JPS58153942A - 電子写真用光導電部材 - Google Patents
電子写真用光導電部材Info
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- JPS58153942A JPS58153942A JP57036919A JP3691982A JPS58153942A JP S58153942 A JPS58153942 A JP S58153942A JP 57036919 A JP57036919 A JP 57036919A JP 3691982 A JP3691982 A JP 3691982A JP S58153942 A JPS58153942 A JP S58153942A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明−は、光(ζζで鉱広義の光で、紫外光線、可視
光線、赤外党線、X纏、r鐘等を示す)ン)様な電磁液
に感受性のある光導電部材に関するO 園体撮儂装置、或いは像形成分野における電子写真用像
形成部材中msm堆義置装おける光導電層を形成する光
導電材料としては、高感度で、8N比〔光電流(IP)
/暗電流(Id))が高く、照射する電磁液のスペク
トル%性に′vラッチングた徴収スペクトル特性を有す
ること、光応答性が速く、屑線の暗抵抗値を有すること
、使用時において人体に対して無公害であること、更に
紘■体撮像装置においては、lI&像を所定時間内に容
品に処理することができること等OS性が要求される0
殊に、事務機としてオフィスで使用される電子写真鋏置
内KJi込まれる電子写真用像形成部材の場合には、上
記の使用時にお叶る無全書性線重l!な点である。
光線、赤外党線、X纏、r鐘等を示す)ン)様な電磁液
に感受性のある光導電部材に関するO 園体撮儂装置、或いは像形成分野における電子写真用像
形成部材中msm堆義置装おける光導電層を形成する光
導電材料としては、高感度で、8N比〔光電流(IP)
/暗電流(Id))が高く、照射する電磁液のスペク
トル%性に′vラッチングた徴収スペクトル特性を有す
ること、光応答性が速く、屑線の暗抵抗値を有すること
、使用時において人体に対して無公害であること、更に
紘■体撮像装置においては、lI&像を所定時間内に容
品に処理することができること等OS性が要求される0
殊に、事務機としてオフィスで使用される電子写真鋏置
内KJi込まれる電子写真用像形成部材の場合には、上
記の使用時にお叶る無全書性線重l!な点である。
この様な点に立脚して最近注目されてiる光導電材料に
アモルファスシリコン(Jjtilm−81と表記す)
があシ、例えd%独■公−嬉2746967号公報、W
i4第4嬉587111号公報には電子写真用像形成部
材として、独■*Hf1li2113B411号公@に
は光電変換読取装置への応用が記載されてiる・ 画情ら、従来のa−81で構成され先光導電層を有する
光導電S#は、*抵抗値、光感度、jt応答性@0電気
的、光学的、光導電的特性、及び使用職種特性の点、I
LKは経時的安定性及び耐久性0点において、各々、個
々Ktt41性の陶土が計られているが総合的aS性肉
上を図る上で更に改良される余地が存す今一が実情であ
る。
アモルファスシリコン(Jjtilm−81と表記す)
があシ、例えd%独■公−嬉2746967号公報、W
i4第4嬉587111号公報には電子写真用像形成部
材として、独■*Hf1li2113B411号公@に
は光電変換読取装置への応用が記載されてiる・ 画情ら、従来のa−81で構成され先光導電層を有する
光導電S#は、*抵抗値、光感度、jt応答性@0電気
的、光学的、光導電的特性、及び使用職種特性の点、I
LKは経時的安定性及び耐久性0点において、各々、個
々Ktt41性の陶土が計られているが総合的aS性肉
上を図る上で更に改良される余地が存す今一が実情であ
る。
例えば、電子軍真用曽拳威11#に適用し良場合に、高
光感度化、高暗抵抗化を一時に図ろうとすると従来にお
いてはその使用時において残留電位が残る場合が度々観
糊され、こ0*0党導電部材は長時間繰返し使用し統轄
ると、繰返し使用による疲労の蓄積が起って、111g
11が生ずる所間ゴースト現象を発する橡になる等の不
都合な点が少なくなかっ九◎ 又、a−81材料で光導電層を構成する場合に峠、その
電気的、光導電的特性の改良を−る丸め(、水素原子或
い紘弗嵩鳳子中[嵩厘子等のハロゲン原子、及び電気伝
導渥の制御の丸めに硼素原子中燐原子勢が或いはその他
の41性改良の丸めに他の原子が、各々構成原子として
光導電層中に含有されるが、これ等の構成原子の含有O
仕方如何によっては、形成し九層の電気的或いは光導電
的特性や耐圧性に間11が生ずる場合があつえ〇 即ち、例えば、形成し先光導電層中に党履射によって発
生し九ルト中中リアの該層中での寿命が充分でないこと
中暗部において、支持体側よシの電荷の注入の阻止が充
分でないこと、或いは、転写紙に極零されえ画f/aに
俗に「自ヌケ」と呼ばれる、局所的な放電破壊現象によ
ゐと思われる画像欠陥や、例えば、クリーニングに、ブ
レードを用いるとそのJIIIIKよると思われる。俗
K「白スジ」と鴛われている所閤Ili像欠陥が生じ九
ヤしていえ。又、多湿雰囲気中で使用し九)、或いは多
f11雰囲気中に最峙閏放置し走置IIK使用すると儒
に大う画像のボケが生ずる場合が少なくなかった〇 災には、層厚が士数声以上になると層形成用の真空堆積
型より取シ出し先後、空気中でO装置時間の経過と共に
、支持体表面からの層の浮きや剥離、或いは層に急緩が
生ずる勢O滉象を引起し勝ちになる。こOIA象は、殊
に支持体が通常、電子写真分野に於いて使用されている
ドラム状支持体の場合に多く起る勢、経時的安定性の点
に於いて解決される可き点が黍る〇従ってa−8i材料
そのものの特性改良が園られる一方で光導電部材を設計
するIIK、上記し九様な問題の総てが解決される様に
工夫される必要がある◇ 本発明は上記の諸点に鎌み成されえもので、a−−8i
K就て電子写真用像形成部材中固体撮像装置、胱堆装置
等に使用される光導電S#としての適用性とその応用性
という観点から1活的に製雪研究検討をa1九−像、シ
リコン息子を母本とし、水素原子(6)又はハロゲン原
子00o%Aずれか一方を少なくと1含有するアモルフ
ァス材料、fig水嵩水嵩化7フルフアスシリコンーゲ
/化アモルファスシリコン、或いはへ〇グン含有水素化
アモルファスシリコン〔以後これ畳の総称的表記として
ra−81(H,X)Jを使用する〕から構成される光
導電層を有する光導電部材の層構成を以後KI!明され
る様な轡定化の下に設計されて作成され丸元導電部材は
実用上着しく優れ九畳性生示すにかりでなく、従来の光
導電部材と較べてみてもあらゆる点におiて陵駕してい
ること、殊に電子写真用の光導電部材として着しく優れ
一**性を有していることを見出し九点く基づ匹ている
。
光感度化、高暗抵抗化を一時に図ろうとすると従来にお
いてはその使用時において残留電位が残る場合が度々観
糊され、こ0*0党導電部材は長時間繰返し使用し統轄
ると、繰返し使用による疲労の蓄積が起って、111g
11が生ずる所間ゴースト現象を発する橡になる等の不
都合な点が少なくなかっ九◎ 又、a−81材料で光導電層を構成する場合に峠、その
電気的、光導電的特性の改良を−る丸め(、水素原子或
い紘弗嵩鳳子中[嵩厘子等のハロゲン原子、及び電気伝
導渥の制御の丸めに硼素原子中燐原子勢が或いはその他
の41性改良の丸めに他の原子が、各々構成原子として
光導電層中に含有されるが、これ等の構成原子の含有O
仕方如何によっては、形成し九層の電気的或いは光導電
的特性や耐圧性に間11が生ずる場合があつえ〇 即ち、例えば、形成し先光導電層中に党履射によって発
生し九ルト中中リアの該層中での寿命が充分でないこと
中暗部において、支持体側よシの電荷の注入の阻止が充
分でないこと、或いは、転写紙に極零されえ画f/aに
俗に「自ヌケ」と呼ばれる、局所的な放電破壊現象によ
ゐと思われる画像欠陥や、例えば、クリーニングに、ブ
レードを用いるとそのJIIIIKよると思われる。俗
K「白スジ」と鴛われている所閤Ili像欠陥が生じ九
ヤしていえ。又、多湿雰囲気中で使用し九)、或いは多
f11雰囲気中に最峙閏放置し走置IIK使用すると儒
に大う画像のボケが生ずる場合が少なくなかった〇 災には、層厚が士数声以上になると層形成用の真空堆積
型より取シ出し先後、空気中でO装置時間の経過と共に
、支持体表面からの層の浮きや剥離、或いは層に急緩が
生ずる勢O滉象を引起し勝ちになる。こOIA象は、殊
に支持体が通常、電子写真分野に於いて使用されている
ドラム状支持体の場合に多く起る勢、経時的安定性の点
に於いて解決される可き点が黍る〇従ってa−8i材料
そのものの特性改良が園られる一方で光導電部材を設計
するIIK、上記し九様な問題の総てが解決される様に
工夫される必要がある◇ 本発明は上記の諸点に鎌み成されえもので、a−−8i
K就て電子写真用像形成部材中固体撮像装置、胱堆装置
等に使用される光導電S#としての適用性とその応用性
という観点から1活的に製雪研究検討をa1九−像、シ
リコン息子を母本とし、水素原子(6)又はハロゲン原
子00o%Aずれか一方を少なくと1含有するアモルフ
ァス材料、fig水嵩水嵩化7フルフアスシリコンーゲ
/化アモルファスシリコン、或いはへ〇グン含有水素化
アモルファスシリコン〔以後これ畳の総称的表記として
ra−81(H,X)Jを使用する〕から構成される光
導電層を有する光導電部材の層構成を以後KI!明され
る様な轡定化の下に設計されて作成され丸元導電部材は
実用上着しく優れ九畳性生示すにかりでなく、従来の光
導電部材と較べてみてもあらゆる点におiて陵駕してい
ること、殊に電子写真用の光導電部材として着しく優れ
一**性を有していることを見出し九点く基づ匹ている
。
本発明は電気的、光学的、光導電的特性が使用環境に殆
んど依存なく実質的に常時安定してお9、耐光疲労に著
しく長け、繰返し便用に際しても劣化現象を起さず耐久
性、耐温性に優わ、残留電位が全く又は殆んど一欄され
′&い光導電部材を提供することを主える目的とするO
本発明の他の目的は、支持体上に毅妙られる層と支持体
とOSIS戦中される層o4層関Kmlける密着性に優
れ、構造配列的に数置で安定的であ)、層品質oish
党導電ll#をIm供することである◎ 本発明の他の目的は、電子軍真用像形成部材として適用
させ丸場合、静電像形成の丸め011電鵡履のIIO電
荷保持能力が充分子oり、通常の電子写真法が極めて有
効に適用され得る優れ良電子写真特性を有すh光導電S
#を提供することである。
んど依存なく実質的に常時安定してお9、耐光疲労に著
しく長け、繰返し便用に際しても劣化現象を起さず耐久
性、耐温性に優わ、残留電位が全く又は殆んど一欄され
′&い光導電部材を提供することを主える目的とするO
本発明の他の目的は、支持体上に毅妙られる層と支持体
とOSIS戦中される層o4層関Kmlける密着性に優
れ、構造配列的に数置で安定的であ)、層品質oish
党導電ll#をIm供することである◎ 本発明の他の目的は、電子軍真用像形成部材として適用
