JPS5813028A - アナログスイッチ装置 - Google Patents
アナログスイッチ装置Info
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- JPS5813028A JPS5813028A JP56111932A JP11193281A JPS5813028A JP S5813028 A JPS5813028 A JP S5813028A JP 56111932 A JP56111932 A JP 56111932A JP 11193281 A JP11193281 A JP 11193281A JP S5813028 A JPS5813028 A JP S5813028A
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/14—Modifications for compensating variations of physical values, e.g. of temperature
- H03K17/145—Modifications for compensating variations of physical values, e.g. of temperature in field-effect transistor switches
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K2217/00—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
- H03K2217/0018—Special modifications or use of the back gate voltage of a FET
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はMOB I!電界効果トランジスタを用いた
アナログスイッチ装置に関する。
アナログスイッチ装置に関する。
アナログスイッチ装置とは、仁の装置を制御するクロッ
ク信号によってその状態がオン(導通)状態あるいはオ
フ(非導通)状11に切〉替わシ、オン状態のときkは
入力情報、すなわちアナシダ入力信号が出力に伝達され
、オフ状態のと11にはアナシダ入力信号が伝達されな
いような装置である。
ク信号によってその状態がオン(導通)状態あるいはオ
フ(非導通)状11に切〉替わシ、オン状態のときkは
入力情報、すなわちアナシダ入力信号が出力に伝達され
、オフ状態のと11にはアナシダ入力信号が伝達されな
いような装置である。
第illは従来Oアナログスイッチ装置の回路構成図で
ある。この装置は、Nチャネルでエンハンスメント製の
MOs at電界効果トランジスタ(以下Mo1l )
ランジスメと略称する)1のソース電極8とPチャネル
でエンハンスメント臘のMOB )ランジス12のドレ
イン電極りとを接続し、仁の接続点をアナシダ入力信号
INの供給端子JIIC接続し、また上記M08トツン
ゾス!1のドレイン電極りとM08トランジスタ2のソ
ース電極8とを接続し、この接続点をアナログ出力信号
OUTの取)出し端子iFc@絖し、さらに上記M08
トツンゾスj11″のr−)電極Gにはクロメ ツタ信号φを、MQa )ランジスタ2のe−)電極G
Kはクーツク信号φと相補対をなすりpツタ信号1をそ
れぞれ供給し、またNチャネルのMQa )ランジスタ
1の基板電極BWCは上記り嚢ツク信号φ、70低電位
に相幽する電圧Vsg(たとえばOvあるいは負極性電
圧)を、Pチャネル6M0a)ツンゾスタ2の基板電極
BKはり四ツタ信号φ、?の高電位に相癲する電圧Vl
lB(たとえば正極性電圧)をそれぞれ供給することに
よって構成されている。
ある。この装置は、Nチャネルでエンハンスメント製の
MOs at電界効果トランジスタ(以下Mo1l )
ランジスメと略称する)1のソース電極8とPチャネル
でエンハンスメント臘のMOB )ランジス12のドレ
イン電極りとを接続し、仁の接続点をアナシダ入力信号
INの供給端子JIIC接続し、また上記M08トツン
ゾス!1のドレイン電極りとM08トランジスタ2のソ
ース電極8とを接続し、この接続点をアナログ出力信号
OUTの取)出し端子iFc@絖し、さらに上記M08
トツンゾスj11″のr−)電極Gにはクロメ ツタ信号φを、MQa )ランジスタ2のe−)電極G
Kはクーツク信号φと相補対をなすりpツタ信号1をそ
れぞれ供給し、またNチャネルのMQa )ランジスタ
1の基板電極BWCは上記り嚢ツク信号φ、70低電位
に相幽する電圧Vsg(たとえばOvあるいは負極性電
圧)を、Pチャネル6M0a)ツンゾスタ2の基板電極
BKはり四ツタ信号φ、?の高電位に相癲する電圧Vl
lB(たとえば正極性電圧)をそれぞれ供給することに
よって構成されている。
ヒのような装置において、いま、クロック信号φをHレ
