JPS58189566A - サイリスタの特性測定方法 - Google Patents
サイリスタの特性測定方法Info
- Publication number
- JPS58189566A JPS58189566A JP7434382A JP7434382A JPS58189566A JP S58189566 A JPS58189566 A JP S58189566A JP 7434382 A JP7434382 A JP 7434382A JP 7434382 A JP7434382 A JP 7434382A JP S58189566 A JPS58189566 A JP S58189566A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- current
- thyristor
- gate
- digit
- characteristic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2607—Circuits therefor
- G01R31/263—Circuits therefor for testing thyristors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、半導体装置の中でｐｎｐｎ構造を利用した
スイッチング素子であるサイリスタの特性測定方法に関
するものである。
スイッチング素子であるサイリスタの特性測定方法に関
するものである。
サイリスタは、上記の通りに定義される素子であり、最
も普及しているものとして、Ｌ゛Ｊ前は５ｅｔ（と呼ば
れていた逆方白雨１１−玉端（、−１１−イリスタ（以
下単にサイリスタと略述することとする）がある。
も普及しているものとして、Ｌ゛Ｊ前は５ｅｔ（と呼ば
れていた逆方白雨１１−玉端（、−１１−イリスタ（以
下単にサイリスタと略述することとする）がある。
この毎イリスタは、周知の通りゲートとカッ−１・との
間にバルヌ信号を印加してやるとアノ−Ｉ−とカソード
とが導通し、しかも僅かなゲート人勾市。
間にバルヌ信号を印加してやるとアノ−Ｉ−とカソード
とが導通し、しかも僅かなゲート人勾市。
流で大きなアノード電流が得らハるので、人市゛流容量
を要するエレクトロニクス機器の回路に賞用されている
。そして、このサイリスタの重要な電流特性の一つとし
て、ラノチンク電流特性がある、そこでラノチンク電流
及び特性測定について１悦明すると次の通りである。
を要するエレクトロニクス機器の回路に賞用されている
。そして、このサイリスタの重要な電流特性の一つとし
て、ラノチンク電流特性がある、そこでラノチンク電流
及び特性測定について１悦明すると次の通りである。
まず−７，チンク電流は、一般に、ゲート電流をｆＭシ
てサイリスクをオフ状態からオフ状態に切換えた直後に
、ゲート電流を除去し、そのま１の状態でサイリスタが
オン動作し続けるに必要な最小のオン電流と規定されて
いる。このようなラノチンク！、 流ハ、サイリスタを
特に、？ｈインタクタンスの回路で使用する場合、電流
のケ１−りが遅いので、サイリスタのゲートに十分な幅
のへルス恰１ｊをりえないと、サイリスタが確実にオン
状しにならないことに関係があり、この場合、う、ナン
タ電流値にサイリスクのオン電流が到達する捷での時間
、ゲートに継続した信号を流入させつづける・重要かあ
って、サイリス、夕製造時に・込ず測定すべき重要な特
性と言える。つきにその特性測定について述べると、第
１図に示すように、サイリスタｌのアノード端子２とカ
ソード端子３との間に、１頁流市源４をスイッチ５、保
護用抵抗６、アノード電流調整用抵抗７、及びアノード
電流測定用の無誘導抵抗８を直列に介して接続し、また
ゲート端子９とカソード端子３との間に、ゲート・トリ
ガパルス発生器１０を接続して、無誘導抵抗８を流れる
アノード電流波形をシンクロスコープ等の測定器により
測定するものである。つ１す、シッチンク電流特性測定
は、第２図（Ａ）及び（Ｂ）に示す、デーｌ−電流ＩＧ
一時間Ｔ波形曲線１１に対応するアメード電流ＩＡ一時
間Ｔ波形曲＃＆１２中のオン状態期間ｔｏＮに入った瞬
間のラノチンク電流ＩＬを計ることになる。
てサイリスクをオフ状態からオフ状態に切換えた直後に
、ゲート電流を除去し、そのま１の状態でサイリスタが
オン動作し続けるに必要な最小のオン電流と規定されて
いる。このようなラノチンク！、 流ハ、サイリスタを
特に、？ｈインタクタンスの回路で使用する場合、電流
のケ１−りが遅いので、サイリスタのゲートに十分な幅
