JPH09229816A - カットオフ波長の測定方法 - Google Patents
カットオフ波長の測定方法Info
- Publication number
- JPH09229816A JPH09229816A JP6045396A JP6045396A JPH09229816A JP H09229816 A JPH09229816 A JP H09229816A JP 6045396 A JP6045396 A JP 6045396A JP 6045396 A JP6045396 A JP 6045396A JP H09229816 A JPH09229816 A JP H09229816A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- fiber
- guide
- cutoff wavelength
- wavelength
- Prior art date
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- Pending
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 光ファイバのカットオフ波長の測定時におけ
るハンプの発生を抑え、測定精度の高い測定方法を提供
する。 【解決手段】 本発明によるカットオフ波長の測定方法
は、試料長２ｍの光ファイバに直径 280mmの曲げを加え
たときの透過光パワーＰ1 と、この光ファイバに直径60
mmの曲げを加えたときの透過光パワーＰ2 とのパワー比
が 0.1dBとなる最長の波長をカットオフ波長とするカッ
トオフ波長の測定方法において、光ファイバにねじりを
加えて透過光パワーを測定することを特徴とするもので
ある。
るハンプの発生を抑え、測定精度の高い測定方法を提供
する。 【解決手段】 本発明によるカットオフ波長の測定方法
は、試料長２ｍの光ファイバに直径 280mmの曲げを加え
たときの透過光パワーＰ1 と、この光ファイバに直径60
mmの曲げを加えたときの透過光パワーＰ2 とのパワー比
が 0.1dBとなる最長の波長をカットオフ波長とするカッ
トオフ波長の測定方法において、光ファイバにねじりを
加えて透過光パワーを測定することを特徴とするもので
ある。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はカットオフ波長の測
定方法、特にはシングルモード光ファイバのカットオフ
波長の測定方法に関するものである。
定方法、特にはシングルモード光ファイバのカットオフ
波長の測定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】シングルモード光ファイバにおいて重要
な特性であるカットオフ波長の測定方法は、現在 Inter
national Telecommunication Union-T（ＩＴＵ−Ｔ）に
て次のような曲げ法を勧告している。この曲げ法による
カットオフ波長の測定方法は、図１（ａ）、（ｂ）に示
すように、試料２ｍの光ファイバに直径 280mmの曲げを
加えたとき（図１（ａ））の透過光パワーＰ1 と、この
光ファイバに直径60mmの曲げを加えたとき（図１
（ｂ））の透過光パワーＰ2 とのパワー比が 0.1dBとな
る最長の波長をカットオフ波長とする測定方法であり、
この方法により測定されたカットオフ波長は図３におい
てλｃで示される。
な特性であるカットオフ波長の測定方法は、現在 Inter
national Telecommunication Union-T（ＩＴＵ−Ｔ）に
て次のような曲げ法を勧告している。この曲げ法による
カットオフ波長の測定方法は、図１（ａ）、（ｂ）に示
すように、試料２ｍの光ファイバに直径 280mmの曲げを
加えたとき（図１（ａ））の透過光パワーＰ1 と、この
光ファイバに直径60mmの曲げを加えたとき（図１
（ｂ））の透過光パワーＰ2 とのパワー比が 0.1dBとな
る最長の波長をカットオフ波長とする測定方法であり、
この方法により測定されたカットオフ波長は図３におい
てλｃで示される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このカットオ
フ波長の測定法には、図７に示したようにカットオフ波
長λｃ付近にこぶ状のものが発生する。これはハンプ
（Hump）と呼ばれているが、これは測定毎に発生したり
しなかったりするため、カットオフ波長の測定値の再現
性を悪化させる原因となる。したがって、チャート上の
ハンプを除去してカットオフ波長を推定する手段なども
検討されているが、これらは本来のカットオフ波長を推
定するに過ぎないので、それ以上の測定精度の向上は困
難である。
フ波長の測定法には、図７に示したようにカットオフ波
長λｃ付近にこぶ状のものが発生する。これはハンプ
（Hump）と呼ばれているが、これは測定毎に発生したり
しなかったりするため、カットオフ波長の測定値の再現