ベルVIID sりpツク信号φをLレベルVsslI
Cそれぞれ設定すると、上記Nチャネル、PチャネルO
両Mol )ランレス11.1はオン状−に1kJ$そ
の抵抗RW # R−□゛“蕗それぞれ小さなもOと1
k111人力信号INが両MO8)テンジスタ1.2を
介して伝達されて、端子4から紘出力信号OUTがII
J)出される。一方、クロック信号φtLレベル、り四
ツク信111ルベルにそれぞれ設定すると、両MOB
)ランジスメ1,2はオフ状態と&!>その抵抗R11
t RPはそれぞれ極めて大きなものとなシ、入力信号
INは端子4に伝達されず、出力信号OUTはMR)出
されない。
ベルVIID sりpツク信号φをLレベルVsslI
Cそれぞれ設定すると、上記Nチャネル、PチャネルO
両Mol )ランレス11.1はオン状−に1kJ$そ
の抵抗RW # R−□゛“蕗それぞれ小さなもOと1
k111人力信号INが両MO8)テンジスタ1.2を
介して伝達されて、端子4から紘出力信号OUTがII
J)出される。一方、クロック信号φtLレベル、り四
ツク信111ルベルにそれぞれ設定すると、両MOB
)ランジスメ1,2はオフ状態と&!>その抵抗R11
t RPはそれぞれ極めて大きなものとなシ、入力信号
INは端子4に伝達されず、出力信号OUTはMR)出
されない。
とζろでアナログスイッチ装置では、入力信411Nが
MOll )ランゾスタ1,2を通っても、出力信号O
UTの電圧を入力信号INの電圧に等しくするかあるい
は直−的に比例させる必要があシ、ζ〇九めには両l[
)g )ランジスタl、2のオン時に端子1.4間の抵
抗値を常に一定にしておく必要がある。しかしながら、
従来のアナログスイッチ装置では、端子3,4間の抵抗
は、端子1あるいは4の電圧に従って変化してし壕う、
これはMol )うyジスタに紘ソースー基板バイアス
効果(−ツクビートバイアス効果)があ〕、この効果に
よってMol )ランジスタの ;。
MOll )ランゾスタ1,2を通っても、出力信号O
UTの電圧を入力信号INの電圧に等しくするかあるい
は直−的に比例させる必要があシ、ζ〇九めには両l[
)g )ランジスタl、2のオン時に端子1.4間の抵
抗値を常に一定にしておく必要がある。しかしながら、
従来のアナログスイッチ装置では、端子3,4間の抵抗
は、端子1あるいは4の電圧に従って変化してし壕う、
これはMol )うyジスタに紘ソースー基板バイアス
効果(−ツクビートバイアス効果)があ〕、この効果に
よってMol )ランジスタの ;。
しきい値が変化してしtい、これによってMDBトラン
ジスタのオン抵抗が影響を受けるからである。すなわち
、Mol )ランジスタOオン抵抗RKは次のような比
例式が成立す石。
ジスタのオン抵抗が影響を受けるからである。すなわち
、Mol )ランジスタOオン抵抗RKは次のような比
例式が成立す石。
レー二1 ’・+m・・・・・・(1)Yes
vth Yes:r )電極とソース電極との間のdイー
・ アス電圧 vth : シきい値 さらKMOBトランジスタのしきい値vthは次式で表
わされ石。
vth Yes:r )電極とソース電極との間のdイー
・ アス電圧 vth : シきい値 さらKMOBトランジスタのしきい値vthは次式で表
わされ石。
、 Vth=Vthe+%σ研苗(五)−:=−=
(2) Vthe:真性のしきい値(ソース電極と基板電極との
間のバイアス電圧がOVの時)to’x : l” −
)酸化膜の膜厚Box : l’ −)酸化膜の誘電率
りニジリーンの誘電率 q:電子の電荷量 N:基板不純物論度 v■:ソース電極と基板電極との間のバイアス電圧 φF:フエルン単位 上記12)式から明かなようKvIが大きくなぁとしき
い値vthも大きくなル、またVtkが大きくなると前
記(0式より8は大きくなる。
(2) Vthe:真性のしきい値(ソース電極と基板電極との
間のバイアス電圧がOVの時)to’x : l” −
)酸化膜の膜厚Box : l’ −)酸化膜の誘電率
りニジリーンの誘電率 q:電子の電荷量 N:基板不純物論度 v■:ソース電極と基板電極との間のバイアス電圧 φF:フエルン単位 上記12)式から明かなようKvIが大きくなぁとしき
い値vthも大きくなル、またVtkが大きくなると前
記(0式より8は大きくなる。
さらに前記第1図に示すアナログスイッチ装置のNチャ
ネルのM08トランジスタ1を、第2図に示すようIC
NII半導体基板11内に拡散法等によって形成され九
P″クエル領域12内に設け、を九Pチャネ゛ルのMQ
a )ランゾスタ2は基板11内に設ける場合、Pウェ
ル領tiR12の不 −純物淡度が基板11のそれ
よ)も轟然大きくなるために%NチャネルのMQa)ラ
ンジスメ1のしきい値のソース−基板バイアス効果に対
する感度iPチャネルのMO8トランジスタ20それよ
ルも高くなル、普通は約3倍程度高くなる。
ネルのM08トランジスタ1を、第2図に示すようIC
NII半導体基板11内に拡散法等によって形成され九