させ丸場合、静電像形成の丸め011電鵡履のIIO電
荷保持能力が充分子oり、通常の電子写真法が極めて有
効に適用され得る優れ良電子写真特性を有すh光導電S
#を提供することである。
本尭@O更に伽の目的は、長□−の使用に於iて画曽欠
随中画曽のボタが全くなく、ll1111Lが高く、ハ
ーフトーンが鮮IjlK出て且つ解像度の^い、高品質
画像を得る仁とが答晶にできる電子写真用の光導電部材
を提供することである0本発明の更にもう1つの目的は
、高光感度性。
随中画曽のボタが全くなく、ll1111Lが高く、ハ
ーフトーンが鮮IjlK出て且つ解像度の^い、高品質
画像を得る仁とが答晶にできる電子写真用の光導電部材
を提供することである0本発明の更にもう1つの目的は
、高光感度性。
高8NJt41性及び高耐圧性を有する光導電薄材を提
供することでもある0 本発明の光導電S材は、光導電部材用の支持体と、シリ
コン原子を量体とし、好ましく嬬構成原子として水素原
子(6)又はハロゲン原子DOOいずれか一方を少なく
とも含有する非晶質材料で構成され、光導電性を有する
非晶質層とシリコン原子と
責素鳳子とを含む非晶質材料で構成され九票二の非晶
質層とを有し、前記第一〇非晶質層が、構成原子として
、層厚方向に不均一で連続的な分布状態で酸素原子が含
有されている第一0層領域向と、構成原子として、層厚
方向に連続的な分布状態で周期律表嬉鳳族に属する原子
が含有さに、・1″ 前記第一の非晶質層の真画下に内在してiる第二の層領
域(至)とを有する事を特徴とする0上記し九様な層構
成を取る様にして設計され九本発明の光導電部材は、前
記し丸諸問題の総てを解決し得、極めて優れ九電気的、
光学的。
供することでもある0 本発明の光導電S材は、光導電部材用の支持体と、シリ
コン原子を量体とし、好ましく嬬構成原子として水素原
子(6)又はハロゲン原子DOOいずれか一方を少なく
とも含有する非晶質材料で構成され、光導電性を有する
非晶質層とシリコン原子と
責素鳳子とを含む非晶質材料で構成され九票二の非晶
質層とを有し、前記第一〇非晶質層が、構成原子として
、層厚方向に不均一で連続的な分布状態で酸素原子が含
有されている第一0層領域向と、構成原子として、層厚
方向に連続的な分布状態で周期律表嬉鳳族に属する原子
が含有さに、・1″ 前記第一の非晶質層の真画下に内在してiる第二の層領
域(至)とを有する事を特徴とする0上記し九様な層構
成を取る様にして設計され九本発明の光導電部材は、前
記し丸諸問題の総てを解決し得、極めて優れ九電気的、
光学的。
光導電的特性、耐圧性及び使用環境特性を示す。
殊に、電子軍真用像形虞II#とじて適用させ九場合に
嬬、−像形成への残留電位の影響が全くなく、その電気
的ll#性が安定してお)高感度で、高8N比を有する
ものであって、耐光疲労、繰返し使用特性に長け、濃度
が鳥く、ハーフトーンが鮮−に出て、且つ解像−の高い
、高品質の画像を安定して繰返し得る仁とができる0又
、本発明の光導電S#は支持体上に形成される非晶質層
が、層自体が強靭であって、且つ支持体との密着1kK
著しく優れており、高速で長時間連続的に繰返し使用す
ることが出来る。
嬬、−像形成への残留電位の影響が全くなく、その電気
的ll#性が安定してお)高感度で、高8N比を有する
ものであって、耐光疲労、繰返し使用特性に長け、濃度
が鳥く、ハーフトーンが鮮−に出て、且つ解像−の高い
、高品質の画像を安定して繰返し得る仁とができる0又
、本発明の光導電S#は支持体上に形成される非晶質層
が、層自体が強靭であって、且つ支持体との密着1kK
著しく優れており、高速で長時間連続的に繰返し使用す
ることが出来る。
以下、rIA面に従って、本発明の光導電部材に就て詳
11AK@明すゐ0 I11園は、本発明の嬉lの実施態様例の光導電部材0
層構成をl1IIjlする丸めKIi式的に示しえ模式
的構虞閣である。
11AK@明すゐ0 I11園は、本発明の嬉lの実施態様例の光導電部材0
層構成をl1IIjlする丸めKIi式的に示しえ模式
的構虞閣である。
第1−に示す光導電部#100Fi、光導電部材用とし
て゛の支持体101の上に、a−81(H,X)から成
シ、光導電性を示す嬉−の非晶質層(1)102と、シ
リコン原子と 炭素原子とを含む非 晶質材料で構成される第二の非晶質層(厘)10@とを
有する。
て゛の支持体101の上に、a−81(H,X)から成
シ、光導電性を示す嬉−の非晶質層(1)102と、シ
リコン原子と 炭素原子とを含む非 晶質材料で構成される第二の非晶質層(厘)10@とを
有する。
第一の非晶質層(1) 102は、鋏層O金層域を占め
、構成原子として酸素原子を含有する第一の゛層領域U
1GB、周期律表第厘族に属する原子(第f族原子)
看含有する第二0層領域@ 104、及び第二の層領域
(2)104上に、酸素原子は含有しているが嬉厘族本
子は含有されてない層領域105とから成る層構造を有
する。
、構成原子として酸素原子を含有する第一の゛層領域U
1GB、周期律表第厘族に属する原子(第f族原子)
看含有する第二0層領域@ 104、及び第二の層領域
(2)104上に、酸素原子は含有しているが嬉厘族本
子は含有されてない層領域105とから成る層構造を有
する。
第一〇層領域−103K含有される酸素原子は骸層領域
=tOaK於いて層厚方向には連続的に分布し、その分
布状態紘不均−とされるが、支持体101の表面Kml
質的に平行な自白では連続的に且つ実質的に均一に分布
されるのが好ましいものである〇 第1図に示す光導電部材100は非晶質層(1)102
の表面儒OS分には嬉曹族原子が含有されない層領域1
G!+が般社である0 第二〇層領域@104中に含有される嬉履族原子は、該
層領域11)104Kmいて層厚方向には連続的に分布
し、その9F211状態は均一でToり、且つ支持体1
010表面に実質的に平行1に面内で唸連続的に且つ実
質的に均一に分布されるのが好ましいものである。
=tOaK於いて層厚方向には連続的に分布し、その分
布状態紘不均−とされるが、支持体101の表面Kml
質的に平行な自白では連続的に且つ実質的に均一に分布
されるのが好ましいものである〇 第1図に示す光導電部材100は非晶質層(1)102
の表面儒OS分には嬉曹族原子が含有されない層領域1
G!+が般社である0 第二〇層領域@104中に含有される嬉履族原子は、該
層領域11)104Kmいて層厚方向には連続的に分布
し、その9F211状態は均一でToり、且つ支持体1
010表面に実質的に平行1に面内で唸連続的に且つ実
質的に均一に分布されるのが好ましいものである。
本発明の光導電す材に験いて社、縞−〇層領域tOIK
株鹸嵩原子の含有によって^暗抵抗化と、非晶質層(1
)が直III款けられる支持体との闘の冑が酸素原子を
含有する第一の層領域向108 S第履族鳳子を含有す
h第二〇層領域@104 、嬉履族息子の含有されてい
ない層領域101とを有し嬉−の層領域401103と
第二〇層領域@104とが共有すゐ層領域を有する層構
゛遭の場合によ参棗好1に#来が得られる0 又、本gjh鴫O光導電部材に於いては、第一の層領域
K)103に含有される酸素原子の数層領域0103
K於ける層厚方向の分布状態は第1Ktj諌第−〇層領
域U 1030設けられる支持体101又は他の層と0
11着性及び接触性を嵐くする為に支持体101Xa伽
の層との接合向側の方に分布濃度が轟くなる様にされる
◇嬉!には、上記第一0層領域010B中に含有される
酸素原子は、自由表面107側からの党蝋射に対して、
層領域105の高感度化を崗る為に、自由#I両107
儒にに零となる様に厘−0層領域0103中に含有され
るのが好ましiものである0菖二の層領域(至)104
中に含有される嬉膳族本子の分布状態は、層領域(ll
1G4に&1/%て、その層厚方向に於いては、連続的
で均一であって、且つ支持体101 O表向に平行な面
内KjIkいても連続的で均一とさ:1 れる〇 本発明において、嬉−の非晶質層(1)を構成する第二
の層領域(至)中に含有さ−れる周期律lI&嬉履族に
属する原子として使用されるのは、B(硼素) 、 A
# (アルきニウム)、G魯(オリクム)。
株鹸嵩原子の含有によって^暗抵抗化と、非晶質層(1
)が直III款けられる支持体との闘の冑が酸素原子を
含有する第一の層領域向108 S第履族鳳子を含有す
h第二〇層領域@104 、嬉履族息子の含有されてい
ない層領域101とを有し嬉−の層領域401103と
第二〇層領域@104とが共有すゐ層領域を有する層構
゛遭の場合によ参棗好1に#来が得られる0 又、本gjh鴫O光導電部材に於いては、第一の層領域
K)103に含有される酸素原子の数層領域0103
K於ける層厚方向の分布状態は第1Ktj諌第−〇層領
域U 1030設けられる支持体101又は他の層と0
11着性及び接触性を嵐くする為に支持体101Xa伽
の層との接合向側の方に分布濃度が轟くなる様にされる
◇嬉!には、上記第一0層領域010B中に含有される
酸素原子は、自由表面107側からの党蝋射に対して、
層領域105の高感度化を崗る為に、自由#I両107
儒にに零となる様に厘−0層領域0103中に含有され
るのが好ましiものである0菖二の層領域(至)104
中に含有される嬉膳族本子の分布状態は、層領域(ll
1G4に&1/%て、その層厚方向に於いては、連続的
で均一であって、且つ支持体101 O表向に平行な面
内KjIkいても連続的で均一とさ:1 れる〇 本発明において、嬉−の非晶質層(1)を構成する第二
の層領域(至)中に含有さ−れる周期律lI&嬉履族に
属する原子として使用されるのは、B(硼素) 、 A
# (アルきニウム)、G魯(オリクム)。
In (インジウム) 、 Tt (タリウム>*−’
eあり、殊に好適に用iられるのはII、Ga″eTo
るO本発明において、第二0層領域(2)中に含有され
る嬉−族原子の含有量としては、本発明の目的が効果的
に達成される様に所11に従って適宜決められるが、過
電u (LO1% l! X 1G’ atomic
$91、好ましくはo、 s〜I X 10’at・m
魚・−1最遣には1〜3 X 1G 4 ataak−
とされるのが11ましiもので番るojl−〇層領域Q
中に含有される酸素原子の量に就ても形成される光導電
11#KI!求される特性に応じて所望に従って適宜決
められるが、過電の場合、Q、G O1〜@ Oat@
WAi@−1好ましく ll1G、0 Ofl 〜20
atomic fk、最適には0.003〜10ak
mb+−とされるのが望ましiものである。
eあり、殊に好適に用iられるのはII、Ga″eTo
るO本発明において、第二0層領域(2)中に含有され
る嬉−族原子の含有量としては、本発明の目的が効果的
に達成される様に所11に従って適宜決められるが、過
電u (LO1% l! X 1G’ atomic
$91、好ましくはo、 s〜I X 10’at・m
魚・−1最遣には1〜3 X 1G 4 ataak−
とされるのが11ましiもので番るojl−〇層領域Q
中に含有される酸素原子の量に就ても形成される光導電
11#KI!求される特性に応じて所望に従って適宜決
