JPS58187883A - シンチレ−シヨンカメラの空間歪み補正を修正する方法 - Google Patents
シンチレ−シヨンカメラの空間歪み補正を修正する方法Info
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- JPS58187883A JPS58187883A JP7062682A JP7062682A JPS58187883A JP S58187883 A JPS58187883 A JP S58187883A JP 7062682 A JP7062682 A JP 7062682A JP 7062682 A JP7062682 A JP 7062682A JP S58187883 A JPS58187883 A JP S58187883A
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- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はシンチレーションカメラの空間歪み補正を修
正する方法に関する。
正する方法に関する。
アンガーカメラと呼ばれるものを含めて一般にシンチレ
ーションカメラには固有の空間歪み（非直線性）が存在
し、その補正力法が従来より棹々提案されている。とこ
ろでこの空間歪みは使用核種の放射線エネルギに依存し
ている。
ーションカメラには固有の空間歪み（非直線性）が存在
し、その補正力法が従来より棹々提案されている。とこ
ろでこの空間歪みは使用核種の放射線エネルギに依存し
ている。
その主原因は、放射線エネルギが高い程シンチレータ内
でエネルギが吸収される位置の平均深さが奥深くなる、
すなわち光検出器側に近付くという軸向に基づいている
。そこでこの空間歪みの補正にエネルギに応じた修正を
加える必要がある。
でエネルギが吸収される位置の平均深さが奥深くなる、
すなわち光検出器側に近付くという軸向に基づいている
。そこでこの空間歪みの補正にエネルギに応じた修正を
加える必要がある。
従来、この修正方法として特開昭５６−８６３７８号公
報に提案がなされている。これは各事象毎のエネルギ信
号（またはその補正後の信号）を用いて修正を行なうと
いうものである。
報に提案がなされている。これは各事象毎のエネルギ信
号（またはその補正後の信号）を用いて修正を行なうと
いうものである。
しかしながらシンチレータとしてＮａＩ （Ｔｌ ）を
用い、光検出器としてＰＭＴ（光電子増倍’りを用いた
一般のシンチレーションカメラでは、本質的にシンチレ
ーション光量の統計的ばらつきが大きいためエネルギ分
解能が悪い（１２２ＫｅＶのγ線に対してＦＷＨＭは１
０チ以上である）。従って、四−エネルギの放射線がン
ンチレータ内の同一位置で吸収された場合、光閂のばら
つきに依存することなく位１ｆ尾様信号が得られるため
、空間歪み補正１は同一であるべきであるが、各事象毎
のエネルギ信号を用いて修正する方法では光量のばらつ
きによってエネルギ信号が変化するので空間歪み補正量
も変化してしまい、その結果空間分解能が低下する欠点
が生じる。
用い、光検出器としてＰＭＴ（光電子増倍’りを用いた
一般のシンチレーションカメラでは、本質的にシンチレ
ーション光量の統計的ばらつきが大きいためエネルギ分
解能が悪い（１２２ＫｅＶのγ線に対してＦＷＨＭは１
０チ以上である）。従って、四−エネルギの放射線がン
ンチレータ内の同一位置で吸収された場合、光閂のばら
つきに依存することなく位１ｆ尾様信号が得られるため
、空間歪み補正１は同一であるべきであるが、各事象毎
のエネルギ信号を用いて修正する方法では光量のばらつ
きによってエネルギ信号が変化するので空間歪み補正量
も変化してしまい、その結果空間分解能が低下する欠点
が生じる。
本発明は各事象毎のエネルギ信号を用いるのではなく、
エネルギウィンドレベル設定値を用いて上記の修正を行
なうようにして光量のばらつきによる空間分解能の低下
をもたらさないようにしたシンチレーションカメラの空
間歪み補正を修正する方法を提供することを目的とする
。
エネルギウィンドレベル設定値を用いて上記の修正を行
なうようにして光量のばらつきによる空間分解能の低下
をもたらさないようにしたシンチレーションカメラの空
間歪み補正を修正する方法を提供することを目的とする
。
以下、本発明の一実施例について図面を参照しながら説
明する。第１図においてシンチレータ１の背面にライト
