JPS58159293A - メモリ素子制御方式 - Google Patents

メモリ素子制御方式

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Publication number
JPS58159293A
JPS58159293A JP57042264A JP4226482A JPS58159293A JP S58159293 A JPS58159293 A JP S58159293A JP 57042264 A JP57042264 A JP 57042264A JP 4226482 A JP4226482 A JP 4226482A JP S58159293 A JPS58159293 A JP S58159293A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
control signal
write
memory element
control
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57042264A
Other languages
English (en)
Inventor
Moriyuki Takamura
守幸 高村
Shohei Ikehara
池原 昌平
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP57042264A priority Critical patent/JPS58159293A/ja
Publication of JPS58159293A publication Critical patent/JPS58159293A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)発明の技術分野 本発明はメモリ素子制御方式に係り、%Ki1’l1M
のItllj御信号により動作するメモリ素子制御方式
に関する。
(ロ)技術の背景 電子計算機など情報地塊装置用記憶装置は半導体メモリ
素子を使用するのが一般的である。就中大谷を配憶装置
はその高集積度のためダイナミックMO8R五Mランダ
ムアクセスメモリ(以降はM2OR五Mと称す。)が常
用される。この従来のMOS  RAMにおいてはアド
レス、データ入出力のほかにRAs、Oムs、vmとい
う3種類の制御信号によりスタンドパイ、リード、ライ
ト。
リフレッV&の各動作を制御している。スタンドバイは
RAsが印加されないことにより、リードはRム8およ
び01gが印加されるととくよp。
ライトはRAS、OムaおよびWlが印加されることに
より、リフレッシ本はRASのみが印加されることによ
りそれぞれ動作の識別と実行が行なわれる。
() 従来技術と問題点 従来技術について図面を用いて詳しく説明する。341
図(a)および(b)にライト動作およびリード動作に
関するタイミングチャートを示す。
第1図(a)に図示されるごと〈RAS、aisおよび
WEの3棟類の制御g1号が印加されるので。
ライト動作とilI繊し、ロウアドレス、コラムアドレ
スムDをそれぞれRAS、OA8により取込み、内部制
御用諸タイミングを発生し、データ人力DIはwmによ
り書込まれる。
第1図(切においては、RASとOム8の2檀の制御信
号が印加されているのでリード動作と認識し、ロウアド
レス、コラムアドレスムDをそれぞれRAS、Cム8に
より取込み、内部制御用諸タイミングを発生し、データ
出力DOを出力する。
す7レツシ、動作はRASのみが印加され、スタンドバ
イは何ら制御信号が印加されないので、特に図示しない
s2図に従来のメモリ素子の構成を図示する。
21はタイミング発生回路でおり、RlBはクロックジ
ェネレータAX  gaに入力され、該ジェネレータ2
11Cより発生され良信号群はアドレスバッファ23、
ロウデコー/24、アントケート25およびア/ブI1
0ゲート回路26に入力される。23.24においては
アドレスの取込みとデコ−ドを、26においてはセンス
アンプの活性化を行う。ま九26においてはOム8とア
ンドがとられ所謂ディレードOムSが発生されクロック
ジェネレータ12  aYに人力される。27により発
生され良信号群はアドレスバッファg3.ライトクロッ
ク発生回路2B、コラムデコーダ29゜データアウトバ
ッファ30に人力される。28においてはW10指令に
よりライトパルスが出力されデーメインパプファ31に
入力される。
以上の説明によ転、3棟類の制御信号RムB。
0ムSおよびWzによりリード、ライト、リフレッシ凰
、スタンドバイの動作が実行されることが理解で1!九
であろう。
ところでメモリ素子のチップ集積度が今後一層内上する
とアドレス端子数が増加するに伴い素子の人出力熾子数
が増加し所定のチップキャリア又はパッケージに収容で
きなくなるという問題が生ずる。これを解決するには、
キャリア又はパッケージの端子数を増やす方法がめるが
、この方法は必然的にキャリア又はパッケージのサイズ
を大型化せしめ、以って記憶装置の小形化を困−ならし
めるという欠点がある。具体例を付は加えれば。
特に256にビ、)、1Mビット、又は4Mビットの超
L8エメモリチップを実現しようとするとアドレス多重
