JPS58162036A - 半導体をド−プするド−プシ−ト及びその製造法 - Google Patents

半導体をド−プするド−プシ−ト及びその製造法

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JPS58162036A
JPS58162036A JP3393183A JP3393183A JPS58162036A JP S58162036 A JPS58162036 A JP S58162036A JP 3393183 A JP3393183 A JP 3393183A JP 3393183 A JP3393183 A JP 3393183A JP S58162036 A JPS58162036 A JP S58162036A
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JP
Japan
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sheet
dopant
dope
agent
surface layer
Prior art date
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Pending
Application number
JP3393183A
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English (en)
Inventor
ユツタ・ベルガルト
クラウス・ハイケ
ジ−クフリ−ド・シユヴエンク
ロタ−ル・ヴエ−バ−
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Robert Bosch GmbH
Original Assignee
Robert Bosch GmbH
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B31/00Diffusion or doping processes for single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure; Apparatus therefor
    • C30B31/02Diffusion or doping processes for single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure; Apparatus therefor by contacting with diffusion materials in the solid state
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/22Diffusion of impurity materials, e.g. doping materials, electrode materials, into or out of a semiconductor body, or between semiconductor regions; Interactions between two or more impurities; Redistribution of impurities
    • H01L21/2225Diffusion sources

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、半導体を少なくとも1種類のドープ剤でP−
プするドープシートに関する。
米国特許第3971.870号明細書の記載から、r−
プ剤が埋封されている単層の可撓性サシストレートから
なる前記種類のドープシートは、既に公知である。しか
し、この公知のシートは、該シートをその中にドープ剤
を均一に分配するように製造するという困難をもたらす
しかし、シート内でのドープ剤の不均一な分布は、他面
でそれが半導体中で形成すべきP−ゾ領域の不純物濃度
の望ましくない不均一性を導きつるという欠点を有する
これとは異なり、P−プシートが担体材料からなる、1
2−プ剤を含まない可撓性サブカドレートを−有し、こ
のサブストレートの2つの主表面の少なくとも1つにP
−プ剤を含有する表面層が被覆されていることを特徴と
する本発明によるP−ゾシートは、P−プ剤をサブスト
レートに被覆された表面層内で著しく均一に分配するこ
とができ、P−ビンj後に半導体中の不純物濃度の均一
な分布を導くという利点を有する。前記した対象の好ま
しい他の実施態様は、特許請求の範囲第2項〜第10項
のいずれか1項の記載から判明する。更に、本発明によ
るドープシートの特に好ましい製造法は、ドープ剤を含
まない可撓性サブストレートを担体材料として使用し、
ドープ剤を微粒子状態で含有するペースト状物質をサブ
ストレートの2つの主表面の少なくとも1つに被覆し、
次にこのペースト状物質を、P−プ剤を均一な分布で含
有する表−面層をサブストレート上に形成するために乾
燥することよりなり、さらに他の好ましい実施態様は、
特許請求の範囲第12項〜第18項のいずれか1項に記
載されている。
本発明によるドープシートの2つの実施例は、図面に図
示されており、次の記載で詳説される。
第1図には、ドープシートが図示され、このドープシー
トは、サブストレート1を有し、このサブストレートは
、ドープ剤を含まない担体材料からなる。サブストレー
ト1の2つの主表面の1つに表面層2は被覆され、この
表面層に半導体をドープするのに好適なドープ剤が埋封
されている。第2図は、ザブストレート1の2つの主表
面にそれぞれ1つの表面層2が被覆されているドープシ
ートを示し、その際2つの表面層2は、同一のP−プ剤
を含有する。2つの実施例の場合、可撓性サブストレー
ト1ば、少なくとも1種類の有機高分子化合物からなる
この場合、サブストレート材料としては、殊に次の材料
を使用することができる:ポリエステル、ポリカーゼネ
ート、ポリビニルアルコール、セルロース誘導体、ポリ
アセタール。この場合、サブストレート1は、厚さ10
μ〜250μを有することができる。
更に、本発明によれば、表面層2のドープ剤は、微粒子
状態でラッカー状結合剤中に含有されていることが設け
られている。その際、表面層2がドープ剤及び結合剤以
外に剥離剤を含有する場合、r−プシートの一定の使用
で該シートをそれぞれ1つの主表面に接する2つの半導
体をP−プするために使用する場合に半導体の接着を阻
止するのが特に有利である。この場合、剥離剤としては
γ−A1,03が特に好適であるととが判明した。ドー
プ剤としては、硼酸又は燐酸二水素アンモニウムを使用
することができる。更に、表面層2は、ゲッタ物質を含
有することができる。
本発明による1−プシートの製造は、ド−ゾ剤を含ま々
い可撓性サシストレート1の2つの主表面の少なくとも
1つにドープ剤を微粒子状態で含有するペースト状物質
を被覆し、次にこのペースト状物質を、r−プ剤を均一
な分布で含有する表面層2をサブストレート1に片側又
は両側で形成するために乾燥することによって行なわれ
る。そのためには、ペースト状物質が12−プ剤以外に
少なくとも1種類の樹脂′形成剤及び溶剤を含有するの
が特に有利である。更に、このペースト状物質は、既に
さらに前記した目的を充足する剥離剤、例えばγ−A1
203を含有することができる。このペースト状物質は
、スクリーン印刷もしくはオフセット印刷又はロール塗
布によって可撓性サブストレート1に被覆することがで
きる。樹脂形成剤としては、次の材料を使用することが
できる:エポキシ樹脂、ポリアセタール、セルロース誘
導体、コロジオン、ロジン。溶剤としては、次のものを
使用することができるニジクロヘキサノン、インジルア
ルコール、α−テルピネオール。更に、ペースト状物質
は、ゲッタ物質を含有することができる。
室温での乾燥後、印刷したラッカーは、均一な厚さの固
着する非粘着R2をサブストレート1に生じる。
前記シートにより拡散後に達成される結果は、著しく均
一な表面抵抗(Ω/口)及び半導体からなる板の短い剥
離時間(約3時間)を示すサブストレートに被覆された
ペースト状物質の乾燥過程は、無水物を混入することに
よって短縮する仁とができる。この場合、環式無水物は
、特に使用可能な結果を生じる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明によるドープシートの第1の実施例を
示す断面図、第2図は、第1図による第2の実施例を示
す断面図である。 1・・・サブストレート、2・・・表面層FIG、I IG 2

