JPS5816445B2 - 移動しているストリツプの輪郭を測定するための放射線ゲ−ジ - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はたとえば鉄またはアルミニウムのストリップの
輪郭を測定するための放射線ゲージに関する。

そのようなゲージは知られた輪郭を補正することが一般
に可能である熱間圧延機に特に用いられる。

一方のアームがスＩ−ＩＪツブの上に、他方のアームが
ストリップの下になるようにして、ストリップの周囲に
設けられるＣ形フレームの向い合うアームにＺ線管と検
出器とがそれぞれ配置され、ストリップがＣ形フレーム
の間を通過する時にストリップの中心線に沿う厚みをモ
ニタするようになっている非接触放射線ゲージは公知で
ある。

ストリップの移動方向に対して直角な方向にスｌ−ＩＪ
ツブを横切って往復運動する別のＣ形フレームの向い合
うアームには、別のＸ線管と別の検出器が取りつけられ
る。

この別のＸ線管と別の検出器との組合わせからの出力信
号は、ストリップの中心線上に設けられて基準として用
いられる静止Ｘ線管と静止検出器との組合わせからの出
力信号と比較され、そのスト１，１ツブの幅方向の厚み
の輪郭がたとえば陰極線管で俵示される。

この種の放射線ゲージは、往復運動する放射線源／検出
器のアセンブリがストリップの幅を横切るのに時間を要
することから、大きな欠点を生ずることになる。

この時間は１０秒間はどになり、スｌ−ＩＪツブが時速
約９６．５Ｋｍ（６０マイル）の速さで動いている場合
には、放射線源／検出器アセンブリがスｌ−’Ｊツブの
幅方向に１回横切るのに要するこの１０秒という時間の
間に、スｌ−ＩＪツブは約２６８７７Ｚ（８８０フイー
ト）進んでしまうことになる。

その結果、測定される厚み輪郭はストリップの移動方向
に値角なものではなく、たとえばストリップの幅が僅か
に約ｉ、２２ｍ（４フイート。

であっても、約２６８ｍ（８８０フイート）にもなる斜
めの線に沿ったものとなる。

スｌ−ＩＪツブの厚みがその幅方向だけに変化するので
なく、その長さ方向に沿って変化するから、この斜め方
向の輪郭は両方の変化の間で混同することになる。

したかって、本発明の目的はストリップの移動方向に対
してほぼ直角な、ストリップの幅をほとんど横切る方向
に輪郭が測定される放射線ゲージを提供することである
。

本発明によれば、スｌ−ＩＪツブの移動方向に対してほ
ぼ直角になってストＩＪツブの幅の少くとも一部を横切
って延びる領域内で前記ストリップに交差するカーテン
の形の放射線ビームを発生するためにスｌ−ＩＪツブの
一方の側に配置される少くとも１本のＸ線管と、前記ス
ｌ−ＩＪツブの幅のうち前記放射線を照射される領域に
対応する部分を少くとも横切って隔てられ、前記領域内
のストリップを通ってきた放射線を検出するように構成
される前記ストリップの他の側に配置される複数の放射
線検出器と、放射線検出器に応動して前記領域のそれぞ
れの部分におけるストリップの厚みを表すそれぞれの出
力信号を発生する出力信号装置とを備えることを特徴と
する移動するストリップの輪郭を測定する放射線ゲージ
が得られる。

