JPS59168983A - Semiconductor memory device - Google Patents

Semiconductor memory device

Info

Publication number
JPS59168983A
JPS59168983A JP58045220A JP4522083A JPS59168983A JP S59168983 A JPS59168983 A JP S59168983A JP 58045220 A JP58045220 A JP 58045220A JP 4522083 A JP4522083 A JP 4522083A JP S59168983 A JPS59168983 A JP S59168983A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
input
shift register
output
address
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58045220A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Nobuyuki Miyazaki
信行 宮崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Suwa Seikosha KK
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Suwa Seikosha KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp, Suwa Seikosha KK filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP58045220A priority Critical patent/JPS59168983A/en
Publication of JPS59168983A publication Critical patent/JPS59168983A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store

Landscapes

  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain a semiconductor memory device having small number of terminals by converting an address and data inputted serially from the outside to parallel and transmitting the data to the inside and converting the data read out parallelly from the inside to serial and outputting to the outside. CONSTITUTION:An input shift register 201 consists of a shift register of 11-bit that converts an address input to parallel and a shift register of 8-bit that converts a data input to parallel. An output shift register 202 converts a data read out to 8-bit parallelly to a serial output and outputs the data serially from a data output terminal 205 synchronizing with a clock signal 207. Thus, a semiconductor memory device can be made with small number of terminals and the lowering of mounting density can be prevented.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体記憶装置に関するものである。[Detailed description of the invention] The present invention relates to a semiconductor memory device.

第1図は従来の半導体配置′g架装置、2にワード°×
8ビット構成の16にランダムアクセスメモリである。
Figure 1 shows a conventional semiconductor layout device, 2 words
It is a 16-bit random access memory with an 8-bit configuration.

この例のような従来装置に於てけ、半導体配憶装置外部
よねアドレス及びデータが、パラレルに入力されている
。このため、これらの情報を受は取る半導体記憶装置側
では、入力されるアドレス及びデータの数に等しい数の
端子が必要とされる。
In a conventional device such as this example, addresses and data from outside the semiconductor storage device are input in parallel. For this reason, the semiconductor memory device that receives and receives this information requires a number of terminals equal to the number of input addresses and data.

第1図では109及び110がアドレス情報の入力され
るアドレス端子であり、111がデータの入出力が行な
われるデータ入出力端子である。この例ではアドレスに
11端子、データの入出力に8端子が必要であり、アド
レス端子及びデータ入出力端子の合計が全端子に占める
割合は80憾にも及蕊このような傾向は、ワード数が多
くなるにつれて更に顕著となる。
In FIG. 1, 109 and 110 are address terminals to which address information is input, and 111 is a data input/output terminal through which data is input/output. In this example, 11 terminals are required for address and 8 terminals are required for data input/output, and the total ratio of address terminals and data input/output terminals to all terminals is as high as 80. It becomes more noticeable as the number increases.

ところで、端子数の増加はこのようか半導体記憶装置を
実装するためのパッケージの大型化をもたらす。事実ス
タテイ9クランダムアクセスメモリでは、4に、16に
、64にと大容量化するにつれて、パッケージも18ピ
〜ン300ミル、24ビン600ミル、28ピン600
ミルと大型化してきている。パッケージの大型化は実装
密度の低下をもたらし、パターン微細化の効果を低減し
てしまう。
Incidentally, an increase in the number of terminals results in an increase in the size of the package for mounting the semiconductor memory device. In fact, as the capacity of State 9 random access memory increases from 4 to 16 to 64, the packages also increase from 18 pins to 300 mils, 24 pins to 600 mils, and 28 pins to 600 mils.
Mills are becoming larger. Increasing the size of the package leads to a decrease in packaging density, which reduces the effect of pattern miniaturization.

この問題け、25/iK、IMと容量が大角(なろにつ
れ更に深刻化して行く。本発明はかかる欠点を除去する
もので、その目的は、パラレル構成のアドレスの入力及
びデータの入出力をシリアルにするととKよって、アド
レス入力、データ入出力f要する端子数の少ない半導体
r憶装置を提供することである。
This problem becomes more serious as the capacity increases (25/iK, IM, etc.).The present invention aims to eliminate this problem. Therefore, it is an object of the present invention to provide a semiconductor r storage device which requires fewer terminals for address input and data input/output.

