JPH0629831B2

JPH0629831B2 - タイヤ製造装置における検査装置

Info

Publication number: JPH0629831B2
Application number: JP2411673A
Authority: JP
Inventors: クリストファークリステイーウイリアム
Original assignee: Goodyear Tire and Rubber Co
Current assignee: Goodyear Tire and Rubber Co
Priority date: 1982-01-18
Filing date: 1990-12-19
Publication date: 1994-04-20
Anticipated expiration: 2009-04-20
Also published as: US4434652A; JPH0345334B2; EP0084514A1; EP0084514B1; JPS58129344A; CA1183606A; DE3365366D1; JPH05223701A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は車両用タイヤの製造に関
し、特にタイヤ製造過程の複数の品質管理テスト部門に
関する。

【０００２】

【従来の技術】タイヤ産業は長い間、タイヤの品質を改
良する自動化方法を求めて来た。何年にもわたって、種
々のテストがタイヤの異なった部品ならびに異なった特
性を評価するために、工夫されて来た。典型的なテスト
では、追跡用のプローブが、回転するタイヤの指示され
た部分からデータをピックアップし、そして機械的ある
いは電気的な装置が、予め定められたテスト用のアルゴ
リズムにしたがってデータを分析する。追跡用のプロー
ブはタイヤの種々の異なる表面部分からデータを得るよ
うに装置されている。たとえば、米国特許第３，３０
３，５７１号［ヴェールズ…１９６７年２月１４日］
は、タイヤのサイドウォールならびにトレッドに沿う幾
つかの異なった部分を追跡するように設けられたプロー
ブについて記載している。多数の追跡用のプローブはさ
らに、米国特許第２，２５１，８０３号［プミル…１９
４１年８月５日］ならびに米国特許第３，８９５，５１
８号［レブロンド…１９７５年７月２２日］に示されて
いる。

【０００３】近年、自動車製造者は、タイヤの寸法形状
ならびに性能特性にますます厳格な許容値を設定してい
る。すべての許容値に合致させるために、通常多数の追
跡用プローブならびに多数のテスト用アルゴリズムを必
要としている。通常の製造速度を維持するために、多数
の追跡用ならびにテスト用アルゴリズムが、できるだけ
迅速に終了されなければならず、通常、測定は単一の機
械でタイヤの１回転あるいは２回転以内で終了されなけ
ればならない。これらの条件が、既存の機械によって遂
行されるテストの数を制限する。一方、不幸にして、必
要とされるテストの数は劇的に増大し、そして異なるタ
イヤのユーザは概して、異なるテストを必要とする異な
る許容値あるいは性能を要求している。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】先行技術のテスト用機
械は、テストの必要性の増大に対応することは不可能で
あった。こうしたテスト用の機械は、１つあるいは１つ
以上の追跡用プローブを有し、これらのデータは特定の
テスト用アルゴリズムでのみ処理される。追跡用プロー
ブを１つ以上のテスト用アルゴリズムに、あるいはその
逆に、混用して適用できる便利で信頼可能な方法は全く
なかった。その結果、先行技術のテスト用機械を、異な
るタイヤのユーザの要求する異なる許容値、あるいは性
能条件に適用するテストに容易に適合させ、あるいは変
更することは不可能ではないが困難である。迅速なテス
ト用機械の適合が製造ラインのテスト速度を維持するた
めに最も重要なことである。

【０００５】したがって、本発明の主目的は、タイヤの
製造を改良することであり、予め定められたタイヤの追
跡用プローブと、予め定められたタイヤのテスト用アル
ゴリズムとを、自動的に正確かつ迅速にマッチングさせ
るためのディジタル技術を提供することにより、タイヤ
製造装置を改良することである。

【０００６】もう１つの目的は、製造ラインの要員に使
用可能な前記新しいタイプの技術を提供することであ
る。

【０００７】さらにもう１つの目的は、テスト用アルゴ
リズムあるいはテスト用プローブが、迅速にかつ正確に
変えられて、異なるタイヤの規格に適応され得る前記新
しいタイプの技術を提供することである。

【０００８】もう１つの目的は、新しい追跡用プローブ
あるいはテスト用アルゴリズムが、既存の追跡用プロー
ブあるいはテスト用アルゴリズムを変えることなしに、
迅速に付け加え得る前記新しいタイプの技術を提供する
ことで、