以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。

第１図は上側アーム１２と下側アーム１４を有するＣ形
フレーム１０に取りつけられたゲージの一部を示す。

この、Ｃ形フレーム１０はキャリッジ（図示せず）の上
に取りつけられ、スｌ−ＩＪツブ１５の周囲を回される
。

このストリップ１５はたきえばホットストリップ鋼であ
る。

Ｃ形フレーム１０はストリップ１５を支持して、図面の
紙面に対して直角な方向にストリップ１５を駆動する２
個の隣接するローラー（図示せず）の間に配置される。

アーム１２と１４はストリップ１５の上と下にそれぞれ
設けられ、ストリップとゲージとは互いに接触すること
はない。

上側アーム１２には２本のＸ線管１６Ｌと１６Ｒが取り
つけられる。

添字のＬ（！：Ｒはそれぞれ左と右を意味するもので、
他の素子に対してもこの添字を用いることにする。

また、中央の測定チャンネルを示すために添字Ｃを後で
使う。

しかし、左、右および中央を区別する必要がない場合に
は、添字を省いて数字だけを用いるものとする。

Ｘ線管１６Ｌ、１６ＲはＸ線ビーム１７Ｌ、１７Ｒをそ
れぞれ発生する。

これらのＸ線ビームはストＩＪツブ１５を貫通して、下
側アーム１４に取りつけられている検出器２０Ｌ、２０
Ｃ，２０Ｒにより検出される。

上側アーム１２は内部水平壁２２によって上側隔室２３
と下側隔室２４に分割される。

これらの隔室はＣ形フレーム１０の残りの部分と同様に
鋼で作られる。

上側隔室２３には油が満され、Ｘ線管１６Ｌ、１６Ｒが
収められる。

隔室２３の中にはＸ線管１６に高電圧を供給するための
高電圧トランス２６Ｌ、２６Ｒと、Ｘ線管１６のヒータ
を加熱するためのヒータートランス２８Ｌ、２８Ｒも含
まれる。

通常の空気を含む下側隔室２４の中にはトランス２６Ｌ
と２６Ｒ用のドライバ３２Ｌ。

３２Ｒが収められる。

また各Ｘ線管１６Ｌ、１６Ｒのための標準マガジン３２
Ｌ、３２Ｒも上側隔室２４の中に収められる。

これらのマガジン３２Ｌ３２Ｒは対応するソレノイド３
３Ｌ、３３Ｒにより作動される。

ドライバ３０Ｌ、３０Ｒとツレ６／イド３３Ｌ 、３３
Ｒに電力を供給するための電カケープルには参照番号３
５，３６がつけられる。

Ｚ線管１６Ｌ、１６Ｒによってそれぞれ発生されたＸ線
ビーム１７Ｌ、１７Ｒはそれぞれ一対のスロットつき形
成リング３８Ｌと３９Ｌ、３８Ｒと３９Ｈにより形成さ
れる。

リング３８Ｌと３９Ｒは第２ａ、第２ｂ図にそれぞれ平
面図で示されている。

これらの図かられかるようにこれらのリング３８Ｌ 、
３９Ｒにはスロット４０Ｌ、４０Ｒがそれぞれ設けられ
る。

これらのスロワｈ４０Ｌ。４０Ｒの形と向きはビームの
形と向きを定める。

これらのスロットはストリップ１５の移動方向に直角な
幅を横切る方向に細長いことが４つかるであろう。

しかし、第１図かられかるように、ビーム１７Ｌと１７
Ｒはストリップの幅の半分より少しだけ延び、スＩ−Ｉ
Ｊツブ１５の縦方向中心線領域で重なり合う。

ビーム形成リング３８Ｌ、３８Ｒ，３９Ｌ。

３９Ｒは鉛で作られ、Ｘ線に対してほぼ不透明になって
いる。

これらのリングのスロットはＸ線に対して透明な窓４２
Ｌ、４２Ｒ，４３Ｌ、４３Ｒ？こよってそれぞれ覆われ
る。

これらの窓はたとえばべＩＪ ＩＪウムやアルミニウム
の薄い板で作られる。

Ｃ形フレーム１０の下側アーム１４の中に収められてい
る検出器２０は、ストリップ１５を貫通してきたビーム
１７Ｌ、１７Ｒを受けるように、ス） ＩＪツブ１５の
幅を横切る１本の線上に離隔して配置される。

検出器２０Ｌはビーム１７Ｌを受け、検出器１７Ｒはビ
ーム１７Ｒを受ける。

中央検出器２０Ｃは両方のビーム１７Ｌと１７Ｒが重な
る部分のビームを受ける。

この中央検出器２０Ｃはストリップ１５の中心線に沿う
厚みをモニタするために用いられる。

各検出器２０は独立した測定チヱンネルの先頭部を構成
し、たとえばヨウ化ナトリウムで作ることができるシン
チレーション結晶４４と、このシンチレーション結晶の
出力側に設けられる光電子ン増倍管４６とで構成される
。

各光電子増倍管４６の出力端子には電旅−電圧変換器４
８が接続される。

この変換器４８からの出力信号はケーブル４９を構成し
ている個々の導体によって別々に送られる。

ケーブル４９は圧延機に設けられているＣ形フレームか
ら、信号処理回路を収めている遠方のコンソールへ導か
れている。

Ｘ線管１６と検出器２０の間にあるストリップ１５の中
を通るＸ線の吸収塵は、下記のブーカー（Ｂｏｕｑｕｅ
ｒ）指数吸収法則に従ってス） ＩＪツブの厚みを測定
するために用いられる。