ガイド２を介して多数のＰＭＴ３が配列されており、こ
れらＰＭＴ出力が位置及びエネルギ演算回路４に導かれ
て各事象毎の位置座標信号Ｘａ 、 Ｙａ及びエネルギ
信号Ｚが出力される。この構成は通常の例えばアンが一
カメラと同様である。得られた各事象毎の位置座標信号
Ｘａ及びＹａけそれぞれサンダルホールド回路５１．５
２を通って加算回路９１゜９２とＡＤ変換器５４．５５
とに人力される。
明する。第１図においてシンチレータ１の背面にライト
ガイド２を介して多数のＰＭＴ３が配列されており、こ
れらＰＭＴ出力が位置及びエネルギ演算回路４に導かれ
て各事象毎の位置座標信号Ｘａ 、 Ｙａ及びエネルギ
信号Ｚが出力される。この構成は通常の例えばアンが一
カメラと同様である。得られた各事象毎の位置座標信号
Ｘａ及びＹａけそれぞれサンダルホールド回路５１．５
２を通って加算回路９１゜９２とＡＤ変換器５４．５５
とに人力される。
ＡＤ変侠器５４，５５から出力されるディノタル信号を
用いて補正係数メモリ５６をアドレスする。この補正係
数メモリ５６にはカメラの画面の小さな画素毎に基準エ
ネルギのもとに求められた補正係数が蓄えられており、
画素の位置を表わす位置座標情報に応じてアドレスされ
ることによりそのアドレスされた画素の補正係数が欣み
出されてこれにもとづき補正量ΔＸａ 。
用いて補正係数メモリ５６をアドレスする。この補正係
数メモリ５６にはカメラの画面の小さな画素毎に基準エ
ネルギのもとに求められた補正係数が蓄えられており、
画素の位置を表わす位置座標情報に応じてアドレスされ
ることによりそのアドレスされた画素の補正係数が欣み
出されてこれにもとづき補正量ΔＸａ 。
ΔＹａが出力される。この補正量ΔＸａ、ΔＹａはそれ
ぞれ乗算型１）Ａ変換器８１．８２に入力される。各輛
１ヒ普ΔＸａ 、ΔＹａＦｉ後述する歪み補正修正装置
５８の出力信号にと乗算され、得られた修正補正量ΔＸ
ｂ、ΔＹｂが加算回路９１．９２ケ でサンダルホールド回路５１．５２の出力Ｘｂ。
ぞれ乗算型１）Ａ変換器８１．８２に入力される。各輛
１ヒ普ΔＸａ 、ΔＹａＦｉ後述する歪み補正修正装置
５８の出力信号にと乗算され、得られた修正補正量ΔＸ
ｂ、ΔＹｂが加算回路９１．９２ケ でサンダルホールド回路５１．５２の出力Ｘｂ。
Ｙｂとそれぞれ加算され、各事象毎に補正きれた位１ｉ
座標侶号Ｘｃ 、 Ｙｃとなり、表示装［９４に導かれ
る。
座標侶号Ｘｃ 、 Ｙｃとなり、表示装［９４に導かれ
る。
各事象毎のエネルギ信号ＺＶｉツンノルポールド回路５
３及び枝縄分析器７に入力六れ、サンノルホールド回路
５３の出力は表示装置９４に入力される。波窩分析器７
はウィンド及びレイル設定器６から与えられる中心エネ
ルギレベル信号りとウィンド信号Ｗによって設定される
エネルギウィンド内にエネルギ信号Ｚが入っているか否
かを判定し分析出力信号を出力する。この分析出力信号
はサンプルホールド回路５１〜５３の＜＝号取込みや保
持の動作のタイミングを決めるために用いられ、またア
ンプランクコントロール回路９３に送られてＡＩ）変換
器５４゜５５へのスタート信号と表示装置９４へ入力さ
れるアンプランク信号とが適当なタイミングで発生され
る。
３及び枝縄分析器７に入力六れ、サンノルホールド回路
５３の出力は表示装置９４に入力される。波窩分析器７
はウィンド及びレイル設定器６から与えられる中心エネ
ルギレベル信号りとウィンド信号Ｗによって設定される
エネルギウィンド内にエネルギ信号Ｚが入っているか否
かを判定し分析出力信号を出力する。この分析出力信号
はサンプルホールド回路５１〜５３の＜＝号取込みや保
持の動作のタイミングを決めるために用いられ、またア
ンプランクコントロール回路９３に送られてＡＩ）変換
器５４゜５５へのスタート信号と表示装置９４へ入力さ
れるアンプランク信号とが適当なタイミングで発生され
る。
歪み補正修正装置５８ではウィンド及びレベル設定器６
より送られたエネルギレベル信号りに依存する出力信号
Ｋを発生する。この信号には次のようにして定められて
いる。一般にシンチレーションカメラの空間歪みはエネ
ルギに依存しているが、シンチレータ１．ライトガイド
２、ＰＭＴ３及びライトガイド２中内マスク等の光学系
の形状や配列によってそのエネルギ依存性は異なる。例
えばある形状の光学系である種のマスクを用いた場合に
はフラッドイメージ（一様照射像）を撮影した場合に各
ＰＭＴ３の中心部分でホットスポットになるような空間
歪みが生じるが、その空間歪みは使用核種の放射線エネ
