JPS58171634A - 電子天びん - Google Patents
電子天びんInfo
- Publication number
- JPS58171634A JPS58171634A JP5423782A JP5423782A JPS58171634A JP S58171634 A JPS58171634 A JP S58171634A JP 5423782 A JP5423782 A JP 5423782A JP 5423782 A JP5423782 A JP 5423782A JP S58171634 A JPS58171634 A JP S58171634A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- time
- weight
- electronic balance
- measured value
- averaging
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01G—WEIGHING
- G01G23/00—Auxiliary devices for weighing apparatus
- G01G23/18—Indicating devices, e.g. for remote indication; Recording devices; Scales, e.g. graduated
- G01G23/36—Indicating the weight by electrical means, e.g. using photoelectric cells
- G01G23/37—Indicating the weight by electrical means, e.g. using photoelectric cells involving digital counting
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Feedback Control In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、内蔵分鋼加除機構を備え感度等を校正しうる
電子天びんに関し、更に詳述すると、測定値の平均演算
処理に供されるデータ歌ないし平均化時間の設定に関す
る。
電子天びんに関し、更に詳述すると、測定値の平均演算
処理に供されるデータ歌ないし平均化時間の設定に関す
る。
高感度の電子天びんでは、微少振動などの一時的外乱に
よ）表示が大暑く変動するため、これを抑える手段とし
て、刻々と入力されるデータのいくつかを平均化してそ
の平均値を表示する方法が採られて−る。しかし、この
ような方法では天びんの表示の応答性が非常に遅くなる
欠点があり、計）取）測定などでは測定者の動作ＫＩＩ
示が追従できない場合が生ずることがあって、特に問題
になってい丸。
よ）表示が大暑く変動するため、これを抑える手段とし
て、刻々と入力されるデータのいくつかを平均化してそ
の平均値を表示する方法が採られて−る。しかし、この
ような方法では天びんの表示の応答性が非常に遅くなる
欠点があり、計）取）測定などでは測定者の動作ＫＩＩ
示が追従できない場合が生ずることがあって、特に問題
になってい丸。
本発明の目的紘、測定値が安定しているとき、即ち、設
置場所の状態が良い場合は、できる疋は平均化時間を短
縮して天びんの応答性を速くシ。
置場所の状態が良い場合は、できる疋は平均化時間を短
縮して天びんの応答性を速くシ。
設置場所の状態の悪い場合、縛ち、微小振動などがｍｌ
ｌ１１シて一番場金に＃ｉ、可能な限シ平均化時間を長
くとって安定し九表示を行わせるなど、設置条件に最適
な平均化時間を自動的に設定する電子天びんを！Ｉｉ供
す墨ことＫある。
ｌ１１シて一番場金に＃ｉ、可能な限シ平均化時間を長
くとって安定し九表示を行わせるなど、設置条件に最適
な平均化時間を自動的に設定する電子天びんを！Ｉｉ供
す墨ことＫある。
本発明の電子天びんは、内蔵分銅加除機構が測定値に変
化を与、ｔｆＩ−ときから測定値が所定の安定−に収ま
るまでＫＩＩした時間を計時して配憶し、上記峙関をそ
の後に調定され九測定値の平均化時間として測定値の平
均演算処理を実行するよう構成されているととを待機と
している。
化を与、ｔｆＩ−ときから測定値が所定の安定−に収ま
