JPS58130487A - Semiconductor integrated circuit - Google Patents
Semiconductor integrated circuitInfo
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- JPS58130487A JPS58130487A JP57010876A JP1087682A JPS58130487A JP S58130487 A JPS58130487 A JP S58130487A JP 57010876 A JP57010876 A JP 57010876A JP 1087682 A JP1087682 A JP 1087682A JP S58130487 A JPS58130487 A JP S58130487A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/18—Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は複数Nビットの信号を受取って何らかの所定の
動作を行う半導体集積回路に関するもので、より詳しく
は該Nビットの信号をM群に分割してM種類のストロー
ブ信号で決定される時刻毎にM回に分けて上記Nビット
の信号を受取る構成を持ち、該M種類のストローブ信号
を作成するのに必要な端子がM個よりも少なくて済む半
導体集積回路に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a semiconductor integrated circuit that receives a plurality of N-bit signals and performs some predetermined operation. Relating to a semiconductor integrated circuit having a configuration for receiving the N-bit signal divided into M times at each time determined by the signal, and requiring fewer than M terminals to create the M types of strobe signals. It is something.
従来のこの種半導体集積回路は例えば第1図に示すよう
に構成されていた。ここで複数Nヒントの信号は9個の
アドレス信号Ao−Asのこととし、これら9ビツトの
アドレス信号を3群に分割して3種類のストローブ信号
Sx、 ’Sy、 Szで決定される時刻毎に3回に分
けて受取る構成を前提に説明する。1はアドレス信号か
ら内部アドレス信号α0〜(1B+no−c18を発生
するバッファ回路、2は6個の内部アドレス信号をデコ
ード回路3に接続するか否かをストローブ信号により決
めるスイッチ回路、4はストローブ制御信号刀<S、
YAE!、 ZASからストローブ信号SX、 sy、
SZを作成する制御回路、5は信号を遅らせる遅延回
路、p1〜p3はアドレス信号印加端子、p4〜p6は
ストローブ制御信号印加端子である。この半導体集積回
路の動作とし−((d、心IYAS、 ZASのすべて
のストローブ制御信号が11111である準備状態から
、まず兄覇をallとすることによりストローブ信号S
XをI IIとし、スイッチ回路によってαO+”O・
αII ”II (Z2. (Z2をデコード
回路に与えて、3ビツトのアドレス信号Ao+ A4.
A2を受取る。同様の動作をYASとA3゜A 4 +
A 5ならびに刀[とA6.A71A8の間で行う。A conventional semiconductor integrated circuit of this type has been constructed as shown in FIG. 1, for example. Here, the multiple N hint signals are 9 address signals Ao-As, and these 9-bit address signals are divided into 3 groups and sent at each time determined by 3 types of strobe signals Sx, 'Sy, and Sz. The explanation will be based on the assumption that the information will be received in three installments. 1 is a buffer circuit that generates internal address signals α0 to (1B+no-c18) from the address signal; 2 is a switch circuit that uses a strobe signal to decide whether or not to connect the six internal address signals to the decoding circuit 3; 4 is a strobe control circuit Signal sword <S,
YAE! , strobe signals SX, sy, from ZAS,
A control circuit for creating SZ, 5 a delay circuit for delaying a signal, p1 to p3 are address signal application terminals, and p4 to p6 are strobe control signal application terminals. As for the operation of this semiconductor integrated circuit:
Let X be I II, and αO+”O・
αII ”II (Z2. (Give Z2 to the decoding circuit and generate a 3-bit address signal Ao+A4.
Receive A2. Similar operation with YAS and A3゜A 4 +
A5 and sword [and A6. Perform between A71A8.
この間の信号波形と時刻Tの関係を示す図が第2図であ
り、1回目のアドレス信号の受取はT二TI%2回目は
T = T2.3回、目はT=T3の近傍で行われる。Figure 2 shows the relationship between the signal waveform and time T during this time. be exposed.
上述したように従来の半導体集積回路では)ストローブ
信号の各々に対応するストローブ制御信号とストローブ
制御信号印加端子を必要とするように構成されていたの
で、多数ビットのアドレス信号を受取るだめには端子を
増設しなければならず半導体集積回路を小形化できない
欠点があり、さらには端子数が限られている場合に多数
ヒントのアドレス信号を受取る構成が実埃できないとい
う欠点があった。As mentioned above, conventional semiconductor integrated circuits are configured to require a strobe control signal corresponding to each strobe signal and a strobe control signal application terminal. This has the disadvantage that the semiconductor integrated circuit cannot be miniaturized because the number of terminals must be increased, and furthermore, when the number of terminals is limited, it is impossible to construct a structure that can receive address signals with multiple hints.
本発明はこれらの欠点を解決するために少数の端子に印
加されるストローブ制御信号から多数のストローブ信号
を発生させるようにしたもので、以下図面について詳細
に説明する。In order to solve these drawbacks, the present invention generates a large number of strobe signals from strobe control signals applied to a small number of terminals, and will be described in detail below with reference to the drawings.