P″クエル領域12内に設け、を九Pチャネ゛ルのMQ
a )ランゾスタ2は基板11内に設ける場合、Pウェ
ル領tiR12の不 −純物淡度が基板11のそれ
よ)も轟然大きくなるために%NチャネルのMQa)ラ
ンジスメ1のしきい値のソース−基板バイアス効果に対
する感度iPチャネルのMO8トランジスタ20それよ
ルも高くなル、普通は約3倍程度高くなる。
したがって両Mol )ランジスタ1.2のオン時に、
端子8FC与える入力信号INの電圧をVll(GV)
からVDD (+5V) t テ変化させた場合には、
第3図の特性図に示すように、 MQa )ツンジスタ
10抵抗RMとM08トランジスタ2の抵抗BPとの特
性が対称とならず、この結果、入力信1 号lN4D中間電圧であるTVms(+L5V)付この
ように従来では、入出力端子間の抵抗が一定とはならな
い丸めに、出力信号OUT K大きな歪が発生すると−
う欠点がある。
端子8FC与える入力信号INの電圧をVll(GV)
からVDD (+5V) t テ変化させた場合には、
第3図の特性図に示すように、 MQa )ツンジスタ
10抵抗RMとM08トランジスタ2の抵抗BPとの特
性が対称とならず、この結果、入力信1 号lN4D中間電圧であるTVms(+L5V)付この
ように従来では、入出力端子間の抵抗が一定とはならな
い丸めに、出力信号OUT K大きな歪が発生すると−
う欠点がある。
この発明は上記のような事情を考慮してなされたもので
、その目的とするところは、Mo81[電界効果トラン
ジスタの基板電極にアナ四ダ信号電圧11c#Iぼ等し
いバイアス電圧を供給してこのトランジスタのソース−
基板バイアス効果を極めて小さくしてしきい値の変動を
なくシ、これKよってアナログ信号の入出力端間の抵抗
値を一定KL、もって歪の少ない出力信号を得ることが
できるアナログスイッチ装置を蝿供することにある。
、その目的とするところは、Mo81[電界効果トラン
ジスタの基板電極にアナ四ダ信号電圧11c#Iぼ等し
いバイアス電圧を供給してこのトランジスタのソース−
基板バイアス効果を極めて小さくしてしきい値の変動を
なくシ、これKよってアナログ信号の入出力端間の抵抗
値を一定KL、もって歪の少ない出力信号を得ることが
できるアナログスイッチ装置を蝿供することにある。
以下図面を参照して仁の発明の一1!施例を説、・:1
明する。第4図はこの発明に係るアナログスイッチ装置
の回路構成図である。ζO装置でaNチャネルのM0B
0Bトランレスタ1板電極1KVllを供給する代りに
、MOli )ランレスタ1のr−)電1iGとvl−
印加点との間に二つONチャネル、エンハンスメント型
のMOB )ランレスタS、tを直列挿入し、Mo8
)ランレスタ5のソース電極8とMo8 )ランレスタ
Iのドレイン電極りとの直列接続点aを上記MO8)ラ
ンレスタ1の基板電411mに接続するようにし九もの
である。また、上記一方のMo8 )ランレスターの基
板電極Bはそのソース電極a K!IIIされると共に
%r−)電極Gは端子3に接続されてhる。
の回路構成図である。ζO装置でaNチャネルのM0B
0Bトランレスタ1板電極1KVllを供給する代りに
、MOli )ランレスタ1のr−)電1iGとvl−
印加点との間に二つONチャネル、エンハンスメント型
のMOB )ランレスタS、tを直列挿入し、Mo8
)ランレスタ5のソース電極8とMo8 )ランレスタ
Iのドレイン電極りとの直列接続点aを上記MO8)ラ
ンレスタ1の基板電411mに接続するようにし九もの
である。また、上記一方のMo8 )ランレスターの基
板電極Bはそのソース電極a K!IIIされると共に
%r−)電極Gは端子3に接続されてhる。
さらに上記他方のMo8Fランレスタ#0III板電極
B#iそのソース電極Bに接続されゐと共に1?−)電
極Gは一定電圧vl印加点に接続されている。すなわち
、上記両MO8トランジスターm6は一対の所定電圧印
加点間に直列挿入畜れ、一方のMol )ライジスタロ
はそのオン抵抗が入力信号INの電圧に応じて変化する
ようKなっておシ、また他方″10M08)ランレスタ
60オン□ 抵抗はVa Kよって所定の値に設定されている。
B#iそのソース電極Bに接続されゐと共に1?−)電
極Gは一定電圧vl印加点に接続されている。すなわち
、上記両MO8トランジスターm6は一対の所定電圧印
加点間に直列挿入畜れ、一方のMol )ライジスタロ
はそのオン抵抗が入力信号INの電圧に応じて変化する
ようKなっておシ、また他方″10M08)ランレスタ
60オン□ 抵抗はVa Kよって所定の値に設定されている。
したがって、クロック信号φがHレベルVmn0ときK
は、VDBとVllとの間の電位差が一対0MO19)
ランレスタ5 、41によって抵抗分割され、この分割
電圧がバイアス電圧としてMo8)ランゾスタ10基板
電極11に供給されるように1にっている。&お、従来