【０００９】

【課題を解決するための手段】これらの目的を達成する
ために、発明者は、追跡用プローブを特定されたテスト
用アルゴリズムに結合する先行技術の機械から、全面的
に離れることとした。また、メモリならびにプロセッサ
を利用した適切なディジタル技術を使用することによっ
て、追跡用プローブならびにテスト用アルゴリズムは、
異なる種類のタイヤを適切に評価するのに必要なテスト
基準に従がって、迅速かつ信頼性のある方法でミックス
されると共にマッチされ得ることがわかった。また、こ
れにより製造ラインのオペレータは、このために必要な
変更を製造ラインにおけるテストの速度を低下させるこ
となく容易に実施することができる。これらの技術によ
って、タイヤは、迅速にテストされ得ると共に、従来得
られなかった正確さと信頼性とを持ってテストされ得
る。

【００１０】

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。図１はタイヤ製造のフローチャート、図２、図３はそれ
ぞれ本発明のタイヤ製造装置における検査装置の一実施
例を含むタイヤ製造装置のチャックが開いた状態と閉じ
た状態を示す要部の正面図、図４はチャックに搭載され
たタイヤの斜視図、図５はタイヤのサイドウォール上を
追跡するプローブの斜視図、図６は検査装置のブロック
図、図７、図８は検査装置のフローチャート、図９はＰ
ＥＡＫ測定のフローチャート、図１０はＢＬＧ測定のフ
ローチャート、図１１は測定フローのタイミングダイヤ
グラムとＶＡＬＵＥの計算例を示す図、図１２は検査結
果によるタイヤのマーキングとゲーティングの説明図、
である。

【００１１】また、説明のために本例および本発明の目
的、利点、特徴が以下に続いて表わされる図面とともに
明らかにされるが、本発明はこれらに限定されるもので
ない。また、図面も同じ部品については図面に一貫して
同じ参照番号を付してある。

【００１２】図１を参照すると、車両用タイヤを製造す
る８つの基本的なステップが、ブロックＭ１〜Ｍ８で示
されている。ステップＭ１で、ゴムの混合物が練られる
と共に、タイヤ用織物がゴムコンパウンドでコーティン
グされる。加えて、タイヤの種々の構成部品、たとえば
トレッドならびにベルトが製造されると共に、適切なサ
イズにカットされて準備される。ステップＭ２で、準備
された部品が、金型内に、組立てられる。ステップＭ３
で、タイヤの組立てられた各部品が加硫され、これによ
り構成部品は集合体に一体化される。ステップＭ４で、
加硫プロセス中にできる主部分の縁が、カットされる
か、あるいは削り取られ、そしてある場合、文字とか他
のマークが、タイヤのサイドウォールに刻まれる。ステ
ップＭ５で、タイヤは欠かん発見のためにテストされ、
これは全製造工程の中の重要な部分である。ステップＭ
６で、欠かんをもつタイヤがあれば指摘される。指摘の
２つの方法は、（１）適切なしるしで欠かんタイヤをマ
ークするか、あるいは、（２）良好なタイヤから欠かん
タイヤを分離するかである。ステップＭ７で、タイヤ
は、顧客に出荷（ステップＭ８）するための準備にパッ
ケージされる。

【００１３】図２ならびに図３を参照すると、テスト用
のステップＭ５の部分は、加硫されたタイヤの２つのサ
イドウォールのそれぞれの横ぶれを測定する追跡用のプ
ローブに適切に適合されるタイヤの力の変化の測定、兼
研削（ｇｒｉｎｄｉｎｇ）機械によって遂行される。こ
のような機械は当分野で良く知られているので、詳細の
記載を省略する。１つのこうした機械は、米国出願番号
第１８８７０７号に示され、この名称は、「タイヤのダ
イナミック不均衡のスクリーニングシステム」と呼ば
れ、コウンケル等の名前で１９８０年９月１９日に出願
され、本出願と同じ譲渡人に譲渡されている。その出願
に詳しく記載されているように、力変化の測定機１１０
は、上部のフレーム１１２に回転可能に配設された上方
のチャック１１１を有する。下部のフレーム１１３は、
垂直なスピンドル１１４を支持し、垂直なスピンドル１
１４は、下部のフレーム１１３に取り付けられたスリー
ブ１１５内を回転ならびに上下動可能に支持されてい
る。下方のチャック１１６は、スピンドル１１４に配設
されると共に、図２で示される「開」の位置すなわち、
チャック１１６が下降されタイヤ搭載のための空間があ
けられた位置から、図３で示される「閉」の位置すなわ
ちチャック１１６が上昇されてタイヤが搭載される位置
まで軸方向に移動が可能である。

