JPS58129344A - タイヤ製造装置におけるタイヤの分析方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 背景ならびに要約 本発明は、輸送手段のタイプの製造に関し、さらに特定
すると、タイプの複数の品質管理テストで支配する製造
プロセスの部分に関する。

タイプ産業は長いあいだ、タイプめ品質を改良する自動
化方法を求めて来た。何年にもわたって、種々のテスト
が、タイプの異なった部品ならびに異なった特性を評価
するために、工夫されて来た。典形的なテストでは、追
跡用のプローブが、回転するタイプの指示される部分か
らデータをピックアップし、そして機械的あるいは電気
的な装置が、予め定められたテスト用のアルゴリズムに
したがってデータを分析する。

追跡用のプローブは並べられて、種々の異なるタイプの
表面からデータを得る。たとえば、米国特許第３．３０
３．５７１号〔ヴエールズ・・・１９６７年２月１４日
〕は、並べられて、タイプのサイド壁ならびにトレッド
に沿う幾つかの異なった部分を追跡するプローブを記載
する。多数の追跡用のプローブはさらに、米国特許第２
，２５１，８０３号〔プミル・・・１９４１年８月５日
〕ならびに米国特許第３．８９５．５１８号〔レブロン
ド・・・１９７５年７月２２日〕に示されている。

近年では、自動車製造者が、タイプの大きさならびに性
能特性に厳格な許容差をますます設定している。すべて
の許容差に合致するためには、多数の追跡用プローブな
らびに多数のテスト用アルコリズムを通常、必要とする
。通常の製造速度を維持するために、多数の追跡用なら
びにテスト用のアルゴリズムが、できるだけ迅速に完結
されなければならない。通常、単一の機械でタイプの１
回転あるいは２回転以内で完結されなければならない。

これらの必要性が、既存の機械によって遂行されるテス
トの数を制限する。不幸にして、必要とされるテストの
数は劇的に増大し、そして異なるタイプのユーザは、異
なるテストを必要とする異なる許容差あるいは性能の必
要性を典形的に有する。

先行技術のテスト用機械は、テストの必要性の増大に対
抗することは不可能であった。こうしたテスト用の機械
は、１あるいは１以上の追跡用プローブを有し、これら
は特定のテスト用アルゴリズムに専用される。追跡用プ
ローブを１以上のテスト用アルコリズムに、あるいはそ
の逆に、ミックスしマツチする便利で信頼可能な方法は
、何にもない。結果として、不可能ではないが、困難な
ことは、先行技術のテスト用機械が、異なるタイプのユ
ーザの異なる許容差、あるいは性能条件を適応させる機
械により、遂行されるテストを容易に適合し、あるいは
変更することである。迅速な適合が根本的なものである
。製造ラインのテスト速度を保持するためである。

したがって、本発明の主目的は、タイプの製造を改良す
ることであり、予め定められたタイプの追跡用プローブ
と、予め定められたタイプのテスト用アルゴリズムとを
、正確にかつ迅速にマツチングするための自動化ディ、
フタル技術を提供することにより、改良することである
。

もう１つの目的は、製造ラインの要員に使用可能な先行
タイプの技術を提供することである。

さらにもう１つの目的は、先行タイプの技術を提供する
ことで、この技術では、テスト用アルゴリズムあるいは
テスト用プローブが、迅速にかつ正確に変えられて、異
なるタイプの規格に適応され得る。

もう１つの目的は、先行タイプの技術を提供することで
、この技術では、新しい追跡用プローブあるいはテスト
用アルゴリズムが、既存の追跡用プローブあるいはテス
ト用アルゴリズムを変えることなしに、迅速に付は加え
得る。

これらの目的を達成するために、発明者は、追跡用プロ
ーブを特定されたテスト用アルゴリズムに結合する先行
技術の機械から、全面的に離れた。メモリならびにプロ
セッサを含む適切なディジタル技術を使用することによ
って、追跡用プローブならびにテスト用アルゴリズムは
、異なる種類のタイプを適切に評価するのに必要なテス
ト基準にしたがい、迅速かつ信頼可能な方法でミックス
されると共にマツチされ得ることを、発明者は発見した
。製造ラインの要員は、テスト用の製造ライン速度を保
持するためＫ、必要な変形を都合よくつくり得る。これ
らの技術によって、タイプの状態は、迅速にテストされ
得ると共に、以前にも得られなかったある程度の正確さ
と信頼性とをもってテストされ得る。

これらならびに他の目的、そして本発明の利点ならびに
特徴は、説明の目、的のために、限定の意味でなく、添
付図面に関連して記載されよう。この場合、同じ番号が
、全体を通して同じ部分につけられている。

望ましい実施例の説明 第１図を参照すると、運搬手段のタイプを製造する８つ
の基本的なステップが、ブロックＭ１〜Ｍ８で示されて
いる。ステップＭ１で、ゴムの混合物がミックスされる
と共に、い（つかのタイプの織物が混合物でコートされ
る。加えて、タイプの種々の構成部品、たとえばトレッ
ドならびにベルトが製造されると共に、適切なサイズに
カットされる。ステップＭ２で、準備された部品が、心
細に共に、アセンブルされる。ステップＭ３で、アセン
ブルされた部品が硬化され、これにより構成部品を、単
一化された集合体に堅くする。ステップＭ４で、硬化プ
ロセス中につくられる材料の縁が、カットされるか、あ
るいはみがかれ、そしである場合、文字ならびに他のし
るしが、タイプのサイド壁にカットされる。ステップＭ
５で、タイプは欠かんのためにテストされる。全部の製
造プロセスの重要な部分である。ステップＭ６で、欠か
んをもつタイプは、いくらかでもあれば指摘される。指
摘の２つの方法は、（１）適切なしるしで欠かんタイプ
をマークするか、あるいは、（２）良好なタイプから欠
かんタイプを分離する。ステップＭ７で、タイプは、顧
客に出荷〔ステップＭ８］するための準備にパッケージ
される。