と同a!に、NチャネルのMo8 )ランレスタlll
1、jI2図に示すようにN型半導体基板11内に拡散
法等によって形成されたPウェル領域12内に設けられ
、また、PチャネルのM0808トランレスタ2板11
内に設けられている。
は、VDBとVllとの間の電位差が一対0MO19)
ランレスタ5 、41によって抵抗分割され、この分割
電圧がバイアス電圧としてMo8)ランゾスタ10基板
電極11に供給されるように1にっている。&お、従来
と同a!に、NチャネルのMo8 )ランレスタlll
1、jI2図に示すようにN型半導体基板11内に拡散
法等によって形成されたPウェル領域12内に設けられ
、また、PチャネルのM0808トランレスタ2板11
内に設けられている。
まえ上記’kg)B )ランレスタ5のデイメンジ習ン
ハMO8)ランレスタIOそれに比較して十分大きく設
定されている・ 上記構成でなるアナログスイッチ装置において、まず、
り關ツク信号φを■レベル、り醐ツク信号7をLレベル
にそれぞれ設定した場合、Mo8 )ランレスタ1,2
は共にオン状11に&ゐ。
ハMO8)ランレスタIOそれに比較して十分大きく設
定されている・ 上記構成でなるアナログスイッチ装置において、まず、
り關ツク信号φを■レベル、り醐ツク信号7をLレベル
にそれぞれ設定した場合、Mo8 )ランレスタ1,2
は共にオン状11に&ゐ。
この時、入力信号INO電圧が十分に高いとするト、M
o8トランレスタIは十分にオン状態となる。一方、M
0808トランレスタId Vsの電圧に応じてその導
通度が定着るがある一定の抵抗として働く、シたがって
、この時0M0a)ランレスタjOオン抵抗をR)@5
s Mo8 )ランレスタCのオン抵抗をR舅4とそ
れぞれ定めると、Mo8 )ランレスタ5.#の直列接
続点1点の電圧vaは次式で表わされゐ。
o8トランレスタIは十分にオン状態となる。一方、M
0808トランレスタId Vsの電圧に応じてその導
通度が定着るがある一定の抵抗として働く、シたがって
、この時0M0a)ランレスタjOオン抵抗をR)@5
s Mo8 )ランレスタCのオン抵抗をR舅4とそ
れぞれ定めると、Mo8 )ランレスタ5.#の直列接
続点1点の電圧vaは次式で表わされゐ。
上記電圧V、はバイアス電圧としてM0808トランレ
スタ1板電極BK供給されるものであるが、両オン抵抗
Rws # R舅60値を設定する仁とKよ−って、こ
の値V、tMO11)ランレスタ1のソース電極8の電
圧にほぼ等しくすることがてきる。
スタ1板電極BK供給されるものであるが、両オン抵抗
Rws # R舅60値を設定する仁とKよ−って、こ
の値V、tMO11)ランレスタ1のソース電極8の電
圧にほぼ等しくすることがてきる。
すなわち、MOB )ランレスタ1のディ、メンd11
1ンなMo8トランレスタ#Oデイメンジ四ンに比較し
て十分大きくすることKよって、上記V、は入力信号I
Nの電圧Vxy!D%M08トランジスタIOしきい値
vthsの絶対値I Vths Iだけ小1!な値WI
N −I Vths l Kすることができる。したが
って、MOji )ランレスタ1に関しては、基板電極
10電圧はV!舅にはとんと等しいVxx −l Vt
口1であ10− 如、ソース電極8の電圧がV!翼となっている九めに1
ソース、基板間電圧Vllは高さM08トランジスタi
のしきい値の絶対値1vthslとなる。
1ンなMo8トランレスタ#Oデイメンジ四ンに比較し
て十分大きくすることKよって、上記V、は入力信号I
Nの電圧Vxy!D%M08トランジスタIOしきい値
vthsの絶対値I Vths Iだけ小1!な値WI
N −I Vths l Kすることができる。したが
って、MOji )ランレスタ1に関しては、基板電極
10電圧はV!舅にはとんと等しいVxx −l Vt
口1であ10− 如、ソース電極8の電圧がV!翼となっている九めに1
ソース、基板間電圧Vllは高さM08トランジスタi
のしきい値の絶対値1vthslとなる。
この1vthslの値はV、llが変化してもはとんど
変イビせず一定であるため、Mo8 )ツ□ンジスタI
K与えられるソース−基板パイブス効果は極めて小さな
ものとなぁ、したがって、MOll )ランジス−10
オン抵抗のしVIiい値変動による変化ははとんkなく
すことができる。□ ” 次にクロック信号φを゛Lレベル、クロック信号d
t’Fルベルにそれぞれ設定した場合、Mo8トランシ
スタ5のドレイン電極りの電圧はLレベルVllとなる
。このとき、■!輩がMOll )ランシスタ5のしき
い値vths iシも高い値であるかまたはVmがMo
1l )ランシスターのしきい値Vtk4よシも低い値
であれば、 Mo8 )ランシスタIItたはCKよっ
てMo1l )ランシスタ1の基板電極B K #1v
ll tlE供給される。I」方、Vtyがvthsよ
シも低くかつV農がVtk4よ)も低くければMo8
)ランシスタ5.#は共にオフ状態になるが、M08ト