性を悪化させる原因となる。したがって、チャート上の
ハンプを除去してカットオフ波長を推定する手段なども
検討されているが、これらは本来のカットオフ波長を推
定するに過ぎないので、それ以上の測定精度の向上は困
難である。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明はこのような不
利、問題点を解決して、測定精度を向上させたカットオ
フ波長の測定方法に関するもので、これは試料長２ｍの
光ファイバに直径 280mmの曲げを加えたときの透過光パ
ワーＰ1 と、この光ファイバに直径60mmの曲げを加えた
ときの透過光パワーＰ2 とのパワー比が 0.1dBとなる最
長の波長をカットオフ波長とするカットオフ波長の測定
方法において、光ファイバにねじりを加えて透過光パワ
ーを測定することを特徴とするものである。
利、問題点を解決して、測定精度を向上させたカットオ
フ波長の測定方法に関するもので、これは試料長２ｍの
光ファイバに直径 280mmの曲げを加えたときの透過光パ
ワーＰ1 と、この光ファイバに直径60mmの曲げを加えた
ときの透過光パワーＰ2 とのパワー比が 0.1dBとなる最
長の波長をカットオフ波長とするカットオフ波長の測定
方法において、光ファイバにねじりを加えて透過光パワ
ーを測定することを特徴とするものである。
【０００５】まず、本発明者らは従来法により光ファイ
バに曲がりを加えて透過光パワーを測定すると、図７に
示したようにハンプの発生することから、ハンプの発生
メカニズムをしらべたところ、図５、図６に示されてい
るように曲がりの加えられた部分には、放射モードに変
換された光がクラッドとコーティング層（図５）、コー
ティング層と空気層（図６）のそれぞれの境界面での屈
折率差によりクラッド内やコーティング層内に閉じ込め
られ、これがクラッド内あるいはコーティング層内を伝
搬し、最終的に出射端面まで伝搬するウイスパリング・
ギャラリー・モード（ＷＧモード）が原因とされてい
る。
バに曲がりを加えて透過光パワーを測定すると、図７に
示したようにハンプの発生することから、ハンプの発生
メカニズムをしらべたところ、図５、図６に示されてい
るように曲がりの加えられた部分には、放射モードに変
換された光がクラッドとコーティング層（図５）、コー
ティング層と空気層（図６）のそれぞれの境界面での屈
折率差によりクラッド内やコーティング層内に閉じ込め
られ、これがクラッド内あるいはコーティング層内を伝
搬し、最終的に出射端面まで伝搬するウイスパリング・
ギャラリー・モード（ＷＧモード）が原因とされてい
る。
【０００６】しかし、本発明者らは実験により、ＷＧモ
ードは光ファイバにねじりを加えると伝搬されなくなる
ことを見出し、光ファイバに曲がりを加えてカットオフ
波長を測定するときに、光ファイバにねじりを加えれば
ハンプの発生が抑制され、カットオフ波長の測定精度が
向上することを確認して本発明を完成させた。
ードは光ファイバにねじりを加えると伝搬されなくなる
ことを見出し、光ファイバに曲がりを加えてカットオフ
波長を測定するときに、光ファイバにねじりを加えれば
ハンプの発生が抑制され、カットオフ波長の測定精度が
向上することを確認して本発明を完成させた。
【０００７】
【発明の実施の形態】ねじりは光ファイバに曲げを加え
たときに加えるのであるが、これは光ファイバに直径 2
80mmの曲げを加えたとき、または直径60mmの曲げを加え
たときのいずれか、あるいは両方の場合であってもよ
く、好ましくは直径280 mmの曲げを加えたときがよい。
ねじりの回数は１回でも、２回以上の複数回としても
よいが、ハンプの発生を抑えるには１回以上とすればよ
い。またねじりの方向は光ファイバに対し、右回り、左
回りのいずれでもよい。
たときに加えるのであるが、これは光ファイバに直径 2
80mmの曲げを加えたとき、または直径60mmの曲げを加え
たときのいずれか、あるいは両方の場合であってもよ
く、好ましくは直径280 mmの曲げを加えたときがよい。
ねじりの回数は１回でも、２回以上の複数回としても
よいが、ハンプの発生を抑えるには１回以上とすればよ
い。またねじりの方向は光ファイバに対し、右回り、左
回りのいずれでもよい。
【０００８】図１（ａ），（ｂ）は曲げ法によるカット
オフ波長の測定方法の概略図を示したもので、本発明は
直径が 125μｍで長さが２ｍの光ファイバに直径 280mm
の曲げを加えたとき（図１（ａ））の透過光パワーＰ1
と、この光ファイバに直径60mmの曲げを加えたとき（図
１（ｂ））の透過光パワーＰ2 との比が 0.1dBとなる最
長の波長をカットオフ波長とするカットオフ波長の測定
方法において、光ファイバにねじりを加えて透過光パワ
ーを測定するものである。正確な曲げ径およびねじりを
加えるために図４（ａ）、（ｂ）に示すような治具を用
いるとよい。図４（ａ）はφ280mm の場合の治具の平面
図を、また図４（ｂ）はそのＡ…Ａ’断面図を示したも