第２ならびに第３図を参照すると、テスト用のステップ
Ｍ５の部分は、追跡用のプローブに適切に適合されるタ
イプの力変化の測定前みがき［ｇｒｉｎｄｉｎｇ）機械
によって遂行され、これは、硬化されたタイプの２つの
サイド壁のそれぞれの横走行（１ａｔｅｒａｌ　ｒｕｎ
ｏｕｔ）を測定する。こうした機械は当分野で良く知ら
れるので、詳細に記載される必要がない。１つのこうし
た機械は、米国出願番号第１８＆７０７号に示され、こ
の名称は、「タイプのダイナミック不均衡のスクリーニ
ングシステム」と呼、ばれ、コランケル等の名前で１９
８０年９月１９日に出願され、本出願と同じ譲渡人に譲
渡されている。その出願に詳しく記載されているように
、力変化のテスト用機械】１０は、上方のフレーム１１
２に回転可能に配設された上方のチャック１１１を有す
る。

下方のフレーム１１３は、垂直なスピンドル１１４に支
持される。フレームに取り付けられるスリーブ１１５に
回転ならびに垂直運動するためである。下方のチャック
１１６は、スピンドル１１４に配設されると共に、第２
図で示される開の引っ込められた位置から、第３図で示
される閉の突出された位置に、軸方向に移動可能である
。

追跡用プローブ１１８ａ　、　１１８ｂは、タイプのサ
イト°壁の横走行に比例するアナログ信号を発生するこ
とが可能で、望ましくはテップ１１７ａ　。

１１７ｂを含む。プローブは、リニアな変位変換器に接
続され、これらは、上方のフレーム１１２ならびに下方
のフレーム１１３に配設される。第３図に示されるよう
に、チャック１１１　、１１６間に配設されるタイプ１
１９とかみ合うためである。

プローブ１１８ａ　、　１１８ｂは、それぞれ測定用メ
カニズムのサポー）　１２０ａ　、　１２０ｂによって
担持され、これらは上方のフレーム１１２ならびに下方
のフレーム１１３に対して垂直方向に調節可能である。

上方のチャック１１１と下方のチャツク１１６トノ間ツ
タイア１１９の動きにクリアランスを与えるためである
。垂直方向の調節は、フレーム１１２　、１１３に配設
された空気作動されるピストンならびにシリンダの装置
によって与えられ、これらは、測定用メカニズムのサポ
ート１２０ａ　、　１２０ｂを、第２図で示される引っ
込められた位置から、第３図に示される突出された位置
へ運び、タイプ１１９と接触するチップ１１７ａ。

１１７ｂを有する。

タイプの膨張用装置、たとえばチャック１１１あるいは
１１６のひとつの（図示省略の）ポートが、タイプ１１
９によって閉じられるスペースと、空気の圧力源との間
の連通のために与えられる。

荷重用のローラ１２３は、タイプのトレッドとかみ合っ
て、タイプ１１９０半径方向に動き可能であると共に、
上方のチャック１１１ならびに下方のチャック１１６の
ビードシートにタイプを着座するために使用される。

チップ１１７ａ　、　１１７ｂの変形として、近接セン
サ１２４ａ　、１２４ｂが、測定メにニズムのサポート
＋２０ａ　、１２０ｂに担持される。タイプから離間さ
れた位置に、垂直方向に調節するためである。

センサ１２４ａ　、１２４ｂは、タイプ１１９がチャッ
ク１１１　、１１６で回転されると、横走行を示す信号
を与えろ。

第５図を参照すると、プローブ１１８ａがさらに詳しく
示される。プローブ１１８ｂはプローブ１１８ａに等し
いと共に、第５図を参照すると理解されよう。プローブ
１１８ａは、炭化物のチップ１１７ａを支えるアルミニ
ウムのアーム１２６を備える。アームは軸、すなわちビ
ン１２８を回転し、スプリング（図示省略）によってノ
々イアスされ、これが、アームをタイプのサイド壁の方
へ強制する。アームは出来るだけ軽く作られると共に、
スプリング力は必要最小限である。チップなタイプのサ
イド壁のうねりに追従するためである。タイプ１１９と
の接触によって引き起されるアーム１２６の回転が、ピ
ン１２８をリゾルノ々１３０の内側で回転するようにす
る。リゾルノ々は変換器として作用し、これは、回転す
るタイプのサイド壁に対するプローブの運動を、出力の
導体１３４〔第６図〕の対応するアナログ信号に変換す
る。信号は、タイプのサイド壁の横走行に比例する値を
有する。相対するサイド壁に対し同様な信号が、プロー
ブ１１８ｂ〔第６図〕と関連する変換器に接続される導
体１３６につ（られる。リゾルパ１３０の付加的な詳細
が、米国出願番号第２７０．０８７号に記載され、その
名称は、［タイプのサイド壁の突部ならびに谷部検出の
ための方法ならびに装置］といい、シーンエンゲルの名
前で１９８１年６月３日に出願され、本出願と同じ譲渡
人に譲渡されている。

タイプ１１９は、典形的には、自動コンベアによって機
械１１０に運ばれると共に、下方のチャック１１６に自
動的に位置され、膨張されると共に、回転用のローラ１
２３と接紗することにょって回転される。スピンドル１
１４に取り付けられた・ξルス発生器１２５〔第６図〕
は、タイプが円弧の１度を通って回転するたびごとに、
電気パルス（回転あたり３６０−ξルス）を発生すると
共に、導体１２７に・ξルスを伝達する。プローブ１１
８ａ　、　１１８ｂはそれから、タイプの相対するサイ
ド壁Ｗｌ　、Ｗ２とかみ合って接触するようにされる。

