JPS58132632A - カラ−モニタ−用電気光学システム - Google Patents

カラ−モニタ−用電気光学システム

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JPS58132632A
JPS58132632A JP57207456A JP20745682A JPS58132632A JP S58132632 A JPS58132632 A JP S58132632A JP 57207456 A JP57207456 A JP 57207456A JP 20745682 A JP20745682 A JP 20745682A JP S58132632 A JPS58132632 A JP S58132632A
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sample
color
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optical
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JP57207456A
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スタンリイ・ジエイ・キシユナ−
ア−ネスト・デイ・パ−ク
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Kollmorgen Technologies Corp
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    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34Sorting according to other particular properties
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    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
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    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J2003/2866Markers; Calibrating of scan

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は色認識装置、そして特に製造物に用いられる
色コード分類、又は製造物の受は入れ可否に関する色分
けを識別することができるようにした色監視システム(
カラーモニターシステム)に関するものである。
多くの工業製品は塗装、染色もしくはその他の着色技術
により製造工程の一部として意図的に色彩を付されるこ
とが多い。たとえば織物工業、塗料、インキ、製紙及び
プラスチック工業などがこれに当たる。これらの工業に
おいて最終製品の色彩の正確な測定は、適正な品質制御
のために必要なことである。この色彩測定のために用い
られる測定装置としては通常三刺激比色計又は分光光度
計がある。三刺激比色計はこれがサンプルの色測定に用
いられる場合にはそのサンプルの三刺激値を直接測定す
るものである。これらの三刺激値は互いに組み合わされ
たとき評価中のサンプルの色彩を発生するのに必要な赤
、青及び緑からなる光の三原色の量に対応する。
一方、分光光度計はサンプルの色彩測定に用いる場合、
サンプルに照射された光のスペクトル反射率又は透過率
を測定し、このスペクトルデータからサンプルに関する
三刺激値を演算するものである。多くの分光光度計は可
視スペクトルを通る少なくとも16の不連続なスペクト
ル帯域において反射率又は透過率を測定するように簡略
化されている。
その他の工業においても製品の色彩を監視することは種
々の仕方において有用に実施されているが、目視判断の
ような正確な色彩測定が要求されるものではない。たと
えば、色監視は製品の品質又は軒容性の指標として用い
られる。
たとえば、果実及び野菜の色彩は鮮度と陳列場所におけ
る美観とを判断するのに用いられる。
色コードを使用する場合、色彩はアイテムC項目)認識
手段としても用いられる。たとえば、電気ハーネス中に
用いられるワイヤーは一般的に色コード分類されること
により、そのハーネスの製造又は修理を容易にするもの
である0このようなハーネスにおいては、ワイヤーが正
確な基準で配置されていることを確認するために自動的
な検査を要する場合がある。その他の工業分野において
は製品の種々の部分が鳥それらの自然色又は着色コード
マークの分類及び仕分けを必要とする場合がある。たと
えば製薬もしくは調剤段階での丸薬又はカプセルは、そ
