DE19722482A1 - Materialprüfanlage - Google Patents
MaterialprüfanlageInfo
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- DE19722482A1 DE19722482A1 DE1997122482 DE19722482A DE19722482A1 DE 19722482 A1 DE19722482 A1 DE 19722482A1 DE 1997122482 DE1997122482 DE 1997122482 DE 19722482 A DE19722482 A DE 19722482A DE 19722482 A1 DE19722482 A1 DE 19722482A1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/04—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures
- G01B15/045—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures by measuring absorption
-
- D—TEXTILES; PAPER
- D21—PAPER-MAKING; PRODUCTION OF CELLULOSE
- D21F—PAPER-MAKING MACHINES; METHODS OF PRODUCING PAPER THEREON
- D21F7/00—Other details of machines for making continuous webs of paper
- D21F7/06—Indicating or regulating the thickness of the layer; Signal devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
- G01B15/025—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
Bei der Herstellung von großflächigen Walzprodukten, speziell
bei der von Papier- oder Metallfolien oder Blechen auf
Rollen, die oft viele Kilometer lang und einige Meter breit
sein können, muß ein Feedback von der aktuell vorliegenden
Produktqualität wie Materialstärke auf die vorangeschalteten
Produktmaschinen vorhanden sein, damit bei nicht mehr tole
rierbaren Parametern bei diesen korrigierend eingegriffen
werden kann.
Es ist bekannt, an mehreren Punkten senkrecht zur Materialbe
wegungsrichtung Meßstellen vorzusehen, die berührungslos oder
mit dem Material in Kontakt stehend in der Lage sind, die
Materialstärke zu bestimmen und somit mit einer Feedback-
Schleife korrigierend auf die Parameter der laufenden Produk
tion einzugreifen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Material
prüfanlage so auszubilden, daß kontaktlos über einen vorbe
stimmten Weg des Untersuchungsobjektes eine Prüfung ermög
licht wird.
Diese Aufgabe ist erfindungsgemäß gelöst durch die Merkmale
des Patentanspruchs 1. Bei der erfindungsgemäßen Material
prüfanlage wird ein Elektronenstrahl längs einer langge
streckten Anode bewegt, so daß der Fokus auf dieser Anode
wandert. Vom Fokus geht ein Röntgenstrahlenbündel aus, das
sich ebenfalls um einen vorbestimmten Weg bewegt und das
Untersuchungsobjekt durchsetzt. Es wird danach von einem
Detektor empfangen, der der empfangenen Strahlenintensität
entsprechende elektrische Signale erzeugt, aus denen z. B. die
Dicke des Untersuchungsobjektes über einen vorbestimmten Weg
bestimmt werden kann.
Die Erfindung ist nachfolgend anhand eines in den Fig. 1 und
2 in zwei Ansichten dargestellten Ausführungsbeispiels näher
erläutert.
In der Zeichnung ist ein Untersuchungsobjekt 1 dargestellt,
das gemäß Fig. 2 durch zwei Walzen 2 geführt und dadurch in
seiner Dicke verringert wird. Die Dicke wird dabei durch ein
Stellglied 3 festgelegt, das von einer Feedback-Steuerung 4
angesteuert wird. Die Dicke des Untersuchungsobjektes 1 wird
über seine gesamte Breite von einem über diese Breite wan
dernden Röntgenstrahlenbündel 5 gemessen, das auf einem Zei
lendetektor 6 auftrifft, der aus einer Reihe von Detektorele
menten aufgebaut ist. Die Ausgangssignale der Detektorele
mente werden einer Signalverarbeitungseinrichtung 7 zuge
führt, die aus der jeweils empfangenen Strahlenintensität die
Dicke des Untersuchungsobjektes 1 an der durchstrahlten
Stelle bestimmt. Die Signalverarbeitungseinrichtung 7 ist Be
standteil der Steuerung 4.
Wesentlich ist, daß die Bewegung des Röntgenstrahlenbündels 5
dadurch erzeugt wird, daß der Fokus 8 auf einer langgestreck
ten, bei dem Beispiel linearen Anode 9 wandert. Der Fokus 8
wird von einem Elektronenstrahl 10 erzeugt, der mit Hilfe ei
ner schematisch dargestellten Magnetanordnung 11 auf seiner
Bahn geführt und an der jeweils gewünschten Stelle auf die
Anode 9 abgelenkt wird. Die Magnetanordnung 11 umgibt ein Va
kuumgefäß 12, in dem die Anode 9 liegt. Der Elektronenstrahl
10 wird von einer Elektronenkanone 13 erzeugt.
Wesentlich für die Erfindung ist, daß eine Röntgenröhre mit
linear ausgebildeter, langgestreckter Anode 9, die bis zu
einigen Metern lang sein kann, vorgesehen ist, wobei zusammen
mit einem gegenüberliegenden Zeilendetektor 6 der gleichen
Länge das zu kontrollierende Material, vorzugsweise Walzmate
rial, an allen Stellen über die gesamte Breite on-line hin
sichtlich der Materialstärke gemessen werden kann. Mit Hilfe
der Feedback-Steuerung 4 kann korrigierend auf die Betriebs
parameter vorgeschalteter Maschinen, nämlich der Walzen 2
über das Stellglied 3 eingewirkt werden. Die Röntgenröhren
spannung kann dabei in Abhängigkeit vom Material optimal ein
gestellt werden.
Die beschriebene Anordnung kann auch zur Überprüfung von Ge
päckstücken eingesetzt werden.
Claims (3)
1. Materialuntersuchungsanlage mit einer Röntgenstrahlen
quelle (9 bis 13), die eine langgestreckte Anode (9) auf
weist, welche von einem Elektronenstrahl (10) derart abge
tastet wird, daß der Fokus (8) längs der Anode (9) wandert,
so daß das vom Fokus (8) ausgehende Röntgenstrahlenbündel (5)
einen vorbestimmten Weg abtastet, und mit einem Zeilendetek
tor (6), auf dem das Röntgenstrahlenbündel (5) auftrifft, und
der aus einer Reihe von Detektorelementen aufgebaut ist, aus
deren Ausgangssignalen Parameter des Untersuchungsobjektes
(1) zwischen der Röntgenstrahlenquelle (9 bis 13) und dem
Zeilendetektor (6) bestimmt werden.
2. Materialuntersuchungsanlage nach Anspruch 1, bei der aus
den Detektorausgangssignalen die Dicke des Untersuchungsob
jektes (1) an der jeweils durchstrahlten Stelle bestimmt
wird.
3. Materialuntersuchungsanlage nach Anspruch 1 oder 2, bei
der aus den ermittelten Parametern Stellmittel (3) für eine
Produktionsmaschine (2) für das Untersuchungsobjekt (1) ge
steuert werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1997122482 DE19722482A1 (de) | 1997-05-28 | 1997-05-28 | Materialprüfanlage |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1997122482 DE19722482A1 (de) | 1997-05-28 | 1997-05-28 | Materialprüfanlage |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19722482A1 true DE19722482A1 (de) | 1998-12-03 |
Family
ID=7830820
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1997122482 Withdrawn DE19722482A1 (de) | 1997-05-28 | 1997-05-28 | Materialprüfanlage |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19722482A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE19913929A1 (de) * | 1999-03-26 | 2000-09-28 | Voith Sulzer Papiertech Patent | Vorrichtung und Verfahren zum Bestimmen von Eigenschaften einer Materialbahn |
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-
1997
- 1997-05-28 DE DE1997122482 patent/DE19722482A1/de not_active Withdrawn
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