JPS5814614B2 - アンプル等の異物検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はアンプル等容器中の異物検査装置に関する。

従来より、この種の装置として、アンプル等容器の下方
から光を照射し容器中の異物による反射光をテレビカメ
ラで撮影しその映像信号中のハライト部分を異物による
反射光とみなしてこのハイライト部分を信号比較判定回
路で判別する方式のものがあった。

しかし、この従来装置では容器中の異物による反射光と
容器表面のわずかな汚れによる反射光とを信号波形から
判別することができず、良品を不良品と誤って判別する
欠点があった。

本発明者らは、種々研究の結果、異物信号の場合と容器
表面の汚れによる信号の場合とでは信号波形の立ち上り
時間に差異のあることを突き止めた。

そこで、汚れ信号と異物信号とを区別する方法として、
テレビカメラの映像信号を低周波除去フィルタに通すこ
とを試みたが、汚れの映像信号に含まれている高周波ノ
イズがあるために明確な区別をすることができなかった
。

さらに、高周波ノイズの影響を受けない方法を研究した
結果、本発明を完成するに至った。

本発明の構成は、アンプル等の容器、充填液ともに透明
な被検査物品に所定方向例えば下方から自然光又は光源
による光を照射する照射手段と、照射光の方向に対し所
定の角度をもつ方向例えば側方に配設されたテレビカメ
ラ、光電変換素子等の光検知手段と、被検査物品をコン
ベア上に配列して一定速度で光検知手段の前方を通過さ
せる等の移動手段と、上記光検知手段への入射光の強さ
の立ち上り時間の大小を所定の設定値と対比して弁別す
る電子回路手段とを備え、被検査物品と光検知手段とが
相対的に近づき近接したのち遠ざかってゆくとき、光検
知手段への反射光の強さの立ち上り時間が所定値よりも
小さいときに異物信号として検出信号を出力するように
成っている。

第１図に上記構成における光検知手段の出力電気信号の
時間関係図を示し、左側に異物による反射光の信号を、
右側に汚れによる反射光の信号を示す。

両者を弁別するため、ノイズレベルよりも充分に高いレ
ベルに高感度比較電位■１が設定され、上記電位Ｖ１よ
りも高いレベルに低感度比較電位■２が設定される。

立ち上り時間ｔの弁別は、例えば、信号電位が設定電位
Ｖ１よりも高く、かつ設定電位ｖ２よりも低いときに出
力される信号であって信号が立ち上り時のものを出力さ
せ、この信号の出力時間ｔを立ち上り時間として取扱い
、予め設定された所定時間ｔｓと対比して立ち上り時間
ｔが所定時間ｔｓよりも小さいときに異物検出信号が発
せられる。

上記機能を果たす電子回路が種々な回路構成により達成
しうろことは当業者により容易に理解されるであろう。

次に本発明の実施例を、光検知手段としてテレビカメラ
を用い反射光の立ち上り時間により異物を判別する方式
のものについて説明する。

第２図はその実施例の回路ブロック図であり、第３図は
作用を説明する時間関係図である。

図において、ブロック１は高感度信号比較回路であって
、設定電位■１より高くなったとき出力Ｂを発する。

ブロック２は低感度信号比較回路であって、設定電位■
２よりも高くなったとき出力Ｄを発する。

上記比較回路は例えばシュミット回路により実施するこ
とができる。

ブロック３はタイマー回路であって、入力端に信号が入
力されたのち所定時間ｔｓだけ出力信号Ｃを発する。

なおこの設定時間ｔｓは調整することができる。

ブロック４は不良アンプル除去装置であって、ＡＮＤゲ
ート回路５の出力信号Ｅによりコンベア上の当該アンプ
ルを除去する。

上記の構成において、第３図Ａ１で示すように異物によ
る反射光がテレビカメラの映像信号としてとらえられた
場合には、タイマー回路３の出力Ｃと低感度信号比較回
路２の出力Ｄとが一部時間的に重なり、従ってＡＮＤゲ
ート回路５の出力信号Ｅが異物検出信号を発する。

しかし、第３図Ａ２で示すように、汚れによる反射光の
場合にはタイマー回路３の出力信号Ｃが終ったのちに低
感度信号比較回路２が出力するのでＡ ＮＤゲート回路
５は出力信号を発しない。

なお、異物による反射光と容器表面の汚れによる反射光
を判別する他の方法として、異物が小さい場合には反射
光の入射時間の大小の弁別によって判別することもでき
る。

この場合には、例えば電位■１を閾値とするシュミット
回路を設けこの出力時間Ｔを入射時間として取扱い、予
め設定された所定時間Ｔｓのタイマー出力と比較し、或
いはカウンタ等にて計測して入射時間Ｔが所定時間Ｔｓ
よりも小さいときに異物検出信号を発するよう構成すれ
ばよい。

以上説明したように、本発明によれば良品を不良品と誤
ることなく異物を含む不良アンプルを的確に判別するこ
とができた。

また、第２図に示した実施例により極めて簡単な構成で
本発明を実施することができた。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理を説明する時間関係図である。 第２図は本発明の一実施例の回路ブロック図であり、第
３図はその作用を説明する時間関係図である。 １・・・・・・高感度信号比較回路、２・・・・・・低
感度信号比較回路、３・・・・・・タイマー回路、４・
・・・・・不良アンプル除去装置、５・・・・・・ＡＮ
Ｄゲート回路、Ａ１・・・・・・異物による反射光信号
例、Ａ２・・・・・・汚れによる反射光信号例。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ アンプル等の被検査物品に所定方向から光を照射す
   る照射手段と、上記照射光の所定方向に対し所定の角度
   をもつ方向に配設された光検知手段と、上記被検査物品
   と上記光検知手段とを相対的に移動させる手段と、上記
   光検知手段への入射光の立ち上り時間の大小を弁別する
   電子回路手段とを有し、上記照射手段からの光を照射さ
   れた被検物と上記光検知手段を相対的に移動させている
   状態での上記入射光の立ち上り時間が所定値よりも小な
   るときに異物検出信号を発するよう構成されたアンプル
   等の異物検査装置。 ２ 特許請求の範囲第１項記載の電子回路手段が上記光
   検知手段への入射光の強さが第１のレベルであること及
   び上記第１のレベルよりも高い第２のレベルであること
   を検出する回路と、上記第１のレベル検出信号により所
   定時間動作を開始するタイマー回路とを有し、上記所定
   時間中に上記第２レベルの検出信号が発せられたときに
   異物検出信号を発するよう構成された特許請求の範囲第
   １項記載のアンプル等の異物検査装置。