れらの色彩により速やかに識別できるようにすることが
多い。商業的な印刷においては、カラー印刷の品質を監
視及び制御するためにプロセス毎のカラーインキの反射
性能を測定することが要求される。
これらの分類及び品質認否機能については比色計及び分
光光度計の測定精度が特に要求されるものではなく、シ
たがってこのような測定装置についての大きな設備コス
トは承認されない。
そのため、このような分類及び認否機能を達成するため
のより単純な手段が必要とされる。
本発明の基本目的は製品の色彩によりそれを分類し、又
はその品質を判断するために、その製品の製造工程の補
助工程としてそれらの色彩がある基準色に関する許容範
囲に属するか否かを判断するための単純で廉価なシステ
ムを提供することである。本発明の別の目的は、色コー
ド分類に用いられた色彩の識別又は製品の品質の合否を
決する色彩の識別を可能にする色監視システムを提供す
ることである。本発明のさらに別の目的は高速で安定性
よく色彩を識別するための信頼性ある色監視システムを
提供することである。
本発明は多数のスペクトル帯域において固体又は液体サ
ンプルの反射率又は透過率を前行測定すべく用いられる
電気光学的色監視システムを構成するものである。本発
明はサンプルに触れるこさなく、また周囲の光線に干渉
されることなく急速に移動する着色サンプルを一間的に
測定し得るものである。この測定はサンプルの色彩に関
するものであり、したがって自動的な色監視のために用
いられる。本発明の利益は色彩の自動的監視を可能にし
、かつ単純な形状及び構造を可能にするような構成と高
速性にある0本発明の構造は三刺激比色計や分光光度計
のような色測定システムにおいて用いられるものよりも
単純である。
本発明によれば、パルス型フラッシュ管がテストされる
べき製品サンプルの照射光源として用いられる。サンプ
ルから反射した光は集光されてから多数の分岐路(並列
光学系)に分割されて対応する数の異なったスペクトル
帯域における反射光の強度を並行測定できるようになっ
ている。これらの帯域は色認識システムの適用に従って
選択される。これは測定中のある色彩に対するシステム
応答を最適化するようなカラースペクトル領域にそれら
が選択されるべきことを意味する。
本発明はさらに光源の強度及びスペクトル出力の変動を
補償するために参照される完全な光源を用いた同時補償
システムを提供するものである。この光源のビームの一
部はビームスプリツタにより分割されてから、光源の強
度レベルを多数のスペクトル帯域において測定すべく用
いられる光源参照光学系により集光される。そしてここ
に言う多数のスペクトル帯域とは、サンプルから反射さ
れた光の強度を測定するのに用いられるスペクトル帯域
と同じか、又は近似したものである。参照システムにお
いて用いられる各スペクトル帯域はその帯域幅がサンプ
ルシステムにおいて用いられた対応する帯域幅に等しい
か、又はそれより広いものであり、したがってサンプル
システムにおける各帯域は参照システムにおける対応す
る帯域の範囲内に含まれるものである。かくして光源参
照光学系において用いられたスペクトル帯域数はサンプ
ル反射率測定用光学系におけるスペクトル帯域数に等し
いものである。本発明の好ましい実施例においてはシス
テム構成に基づく動作モードに応じて3又は4のスペク
トル帯域が用いられ、これによりサンプルからの反射光
強度及び光源ビームから分割された光の強度が測定され
る。
本発明のカラーモニターにおいて、システムは色分類モ
ード及び認否モードを含む色測定に関する多数のモード
において動作することができる。
分類モードにおいては、テストされた製品サンプルは色
彩により分類される。このシステムはまずテストされる
べき製品の1又t/i、2以上の光学基準サンプルを測
定可能な状態とすることにより開始される。これらの基
準測定値は後にテスト中のサンプルと比較するために記
憶される。したがって測定された各基準サンプルは3組
の基準(三ツ子基準)と称する3組の反射率の記憶値に
より特徴づけられるものである。この3組の基準に対し
、ある与えられたテスト中サンプルについての3組の反
射率の現在値は、3組のサンプル反射率と称され、この
サンプルの色彩を判定すべく比較される。
認否モード(振るい分はモード)の場合は、テスト中サ
ンプルに用いられた多数の色彩の許容性が測定される。
この場合も分類モードにおけると同様、システムは基準
カラーサンプルを測定することにより開始される。しか
しながらオペレーションの標準モードにおいて、基準値
及びそれらの許容範囲は各基準色の反射率に関し、手操
作でシステム中に入れられ、各基準色について単一の基
準値が設けられることになる。
テスト中サンプルからの反射を測定するためのシステム
分岐の各々は、監視されるべき特定の色彩に振り当てら
れる。テスト中サンプルから各分岐路により測定された
反射率の値はここで記憶された単一の基準値と比較され