【００１４】追跡用プローブ１１８ａ、１１８ｂは、タ
イヤのサイドウォールの横ぶれに比例するアナログ信号
を発生することが可能で、チップ１１７ａ、１１７ｂを
含むのが望ましい。プローブは、図３に示されるよう
に、チャック１１１、１１６間にタイヤ１１９を搭載さ
せるための上方のフレーム１１２ならびに下方のフレー
ム１１３に配設されているリニアな変位変換器に接続さ
れている。プローブ１１８ａ、１１８ｂは、それぞれ測
定用メカニズムのサポート１２０ａ、１２０ｂによって
坦持され、上方のチャック１１１と下方のチャック１１
６との間に挟まれたタイヤ１１９の動きとの間にクリア
ランスを与えるため上方のフレーム１１２ならびに下方
のフレーム１１３に対して垂直方向に移動調節が可能で
ある。垂直方向の移動調節は、フレーム１１２、１１３
に配設された空気で作動されるピストンならびにシリン
ダの装置によって行なわれ、これらは、測定用メカニズ
ムのサポート１２０ａ、１２０ｂを、図２で示される引
っ込められた位置から、図３に示される突出された位置
へ運び、チップ１１７ａ、１１７ｂがタイヤ１１９と接
触する。

【００１５】タイヤの膨張用装置として、空気圧力源と
連通されたポートが（不図示）チャック１１１か１１６
の何れか一方に設けられている。搭載用のローラ１２３
は、タイヤのトレッドとかみ合って、タイヤ１１９の半
径方向への動きが可能であると共に、上方のチャック１
１１ならびに下方のチャック１１６のビードシートにタ
イヤを着座させるために使用される。

【００１６】チップ１１７ａ、１１７ｂの代りに、近接
センサ１２４ａ、１２４ｂが、タイヤから離間された位
置に、垂直方向に位置調節されて、測定メカニズムのサ
ポート１２０ａ、１２０ｂに坦持される。センサ１２４
ａ、１２４ｂは、タイヤ１１９がチャック１１１、１１
６で回転されると、横ぶれを示す信号を出力する。

【００１７】図５を参照すると、プローブ１１８ｂがさ
らに詳しく示される。プローブ１１８ｂがプローブ１１
８ａに等しく、このことは図５を参照することによって
理解されよう。プローブ１１８ａは、炭化物のチップ１
１７ａを支えるアルミニウムのアーム１２６を有する。
アームは軸、すなわちピン１２８を回転し、スプリング
（図示省略）によってバイアスされ、これが、アームを
タイヤのサイドウォールの方へ付勢する。アームはでき
るだけ軽く作られると共に、スプリング力はチップをタ
イヤのサイドウォールのうねりに追従させるための必要
最小限である。タイヤ１１９との接触によって引き起さ
れるアーム１２６の回転がピン１２８をリゾルバ１３０
の内部で回転するようにする。リゾルバは変換器として
作用し、これは、回転するタイヤのサイドウォールのレ
ベルに対応するプローブの運動を、出力の導体１３４
（図６）上に送出されるアナログ信号に変換する。該信
号は、タイヤのサイドウォールの横ぶれに比例する値を
有する。相対するサイドウォールに対し同様な信号が、
プローブ１１８ｂ（図６）と関連する変換器に接続され
る導体１３６に送出される。リゾルバ１３０の付加的な
詳細が、米国出願番号第２７００８７号に記載され、そ
の名称は、「タイヤのサイドウォールの突部ならびに谷
部検出のための方法ならびに装置」といい、ジーンエン
ゲルの名前で１９８１年６月３日に出願され、本出願と
同じ譲渡人に譲渡されている。

【００１８】タイヤ１１９は、普通、自動コンベアによ
って機械１１０に運ばれると共に、下方のチャック１１
６に自動的に搭載され、膨張されると共に、回転用のロ
ーラ１２３と接触することによって回転させられる。ス
ピンドル１１４に取り付けられたパルス発生器１２５
（図６）は、タイヤが円弧の１度回転するたびごとに、
電気パルス（回転あたり３６０パルス）を発生すると共
に、導体１２７にパルスを送出する。プローブ１１８
ａ、１１８ｂはそれによって、タイヤの相対するサイド
ウォールＷ１、Ｗ２と接触するようにされる。図５に示
されるように、プローブはサイドウォールの比較的に薄
い円周近くの部分を追跡するので、文字づけあるいは他
のモールドされた窪みあるいは突出によってさまたげら
れず、プローブの動きが、サイドウォールのたわみの特
徴を示す。タイヤ１１９が回転させられると、プローブ
１１８ａ、１１８ｂはタイヤのサイドウォールに乗り、
そしてプローブに接続されている変換器は、サイドウォ
ールの横ぶれに比例する値をもつアナログ信号をつくり
出す。かくしてプローブは、突出部Ｂあるいは谷部Ｖ
（図４）を検出することができる。