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 半導体を少なくとも1種類のドープ剤でドープす
    るr−ゾシートにおいて、該シートが担体材料からなる
    、ドープ剤を含まない可撓性サブストレート(1)を有
    し、サブストレート(L)の2つの主表面の少なくとも
    1つにドープ剤を含有する表面層(2)が!&覆されて
    いることを特徴とする、半導体をドープするドープシー
    ト。 2、 サブストレート(1)の2つの主表面にそれぞれ
    1つの表面層(2)が被覆されており、その際2つの表
    面層(2)が同一のドープ剤を特徴する特許請求の範囲
    第1項記載のP−プシート。 3、 可撓性サブストレート(1)が少なくとも1種類
    の有機高分子化合物からなる、特許請求の範囲第1項又
    は第2項に記載のドープシート。 4、.1′?リエステル、ポリカーゼネート、ポリビニ
    ルアルコール、セルロース誘導体及ヒ/又はポリアセタ
    ールをサブストレート材料として使用する、特許請求の
    範囲第3項記載のドープシート。 δ、 サブストレー)(1)510μ〜250μの厚さ
    を有する、特許請求の範囲第1項〜第牛項のいずれか1
    項に記載のドープシート。 6、表面層(2)でドープ剤が微粒子状態でラッカー状
    結合剤中に含有されている、特許請求の範囲第1項〜第
    5項のいずれか1項に記載のP−プシート。 7、表面層(2)がP−プ剤及び結合剤以外にシートを
    それぞれ1つのその表面側に接触する2つの半導体をド
    ープするために使用する場合にドーピングの際に半導体
    の接着を阻止する剥離剤を特徴する特許請求の範囲第6
    項記載のドープシート。 8 剥離剤がγ−A 12 o3からなる、特許請求の
    範囲第7項記載のr−プシート。 9 硼酸又は燐酸二水素アンモニウムをドープ剤として
    使用する、特許請求の範囲第1項〜第8項のいずれか1
    項に記載のP−プシート10、表面層(2)がゲッタ物
    質を特徴する特許請求の範囲第1項〜第9項のいずれが
    1項に記載のr−プシート。 11、半導体を少なくとも1種類のドープ剤でP−プす
    るP−プシートの製造法において、P−プ剤を含まない
    可撓性サシストレート(1)を担体材料として使用し、
    ド−プ剤を微粒子状態で含有するペースト状物質をサブ
    ストレート(1)の2つの主表面の少なくとも1つに被
    覆し、次にこのペースト状物質をドープ剤を均一な分布
    で含有する表面層(2)をサブストレート(1)上に形
    成するために乾燥することを特徴とする、半導体をド−
    プするドープシートの製造法。 12、ペースト状物質が、シープ剤以外に少な、くとも
    1種類の樹脂形成剤及び溶剤を特徴する特許請求の範囲
    第11項記載の方法。 13、ペースト状物質はシートに接する2つの半導体を
    ドープするために完成ドープシートを使用する際にシー
    ト′に接する2つの半導体の接着をドープ中に阻止する
    剥離剤を含有する特許請求の範囲第11項又は第1゜2
    項に記載の方法。 14、−!!−スト状物質がスクリーン印刷もしくはオ
    フセット印刷又はロール塗布によって可撓性サブストレ
    ート(1)に被覆される、特許請求の範囲第11項〜第
    13項のいずれか1項に記載の方法。 15、エポキシ樹脂、ポリアセタール、セルロース誘導
    体、コロジオン及びロジンの群から選択される少なくと
    も1種類の材料を樹脂形成剤として使用する、特許請求
    の範囲第12項〜第14項のいずれか1項に記載の方法
    。 16、 シクロヘキサノン、ベンノルアルコール及びα
    −テルピネオールの群から選択される少なくとも1種類
    の材料を溶剤として使用する、特許請求の範囲第12項
    〜第15項のいずれか1項に記載の方法。 17  γ−A1203を剥離剤として使用する、特許
    請求の範囲第13項〜第L6項のいずれか1項に記載の
    方法。 18、ペースト状物質はゲッタ物質を特徴する特許請求
    の範囲第11項〜第17・項のいずれかL項に記載の方
    法。 19、ペースト状物質は無水物、特に環式無水物を特徴
    する特許請求の範囲第11項〜第18項のいずれか1項
    に記載の方法。
JP3393183A 1982-03-05 1983-03-03 半導体をド−プするド−プシ−ト及びその製造法 Pending JPS58162036A (ja)

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DE32078706 1982-03-05

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DE19538612A1 (de) * 1995-10-17 1997-04-24 Bosch Gmbh Robert Verfahren zur Herstellung einer Siliziumscheibe
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DE102008014824B4 (de) * 2008-03-18 2014-07-10 Leonhard Kurz Stiftung & Co. Kg Dotierfolien und deren Verwendung

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