、その測定値が記憶された基準値の許容範囲に含まれる
か否かを判断される。
したがって本発明によれば与えられたサンプルの特定の
色彩を実際に測定する必要はない。
すなわち色彩に関する判断はサンプルから得られた反射
率の測定値が基準サンプルを監視することにより、同−
計器内で得られた基準値の記憶された組から所定のずれ
(許容範囲)に納まっているか否かについて行なわれる
ものである。
判断はまた、振るい分はモードに限り手操作人力(マニ
ュアル)を介して行なわれる。したがって計器の個性に
よる測定値変動効果が回避される。システムはまた、サ
ンプルの色彩が受は入れ可能であるか、すなわち期待さ
れる色彩と同じであるか否かを迅速かつ単純に判断する
ことができる。これらの効果により本発明は色彩本発明
の全体の線図は第1図に示されている0パルス型キセノ
ンフラツシユ管(1)は光源として用いられ′る。その
他の光源手段も用いることができるが、ここではパルス
型キセノンフラッシュ管が望ましい。フラッシュ管のオ
ペレーションは、電源(3)により駆動されるトリガー
回路(2)によって開始されるoフラッシュ管(1)か
らの光はレンズ(4)により照明用光学繊維束(5)の
先端に収束される。このレンズ(4)又は等測的なレン
ズ列は、フラッシュ管+11のアークを照明用光学繊維
束(6)の先端に正確な倍率で結像するように選択され
る。
照明用光学繊維束(5)から出射した光はレンズ(6)
又は等価的な光学系により、テストされるべきサンプル
(7)上に投射される。サンプル(7)に入射する光は
典型的には法線に対し約45°の角度を有するが、本発
明の実施はこの角度に限られるものではない。サンプル
から反射された光はレンズ(8)又は等価的な光学系に
より集光され、集光用光学繊維束(9)上に収束される
。この繊維束は多数の光学繊維光jイドからなり、数本
の分岐路に分割される。
本発明の好ましい実施例においては3又は4本の分岐路
が揮用されるが、これはシステムの動作モードによるも
のである。第1図は色分類モードのために用いられる3
分岐路(+o) 、(II)及び(1乃が示されており
、各分岐路は複数の光学繊維光ガイドのサブセットを含
んでいる。このような複数分岐路の使用は、与えられた
サンプルから反射された光の強度の多数の異なったスペ
クトル帯域における並列測定を可能にするものである。
光学繊維束(9)の分岐路1101s (o)及び(1
2)から出射した光は、対応する光学フィルタ0濁、α
蜀及び0均を透過する。これらのフィルタは典型的には
着色ガラス島ゼラチンもしくはプラスチック又は多層干
渉フーティングからなり、利用目的に従って選択される
。濾波された光は対応するフォト検出器H1(+7)及
びQ81により検出される。
これらの検出器は典型的にはシリコンフォトダイオード
からなるものである。次に各フォト検出器は対応するフ
ィルタにより限定されるスペクトル領域において一サン
プルの反射率に比例した信号を測定する。フォト検出器
(ILQη及び(181はアナログ電子回路翰にワイヤ
ー接続されている。この電子回路−の各チャネルはフォ
ト検出器oa、o乃又は0四に対応して1増幅器1積分
器及びアナログ−ディジタル変換器を含んでいる。
したがって各チャネルについて、その関連するフィルタ
により限定されたスペクトル領域において測定された光
量に対応するディジタル指示が、各光パルス毎に提供さ
れる。
フォト検出器θ四、0η及びα四において発生した信号
電流はパルス毎に変化し得るフラッシュ管+11の出力
強度に比例するものである。これらの変動を補償するた
めに、フラッシュ管+1)の出力強度は典型的には顕微
鏡カバーガラスの薄片からなるビームスプリッタ翰を介
して照明ビームの小部分(8%)を各パルス毎に分取測
定されるようになっている。
分取された出力ビーム部分は参照用光学繊維束(21)
により集光される。その繊維束シυは3個の分岐路−、
卸及び(財)に分割される。分岐路−、聞及びシ蜀全通
る光は光学フィルタ輛、翰及び罰により濾波され、参照
用フォト検出器(28,翰及び−により検出される。フ
ィルタ(社)、(イ)及び(転)はテスト中サンプルか
ら反射した光を濾波するためのフィルタ+11、H及び
a均と同じか、又は近似したものである。フォト検出器
@+9、翰及び−はアナログ電子回路部の対応する各チ
ャネルに接続されており、各チャネルはまた増幅器、積
分器及びアナログディジタル変換器を有することにより
各チャネル毎にディジタル指示を発生するもので、ある
サンプル反射及び照明参照チャネルから得られたディジ
タルデータは、マイクロコンピュータ■、口1)に転送
され、ここで色分類及び振るい分けなどの種々の動作モ
ードのために必要な全システム制御及び演算が実行され
る。マイクロコンピュータ(31)は標準的な一般に入
手可能な型のものである。色分類機能の場合、システム
はまず基準サンプルからの反射を測定することにより開