められるが、過電の場合、Q、G O1〜@ Oat@
WAi@−1好ましく ll1G、0 Ofl 〜20
atomic fk、最適には0.003〜10ak
mb+−とされるのが望ましiものである。
本g&羽の光導電部材に*h″Cは、嬉−〇層領域向に
は、酸素原子の含有によって、高暗#に#IL化と、第
一〇非晶質層(1)が直接設けられる支持させずに耐圧
性の一層の向上参貴泰奏勢が重点的に図られている。
は、酸素原子の含有によって、高暗#に#IL化と、第
一〇非晶質層(1)が直接設けられる支持させずに耐圧
性の一層の向上参貴泰奏勢が重点的に図られている。
殊に、111図に示す光導電部材1OOO様に、第一の
非晶質層(1)10mが、酸素原子を含有するい層領域
108とを有し、嬉−〇層領域向108七菖二〇層領域
@104とが共有する層領域を有する層構造の鳩舎によ
り良好な結果が得られるO本実@O光導電部材に於いて
は第一の非晶質層(1)の全層領域を構成し、酸素原子
の含有される第一〇層領域自社、19には第一〇非晶質
層(1)0支持体との1着性の向上を図る目的O為に、
又、第一の非晶質層(1)の一部を構成し嬉履ta子の
含有される第二の層領域(2)は、1つには、第二の非
晶質層(1)の自由11m儒よ勤蕾電処鳳を施され九際
、支持体側よ砂菖−の非晶質層(1)の内部に電荷が注
入されるのを阻止する目的の為に夫々、支持体と第一の
非晶質層(1)とが接金する層領域として、少なくとも
互いの1鶴を共有する構造で設けられる。
非晶質層(1)10mが、酸素原子を含有するい層領域
108とを有し、嬉−〇層領域向108七菖二〇層領域
@104とが共有する層領域を有する層構造の鳩舎によ
り良好な結果が得られるO本実@O光導電部材に於いて
は第一の非晶質層(1)の全層領域を構成し、酸素原子
の含有される第一〇層領域自社、19には第一〇非晶質
層(1)0支持体との1着性の向上を図る目的O為に、
又、第一の非晶質層(1)の一部を構成し嬉履ta子の
含有される第二の層領域(2)は、1つには、第二の非
晶質層(1)の自由11m儒よ勤蕾電処鳳を施され九際
、支持体側よ砂菖−の非晶質層(1)の内部に電荷が注
入されるのを阻止する目的の為に夫々、支持体と第一の
非晶質層(1)とが接金する層領域として、少なくとも
互いの1鶴を共有する構造で設けられる。
本発明の光導電部材に於いては、嬉厘族原子の含有され
る層領域@紘、その設けられる目的が第一の非晶質層(
1)と支持体間に於ける、支持体側から第一の非晶質層
(1)中への電荷の注入防止を生えるもOとする場合に
は、第一の非晶質層(!)の支持体側0方Kli力偏在
させる必要があるO この様な場合に於いては、嬉履族原子の含有されている
層領域@O層層厚−と(第1−では層領域1040層厚
)、層領域@O上に設けられえ、層領域(2)を除いた
部分の層領域(@IIIでは層領域105)O層厚Tと
の関には、 tm/(T + ms )≦0.4 OIIIl係が成立する様に第一〇非晶質層(1)を形
成するOがII箇しく、より好壇しンは、上記し九関係
式の値が0.35以下、最適にはo、N以下とされるの
が望ましい。
る層領域@紘、その設けられる目的が第一の非晶質層(
1)と支持体間に於ける、支持体側から第一の非晶質層
(1)中への電荷の注入防止を生えるもOとする場合に
は、第一の非晶質層(!)の支持体側0方Kli力偏在
させる必要があるO この様な場合に於いては、嬉履族原子の含有されている
層領域@O層層厚−と(第1−では層領域1040層厚
)、層領域@O上に設けられえ、層領域(2)を除いた
部分の層領域(@IIIでは層領域105)O層厚Tと
の関には、 tm/(T + ms )≦0.4 OIIIl係が成立する様に第一〇非晶質層(1)を形
成するOがII箇しく、より好壇しンは、上記し九関係
式の値が0.35以下、最適にはo、N以下とされるの
が望ましい。
又、菖麿族原子の含有される層領域@O層厚tsとして
は、通常は30ム〜5μ、好適には40ム〜4s、最適
には50ム〜3sとされるのが望會しい4のである。
は、通常は30ム〜5μ、好適には40ム〜4s、最適
には50ム〜3sとされるのが望會しい4のである。
他方、前記層厚Tと層厚−との和(T+ts)としては
、通常は1〜io011 %好適には1−40μ、最適
には2〜Sosとされるのが望ましいものである。
、通常は1〜io011 %好適には1−40μ、最適
には2〜Sosとされるのが望ましいものである。
本発明の光導電部材に於いては、第一の非晶質層(夏)
妹、支持体側の方に偏在させて設けられる第鳳族原子の
含有される層領域(2)と、該層領域(2)を除い九残
りの部分であって、第扉族原子の含有されてない層領域
とで構成されるが、該嬉鳳族鳳子の含有されない層領域
の層厚Tは、形成される光導電部材Kl!求される特性
に従って層設計のIIK適宜決定される0本発@に於い
て、層厚Tとしては、・□、・通常は0.1−90μ、
好1、l。
妹、支持体側の方に偏在させて設けられる第鳳族原子の
含有される層領域(2)と、該層領域(2)を除い九残
りの部分であって、第扉族原子の含有されてない層領域
とで構成されるが、該嬉鳳族鳳子の含有されない層領域
の層厚Tは、形成される光導電部材Kl!求される特性
に従って層設計のIIK適宜決定される0本発@に於い
て、層厚Tとしては、・□、・通常は0.1−90μ、
好1、l。
ましくは0.5〜80声、剖最適に扛l〜70μとされ
るのが望ましいものである◇ [2図乃至第10allKtl、本発明にお妙る光導電
部材の第一〇非晶質層(1)を構成する層領域向中に含
有される酸素原子の層厚方向の分布状部0J11)Il
l的例が示される。
るのが望ましいものである◇ [2図乃至第10allKtl、本発明にお妙る光導電
部材の第一〇非晶質層(1)を構成する層領域向中に含
有される酸素原子の層厚方向の分布状部0J11)Il
l的例が示される。
第2園乃至第10図において、横軸性酸素原子の含有量
Cを、縦軸線、酸素原子の含有されている層領域fD4
t)層厚を示し、−tau支持体O昇画O位置を、t!
紘支持体側とは反対側IDJII−の位置を示す。即ち
、酸素原子の含有されている層領域向はtl儒よ)t!
儒に向って層形成がなされる。
Cを、縦軸線、酸素原子の含有されている層領域fD4
t)層厚を示し、−tau支持体O昇画O位置を、t!
紘支持体側とは反対側IDJII−の位置を示す。即ち
、酸素原子の含有されている層領域向はtl儒よ)t!
儒に向って層形成がなされる。
本発明においては、酸素原子の含有される層領域向は、
主Ka−8i (H,X )から成り、光導電性を示す
第一の非晶質層(1)の金層領域を占めている。
主Ka−8i (H,X )から成り、光導電性を示す
第一の非晶質層(1)の金層領域を占めている。
第2−には、層領域向中に含有される酸素原子の層厚方
向の分布状−の第1の典瀝例が示される〇 嬉2tlAK示される例では、酸素原子の含有される層
領域Oが形成され為11面と数層領域四〇表面とが接す
為昇−位置を烏よシt、の位置まで線、酸素原子の含有
鎖WLCがC1なる一定の値を4j〕乍ら酸素原子が形
成される層領域向く含有され、位置t、よ)濃度らよ)
界面位置tv K IIる壇で徐々に連続的に減少され
ている。界面位置t!において紘酸素鳳子O含有11度
C線へとされるO 第3図に示される例K>いては、含有される酸素原子の
含有鎖fc社位置t1より位置t!に到る壜で濃度C4
かb徐々に連続的に減少して位置を管において11度C
8となる様な分布状總を形成している。
向の分布状−の第1の典瀝例が示される〇 嬉2tlAK示される例では、酸素原子の含有される層
領域Oが形成され為11面と数層領域四〇表面とが接す
為昇−位置を烏よシt、の位置まで線、酸素原子の含有
鎖WLCがC1なる一定の値を4j〕乍ら酸素原子が形
成される層領域向く含有され、位置t、よ)濃度らよ)
界面位置tv K IIる壇で徐々に連続的に減少され
ている。界面位置t!において紘酸素鳳子O含有11度
C線へとされるO 第3図に示される例K>いては、含有される酸素原子の
含有鎖fc社位置t1より位置t!に到る壜で濃度C4
かb徐々に連続的に減少して位置を管において11度C
8となる様な分布状總を形成している。
第4図の場合には、位置tlよシ位置t2壇では酸素原
子の含有濃度Cはへと一定値とされ、位置t、と位置t
!との閏において、徐々に連続的に減少され、位置t!
におiで、含有濃度Cは実質的に零とされている◎ 第5図の場合には、酸素原子は位置1.より位置tyK
到るまで、含有濃度らよ**続的に徐々に減少され、位
置t!において実質的に零とさ7れている。
子の含有濃度Cはへと一定値とされ、位置t、と位置t
!との閏において、徐々に連続的に減少され、位置t!
におiで、含有濃度Cは実質的に零とされている◎ 第5図の場合には、酸素原子は位置1.より位置tyK
到るまで、含有濃度らよ**続的に徐々に減少され、位
置t!において実質的に零とさ7れている。
第6図に示す例において社、酸素原子の含有濃度Cは、
位置1.と位置t、関に・おいては、濃度C9と一定値
であり、位置tyにおいては濃度C。
位置1.と位置t、関に・おいては、濃度C9と一定値
であり、位置tyにおいては濃度C。
とされる。位置t、と位置軸との岡で杜、含有濃度Cは
一次関数的に位置t、より位置tvKlRkまで減少さ
れて−る◎ 第7図に示される例におiて絋、位置軸よ)位置t4ま
では濃度C,,O一定値を取り、位置t。
一次関数的に位置t、より位置tvKlRkまで減少さ
れて−る◎ 第7図に示される例におiて絋、位置軸よ)位置t4ま
では濃度C,,O一定値を取り、位置t。
よ)位置t!壇では―直Cuより負度C1壜で一次関数
的に減少する分有状態とされている。
的に減少する分有状態とされている。
aS−に示すfllにおいては、位置軸より位置t!に
到るまで、酸素原子の含有1m1lLCは濃度Cいよ)
零Kjlる様に一次II数的に減少している0119図
においては、位置tmより位置t、に到る壇では酸素原
子の含有鎖llICは、濃度ellよp負度C1,壜で
一次関数的に減少され、位置t、と位置t!とOMにお
いては、濃It Onの一定値とされ九例が示されてい
る。
到るまで、酸素原子の含有1m1lLCは濃度Cいよ)
零Kjlる様に一次II数的に減少している0119図
においては、位置tmより位置t、に到る壇では酸素原
子の含有鎖llICは、濃度ellよp負度C1,壜で
一次関数的に減少され、位置t、と位置t!とOMにお
いては、濃It Onの一定値とされ九例が示されてい
る。
1110図に示される例においては、酸素原子の含有−
tcは位置tlにお−て濃ItCnで6り、位置t、に
到るまではこのa度C□により初めはゆっくりと減少さ
れ、t、の位置付近においては、急激に減少されて位置
t、では澁度CSaとされる。
tcは位置tlにお−て濃ItCnで6り、位置t、に
到るまではこのa度C□により初めはゆっくりと減少さ
れ、t、の位置付近においては、急激に減少されて位置
t、では澁度CSaとされる。
位置t、と位置t、との間においては、初め急激に減少