本発明は、外部よりシリアルに入力されるアドレス及び
データをパラレルに変換して内部へ伝える回路と、内部
よねパラレルに読人出されるデータをシリアルに変換し
て、外部へ出力する回路を内蔵する半導体配憶装置であ
る。
The present invention has a built-in circuit that converts addresses and data that are serially input from the outside into parallel data and transmits the data to the inside, and a circuit that converts data that is read internally and in parallel into serial data and outputs the data to the outside. It is a semiconductor storage device.

以下実施例に基づいて本発明の詳細な説明する。The present invention will be described in detail below based on examples.

第2図は本発明の半導体記憶装置である。204はアド
レス及びデータの入力端子である。20111を入力シ
フトレジスターである。このシフトレジスターはアドレ
ス入力をパラレルに変換する11ビツトのシフトレジス
ターとデータ入力をパラレルに変換する8ビツトのシフ
トレジスターより構成されている。これらのシフトレジ
スターでは、アドレスの入力及びデータの入力の選択は
、2030制御回路より出力される制御信号により行な
われる。またアドレス及びデータの入力は、201のシ
フトレジス々−のシフトクロックとなっている207の
信号に同期して行なわれる。202け8ビツトのパラレ
ルに読入出されるデータをシリアルなデータ出力に変換
するためのシフトレジスターである。内部より読人出さ
れた8ビツトのパラレルなデータは、202の出力シフ
トレジスターに入力され、207のクロック信号に同期
して205のデータ出力端子よりシリア°ルに出力され
る。
FIG. 2 shows a semiconductor memory device of the present invention. 204 is an address and data input terminal. 20111 is an input shift register. This shift register consists of an 11-bit shift register that converts address input into parallel data and an 8-bit shift register that converts data input into parallel data. In these shift registers, selection of address input and data input is performed by a control signal output from a 2030 control circuit. Further, address and data input is performed in synchronization with a signal 207 serving as a shift clock for the shift registers 201. This is a shift register for converting 202 8-bit parallel read/output data into serial data output. 8-bit parallel data read out from inside is input to an output shift register 202 and serially outputted from a data output terminal 205 in synchronization with a clock signal 207.

第S図Fi第2図の半導体記憶装置の基本動作を示すタ
イミングチャートである。301け装置の選択非選択を
制御するn信号で、この信号がロウのとき選択状態、ハ
イのとき非選択状態となる。
FIG.SFI is a timing chart showing the basic operation of the semiconductor memory device of FIG. 2.FIG. This is the n signal that controls the selection or non-selection of 301 devices.When this signal is low, it is in the selected state, and when it is high, it is in the non-selected state.

302 #−tアドレス入力モードとデータ入出力モー
ドとを切す換えるA/D信号で、この信号が)・イのと
きアドレス入力モード、ロウのときデータ入出力モード
となる。303 Fiデータ入出力モードのときにライ
ト状態とリード状態の切り換えを行なうR/’W信号で
、この信号がロウのときライト状態、ハイのときリード
状態となる。304け入力シフトレジスター及び出力シ
フトレジスターのシフトクロック信号である。305け
204の端子に入力される信号であり、306 tl 
205の端子から出力される信号である。307 Ff
アドレスセヅトサイクルである。0をロウに、 A/D
をハイにセット後シフトクロックを11パルス入力し、
その各パルスに対してアドレス情報を入力子る。これに
より、アドレス入力ヲハラレルニ変換する201のシフ
トレジスターにアドレス情報がセットされる。
302 #-t This is an A/D signal that switches between address input mode and data input/output mode. When this signal is )・i, it is the address input mode, and when it is low, it is the data input/output mode. 303 Fi R/'W signal for switching between write state and read state in data input/output mode; when this signal is low, it is in the write state, and when it is high, it is in the read state. 304 input shift register and output shift register shift clock signal. This is a signal input to the terminal of 305 and 204, and 306 tl
This is a signal output from the terminal 205. 307 Ff
This is an address set cycle. 0 to low, A/D
After setting to high, input 11 pulses of shift clock,
Address information is input for each pulse. As a result, address information is set in the shift register 201, which performs the transformation of the address input.