のへルス恰１ｊをりえないと、サイリスタが確実にオン
状しにならないことに関係があり、この場合、う、ナン
タ電流値にサイリスクのオン電流が到達する捷での時間
、ゲートに継続した信号を流入させつづける・重要かあ
って、サイリス、夕製造時に・込ず測定すべき重要な特
性と言える。つきにその特性測定について述べると、第
１図に示すように、サイリスタｌのアノード端子２とカ
ソード端子３との間に、１頁流市源４をスイッチ５、保
護用抵抗６、アノード電流調整用抵抗７、及びアノード
電流測定用の無誘導抵抗８を直列に介して接続し、また
ゲート端子９とカソード端子３との間に、ゲート・トリ
ガパルス発生器１０を接続して、無誘導抵抗８を流れる
アノード電流波形をシンクロスコープ等の測定器により
測定するものである。つ１す、シッチンク電流特性測定
は、第２図（Ａ）及び（Ｂ）に示す、デーｌ−電流ＩＧ
一時間Ｔ波形曲線１１に対応するアメード電流ＩＡ一時
間Ｔ波形曲＃＆１２中のオン状態期間ｔｏＮに入った瞬
間のラノチンク電流ＩＬを計ることになる。
ところで、上記のラノチンク市流ｉ １−をｄする作業
では、従来より第２ｔａ（Ｂ）の通り、アノード市流Ｉ
Ａを零からパルス状階段的に、次第に北ゲｔａせるやり
方を採っているために、１量定１−数が相当長くなる弱
点があった。そこで、この発明の発明者は、あるアノー
ド端子流ＩＡの値から、ワノチンク）電流、・をＪする
方法を採用して・・チ・り゛ＥＪｉ流特性測定ｒ数の低
減が図れないかを検討の末、次に述べる発明を提唱する
に〒っだ。
では、従来より第２ｔａ（Ｂ）の通り、アノード市流Ｉ
Ａを零からパルス状階段的に、次第に北ゲｔａせるやり
方を採っているために、１量定１−数が相当長くなる弱
点があった。そこで、この発明の発明者は、あるアノー
ド端子流ＩＡの値から、ワノチンク）電流、・をＪする
方法を採用して・・チ・り゛ＥＪｉ流特性測定ｒ数の低
減が図れないかを検討の末、次に述べる発明を提唱する
に〒っだ。
すなわち、この発明は、上述の観０、から、サイリスク
へ加えるゲート信号と同期したディジタル信号を入力す
るディシタルーアナロク変換器から得られる出力でサイ
リスタのアノード′市流を制御するようにし、ディンタ
ル信号発生器の出力信号桁の中間桁より導通電流特性測
定を開始することを要旨としている。以Ｌ−にこの発明
の一実施例及び技術的根拠を説明する。
へ加えるゲート信号と同期したディジタル信号を入力す
るディシタルーアナロク変換器から得られる出力でサイ
リスタのアノード′市流を制御するようにし、ディンタ
ル信号発生器の出力信号桁の中間桁より導通電流特性測
定を開始することを要旨としている。以Ｌ−にこの発明
の一実施例及び技術的根拠を説明する。
まず、説明の都合−し、従来と勾比しＭｒいラノナ
゛ング電流特性測定を対象とした一実施例について
述べる。はじめに、サイリスタのラノチンク電流測定回
路は、次に示す以外は、第１図に示しだ従来の測定回路
を用いることにする。すなわち、この実施例においては
、第３図に示すように、周知の水晶発振器やフリップフ
ロップ矩形波発振器を用いて、例えば８桁のディジタル
パルスを入力するＤ／Ａ変換器１３を第４図に示したケ
ート・トリガパルス発生器１０の出力側へ接続するとと
もに、矢印実線１４で示すように、アノード電流調整抵
抗７の可変駆動摺動子と接続させる。尚第３図に示した
Ｄ／Ａ変換器１３は、ラター抵抗回路網１５、そして最
小桁のＴＪＳＢから最大桁のＭＳＢまで８桁のディジタ
ルパルスを人力して基準電照を切換え設定するスイッチ
ング回路１６、スイッチング回路１６からの信号をアナ
ロク関数として出力するバッファアンプ回路１７によっ
て構成されている。さて、このラノチンク電流測定回路
により測定を行うには、まずスイッチング回路１６中の
中間桁１６ｅ端子よりＭＳＢ桁端子１６Ａまでを作動さ
せて、第５図（Ｂ）に示すアノード電流波形曲線１８を
、予想ラノチンク電流ＩＬの約１／２の値に対応するア
ノード電流ＴＡ の値からサイリスタを導通させるよ
うに、第５図（Ａ、）におけるゲート電流波形曲線１９
に示すゲート電流を流すのである。したがってこの実施
例では、従来の第２ ＋ｇｌ（ｔ３）に示したサイリス
タオフ期間１＝ｏトＦの時間は、第５図（Ｂ）に示した
ｔ。ｆｆ′の時間に短縮され、大幅な測定ゴー数低減が
図れる訳である。ここで、中間Ｎ１１６ ｅ端子よりＭ
ＳＢ桁端子１６７、まで作動させるには、ＬＳＢ端子１
６１１１より１６ｄ端子まで、つまり中間桁より下位の
桁を全てマスキンクすると同時に、アップカウンタを用