方式を用いてもアドレス端子数が9゜10.11ビン必
要となり小ml?ヤリア又はパッケージに収容すること
が極めてむずかしくなる0に)発明の目的 本発明はチップの総入出力端子数を減らすことを目的と
する0本発明の他の目的は、所定数の入出力端子をもつ
チップキャリア又はパッケージに、より一層記憶容量の
大暑いチップを収容すること奢り能とすることVCTo
る。
(ホ)発明の構成 上記目的を達成する丸めに1本発明はアドレス信号によ
り指定し九記憶場所へのデータの書込みおよび咳記憶場
所からのデータの銃出しが行なわれるメモリ素子におい
て、外部よシ入力される1機類の制御信号−の活性化さ
れている時間長を1別する手段と、咳鐵別手段によυ識
別され友上記制御信号φの活性化されている時間長に応
じて当該メモリ素子の各種動作を制御する手段をもうけ
、上記1鴇類の制御信号φのみにより続出し動作および
書込み動作等の制御を実行せしめるようにしたことを特
徴とする。
(へ)発明の実施例 本発明の実施例について、第3図、第4図を用いて詳し
く説明する。第3図(a)、同(b)、同0)にリフレ
tV&動作、リード動作、およびライト動作のタイイン
グチヤードを示す。
第3図(a)においては、制御信号φが最も狭いパルス
幅t1 で与えられて−る。かかる状態によpリフレッ
シュ動作と認識することに特徴がある。
リフレッシ、アドレスはメモリ素子内部で発生され、咳
アドレスが有効化され、外部よりのアドレス人カムDは
無効化される。φより発生される内部制御タイミングに
よシリフレッシ1wJ作が実行される。
第3図(1))においては、制御信号φが中間のパルス
幅t、で与えられている。かかる状態によりリード動作
と認識することに特徴がある0ロウアドレス、コラムア
ドレスADはφより発生される内部制御タイミングによ
シ取込まれ、データアウトDOUTを出力する。
第3図(C)においては、制御信号φが蝋へ広いパルス
幅t、で与えられている。かかる状−によp2イト動作
とM處することに%徴がある。ロウアドレス、コラムア
ドレスムDはφよp発生される内部*11#メイミング
により取込まれ、かつデータインク工Nがφよシ発生さ
れる内sin御タイに/グによプメモリ素子に書込まれ
る。
伺、スタンドバイは、φが印加されない場合で亀も図に
本発明の実施例のブロック構成図を示す。
41は内部制御タイイ/グ発生回路で6り、制御信号φ
はサンプルパルス発生回路42.クロック発生回wlI
43.リフレッシ、回路44、リード回R145、ライ
ト回路46に入力される。サンプルパルス発生回路42
においては、jlx+ s!。
#I43の遅延パルスが発生され、該信号は回路442
4i5.46においてそれぞれ制御信号φとムNDがと
られ、それぞれり7レツシ島、リード、2イト動作と1
繊・制aを行う。回路44,45゜460出力は各、*
(gljl149.60へ1回路!s1゜54へ、回路
31.51へ入力される。クロックジェネレータ4rs
においては、φが印加され九ことによシ。
(1)tずill信号■によす、アドレスバッファ(ム
DDR組田BUFF鳳R)4’?およびセンスアンプ・
I10ゲート−路(8111814MPE1 Ilo 
()A’I’工NG)48を活性化する。4フにおいて
はロウアドレスを取りこみ、4日においてはセンスアン
プの初期活性化を行う。回路49は、リフレッシエアド
レス発生回路であり、咳回路の出力はロウデコーf57
に入力される。回路番ツの出力はロウデコーダbフに入
力される。
(it)  次(、第2信号■はAND回路150゜5
5に入力される。
リード動作又はライト動作の場合は回路61において―
理ORがとられ、この出力が回路63゜515に入力さ
れる。リード動作又はライト動作の場合には回路55の
出力がロウデコーダ51を活性化し、先にのべた回路4
1と回路49の出力のうち回路4)の出力を選択し該選
択信号をデコードする。
一方、リフレッシ為動作の場合には1回路50の出力が
ロウデコーダ5ツを活性化し、先にのべ九回路4フと回
路49の出力のうち回路49の出力を選択し該選択信号
をデコードする。
(Ial)  次に、ji3信号■は1回路番ツを活性
化し、コラムアドレスを取りこむ。回路4フにおいては
、出力はコラムデコーダ56に入力される。
0い 次に、第4僅号■は回路53に入力される。回N
l63においてはリード又はライト動作の場合にコラム
デコーダ56を活性化する。
(V)  第6信号■は、回路54に入力され、リード
動作の場合に、データ出力バッファ59を活性化し出力
DOUTをメモリ素子外部へ出力する。
(VO第6信号@は、回路52に人力され、ライト動作
の場合に、データ人カパッファ5Bを活性化し、データ
入力DINを*bこむ。
以上が本@明の構成に成る実施例のメモリ素子の動作説
明である。
示し九わけでおるが1本発明はこの方式に限らずMOB
  RAMで6ろうとバイポーラRAMであろうと同優
に使用できることは明白である。
(ト)発明の効果 本発明によれば、制御信号め数が少なくなるので、メ篭
り素子のチップおよびパッケージの入出力燗子数を減ら
すことが可能であり、以って記憶装置の小形化へ貢献す