■＝■ｏｅ−μＸ ここに、■は検出器２０により検出されるＸ線の最終（
残留）強度、■ｏはＸ線の初期強度、μは物質の転達係
数、Ｘは均質の厚みである。

組成と温度が一定の合金に対しては、このゲージは厚み
を直読できるように較正でき、またはより一般的には公
称厚みからの％偏差（＋または−）で厚みを読取るよう
に較正できる。

第３図は油が満されている鋼製の隔室の中に収められる
２本のＸ線管１６Ｌ、１６Ｒの回路図を示す。

高電圧トランス２６Ｌ、２６Ｒは１次巻線５０Ｌ、５０
Ｒと２次巻線５２Ｌ、５２Ｒをそれぞれ有する。

１次巻線５０Ｌ、５０Ｒは端子Ａ。Ｂに並列に接続され
て、第４図ａ、ｂに示すような正と負のドライババフ５
レスを受ける。

２次巻線５２Ｌ、５２Ｒは直列になってＸ線管１６Ｌ。

１６Ｒに接続される。

これらのＸ線管１６Ｌ。１６Ｒは互いに逆極性で並列に
接続される。

２次巻線５２Ｌ、５２Ｒは抵抗５４を介して互いに接続
される。

この抵抗５４の一端は接地される。２次巻線５２Ｌの他
端子はＸ線管１６ＬのカソードとＸ線管１６Ｒのアロノ
ードとに接続され、２次巻線５２Ｒの他端部はＸ線管１
６ＲのカソードとＸ線管１６Ｌのアロノードに接続され
る。

したがって、２次巻線５２Ｌ、５２Ｒに生じた電圧の和
がＸ線管１６Ｌ、１６Ｒに逆極性で加えられる。

しかし、各Ｘ線管はそのア、／−ドがカソードに対して
正となった時だけ動作を開始するから、これらのＸ線管
は交互に動作し、Ｘ線管１６Ｌはたとえばそれらの電圧
の代数和の正の半サイクルで動作し、Ｘ線管１６Ｒは負
の半サイクルで動作する。

２次巻線５２Ｌと５２Ｈの共通接続点が接地されている
から、アースに対する最高電圧はＸ線管に加えられる最
高電圧のわずかに半分である。

そのために絶縁破壊のおそれが少なくなる。

Ｘ線管はドライバ回路３０Ｌ、３０Ｒによりプソシュル
１駆動される。

これらのドライバ回路はトランジスタで構成され、第４
図ａに示す一連の正の方形波パルスと、この正の方形波
パルスとは１８０度位相の異なる一連の負の方形波パル
ス（第４図ｂ）を発生する。