第５図に示されるように、プローブは周囲まわりのサイ
ド壁の比較的に薄い部分を追跡し、これは、文字づけあ
るいは他のモールドされた窪みあるいは突出によっては
さまたげられず、この結果、プローブの動きは、サイド
壁それら自身のたわみを特徴とする。タイプ１１９が回
転されると、プローブ１１８ａ　、　１１８ｂはタイプ
のサイド壁に乗り、そしてプローブと関連する交換器は
、サイド壁の横走行に比例する値をもつアナログ信号を
つ（り出す。かくしてプローブは、突部Ｂあるいは谷部
■〔第４図〕を検出することができる。

サイド壁Ｗ１に望ましくない変形がある場合、平面Ｐか
らサイド壁の外側に伸びる寸法ＬＲＩが、変動に出会お
う〔第３図〕。同様にもし、サイド壁Ｗ２に望ましくな
い変形があると、平面ＰとサイドｑＷ２の外側との間の
横走行の寸法ＬＲ２が、変動する。第３図に示されるよ
うに、平面Ｐは、タイプの回転軸１１１に直角であると
共に、タイプの中心を通り抜け、これによってタイプを
、両側の対称的な２つの等しい部分に分割する。

第６図を参照すると、追跡用のプローブ１１８８゜１１
８ｂは、コンピュータすなわち処理装置１４０に接続さ
れる。望ましくは、コンピュータは、ヒユーレット／ｅ
ツカーｒ社によってつくられたモデルＨＰＩ、０００　
Ｌ　シＩＪ　−、ｅを備える。このコンピュータは、ラ
ンダムアクセスメモリ１４２を有し、そしてアナログか
らディジタルへの変換器を含むアナログの入力カート１
４４を有し、さらに第９図に示されるゲート用ならびに
マーク用の装置に信号を与えるディジタルの出力カード
１４５を有する。第６図に示されるように、追跡用プロ
ーブは、導体１３４　、１３６を介して、コンピュータ
のアナログ入力のカーＰに接続される。

コンピュータはさらにターミナル１５０を含み、これは
、ヒユーレット・ξツカード社によって製造されたモデ
ルＨＰ２６４５ａが望ましい。ターミナルは、ＣＲＴの
ディスプレイ１５２ならびにキーゼート１５４を含む。

ターミナルはコンピュータ】４０ニ、ヒユーレットノぐ
ツカ−Ｐによっテ供給される通常のパス１５６を介して
接続される。

第９図を参照すると、タイプ１１９は通常のコンイア】
６０によって、テスト用の機械１１０に運ばれる。もし
タイプが欠かんであると、これはコンイア１６２に運ば
れる。もしタイプが受は入れられるものであると、これ
はコンベア１６４に運ばれる。タイプの適切な運びは、
ゲート用機構１６６を介して達成され、これはコンベア
１６８を備え、このコ、ンベアは軸１７０まわりに、空
気のコントローラ１７２によって回転される。コントロ
ーラ１７２は、ピストン１７６が嵌合されるシリンダ１
７４を含み、これは接続用のロッド１７８を上昇あるい
は下降する。圧縮された空気は、ピストンの上方あるい
は下方のサイドに、導体１８２に伝達される論理のゲー
ト用信号により制御されるノ々ルブ１８０によって入れ
られる。

タイプはマーク用の機構１８４によって、インクでマー
クされ、この機構は、８つのスタンプ用のプレート１８
６を備え、これらはインクの供給１８８によって準備さ
れる。８つのソレノイＰ１９０〔各プレートに１つ〕は
、個々のプレートをタイプに接触するように押圧するの
を可能にする。ソレノイＰの組み合せを励磁することに
よって、マークの２９の異なった・ぞターンが、タイプ
に配され得る。ソレノイドは、コンピュータ１４０に接
続される８ビツトのノ９ス１９２によって制御される〔
第６図〕。

第６図を参照すると、オペレータはコンピュータ１４０
にデータを、キーゼードのユーティリティ（Ｕｔｉｌｉ
ｔｙ　）ルーチンを介して配し、コンピュータは、ＣＲ
Ｔのディスプレイ１５２に情報を要求すると共に、キー
ゼード１５４を介して情報か゛入れられるのを可能にす
る。キーゼードのユーティリティ（ＫＢＵ）の容易さＣ
ｆａｃｉｌｉｔｙ）は、キーＪ−ト１５４のスペースノ
々−を押圧することにより、そしてコーｒ　Ｊ　ＲＵ　
、　Ｋ　Ｂ　Ｕ　（ＲＥＴＵＲＮ）　、ｊを入れること
によって達成される。つぎのテーブル１に示される最初
の表は、それでディスプレイ１５２にリストされる。

テーブルＩ ＫＢＵディスプレイ ＫＢＵ：　　　ＦＵＮＣＴＩＯＮ　　　　ＶＡＬＵＥＯ
ＥＸＩＴ　ＫＢＵ Ｉ　　　　　ＢＵＩｇｅ　Ｗｉｎｄｏｗ　３１２　　　
　　Ｍｅａｓｕｒｅ　５ｐｅｃｓ３　　　　　Ｌｉｍ１
ｔ　ＴａｂｌｅｓＫＢＵ：ＥＮＴＥＲＦＵＮＣＴＩＯＮ ＫＢＵのディスプレイのライン１は、第７Ｄ図に示され
るアルザリズムに使用されるノぐラメータの１つのサイ
ズを定める。このノξラメータは第７Ｄ図と関連して後
で説明される。ＫＢＵのディスプレイのライン４は、オ
ペレータが、測定されるべき測定明細のタイプを決定す
ることを可能にし、そしてＫＢＵのディスプレイのライ
ン３は、オペレータが、これらの明細に測定制限を配す
ることを可能にする。重要なことは、入れられる最後の
機能がゼロ（０）であると、装置のもう１つの活動（ａ
ｃｔｉｖｉｔｙ）が入れられ得る。