308はデータ書き込みサイクルである。nをロウに、
A/Dをロウにセット後シフトクロックを8パルス入力
し、その各パルスに対してデータを入力する。これによ
り、データ入力をパラレルに変換する201のシフトレ
ジスターにデータがセリトされる。内部への書き退入け
n信号の立ち上りで行なわれる。
308 is a data write cycle. n to row,
After setting the A/D to low, eight pulses of the shift clock are input, and data is input for each pulse. As a result, data is reset to the shift register 201 that converts the data input into parallel data. Writing/writing to/from the internal memory is performed at the rising edge of the n signal.

309はデータ読み出しサイク2である。ごをロウに、
A/’Dをロウにセット後シフトクロックを 5 − 8パルス入力する。内部から202のシフトレジスター
への読、入出しけ苺の立ち下りで行なわれ、シフトクロ
ックの各パルスに対して、このシフトレジスターよりデ
ータが外部へ出力される。
309 is data read cycle 2. Go to low,
After setting A/'D to low, input 5-8 pulses of shift clock. Reading from the inside to the shift register 202 is performed at the falling edge of the input/output signal, and data is outputted from this shift register to the outside in response to each pulse of the shift clock.

このような半導体記憶装置では、従来19端子あったア
ドレス入力とデータ入出力端子が、アドレス及びデータ
入力とデータ出力の2端子となる。
In such a semiconductor memory device, address input and data input/output terminals, which conventionally had 19 terminals, are reduced to two terminals: address/data input and data output.

従ってメモリ容量の増加に伴なう端子数の増加を抑える
ことができる。外部よりアドレス及びデータをシリアル
に入力し、半導体記憶装置内部でパラレルに変換するこ
と及び、内部からのパラレルかデータを半導体記憶装置
内部でシリアルに変換して外部へ出力することによって
、少ない端子数〒半導体記憶装置を作ることができ、こ
れにより実装密変の低下を防ぐことができる。
Therefore, it is possible to suppress an increase in the number of terminals due to an increase in memory capacity. The number of terminals can be reduced by inputting addresses and data serially from the outside and converting them to parallel data inside the semiconductor storage device, and by converting the parallel data from the inside into serial data inside the semiconductor storage device and outputting it to the outside. A semiconductor memory device can be manufactured, thereby preventing a decrease in packaging density.

このような本発明は携帯用機器等に於て出力ピン数の少
ないCPUと伴に使用する場合などにその効果が充分発
揮される。
The present invention is fully effective when used with a CPU having a small number of output pins in a portable device or the like.

 6−6-

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は従来の半導体配憶装置。 101・・・・・・メモリセルアレイ 102・・・・・・ローデコーダ 105……センスアンプ 104・・・・・・カラムデコーダ 105.106・・・・・・アドレスバッファ107・
・・・・・入出力回路 108・・・・・・チ〜プコントロール回路109 、
110・・・・・・アドレス端子111・・・・・・デ
ータ入出力端子 112・・・・・・制御端子 113・・・・・・電源端子 第2図は本発明の半導体記憶装置。 201・・・・・・入力シフトレジスター202・・・
・・・出力シフトレジスター203・・・・・・制御回
路 204・・・・・・アドレス及びデータの入力端子20
5・・・・・・データの出力端子 206・・・・・・制御端子 207・・・・・・クロック端子である。 第3図は本発明の半導体記憶装置の基本動作を示すタイ
ミングチャート。 301 ・・・・・・ CE 302・・・・・・A/D 303・・・・・・R/w 304・・・・・・クロック 305・・・・・・アドレス及びデータ入力信号306
・・・・・・データ出力信号 307・・・・・・アドレスセットサイクル308・・
・・・・ライトサイクル 309・・・・・・リードサイクル を示す。 以  上 出願人 株式会社 諏訪精工舎 代理人 弁理士 最上 務
Figure 1 shows a conventional semiconductor storage device. 101... Memory cell array 102... Row decoder 105... Sense amplifier 104... Column decoder 105.106... Address buffer 107.
...Input/output circuit 108... Chip control circuit 109,
110...Address terminal 111...Data input/output terminal 112...Control terminal 113...Power terminal FIG. 2 shows a semiconductor memory device of the present invention. 201... Input shift register 202...
... Output shift register 203 ... Control circuit 204 ... Address and data input terminal 20
5... Data output terminal 206... Control terminal 207... Clock terminal. FIG. 3 is a timing chart showing the basic operation of the semiconductor memory device of the present invention. 301...CE 302...A/D 303...R/w 304...Clock 305...Address and data input signal 306
...Data output signal 307...Address set cycle 308...
. . . Write cycle 309 . . . Indicates a read cycle. Applicant Suwa Seikosha Co., Ltd. Patent attorney Tsutomu Mogami

