JPS5816692B2 - 欠け傷検出方式 - Google Patents
欠け傷検出方式Info
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- JPS5816692B2 JPS5816692B2 JP53059925A JP5992578A JPS5816692B2 JP S5816692 B2 JPS5816692 B2 JP S5816692B2 JP 53059925 A JP53059925 A JP 53059925A JP 5992578 A JP5992578 A JP 5992578A JP S5816692 B2 JPS5816692 B2 JP S5816692B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9045—Inspection of ornamented or stippled container walls
-
- G—PHYSICS
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- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明はガラスびんなどに発生した欠は傷をびん型合せ
目の影響を受けずに検出する欠は傷検出方式に関するも
のである。
目の影響を受けずに検出する欠は傷検出方式に関するも
のである。
飲料、調味料等のびん結プラントにおいてびん詰に際し
びんを良く洗浄し、傷あるいは汚ｔ１等の有無を検査し
びん詰を行っているこの空びん検査・は主に人間の目視
によるが最近光電式の空びん検査機が開発されている。
びんを良く洗浄し、傷あるいは汚ｔ１等の有無を検査し
びん詰を行っているこの空びん検査・は主に人間の目視
によるが最近光電式の空びん検査機が開発されている。
光電大空びん検査機の傷検出方法は、被検査空びんに対
する光源と受光器の位置関係から透過光方式と反射光方
式とがある。
する光源と受光器の位置関係から透過光方式と反射光方
式とがある。
透過光方式は被検査物を透過して来た光を、反射光方式
は反射してきた光をそれぞれ受光器で受光し電気信号に
変換する。
は反射してきた光をそれぞれ受光器で受光し電気信号に
変換する。
被検査物に対する光源受光器の相対的な位置関係は検出
すべき欠陥の種類、あるいは被検査物の形状等で変わる
が、得られた電気信号に対する欠陥判別の手法は次のよ
うな方法が一般的である。
すべき欠陥の種類、あるいは被検査物の形状等で変わる
が、得られた電気信号に対する欠陥判別の手法は次のよ
うな方法が一般的である。
すなわち第１図のように被検査物からの透過光または、
反射光は被検査物の欠陥によって光学的変化が生じこの
変化は光電素子１によって電気信号に変換され増幅回路
２にて増幅される。
反射光は被検査物の欠陥によって光学的変化が生じこの
変化は光電素子１によって電気信号に変換され増幅回路
２にて増幅される。
しかし被検査物が正常であっても必ずしも光学的に均一
なものでないため低周波成分を含む場合があるのでフィ
ルタ回路３でフィルタリングし欠陥信号を強調させる。
なものでないため低周波成分を含む場合があるのでフィ
ルタ回路３でフィルタリングし欠陥信号を強調させる。
判別回路４ではこの信号をあらかじめ設定したレベル５
と比較し設定レベル５を越えていれば欠陥信号として検
出する。
と比較し設定レベル５を越えていれば欠陥信号として検
出する。
また逆にあらかじめ設定したレベル５より低い場合、欠
陥信号として検出することもある。
陥信号として検出することもある。
しかし被検査物がガラスびんの場合色むら肉厚の不均一
、あるいは光源の明るさの変化などで正常信号ならびに
欠陥信号の絶対値が変わり、レベルをどこにおくかむず
かしい。
、あるいは光源の明るさの変化などで正常信号ならびに
欠陥信号の絶対値が変わり、レベルをどこにおくかむず
かしい。
設定値によっては欠陥信号を検出しなくなったり、ある
いは欠陥信号以外の色むら、肉厚の不均一などによるノ
イズを欠陥信号として誤検出する。
いは欠陥信号以外の色むら、肉厚の不均一などによるノ
イズを欠陥信号として誤検出する。
このような不都合をなくすだめ、光源の自動調光、色む
らを検出し増幅器の利得を自動的に調整するとか、ある
いは設定レベルを増幅器出力のピーク値の平均値に応じ
て自動調整して補正するなどの方法がとられている。
らを検出し増幅器の利得を自動的に調整するとか、ある
いは設定レベルを増幅器出力のピーク値の平均値に応じ
て自動調整して補正するなどの方法がとられている。
しかし、いずれにしても欠陥を検出するには欠陥信号の
絶対値が雑音のそれよりも大きいことが必要であって、
欠陥信号と雑音の絶対値が同じであったり、雑音の方が
大きい場合は検出できない。
絶対値が雑音のそれよりも大きいことが必要であって、
欠陥信号と雑音の絶対値が同じであったり、雑音の方が
大きい場合は検出できない。
ガラスびんにはさらに前述の色むら肉厚の不均一の外に