始される。これらの基準測定値は記憶され、後に比較目
的で用いられる。振るい分はモードの場合、システムの
開始は分類モードと同様であ冬が、使用される基準測定
値は概して手操作で入れられる。
第2図ないし第5図はマイクロコンピュータ(31)が
分類及び振るい分け(合否判定〕モードを実施すべくプ
ログラムされた2つの機能のフロー・チャートを例示す
るものである。
if第2図及び第3図はこのカラーモニターシステムの
色分類モードのフローチャートを示している。各基準色
は第1の照明パルスに応答する第1図の光学繊維束(2
幻の3分岐を経て光源強度測定値−句を取り出し1第1
図の光学繊維束(9)の金玉分岐を介して基準サンプル
の反射率強度測定値←l)を取り出し、さらに測定値(
41)を測定値−で割ることにより標準化測定値(6)
を演算して記憶された3組の基準−を得ることで特徴づ
けられる。サンプルは次にカラーにより分類される。こ
れは後に発生した照明パルスについて第1図の光学繊維
束(21)の三分岐を介して第2の光源強度測定値←慟
を取り出し、第1図の光学繊維束(9)の三分岐を介し
てテストサンプル反射強度測定値(伺を取り出し、測定
値−を測定値1441で割ることにより標準化測定値顛
を演算し、さらに比較14ηを通じて測定値−が記憶さ
れた3組の基準(43に関するあるずれの範囲内に納ま
っているかどうかを判断することにより、結局テスト中
の製品サンプルが、記憶された3組の基準(擾によって
表わされた色彩であるか否かを判断することからなって
いる。ステップ■及びそれに連なるステップはテストさ
れるべき各製品サンプル毎に繰り返される。
第2図及び第3図のフローチャートは単一色のための単
一の記憶された三ツ子基準の使用を示している。本発明
によれば別の一色を表わす各三ツ子値とともにいくつか
の同様に記憶された三ツ子基準を用いることが可能であ
る0付加的な三ツ子基準が獲得される場合、判定−はシ
ステムの条件付けが完了するまで1ノー”出口に導かれ
る。
第4図及び第5図はカラーモニターシステム−の振るい
分はモードのフローチャートを示すものである。ここに
各色彩は記憶された単一の基準値−によって特徴づけら
れる。この基準値−は標準動作モードにおいて手操作で
入れられた問ものである。用いられた種々の色彩のため
の値はシステムの実行に先立って得られた経験から導か
れたものである。1条件付け″(トレーニング)が用い
られるべき場合には基準値−は最初の照射パルスにつき
第1図の光学繊維束@l)の単一の分岐を介して光源強
度測定値−を取り出し、第1図の光学繊維束(9)の単
一の分岐路を介して基準サンプル反射強度測定値II)
を取り出し、さらに測定値allを測定値−で割ること
により、標準化測定値(転)を演算することから獲得さ
れる。テスト中のサンプルの色彩は、後の照射パルスに
つき第1図の光学繊維束シl)における単一の分岐を介
して第2の光源強度測定値−を取り出し、第111の光
学繊維束(9)における単一の分岐を介してテストサン
プル反射強度測定値■を取り出し、測定値@を測定値−
によって割ることにより標準化測定値−を演算し、さら
にこの標準化測定値−がストアされた単一の基準値脇の
ある許容範囲内に含まれるか否かを判断する比較171
を行い、かくしてテスト中サンプルの色彩が合否いずれ
かを判断することからなるテスト処理を行なわれる。
第4図及び第5図は反射率測定システムの単一の分岐す
なわち、単一色についての振るい分はモードを記述した
ものであるが、標準オペレーションにおいてはこの手続
は3個の付加的な色彩についての他の3つのシステム分
岐の各々に拡張されるであろう。したがって振るい分は
モードの全国分岐システムは4色を測定することができ
る。このような配列は商業的な印刷におけるプロセスカ
ラーインキを監視するために用いることができる。藍、
深紅、黄及び黒のプロセスインキの監視は基準値及びそ
れらの許容範囲を手操作で入れることにより、各カラー
インキを特徴づけることからなっている。光学フィルタ
0濁、Q4)及びθ荀、並びに第1図には示されていな
い第4図のフィルタのスペクトル応答がここで各色彩の
変化に対するシステムの感受性を1最適化するように選
択される。付加的な光源参照分岐は付加的な反射率測定
分岐を補償すべく用いることができる。
ある種の応用において1本発明はハードウェアからなる
ディジタル論理回路又はアナログ回路を用いることによ
り、必要な演箆を実施するように具体化することができ
る。このような変形例はその応用分野においてマイクロ
コンピュータ(:11)を不要にするものである。
テストされるべきサンプルに光を照射し、又はそのサン
プルからの反射光を集めるための光学系、並びにそのサ
ンプルに最も近い光学繊維束(5)及び(9)の先端は
光学ヘッド國からなるサブシステム中に包囲される。光
学ヘッド(32は典型的にはサンプルに近接配置した小