されて、その後は、緩やかに徐々に減少されて位置t、
で濃度cseとな夛、位置t、と位置t―と0間では、
極めてゆっ〈9と徐々に減少されて位置taにおいて、
濃fcnKjlる。位置t、と位置tyo関においては
、濃fCmよシ実質的に零になる橡に図に示す如き形状
〇−一に従って減少されている。
されて、その後は、緩やかに徐々に減少されて位置t、
で濃度cseとな夛、位置t、と位置t―と0間では、
極めてゆっ〈9と徐々に減少されて位置taにおいて、
濃fcnKjlる。位置t、と位置tyo関においては
、濃fCmよシ実質的に零になる橡に図に示す如き形状
〇−一に従って減少されている。
以上、第2#A乃至第1080により、層領域−中に含
有される酸素原子の層厚方向の分有状態の典瀝例の幾つ
かを説明し九様に、本発明においては、支持体11にお
いて、酸素原子の含有鎖tCの高い部分を有し、界面h
liにおいては、前記含有濃度Cは支持体側に較べて可
成り低くされ九部分を有する酸素原子の分有状態が形成
され九層領域向が非晶質層に設けられるのが好ましへ本
実IjIJにおいて、第一の非晶質層(夏)を構成す:
+す る酸素原子の含有される層領域向は、上記し良様に支持
体側の方に酸素原子が比較的高濃度で含有されている局
在領域ムを有する。
有される酸素原子の層厚方向の分有状態の典瀝例の幾つ
かを説明し九様に、本発明においては、支持体11にお
いて、酸素原子の含有鎖tCの高い部分を有し、界面h
liにおいては、前記含有濃度Cは支持体側に較べて可
成り低くされ九部分を有する酸素原子の分有状態が形成
され九層領域向が非晶質層に設けられるのが好ましへ本
実IjIJにおいて、第一の非晶質層(夏)を構成す:
+す る酸素原子の含有される層領域向は、上記し良様に支持
体側の方に酸素原子が比較的高濃度で含有されている局
在領域ムを有する。
局在領域Aは、嬉2図乃至嬉1G−に示す記号を用いて
説明すれば、界面位置−より5J以内に設けられるのが
望ましいものである。
説明すれば、界面位置−より5J以内に設けられるのが
望ましいものである。
本実’4にお−では、上記烏在領域ムは、界面位置tl
よ?)5s厚までの金層領域−とされる場合もあるし、
又、層領域り、□一部とされる場合もある〇局在領域A
を層領域ムの一部とするか又嬬全部とするかは、形成さ
れる非晶質層に1!求される特性に従って適宜決められ
為〇 馬在領域ムはその中に含有される酸素原子0層厚方向の
分布状−として酸素原子の含有量分布値(分有磯度値)
の最大−x賊通常はml。
よ?)5s厚までの金層領域−とされる場合もあるし、
又、層領域り、□一部とされる場合もある〇局在領域A
を層領域ムの一部とするか又嬬全部とするかは、形成さ
れる非晶質層に1!求される特性に従って適宜決められ
為〇 馬在領域ムはその中に含有される酸素原子0層厚方向の
分布状−として酸素原子の含有量分布値(分有磯度値)
の最大−x賊通常はml。
at@1a1e−以上、好適には20atomie%以
上、最適にはa o atom胸饅以上とされる様な分
布状態とな9得る様に層形成されるのが望ましら◇ 即ち、本実@O好ましい実施膳*spcおいて線、酸素
原子の含有される層領域向は、支持体側からの層厚で5
μ以内(bから5μ厚の層領域)に分布#1&の最大値
Qnaxが存在する橡に形成されゐ〇 本発明において使用される支持体としては、導電性でも
電気絶縁価であっても良い。導電性支持体としては、例
えば、NiCr、ステンレス。
上、最適にはa o atom胸饅以上とされる様な分
布状態とな9得る様に層形成されるのが望ましら◇ 即ち、本実@O好ましい実施膳*spcおいて線、酸素
原子の含有される層領域向は、支持体側からの層厚で5
μ以内(bから5μ厚の層領域)に分布#1&の最大値
Qnaxが存在する橡に形成されゐ〇 本発明において使用される支持体としては、導電性でも
電気絶縁価であっても良い。導電性支持体としては、例
えば、NiCr、ステンレス。
A4 、 Cr 、 Mo 、 Au 、 Nb 、
Ti 、 V 、 Ti 、 Pi 、 Pd等の金属
又はこれ等の合金が挙げられる。
Ti 、 V 、 Ti 、 Pi 、 Pd等の金属
又はこれ等の合金が挙げられる。
電気絶縁性支持体としては、ポリエステル。
ポリエチレン、ポリカーボネート、セルローズアセテー
ト、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル。
ト、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル。
ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ボリア書ド等の合
成樹脂のフィルム又はシート、ガラス。
成樹脂のフィルム又はシート、ガラス。
セラミック、紙等が通常使用される。これ等の電気絶縁
性支持体は、好適には少なくともその一方の表面を導電
処理され、該導電処理された表面側の他の層が設けられ
るのが望ましい。
性支持体は、好適には少なくともその一方の表面を導電
処理され、該導電処理された表面側の他の層が設けられ
るのが望ましい。
例えば、ガラスであれば、その表面に、NiCr。
AI 、 Cr 、 Mo 、ムu、 Ir、Nb、T
a、V、Ti、Pt、Pd。
a、V、Ti、Pt、Pd。
In、O,、8nO,、ITO(In、0.+ −8n
O,)等から成る薄膜を設けることくよって導電性が付
与され、或いはポリエステルフィルム等の合成樹脂フィ
ルムであれば、NiCr * Mo Ag e Pb
* Zn * N’ t Au *Cr、Mo、Ir、
Nb、Ta、V、Ti、Pi等の金属の薄膜を真空蒸着
、1子ビ一ム蒸着、スパッタリング等でその表面に設け
、又は前記金属でその表面をラミネート処理して、その
表面に導電性が付与される。支持体の形状としては、円
筒状。
O,)等から成る薄膜を設けることくよって導電性が付
与され、或いはポリエステルフィルム等の合成樹脂フィ
ルムであれば、NiCr * Mo Ag e Pb
* Zn * N’ t Au *Cr、Mo、Ir、
Nb、Ta、V、Ti、Pi等の金属の薄膜を真空蒸着
、1子ビ一ム蒸着、スパッタリング等でその表面に設け
、又は前記金属でその表面をラミネート処理して、その
表面に導電性が付与される。支持体の形状としては、円
筒状。
ベルト状、板状等任意の形状とし得、所望によって、そ
の形状は決定されるが、例えば、第1図の光導電部材1
00を電子写真用Il形成部材として使用するのであれ
ば連続扁速複写の場合には、無端ベルト状又は円筒状と
するのが望ましい。支持体の厚さは、所望通シの光導電
部材が形成される様に適宜決定されるが、光導電部材と
して可撓性が要求される場合には、支持体としての機能
が充分発揮される範囲内であれば可能な威プ薄くされる
。丙午ら、この様な一合支持体の襄造上及び取扱い上、
機械的強度等の点から、通常は、10声以上とされる。
の形状は決定されるが、例えば、第1図の光導電部材1
00を電子写真用Il形成部材として使用するのであれ
ば連続扁速複写の場合には、無端ベルト状又は円筒状と
するのが望ましい。支持体の厚さは、所望通シの光導電
部材が形成される様に適宜決定されるが、光導電部材と
して可撓性が要求される場合には、支持体としての機能
が充分発揮される範囲内であれば可能な威プ薄くされる
。丙午ら、この様な一合支持体の襄造上及び取扱い上、
機械的強度等の点から、通常は、10声以上とされる。
本発明において、 a−8i(H,X)で構成される嬉
−の非晶質−(I)を形成するには例えばグロー放電法
、スパッタリング法、或いはイオンブレーティング法等
の放電現象を利用する真空堆積法によって成される。例
えば、グロー放電法によって、a−81(H,X)で構
成される第一〇非晶質層(I)を形成するには、基本的
(はシリコン原子(8i)を供給し得る8i供給用の原
料ガスと共に、水素原子(H)導入用の又は/及びハロ
ゲン原子(X)導入用の原料ガスを、内部が減圧にし得
る堆積室内に導入して、該堆積室内にグロー放電を生起
させ、予め所定位置に設置されである、所定の支持体表
面上K a−8i(H,X)から成る層を形成させれば
良い。又、スパッタリング法で形成する場合には、例え
ばAr、He等の不活性ガス又はこれ等のガスをベース
とし九混合ガスの雰囲気中で8iで構成されたターゲッ
トをスパッタリングする際、水素原子()l)又は/及
゛びハロゲン原子(X)導入用のガスをスパッタリング
用の堆積室に導入してやれば良い。
−の非晶質−(I)を形成するには例えばグロー放電法
、スパッタリング法、或いはイオンブレーティング法等
の放電現象を利用する真空堆積法によって成される。例
えば、グロー放電法によって、a−81(H,X)で構
成される第一〇非晶質層(I)を形成するには、基本的
(はシリコン原子(8i)を供給し得る8i供給用の原
料ガスと共に、水素原子(H)導入用の又は/及びハロ
ゲン原子(X)導入用の原料ガスを、内部が減圧にし得
る堆積室内に導入して、該堆積室内にグロー放電を生起
させ、予め所定位置に設置されである、所定の支持体表
面上K a−8i(H,X)から成る層を形成させれば
良い。又、スパッタリング法で形成する場合には、例え
ばAr、He等の不活性ガス又はこれ等のガスをベース
とし九混合ガスの雰囲気中で8iで構成されたターゲッ
トをスパッタリングする際、水素原子()l)又は/及
゛びハロゲン原子(X)導入用のガスをスパッタリング
用の堆積室に導入してやれば良い。
!11
本発明において、必要に応じて第一の非晶質層(I)中
に含有されるハロゲン原子(X)としては、具体的には
フッ素、塩素、臭素、ヨウ素が挙げられ、殊にフッ素、
塩素を好適なものとして挙けることが出来る。
に含有されるハロゲン原子(X)としては、具体的には
フッ素、塩素、臭素、ヨウ素が挙げられ、殊にフッ素、
塩素を好適なものとして挙けることが出来る。
本発明において使用される8i供給用の原料ガスとして
は、8iH4,8i、H,、8i、H,、Si、H,、
等のガ・ス状繍の又はガス化し得る水素化硅素(シラン
餉)が有効に使用されるものとして挙げられ、殊に1層
作成作業の扱い易さ、8i供給効率の良さ等の点で8s
H4,1晶が好ましいものとして挙げられる。
は、8iH4,8i、H,、8i、H,、Si、H,、
等のガ・ス状繍の又はガス化し得る水素化硅素(シラン
餉)が有効に使用されるものとして挙げられ、殊に1層
作成作業の扱い易さ、8i供給効率の良さ等の点で8s
H4,1晶が好ましいものとして挙げられる。
本発明において使用されるハロゲン原子導入用の原料ガ
スとして有効なのは、多くアノ・四ゲン化合物が挙げら
れ、例えばハロゲンガス、ノーロゲン化物、ハロゲン間
化合物、ハロゲンで置換されたシラノ誘導体等のガス状
態の又はガス化し得るハロゲン化合物が好ましく挙げら
れる。
スとして有効なのは、多くアノ・四ゲン化合物が挙げら
れ、例えばハロゲンガス、ノーロゲン化物、ハロゲン間
化合物、ハロゲンで置換されたシラノ誘導体等のガス状
態の又はガス化し得るハロゲン化合物が好ましく挙げら
れる。
又、更には−シリコン原子とハロゲン原子とを構成I!