ランジスタ10基板電極Bが設けられる前記Pフェル領
域12と、N型半導体基板11との間にはPH9合ダイ
オードが形成されておシ、このダイオードのカソード側
はV、、に保たれている丸め、この場合にもMOll
)ランシスタ1の基板電極Bの電圧はVsslIC近い
十分低い値に設定される。したがって、この場合、Mo
8 )ランシスタ1はオフ状態、また、Mo8 )ラン
ジスタx%オフ状態となるために、その両抵抗社菫。
変イビせず一定であるため、Mo8 )ツ□ンジスタI
K与えられるソース−基板パイブス効果は極めて小さな
ものとなぁ、したがって、MOll )ランジス−10
オン抵抗のしVIiい値変動による変化ははとんkなく
すことができる。□ ” 次にクロック信号φを゛Lレベル、クロック信号d
t’Fルベルにそれぞれ設定した場合、Mo8トランシ
スタ5のドレイン電極りの電圧はLレベルVllとなる
。このとき、■!輩がMOll )ランシスタ5のしき
い値vths iシも高い値であるかまたはVmがMo
1l )ランシスターのしきい値Vtk4よシも低い値
であれば、 Mo8 )ランシスタIItたはCKよっ
てMo1l )ランシスタ1の基板電極B K #1v
ll tlE供給される。I」方、Vtyがvthsよ
シも低くかつV農がVtk4よ)も低くければMo8
)ランシスタ5.#は共にオフ状態になるが、M08ト
ランジスタ10基板電極Bが設けられる前記Pフェル領
域12と、N型半導体基板11との間にはPH9合ダイ
オードが形成されておシ、このダイオードのカソード側
はV、、に保たれている丸め、この場合にもMOll
)ランシスタ1の基板電極Bの電圧はVsslIC近い
十分低い値に設定される。したがって、この場合、Mo
8 )ランシスタ1はオフ状態、また、Mo8 )ラン
ジスタx%オフ状態となるために、その両抵抗社菫。
BPは極めて大きな値となル、この結果、入力信号!N
は端子−に伝達されず、出力信号otrrは取り出され
ない。
は端子−に伝達されず、出力信号otrrは取り出され
ない。
第5図i上記l!施例装置において、両M08トランジ
スタ1.2のオン時に1端子3に与える入力信4!NO
電圧をOVかも+SVまで変化させた場合O%MO8)
ランシスタ1の抵抗R肩とMo8 )ランジスjうの抵
抗R?、およびkと訃の並列抵抗としてiわ畜れる端子
1,4間の抵抗aS肩それぞれの特性を表わすものであ
る。前記第3図に示す従来装置の特性図では、入力信号
INの電圧が+Lsv付近でNチャネルのMo8 )ラ
ンシスタ1のAYthが増加し、RIIの値が大きく変
化していたかき上記夾−例装置では第5図に示すように
%RWとR,とは、入力信号!Nの電圧が約Lsv付近
で線対称となるような変化をしている。すなわち、これ
はりpツク信号φ印加点とVSSとの間に入力信号IN
の電圧に応じてそのオン抵抗が変化す1MO8)ランシ
スタ5と一定のオン抵抗をもつMom )ランシスタC
とを直列挿入し、この両M08トランジスタ5゜6の直
列接続点aK入力信号INの電圧Kfiとんど等しい/
ヤイアス電圧を発生させ、とのΔイアスミ圧をMo8
’)ランシスタ1の基板電極IK供給シてMo8 )ラ
ンシスタ゛1のソース−基板バイアス効果を極めて小さ
くしてしきい値の変動をなくシ、シきい値の変動による
R舅の変化を最小におさえるようKしたからである。し
たがって、端子100間の抵抗Ro*#ifiぼ平坦*
*性となシ、入力信号IN’Ojl圧に影譬されず一定
値とすることができる。この結果、出力信号OUT i
’c発生する歪を極めて小さくすることかで龜る。
スタ1.2のオン時に1端子3に与える入力信4!NO
電圧をOVかも+SVまで変化させた場合O%MO8)
ランシスタ1の抵抗R肩とMo8 )ランジスjうの抵
抗R?、およびkと訃の並列抵抗としてiわ畜れる端子
1,4間の抵抗aS肩それぞれの特性を表わすものであ
る。前記第3図に示す従来装置の特性図では、入力信号
INの電圧が+Lsv付近でNチャネルのMo8 )ラ
ンシスタ1のAYthが増加し、RIIの値が大きく変
化していたかき上記夾−例装置では第5図に示すように
%RWとR,とは、入力信号!Nの電圧が約Lsv付近
で線対称となるような変化をしている。すなわち、これ
はりpツク信号φ印加点とVSSとの間に入力信号IN
の電圧に応じてそのオン抵抗が変化す1MO8)ランシ
スタ5と一定のオン抵抗をもつMom )ランシスタC
とを直列挿入し、この両M08トランジスタ5゜6の直
列接続点aK入力信号INの電圧Kfiとんど等しい/
ヤイアス電圧を発生させ、とのΔイアスミ圧をMo8
’)ランシスタ1の基板電極IK供給シてMo8 )ラ
ンシスタ゛1のソース−基板バイアス効果を極めて小さ
くしてしきい値の変動をなくシ、シきい値の変動による
R舅の変化を最小におさえるようKしたからである。し
たがって、端子100間の抵抗Ro*#ifiぼ平坦*
*性となシ、入力信号IN’Ojl圧に影譬されず一定