型の輪郭を有するものである。このように光学ヘッド(
32のサイズが小さく、又、光学繊維束(6)及び(9
)が常套的に可撓性を有するものであるため、その光学
ヘッド02を支持する態様には大きな自由度が得られる
。ある種の応用例では光学ヘッド国は着色されたサンプ
ルの位置を設定し、もしくはサンプルの色彩の干渉性を
監視するためにある範囲を横切って繰り返し移動走査で
きるようになっている。又、他の応用例において光学ヘ
ッドの諸要素の幾何学配置は透過率、光沢、又は他の光
学的特性を測定するために変化させられる。
システムの残りはコンソール峙に包囲される。
コンソール(ハ)はシステムと人間(オペレータ)S又
はシステムと併用される何らかの自動化設備との間のイ
ンターフェースを形成するものである。人間のインター
フェースの場合、パネル収容制御スイッチ及び出力ディ
スプレー装置を用いることができる。他方、機械インタ
ーフェースにおいて典型的にデジタル通信電気ケーブル
のみが要求される。
印刷及び包装工業で用いられるカラーモニターシステム
の振るい分はモードの場合、光学ヘッドの2及びコンソ
ール瞥は単一のパッケージ内に組み入れられる。ここに
フラッシュ管(1)はサンプル(7)に近接して配置さ
れ、光学繊維束(6)は光学的効率を最大化すべく省略
することができる。この場合、レンズ(4)及び(6)
は1個だけに対して、M橡fサンプル(7)はパルスキ
セノンフラッシュ管(1)のアーク像により直接照射さ
れる。
カラーモニターシステムのその他の具体例はその使用分
野に応じてサンプル反射率及び照明参照用光学繊維束を
3又は4本以外の分岐数において用いることができる。
たとえばある種の佐野においては2個のスペクトル測定
のみが要求され、その反射率の比が分類又は振るい分け
において用いられるキーバラメータとなる0
【図面の簡単な説明】
第1図はカラーモニターシステム全体の構成線図、第2
図及び第3図はマイクロプロ七゛ンサ賄)が分類機能を
実行するためのステップフローチャート、第4図及び第
5図はマイクロプロセッサの1)が反射率光学系の単一
分岐について振るい分は機能を実行する場合のステップ
フローチャートである。 (1)・・・・・・・・・・・・パルス型キセノンフラ
ッシュ管(5)、(9)、シ1)・・・・・・光学繊維
束(7)@・・・・◆・・・・・・サンプル0■、Hl
(+5)・・・・・・光学フィルタ0句、0本081・
・・・・・フォト検出器(ホ)・・・・拳優・・・・・
噂・ビームスプリッタ(ロ)、 @、+2カ・・・・・
・・光学フィルタX、C21,HIQ)Φ・・・・・フ
ォト検出器f)許出願人    コルモーゲン テクノ
ロジイズフーボレイション 代  理  人   新  実  健  部(外1名ン ストア七−ト FIG、3 を忍4を一ド (−色の7:/)リー々硅1Lイ′しく1可るりF I
 G 、4 FlcI−,4\ 手続補正書 l、事件の表示 昭和57年特許願第20’7456号
2、発明の名称  カラーモニター用電気光学システム
3、補正をする者 事イ′1との関係  特許出願人 氏 名(名 称)   コルモーゲン テクノロジイヌ
° コーボレイション4、代理人    〒604 6、補正により増加する発明の数 7、補正の対象  明細−全文 8、補正の内容 +11  明細書の浄1゜(内容に変更なし)9 添附
書類の目録 手続補正書 昭和58年1月31日 2・発明の名称 カラーモニター用電気光学システム3
6補正をする者 事件との関係  特許出願人 4、代理人    〒604 6、補正により増加する発明の数 7、補正の対象  明細書、特許請求の範囲の欄8、補
正の内容 (1)明1IIA@、特許請求の範囲の項を別紙の通り
補正する。 □□−□□□1−−□i□□や□ L 特許請求の範囲 (1)(#)サンプルKI#射する丸めの照明手段と、
(b)  複数のスペクトル帯域Kkいて前記照明手段
から出射され九党の曽度t#I定して照明の測定値を得
るための照明参mm定システムと、(C)  豪敏のス
ペタシル帯域において前記サンプルより反射され九党の
強度を測定して反射半画定値を得るためのシステムてあ
りて、前記複数のスペクトル5m1t前記反射光tm定
すべく用いられる1紀スペクトル帯域の数に等しい敵の
側紀出射光をj1廟する九めに用いられるようにし友す
ンプル反射亭画定システム、及び (d)  Ml紀照明一定値で前記反射率測定値會側る
ことにより前記反射率測定値を標準化するとともに#紀
標準化され九反射亭測定値[1又は2以上の記憶され九
基準一定値と比較する丸めの演算手段 メl′ 偉) 前記照明平膜かパルス[7ラツシユ管であること
を特徴とする特許請求の範囲第illl起稿のシステム
。 fil  1111記麺明畠−1定システムか−(#)
前記出射光の−sks光するための第1の光学システム
と、 (&I)か1紀出射光の前記部分t tPJ記懐政のス
ペクトル#域で■鮫するためのWsIのフィルタシステ