るところは大なるものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図に)および(b)は従来技術におけるライト動作
およびリード動作におけるタイムチャート、第2図は従
来のメモリ素子の構成を示す図、第3図(a)〜(Q)
は実施例のタイムチャート、第4図は本発明の実施例の
ブロック図である。 @4図において、41は内部側−タイミング発生回路、
42はサンプルパルス発生回路、43はクロック発生(
gl路、44はりフレ、シ1回路、46はリード回路、
46はライト回路、4ツはアドレスバッファ、49はり
フレッシュアドレス発生回路、56はコラムデコーダ、
5)はロウデコーダ、5Bはデータ人力バッファ、59
はデータ第2 図 83 図 (0) +。 φ AD       dtr/I’t  careden
  C#e  VALrOゐn’l care(b) ゆ −五− AOcare     paw      cot、 
     dotr′t  careo o(Hで=改
■ (C1 句 φ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  アドレス信号により指定した記憶場所へのデ
    ータの誉込みおよび該記憶場所からのデータの読出しが
    行なわれるメモリ素子において、外部より入力される1
    1a類の制御子ぎ号φの活性化されている時間長を識別
    する手段と、該峻別中成により識別され九上記?1lJ
    141信号−の活性化されている時間長に応じて当咳メ
    モリ素子の各種動作を制御する手段をもうけ、上記1棟
    類の制#信号φのみにより続出し動作お上び舊込み動作
    轡の制御を実行せしめるようにしたことを特徴とするメ
    モリ素子制御方式。
  2. (2)上記制御信号φがJglの時間長t+t4iする
    ときりフレッシ為動作を実行し、上記制御信号φが#第
    1の時間煙c1 より長いts2の時間長1゜を有する
    とI!続出し動作を実行し、上記制御信号φが該第2の
    時間長1.より長い第3の時間長t。 を有するとき薔込み動作を実行するようにしたことを特
    徴とする特許請求の範囲第(1)項記載のメモリ素子制
    御方式。
JP57042264A 1982-03-17 1982-03-17 メモリ素子制御方式 Pending JPS58159293A (ja)

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JP57042264A JPS58159293A (ja) 1982-03-17 1982-03-17 メモリ素子制御方式

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JP57042264A JPS58159293A (ja) 1982-03-17 1982-03-17 メモリ素子制御方式

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JPS58159293A true JPS58159293A (ja) 1983-09-21

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ID=12631170

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JP57042264A Pending JPS58159293A (ja) 1982-03-17 1982-03-17 メモリ素子制御方式

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0161639A2 (en) * 1984-05-18 1985-11-21 International Business Machines Corporation Self contained array timing
US4985868A (en) * 1986-08-27 1991-01-15 Fujitsu Limited Dynamic random access memory having improved refresh timing

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0161639A2 (en) * 1984-05-18 1985-11-21 International Business Machines Corporation Self contained array timing
EP0161639B1 (en) * 1984-05-18 1993-03-31 International Business Machines Corporation Self contained array timing
US4985868A (en) * 1986-08-27 1991-01-15 Fujitsu Limited Dynamic random access memory having improved refresh timing

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