素とするガス状態の又はガス化し得る、ハロゲン原子を
含む硅素化合物も有効なものとして本発明においては挙
げることが出来る。
素とするガス状態の又はガス化し得る、ハロゲン原子を
含む硅素化合物も有効なものとして本発明においては挙
げることが出来る。
本発明において好適に使用し得るハロゲン化合物として
は、具体的には、フッ素、塩素、臭素、!9素のへ〇ゲ
ンガス、BrF 、 czit’ 、 Ce11.。
は、具体的には、フッ素、塩素、臭素、!9素のへ〇ゲ
ンガス、BrF 、 czit’ 、 Ce11.。
BrF、 、 BrF@ 、 IP、 、 IP、 、
ICj 、 IBr 等の/%Dゲン間化合物を挙
げることが出来る。
ICj 、 IBr 等の/%Dゲン間化合物を挙
げることが出来る。
ハロゲン原子を含む硅素化合物、所−、ハロゲン原子で
置換されたシラン誘導体としては、具体的には例えば8
iF4.8i、F、 、 5iCz4.8iBr4等の
ハロゲン化硅素が好ましいものとして挙げることが出来
る。
置換されたシラン誘導体としては、具体的には例えば8
iF4.8i、F、 、 5iCz4.8iBr4等の
ハロゲン化硅素が好ましいものとして挙げることが出来
る。
この様なハロゲン原子を含む硅素化合物を採用してグロ
ー放電法によって本発明の特徴的な光導電部材を形成す
る場合には、Siを供給し得る原料ガスとしての水素化
硅素ガスを使用しなくとも、所定の支持体上にハロゲン
原子を含むa−8iから成る第一の非晶質層(I)を形
成する事が出来る。
ー放電法によって本発明の特徴的な光導電部材を形成す
る場合には、Siを供給し得る原料ガスとしての水素化
硅素ガスを使用しなくとも、所定の支持体上にハロゲン
原子を含むa−8iから成る第一の非晶質層(I)を形
成する事が出来る。
グロー放電法に従って、ハロゲン原子を含む第一の非晶
質層(I)を形成する場合、基本的には、84供給用の
原料ガスであるハロゲン化硅素ガスとAr、 H,、i
(e等のガス等を所定の混合比とガス流量になるI)K
して第一〇非晶質層(I)を形成する堆積室に導入し、
グロー放電を生起してこれ等のガスのプラズマ雰囲気を
形成することによって、所定の支持体上に第一の非晶質
層(I)を形成し得るものであるが、水素原子の導入を
図る為にこれ等のガスに更に水素原子を含む硅素化合物
のガスも所定量混合して層形成しても良い。
質層(I)を形成する場合、基本的には、84供給用の
原料ガスであるハロゲン化硅素ガスとAr、 H,、i
(e等のガス等を所定の混合比とガス流量になるI)K
して第一〇非晶質層(I)を形成する堆積室に導入し、
グロー放電を生起してこれ等のガスのプラズマ雰囲気を
形成することによって、所定の支持体上に第一の非晶質
層(I)を形成し得るものであるが、水素原子の導入を
図る為にこれ等のガスに更に水素原子を含む硅素化合物
のガスも所定量混合して層形成しても良い。
又、各ガスは単一種のみでなく所定の混合比で複数種温
合して使用しても差支えない4のである。
合して使用しても差支えない4のである。
反応スパッタリング法或いはイオンブレーティング法に
依ってa−8i()l、 X)から成る第一の非晶質層
(I)を形成するKは、例えばスパッタリング法の場合
には8iから成るターゲットを使用して、これを所定の
ガスプラズマ雰囲気中でスパッタリングし、イオンブレ
ーティング法の場合には、多結晶シリコン又:′は単結
晶シリコンを蒸発源として蒸着ボートに収容し、このシ
リコン蒸発源を抵抗加熱法、歳いはエレクトロンビー五
法(HB法)等によって加熱蒸発させ飛翔蒸発物を所定
のガスプラズマ雰囲気中を通過させる事で行う事が出来
る。
依ってa−8i()l、 X)から成る第一の非晶質層
(I)を形成するKは、例えばスパッタリング法の場合
には8iから成るターゲットを使用して、これを所定の
ガスプラズマ雰囲気中でスパッタリングし、イオンブレ
ーティング法の場合には、多結晶シリコン又:′は単結
晶シリコンを蒸発源として蒸着ボートに収容し、このシ
リコン蒸発源を抵抗加熱法、歳いはエレクトロンビー五
法(HB法)等によって加熱蒸発させ飛翔蒸発物を所定
のガスプラズマ雰囲気中を通過させる事で行う事が出来
る。
この際、スパッタリング法、イオンブレーティング法の
何れの場合にも形成される1中K /%ロゲン原子を導
入するには、前記のハロゲン化合物又は前記のハロゲン
原子を含む硅素化合物f)tjXを堆積室中に導入して
該ガスのプラズマ雰囲気を形成してやれば良いものであ
る。
何れの場合にも形成される1中K /%ロゲン原子を導
入するには、前記のハロゲン化合物又は前記のハロゲン
原子を含む硅素化合物f)tjXを堆積室中に導入して
該ガスのプラズマ雰囲気を形成してやれば良いものであ
る。
又、水素原子を導入する場合には、水素原子導入用の原
料ガス、゛例えば、鴇、或いは前記したシラン類等のガ
スをスパッタリング用の堆積室中に導入して該ガスのプ
ラズマ雰囲気を形成してやれば良い。
料ガス、゛例えば、鴇、或いは前記したシラン類等のガ
スをスパッタリング用の堆積室中に導入して該ガスのプ
ラズマ雰囲気を形成してやれば良い。
本発明においては、ハロゲン原子導入用の原料ガスとし
て上記されたハロゲン化合物或いはハロゲンを含む硅率
化合物が有効なものとして、11 使用されるものであるが、その他に、■ζHce。
て上記されたハロゲン化合物或いはハロゲンを含む硅率
化合物が有効なものとして、11 使用されるものであるが、その他に、■ζHce。
HBr 、 HI等のハロゲン化水素、8iHJ’、
、 8iH,I、。
、 8iH,I、。
−8iH,CI!Pt、 5uic/、 、 8iH,
Br、 、 8iHBr、等のへ〇ゲン置換水素化硅素
、等々のガス状態の或いはガス化し得る、水素原子を構
成要素の1つとするハロゲン化物も有効な第一の非晶質
層(I)形成用の出発物質として挙げる事が出来る。
Br、 、 8iHBr、等のへ〇ゲン置換水素化硅素
、等々のガス状態の或いはガス化し得る、水素原子を構
成要素の1つとするハロゲン化物も有効な第一の非晶質
層(I)形成用の出発物質として挙げる事が出来る。
これ等の水素原子を含むハロゲン化物は、第一の非晶質
層(I)形成の1llK層中にハロゲン原子の導入と同
時に電気的或いは光電的特性の制御1KIIめて有効な
水素原子も導入されるので、本発明においては好適なハ
ロゲン原子導入用の原料として使用される。
層(I)形成の1llK層中にハロゲン原子の導入と同
時に電気的或いは光電的特性の制御1KIIめて有効な
水素原子も導入されるので、本発明においては好適なハ
ロゲン原子導入用の原料として使用される。
水素原子を第一の非晶質層(I)中に構造的に導入する
には、上記の他に鴇、或いは84N、、 8i晶。
には、上記の他に鴇、或いは84N、、 8i晶。
st、H,s st、H,、等の水素化硅素のガスを8
iを供給する為のシリコン化合物と堆積室中に共存させ
て放電を生起させる事でも行う事が出来る。
iを供給する為のシリコン化合物と堆積室中に共存させ
て放電を生起させる事でも行う事が出来る。
例えば、反応スパッタリング法の場合には、8sターゲ
ツトを使用し、ハロゲン原子導入用のガス及び搗ガスを
必I!に応じてHe、人r等の不活性ガスも含めて堆積
室内に導入してプラズマ雰囲気を形成し、前記8iター
ゲツトをスパッタリングする事によって、基板上fCa
−84(H,X)から成る第一の非晶質層(I)が形成
される。
ツトを使用し、ハロゲン原子導入用のガス及び搗ガスを
必I!に応じてHe、人r等の不活性ガスも含めて堆積
室内に導入してプラズマ雰囲気を形成し、前記8iター
ゲツトをスパッタリングする事によって、基板上fCa
−84(H,X)から成る第一の非晶質層(I)が形成
される。
更には、不純物のドーピングも兼ねて4鴇等のガスを導
入してやることも出来る。
入してやることも出来る。
本発明において、形成される光導電部材の第一の非晶質
層(I)中に含有される水素原子(H)の量又はハロゲ
ン原子(X)の量又は水素原子とハロゲン原子の量の和
(H+X )は通常の場合1〜4 Q atomic
X、好適には5〜30 atomic 5(とされるの
が望ましい。
層(I)中に含有される水素原子(H)の量又はハロゲ
ン原子(X)の量又は水素原子とハロゲン原子の量の和
(H+X )は通常の場合1〜4 Q atomic
X、好適には5〜30 atomic 5(とされるの
が望ましい。
第一の非晶質層(I)中に含有される水素原子(H)父
は/及びハロゲン原子(X)の量を制御するKは、例え
ば支持体温度又は/及び水素原子(H)、或いはハロゲ
ン原子(X)を含有させる為に使用される出発物質の堆
積装置系内へ導入する量、放電々力等を制御してやれば
良い。
は/及びハロゲン原子(X)の量を制御するKは、例え
ば支持体温度又は/及び水素原子(H)、或いはハロゲ
ン原子(X)を含有させる為に使用される出発物質の堆
積装置系内へ導入する量、放電々力等を制御してやれば
良い。
第一の非晶質層(I)K、第厘族原子を含有する層領域
(2)及び酸素原子を含有する層領域(0)を設けるに
は、グロー放電法や反応スパッタリング法部による第一
の非晶質II (I)の形成の際に、第璽族原子導入用
の出発物質及び酸素原子導入用の出発物質を夫々前記し
九第−の非晶質層(I)形成用の出発物質と共に使用し
て、形成される層中にその量を制御し乍ら含有してやる
事によって成される。
(2)及び酸素原子を含有する層領域(0)を設けるに
は、グロー放電法や反応スパッタリング法部による第一
の非晶質II (I)の形成の際に、第璽族原子導入用
の出発物質及び酸素原子導入用の出発物質を夫々前記し
九第−の非晶質層(I)形成用の出発物質と共に使用し
て、形成される層中にその量を制御し乍ら含有してやる
事によって成される。
第一の非晶質層(I)を構成する、酸素原子の含有され
る層領域(0)及び嬉厘族原子の含有される層領域(曹
)を夫々形成するのにグロー放電法を用いる場合、各層
領域形成用の原料ガスとなる出発物質としては、前記し
九第−の非晶質層(I)形成用の出発物質の中から所望
に従って選択され友ものに、酸素原子導入用の出発物質
又は/及び第厘族原子導入用の出発物質が加えられる。
る層領域(0)及び嬉厘族原子の含有される層領域(曹
)を夫々形成するのにグロー放電法を用いる場合、各層
領域形成用の原料ガスとなる出発物質としては、前記し
九第−の非晶質層(I)形成用の出発物質の中から所望
に従って選択され友ものに、酸素原子導入用の出発物質
又は/及び第厘族原子導入用の出発物質が加えられる。
その様な酸素原子導入用の出発物質又は第璽族原子導入
用の出発物質としては、少なくとも酸嵩原子或いは第厘
族原子を構成原子とするガス状の物質又はガス化し得る
物質をガス::。
用の出発物質としては、少なくとも酸嵩原子或いは第厘
族原子を構成原子とするガス状の物質又はガス化し得る
物質をガス::。
化したものの中の大概のものが使用され得る。
例えば層領域(0)を形成するのであれば、シリコン原
子(81)を構成原子とする原料ガスと、酸素原子(0
)を構成原子とする原料ガスと、必要に応じて水素原子
(H)又は/及びハロゲン原子(X)を構成原子とする
原料ガスとを所望の混合比で混合して使用するか、又は
、シリコン原子(8i )を構成原子とする原料ガスと
、酸素原子(0)及び水素原子(1()を構成原子とす
る原料ガスとを、これも又所望の混合比で混合するか、
或いは、シリコン原子(8i)を構成原子とする原料ガ
スと、シリコン原子(8i)、酸素原子(0)及び水素
原子()I)の3つを構成原子とする原料ガスとを混合
して使用することが出来る。
子(81)を構成原子とする原料ガスと、酸素原子(0
)を構成原子とする原料ガスと、必要に応じて水素原子
(H)又は/及びハロゲン原子(X)を構成原子とする
原料ガスとを所望の混合比で混合して使用するか、又は
、シリコン原子(8i )を構成原子とする原料ガスと
、酸素原子(0)及び水素原子(1()を構成原子とす
る原料ガスとを、これも又所望の混合比で混合するか、
或いは、シリコン原子(8i)を構成原子とする原料ガ
スと、シリコン原子(8i)、酸素原子(0)及び水素
原子()I)の3つを構成原子とする原料ガスとを混合
して使用することが出来る。
父、別には、シリコン原子(8i)と水素原子(i()
とを構成原子とする原料ガスに酸素原子υ)を構成原子
とする原料ガスを混合して使用しても良い。
とを構成原子とする原料ガスに酸素原子υ)を構成原子
とする原料ガスを混合して使用しても良い。
咳素原子導入用の出発物質となるものとして具体的には
、例えば酸素(Os)−’オゾン(On)−一・、1 酸化11#(NO)、 二酸化窒素(NOm)−−二
酸化窒素(NIO)、三二酸化窒素(NtOm )、四
二酸化窒素(NtOm)eミニ酸化窒素(N禦0.)、
三酸化窒素(NOm)−シリコン原子(8i)と酸素原
子(0)と水嵩原子(H)とを構成原子とする、例えば
、ジシロキサン(HsSiO8iH,)、 ) リシ
ロ キサン(Ha8j08iH,08iH,)等の低
級シロ中サン等を挙げることが出来る。
、例えば酸素(Os)−’オゾン(On)−一・、1 酸化11#(NO)、 二酸化窒素(NOm)−−二