オペレータが、測定明細を定めようと仮定スると、襞は
キーぎ−Ｐの２を入れる。装置はそテーブル２ １　　　ＰＴＰＩ　　　　１　　　１ ２　　　ＰｒＦ３　　　１　　　２ ３　　　ＢＬＧＩ　　　　２　　　１ ＥＮＴＥＲＬＩＮＥ　ＮＵＭＢＥＲＩ ＥＮＴＥＲ４ＣＨＡＲ，ＬＡＢＥＬ　ＰＴＰＩＥＮＴＥ
ＲＭＥＡＳＵＲＥＭＥＮＴ　ＴＹＰＥ　ＩＥＮＴＥＲ５
ＥＮＳＯＲＮＵＭＢＥＲ（Ｓ）　１テーブル２の許容可
能なラインの最大数を示す可変のＭＡＸは、プログラマ
によってつくられる。肱のための値は、共通のデータ記
憶のテーブルに記憶され、これは、ゾログラムによって
アクセスされる。テーブル２にディスプレイされるタイ
プの数は、分析のタイプと等しく、これはプログラムに
よって遂行され得る。望ましい実施例において、プログ
ラムは、ピークからピークへの分析か、あるいは、いわ
ゆる突部分析かのいずれかを遂行できる。プログラムは
、ピークからピークの分析に対してタイプ数１を、そし
て突部分析に対しタイプ数２を割り当てた。

テーブル２に表示されたセンサの数は、第３図に示され
るセンサと等しい。センサの数は、アナログ人力１４４
のチャネルを決定することによって割り当てられ、これ
に追跡用のゾローブが接続される。望ましい実施例では
、センサ１１８ａが数１に割り当てられ、センサ１１８
ｂが数２に割り当てられる。

テーブル２に示されるように、オペレータは、なんら再
プログラミングなしに、装置の測定機構を定め得る。テ
ーブル２は異なるセンサと、テストのアルザリズムのタ
イプ、あるいはデータ分析とをミックスならびにマツチ
することを可能にする。たとえば、オペレータは、セン
サ１１８ａあるいはセンサ１１８ｂから得られるデーソ
輌達して、ピークからピークの分析を選択できる。同様
に、オペレータは、センサ１１８ａするいは１１８ｂか
ら突部分析を選択できる。分析ならびにセンサの各組み
合せの場合、オペレータはテーブル２の表示の下方に必
要とされるデータを入れる。たとえば、オペレータがセ
ンサ１１８ａからピークからピークの分析を望むと仮定
すると、彼はラインｌを入れ、そして任意の４の文字ラ
ベル（たとえば、ＦＴＰＩ）をタイプしよう。彼はそれ
から、ピークからピークの分析のためのタイゾロ−Ｐ（
すなわち、１）、ならびに所望されるセンサの数（すな
わち、１１８ａの場合、１）を入れよう。オペレータは
それから、任意の特定のタイプと関連して、所望の分析
タイプならびにセンサの他のすべての組み合せに対し、
同様な情報を入れよう。分析の各折しいタイプは、もう
１つのライン数を必要としよう。

オペレータが、ライン１と関連して、センサ１１８ａの
ためにピークからピークの分析を選択したと仮定すると
、テーブル２０アンダーラインされた値が、表示される
。もしオペレータがそれから、センサ１１８ｂのために
もう１つのピークからピークの分析を要求し、さらにセ
ンサ１１８ａのために突部分析を要求すると、ディスプ
レイ１５２は、同様な方法でこれらの要求のために値を
表示しよう。

オペレータによって入れられた情報は、ディスプレイ１
５２　Ｊ’；表示するのみならず、測定テーブルＭＥＳ
ＰＣのメモリ１４０に記憶されよう。

オペレータが、適切な測定明細を入れたことを確認した
あと、彼は、ＫＢＵのディスプレイにもどると共に、そ
れからキーデーＰの数３を入れることによって、テーブ
ルを制限するようにする。ディスプレイ１５２はそれで
、アンダーラインされた値を欠いた、テーブル３に示さ
れる制限テーブルをリストする。

テーブル３ １　　　　　ＰＴＰ　１　　　　　　　…２　　　　Ｐ
ＴＰ　２　　　　　　３５３　　　　　ＢＬＧＩ　　　
　　　　　旦Ｍａｒｋｉｎｇ　Ｂｉｔｓ ４　　　　００００００００ Ｅｎｔｅｒ　Ｌｉｎｅ　Ｎｕｍｂｅｒ　　ＩＥｎｔｅｒ
　Ｖａｌｕｅ　　　　３５−テーブル３に示されたディ
スプレイに応答して、オペレータは、選択された分析の
各々のために制限を入れ、これを越えると、タイプは欠
かんと判断され、そしてライン４に８ピツトのマーク用
コーｒの値を入れ得る。

オペレータが、ライン１のピークからピークの分析（す
なわち、ＰＴＰ　１　）のために３５の制限を入れると
仮定すると、ディスプレイ１５２は、テーブル３のアン
グラインされた部分で示されるよう罠、この制限をリス
トするだろう。

テーブル３に入れられる値は、表示されるのみならず、
メモリ１４２に記憶される。第７Ｃ図ならびに第７Ｄ図
に示される分析処理により使用するためである。

制限が入れられたあと、そしてオペレータは、「０」を
入れることによってＫＢＵ機能を無効（ｅｘｉｔ）にし
たあと、装置はタイプ１１９を分析することが可能にさ
れる。

第７Ａ図を参照すると、プログラムがステップ８２０を
入れる。この場合、装置は荷重されたタイプを待機する
。第９図に示されるようＫ、タイプ、たとえばタイプ１
１９は、コンベア１６０に沿って装置に運ばれる。第２
ならびに第３図に示されるように、タイプはチャック１
１１，１１６に自動的に嵌合される。チャックはそれか
ら、第３図に示される閉じられた位置に駆動される。

荷重ローラ１２３はそれから回転されると共に、タイプ
１１９のトレッドと接触して駆動される。

この結果、タイプはチャックに適切に並べられ、そして
膨張される。タイプ１１９がチャックで回転を始めるや
否や、パルスが、パルスの発生器１２５〔第６図〕から
コンピュータ１４０に送られる。／ξルスが送られると
、プログラムはステップＳ２１〔第７Ａ図〕を入れ、そ
して、予め定められた時間が過ぎるまで待機して、この
のち、プログラムはタイプが適切なスビーｒで回転する
と仮定する。