るまでＫＩＩした時間を計時して配憶し、上記峙関をそ
の後に調定され九測定値の平均化時間として測定値の平
均演算処理を実行するよう構成されているととを待機と
している。
以下、本発明の詳細な説明する。
第１図に本発明実施例のブロック構成図を示し、第２図
に分銅加除機構を示す。
に分銅加除機構を示す。
電子天びん部１は、はかヤ皿上に作用する荷重Ｗの大き
さを一定の微小時間、例えば０．２秒毎に刻々とデジタ
ル信号に変換して制御ｆｆ１６へ出力する。この電子天
びん部１には内蔵分銅加除機構を備えている。この内蔵
分銅加除機構は、第２図に示すように、はかり皿と連動
する棚５に所定の質量をもつ内蔵分銅３が載）、この内
蔵分銅３は電磁石２に吸引されて変位するレバー４によ
シ棚５から持ち上げられるようＫなっている。電磁石２
は制御ｓ６から出力される分銅加除信号によ）制御され
る、。
さを一定の微小時間、例えば０．２秒毎に刻々とデジタ
ル信号に変換して制御ｆｆ１６へ出力する。この電子天
びん部１には内蔵分銅加除機構を備えている。この内蔵
分銅加除機構は、第２図に示すように、はかり皿と連動
する棚５に所定の質量をもつ内蔵分銅３が載）、この内
蔵分銅３は電磁石２に吸引されて変位するレバー４によ
シ棚５から持ち上げられるようＫなっている。電磁石２
は制御ｓ６から出力される分銅加除信号によ）制御され
る、。
制御部６は、データ転送制御部６１、演算装置６２、読
取幅設定器６３、比較判定器６４、プログラム装置６５
、カウンタ６６、分銅加除回路６１、及び分銅加除制御
部６１から構成されている。また、制御部６に関連する
周辺装置として、データを一時記憶するレジスタ装置１
、感度を校正するための校正用キー８、及び、表示並び
に記碌装置Ｓが設けられている。レジスタ装置１は（ｎ
十ｔ）個のデータを配憶するエリアを有し、最も新しい
採取データがエリアｄｏに格納され、データが入力され
るごとにｄｏ−＋ｄ１→・・・→ｄｎ−ｔ→ｄｎと順次
シフトされて最も古いデータｄｎは押し出されて捨てら
れる。
取幅設定器６３、比較判定器６４、プログラム装置６５
、カウンタ６６、分銅加除回路６１、及び分銅加除制御
部６１から構成されている。また、制御部６に関連する
周辺装置として、データを一時記憶するレジスタ装置１
、感度を校正するための校正用キー８、及び、表示並び
に記碌装置Ｓが設けられている。レジスタ装置１は（ｎ
十ｔ）個のデータを配憶するエリアを有し、最も新しい
採取データがエリアｄｏに格納され、データが入力され
るごとにｄｏ−＋ｄ１→・・・→ｄｎ−ｔ→ｄｎと順次
シフトされて最も古いデータｄｎは押し出されて捨てら
れる。
カウンタ６６は０．２秒毎に刻々とカウントアツプを行
い、リセット信号によりリセットされるとＯから再びカ
ウントを始めるという動作を繰返す０平均化演算の丸め
に＊ｊ込まれるデータ個数をＮ１読坂幅を１とするとき
、安定幅Ｂは ｓ、＝ｘ、、ｒｗ ・・・・・・・・・（１）に従
い、Ｎの増加にともなって増大してゆく。
い、リセット信号によりリセットされるとＯから再びカ
ウントを始めるという動作を繰返す０平均化演算の丸め
に＊ｊ込まれるデータ個数をＮ１読坂幅を１とするとき
、安定幅Ｂは ｓ、＝ｘ、、ｒｗ ・・・・・・・・・（１）に従
い、Ｎの増加にともなって増大してゆく。
読取幅１は天びんによシ個有の値であって例えば±０．
１１９である。読取幅が±０．１〜の場合、レジスタ装
置１の最大記憶容量をＮ−３６とすると、最大安定幅は
ｌ−±ｏ、 ｓ ｉｖとなる。このはみ出しは比較判定
器で當に判定されており、外れていると＠＊ウンタ＠６
をｌｌ１ｌｉＩＩＡさせる。分銅加除回路６Ｔは校正用
キー８が押されたとき、及び、電源投入後、プログラム
によシ自動的に駆動され、分銅加除信号を出力する。
１１９である。読取幅が±０．１〜の場合、レジスタ装
置１の最大記憶容量をＮ−３６とすると、最大安定幅は
ｌ−±ｏ、 ｓ ｉｖとなる。このはみ出しは比較判定
器で當に判定されており、外れていると＠＊ウンタ＠６
をｌｌ１ｌｉＩＩＡさせる。分銅加除回路６Ｔは校正用
キー８が押されたとき、及び、電源投入後、プログラム
によシ自動的に駆動され、分銅加除信号を出力する。
第３図に、上記実施例の作用を説明するタイムチャート
を示す。
を示す。
電源投入または校正用キー８が押されると、プログラム
に従い分銅加除信号が発せられ、電磁石２が駆動し、分