ルギが低い程大きくなる傾向を持つ。そのような場合に
は第２図に示すように、エネルギすなわちエネルギレベ
ル信号りが高い程歪み補正修止装［５８の出力信号にの
値が低くなるように、この歪み補正修正装置５８を例え
ば線形まだは非線形増幅器や関数今生器等により構成す
る。すると結果としてエネルギに依存しないで常に空間
的直線性の優れたイメージを得ることができる。
より送られたエネルギレベル信号りに依存する出力信号
Ｋを発生する。この信号には次のようにして定められて
いる。一般にシンチレーションカメラの空間歪みはエネ
ルギに依存しているが、シンチレータ１．ライトガイド
２、ＰＭＴ３及びライトガイド２中内マスク等の光学系
の形状や配列によってそのエネルギ依存性は異なる。例
えばある形状の光学系である種のマスクを用いた場合に
はフラッドイメージ（一様照射像）を撮影した場合に各
ＰＭＴ３の中心部分でホットスポットになるような空間
歪みが生じるが、その空間歪みは使用核種の放射線エネ
ルギが低い程大きくなる傾向を持つ。そのような場合に
は第２図に示すように、エネルギすなわちエネルギレベ
ル信号りが高い程歪み補正修止装［５８の出力信号にの
値が低くなるように、この歪み補正修正装置５８を例え
ば線形まだは非線形増幅器や関数今生器等により構成す
る。すると結果としてエネルギに依存しないで常に空間
的直線性の優れたイメージを得ることができる。
ここで第２図のＬＲＥＦは補正係数メモリ５６に蓄える
補正係数を得るために行った空間企み測定実験において
使用した核種の放射線エネルギを童味し、ＫＲＥＦはそ
のエネルギの場合に田いるべき基準の１６号にの値であ
る。この第２図の曲線は、基準エネルギＬＲＥＦ以外に
もエネルギの異なる釉々の放射線に関して歪みの度合い
を測定するか、または基準エネルギで決定した補正係数
を用いて空間歪み補ＩＦを種々修正しながら測定するこ
とにより各エネルギに関して最も空間歪みが小さくなる
ような最適のＫのイーをそれぞれ求めて作成する。
補正係数を得るために行った空間企み測定実験において
使用した核種の放射線エネルギを童味し、ＫＲＥＦはそ
のエネルギの場合に田いるべき基準の１６号にの値であ
る。この第２図の曲線は、基準エネルギＬＲＥＦ以外に
もエネルギの異なる釉々の放射線に関して歪みの度合い
を測定するか、または基準エネルギで決定した補正係数
を用いて空間歪み補ＩＦを種々修正しながら測定するこ
とにより各エネルギに関して最も空間歪みが小さくなる
ような最適のＫのイーをそれぞれ求めて作成する。
もちろん空間企みのエネルギ依存性が前記の例と異なる
場合に対しても、第２図とは異なる曲線を求めることに
より同様に袖ｉトの修正が可能となる。
場合に対しても、第２図とは異なる曲線を求めることに
より同様に袖ｉトの修正が可能となる。
次に多重エネルギスペクトルの場合について説明する。
例えばエネルギウィンドを３個使用している場合の実施
例を第３図に示す。この図において各事象毎のエネルギ
信号Ｚは波高分析器７１〜７３の各々に人力され、ウィ
ンド及びレベル設定器６１〜６３の各々より与えられる
エネルギレベル信号Ｌ１〜Ｌ ３とウィンド信号Ｗ１〜
Ｗ３によって決定される各エネルギライれ出力される。
例を第３図に示す。この図において各事象毎のエネルギ
信号Ｚは波高分析器７１〜７３の各々に人力され、ウィ
ンド及びレベル設定器６１〜６３の各々より与えられる
エネルギレベル信号Ｌ１〜Ｌ ３とウィンド信号Ｗ１〜
Ｗ３によって決定される各エネルギライれ出力される。
この各分析出力１〜３はＯＲ回路９６及びマルチプレク
サ９５に人力きれる。
サ９５に人力きれる。
ｕｔｔｌｐｌ路９６の出力は分析出力ｍ−ｔ４として第
１図と同様に用いられる。マルチプレクサ９５において
エネＡ４レベル侶号Ｌｌ−Ｌ３が分析出力１〜３によっ
て選択され、分析出力１〜３に対応するエネルギウィン
ドに号Ｌｌ−Ｌ３の１つが歪み補正修正装置５８に送ら
れる。他の構成は第１図１と同様である。
１図と同様に用いられる。マルチプレクサ９５において
エネＡ４レベル侶号Ｌｌ−Ｌ３が分析出力１〜３によっ
て選択され、分析出力１〜３に対応するエネルギウィン
ドに号Ｌｌ−Ｌ３の１つが歪み補正修正装置５８に送ら
れる。他の構成は第１図１と同様である。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものでなく、空
間企み補正力法が上記の実施例と異なり、例えば補正係
数メモリに蓄積されている補正係数を用いて補間により
