DE19722482A1 - Materialprüfanlage - Google Patents

Materialprüfanlage

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DE19722482A1
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anode
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Withdrawn
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DE1997122482
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Erich Dr Hell
Peter Dr Schardt
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Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/04Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures
    • G01B15/045Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures by measuring absorption
    • DTEXTILES; PAPER
    • D21PAPER-MAKING; PRODUCTION OF CELLULOSE
    • D21FPAPER-MAKING MACHINES; METHODS OF PRODUCING PAPER THEREON
    • D21F7/00Other details of machines for making continuous webs of paper
    • D21F7/06Indicating or regulating the thickness of the layer; Signal devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
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Description

Bei der Herstellung von großflächigen Walzprodukten, speziell bei der von Papier- oder Metallfolien oder Blechen auf Rollen, die oft viele Kilometer lang und einige Meter breit sein können, muß ein Feedback von der aktuell vorliegenden Produktqualität wie Materialstärke auf die vorangeschalteten Produktmaschinen vorhanden sein, damit bei nicht mehr tole­ rierbaren Parametern bei diesen korrigierend eingegriffen werden kann.
Es ist bekannt, an mehreren Punkten senkrecht zur Materialbe­ wegungsrichtung Meßstellen vorzusehen, die berührungslos oder mit dem Material in Kontakt stehend in der Lage sind, die Materialstärke zu bestimmen und somit mit einer Feedback- Schleife korrigierend auf die Parameter der laufenden Produk­ tion einzugreifen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Material­ prüfanlage so auszubilden, daß kontaktlos über einen vorbe­ stimmten Weg des Untersuchungsobjektes eine Prüfung ermög­ licht wird.
Diese Aufgabe ist erfindungsgemäß gelöst durch die Merkmale des Patentanspruchs 1. Bei der erfindungsgemäßen Material­ prüfanlage wird ein Elektronenstrahl längs einer langge­ streckten Anode bewegt, so daß der Fokus auf dieser Anode wandert. Vom Fokus geht ein Röntgenstrahlenbündel aus, das sich ebenfalls um einen vorbestimmten Weg bewegt und das Untersuchungsobjekt durchsetzt. Es wird danach von einem Detektor empfangen, der der empfangenen Strahlenintensität entsprechende elektrische Signale erzeugt, aus denen z. B. die Dicke des Untersuchungsobjektes über einen vorbestimmten Weg bestimmt werden kann.
Die Erfindung ist nachfolgend anhand eines in den Fig. 1 und 2 in zwei Ansichten dargestellten Ausführungsbeispiels näher erläutert.
In der Zeichnung ist ein Untersuchungsobjekt 1 dargestellt, das gemäß Fig. 2 durch zwei Walzen 2 geführt und dadurch in seiner Dicke verringert wird. Die Dicke wird dabei durch ein Stellglied 3 festgelegt, das von einer Feedback-Steuerung 4 angesteuert wird. Die Dicke des Untersuchungsobjektes 1 wird über seine gesamte Breite von einem über diese Breite wan­ dernden Röntgenstrahlenbündel 5 gemessen, das auf einem Zei­ lendetektor 6 auftrifft, der aus einer Reihe von Detektorele­ menten aufgebaut ist. Die Ausgangssignale der Detektorele­ mente werden einer Signalverarbeitungseinrichtung 7 zuge­ führt, die aus der jeweils empfangenen Strahlenintensität die Dicke des Untersuchungsobjektes 1 an der durchstrahlten Stelle bestimmt. Die Signalverarbeitungseinrichtung 7 ist Be­ standteil der Steuerung 4.
Wesentlich ist, daß die Bewegung des Röntgenstrahlenbündels 5 dadurch erzeugt wird, daß der Fokus 8 auf einer langgestreck­ ten, bei dem Beispiel linearen Anode 9 wandert. Der Fokus 8 wird von einem Elektronenstrahl 10 erzeugt, der mit Hilfe ei­ ner schematisch dargestellten Magnetanordnung 11 auf seiner Bahn geführt und an der jeweils gewünschten Stelle auf die Anode 9 abgelenkt wird. Die Magnetanordnung 11 umgibt ein Va­ kuumgefäß 12, in dem die Anode 9 liegt. Der Elektronenstrahl 10 wird von einer Elektronenkanone 13 erzeugt.
Wesentlich für die Erfindung ist, daß eine Röntgenröhre mit linear ausgebildeter, langgestreckter Anode 9, die bis zu einigen Metern lang sein kann, vorgesehen ist, wobei zusammen mit einem gegenüberliegenden Zeilendetektor 6 der gleichen Länge das zu kontrollierende Material, vorzugsweise Walzmate­ rial, an allen Stellen über die gesamte Breite on-line hin­ sichtlich der Materialstärke gemessen werden kann. Mit Hilfe der Feedback-Steuerung 4 kann korrigierend auf die Betriebs­ parameter vorgeschalteter Maschinen, nämlich der Walzen 2 über das Stellglied 3 eingewirkt werden. Die Röntgenröhren­ spannung kann dabei in Abhängigkeit vom Material optimal ein­ gestellt werden.
Die beschriebene Anordnung kann auch zur Überprüfung von Ge­ päckstücken eingesetzt werden.

Claims (3)

1. Materialuntersuchungsanlage mit einer Röntgenstrahlen­ quelle (9 bis 13), die eine langgestreckte Anode (9) auf­ weist, welche von einem Elektronenstrahl (10) derart abge­ tastet wird, daß der Fokus (8) längs der Anode (9) wandert, so daß das vom Fokus (8) ausgehende Röntgenstrahlenbündel (5) einen vorbestimmten Weg abtastet, und mit einem Zeilendetek­ tor (6), auf dem das Röntgenstrahlenbündel (5) auftrifft, und der aus einer Reihe von Detektorelementen aufgebaut ist, aus deren Ausgangssignalen Parameter des Untersuchungsobjektes (1) zwischen der Röntgenstrahlenquelle (9 bis 13) und dem Zeilendetektor (6) bestimmt werden.
2. Materialuntersuchungsanlage nach Anspruch 1, bei der aus den Detektorausgangssignalen die Dicke des Untersuchungsob­ jektes (1) an der jeweils durchstrahlten Stelle bestimmt wird.
3. Materialuntersuchungsanlage nach Anspruch 1 oder 2, bei der aus den ermittelten Parametern Stellmittel (3) für eine Produktionsmaschine (2) für das Untersuchungsobjekt (1) ge­ steuert werden.
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