ので、この治具はベース板３の上にガイド１、ガイド２
が配置された構成であり、ガイド１は光ファイバ５の直
線部を、又ガイド２は光ファイバ５の円形部を挿み込む
ためのもので、各ガイド１、２はテーパー溝４を有して
おり、ねじりを加えられた光ファイバ５はテーパー溝４
に閉じ込められて固定できるようになっている。光ファ
イバ５は一方の端を固定し、他端にねじりを加えた後、
ガイド１の直線部、ガイド２の円形部、ガイド１の直線
部の順に各テーパー溝４に挿み込み固定される。このね
じりは光ファイバ端部を保持具で固定することにより光
ファイバに閉じ込められ、ねじりによって発生する光フ
ァイバの乱れはテーパー溝４により抑えられる。
オフ波長の測定方法の概略図を示したもので、本発明は
直径が 125μｍで長さが２ｍの光ファイバに直径 280mm
の曲げを加えたとき（図１（ａ））の透過光パワーＰ1
と、この光ファイバに直径60mmの曲げを加えたとき（図
１（ｂ））の透過光パワーＰ2 との比が 0.1dBとなる最
長の波長をカットオフ波長とするカットオフ波長の測定
方法において、光ファイバにねじりを加えて透過光パワ
ーを測定するものである。正確な曲げ径およびねじりを
加えるために図４（ａ）、（ｂ）に示すような治具を用
いるとよい。図４（ａ）はφ280mm の場合の治具の平面
図を、また図４（ｂ）はそのＡ…Ａ’断面図を示したも
ので、この治具はベース板３の上にガイド１、ガイド２
が配置された構成であり、ガイド１は光ファイバ５の直
線部を、又ガイド２は光ファイバ５の円形部を挿み込む
ためのもので、各ガイド１、２はテーパー溝４を有して
おり、ねじりを加えられた光ファイバ５はテーパー溝４
に閉じ込められて固定できるようになっている。光ファ
イバ５は一方の端を固定し、他端にねじりを加えた後、
ガイド１の直線部、ガイド２の円形部、ガイド１の直線
部の順に各テーパー溝４に挿み込み固定される。このね
じりは光ファイバ端部を保持具で固定することにより光
ファイバに閉じ込められ、ねじりによって発生する光フ
ァイバの乱れはテーパー溝４により抑えられる。
【０００９】
【実施例】次に実施例、比較例を述べるが、これは本発
明を限定するものではない。 実施例１、比較例 カットオフ波長の測定は図１（ａ）（ｂ）の方法でシン
グルモード光ファイバに直径 280mmの曲げを加えたとき
と、直径60mmの曲げを加えたときにそれぞれ透過光パワ
ーを測定したが、直径280 mmの曲げを加えたときに、光
ファイバにねじりを０〜５回加えて透過光パワーを測定
したところ、図２に示す結果が得られた。それによると
カットオフ波長はねじりの方向（右回し、左回し）によ
って実線に示したとおりの結果が得られ、鎖線で示すよ
うにハンプの発生が完全に抑制され、ねじりを加えない
場合にはハンプが発生した。
明を限定するものではない。 実施例１、比較例 カットオフ波長の測定は図１（ａ）（ｂ）の方法でシン
グルモード光ファイバに直径 280mmの曲げを加えたとき
と、直径60mmの曲げを加えたときにそれぞれ透過光パワ
ーを測定したが、直径280 mmの曲げを加えたときに、光
ファイバにねじりを０〜５回加えて透過光パワーを測定
したところ、図２に示す結果が得られた。それによると
カットオフ波長はねじりの方向（右回し、左回し）によ
って実線に示したとおりの結果が得られ、鎖線で示すよ
うにハンプの発生が完全に抑制され、ねじりを加えない
場合にはハンプが発生した。
【００１０】実施例２、比較例２ また実施例１において、別のシングルモード光ファイバ
を用いて、ねじりを１回加えて10回くり返してカットオ
フ波長を測定した場合とねじりを加えないで10回くり返
してカットオフ波長を測定した場合の結果を表１に示す
が、その結果、ねじりを加えてカットオフ波長を測定し
たときには分布の小さい正確なカットオフ波長が得ら
れ、再現性もよいことが確認された。
を用いて、ねじりを１回加えて10回くり返してカットオ
フ波長を測定した場合とねじりを加えないで10回くり返
してカットオフ波長を測定した場合の結果を表１に示す
が、その結果、ねじりを加えてカットオフ波長を測定し
たときには分布の小さい正確なカットオフ波長が得ら
れ、再現性もよいことが確認された。
【００１１】
【表１】
【００１２】
【発明の効果】本発明によると、カットオフ波長の測定
方法の際のハンプの発生が抑えられるため、精度の高い
カットオフ波長の測定を再現性よく行なうことができ
る。
方法の際のハンプの発生が抑えられるため、精度の高い
カットオフ波長の測定を再現性よく行なうことができ
る。
【図１】曲げ法の光ファイバのカットオフ波長の測定方
法の概略図を示したもので、（ａ）は光ファイバに直径
280mmの曲げを加えたときの、（ｂ）は光ファイバに直
径 60mm の曲げを加えたときの状態を示したものであ
る。
法の概略図を示したもので、（ａ）は光ファイバに直径
280mmの曲げを加えたときの、（ｂ）は光ファイバに直