びん製造時のびん型合せ目によって表面に凹凸がびん口
から底にいたる広範囲に線状に発生している。
びん製造時のびん型合せ目によって表面に凹凸がびん口
から底にいたる広範囲に線状に発生している。
これを型合せ目と称するが、この型合せ目がびんによっ
ては欠陥よりも光学的変化が顕著に現われ、その絶対値
は欠陥信号のそれより大きく欠陥として検出することが
多かった。
ては欠陥よりも光学的変化が顕著に現われ、その絶対値
は欠陥信号のそれより大きく欠陥として検出することが
多かった。
本発明はこの型合せ目などによるノイズと欠は傷による
欠陥信号とのその絶対値に差がなくてもあるいはノイズ
の方が大きくても欠は傷による欠陥信号のみを確実に検
出することを特徴とした欠は傷検出方式である。
欠陥信号とのその絶対値に差がなくてもあるいはノイズ
の方が大きくても欠は傷による欠陥信号のみを確実に検
出することを特徴とした欠は傷検出方式である。
本発明を第２図、第３図、第４図に示す実施例をもとに
説明する。
説明する。
同図において、６，７は受光器、８はしやへい板、９は
被検査ガラスびんで矢印方向に回転している。
被検査ガラスびんで矢印方向に回転している。
１０はレーザ光源である。第３図は第２図の上方から見
た図で１１は被検査ガラスびん９の断面図を示す。
た図で１１は被検査ガラスびん９の断面図を示す。
第４図は欠は傷による透過光の光学的変化を示し１２の
矢印はレーザ光の照射方向、１３は欠は傷の断面を示す
。
矢印はレーザ光の照射方向、１３は欠は傷の断面を示す
。
また、第５図は本発明による欠は傷検出方式の電気回路
の一例を示すブロック図で１６、１６’は。
の一例を示すブロック図で１６、１６’は。
増幅回路、１７、１７’はフィルタ回路、１８、１８’
は判別回路、１９は遅延回路、２０はタイミングパルス
発生回路、２１はアンド回路である。
は判別回路、１９は遅延回路、２０はタイミングパルス
発生回路、２１はアンド回路である。
第６、第７図は電気回路ブロック図（第５図）のタイミ
ングチャートで、第６図は欠は傷の場合、第７図は型合
せ目の場合を示し、Ａはフィルタ回路１７の出力信号波
形、Ｂはフィルタ回路１７′の出力信号波形、Ｃは判別
回路１８の出力信号波形、Ｄは判別回路１８′の出力信
号波形、Ｅはタイミングパルス発生回路２０の出力信号
波形、Ｆはアンド回路２１の出力信号波形で欠は傷検出
信号である。
ングチャートで、第６図は欠は傷の場合、第７図は型合
せ目の場合を示し、Ａはフィルタ回路１７の出力信号波
形、Ｂはフィルタ回路１７′の出力信号波形、Ｃは判別
回路１８の出力信号波形、Ｄは判別回路１８′の出力信
号波形、Ｅはタイミングパルス発生回路２０の出力信号
波形、Ｆはアンド回路２１の出力信号波形で欠は傷検出
信号である。
次にこの動作を説明する。
実施例第３図に示すようして光軸１２に対称な位置に受
光器６，７を配置すると、欠は傷の場合は、第４図に示
すように、欠は傷１３によって光は左右に屈折する。
光器６，７を配置すると、欠は傷の場合は、第４図に示
すように、欠は傷１３によって光は左右に屈折する。
この屈折はガラスと空気の境面の入射角と、第３〜４図
に示すびんの自転方向から、まず、欠は傷のａ点に於て
照射光（レーザ光）は受光器６の方向に屈折し、続いて
ｂ点では受光器７の方向に屈折する。
に示すびんの自転方向から、まず、欠は傷のａ点に於て
照射光（レーザ光）は受光器６の方向に屈折し、続いて
ｂ点では受光器７の方向に屈折する。
（びんの自転方向が逆であればこの順序は逆となる。
）この現象から、受光器６，７からの欠は傷による欠陥
信号は第６図のＡ、Ｂに示すように必ず発生時間にずれ
がある。
信号は第６図のＡ、Ｂに示すように必ず発生時間にずれ
がある。
従って、第６図に示す如く、欠陥信号Ａの二値化信号Ｃ
の後縁から一定の遅延をかけて発生させたタイミングパ
ルスＥと時間的に合致し、アンド回路からは欠は傷検出
信号Ｆを出力することができる。
の後縁から一定の遅延をかけて発生させたタイミングパ
ルスＥと時間的に合致し、アンド回路からは欠は傷検出
信号Ｆを出力することができる。
一方、型合せ目の場合、実施例第３図に示すような光軸
に対称な受子器６，７に対し、型合せ目の形状によって
多少の違いはあるが、数多くの実験結果から次の特徴の
あることが分かった。
に対称な受子器６，７に対し、型合せ目の形状によって
多少の違いはあるが、数多くの実験結果から次の特徴の
あることが分かった。
すなわち、受光器６，７のいずれかの方向にのみ屈折す
るか、あるいは受光器６，７の両方向に屈折しても欠は
傷の場合と異なり、第７図のＡ 、Ｂに示すように受光
器６，７からの異常信号の時間的ずれがゼロに等しいか
、あっても極くわずかで、第７図Ｅに示す遅延したタイ
ミングパルスと時間的に合致せず、アンド回路２１から
の出力信号は欠は傷の場合と違って発生しない。
るか、あるいは受光器６，７の両方向に屈折しても欠は
傷の場合と異なり、第７図のＡ 、Ｂに示すように受光
器６，７からの異常信号の時間的ずれがゼロに等しいか