ステップ８２２で、コンピュータはサンプルすると共に
、サイド壁Ｗ１からの３６０値、ならびにサイド壁Ｗ２
からの３６０値をディジタルの形で記憶する〔第３図〕
。サイド壁Ｗｌ　、Ｗ２のそれぞれの１つの値は、タイ
プ１１９の回転の各角度で記憶される。かくして、３６
０値は、サイド壁Ｗ１の全３６０度の円弧に対応し、そ
して同様な数の値は、サイド壁Ｗ２の全２６０度の円弧
に対応する。タイプの回転の各角度の値は、テーブル４
に示される形でメモリアレイのＩＶＡＬに記憶される。

テーブル４ １　　　　　１　　　　　　。

２　　　　　　１　　　　　　　。

３　　　　　　１　　　　　　　。

４　　　　　　　１　　　　　　　　。

５　　　　　　　１　　　　　　　　。

６　　　　　　　１　　　　　　　　。

７　　　　　　　１　　　　　　　　。

８　　　　　　　１　　　　　　　　。

９　　　　　　　１　　　　　　　　。

１０　　　　　　１　　　　　　　。

１１　　　　　　１　　　　　　　。

１２　　　　　　１　　　　　　　。

１３　　　　　　１　　　　　　　。

１４　　　　　１　　　　　　　。

１５　　　　　１　　　　　　　。

１６　　　　　　　　　１　　　　　　　　　　＋８１
７　　　　　　　　１　　　　　　　　＋１２１８　　
　　　　１　　　　　　＋１６１９　　　　　　１　　
　　　　＋２０２０　　　　　　１　　　　　　＋２０
２１　　　　　　１　　　　　　＋２０２２　　　　　
　１　　　　　　＋１６２３　　　　　　　　　１　　
　　　　　　＋１２２４１＋８ ２５　　　　　　　１　　　　　　　　＋４２６　　　
　　　　　　１　　、　　　　　　　　　＋４２７　　
　　　　１　　　　　　　　。

２８　　　　　　　ｌ　　　　　　　　。

２９　　　　　　１　　　　　　　　。

３０　　　　　　１　　　　　　　　。

１゜ ３２　　　　　　１　　　　　　　　。

３３　　　　　１　　　　　　　　。

３４１゜ ３５　　　　　　１　　　　　　　　。

３６　　　　　　１　　　　　　　　。

３７　　　　　　１　　　　　　　−４３８　　　　　
　　１　　　　　　　−８３９　　　　　　　１　　　
　　　　−４４０　　　　　　１　　　　　　　　。

４１　　　　　　１　　　　　　　　。

センサ１１８ａの第１の４１のサンプルから得られるサ
ンプルデータが、テーブル４に示される。同様なデータ
が、センサ１１８ｂの場合に得られると共に、記憶され
るが、しかし示されていない。

第７Ａ図を再び参照すると、センサ１１８ａ、１１８ｂ
の読み出しが、メモリのテーブル（ＤＢＵＦ）に入れら
れたあと、プログラムはステップ８２３を入れ、これが
、１に等しい、記憶された測定テーブル（ＭＥＳＰＣ）
のためのライン指数をセットする。このことは、プログ
ラムが、ステップ８２４によって示されるように、テー
ブルのライン１に示されるデータをアクセスするのを可
能にする。プログラムはステップＳ２６に進み、ここで
可変の５ＥＮＳＯＲが、テーブル２のライン１で指摘さ
れたセンサに等しくセットされる〔すなわち、センサ１
はセンサ１１８ａに対応する〕。テーブル２のライン１
の分析タイプが、タイプ１に等しいので、プログラムは
分析ルーチン（ＰＥＡＫ）を呼び出し、これが、ピーク
からピークの分析を遂行する〔ステップＳ２７．８２８
］。

第７Ｃ図を参照すると、ピークからピークの分析アルゴ
リズム（ＰＥＡＫ）が、ステップ８３８で入れられる。

ステップ８３９で、可変のＳ　ＡＭＰ　ＬＥは、ｌに等
しくセットされる。ステップ８４０で可変のＬＯＷＰＫ
は、サンプル（角度）１ならびニセンサ１（すなわち、
０）のためにテーブル４に示される入力データの値、Ｉ
ＶＡＬ（１，、〜。

５ＥＮＳＯＲ）に等しくセットされる。ステップ８４１
で、他の可変のＨＩ　ＧＨＰＫが、同じ値に等しくセッ
トされる。ステップ８４２で、ＳＡＭＰＬＥが２に等し
くセットされる。

ステップ８４３で、ＳＡＭＰＬＥ　２ならびにセンサ１
のＩ　ＶＡＬの値が、ＨＩ　ＧＨＰＫの値に比較される
。

モ１．　ＩＶＡＬが、ＨＩＧＨＰＫヨ’）　犬テアレバ
、ＨＩＧＨＰＫはステップＳ４４で、ＳＡＭＰＬＥ　２
ならびにセンサ１の値ＩＶＡＬに等しくセットされる。

ステップ８４５で、ＩＶＡＬの現在（ｃｕｒｒｅｎｔ　
）値は、ＬＯＷＰＫの値と比較される。もしＩＶＡＬが
ＬＯＷＰＫより小さい場合は、ＩＶＡＬの現在値が、ス
テップＳ４６でＬＯＷＰＫの値に置き換わる。

ＳＡＭＰＬＥノ値が２に等しイノで、ＳＡＭＰＬＥはス
テップＳ４７．８４８で１により指数化され、そしてル
ーチンがステップ８４３にもどる。ステップ８４３−８
４７は、３６０までのＳＡＭＰＬＥの各値で繰り返され
る。丁度、この点で、ＨＩ　ＧＨＰＫが、サンゾルの最
大の正の値に等しく（すなわち、このサンプルでは＋２
０である）、そしてＬＯｗＰＫはサンプルのもつとも小
さい値に等しい〔すなわち、この場合、−８である〕。