値とすることができる。この結果、出力信号OUT i
’c発生する歪を極めて小さくすることかで龜る。
第6図ないし菖10図はそれぞれヒの発明の他の実施例
の回路構成図である。
の回路構成図である。
第6図のものは、上記一定電圧Vlをr−)入力とする
Mol )ランシスターの代ルFc抵抗rを設けるよう
にしたものである。
Mol )ランシスターの代ルFc抵抗rを設けるよう
にしたものである。
第7図のものは、MOIlトランジスタ50ドレイン電
極Dt−Mo8)ランシスタ1Or−)電極GK接続す
る代jlK、一定電圧VCC印加点に接続するようKし
たものである。
極Dt−Mo8)ランシスタ1Or−)電極GK接続す
る代jlK、一定電圧VCC印加点に接続するようKし
たものである。
第8図に示すものは、Mo8 )ランゾスタ50ドレイ
ン電極りを、直接vec印加点に接続する代シに1り四
ツク信号φによってオンオフ制御されるNチャネルのエ
ンハンスメン)11MO11)ランシスタ1を介して接
続するようKしたものである。
ン電極りを、直接vec印加点に接続する代シに1り四
ツク信号φによってオンオフ制御されるNチャネルのエ
ンハンスメン)11MO11)ランシスタ1を介して接
続するようKしたものである。
第9図のもの□は、第8図中のMOB )ランシスタ8
のドレイン電極りをVC(I印加点に接続する代)K、
りpツク信号φ印加点に接続するようにしたものである
。
のドレイン電極りをVC(I印加点に接続する代)K、
りpツク信号φ印加点に接続するようにしたものである
。
@xomOもの紘、第8図の中のNチャネルのエンハン
スメン)llMOB)?ンジスpgをpチャネルのエン
ハンスメン)ffil[)11)メンジスターに置き換
えてこれをクロック信号7によって制御するようにした
ものである。
スメン)llMOB)?ンジスpgをpチャネルのエン
ハンスメン)ffil[)11)メンジスターに置き換
えてこれをクロック信号7によって制御するようにした
ものである。
上記鮪6図ないし第1O図に示す各実施例装置ではいず
れの場合でも、一対の所定電圧(タ四ツク信号−(D
YesあるいはWeeおよびWas )印加点間に1人
力信号INの電圧に応じてオン抵抗が変化するM08ト
ランジスタ5と所定の抵抗を4つi[)II )メンジ
スタdあるいは抵抗1と御飯直列挿入し、この直列接続
点aK入力信号INの電圧Itは等しいバイアス電圧を
発生させ、この電圧が/4イアス電圧としてMOB )
メンジスタ1の基板電極BK供給されることになる。し
たがって、これらの各実施−回路において一1□。ヶオ
よ、□。ど1−・□□□− とがで自、出力信号OUT K発生する歪を極めて小さ
くすることができる。
れの場合でも、一対の所定電圧(タ四ツク信号−(D
YesあるいはWeeおよびWas )印加点間に1人
力信号INの電圧に応じてオン抵抗が変化するM08ト
ランジスタ5と所定の抵抗を4つi[)II )メンジ
スタdあるいは抵抗1と御飯直列挿入し、この直列接続
点aK入力信号INの電圧Itは等しいバイアス電圧を
発生させ、この電圧が/4イアス電圧としてMOB )
メンジスタ1の基板電極BK供給されることになる。し
たがって、これらの各実施−回路において一1□。ヶオ
よ、□。ど1−・□□□− とがで自、出力信号OUT K発生する歪を極めて小さ
くすることができる。
なお、この発明は上記実施例に限定されるも、Oではな
く、たとえば第4図に水す実IIIfA例装置では、端
子3を入力信号供給端子、端子4を出力信号数p出し端
子として説明したが、これは端子4を入力信号の供給端
子として用い、また端子Jを出力信号数)出し端子とし
て用いるようKしてもよ−。
く、たとえば第4図に水す実IIIfA例装置では、端
子3を入力信号供給端子、端子4を出力信号数p出し端
子として説明したが、これは端子4を入力信号の供給端
子として用い、また端子Jを出力信号数)出し端子とし
て用いるようKしてもよ−。
さらに第4図に示す実施例装置を始めとする各*膣例装
置では、MOB )クンゾスタ1.2以外のトランジス
タの基板電極Bをそれぞれのソース電極BKfile続
する場合について説明したが、これは各MO8)メンジ
スタの基板電極Bを他〇電位点Kw:続するようにして
もよい。
置では、MOB )クンゾスタ1.2以外のトランジス
タの基板電極Bをそれぞれのソース電極BKfile続
する場合について説明したが、これは各MO8)メンジ
スタの基板電極Bを他〇電位点Kw:続するようにして
もよい。
またさもに上記実施例では、NチャネルのMol )メ
ンジスタ1を、NW半導体基板内に拡散法等によって形
成され九Pシェル領域内k。
ンジスタ1を、NW半導体基板内に拡散法等によって形
成され九Pシェル領域内k。
PチャネルのMOIi )メンジスタ2はNl!半導体
基板内にそれぞれiけ1、チャネヤ。MOB ) 。
基板内にそれぞれiけ1、チャネヤ。MOB ) 。
ンゾスタ1の基板電極Bに入力信号INあるいは出力信