第3図は本発明の第1の実施例であり、制御回路4の出
力を遅延回路5′ニよってSxを遅らせてSy。FIG. 3 shows a first embodiment of the present invention, in which the output of the control circuit 4 is delayed from Sx by a delay circuit 5' to obtain Sy.
S2を得ている。必要なストローブ制御信号はXASの
みであり、第1図の例と比べるとストローブ制御信号印
加端子の数は3個から1個に減っている。Obtained S2. The only strobe control signal required is XAS, and the number of strobe control signal application terminals is reduced from three to one as compared to the example of FIG.
第4図は第3図の実施例における信号と時刻の関係を示
しており、T=T、で1回目のアドレス信号受取、T=
T2で2回目のアドレス信号受取、T−T3で3回目の
アドレス信号受取が行われる。FIG. 4 shows the relationship between signals and time in the embodiment of FIG. 3, where the first address signal is received at T=T, and T=
The second address signal reception is performed at T2, and the third address signal reception is performed at T-T3.
第5図は本発明の第2の実施例であり、1つのストロー
ブ制御信号YASを用いて、制御回路4とインバータ、
論理積回路の組合せによって3つのストローブ信号3X
+ Sy+ szを作成する構成である。第5図の例に
おける信号と時刻の関係を第6図に示す。3回のアドレ
ス信号受取はT = T、 。FIG. 5 shows a second embodiment of the present invention, in which one strobe control signal YAS is used to connect the control circuit 4 and the inverter.
Three strobe signals 3X by combination of AND circuits
+Sy+sz is created. The relationship between signals and time in the example of FIG. 5 is shown in FIG. Three address signal receptions are T = T,.
T2.T3に各々行われる。この第2の実施例において
は5XISZが従来例もしくは第1の実施例よりも長時
間n I I+になる構成となっているから、第1回目
のアドレス信号受取はT、以前の時刻で可能であり、第
3回目のアドレス信号受取はT2以後でT4以前ならば
可能である。T2. Each is performed at T3. In this second embodiment, the configuration is such that 5XISZ remains n I I+ for a longer time than in the conventional example or the first example, so the first address signal reception can be performed at a time before T. Yes, and the third address signal reception is possible after T2 and before T4.
次に半導体集積回路が16ピンデユアルイ/2イノパツ
ケージ(以下DIP )に収納されるダイナミック形M
OSメモリである場合について述べる。この場合アドレ
ス信号印加に使用される端子は最大9個、ストローブ制
御信号印加に使用される端子は2個であり、ストローブ
信号としてはXASに相当スるロウアドレスストローブ
制御信号(以下官)及びゝYASに相当するコラムアド
レスストローブ制御信号(以下の)の2つが用いられて
、最大18ビツトのアドレス信号をRAS、 CASに
よって2回に分けて受取る構成が普通である。従って記
憶容量の最大は2 に相当する256にビットである。Next is the dynamic type M, in which the semiconductor integrated circuit is housed in a 16-pin dual/two-in-one package (hereinafter referred to as DIP).
The case where it is an OS memory will be described. In this case, there are a maximum of nine terminals used for applying address signals, and two terminals used for applying strobe control signals, and the strobe signals include a row address strobe control signal (hereinafter referred to as "official") corresponding to XAS, and Usually, two column address strobe control signals (described below) corresponding to YAS are used, and a maximum 18-bit address signal is received twice by RAS and CAS. The maximum storage capacity is therefore 256 bits.
本発明の第3の実施例として、上記16ビンDIPに収
納されるMOSメモリに本発明を適用すると、既に第3
図又は第5図について述べたのと同様の方法で漁と罰の
どちらか一方を省略することができる。従ってストロー
ブ制御信号印加端子の1つをアドレス信号印加に転用す
ることが可能どなり、最大20ビツトのアドレス信号を
受取る構5−
成が実現でき、2 に相当する1Mビットの記憶 ・
容量を持つMOSメモリを16ピンDIP’ K収納す
ることができる。あるいはストローブ制御信号印加端子
の1つを新たな機能ビンとして使用する256にヒノ)
MOSメモリを実現できる。機能ビンの使用方法として
は、リフレッシュ制御信号印加端子とする場合、入出力
レジスタ制御信号印加端子とする場合等積々の応用が考
えられる。As a third embodiment of the present invention, when the present invention is applied to the MOS memory stored in the 16-bin DIP, the third embodiment is already applied.
Either the catch or the penalty can be omitted in a manner similar to that described for Figure 5. Therefore, one of the strobe control signal application terminals can be used to apply address signals, and a configuration that can receive address signals of up to 20 bits can be realized, and 1M bits of memory corresponding to 2.
A 16-pin DIP'K can accommodate a large capacity MOS memory. Or use one of the strobe control signal application terminals as a new function bin (256)
MOS memory can be realized. The function bin can be used in a variety of ways, such as as a refresh control signal application terminal, as an input/output register control signal application terminal, and so on.