銅３が除去される。第３図に示すように１分銅除去前は
測定値は安定してお夛、安定幅Ｂ内に納まっている。時
刻ＴＩにおいて分銅除去が検出され、カウンタがＮｍＱ
にリセットされる。いま、天びんの応答が１秒であると
すれば、分銅が除去され九検知点をＮ−Ｑとしてカウン
トを開始し、Ｎ−５（１，０秒）でＮｍＱにリセットし
カウントを再開する。Ｎ−１の時、（ｌ）式によりＢ１
＋ｗ±０．１Ｉｖｘ、／〒＝±０．１りが求められるが
、現実のデータはこのＢｌよシも外れているので、継続
してデータの取シ込みとカウントがつづけられる。同様
にして順次安定幅Ｂが算出される。すなわち、 ’ Ｂ、閣±０．１１Ｉ９Ｘ、／２−±０．１４１ｖ
Ｂ１−±４ＬＩＩｌｆｘ、／３−±０．ＬＴＱＢｎ−±
Ｏ，１１ｖｘ、／Ｎ＝±ｂｑ そして、Ｎ−１６の時に Ｊｉｌｌ−±Ｑ、１Ｗｖｘｖ／ｌｓ＝±０．４９と＆シ
、データがこの±０．４ｒＩ！９以内に納まっていると
、平均化時間Ｔ −０，２秒Ｘ１６＝８．２秒となり、
以降の測定のデータ処理時間、即ち、最大平均化時間が
８．８秒に設定される、−２測定環境が変って、微少振
動があるような場所では、内蔵分銅が除去されてから安
定幅に納るまでの時間が自然長くなる。例えば読取幅Ｅ
−ｆ（１，１ダに入るまでの方つント数がＮ−２７で
４ツ７ｊ 、！：すれば、平均化峙間Ｔ＝６．４秒とな
る。
に従い分銅加除信号が発せられ、電磁石２が駆動し、分
銅３が除去される。第３図に示すように１分銅除去前は
測定値は安定してお夛、安定幅Ｂ内に納まっている。時
刻ＴＩにおいて分銅除去が検出され、カウンタがＮｍＱ
にリセットされる。いま、天びんの応答が１秒であると
すれば、分銅が除去され九検知点をＮ−Ｑとしてカウン
トを開始し、Ｎ−５（１，０秒）でＮｍＱにリセットし
カウントを再開する。Ｎ−１の時、（ｌ）式によりＢ１
＋ｗ±０．１Ｉｖｘ、／〒＝±０．１りが求められるが
、現実のデータはこのＢｌよシも外れているので、継続
してデータの取シ込みとカウントがつづけられる。同様
にして順次安定幅Ｂが算出される。すなわち、 ’ Ｂ、閣±０．１１Ｉ９Ｘ、／２−±０．１４１ｖ
Ｂ１−±４ＬＩＩｌｆｘ、／３−±０．ＬＴＱＢｎ−±
Ｏ，１１ｖｘ、／Ｎ＝±ｂｑ そして、Ｎ−１６の時に Ｊｉｌｌ−±Ｑ、１Ｗｖｘｖ／ｌｓ＝±０．４９と＆シ
、データがこの±０．４ｒＩ！９以内に納まっていると
、平均化時間Ｔ −０，２秒Ｘ１６＝８．２秒となり、
以降の測定のデータ処理時間、即ち、最大平均化時間が
８．８秒に設定される、−２測定環境が変って、微少振
動があるような場所では、内蔵分銅が除去されてから安
定幅に納るまでの時間が自然長くなる。例えば読取幅Ｅ
−ｆ（１，１ダに入るまでの方つント数がＮ−２７で
４ツ７ｊ 、！：すれば、平均化峙間Ｔ＝６．４秒とな
る。
このようにして設定された平均化時間Ｔ１或いはそれＫ
ｍ当するデータ個数Ｎは、読取幅設定器６３、プログラ
ム６５又はその他のメモリ内に記憶されて以降の平均演
算に供される。
ｍ当するデータ個数Ｎは、読取幅設定器６３、プログラ
ム６５又はその他のメモリ内に記憶されて以降の平均演
算に供される。
本格９目の制御ｌＩ６は、マイクロコンピュータを用い
て実施することもできるっ 本勢９Ｆ４によれば、内蔵分銅の自動加除機構の作動に
よる測定値の変動とその安定化時間を実測してその人び
んの安定化時間を設定しているので、手動で基準分銅を
載せるときのような加速度のばらつきがなく、設置環境
の良否がそのまま安定化時間の長短となって現れ、実状
に合致し之安定化時間を設定することができる。従って
、設置環境が良い場所では測定が迅速に行われ、設置環
境が悪くなっても平均化時間が長くなって正確な測定値
を得ることができる。ｔ７ｔ、平均化時間選択スイッチ
が不要となシ、使い易くなる。
て実施することもできるっ 本勢９Ｆ４によれば、内蔵分銅の自動加除機構の作動に
よる測定値の変動とその安定化時間を実測してその人び
んの安定化時間を設定しているので、手動で基準分銅を
載せるときのような加速度のばらつきがなく、設置環境
の良否がそのまま安定化時間の長短となって現れ、実状
に合致し之安定化時間を設定することができる。従って
、設置環境が良い場所では測定が迅速に行われ、設置環
境が悪くなっても平均化時間が長くなって正確な測定値
を得ることができる。ｔ７ｔ、平均化時間選択スイッチ