号OUTの電圧に?”ffiば等しいバイアス電圧を供
給する場合にりいて説明したが、これはP型半導体基板
内に拡散法等によって形成され九Nウェル領域内KPチ
ャネル0M08)メンt)スタ2を設けかつpm亭導体
基板内KNチャネルのMOB )メンジスタlを設ける
場合には、PチャネルのMOB )メンジスタ2のしき
い値のソース−基板バイアス効果に対する感度がNチャ
ネルのMO8トランジスタ1のそれよシも大きくなるの
で、この場合Ka’PチャネルのMOIi )メンジス
タ2の基板電極BK端子4あるbは端子1の電圧に応じ
九バイアス電圧を供給すればよく、また、MOB )メ
ンジスタ5.#はPチャネルのものであってもよい。
号OUTの電圧に?”ffiば等しいバイアス電圧を供
給する場合にりいて説明したが、これはP型半導体基板
内に拡散法等によって形成され九Nウェル領域内KPチ
ャネル0M08)メンt)スタ2を設けかつpm亭導体
基板内KNチャネルのMOB )メンジスタlを設ける
場合には、PチャネルのMOB )メンジスタ2のしき
い値のソース−基板バイアス効果に対する感度がNチャ
ネルのMO8トランジスタ1のそれよシも大きくなるの
で、この場合Ka’PチャネルのMOIi )メンジス
タ2の基板電極BK端子4あるbは端子1の電圧に応じ
九バイアス電圧を供給すればよく、また、MOB )メ
ンジスタ5.#はPチャネルのものであってもよい。
またNチャネルのM08トランゾスタ1とPチャネルの
MOB )メンジスタ2それぞれの基板の不純物濃度が
高い場合には、両Mol )メンジスタ1,2の基板電
極Bそれぞれに、入力信号INあるいは出力信号OU’
l’ K応じたバイアス電圧を供給するようにしてもよ
い。
MOB )メンジスタ2それぞれの基板の不純物濃度が
高い場合には、両Mol )メンジスタ1,2の基板電
極Bそれぞれに、入力信号INあるいは出力信号OU’
l’ K応じたバイアス電圧を供給するようにしてもよ
い。
以上説明したようKこの発明によれ杖、一対O所廼電電
圧印加点間アナログ信号電圧に応じてインピーダンスが
変化するjllのインピーダンス手段および所定のイン
ピーダンスをもつ第2のインピーダンス手段とを直列挿
入し、上記第1.第2のインピーダンス手段の直列接続
点にアナログ信号電圧に応じたノ4イアス電圧を発生さ
せ、このバイアス電圧をMOI9型電界効果トランジス
タの基板電極に供給するようKしたので、出力信号に発
生する歪を極めて小さくすることができるアナ四ダスイ
ッチ装置を提供することができる。
圧印加点間アナログ信号電圧に応じてインピーダンスが
変化するjllのインピーダンス手段および所定のイン
ピーダンスをもつ第2のインピーダンス手段とを直列挿
入し、上記第1.第2のインピーダンス手段の直列接続
点にアナログ信号電圧に応じたノ4イアス電圧を発生さ
せ、このバイアス電圧をMOI9型電界効果トランジス
タの基板電極に供給するようKしたので、出力信号に発
生する歪を極めて小さくすることができるアナ四ダスイ
ッチ装置を提供することができる。
第1図は従来のアナログスイッチ装置の回路構成図、第
2図は同装置を構成するMOa型電界効果トランジスタ
の構造断面図、第3図は同従来装置の特性図、落4図は
この発明の一実施例の回路構成図、第5図は同実施例装
置の特性図、第6図ないし第1011はそれぞれこの発
明の傭の実施例の回路構成図である。 1・−Nチャネルでエンハンスメント型のMO1l型J
電゛界効果トランジスタ、2・・・Pチャネルでエンハ
ンスメン)WのMo8 ml電界効果トランジスタ、3
・・・入力信号の供給端子、4・・・出力信号の取)出
し端子、1.g、a−Nチャネルでエンハンスメント履
のMo5Wi電界効果トランジスタ、9・・・Pチャネ
ルでエンへンスメント製のMos m電界効果トランジ
スタ、1・・・抵抗、5r−xWi半導体基板、12・
・・Pウェル領域。 出願人代理人 弁理士 鈴江武 彦 1′、、′j′。 第1H 第2s 第3図 IN(V) I 4 H Φ 第6図 小 S6 第511! −IN(V) ’117H φ SS 第8図 6 vss
2図は同装置を構成するMOa型電界効果トランジスタ
の構造断面図、第3図は同従来装置の特性図、落4図は
この発明の一実施例の回路構成図、第5図は同実施例装
置の特性図、第6図ないし第1011はそれぞれこの発
明の傭の実施例の回路構成図である。 1・−Nチャネルでエンハンスメント型のMO1l型J
電゛界効果トランジスタ、2・・・Pチャネルでエンハ
ンスメン)WのMo8 ml電界効果トランジスタ、3
・・・入力信号の供給端子、4・・・出力信号の取)出
し端子、1.g、a−Nチャネルでエンハンスメント履
のMo5Wi電界効果トランジスタ、9・・・Pチャネ
ルでエンへンスメント製のMos m電界効果トランジ
スタ、1・・・抵抗、5r−xWi半導体基板、12・