酸化窒素(NIO)、三二酸化窒素(NtOm )、四
二酸化窒素(NtOm)eミニ酸化窒素(N禦0.)、
三酸化窒素(NOm)−シリコン原子(8i)と酸素原
子(0)と水嵩原子(H)とを構成原子とする、例えば
、ジシロキサン(HsSiO8iH,)、 ) リシ
ロ キサン(Ha8j08iH,08iH,)等の低
級シロ中サン等を挙げることが出来る。
層領域(II)をグルー放電性を用いて形成する場合に
第厘族原子導入用の出発物質として、本発明において有
効に使用されるのは、硼素原子導入用としては、へ搗、
B4鳩・t B、鴇、B、鳩、B、桟、。
第厘族原子導入用の出発物質として、本発明において有
効に使用されるのは、硼素原子導入用としては、へ搗、
B4鳩・t B、鴇、B、鳩、B、桟、。
Ha”u−BaHu 等の水素化硼素、BP、 、
BC/、 、 BBr。
BC/、 、 BBr。
等のハロゲン化硼素等が挙げられる。この他、A−ec
es * Gael、 e Ga(CH,)、 I I
nC/s I T/C4等も挙げることが出来る。
es * Gael、 e Ga(CH,)、 I I
nC/s I T/C4等も挙げることが出来る。
第厘族原子を含有する層領域(II) K導入される第
璽族原子の含有量は、堆積室中に流入される第厘族原子
導入用の出発物質のガス流量、ガス流量比、放電パワー
、支持体温度、増積璽内の圧力等を制御するととKよっ
て任意KWj御され得る。
璽族原子の含有量は、堆積室中に流入される第厘族原子
導入用の出発物質のガス流量、ガス流量比、放電パワー
、支持体温度、増積璽内の圧力等を制御するととKよっ
て任意KWj御され得る。
スパッターりフグ法によって、酸素原子を含有する層領
域(0)を形成するには、単結晶又は多結晶の8iウエ
ーハー又はato、2ニーバー、又は8iと8i0.が
混合されて含有されているウェーハーをターゲットとし
て、これ等を種々のガス雰囲気中でスパッターリングす
ることによって行えば良い。
域(0)を形成するには、単結晶又は多結晶の8iウエ
ーハー又はato、2ニーバー、又は8iと8i0.が
混合されて含有されているウェーハーをターゲットとし
て、これ等を種々のガス雰囲気中でスパッターリングす
ることによって行えば良い。
例えば、84ウエーハーをターゲットとして使用すれば
、酸素原子と、必要に応じて水素原子又は/及びハロゲ
ン原子を導入する為の原料ガスを、必要に応じて稀釈ガ
スで稀釈して、スパッター用の堆積室中に導入し、これ
等のガスのガスプラズマを形成して前記Siウェーハー
をスパッターリングすれば良い。
、酸素原子と、必要に応じて水素原子又は/及びハロゲ
ン原子を導入する為の原料ガスを、必要に応じて稀釈ガ
スで稀釈して、スパッター用の堆積室中に導入し、これ
等のガスのガスプラズマを形成して前記Siウェーハー
をスパッターリングすれば良い。
又、別KFi、81と840.とは別々のターゲットと
して、又はSi 、!: 8i0.の混合した一枚のタ
ーゲットを使用することによって、スパッター用のガス
としての稀釈ガスの雰囲気中で又は少なくとも水素原子
(H)又は/及びハロゲン原子(X”)を構成原子とし
て含有するガス雰囲気中でスパッターリングすることに
よって成される。酸素原子導入用の原料ガスとしては、
先遣したグ四−放電の例で示した原料ガスの中の酸素原
子導入用の原料ガスが、スパッターリングの場合にも有
効なガスとして使用され得る。
して、又はSi 、!: 8i0.の混合した一枚のタ
ーゲットを使用することによって、スパッター用のガス
としての稀釈ガスの雰囲気中で又は少なくとも水素原子
(H)又は/及びハロゲン原子(X”)を構成原子とし
て含有するガス雰囲気中でスパッターリングすることに
よって成される。酸素原子導入用の原料ガスとしては、
先遣したグ四−放電の例で示した原料ガスの中の酸素原
子導入用の原料ガスが、スパッターリングの場合にも有
効なガスとして使用され得る。
本発明において、第一の非晶質層(I)をグロー放電法
で形成する際に使用される稀釈ガス、或いはスパッタリ
ング法で形成される際に使用されるスパッターリング用
のガスとしては、所副稀ガス、例えばHe 、 Ne
、 Ar 等が好適なものとして挙げることが出来る。
で形成する際に使用される稀釈ガス、或いはスパッタリ
ング法で形成される際に使用されるスパッターリング用
のガスとしては、所副稀ガス、例えばHe 、 Ne
、 Ar 等が好適なものとして挙げることが出来る。
本発明の光導電部材に於いては、第一の非晶質層(I)
上に設けられる第二の非晶質層(1)は、シリコン原子
と炭素原子とで構成される非晶質材料(a−8izC1
−X 1但し0(x(1)で形成されるので、非晶質層
(I)と第二の非晶質層(1)とを形成する非晶質材料
の各々がシリコン原子という共通の構成要素を有、して
いるので、積層界面に於いて化学的な安定−の確保が充
分成されている。
上に設けられる第二の非晶質層(1)は、シリコン原子
と炭素原子とで構成される非晶質材料(a−8izC1
−X 1但し0(x(1)で形成されるので、非晶質層
(I)と第二の非晶質層(1)とを形成する非晶質材料
の各々がシリコン原子という共通の構成要素を有、して
いるので、積層界面に於いて化学的な安定−の確保が充
分成されている。
a−8i zc 1−Xで構成される第二の非晶質層(
1)の形成はスパッターリング法、イオンブランデージ
ョン法、イオンブレーティング法、エレクトロンビーム
法等によって成される。これ等の製造法は、製造条件、
設備資本投下の負荷程度、製造規模、作製される光導電
部材に所望される特性等の要因によって適宜選択されて
採用されるが、所望する特性を有する光導電部材を製造
する為の作製条件の制御が比較的容易である、シリコン
原子と共に縦素原子を作製する中間層中に導入するのが
容易に行える等の刹点からスパツターリング法或いはエ
レクトロンビーム法、イオンブレーティング法が好適に
採用される。
1)の形成はスパッターリング法、イオンブランデージ
ョン法、イオンブレーティング法、エレクトロンビーム
法等によって成される。これ等の製造法は、製造条件、
設備資本投下の負荷程度、製造規模、作製される光導電
部材に所望される特性等の要因によって適宜選択されて
採用されるが、所望する特性を有する光導電部材を製造
する為の作製条件の制御が比較的容易である、シリコン
原子と共に縦素原子を作製する中間層中に導入するのが
容易に行える等の刹点からスパツターリング法或いはエ
レクトロンビーム法、イオンブレーティング法が好適に
採用される。
スパッターリング法によって第二の非晶質層(1)を形
成するには、単結晶又は多結晶の8iつニーバーとCウ
ェーハー、又は8iとCが混合されて含有されているウ
ェーハーをターゲットとして、これ等を種々のガス雰囲
気中でスパッタ゛・::・ニ ーリングすることによって行えば良い。
成するには、単結晶又は多結晶の8iつニーバーとCウ
ェーハー、又は8iとCが混合されて含有されているウ
ェーハーをターゲットとして、これ等を種々のガス雰囲
気中でスパッタ゛・::・ニ ーリングすることによって行えば良い。
例えば、Siウェーハー及びCウェーハーをターゲット
として使用する場合KFi、He、 Ne、 Ar等の
スパッターリング用のガスを、スパッター用の堆積室中
に導入してガスプラズマを形成し、前記Siウェーハー
及びCウェー/1−をスノ(ツタ−リングすれば嵐い。
として使用する場合KFi、He、 Ne、 Ar等の
スパッターリング用のガスを、スパッター用の堆積室中
に導入してガスプラズマを形成し、前記Siウェーハー
及びCウェー/1−をスノ(ツタ−リングすれば嵐い。
又、別には、SiとCの混会し九一枚のターゲットを使
用することによって、スパッターリング用のガスを装置
系内に導入し、そのガス雰囲気中でスパッターりンダす
ることによって威される。エレクトロンビーム法を用い
る場合には2個の蒸着ボート内に各々、単結晶又は多結
晶の高純度シリコン及び高純度グラファイトを入れ、各
々独立にエレクトロンビームによって同時蒸着するか、
又は同一蒸着ボート内に所望の混合比にして入れたシリ
コン及びブラフアイトラ単一のエレクトロンビームによ
って蒸着すればよい。第二〇非晶質層(璽)中に含有さ
れるシリコンと炭素の含有比は前者の場合、エレクトロ
ンビームの加速電圧をシリコンとグラファイトに対して
変化させるととによって制御し、後者の場合け、あらか
じめシリコンとグラファイトの混合量を定めるととによ
って制御する。イオンブレーティング法を用いる場合は
蒸着槽内に種々のガスを導入しあらかじめ檜の周11K
まいたコイルに高周波電界を印加してグローをおこした
状態でエレクトロンビーム法を利用して81及びCを蒸
着すればよい。
用することによって、スパッターリング用のガスを装置
系内に導入し、そのガス雰囲気中でスパッターりンダす
ることによって威される。エレクトロンビーム法を用い
る場合には2個の蒸着ボート内に各々、単結晶又は多結
晶の高純度シリコン及び高純度グラファイトを入れ、各
々独立にエレクトロンビームによって同時蒸着するか、
又は同一蒸着ボート内に所望の混合比にして入れたシリ
コン及びブラフアイトラ単一のエレクトロンビームによ
って蒸着すればよい。第二〇非晶質層(璽)中に含有さ
れるシリコンと炭素の含有比は前者の場合、エレクトロ
ンビームの加速電圧をシリコンとグラファイトに対して
変化させるととによって制御し、後者の場合け、あらか
じめシリコンとグラファイトの混合量を定めるととによ
って制御する。イオンブレーティング法を用いる場合は
蒸着槽内に種々のガスを導入しあらかじめ檜の周11K
まいたコイルに高周波電界を印加してグローをおこした
状態でエレクトロンビーム法を利用して81及びCを蒸
着すればよい。
本発明に於ける第二〇非晶質層(1)は、その要求され
る特性が所望過DK与えられる様に注意深く形成される
。
る特性が所望過DK与えられる様に注意深く形成される
。
即ち、Si、C,を構威願子とする物質は、その作成条
件によって構造的には結晶からアモルファスまでの影態
な取に、電気物性的には導電性から半導体性、絶縁性ま
での間の性質を、又光導電的性質から非光導電的性質ま
で0間の性質を、各々示すので、本発明に於いては、目
的に応じた所望0411性を有するa−8ixC1−、
が形成される様に、所望Kitつてその作成条件の選択
が厳密に威される。
件によって構造的には結晶からアモルファスまでの影態
な取に、電気物性的には導電性から半導体性、絶縁性ま
での間の性質を、又光導電的性質から非光導電的性質ま
で0間の性質を、各々示すので、本発明に於いては、目
的に応じた所望0411性を有するa−8ixC1−、
が形成される様に、所望Kitつてその作成条件の選択
が厳密に威される。
例えば、第二の非晶質層°(1)を耐圧性の向上を主1
に目的として設けるKはa−81zCz−xは使用−墳
に於いて電気絶縁性的挙動の顕著な非晶質□ 材料として作成される。
に目的として設けるKはa−81zCz−xは使用−墳
に於いて電気絶縁性的挙動の顕著な非晶質□ 材料として作成される。
又、連続繰返し使用特性や使用積項特性の向上を主たる
目的として第二の非晶質層(1)が設けられる場合に轄
、上記の電気絶縁性の度合はある@縦緩和され、照射さ
れる光に対しであるs度の感度を有する非晶質材料とし
て計S輸C1−8が作成される。
目的として第二の非晶質層(1)が設けられる場合に轄
、上記の電気絶縁性の度合はある@縦緩和され、照射さ
れる光に対しであるs度の感度を有する非晶質材料とし
て計S輸C1−8が作成される。
第一の非晶質層(1)の表面K a−8輸C3−8から
成る第二の非晶質層(璽)を形成する際、層彫威中の支
持体温度は、形成される層の構造及び特性を左右する重
要な因子であって、本発明に於いては、目的とする特性
を膚するl −81XC@−1が所望通りに作成され得
る様に層作成時の支持体温度が厳密に制御されるのが望
ましい。
成る第二の非晶質層(璽)を形成する際、層彫威中の支
持体温度は、形成される層の構造及び特性を左右する重
要な因子であって、本発明に於いては、目的とする特性
を膚するl −81XC@−1が所望通りに作成され得
る様に層作成時の支持体温度が厳密に制御されるのが望
ましい。
本発明に於ける目的が効果的に達成される為の第二の非
晶質層(1)を形成する際の支持体温度としては、第二
の非晶質層(1)の形成法に併せて適宜最適範囲が選択
されて、第二の非晶質層(璽)の形成が行われるが、好
適には20〜300C1最適には20〜250 、、C
とされるのが望ましい屯のである。 ・1 第二の非晶質層(夏)の影威には、層を構成する原子の
組成比の微妙な制御子層厚の制御が葡の方法に較べて比
較的容易である事勢の為に、スパッターリング法やエレ
クトロンビーム法の採用が有利であるが、これ勢の層形
成法で第二の非晶質層(璽)を形成する場合には、前記
の支持体温度と−+IIIK層形威の際の形成パワーが
作成されるa−8ixC,−xの特性を左右する重要な
因子の1つとして挙けることが出来る。
晶質層(1)を形成する際の支持体温度としては、第二
の非晶質層(1)の形成法に併せて適宜最適範囲が選択