が不要となシ、使い易くなる。
ＪＩ１図は本窒明実施例のブロック構成図、＠２図鉱第
１図の電子天びん部１内の分銅加除機構を示す図、ｊＩ
＄３図は上記実施例の作用を説明するタイムチャートで
ある。 １・・・電子天びん都、 ２・・・電磁石、３・・
・内蔵分銅、 ４・・・レバー、５・・・欄、
６・・・制御部、６２・・・演算装置
、 ６３・・・読取幅設定器、６４・・・比較判
定器、６５・・・プログラム装置、６６・・・カウンタ
、６−１・・・分鋼加除回路、８・・・校正用キー０ １？８行 出願人 株式会社島津製作所代理人 弁理
士 西 １） 新
１図の電子天びん部１内の分銅加除機構を示す図、ｊＩ
＄３図は上記実施例の作用を説明するタイムチャートで
ある。 １・・・電子天びん都、 ２・・・電磁石、３・・
・内蔵分銅、 ４・・・レバー、５・・・欄、
６・・・制御部、６２・・・演算装置
、 ６３・・・読取幅設定器、６４・・・比較判
定器、６５・・・プログラム装置、６６・・・カウンタ
、６−１・・・分鋼加除回路、８・・・校正用キー０ １？８行 出願人 株式会社島津製作所代理人 弁理
士 西 １） 新
Claims (1)
- 内蔵分銅加除機構を備え感度等を校正しうる電子天びん
に１？いて、上記内蔵分銅加除機構が測定値に変化を与
えたときから測定値が所定の安定幅に収まるまでに要し
要時間を測定して記憶し、上記時間をその後に測定され
た測定値の平均化時間として測定値の平均演算処理を実
行するよう構成され九ことを特徴とする電子天びん。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5423782A JPS58171634A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | 電子天びん |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5423782A JPS58171634A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | 電子天びん |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58171634A true JPS58171634A (ja) | 1983-10-08 |
| JPH0226734B2 JPH0226734B2 (ja) | 1990-06-12 |
Family
ID=12964929
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5423782A Granted JPS58171634A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | 電子天びん |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58171634A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62220819A (ja) * | 1986-03-22 | 1987-09-29 | Anritsu Corp | 計量装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007046921A (ja) * | 2005-08-08 | 2007-02-22 | Hirai:Kk | 気体供給装置 |
-
1982
- 1982-03-31 JP JP5423782A patent/JPS58171634A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62220819A (ja) * | 1986-03-22 | 1987-09-29 | Anritsu Corp | 計量装置 |
| JPH0349379B2 (ja) * | 1986-03-22 | 1991-07-29 | Anritsu Corp |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0226734B2 (ja) | 1990-06-12 |
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