ム、及び (c)  aIil記第1のフィルタシステムにより一
波され喪前記出射光の1紀部分を複数の第l電気信号に
変換するためのl!lの光電システムからなるととt−
aIII像とする特許請求の範囲第(1)項記載のシス
テム。 ;4)前記サンプル反射率測定システムが(#)前記反
射光を集光する友めの第2の光学システムと、 (b)  前記第2の光字システムにより集光され九削
紀反射党を鈎紀Il数のスペクトル帯域で濾波する丸め
の第2のフィルタシステム、及び(C)  1liJ配
第2のフィルタシステムによ多−波された罰紀反射光t
−ll1数の第2%篤信号に変換するための第2の光電
システム からなることに特徴とする特許請求の範茜第+11項記
板のシステム。 fil  前記演算手段か電子装置であることを特徴と
する特許請求のaim第il+項記載のシステム。 till  sil記3$1の光字システムがビームス
プリッタtaむものであるこ、!:に特徴とする特許請
求の旬−s (sr積紀職のシステム。 (7)前記第l及び第3のフィルタシステムの各々が麹
数のスペクトル帯域を含むものであること1r特黴とす
る特許請求の範囲第ts+ *又は第(4)項−記載の
システム。 (8)  前記第1のフィルタシステムによシ変換され
九儒数のスペクトル帯域か前記第2のフィルタシステム
によシ変換され九飯象のスペクトル帯域を含むものであ
ることt特徴とする特許請求の範囲第+71 II紀龜
のシステム。 (9)演算手段か!イク鑓プロセッサであるζトを特徴
とする特許請求の範囲第(1)項記載のシステム0 0I11  前記開明手段か光学am東を含むものであ
ること′に特徴とする特許請求の幅−第(1)項記載の
システム0 0υ(#)パルス[7ラツシユ雷を含むナンプル照射用
照明手役と、 (b)  削紀パルス#M7ラツシエ賃から出射され良
光パルスta定することによシ照明装置測定値に4る九
めの照明一定システムであって、1) 前記光パルスの
一部を分取する喪めのビームスプリッタと、 2〕 嗣紀光パルスの前記部分1集党するための第lの
光学MM束と、 3)  ill妃党パルスの前記部分′kTslの複数
のスペクトル帯域において一波するための第1フィルタ
手段であって、前記第1光学纏#束によシ嗣紀光パルス
の前記部分′gr導かれるようにした鳴の、及び 4)  rtlJffi* 174 kfi シス?A
Kj ’) ml&すれ友罰記党パルスの前記部分子:
l又#−12以上の第lの電気信号に変換する九めのj
11九電システム を含む一4紀照明幽定システムと1 (C)  サンプルからの反射光′kII!1定するこ
とにより反射強直一定値を得る九めの反射率測定システ
ムであって、 x)M+rm反射光【集光及び収束するための第1の元
竿システムと、 2)=紀第lの光字システムにより別記収束された反射
光か照射される端11[i′に有する第2の光字纏緻束
と、 3) 薊記党字−維束により4かれ九前記反射光t−第
2の被数のスペクトル帯域において一波するための第2
のフィルタシステム−及び 4) 前記弗雪0フィルタシステムにより一波され九割
記反射元t−IXは2以上の第2璽(−)前記IIIの
電気信号で一ノ記塾2の電気41号rimることによシ
11記第2のw1気傷号を標準化するとともに、前記*
*化され次第20電気偲号f:1又框2以上の記憶され
九基準偵吟と比較する丸めの演算手段 l (l擾 罰記塾1fj伽赦のスペクトル帯域及び^11
紀第2の嶺赦のスペクトル帯域がX敏であることをw徽
とする特許請求の範11点)項記紙のシステムO al  躬&!*iの伽歌のスペク・トル帯域の各青か
、罰記第2の値数のスペクトル帯域の対応する各1つt
包含するものであるととkl#黴とする特1fFall
求の範聞第端項記板のシステム。 1141(#)  サンプルを照明する丸めのパルス型
フラッシュ蕾と、 (b)  舊赦のスペクトル帯域において前記パルス揚
フラッシュ雪から発せられたパルスの強度tIm定する
ために第1の光学システムと、第1のフィルタシステム
、及びjllの光電システムを巣−した腺明測足システ
ムと、 (c)  サンプルから反射され九党の強度t11赦の
スペクトル帯域において測定する九めKjllの光字シ
ステムと、第2のフィルタシステム、及び第20元亀シ
ステムt″臭備した反射率測定システム、及び (dt  eq妃弗lの光電システムか尭し次第1の信
号で、lIJ記第20光亀システムか発した!il!の
信号に剣ることによシ411準化された第2の信号t−
取り出し、この標準化された第2信号tl又は2以上の
記憶された基準信号と比較するための演算手段、 を備えたことを特徴とする被験サンプルの色彩/&♂ 拳@ 1紀ill及び182の光字システムの各々か、
複数の分岐路を有し、この各光字システムの各々にお轄
る複数の分IHwIか同数であること【特徴とする特許
請求の軛闘第HJJ lk4載のシステムθI  #1