袖ＩＥｆを求める方法や、乱数発生器等によりランダム
化の付加等の空間歪み補正力法に対しても適用できる。
間企み補正力法が上記の実施例と異なり、例えば補正係
数メモリに蓄積されている補正係数を用いて補間により
袖ＩＥｆを求める方法や、乱数発生器等によりランダム
化の付加等の空間歪み補正力法に対しても適用できる。
上記の実施例では補正量を修正しているが、補正係数よ
妙補止−゛を算出（例えば補間）する方法において補ｉ
ト係数自身を修正することも５ｒ能である。
妙補止−゛を算出（例えば補間）する方法において補ｉ
ト係数自身を修正することも５ｒ能である。
また、一般には上記の実施例のように設定されたエネル
ギウィンドの中心レベル信号りを用いて空間歪み補正係
数または補正蓋を修正すればよいが、エネルギウィンド
の中心と光電ピークが一致していない場合にはエネルギ
スイクトルの光電ピークレベルや下限エネルギレベルを
用いて同様の修正を行なうことも可能である。
ギウィンドの中心レベル信号りを用いて空間歪み補正係
数または補正蓋を修正すればよいが、エネルギウィンド
の中心と光電ピークが一致していない場合にはエネルギ
スイクトルの光電ピークレベルや下限エネルギレベルを
用いて同様の修正を行なうことも可能である。
史に使用核種の選択によりエネルギウィンドレベルが固
定される用途（すなわちエネルギウィンドが可変でない
場合）においては、例えば上記実施例の歪み補正修正装
置５８の出力信号にとしてそれぞれの核種の場合につい
ての最適値を用意しておき、その中から選択する構成と
することも可能である。
定される用途（すなわちエネルギウィンドが可変でない
場合）においては、例えば上記実施例の歪み補正修正装
置５８の出力信号にとしてそれぞれの核種の場合につい
ての最適値を用意しておき、その中から選択する構成と
することも可能である。
更に、例えば上記実施例においてエネルギウィンドを１
釉類だけとし、ＡＤ変換器５４゜５５のスターＨｇ号を
第１図とは異なり波高分析器７の分析出力信号とは独立
な信号を用いることによ妙、エネルギによって修正され
た空間歪み補正後の位ｔｉＩｔ座標信号を用いてエネル
ギ不均一性を補正することも可能である。
釉類だけとし、ＡＤ変換器５４゜５５のスターＨｇ号を
第１図とは異なり波高分析器７の分析出力信号とは独立
な信号を用いることによ妙、エネルギによって修正され
た空間歪み補正後の位ｔｉＩｔ座標信号を用いてエネル
ギ不均一性を補正することも可能である。
以上、実施例について船間したように、本発明によれば
、波高分析器に与えるエネルギウィンドレイル設定値に
応じて空間歪み補正係数オたは補正量を修正するように
したので、使用核掬の放射線エネルギに依存せずに自動
的にかつグイナミノクに最適の空間的直線性が得られる
。
、波高分析器に与えるエネルギウィンドレイル設定値に
応じて空間歪み補正係数オたは補正量を修正するように
したので、使用核掬の放射線エネルギに依存せずに自動
的にかつグイナミノクに最適の空間的直線性が得られる
。
特に同一エネルギの場合、空間歪み補正を修正するだめ
の修正量が光量のばらつきやシンチレータ内でのコンブ
トン散乱時による光量の減少に依存しないので、より正
確な修正を行なうことができるとともに、空間分解能の
劣化を招くことがない。また、エネルギによって修正さ
れた空間歪み補正後の位置座標信号を用いてエネルギ不
均一性を補正することも可能である。
の修正量が光量のばらつきやシンチレータ内でのコンブ
トン散乱時による光量の減少に依存しないので、より正
確な修正を行なうことができるとともに、空間分解能の
劣化を招くことがない。また、エネルギによって修正さ
れた空間歪み補正後の位置座標信号を用いてエネルギ不
均一性を補正することも可能である。
第１図は本発明の一実施例のブロック図、第２図はエネ
ルギＬと歪み補正修正装置の出力信号にとの関係を表わ
すグラフ、第３図は他の実施例の一部の構成を示すブロ
ック図である。 ｌ・・・シンチレータ ２・・・ライトザイド３・
・・ＰＭＴ ４・・・位置及びエネルギ演算回路 ５１．５２．５３・・・サンプルホールド回路５４．５
５・・・ＡＤ変換器 ５ｇ・・・補正係数メモリ５８
・・・歪み補正修正装置 ６．６１〜６３・・・ウィンド及びレベル設定器７．７
１〜７３・・・波高分析器 ８１．８２・・・乗算型ＤＡ変換器 ９１．９２・・・加算回路 ９３・・・アンプランクコントロール回路９４・・・表
示装置 ９５・・・マルチ！レクサ９６・・・Ｏ