ψしておき第５図（Ａ）に示すゲート電流波形曲線１９
のトリガ・パルスタイミンクに同期させて、１６ｅ端ｆ
−より１６７゜端子までを順番に入力すればよい。尚こ
の測定方法で、中間桁は・必ずしも１６ｅ端−１′に限
らず、動作させているラノチンク電流１１．′の値が、
第５図（Ｂ）の一点鎖線２０で示すように最小のオン電
流よりも大幅に大き過ぎた場合は、マスギンク桁をより
下位桁捷でに減じる手段を採り、タウンカウンタを使っ
てアノード電流をＩＡ’の値程度寸で１・−げるように
逆に１．６ ｅ端子より１６ａ端了−側に向けて順番に
入力して行ってアノード電流調整抵抗７を操作しておい
て、電源スィッチ５をいったん開いてサイリスクｌをオ
フ状６ｖこしたのち、再びアップカウンタを使って１６
ａ端子側に向って順番に入力すればよい。
゛ング電流特性測定を対象とした一実施例について
述べる。はじめに、サイリスタのラノチンク電流測定回
路は、次に示す以外は、第１図に示しだ従来の測定回路
を用いることにする。すなわち、この実施例においては
、第３図に示すように、周知の水晶発振器やフリップフ
ロップ矩形波発振器を用いて、例えば８桁のディジタル
パルスを入力するＤ／Ａ変換器１３を第４図に示したケ
ート・トリガパルス発生器１０の出力側へ接続するとと
もに、矢印実線１４で示すように、アノード電流調整抵
抗７の可変駆動摺動子と接続させる。尚第３図に示した
Ｄ／Ａ変換器１３は、ラター抵抗回路網１５、そして最
小桁のＴＪＳＢから最大桁のＭＳＢまで８桁のディジタ
ルパルスを人力して基準電照を切換え設定するスイッチ
ング回路１６、スイッチング回路１６からの信号をアナ
ロク関数として出力するバッファアンプ回路１７によっ
て構成されている。さて、このラノチンク電流測定回路
により測定を行うには、まずスイッチング回路１６中の
中間桁１６ｅ端子よりＭＳＢ桁端子１６Ａまでを作動さ
せて、第５図（Ｂ）に示すアノード電流波形曲線１８を
、予想ラノチンク電流ＩＬの約１／２の値に対応するア
ノード電流ＴＡ の値からサイリスタを導通させるよ
うに、第５図（Ａ、）におけるゲート電流波形曲線１９
に示すゲート電流を流すのである。したがってこの実施
例では、従来の第２ ＋ｇｌ（ｔ３）に示したサイリス
タオフ期間１＝ｏトＦの時間は、第５図（Ｂ）に示した
ｔ。ｆｆ′の時間に短縮され、大幅な測定ゴー数低減が
図れる訳である。ここで、中間Ｎ１１６ ｅ端子よりＭ
ＳＢ桁端子１６７、まで作動させるには、ＬＳＢ端子１
６１１１より１６ｄ端子まで、つまり中間桁より下位の
桁を全てマスキンクすると同時に、アップカウンタを用
ψしておき第５図（Ａ）に示すゲート電流波形曲線１９
のトリガ・パルスタイミンクに同期させて、１６ｅ端ｆ
−より１６７゜端子までを順番に入力すればよい。尚こ
の測定方法で、中間桁は・必ずしも１６ｅ端−１′に限
らず、動作させているラノチンク電流１１．′の値が、
第５図（Ｂ）の一点鎖線２０で示すように最小のオン電
流よりも大幅に大き過ぎた場合は、マスギンク桁をより
下位桁捷でに減じる手段を採り、タウンカウンタを使っ
てアノード電流をＩＡ’の値程度寸で１・−げるように
逆に１．６ ｅ端子より１６ａ端了−側に向けて順番に
入力して行ってアノード電流調整抵抗７を操作しておい
て、電源スィッチ５をいったん開いてサイリスクｌをオ
フ状６ｖこしたのち、再びアップカウンタを使って１６
ａ端子側に向って順番に入力すればよい。
ここで、上記実施例を参照しながら、この発明の技術的
根拠について説明する。その根拠は、サイリスタには、
ラノチンク電流に類似した電流特性として、いったんオ
ン動作を開始したサイリスクがその状態を保持できる限
界値を規定した保持電流があるが、この保持電流は、一
般にう、ナンク電流のＶ２〜Ｖ３ 程度となる実験事実
に広いている。この実験事実は、保持電流は、ｐｎｐｎ
接合のほぼ全面に流れる電流であるのに対して、ラノチ
ンク電流はゲート近傍の部分的な所を流れるのでより大
きな値が必要となると理論的に推察されている。
根拠について説明する。その根拠は、サイリスタには、
ラノチンク電流に類似した電流特性として、いったんオ
ン動作を開始したサイリスクがその状態を保持できる限
界値を規定した保持電流があるが、この保持電流は、一
般にう、ナンク電流のＶ２〜Ｖ３ 程度となる実験事実
に広いている。この実験事実は、保持電流は、ｐｎｐｎ
接合のほぼ全面に流れる電流であるのに対して、ラノチ
ンク電流はゲート近傍の部分的な所を流れるのでより大
きな値が必要となると理論的に推察されている。
尚この発明を適用するに当っては、先述した要旨及び実
