-off wavelength of a single-mode optical fibre |
| GB8704540D0 (en) * | 1987-02-26 | 1987-04-01 | Bicc Plc | Optical sensors |
| US4822135A (en) * | 1987-08-07 | 1989-04-18 | George Seaver | Optical wave guide band edge sensor and method |
| US4890915A (en) * | 1988-08-16 | 1990-01-02 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Method and apparatus for determining optical absorption and emission characteristics of a crystal or non-crystalline fiber |
| DE4005360A1 (de) * | 1990-02-16 | 1991-08-22 | Siecor Ges Fuer Lichtwellenlei | Messbank zur grenzwellenlaengenmessung bei optischen fasern |
| US6456370B1 (en) * | 2001-03-29 | 2002-09-24 | Fitel Usa Corp. | Method of measuring bending loss with an optical time domain reflectometer |
| NL1023909C2 (nl) * | 2003-07-11 | 2005-01-12 | Draka Fibre Technology Bv | Werkwijze voor het bepalen van de afsnijgolflengte van een optische vezel, alsmede een daarvoor geschikte inrichting. |
| EP2237010B8 (en) * | 2009-03-30 | 2018-02-14 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Cutoff wavelength measuring method and optical communication system |
| JP5768473B2 (ja) * | 2011-04-27 | 2015-08-26 | 住友電気工業株式会社 | カットオフ波長測定方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5146148A (ja) * | 1974-10-18 | 1976-04-20 | Nippon Telegraph & Telephone | Hikarifuaibadensosonshitsusokuteiho |
| JPS58191950A (ja) * | 1982-05-04 | 1983-11-09 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光損失測定方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3039088A1 (de) * | 1980-10-16 | 1981-10-29 | Deutsche Bundespost vertreten durch den Präsidenten des Fernmeldetechnischen Zentralamtes, 6100 Darmstadt | Verfahren und anordnung zur untersuchung des uebertragungsverhaltens von lichtwellenleiterkabeln |
-
1984
- 1984-06-05 IT IT67580/84A patent/IT1180071B/it active
-
1985
- 1985-05-01 CA CA000480517A patent/CA1225843A/en not_active Expired
- 1985-05-31 JP JP60116891A patent/JPS60262028A/ja active Granted
- 1985-06-03 DE DE8585106834T patent/DE3573019D1/de not_active Expired
- 1985-06-03 DE DE198585106834T patent/DE172328T1/de active Pending
- 1985-06-03 EP EP85106834A patent/EP0172328B1/en not_active Expired
- 1985-06-04 US US06/740,968 patent/US4657388A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5146148A (ja) * | 1974-10-18 | 1976-04-20 | Nippon Telegraph & Telephone | Hikarifuaibadensosonshitsusokuteiho |
| JPS58191950A (ja) * | 1982-05-04 | 1983-11-09 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光損失測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0172328A3 (en) | 1986-12-30 |
| JPS60262028A (ja) | 1985-12-25 |
| IT1180071B (it) | 1987-09-23 |
| DE172328T1 (de) | 1987-03-19 |
| EP0172328B1 (en) | 1989-09-13 |
| DE3573019D1 (en) | 1989-10-19 |
| EP0172328A2 (en) | 1986-02-26 |
| IT8467580A0 (it) | 1984-06-05 |
| IT8467580A1 (it) | 1985-12-05 |
| US4657388A (en) | 1987-04-14 |
| CA1225843A (en) | 1987-08-25 |
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