Ｒ回路 出願人 株式会社島津製作所
ルギＬと歪み補正修正装置の出力信号にとの関係を表わ
すグラフ、第３図は他の実施例の一部の構成を示すブロ
ック図である。 ｌ・・・シンチレータ ２・・・ライトザイド３・
・・ＰＭＴ ４・・・位置及びエネルギ演算回路 ５１．５２．５３・・・サンプルホールド回路５４．５
５・・・ＡＤ変換器 ５ｇ・・・補正係数メモリ５８
・・・歪み補正修正装置 ６．６１〜６３・・・ウィンド及びレベル設定器７．７
１〜７３・・・波高分析器 ８１．８２・・・乗算型ＤＡ変換器 ９１．９２・・・加算回路 ９３・・・アンプランクコントロール回路９４・・・表
示装置 ９５・・・マルチ！レクサ９６・・・Ｏ
Ｒ回路 出願人 株式会社島津製作所
Claims (1)
- （１） 各事象毎に得られる位置座標信号を補正する
空間歪み補正装置を備えるシンナレーションカメラにお
いて、各事象毎のエネルギ信号を波高分析する波高分析
器に与えるエネルギウィンドレベル設定値に応じて前記
空間歪み補正装置による補正を修正するよう圧したシン
チレーションカメラの空間歪み補正を修正する方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7062682A JPS58187883A (ja) | 1982-04-27 | 1982-04-27 | シンチレ−シヨンカメラの空間歪み補正を修正する方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7062682A JPS58187883A (ja) | 1982-04-27 | 1982-04-27 | シンチレ−シヨンカメラの空間歪み補正を修正する方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58187883A true JPS58187883A (ja) | 1983-11-02 |
Family
ID=13437017
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7062682A Pending JPS58187883A (ja) | 1982-04-27 | 1982-04-27 | シンチレ−シヨンカメラの空間歪み補正を修正する方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58187883A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0255984A (ja) * | 1988-08-19 | 1990-02-26 | Toshiba Corp | シンチレーションカメラ |
| JPH03133478A (ja) * | 1989-10-19 | 1991-06-06 | Sanyo Electric Co Ltd | 電気かみそり |
| WO2012077218A1 (ja) * | 2010-12-09 | 2012-06-14 | 株式会社リガク | 放射線検出器 |
-
1982
- 1982-04-27 JP JP7062682A patent/JPS58187883A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0255984A (ja) * | 1988-08-19 | 1990-02-26 | Toshiba Corp | シンチレーションカメラ |
| JPH0619451B2 (ja) * | 1988-08-19 | 1994-03-16 | 株式会社東芝 | シンチレーションカメラ |
| JPH03133478A (ja) * | 1989-10-19 | 1991-06-06 | Sanyo Electric Co Ltd | 電気かみそり |
| WO2012077218A1 (ja) * | 2010-12-09 | 2012-06-14 | 株式会社リガク | 放射線検出器 |
| JP5576502B2 (ja) * | 2010-12-09 | 2014-08-20 | 株式会社リガク | 放射線検出器 |
| US8866094B2 (en) | 2010-12-09 | 2014-10-21 | Rigaku Corporation | Radiation detector |
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