ステップ８４９で、可変のＶＡＬＭＥは、ＨＩＧＨＰＫ
とＬＯＷＰＫとの間の絶対的な差に等しくセットされる
。結果として、ＶＡＬＶＥが、センサ１からのデータの
ピークからピークの値に等しい。第８図に示される実例
では、この差が２８である〔すなわち＋２Ｏ−（−８）
である〕。

ステップＳ５０は、ステップ８７２にプログラムをもど
し〔第７Ｒ図〕、この場合現在の指数のＶＡＬＵＥは、
テーブル５に示される方法で、メモリのテーブル（ＭＢ
ＵＦ　）に記憶される。

テーブル５ １　　　　　　２８ ２　　　　　　　　　　　　　　２８ ３　　　　　　　７．４８ 第７Ｂ図を再び参照すると、ステップＳ７３で、もし２
指数が、共通のデータ記憶のテーブルに記憶された■の
値よりも小さいと、可変のＩ　ＮＤＥＸの値が、ステッ
プＳ７４で１により増加されると共に、プログラムがス
テップ８２４にもどる〔第７Ａ図〕。テーブル２０指数
のライン２から９の情報がそれから、ステップＳ２４　
、Ｓ２５でアクセスされ、そしてセンサの値が、ステッ
プ８２６で２に変えられる。テーブル２のライン２が、
タイプ１の測定アルゴリズムを指定するので、ＰＥＡＫ
のルーチンが再びステップ８２８で呼び出される。

第７Ｃ図に示されるＰＥＡＫのルーチンがそれから、セ
ンサ２の値で繰り返され（図示省略）、これらが、メモ
リのテーブル４に近い方法で記憶される。ＰＥＡＫのル
ーチンの終りで、ライン２の指数の値が、テーブル５で
示されるようなＮＢＵＦ　（７）　ｆ　−ｉルに記憶さ
れる。センサ２からのデータが、センサ１のためのデー
タと同じであると仮定すると、テーブル５に記憶される
値が再び２８になろう。しかしながら一般Ｋ、センサ２
の値は、センサ１の値と異なると期待され得る。

ステップ８７３　、Ｓ７４では〔第７Ｂ図〕、ＩＮＤＥ
Ｘの値が再び１によって値３まで増加される。プログラ
ムはそれで、ステップ８２４．８２５にもどりループす
る。この場合、テーブル２のライン３からの情報がアク
セスされる。ステップ２６で、センサの値は、テーブル
２のライン３にしたがって１に変えられる。ステップ８
２７，８７０，８７１では、ＢＵＬＧのアルゴリズムが
呼び出される。というのはタイプ２の分析が、テーブル
２のライン３で指摘されているからである。

第７Ｄ図を参照すると、ＢＵＬＧのルーチンは、ステッ
プ５１２０で始まる。

ステップ５１２１では、プログラムが初期の基準ベース
を確立する。すなわち、可変のＩＷＩ　ＤＥの値を介し
て、値１からサイド壁Ｗ１のための、メモリに記憶され
たＩＶＡＬの値を総計することによってである。ＩＷＩ
ＤＥが３１に等しいことが望ましく、そしてこれが、テ
ーブル１のライン１に入れられた値である。ＩＷＩＤＥ
が３１に等しいと仮定すると、テーブル４に記憶される
最初の３１の横走行のサンプル値が、コンピュータによ
って総計されると共に、可変のＩＷＳＵＭとして記憶さ
れる。第８図に示されるように、回転の最初の３１の角
度のためのＩＷＳＵＭが、１４０に等しい。

ステップ５１２２では、横走行の値の第１のグループと
関連して使用される他の初期の値が、確立される。すな
わち、コンピュータの可変の値、Ｉ　５ＴＲＴ　、　Ｉ
　ＣＥＮＴＲならびにＩＦＩＮＩが確立される。第８図
に示されるように、３１の横走行の値の第１のグループ
のためのこれらの値は、１．１６ならびに１３にそれぞ
れ等しい。

ステップ８１２３では、初期のサイド壁の突部変形に対
応するプログラムの可変のｖＡＬＵＥか、０に等しくセ
ットされ、そしてＳＡＭＰＬＥは再び１に等しくセット
される。横走行の値の３６０の異なったグループのため
の基準値は、最終的に計算され、そしてＳＡＭＰＩＪは
ソフトウェアのカウンタとしてつくられて、どれ位のグ
ループが計算されたかについての追跡を保持する。カウ
ンタは初めに１に等しくセットされる。

ステップ５１２４で、基準値のＩＷＳＵＭは、ＩＷＩＤ
Ｅで乗算された角度１６〔すなわち、値Ｉ　ＣＮＴＲ：
］で、横走行の値と比較される。この結果が、回転の最
初の３１の角度によってあられされる横走行の値に対応
する変形の度合を示すグループの変形値（ＮＥＷＶＡＬ
　）である。第８図テ示されルヨうに、最初＋７）　Ｎ
ＥＷＶＡＬ値（ＮＥＷＶＡＬｌ）が、１０８である。

Ｎ　ＥＷＶ　Ａ　Ｌはそれから、初めのＶＡＩ、ＵＫと
比較される。新しい突部の値が記憶されるかどうかを決
定するためである。ステップ５１２５にしたがって、新
しい突部の値は、もしＮＥＷＶＡ　Ｌの現在値がＶＡＬ
ＵＥの現在値を越えると、指示される。もしそうならば
、新しい値が、ステップ５１２６の新しいＶＡＬＵＥと
して記憶される。