これらのパルスは並列１次巻線５０Ｌ、５０Ｒに加えら
れ、２次巻線５２Ｌ、５２Ｒに正弦波状の高電圧を発生
する。

これらの２次巻線５２Ｌ、５２Ｒに発生される電圧の波
形を第４図ｃｏｄにそれぞれ示す。

これらの電圧の代数和（第４図ｅ）が２本のＸ線管に加
えられる。

Ｘ線管１６Ｌはこれらの電圧の和の正の半サイクルで動
作し、Ｘ線管１６Ｒは負の半サイクルで動作する。

第４図ａｙｂに示すパルスの周波数、したがってＸ線管
に加えられる最終電圧（第４図ｅ）の周波数は、ここで
説明している例では３６４Ｈｚに選ばれる。

Ｘ線管１６Ｌ、１６Ｒにはヒータトランス５６Ｌ５６Ｒ
がそれぞれ設けられる。

これらのヒータトランスはＸ線管に流れる電流の大きさ
を決定する。

この電流の値は２次巻線５２Ｌ、５２Ｒに直列に接続さ
れている抵抗５４の非接地端子に現われる電圧により表
される。

この電圧は経路５７Ｌと５７Ｒを通って帰還ループ内の
ヒータトランスの２次巻線５６Ｌ、５６Ｒにそれぞれ加
えられて、Ｘ線管を流れる電流を希望する値に保つ。

Ｘ線管に加えられるＫＶ台の電圧もある特定の値に維持
すべきである。

この特定の値というのは厚み輪郭を測定すべき合金の組
成と、希望する公称厚みとの関数である。

この目的のために、高電圧トランス２６Ｌ 、２６Ｒの
１次側には基準巻線５１Ｌ、５１Ｒが設けられる。

これらの基準巻線は２次巻線の端子間電圧を検出し、２
次電圧を希望する値に維持するようにドライバ回路を制
御するために帰還回路で用いられる。

次に第５図を参照する。

この図は第１図に示すＣ形フレーム１０からある距離だ
け離れているコンソールに装置できるゲージの信号処理
回路を示す。

コンソール内のこの信号処理回路は、圧延機の所に設け
られている検出器２０と日数のチャンネルを有する。

しかし、第５図では図示を簡単にするために左右と中央
のチャンネルを１つずつ、合計３チヤンネルだけ示しで
ある。

コンソール内の谷チャンネルはインクフェースとしての
機能を果す入力増幅器６０を有する。

この増幅器は電流−電圧変換器４８から信号を受ける。

コンソールにおいては信号はインタフェース増幅器６０
からゲート６２を介してピーク検出器６４に加えられる
。

ピーク検出器６４の比信号は積分器６６でサンプリング
および積分される。

積分器６６は時間的に重みをつけた積分（または平均）
を効果的に行えるように、５０または１００ミリ秒の時
定数を有するＲＣフィルタで構成される。

各パルスに与えられる重みはパルスを受けた時からの経
過時間とともに指数関数的に減少するから、最も新しい
パルスが最も効果的であり、それにより積分は絶えず更
新される。

種々の検出チャンネルのゲート６２Ｌ、６２Ｒは順序制
御器７０からそれぞれライン７２Ｌ。

７２Ｒを介して開放、または閉成される。

中央のチャンネルは２本のＸ線管１６Ｌと１６Ｒから放
射線を受けるから、中央ゲート６２Ｃはゲート６２Ｌ、
６２Ｒと同時に作動させられる。

左側ゲート６２Ｌは左側Ｘ線管１６Ｌが励振された時に
開くようにタイミングを計られ、右側ゲート６２Ｒは右
側Ｘ線管１６Ｒが励振された時に開くようにタイミング
が計られる。

順序制御器７０はライン７３を介してマルチプレクサ８
０も制御する。

このマルチプレクサ８０は各積分器６６から積分された
信号を受け、その信号をすべてのチャンネルに共通の対
数増幅器８２に与える。

対数増幅器８２は積分された信号を直線化する。

というのは、前記したように、検出器により発生された
信号は、ポーカ−の法則に従って、測定される物体の厚
みとともに指数関数的に変化するからである。

対数増幅器８２の出力はライン８４を介して差動増幅器
９０の１つの入力端子８６に加えられる。

差動増幅器９０の他の入力端子８８、対応するチャンネ
ルのための零補正信号を受ける。

これらの零補正信号は一般にチャンネルごとに異なり、
種々のチャンネルのための積分された測定信号とともに
、差動増幅器９０へ順次加えられる。

差動増幅器９０はその入力端子８８に受けた零補正信号
を、その入力端子８６に受けた測定信号から差し引く。

この零補正信号が発生され、各チャンネルのために貯え
られるやり方については後で説明する。

差動増幅器９０の出力は掛算器９１に加えられ、そこで
ポーカ−の法則から取り出した１／μＸを通常のやり方
で乗ぜられる。

係数μは厚みを測定する物質の透過係数である。

係数Ｘはこの場合には物質の公称厚み（実際の厚みでな
く）であって、結果として得られる輪郭測定値が公称厚
みからのパーセント偏差（プラスオたはマイナス）とし
て表されるように使用している。

関数１／μＸは関数発生器９２によって発生される。

この関数発生器９２はデジタル・ブリセレクタ９４から
デジタル−アナログ変換器９３を介して入力を受ける。

ブリセレクタ９４にはストリップの公称厚みがつまみに
よって手動でセットされる。

掛算器９１からの信号は別の掛算器９５に与えられ、合
金の標準成分からの被測定合金の成分の変化を補償する
補償係数を乗ぜられる。

この補償係数は温度変化を考慮に入れることもできる。

掛算器９５の出力信号はゲート９６を通ってバッファ増
幅器９８に加えられ、この増幅器９８から陰極線管ＣＲ
Ｔ１００のＹ軸入力端子に加えられる。

ＣＲＴｌｏｏのＸ軸すなわち掃引入力端子は順序制御器
７０から・ライン７９を介して、マルチプレクサ８０と
一致して制御される。

したかつＣＲＴｌｏｏは信号を単一にして波形１０１の
ようにそれらの信号を、測定されるストＩＪツブの幅方
向における検出器２０の位置に対応する位置関係で表示
する。