されて、第二の非晶質層(璽)の形成が行われるが、好
適には20〜300C1最適には20〜250 、、C
とされるのが望ましい屯のである。 ・1 第二の非晶質層(夏)の影威には、層を構成する原子の
組成比の微妙な制御子層厚の制御が葡の方法に較べて比
較的容易である事勢の為に、スパッターリング法やエレ
クトロンビーム法の採用が有利であるが、これ勢の層形
成法で第二の非晶質層(璽)を形成する場合には、前記
の支持体温度と−+IIIK層形威の際の形成パワーが
作成されるa−8ixC,−xの特性を左右する重要な
因子の1つとして挙けることが出来る。
本発明責於ける目的が達成され1為の特性を有するa−
8ixC,xが生産性良く効果的に作成される為の放電
パワー条件としては、好適には50W〜250 W 、
最適にはso w −tso wとされるOがmましい
。
8ixC,xが生産性良く効果的に作成される為の放電
パワー条件としては、好適には50W〜250 W 、
最適にはso w −tso wとされるOがmましい
。
本発明に於いては、第二の非晶質層(1)を作成する為
の支持体温度、放電パワーの望會しい数値範囲として前
記し九範囲の値が挙けられるが、これ等の層作成ファク
ターは、独6i的に別々に決められる亀のではなく、所
望−性0JI−8ixC1−Xから成る第二の非晶質層
(璽)が形成される様Ks互的有機的関連性に基いて各
層作成ファクターの最適値が決められるのが望ましい。
の支持体温度、放電パワーの望會しい数値範囲として前
記し九範囲の値が挙けられるが、これ等の層作成ファク
ターは、独6i的に別々に決められる亀のではなく、所
望−性0JI−8ixC1−Xから成る第二の非晶質層
(璽)が形成される様Ks互的有機的関連性に基いて各
層作成ファクターの最適値が決められるのが望ましい。
本発明の光導電部材に於ける第二の非晶質層(1) K
含有される炭素原子の量は、第二の非晶質層(1)の作
製条件と同様本発明の目的を達成する所望の特性が得ら
れる層が形成される重要な因子である。
含有される炭素原子の量は、第二の非晶質層(1)の作
製条件と同様本発明の目的を達成する所望の特性が得ら
れる層が形成される重要な因子である。
である。
本発明に於ける第二の非晶質層(1)の層厚の数値範囲
は、本発明の目的を効果的に達成する様に所期の目的に
応じて適宜所望に従って決められる。
は、本発明の目的を効果的に達成する様に所期の目的に
応じて適宜所望に従って決められる。
又、第二の非晶質層(璽)の層厚は、該層(璽)中に含
有される炭素原子の量や第一の非晶質層(1)の層厚と
の関係に於いても、各々の層領域KIN求される特性に
応じえ有機的な関連性O下に所望に従って適宜決定され
る必要がある。
有される炭素原子の量や第一の非晶質層(1)の層厚と
の関係に於いても、各々の層領域KIN求される特性に
応じえ有機的な関連性O下に所望に従って適宜決定され
る必要がある。
更に加え得るに、生産性中量産性を加味した経済性の点
に於いても考慮されるのが望ましい。
に於いても考慮されるのが望ましい。
本発明に於ける第二の非晶質層(璽)の層厚としては、
通常0.003〜30μ、好適には0004〜2011
%最適にはo、oos〜10sとされるのが望ましいも
のである。
通常0.003〜30μ、好適には0004〜2011
%最適にはo、oos〜10sとされるのが望ましいも
のである。
本発明において使用されゐ支持体としては、導電性でも
電気絶縁性であって4嵐い、導電性支持体としては、例
えば、NiCr、ステンレス。
電気絶縁性であって4嵐い、導電性支持体としては、例
えば、NiCr、ステンレス。
NtCr 、Mo 、Au 、Nb 、Ta 、V、T
i tPt sad 郷の金属又はこれ等の合金が挙げ
られる。
i tPt sad 郷の金属又はこれ等の合金が挙げ
られる。
電気絶縁性支持体としては、ポリエステル。
ポリエチレン、ポリカーボネート、セルローズアセテー
ト、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル。
ト、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル。
ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリアミド等の合
成樹脂のフィルム又はシート、ガラス。
成樹脂のフィルム又はシート、ガラス。
セラミック、紙等が通常使用される。これ等の電気絶縁
性支持体は、好適には少なくともその一方ouiIit
導電処場され、該導電処mされ九表面儒に他の層が設け
られるのが望ましい。
性支持体は、好適には少なくともその一方ouiIit
導電処場され、該導電処mされ九表面儒に他の層が設け
られるのが望ましい。
例えば、ガラスであれば、その表面に、NiCr 。
A4.Cr 、Mo 、Au、Ir 、Nb
、Ta 、VeTt、Ptt Pd。
、Ta 、VeTt、Ptt Pd。
In、0.、8nO,、FO(In、Oa +8nOm
) IIから威る薄膜を設けることKよって導電性が
付与され、或いはポリエステルフィル五等の合成樹脂フ
ィルムであれば、NtCr 、AJeムg、Pb、Za
、Ni、ムU。
) IIから威る薄膜を設けることKよって導電性が
付与され、或いはポリエステルフィル五等の合成樹脂フ
ィルムであれば、NtCr 、AJeムg、Pb、Za
、Ni、ムU。
Cr 、Mo 、 Ir 、Nb 、Ta 、VtTi
tPt郷の金属の薄膜を真空蒸着、電子ビーム蒸着、
スパッタリング等でその表面に設叶、又は前記金属でそ
の表面をラミネート処理して、その11面に導電性が付
与される。支持体0形状としては、円筒状。
tPt郷の金属の薄膜を真空蒸着、電子ビーム蒸着、
スパッタリング等でその表面に設叶、又は前記金属でそ
の表面をラミネート処理して、その11面に導電性が付
与される。支持体0形状としては、円筒状。
ベルト状、板状等任意の形状とし得、所望によって、そ
の形状は決定されるが、例えに、第1図の光導電部材1
00を電子写真用像彫威部材として使用するので◆れば
連続高速複写の場合に11: は、無端ベルト状又は円筒状とするのが望ましい。支持
体の厚さは、所望通勤の光導電部材が形成される様に適
宜決定されるが、光導電部材上して可撓性が要求される
場合には、支持体としての機能が充分発揮されるIIA
II内であれば可能な隈シ薄くされる0画情ら、この様
な場合支持体OII造上及び堆扱い上、機械的強度等O
点から、通常は、10μ以上とされる。
の形状は決定されるが、例えに、第1図の光導電部材1
00を電子写真用像彫威部材として使用するので◆れば
連続高速複写の場合に11: は、無端ベルト状又は円筒状とするのが望ましい。支持
体の厚さは、所望通勤の光導電部材が形成される様に適
宜決定されるが、光導電部材上して可撓性が要求される
場合には、支持体としての機能が充分発揮されるIIA
II内であれば可能な隈シ薄くされる0画情ら、この様
な場合支持体OII造上及び堆扱い上、機械的強度等O
点から、通常は、10μ以上とされる。
次に本発明の光導電部材の製造方法の一例の概略につい
て説明する。
て説明する。
第11図に本発明O光導電部#Os造装置の一例を示す
。
。
図中の110!、1103.1104のガスボンベには
、本発明O夫々の層を形成する九め0原料lスが密封さ
れており、その−例として九とえば1102は、Heで
稀釈されえ8轟Lガス(Mtn99eN。
、本発明O夫々の層を形成する九め0原料lスが密封さ
れており、その−例として九とえば1102は、Heで
稀釈されえ8轟Lガス(Mtn99eN。
以下8*H,/Heと略す* )+gyへ、1towは
He チー釈され九B、H,ガス(M*5sns帽%、
以下B@ H@ /H@と略す、)ボンベ、11G4a
ムrガス(純度@9*1lN)ボンベ、110SFiN
OガJ (M@ 5ssss%)ボ’へ、110@aH
−で1釈され九8iF、ガス(純mess・IN、以下
8ぼ、/翫と略す、)ボンベである。
He チー釈され九B、H,ガス(M*5sns帽%、
以下B@ H@ /H@と略す、)ボンベ、11G4a
ムrガス(純度@9*1lN)ボンベ、110SFiN
OガJ (M@ 5ssss%)ボ’へ、110@aH
−で1釈され九8iF、ガス(純mess・IN、以下
8ぼ、/翫と略す、)ボンベである。
これらのガスを反応室1101 K流入させるにはガス
ボンベ1101〜1106のノ(ルブロ42−1126
、リークバルブ1135が夫々閉じられていることを
確認し、又、流入/(ルブ111ト11111、工 流入バルブ1117〜1121、補助〕(ルプ1131
1133が開かれていることを確認して、先づメインバ
ルブ1134を開いて反応室1101%及びガス配管内
を排気する0次に真空計1131801mパルプ111
7〜1121を閉じる。
ボンベ1101〜1106のノ(ルブロ42−1126
、リークバルブ1135が夫々閉じられていることを
確認し、又、流入/(ルブ111ト11111、工 流入バルブ1117〜1121、補助〕(ルプ1131
1133が開かれていることを確認して、先づメインバ
ルブ1134を開いて反応室1101%及びガス配管内
を排気する0次に真空計1131801mパルプ111
7〜1121を閉じる。
その後、反応室301内に導入すべきガスOダンベに接
続されているガス配管のI(ルプを所定通勤操作して、
所望するガスを反応室301内に導入する。
続されているガス配管のI(ルプを所定通勤操作して、
所望するガスを反応室301内に導入する。
次に第2図に示す欝威と同様の層構成の非晶質層(1)
と、鋏層(1)上に非晶質層(1)を有する光導電部材
を作成する場合の一例の概略を述べる。
と、鋏層(1)上に非晶質層(1)を有する光導電部材
を作成する場合の一例の概略を述べる。
ガスボンベ1102よ?)8xH,/Heガスを、ガス
ボンベ1103よjJH@/Heガスを、ガスボンベ1
105 j l) NOJx ヲ、夫k Ah7’ 1
1!Lll!3゜11251−開いて出口圧ゲージ11
!7.11!!魯、113Gの圧をIQ/m1g調整し
、流入/(JlyプIIIL 1113゜1115 を
徐々に−けて、マス7a−コントローラ1107.11
08,1110内KfIL人させる。引**いて流出パ
ルプ1117.1118,11雪01補助パルプ113
2を徐々Kllいて夫々のガスを反応室1101 K流
入させる。このと108jH,/Heガス流量とB、H
,/I(・ガス流量との比が所110億になるように流
出パルプ1117.11111を調整し、又、反応室1
101内の圧力が所望0111になるように真空針11
36の読みを見ながら、メ′イ・ノパルプ11340−
口を調整する。そして基111B7の−IIが加熱ヒー
ター・11311 KよりSO〜400Cの糖■ome
Ka定されていることを確認喋れ九後、電@ 114G
を所me電力KWlk定して反応室11@1内にダロー
放電を生起させ、1同時にあら門じめ設計されえ変化率
−−E1つてB、H,/)bガスの流量及び荀ガスの流
量を夫々手動あるいハ外部駆動モータ等の方法によって
パルプ1118及びパルプ1120を漸次便化させる操
作を行なって形成される層中に含有されるB等OII族
原子及び酸素原子の含有濃度を制御し、層領域< tt
tm )を形成する。
ボンベ1103よjJH@/Heガスを、ガスボンベ1
105 j l) NOJx ヲ、夫k Ah7’ 1
1!Lll!3゜11251−開いて出口圧ゲージ11
!7.11!!魯、113Gの圧をIQ/m1g調整し
、流入/(JlyプIIIL 1113゜1115 を
徐々に−けて、マス7a−コントローラ1107.11
08,1110内KfIL人させる。引**いて流出パ
ルプ1117.1118,11雪01補助パルプ113
2を徐々Kllいて夫々のガスを反応室1101 K流
入させる。このと108jH,/Heガス流量とB、H
,/I(・ガス流量との比が所110億になるように流
出パルプ1117.11111を調整し、又、反応室1
101内の圧力が所望0111になるように真空針11
36の読みを見ながら、メ′イ・ノパルプ11340−
口を調整する。そして基111B7の−IIが加熱ヒー
ター・11311 KよりSO〜400Cの糖■ome
Ka定されていることを確認喋れ九後、電@ 114G
を所me電力KWlk定して反応室11@1内にダロー
放電を生起させ、1同時にあら門じめ設計されえ変化率
−−E1つてB、H,/)bガスの流量及び荀ガスの流
量を夫々手動あるいハ外部駆動モータ等の方法によって
パルプ1118及びパルプ1120を漸次便化させる操
作を行なって形成される層中に含有されるB等OII族
原子及び酸素原子の含有濃度を制御し、層領域< tt
tm )を形成する。
層領域(tits )が形成され九時点に於いては、パ
ルプ1118及びパルプ1120は完全に閉じられ良状
態にあるので、その後の層形成け、8jH4/H・ガス
の使用のみで行われ、その結果、層領域(tstm )
上に層領域(’alt )が所望の層厚で形成されて、
第一〇非晶質層(1) t)形成が終了される。
ルプ1118及びパルプ1120は完全に閉じられ良状