１０８　（ＮＥＷＶＡＬ、）がＯ（ＶＡＬＵＥ）よりも
犬であると、ＶＡＬＵＥの値は１０８に変えられる。

ステップ５１２７では、プログラムは可変のＳＡＭＰＬ
Ｅが、３６０に等しいかどうかを決定する。横走行の値
の１つのグループのみが、この点で丁度に考えられるの
で、答えはなく、そしてプログラムがステップ８１２８
に移動する。

ステップ８１２８−８１３２が使用されて、サイＰ壁の
回転の角度２−３２を示す横走行の値に対応する新しい
グループ値を計算する。言い換えると、最初のグループ
が回転の角度１−３１に対応するあいだ、考えられる新
しいグループは角度２−３２に対応する。プログラムの
この部分は、３１０角度の広さの窓にアナログ化され得
、これがタイプに配される。窓を介して示す横走行の値
を分析するためである。この窓はそれから１角度、回転
されて、前者の値のひとつがカッ々−されると共に、新
しい値か露呈される。

カッ々−された値を差し引くと共に、新しく露呈された
値を加えることによって、新しいグループのための値の
総計が、ステップ８１２１で要求される完全な総計を行
なうことなしに、直ちに決定され得る。このアプローチ
によると、ステップ８１２８で、古い基準のグループの
最初の点〔たとえば、回転サンプル１に対応するＩ　Ｖ
ＡＬ　）は、記憶され、かくして、これが総グループの
値から後で差し引かれ得る。

ステップ５１３１では、ステップ５１２２で計算された
同じ値のための指針（ｐｏｉｎｔｅｒ　）は、係数の演
算子（ｍｏｄｕｌｕｓ　ｏｐｅｒａｔｏｒ）　ＭＯＤの
手段によりご１によって指数化される。これが標準のフ
ォートラン機能であり、これは、可変が３６０を越えて
指数化する前に、３６０を差し引（。

これが必要とされるのは、適切な値が計算される場合で
、窓がタイプの全周囲まわりを包むと共に、角度１−３
１に対応するグループの初期の開始用値のいくつかを使
用するときである。

ステップ５１３２では、新しい基準値が、古い「カッ々
−された」値［ｌ０ＶＡＬ　］を差し引（と共に、「新
しく露呈された」値（すなわち、角度３２のＩ　ＶＡＬ
　）を加え、そして得られた値を可変のＩＷＳＵＭとし
て記憶することによって、計算される。第８図に示され
るように、第２のグループ〔角度２−３２’ｌのための
ＩＷＳＵＭ２はなおも３４である。横走行の値の新しい
グループのための新しい基準値が、ステップ５１３２で
計算されたあと、プログラムはステップ５１３３で可変
のＳＡＭＰＬＥを指数化する。プログラムはそれから、
ステップ５１２４にもどる。第２のグループのために新
しいグループの値（Ｎ　ＥＷＶＡＬ　：）を計算するた
めである。第２のグループのため（１：）　ＮＥＷＶＡ
Ｌ　［ＮＥＷＶＡＬ２）は、２３２になるように計算さ
れる〔第８図参照〕。ＮＥＷＶＡＬ２がＶＡＬＵＥの前
の値〔すなわち、１０８〕よりも大きいなら、２３２は
ステップ５１２６のＶＡＬＵＥのための新しい値として
記憶される。プログラムはそれから、前述されたように
、ステップ８１２７−８１３３を介して進む。

３６０のグループの値が考慮された後、可変のＳＡＭＰ
ＬＥは３６０に等しく、そしてプログラムはステップ５
１２９に分岐する。ステップ５１２９で、ＶＡＬＵＥは
３１　（ＩＷＩＤＥＯ値）で除算することによって評価
される。テーブル３で確立される突部制限と適切に比較
するための値を準備するためである。ステップ５１２９
の始めのＶＡＬｔＪＥが２３２であると仮定すると、ス
テップ８１３θのＶＡＩ、ＵＥは２３２／３１すなわち
７．４８である。ステップ５１３０で、プログラムはス
テップ８７２にもどる〔第７Ｂ図〕。

ステップ８７２で、評価されたＶＡＬＵＥの値は、ある
制限と後で比較するため、テーブルｊのライン３に記憶
される。

ＩＮＤＥＸならびにＭＡＸの両方が３に等しいので、ス
テップ８７３で、プログラムはステップ５１５０に向け
られる〔第７Ｂ図〕。第７Ｂ図に示されるように、プロ
グラムは、テーブル５で前に記憶された値と、テーブル
３で記憶された制限とを比較する。ステップ５１５０で
、ラインの指数は、１に等しくセットされ、そしてステ
ップ８１５１で、テーブル３のライン１に記憶された制
限（すなわち、３５）が得られる。３５がテーブル５の
ラインＩＫ記憶された値〔すなわち、２８）よりも小さ
いので、指数（ｉｎｄｅｘ）の値はステップ８１５３．
８１５４で１によって増加され、そしてプログラムは８
１５１にもどりループする。プログラムはそれから、テ
ーブル５のライン２に記憶された値がテーブル３のライ
ン２で記憶された制限よりも太きいかと５かを決定する
。これがそうでないと、ライン指数は再び、ステップ５
１５３．５１５４で１によって増加され、そしてテーブ
ル３．５のライン３に記憶された値ならびに制限が、比
較される。ライン３が比較されたあと、ＩＮＤＥＸはＭ
ＡＸに等しくなり、そしてプログラムはステップ５１５
５に出力のフラッグを発生する。ルーチンが完成された
ことを示すためである。プログラムはそれから、ステッ
プ８２０　Ｋもどるループとし〔第７Ａ図〕、そしてテ
ストされるもう１つのタイプを待機する。

テーブル５に記憶された値が、テーブル３に記憶された
制限を越えた場合に、出力拒絶のフラッグが、ステップ
８１５６でセットされる〔第７Ｂ図〕。ステップ５１５
６の拒絶のフラッグのセットに応答して、第９図に示さ
れるマーク用の装置は、パス１９２を介して初期化され
得る。