ＣＲＴ表示器１００の代りに、またはＣＲＴ表示器１０
０に加えてバー表示器（ｂａｒ ｄｉｓｐｌａｙ）も使
用できる。

ゲート９６から来る信号はライン１０２を介してデマル
チプレクサ１０４に加えられる。

このデマルチプレクサ１０４は順序制御器１０からライ
ン１１を介して制御される。

それぞれの測定チャンネルに対応する多重化を解かれた
信号は回路１０６によってサンプリングおよび保持され
る。

回路１０６からはそれらの信号はバッファ増幅器１０８
を介してバー表示器１１０に加えられる。

このバー表示器１１０は各チャンネル用の縦形メータ１
１２で構成される。

ストリップの公称厚みをセットするための手動ブリセレ
クタ９４は、Ｘ線管１６に加えられる電圧の制御も行う
。

ブリセレクタ９４からのデジタル信号はＤ／Ａ変換器９
３でアナログ形に変換されてから掛算器１１４で補償信
号を掛算される。

この掛算器１１４の出力信号はＸ（公称厚み）の関数を
発生する関数発生器１１５に加えられる。

このＸに従ってＸ線管のアノード−カソード間電圧は変
えられ、この電圧は公称厚みが厚くなると大きくなる。

関数発生器１１５は電圧発生器／調節器１１６を制御す
る。

この電圧発生器／調節器１１６はドラ１バ３０Ｌ、３０
Ｒを制御する。

前記したように、それらのドライバは第４図ａ、ｂに示
すような方形波パルス列を発生する。

それらのパルス列はトランスの１次巻線５０Ｌ、５ｔＨ
ｔの端子Ａ、Ｂに加えられる。

ドライバ３０はライン７１を介して順序制御器７０に同
期させられる。

以上説明した種々の測定チャンネルに加えて、ストリッ
プ１５の中心線に沿う厚みが別のチャンネル（時にはト
ランスレータチャンネルと呼ばれる）５０でモニタされ
る。

このチャンネル５０はピーク検出器５１を有する、この
ピーク検出器５１は中心バッファ増幅器６０Ｃから、順
序制御器７０によりライン１６を介して制御されるゲー
トを通じて測定信号を受ける。

このゲートは中央測定チャンネルのデー１−６２ Ｃと
同様に、左右のＸ線管により発生されたパルスに対して
は開かれる。

ピーク検出器５１の出力端子には信号を直線化するため
の対数増幅器５２が接続され、この増幅器５２の出力端
子には積分器５３が接続される。

この積分器５３は約５０または１００ ：： ＩＪ秒の
時定数を持つＲＣフィルタで構成される。

積分器５３の出力信号には合金組成の補償を行う補償信
号が掛けられる。

希望によっては温度補償を行うこともできる。

上記掛算は別の掛算器（図示せず）で行われる。

偏差信号を得るために、積分器５３から加えられる補償
された出力信号からオフセット電圧が差し引かれる。

このオフセット電圧は、測定厚みが設定公称厚みに等し
い時に、測定信号と同じ大きさを有する。

それから偏差信号がバッファ増幅器を介して利得設定回
路５４に加えられる。

この回路の出力信号はバッファ増幅器（図示せず）を介
して偏差計５６に加えられるとともに、別のバッファ増
幅器（図示せず）を介して自動利得制御回路５８に加え
られる。

この回路５８の出力信号は公称厚みからのスｔ−ＩＪツ
ブの実際の中心線厚みの偏差を補正するように、圧延機
の動作中に圧延機を制御するために使用できる。

次に各チャンネルの零補正を行う方法について説明する
。

対数増幅器８２の出力端子は差動増幅器９０の測定入力
端子８６に接続されるとともに、Ａ／Ｄ変換器１２０の
入力端子にも接続される。

Ａ／Ｄ変換器１２０の出力端子はライン１２２を介して
複数の３状態ラツチ１２４の入力端子に並列接続される
。

三状態ラッチ１２４は各チャンネルに１つずつ設けられ
る。

これらのラッチは零補正信号をデジタル形で貯えるため
に用いられる。

これらのラッチ１２４の出力端子はライン１２６を介し
て共通Ａ／Ｄ変換器１２８の入力端子に並列に接続され
、このＡ／Ｄ変換器１２８の出力端子は差動増幅器９０
の補正入力端子８８に接続される。