態にあるので、その後の層形成け、8jH4/H・ガス
の使用のみで行われ、その結果、層領域(tstm )
上に層領域(’alt )が所望の層厚で形成されて、
第一〇非晶質層(1) t)形成が終了される。
上記の様にして、非晶質層(I)が、含有される第1*
j子と酸素原子の所望O分布一度(d印thprofi
le)を以って、所望層厚に形成された後、ブ 流出パルプ317が一旦完全に閉じられ、放電も中断さ
れる。
j子と酸素原子の所望O分布一度(d印thprofi
le)を以って、所望層厚に形成された後、ブ 流出パルプ317が一旦完全に閉じられ、放電も中断さ
れる。
’:’:’II
非晶質層(1) 0形威O際に使用される原料ガス種と
しては、8iH4ガスの他に、殊に8−鴎ガスが層@威
速度の向上を図る為に有効である。
しては、8iH4ガスの他に、殊に8−鴎ガスが層@威
速度の向上を図る為に有効である。
第一の非晶質層(’I)中にハ四ゲン原子を含有させる
場合にけ上記のガスに、例えば引P4/H1Sを、更に
付加して反応室1101内に送〉込む。
場合にけ上記のガスに、例えば引P4/H1Sを、更に
付加して反応室1101内に送〉込む。
第一の非晶質層(!)上に第二の非晶質層(1)を形成
するKは、例えば、次の様に行う、まずシar’ツタ−
1142を−く、すべてのガス供給パルプは一旦閉じら
れ、反応室11o1は、メインパルプ1134を食間す
るととKより、排気される。
するKは、例えば、次の様に行う、まずシar’ツタ−
1142を−く、すべてのガス供給パルプは一旦閉じら
れ、反応室11o1は、メインパルプ1134を食間す
るととKより、排気される。
高圧電力が印加される電極1141 kKは、予め高I
IIIA度シリコンウェハ1142−1 、及び高緯度
グラファイトウェハ1142−2が所望の面積比率で設
置されたターゲットを般けてお(、ガスボンベ1105
よ)、Arガスを、反応Im 1101内に導入し、反
応室xloiの内圧が0.05−1 torrとなるよ
うメインパルプ1134を調節する。高圧電II 11
40を係とし#i記のターゲットをスパッタリングする
ことによ)、第一〇非晶質層(1)上に第二の非晶質層
(璽)を形成することが出来る。
IIIA度シリコンウェハ1142−1 、及び高緯度
グラファイトウェハ1142−2が所望の面積比率で設
置されたターゲットを般けてお(、ガスボンベ1105
よ)、Arガスを、反応Im 1101内に導入し、反
応室xloiの内圧が0.05−1 torrとなるよ
うメインパルプ1134を調節する。高圧電II 11
40を係とし#i記のターゲットをスパッタリングする
ことによ)、第一〇非晶質層(1)上に第二の非晶質層
(璽)を形成することが出来る。
第二の非晶質層(1)中に含有される炭素原子の量け、
シリコンウェハとグラファイトウェハのスパッター面積
比率や、ターゲットを作成する際のシリコン粉末とグラ
ファイト粉末の混合比を所望Kitつて調整することに
よって所望に応じて制御することが出来る。
シリコンウェハとグラファイトウェハのスパッター面積
比率や、ターゲットを作成する際のシリコン粉末とグラ
ファイト粉末の混合比を所望Kitつて調整することに
よって所望に応じて制御することが出来る。
奥論儒1
嬉11図に示した製造装置を用い、第11第zm領m内
で、ll[2HK示すような酸素11&分布を持つ像形
成部材を菖1表の条件下で作製し丸。
で、ll[2HK示すような酸素11&分布を持つ像形
成部材を菖1表の条件下で作製し丸。
こうして得られえ像形成部材を、帯電露光実験装置に設
置しθLOUでa t MC@@ :IQす帯電を行い
、直ちに光像を照射し丸光像はタングステンランプ光源
を用い、L5Jmx、繻Ot量を逓過蓋のテストチャー
トを通して照射させえ。
置しθLOUでa t MC@@ :IQす帯電を行い
、直ちに光像を照射し丸光像はタングステンランプ光源
を用い、L5Jmx、繻Ot量を逓過蓋のテストチャー
トを通して照射させえ。
その後直ちに、0荷電性の現像剤(トナーとキャリアー
を含む)を部材表面をカスケードすゐことによって、部
材表面上KjL好なトナー画像を得え。部材上のトナー
画像を、■!LOKFのコロナ帯電で転写紙上に転写し
死所、解像力に優れ、階調再現性のよい鮮明な高淡WO
W像が得られえ。
を含む)を部材表面をカスケードすゐことによって、部
材表面上KjL好なトナー画像を得え。部材上のトナー
画像を、■!LOKFのコロナ帯電で転写紙上に転写し
死所、解像力に優れ、階調再現性のよい鮮明な高淡WO
W像が得られえ。
実施例2
籐11図に示し丸調造装置を用い、第1、第3層領域内
で、第1311に示すような酸素濃度分布を持つ像形成
部材を第3表の条件下で作製したO その他の条件は実施例1と同様にして行ったOこうして
得られえ像形成部材に就いて、実施例1と同Vの条件及
び手順で転写紙上に画偉を形成したところ極めて鮮明な
画質が得られ九〇実施例3 111111iK示し九″製造装置を用い、第1、第3
層領域内で、第1411に示すような酸素濃度分布を持
つ偉形成部材を第3表の・条件下で作馴し九〇 その他の条件は実施例奉と同様にして行つ九。
で、第1311に示すような酸素濃度分布を持つ像形成
部材を第3表の条件下で作製したO その他の条件は実施例1と同様にして行ったOこうして
得られえ像形成部材に就いて、実施例1と同Vの条件及
び手順で転写紙上に画偉を形成したところ極めて鮮明な
画質が得られ九〇実施例3 111111iK示し九″製造装置を用い、第1、第3
層領域内で、第1411に示すような酸素濃度分布を持
つ偉形成部材を第3表の・条件下で作馴し九〇 その他の条件は実施例奉と同様にして行つ九。
こうして得られた゛儂形成部材に就いて、1IIIA例
1と同様の条件及び手瞑で転写鋼上に画偉を形成したと
ころ極めて鮮明表゛画質が得られた。
1と同様の条件及び手瞑で転写鋼上に画偉を形成したと
ころ極めて鮮明表゛画質が得られた。
実施例4
非晶質層@O形形成際にシリツンクエハとダラファイト
の面積比を変えて、□非晶質層(2)中に於けるシリコ
ン原子と炭素原子の含有量比を変化させる以外は、実施
例3と食〈同様な方渋によって11形威部材を作成し九
〇 こうして得られた會形成部材に’)龜実施例1に述べた
如き作像、現像、り、リーニング0工1を約5万回繰り
返し先後画像評領を行ったとζろ第4表の如自紬呆を得
た。
の面積比を変えて、□非晶質層(2)中に於けるシリコ
ン原子と炭素原子の含有量比を変化させる以外は、実施
例3と食〈同様な方渋によって11形威部材を作成し九
〇 こうして得られた會形成部材に’)龜実施例1に述べた
如き作像、現像、り、リーニング0工1を約5万回繰り
返し先後画像評領を行ったとζろ第4表の如自紬呆を得
た。
実施例5
非晶質層(7)の層厚を変える以外は、実施例1と全く
同様な方法によって像形成部材を作成した0実施例1に
述べえ如き、作像、現像、クリーニングの工程を繰り返
し下記の結果を得九〇第 5 表 実施例6 1111及びIIIIIm層領域0形威方法を下表の如
く変える以外は、実施例1と同様な方法で層形成を村い
、実施例1と同様な画質評価を打つぇところ、喪好表結
果が得られた。
同様な方法によって像形成部材を作成した0実施例1に
述べえ如き、作像、現像、クリーニングの工程を繰り返
し下記の結果を得九〇第 5 表 実施例6 1111及びIIIIIm層領域0形威方法を下表の如
く変える以外は、実施例1と同様な方法で層形成を村い
、実施例1と同様な画質評価を打つぇところ、喪好表結
果が得られた。
実施例7
j111図に示した製造装置を用い、第1、第2層領域
内で、第15図に示すような酸素濃度分布を持り像形成
部材を1117表の条件下で作製した。
内で、第15図に示すような酸素濃度分布を持り像形成
部材を1117表の条件下で作製した。
その他の条件は、実施例1と同様にして行った。
こうして得られた像形成部材に就いて、実施例1と同様
の条件及び手馴で転写紙上にiii*を形成したところ
極めて鮮明な画質が得られ九0
の条件及び手馴で転写紙上にiii*を形成したところ
極めて鮮明な画質が得られ九0
第1図は、本発明の光導電部材の構成の好適な例の1つ
を説明する為の模式的説明−1第2図乃至第101!1
1は、夫々、本発明の光導電部材の非晶質層を構成する
層領域aec*ける酸素原子の分布a度を説明する模式
的説明図、1111図は、本発明の光導電部材を作製す
る為に使用され九装置の模式的説明図、11112−乃
M落1S図は、本発明の実施例に於ゆる層領域Q中の酸
素原子の分布濃度を示す説明図である。 ZGo ・・・光導電部材 101 ・・・支持体 1(12・・・第一の非晶質層(1) 103−・・第一の層領域向 104 ・・・第二の層領域(2) 10B ・・・層領域 1011 ・・・第二の非晶質層(2)ト −一一一−C C 第1頁の続き 0発 明 者 大里陽− 東京都大田区下丸子3丁目(資)番 2号キャノン株式会社内 0発 明 者 三角輝男 東京都大田区下丸子3丁目(資)番 2号キャノン株式会社内
を説明する為の模式的説明−1第2図乃至第101!1
1は、夫々、本発明の光導電部材の非晶質層を構成する
層領域aec*ける酸素原子の分布a度を説明する模式
的説明図、1111図は、本発明の光導電部材を作製す
る為に使用され九装置の模式的説明図、11112−乃
M落1S図は、本発明の実施例に於ゆる層領域Q中の酸
素原子の分布濃度を示す説明図である。 ZGo ・・・光導電部材 101 ・・・支持体 1(12・・・第一の非晶質層(1) 103−・・第一の層領域向 104 ・・・第二の層領域(2) 10B ・・・層領域 1011 ・・・第二の非晶質層(2)ト −一一一−C C 第1頁の続き 0発 明 者 大里陽− 東京都大田区下丸子3丁目(資)番 2号キャノン株式会社内 0発 明 者 三角輝男 東京都大田区下丸子3丁目(資)番 2号キャノン株式会社内
Claims (1)
- (1) 光導電部材用の支持体と、シリコン原子を母
体とする非晶質材料で構成され、光導電性を示す第一の
非晶質層とシリコン鳳tと一11=llIII&一原子
とを含む非 晶質材料で構成され九第二〇非晶質層とを有し、前記第
一の非晶質層かミ構成原子として、層厚方向に不均一で
連続的な分布状態で酸素原子が含有されている第一0層
領域と、構成原子として、層厚方向に連続的な分布状態
で周期律表亀厘族に属する原子が含有され、前記第一の
非晶質層の11面下に内在している第二0層領域とを有
する事を特徴とする光導電部材。 (劾 第二の層領域が尾−の非晶質層の金層領域を占め
ている特許−求の鳴Il嬉11[K記載の光導電部材。 (−周期律II嬉厘族に属する原子の分布状態が層厚方
向に均一である特許請求の範囲111項に記載の光導電
部材。 14J 酸素原子が支持体側の方に多く分布している
特許請求の範■嬉1項に記載の光導電部材0
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57036919A JPS58153942A (ja) | 1982-03-08 | 1982-03-08 | 電子写真用光導電部材 |
DE19833308165 DE3308165A1 (de) | 1982-03-08 | 1983-03-08 | Fotoleitfaehiges aufzeichnungselement |
US06/473,278 US4501807A (en) | 1982-03-08 | 1983-03-08 | Photoconductive member having an amorphous silicon layer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57036919A JPS58153942A (ja) | 1982-03-08 | 1982-03-08 | 電子写真用光導電部材 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58153942A true JPS58153942A (ja) | 1983-09-13 |
JPH0219947B2 JPH0219947B2 (ja) | 1990-05-07 |
Family
ID=12483166
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57036919A Granted JPS58153942A (ja) | 1982-03-08 | 1982-03-08 | 電子写真用光導電部材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58153942A (ja) |
-
1982
- 1982-03-08 JP JP57036919A patent/JPS58153942A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0219947B2 (ja) | 1990-05-07 |
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