本発明の上記の実施例においては印加されるストローブ
制御信号を用いてすべてのストローブ信号を発生させる
構成について説明したが、一部のストローブ信号につい
てはスインチ回路2もしくはデコード回路3のような内
部回路の動作完了を検出することによ多発生させる構成
も採り得る。In the above embodiments of the present invention, a configuration has been described in which all strobe signals are generated using the applied strobe control signal. It is also possible to adopt a configuration in which the detection occurs frequently by detecting the completion of the operation.
以上説明したように必要な端子数を少なくする構成であ
るから、多数ヒツトの信号を受取る半導体集積回路を小
形化できる利点あるいは端子を増設し寿いで新たな機能
ビンが得られるという利点がある。As explained above, since the configuration reduces the number of required terminals, it has the advantage of being able to downsize the semiconductor integrated circuit that receives signals from a large number of hits, or that new functional bins can be obtained over the lifespan by adding more terminals.
6−
第1図は従来の半導体集積回路の構成例、第2図は従来
の半導体集積回路の信号波形と時刻の関係を示す図、第
3図は本発明の第1の実施例、第4図は本発明の第1の
実施例における信号波形と時刻の関係を示す図、第5図
は本発明の第2の実施例、第6図は本発明の第2の実施
例における信号波形と時刻の関係を示す図である。
1 ・・・・・・・・・バッファ回路、 2・・・・・
・・・・スイッチ回路、3 ・・・・・・・・・デコー
ド回路、 4 ・・・・・・・・・制御回路、5.5′
・・・・・・・・遅延回路、AO−A8・・・・・曲ア
ドレス信号、SX、 sy、 Sz・・・・・・・スト
o y’倍信号XAS、 YAS、 ZAS・・・・
・・・・ストローブ制御信号、p1〜p6°°°°°3
゛°°端子XaO”−a8 、 ”O”’−”8°°°
°°…内部アドレス信号。
7一
第4図
第5図
第6図6- FIG. 1 is a configuration example of a conventional semiconductor integrated circuit, FIG. 2 is a diagram showing the relationship between signal waveforms and time of a conventional semiconductor integrated circuit, FIG. 3 is a diagram showing the first embodiment of the present invention, and FIG. The figure shows the relationship between the signal waveform and time in the first embodiment of the invention, FIG. 5 shows the relationship between the signal waveform and time in the second embodiment of the invention, and FIG. 6 shows the signal waveform in the second embodiment of the invention. FIG. 3 is a diagram showing a time relationship. 1...Buffer circuit, 2...
・・・・・・Switch circuit, 3 ・・・・・・Decode circuit, 4 ・・・・・・Control circuit, 5.5'
......Delay circuit, AO-A8...Song address signal, SX, sy, Sz...St o y' times signal XAS, YAS, ZAS...
...Strobe control signal, p1 to p6°°°°°3
゛°°Terminal XaO”-a8, “O”’-”8°°°
°°…Internal address signal. 71 Figure 4 Figure 5 Figure 6
Claims (1)
ーブ信号で決定される時刻毎にM回に分けて上記Nビッ
トの信号を受取る構成を持つ半導体集積回路において、
M種類よりも少ないL種類の制御信号が与えられるL個
の端子を設けて、該り種類の制御信号を用いて上記M種
類のストローブ信号を作成する構成とすることを特徴と
する半導体集積回路。(N、M、Lは整数)In a semiconductor integrated circuit configured to divide a plurality of N-bit signals into M groups and receive the N-bit signals M times at each time determined by M types of strobe signals,
A semiconductor integrated circuit characterized in that L terminals are provided to which L types of control signals, which are fewer than M types, are provided, and the M types of strobe signals are created using the corresponding types of control signals. . (N, M, L are integers)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57010876A JPS58130487A (en) | 1982-01-28 | 1982-01-28 | Semiconductor integrated circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57010876A JPS58130487A (en) | 1982-01-28 | 1982-01-28 | Semiconductor integrated circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58130487A true JPS58130487A (en) | 1983-08-03 |
Family
ID=11762528
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57010876A Pending JPS58130487A (en) | 1982-01-28 | 1982-01-28 | Semiconductor integrated circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58130487A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6129493A (en) * | 1984-07-20 | 1986-02-10 | Panafacom Ltd | Refresh control system of dynamic random access memory |
JPS6334795A (en) * | 1986-07-29 | 1988-02-15 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor storage device |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS53113435A (en) * | 1977-03-14 | 1978-10-03 | Nec Corp | Memory unit |
JPS547248A (en) * | 1977-06-20 | 1979-01-19 | Hitachi Ltd | Signal process system |
-
1982
- 1982-01-28 JP JP57010876A patent/JPS58130487A/en active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS53113435A (en) * | 1977-03-14 | 1978-10-03 | Nec Corp | Memory unit |
JPS547248A (en) * | 1977-06-20 | 1979-01-19 | Hitachi Ltd | Signal process system |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6129493A (en) * | 1984-07-20 | 1986-02-10 | Panafacom Ltd | Refresh control system of dynamic random access memory |
JPS6334795A (en) * | 1986-07-29 | 1988-02-15 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor storage device |
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