、あっても極くわずかで、第７図Ｅに示す遅延したタイ
ミングパルスと時間的に合致せず、アンド回路２１から
の出力信号は欠は傷の場合と違って発生しない。
また、欠は傷、型合せ目が存在しない場合は照射光は直
進し、受光器の方向への屈折は起り得ないので異常信号
の発生はなく、従ってアンド回路からの出力信号の発生
もあり得ない。
進し、受光器の方向への屈折は起り得ないので異常信号
の発生はなく、従ってアンド回路からの出力信号の発生
もあり得ない。
以上から、アンド回路２１からは欠は傷が存在している
場合のみ信号の出力があり型合せ目による誤動作しない
欠は傷検出が可能となる。
場合のみ信号の出力があり型合せ目による誤動作しない
欠は傷検出が可能となる。
本発明による、飲料水びんの欠は傷の検出結果では、幅
２ｍｍの欠は傷を含む多数の欠けびん検出率は１００係
でかつ型合せ目による誤検出はゼロであった。
２ｍｍの欠は傷を含む多数の欠けびん検出率は１００係
でかつ型合せ目による誤検出はゼロであった。
また、びん口はキャップ締付は用のねじを有するものに
対しては・二のねじの先端によって必ず一方向に透過光
が屈折するのでこれによる誤動作の防止にも効果があっ
た。
対しては・二のねじの先端によって必ず一方向に透過光
が屈折するのでこれによる誤動作の防止にも効果があっ
た。
なお、本発明による欠は傷検出方法はガラスひんに限ら
ず光を通す物質であれば欠は傷の検査が出来る。
ず光を通す物質であれば欠は傷の検査が出来る。
第１図は従来の傷検出回路を示すブロック図、第２図は
本発明の実施例を示す斜視図、第３図、第４図は本発明
の実施例の断面図、第５図は本発明のブロック図、第６
図及び第７図は同じくタイミングチャートである。 ６．７：受光器、１０：レーザ光源、１８，１８’：判
別回路、１９：遅延回路、２０：タイミングパルス発生
回路、２１：アンド回路。
本発明の実施例を示す斜視図、第３図、第４図は本発明
の実施例の断面図、第５図は本発明のブロック図、第６
図及び第７図は同じくタイミングチャートである。 ６．７：受光器、１０：レーザ光源、１８，１８’：判
別回路、１９：遅延回路、２０：タイミングパルス発生
回路、２１：アンド回路。
Claims (1)
- １ 照射光の光軸と直角方向に回転あるいは移動する被
検査物に光を照射し被検査物の透過光を光軸に対して左
右に配置した光電変換器によって受光し、これら両光電
変換器からの欠陥信号の発生時刻のずれによって欠は傷
有無を検出する欠は傷検出方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53059925A JPS5816692B2 (ja) | 1978-05-22 | 1978-05-22 | 欠け傷検出方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53059925A JPS5816692B2 (ja) | 1978-05-22 | 1978-05-22 | 欠け傷検出方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54151888A JPS54151888A (en) | 1979-11-29 |
| JPS5816692B2 true JPS5816692B2 (ja) | 1983-04-01 |
Family
ID=13127181
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53059925A Expired JPS5816692B2 (ja) | 1978-05-22 | 1978-05-22 | 欠け傷検出方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5816692B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0512717B2 (ja) * | 1987-02-12 | 1993-02-18 | Yamaha Corp |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4886830B2 (ja) * | 2009-10-15 | 2012-02-29 | 東洋ガラス株式会社 | 透明ガラス容器の焼傷検査方法及び装置 |
-
1978
- 1978-05-22 JP JP53059925A patent/JPS5816692B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0512717B2 (ja) * | 1987-02-12 | 1993-02-18 | Yamaha Corp |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54151888A (en) | 1979-11-29 |
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