各三状態ラッチ１２４はランチへのデジタル補正信号の
入力を制御するための入力制御入力端子と、ラッチに貯
えられている信号の非破壊読出しを制御するための出力
制御入力端子とを有する。

これらの入力端子は各チャンネルごとに順序制御器７０
から複数のライン７５を介して別々に制御される。

次に動作を説明する。

オペレータはまず順序制御器７０に設けられている較正
ボタンＣＡＬを押すことによってゲージを較正する。

そうすると標準マガジン３２（第１図）から選択された
標準が、両方のＸ線ビームの経路内に自動的に挿入され
る。

これらの標準は標準厚みと標準合金組成の金属板である
。

電子的または電気機械的なサーボループ、あるいは手動
制御器（図示せず）により関数発生器１１５の出力に対
して必要な調節を行い、メータ５６の指示を零にするこ
とにより、自動利得側。

両回路５８を零個差にする。

次に順序制御器７０はラッチ１２４の入力制御を自動的
に行う。

この時には標準は依然として所定場所にある。

そのために各チャンネルに対する測定信号がＡ／Ｄ変換
器１２０からそれぞれのう、ソチ１２４に加えられ、そ
こでデジタル形で貯えられる。

したがって、ラッチに貯えられている信号は各種のチャ
ンネルに対して、標準からの厚み偏差が零である測定信
号を表す。

それからＸ線ビームの経路から標準を除去する。

標準と同じ厚さ・のストリップの測定にこのゲージが用
いられる場合には、各チャンネルに対する測定信号はそ
れぞれのチャンネルのラッチに貯えられている零補正信
号と同じである。

測定信号がマルチプレクサ８０によって対数増幅器８２
を通じて差動増幅器９０の測定入力端子に加えられるた
びに、対応す。

るナヤンネルに対する零補正信号がランチから非破壊的
に読出され、Ｄ／Ａ変換器１２８でアナログ形に戻され
てから差動増幅器９０で測定信号と比較される。

ストＩＪツブが較正に用いられた標準と同じ公称厚みを
有する場合は、その公称厚みからのストリップの厚みの
偏差は、増幅器９０からの正または負の差信号によって
変換される。

この差信号は零厚み偏差に対しては零である。

一方、ストリップの公称厚みが標準の厚みとは異なる場
合には、零厚み偏差に対して差動増幅器９０からは零で
はない一定の出力が生ずる。

しかし、バッファ増幅器９８または１０８の少くとも一
方の利得を調節することにより、またはＣＲＴ表示器１
０１〕やバー表示器１１０を零にすることによって、表
示から零を続出することができる。

以上説明した実施例においては、ストリップの移動方向
に直角なストリップの幅方向に横切る１本の直線上に検
出器を配置するものと仮定した。

検出器の数を増すためには第６図に示す検出器アレイを
使用できる。

このアレイでは検出器はストリップの幅方向に横切る２
本の線上に、異なる線上の検出器は整列しないようにし
て検出器を配置する。

このような２列配置の場合にはストリップの幅が検出器
アレイの幅よりも狭くて、アレイの各端部における１個
またはそれ以上の検出器がスｌ−ＩＪツブにカバーされ
なかったりすることが起り得るから、第１図に示すよう
にＸ線源からＸ線を直接受けることが起る。

そうすると対応するチャンネルに過大な信号が生じ、極
めて薄いストリップであると判定される。

このようなことが起ることを避けるために、このゲージ
は過大信号検出器１３０を含む。

この過大信号検出器１３０はマルチプレクサ８０から信
号を受け、それらのうちで所定のしきい値をこえた信号
を検出する。

この過大信号検出器１３０はライン７４を介して順序制
御器７０に接続される。

これにより過大信号が生じているチャンネルを識別でき
ることになる。

そうするとこの過大信号が表示器へ与えられないように
、ライン７８を介してゲート９６を閉じさせる。

また、順序制御器は過大信号が生じたチャンネルのすぐ
内側のチャンネルを動作不能状態とするように構成する
こともできる。

更に、シンチレーション結晶４４と光電子増倍管４６と
の間に配置され、検出器１３０に応答して、過大信号が
検出された時に結晶４４と光電子増倍管との間を通る光
を減衰させて、飽和の後の光電子増倍管の必要な回復時
間を短くするための、電気的に作動可能な分極ゲート （ｐｏｌａｒｉｓｅｒ ｇａｔｅ）その他の適当な減衰
素子を最も外側の検出器に組込むことができる。