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)  アドレス情報を入力しデータの書き込み、読
入出しを行なう複数ビット構成を有する半導体記憶装置
に於て、半導体配憶装置外部よりシリアルに入力される
アドレス及びデータをパラレルに変換して、半導体配憶
装置内部へ伝える回路及び半導体P憶装置内部からパラ
レルに読み出されるデータをシリアルに彎換して、半導
体記憶装置外部へ出力する回路を内蔵することを特徴と
する半導体記憶装置。
(1) In a semiconductor memory device having a multi-bit configuration in which address information is input and data is written, read and written, addresses and data input serially from outside the semiconductor storage device are converted into parallel data. What is claimed is: 1. A semiconductor storage device comprising a circuit for transmitting data to the inside of the semiconductor storage device and a circuit for serially converting data read out in parallel from inside the semiconductor storage device and outputting the converted data to the outside of the semiconductor storage device.
JP58045220A 1983-03-17 1983-03-17 Semiconductor memory device Pending JPS59168983A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58045220A JPS59168983A (en) 1983-03-17 1983-03-17 Semiconductor memory device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58045220A JPS59168983A (en) 1983-03-17 1983-03-17 Semiconductor memory device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59168983A true JPS59168983A (en) 1984-09-22

Family

ID=12713179

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58045220A Pending JPS59168983A (en) 1983-03-17 1983-03-17 Semiconductor memory device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59168983A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6273862A (en) * 1985-09-26 1987-04-04 Canon Inc Data input and output memory
JPS62236195A (en) * 1986-04-07 1987-10-16 Sony Corp Memory device
JPH01270885A (en) * 1988-04-22 1989-10-30 Heiwa Corp Control device for pinball machine
JPH07326187A (en) * 1994-05-27 1995-12-12 Winbond Electron Corp Serial access memory device

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5314525A (en) * 1976-07-26 1978-02-09 Nec Corp Memory circuit
JPS5414130A (en) * 1977-07-01 1979-02-02 Ncr Co Memory having less connecting pins

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5314525A (en) * 1976-07-26 1978-02-09 Nec Corp Memory circuit
JPS5414130A (en) * 1977-07-01 1979-02-02 Ncr Co Memory having less connecting pins

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6273862A (en) * 1985-09-26 1987-04-04 Canon Inc Data input and output memory
JPS62236195A (en) * 1986-04-07 1987-10-16 Sony Corp Memory device
JPH01270885A (en) * 1988-04-22 1989-10-30 Heiwa Corp Control device for pinball machine
JP2688762B2 (en) * 1988-04-22 1997-12-10 株式会社平和 Pachinko machine control device
JPH07326187A (en) * 1994-05-27 1995-12-12 Winbond Electron Corp Serial access memory device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4562555A (en) Semiconductor memory device
KR940000148B1 (en) Dual port semiconductor memory device
US4685089A (en) High speed, low-power nibble mode circuitry for dynamic memory
US4707811A (en) Semiconductor memory device having extended period for outputting data
JPH03205682A (en) Memory module
US5631866A (en) Semiconductor memory device
KR930020459A (en) Semiconductor memory device and operation method that can flexibly output necessary data under simplified control
JPS5951073B2 (en) semiconductor storage device
JPS59168983A (en) Semiconductor memory device
US5280448A (en) Dynamic memory with group bit lines and associated bit line group selector
EP0262413A1 (en) Memory device employing address multiplexing
JPH11306796A (en) Semiconductor memory device
KR950020127A (en) Semiconductor memory circuit control method
CN100422908C (en) Memory device having high bus efficiency of network, operating method of the same, and memory system including the same
US5363337A (en) Integrated circuit memory with variable addressing of memory cells
JPH0792997B2 (en) Semiconductor memory device
US20050174858A1 (en) Semiconductor memory device and data read and write method of the same
JPS61227295A (en) Semiconductor memory device
JPH0528760A (en) Semiconductor memory
JP3654013B2 (en) Semiconductor device and test method thereof
JPH06162762A (en) Semiconductor memory device
JPH0381180B2 (en)
JPH10241352A (en) Semiconductor storage device
JPS63106989A (en) Semiconductor memory device
JPH0696583A (en) Semiconductor memory