施例から明らかなように、その池のトラ様な効果が期待
できる。
施例から明らかなように、その池のトラ様な効果が期待
できる。
この発明によれば、サイリスクの導通゛混流特性測定ゴ
ー数が大幅に低減できるばかりでなく、類似の電流特性
値に括いて、予想しながら測定が行えるので、測定をよ
り速くかつ正確に行える優れた作用効果がある。
ー数が大幅に低減できるばかりでなく、類似の電流特性
値に括いて、予想しながら測定が行えるので、測定をよ
り速くかつ正確に行える優れた作用効果がある。
第１図は、従来よりのサイリスタの特性測定回路図、第
２図（Ａ）及び（Ｂ）は、そのゲート電流波形曲線図及
びアノード電流波形曲線図、第３図〜第５第５図（Ａ）
及び（Ｂ）は、ゲート電流波形曲線図及びアノード電流
波形曲線図である。 １・・・・サイリスタ、 ９・・ ゲート端子、ｔ
３−− Ｄ／Ａ変換器、１６ ａ、 １６ ｂ、 、−
、、、、，１６ｋ・・・・ ディジタル信号桁端子、１
８ アノード電流波形曲線、１９・・・・ゲート電流
波形曲線。
２図（Ａ）及び（Ｂ）は、そのゲート電流波形曲線図及
びアノード電流波形曲線図、第３図〜第５第５図（Ａ）
及び（Ｂ）は、ゲート電流波形曲線図及びアノード電流
波形曲線図である。 １・・・・サイリスタ、 ９・・ ゲート端子、ｔ
３−− Ｄ／Ａ変換器、１６ ａ、 １６ ｂ、 、−
、、、、，１６ｋ・・・・ ディジタル信号桁端子、１
８ アノード電流波形曲線、１９・・・・ゲート電流
波形曲線。
Claims (1)
- サイリスタのゲートへ繰り返しゲート信号を加えて、導
通電流特性を測定する方法において、前記繰り返しゲー
ト信号と同期したディジタル信号を入力するディジタル
−アナログ変換器から得られる出力でサイリスタのアノ
ード電流と制御するようにし、ディジタル信号発生器の
出力信号桁の中間桁より導通電流特性測定を開始するこ
とを特徴とするサイリスクの特性測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7434382A JPS58189566A (ja) | 1982-04-28 | 1982-04-28 | サイリスタの特性測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7434382A JPS58189566A (ja) | 1982-04-28 | 1982-04-28 | サイリスタの特性測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58189566A true JPS58189566A (ja) | 1983-11-05 |
Family
ID=13544376
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7434382A Pending JPS58189566A (ja) | 1982-04-28 | 1982-04-28 | サイリスタの特性測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58189566A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018000771A1 (zh) * | 2016-06-28 | 2018-01-04 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 | 一种晶闸管擎住电流自动检测装置 |
| CN108828423A (zh) * | 2018-06-14 | 2018-11-16 | 优利德科技(中国)股份有限公司 | 一种测量晶闸管的电路、装置、万用表及方法 |
-
1982
- 1982-04-28 JP JP7434382A patent/JPS58189566A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018000771A1 (zh) * | 2016-06-28 | 2018-01-04 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 | 一种晶闸管擎住电流自动检测装置 |
| CN108828423A (zh) * | 2018-06-14 | 2018-11-16 | 优利德科技(中国)股份有限公司 | 一种测量晶闸管的电路、装置、万用表及方法 |
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