記wi1及び第2のフィルタシステムの各々か複数の光
学フィルタを有し、各光学フィルタは輿なりたスペクト
ル帯域に対応して別記liI優分統路の1つから出た光
をllIMする−のであることを特徴とする特許請求の
asma@項記板のミ・ステム。 轄 前記**手段かマイクνプレセツナであることt特
徴とする特許請求の範囲第O嬌墳紀叡のシステム。 鵠(#)  光源より基準サンプルt!に4射し、(b
)1紀光諒からの光強[を複数のスペクトル帯域におい
て一定し穐 (c)  613記サンプルからの反射光w良を値数の
スペタト#帯域において#1足し、 (d)  前記サンプルからの反射光の4111KII
I定値を前記光−からの光強度のdiS記測定値で餉る
ことによ多標準化して基準油定値に獲得し、(e)  
前記基準一定値を記憶し、さらに(f)  被験サンプ
ルから得られた標準化反射率測定値を1又は2以上の記
憶された基準油定値と比較する 緒段階からなることを特徴とするすンプルに関手続補正
書c方式) 昭和58年3 月l1日 1、事件の表示  昭和57年特許願第20’7456
号2、N明の名称   カラーモニター用電気光学シヌ
テム3、補正をする者 事(’lとの関係   特許出願人 氏名(名称’)   コルモーゲン テクノロジイヌ°
 コーボレイション4、代理人    〒604 6、補正により増加する発明の数 7、補正の対象 図面、第2図及び第4図8、補正の内
容   ゛ 11)図面、第2図及び第4図を別紙の通り補正する。 9 添附−)類の目録

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 ill (a)  サンプルに照射するための照明手段
    と、(b)  複数のスペクトル帯域において前記照明
    手段から出射された光の強度を測定して照明の測定値を
    得るための照明参照測定システムと、(C)  複&の
    スペクトル帯域において前記サンプルより反射された光
    の強度を測定して反射率測定値を得るためのシステムで
    あって1前記複数のスペクトル帯域は前記反射光を測定
    すべく用いられる前記スペクトル帯域の数に等しい数の
    前記出射光を測定するために用いられるようにしたサン
    プル反射率測定システム、及び (d)  前記照明測定値で前記反射率測定値を割るこ
    とにより前記反射率測定値を標準化するとともに前記標
    準化された反射率測定値をl又は2以上の記憶された基
    準測定値と比較する    −ための演算手段 を備えたことを特徴とする被験サンプルの色彩に関する
    判断を行なうためのカラー認識システム0 (2)  前記照明手段がパルス型フラッシュ管である
    ことを特徴とする特許請求の範囲第+11項記載のシス
    テム。 (3)  前記照明参照測定システムが1(a)前記出
    射光の一部を集光するための第1の  −光学システム
    と、 (b)  前記出射光の前記部分を前記複数のスペクト
    ル帯域で濾波するための第1のフィルタシステム、及び (c)  KQ記第1のフィルタシステムにより浦波す
    れた前記出射光の前記部分を複数の第1電気信号に変換
    するための第1の光電システムからなることを特徴とす
    る特許請求の範囲第+11項記載のシステム。 (4)  前記サンプル反射率測定システムが(a) 
     前記反射光を集光するための第2の光学システムと、 (b)  前記第2の光学システムにより集光された前
    記反射光を前記複数のスペクトル帯域で濾波するための
    第2のフィルタシステム、及び(c)前記第2のフィル
    タシステムにより濾波された前記反射光を複数の第2電
    気信号に変換するための第2の光電システム からなることを特徴とする特許請求の範囲第(11項記
    載のシステム。 (5)  前記演算手段が電子装置であることを特徴と
    する特許請求の範囲第i11項記載のシステム。 (6)  前記第1の光学システムがビームスプリッタ
    を含むものであることを特徴とする特許請求の範囲第(
    3)項記載のシステム。 (7)前記第1及び第2のフィルタシステムの各々が複
    数のスペクトル帯域を含むものであることを特徴とする
    特許請求の範囲jl! 131項又は第(4)項記載の
    システム。 (8)  前記第1のフィルタシステムにより変換され
    た複数のスペクトル帯域が前記第2のフィルタシステム
    により変換された複数のスペクトル帯域を含むものであ
    ることを特徴とする特許請求の範囲第(7)項記載のシ
    ステム。 (9)  演算手段がマイクロプロセッサであることを
    特徴とする特許請求の範囲第i11項記載のシステム0 (10)  前記照明手段が光学繊維束を含むものであ
    ることを特徴とする特許請求の範囲第(11項記載のシ