最後に、第５図に示す信号処理回路のうちの増幅器８２
の下流側は主としてデジタル信号で動作するように構成
でき、その場合には順序制御器７０を含む回路の大部分
はマイクロプロセッサで構成できる。

【図面の簡単な説明】

第１図はＸ線管と検出器との機械的配置を示す圧延機上
の位置にある本発明のゲージのＣ形フレーム部分を通る
断面図、第２図ａ、ｂは第１図のスロットつきビーム形
成リングの拡大平面図、第３図はＸ線管を含む回路の回
路図、第４図ａ−ｅはドライバ出力パルスと、トランス
の２次巻線に生ずる電圧と、２本のＸ線管に加えられる
最終電圧との波形をそれぞれ示す波形図、第５図は第１
図に示すＣ形フレーム部分から離れているコンソール内
に設けられるゲージの信号処理部分のブロック図、第６
図は検出器アレイの別の実施例の平面図である。 １０・・・・・・Ｃ形フレーム、１５・・・・・・スト
リップ、１６・・・・・・Ｘ線管、２０・・・・・・検
出器、４６・・・・・・光電子増倍管、６４・・・・・
・ピーク検出器、６６・・・・・・積分器、７０・・・
・・・順序制御器、８２・・・・・・対数増幅器、９２
・・・・・・関数発生器。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 略々点状をなしストリップの一側上に配されこのス
   トＩＪツブの幅の少くとも一部に跨って延びる領域にお
   いて該ス） ＩＪツブの移送方向に直角に該ストリップ
   に交差する扇状の発散性放射ビームを形成する静止した
   放射線源と、前記ストリップの他側に線状に配された複
   数の検出器からなり且つ前記領域に対応する該ストリッ
   プの幅の少くさも一部に跨るように配されて前記放射ビ
   ームの小角度部分が前記領域中に配された前記ストリッ
   プの各小部分における前記検出器の各々が前記線源と一
   致する軸上を通過した後に前記放射線源からの扇状ビー
   ム中の小角度部分の１つづつの放射を検出するように構
   成された放射線検出器と、この検出器に応答して前記領
   域の小部分の１つづつにおいてそれぞれ前記ストリップ
   の厚さを表わす出力信号を出力する信号出力装置とをそ
   なえた移動しているストリップの厚み輪郭を測定するた
   めのＸ線ゲージ。 ２、特許請求の範囲第１項記載のゲージにおいて、前記
   放射線源は、交互に付勢されそれぞれ扇形カーテン状の
   放射ビームを形成するように構成された一対のＸ線管を
   そなえ、これらＸ線管はその放射領域が前記ストリップ
   の幅に跨るように整列され且つ該ストリップの中心線部
   分で重なるように方向付けされたＸ線ゲージ。 ３ 特許請求の範囲第１項または第２項記載のゲージに
   おいて、前記放射線源はプッシュプル構成の一対のＸ線
   管と、これらＸ線管を交互に動作させる装置とをそなえ
   たＸ線ゲージ。 ４ 特許請求の範囲第１項乃至第３項の何れかに記載の
   Ｘ線ゲージにおいて、前記出力信号形成装置は、前記検
   出器に応答してこれら検出器の各々によって受取られた
   放射線の量を表わす測定信号を形成する増幅装置と、前
   記検出器の各々に対応して設けられ前記ストリップが所
   定厚みの標準物によって置き換えられたとき前記検出器
   の各々によって形成された測定信号の値にそれぞれ対応
   する補正信号を蓄積するための信号蓄積装置と、前記ス
   トリップが前記ゲージを通過したとき動作し対応する測
   定信号から各補正信号を差引いて前記出力信号を形成す
   る減算装置とをそなえ、前記出力信号の各々は前記所定
   厚さからの前記ストリップの厚さ偏移を表わすようにし
   たＸ線ゲージ。