径 60mm の曲げを加えたときの状態を示したものであ
る。
【図２】実施例１、比較例１における、光ファイバのね
じりとハンプの発生、カットオフ波長の測定結果を示し
たグラフである。
じりとハンプの発生、カットオフ波長の測定結果を示し
たグラフである。
【図３】従来の測定方法で測定された正常なカットオフ
波長の測定結果を示した図である。
波長の測定結果を示した図である。
【図４】光ファイバのカットオフ波長を測定するための
治具で（ａ）は平面図を、（ｂ）はＡ…Ａ’の断面図を
示したものである。
治具で（ａ）は平面図を、（ｂ）はＡ…Ａ’の断面図を
示したものである。
【図５】光ファイバの曲げ部におけるクラッドとコーテ
ィング層の屈折率差によるＷＧモードの説明図を示した
ものである。
ィング層の屈折率差によるＷＧモードの説明図を示した
ものである。
【図６】光ファイバの曲げ部におけるコーティング層と
空気層との屈折率差によるＷＧモードの説明図を示した
ものである。
空気層との屈折率差によるＷＧモードの説明図を示した
ものである。
【図７】従来の測定方法で測定されたハンプが発生して
いるカットオフ波長の測定結果を示した図である。
いるカットオフ波長の測定結果を示した図である。
１…ガイド１ ２…ガイド２ ３…ベース板 ４…テーパー溝 ５…光ファイバ
Claims (1)
- 【請求項１】 試料長２ｍの光ファイバに直径 280mmの
曲げを加えたときの透過光パワーＰ1 と、この光ファイ
バに直径60mmの曲げを加えたときの透過光パワーＰ2 と
のパワー比が 0.1dBとなる最長の波長をカットオフ波長
とするカットオフ波長の測定方法において、光ファイバ
にねじりを加えて透過光パワーを測定することを特徴と
するカットオフ波長の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6045396A JPH09229816A (ja) | 1995-12-20 | 1996-03-18 | カットオフ波長の測定方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7-331293 | 1995-12-20 | ||
| JP33129395 | 1995-12-20 | ||
| JP6045396A JPH09229816A (ja) | 1995-12-20 | 1996-03-18 | カットオフ波長の測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09229816A true JPH09229816A (ja) | 1997-09-05 |
Family
ID=26401524
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6045396A Pending JPH09229816A (ja) | 1995-12-20 | 1996-03-18 | カットオフ波長の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09229816A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008008710A (ja) * | 2006-06-28 | 2008-01-17 | Sumitomo Electric Ind Ltd | カットオフ波長の測定方法 |
| JP2012230051A (ja) * | 2011-04-27 | 2012-11-22 | Sumitomo Electric Ind Ltd | カットオフ波長測定方法 |
| JP2014145740A (ja) * | 2013-01-30 | 2014-08-14 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光ファイバのカットオフ波長の測定方法 |
-
1996
- 1996-03-18 JP JP6045396A patent/JPH09229816A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008008710A (ja) * | 2006-06-28 | 2008-01-17 | Sumitomo Electric Ind Ltd | カットオフ波長の測定方法 |
| JP2012230051A (ja) * | 2011-04-27 | 2012-11-22 | Sumitomo Electric Ind Ltd | カットオフ波長測定方法 |
| JP2014145740A (ja) * | 2013-01-30 | 2014-08-14 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光ファイバのカットオフ波長の測定方法 |
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