    ステム。 (Ill (tz)  パルス型フラッシュ管を含むサ
    ンプル照射用照明手段と、 (b)  前記パルス型フラッシュ管から出射された光
    パルスを測定することにより照明強度測定値を得るため
    の照明測定システムであって、1〕 前記光パルスの一
    部を分取するためのビームスプリッタと、 2)前記光パルスの前記部分を集光するための第1の光
    学繊維束と、 3)前記光パルスの前記部分を第1のII&のスペクト
    ル帯域において濾波するための第1フィルタ手段であっ
    て、前記第1光学繊維束により前記光パルスの前記部分
    を導かれるようにしたもの、及び 4)前記第1フイルタシステムにより濾波された前記光
    パルスの前記部分をl又Fi2以上の第1の電気信号に
    変換するための第1光電システム を含む前記照明測定システムさ、 (c)  サンプルからの反射光を測定することにより
    反射強度測定値を得るだめの反射率測定システムであっ
    て、 l)前記反射光を集光及び収束するための第1の光学シ
    ステムと、 2)前記第1の光学システムにより前記収束された反射
    光が照射される端面を有する第2の光学繊維束と、 3)前記光学繊維束により導かれた前記反射光を第2の
    複数のスペクトル帯域において濾波するだめの第2のフ
    ィルタシステム、及び 4)前記第2のフィルタシステムにより濾波された前記
    反射光を1又は2以上の第2i1(d)  前記第1の
    電気信号で前記第2の電気信号を割ることにより前記第
    2の電気信号を標準化するとともに、前記標準化された
    第2の電気信号を1又は2以上の記憶された基準信号と
    比較するための演算手段 を備えたことを特徴とする皺験サンプルの色彩に関する
    判断を行なうだめのカラー詔誦システム0 (+2)  前記第1の複数のスペクトル帯域及び前記
    第2の複数のスペクトル帯域が同数であることを特徴と
    する特許請求の範囲第(11)項記載のシステム0 0罎′前記第1の?f1数のスペクトル帯域の各々が、
    前記第2の複数のスペクトル帯域の対応する各1つを包
    含するものであることを特徴とする特許請求の範囲第θ
    四項記載のシステム。 (14)(a)サンフルヲ照明するためのパルス型フラ
    ッシュ管と、 (b)  l1li<のスペクトル帯域において前記パ
    ルス型フラッシュ管から発せられたパルスの強度を測定
    するために第1の光学システムと、第1のフィルタシス
    テム、及び第1の光電システムを具備した照明測定シス
    テムと、 (c)  サンプルから反射された光の強度を複数のス
    ペクトル帯域において測定するために第2の光学システ
    ムと、第2のフィルタシステム、及び第2の光電システ
    ムを具備した反射率測定システム、及び (d)  前記第1の光電システムが発した第1の信号
    で、前記第2の光電システムが発した第2の信号を割る
    ことにより標準化された第2の信号を取り出し、この標
    準化された第2信号を1又は2以上の記憶された基準信
    号と比較するための演算手段、 を備えたことを特徴とする被験サンプルの色彩に関する
    判断を行なうためのカラー認識システムO (I荀  前記第1及び第2の光学システムの各々が、
    複数の分岐路を有し、この各光学システムの各々におけ
    る複数の分岐路が同数であることを特徴とする特許請求
    の範囲第1項記載のシステム。 θ榎前記第1及び第2のフィルタシステムの各々が複数
    の光学フィルタを有し、各光学フィルタは異なったスペ
    クトル帯域に対応して前記複数分岐路の1つから出た光
    を濾波するものであることを特徴とする特許請求の範囲
    第(l四項記載のシステム。 07)前記演I手段がマイクロブ四セッサであることを
    特徴とする特許請求の範囲第α荀項記載のシステム。 α81 C11)  光源より基準サンプルを照射し、
    (b)  前記光源からの光強度を複数のスペクトル帯
    、域において測定し、 (c)前記サンプルからの反射光強度を複数のスペクト
    ル帯域において測定シー (d)  前記サンプルからの反射光の強度測定値を前
    記光源からの光強度の・前記測定値で割ることにより標
    準化して基準測定値を獲得し、(c)前記基準測定値を
    記憶し、さらに(f)  被験サンプルから得られた標
    準化反射率測定値を1又は2以上の記憶された基準測定
    値と比較する 諸段階からなることを特徴とするサンプルに関する・判
    断を行なうための被験サンプルの色彩を認識するための
    方法。
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