受は入れられない突部あるいはピークからピークの値の
存在を示す印でタイプをマークするためである。同様Ｋ
、論理の１つの信号が、導体１８２に伝達され得る。コ
ンベアのゲート１６８を、受は入れられるタイプから、
受は入れられなし・タイプを分離するため、コンベアの
ゲート１６８を、′コンベア１６４近（の位置に上昇す
るためであるＯ 本発明の最良のモードが、ここで記載されたにもかかわ
らず、この技術分野に習熟する人は、つぎのことを認識
しよう。すなわち、最良のモードが、ｅ！ｉ’ｙ旬請か
地回に定められるような、本発明の真の精神ならびに展
望から離れることなしに、変化されると共に変形される
：、とγ゛ろる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、輸送手段のダイアを製造する実例的な方法を
示す概略的なフローダイアダラムである。 第２図は部分的な側面図で、採用されろ通常のダイアの
力変化の測定ならびに回転用の機械で、本発明の望まし
い実施例による必要なある入力測定の信号を与える。 第３図は第２図で示される装置のもうひとつの図で、こ
の場合、ダイアは配設されると共に膨張され、そして追
跡用プローブが配置されて、人力測定の信号を与える。 第４図は配設されると共に膨張されたタイプの拡大され
た斜面図である。 第５図は第４図に示されるダイアの概略図で、ダイアの
サイド壁に配置される追跡用プローブを説明する。 第６図は電気的な概略のブロックダイアダラムで、追跡
用プローブに接続される望ましい実施例と関連して使用
するための、望ましい形の処理ならびに記憶装置を示す
。 第７Ａ、第７Ｂ、第７０ならびに第７Ｄ図はフローダイ
アダラムで、第６図に示される処理装置のための望まし
い形のプログラムを示す。 第８図はタイミングダイアダラムで、実例的なグループ
の入力データで動作する第７Ｃならびに第７Ｄ図のフロ
ーダイアダラムのい（つかのステップを示す。 第９図は、望ましい実施例と関連して使用するための望
ましい形のタイ７のマーク用ならびにゲート用装置を示
す概略的な側面図である。 １４０：処理装置・・・処理手段 １４２：メモリ・・・記憶手段 Ｉ４４：アナログ入力 １４５：ディジタル出力 １５０：ターミナル １５２：ディスプレイ・・・表示手段 １５４・・・キーゼード・・・選択手段特許出願人 ザ　グツＰイア−タイヤ　アンＰ ラバー　コン７ぞ二一 手　続　補　正　書（自発） 昭和５８年２月２４日 特許庁長官　殿 １、事件の表示　昭和５８年特許願　　第５６８６号３
、補正をする者 事件との関係　　　出願人 ザ　グツドイア−タイヤ　アンド　ラバー　コンパニー
４、代理人 住所　　東京都港区赤坂１丁目９番２０号５、ｍ正の対
象

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）タイプの製造システムであって、該システムはタイ
   プの部品をアセンブルすると共に硬化するための手段を
   含むと共に、硬化されたタイプをテストするための手段
   を含んで、少なくとも第１のセンサ手段ならびに第２の
   センサ手段からタイプのデータを検出すると共に、少な
   くとも第１のテスト用アルゴリズムならびに第２のテス
   ト用アルゴリズムによって上記のデータを分析し、改良
   された装置は、オペレータが上記のセンサ手段と上記の
   テスト用アルゴリズムとの組み合せを選択できて、該選
   択された組み合せにもとづいてタイプを分析するための
   ものであって、上記の装置は、上記のセンサ手段ならび
   にテスト用アルゴリズムの少なくとも１つの組み合せを
   選択する手段を備えて、各選択される組み合せは、上記
   の第１ならびに第２のセンサ手段の少な（とも１つを含
   むと共に、上記第１ならびに第２のテスト用アルゴリズ
   ムの少なくとも１つを含み、 さらに上記の選択されたセンサ手段から得られるデータ
   を記憶するための記憶手段を備えると共に、 上記の選択されたテスト用アルゴリズムにしたがうデー
   タの分析のための処理用手段を備え、 かつ上記のデータの分析に応答して上記タイプの条件を
   表示するための手段を備えてなるタイプの製造装置。 ２）上記特許請求の範囲第１項の装置にお（・て、タイ
   プのデータは、アナログ信号の発生によって検出される
   と共に、さらに該装置が、該アナログ信号をタイプの大
   きさの多数の値を示すディジタル信号に変換するための
   手段を備える装置。 ３）上記特許請求の範囲第２項の装置において。 上記の記憶手段がディノタルのメモリを備える装置。 ４）上記特許請求の範囲第１項の装置において、上記の
   選択用の手段が、キーＩ−ド並びにディスプレイ用のス
   クリーンを備える装置。 ５）上記特許請求の範囲第１項の装置において、上記の
   選択用の手段がさらに、上記タイプの特性の受は入れ制
   限を定める少なくとも１つの制限のエントリーを可能に
   する装置。 ６）上記特許請求の範囲第５項の装置において、上記の
   処理用手段が、上記のオペレータによって選択された組
   み合せを決定するための手段を備えると共に、上記選択
   されたセンサ手段から出される上記のタイプデータにし
   たがって、上記の選択されたテスト用アルゴリズムを処
   理するための手段を備えて、上記タイプの条件を示す結
   果の値を得るようにし、さらに上記の制限値に対して上
   記の結果の値を比較して、上記のタイプが受は入れられ
   るかどうかを決定し、かつ表示するための上記の手段が
   、上記の制限の値に対する上記の結果の値の比較にもと
   づいて、上記のタイプの条件を表示するための手段を備
   えてなる装置。 ７）上記特許請求の範囲第１項あるいは第６項の装置に
   おいて、上記の表示するための手段が、上記のタイプを
   マークするための手段を備えてなる装置。 ８）上記特許請求の範囲第１項あるいは第６項の装置に
   おいて、上記の表示用手段が、上記のタイプをゲートす
   るための手段を備えてなる装置。