・・Pウェル領域。 出願人代理人 弁理士 鈴江武 彦 1′、、′j′。 第1H 第2s 第3図 IN(V) I 4 H Φ 第6図 小 S6 第511! −IN(V) ’117H φ SS 第8図 6 vss
Claims (1)
- MOIIfIi電界効果トランジスタにアナ四ダ信号を
入力する丸めのあるいはヒのアナレグ信号を出力するた
めのソース電極およびドレイン電極と、このトランジス
タを導通制御するための制御償奇が一人力されるr−)
電極と、基板電極とを設け、一対の所定電圧印加点間に
上記アナログ信号電圧に応じてインピーダンスが変化す
る菖1のインピーダンス手段および所定のインピーダン
スをもつ第、20イン♂−ダンス手−とを直列挿入し、
上記菖l、第2のインビーメンス手段O直列接続点に上
記アナログ信号電圧に応じ九バイアス電圧を発生させ、
このバイアス電圧を上記トランジスタO基板電極に供給
して、入力アナログ信号の電圧変化に対する上記トラン
ジスタの抵抗の変化を最小にして出力アナ賞!信号の歪
を最小とし得るように構成したことを特徴とするアナロ
グスイッチ装置、。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56111932A JPS5813028A (ja) | 1981-07-17 | 1981-07-17 | アナログスイッチ装置 |
DE3226339A DE3226339C2 (de) | 1981-07-17 | 1982-07-14 | Analoge Schaltervorrichtung mit MOS-Transistoren |
US06/398,356 US4529897A (en) | 1981-07-17 | 1982-07-15 | Analog switch device having threshold change reducing means |
FR8212498A FR2509931B1 (ja) | 1981-07-17 | 1982-07-16 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56111932A JPS5813028A (ja) | 1981-07-17 | 1981-07-17 | アナログスイッチ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5813028A true JPS5813028A (ja) | 1983-01-25 |
JPH0119304B2 JPH0119304B2 (ja) | 1989-04-11 |
Family
ID=14573740
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56111932A Granted JPS5813028A (ja) | 1981-07-17 | 1981-07-17 | アナログスイッチ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5813028A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8149042B2 (en) | 2007-10-30 | 2012-04-03 | Rohm Co., Ltd. | Analog switch for signal swinging between positive and negative voltages |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5323260A (en) * | 1976-08-17 | 1978-03-03 | Torio Kk | Mosfet transistor switch circuit |
-
1981
- 1981-07-17 JP JP56111932A patent/JPS5813028A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5323260A (en) * | 1976-08-17 | 1978-03-03 | Torio Kk | Mosfet transistor switch circuit |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8149042B2 (en) | 2007-10-30 | 2012-04-03 | Rohm Co., Ltd. | Analog switch for signal swinging between positive and negative voltages |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0119304B2 (ja) | 1989-04-11 |
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