【００１９】サイドウォールＷ１に望ましくない変形が
ある場合、平面Ｐからサイドウォールの外側に伸びる寸
法ＬＲ１が、変動する（図３）。同様にもし、サイドウ
ォールＷ２に望ましくない変形があると、平面Ｐとサイ
ドウォールＷ２の外側との間の横ぶれの寸法ＬＲ２が、
変動する。図３に示すように、平面Ｐは、タイヤの回転
軸線に直角であると共に、タイヤの中心を通り抜け、こ
れによってタイヤを、両側の対照的な２つの等しい部分
に分割する。

【００２０】図６を参照すると、追跡用のプローブ１１
８ａ、１１８ｂは、コンピュータすなわち処理装置１４
０に接続される。望ましくは、コンピュータは、ランダ
ムアクセスメモり１４２を有し、そしてアナログからデ
ィジタルへの変換器を含むアナログの入力カード１４４
を有し、さらに図１２に示されるゲート用ならびにマー
ク用の装置に信号を与えるディジタルの出力カード１４
５を有するものがよい。図６に示されるように、追跡用
プローブは、導体１３４、１３６を介して、コンピュー
タのアナログ入力のカードに接続される。コンピュータ
はさらにターミナル１５０を含み、ターミナルは、ＣＲ
Ｔのディスプレイ１５２ならびにキーボード１５４を含
み、ターミナルはコンピュータ１４０に、通常のバス１
５６を介して接続されている。

【００２１】図１２を参照すると、タイヤ１１９は通常
のコンベア１６０によって、テスト用の機械１１０に運
ばれる。もしタイヤに欠かんがあると、これはコンベア
１６２に運ばれ、もしタイヤが合格品であると、コンベ
ア１６４に運ばれる。タイヤの区分搬送は、ゲート機構
１６６を介して行なわれる。すなわち、コンベア１６８
が軸１７０のまわりに、エアコントローラ１７２によっ
て回動されることによって区分が行なわれる。コントロ
ーラ１７２は、接続用のロッド１７８を上昇あるいは下
降させるピストン１７６が嵌合されるシリンダ１７４を
有しており、圧縮された空気が、ピストンの上方あるい
は下方のサイドに、導体１８２に伝達されるゲート用の
論理信号により制御されるバルブ１８０を介して圧入さ
れる。

【００２２】タイヤは、８つのスタンプ用のプレート１
８６を備え、インク供給１８８によってインク付けされ
るマーク用の機構１８４により、インクでマークされ
る。８つのソレノイド１９０［各プレート当り１つ］
は、個々のプレートをタイヤに接触するように押圧する
ことができる。ソレノイドの組み合わせを起動すること
によって、マークの２ ⁸ ＝２５６の異なったパターンを
タイヤに配することができる。ソレノイドは、コンピュ
ータ１４０に接続される８ビットのバス１９２によって
制御される（図６）。

【００２３】図６を参照すると、オペレータはコンピュ
ータ１４０にデータを、キーボードのユーティリティ
（Ｕｔｉｌｉｔｙ）ルーチンを介して入力し、該ユーテ
ィリティルーチンは、ＣＲＴディスプレイ１５２に情報
の表示を要求すると共に、キーボード１５４を介して情
報の入力を可能にする。キーボードのユーティリティ
（ＫＢＵ）の処理機能は、キーボード１５４のスペース
バーを押圧した後コード「ＲＵ．ＫＢＵ（ＲＥＴＵＲ
Ｎ）．」を打ち込むことによって起動される。次のテー
ブル１に示される最初の表が、それによってディスプレ
イ１５２に表示される。

【００２４】

【表１】テーブル１ＫＢＵディスプレイＫＢＵ：ＦＵＮＣＴＩＯＮＶＡＬＵＥ０ＥＸＩＴＫＢＵ１ＢｕｌｇｅＷｉｎｄｏｗ３１２ＭｅａｓｕｒｅＳｐｅｃｓ３ＬｉｍｉｔＴａｂｌｅｓＫＢＵ：ＥＮＴＥＲＦＵＮＣＴＩＯＮＫＢＵのディスプレイのＫＢＵ番号１は、図１０に示さ
れるアルゴリズムに使用されるパラメータの１つのサイ
ズを定める。このパラメータについては図１０と関連し
て後で説明する。ＫＢＵ番号２は、オペレータが、測定
されるべき測定明細のタイプを決定することを可能に
し、ＫＢＵ番号３は、オペレータが、これらの測定許容
限度値を入力することを可能にする。また、最後のＫＢ
ＵＥＮＴＥＲＦＵＮＣＴＩＯＮにゼロ（０）が入力
されると、装置の他の動作を入力することができる。

【００２５】オペレータが、測定明細を定めようとする
ときは、キーボードの２を入力する。装置はそれによ
り、テーブル２に示すような測定明細を選択するための
指令を自動的にディスプレイする。

【００２６】

【表２】テーブル２測定明細（ＭＥＳＰＥＣ）のディスプレイＬｉｎｅＬａｂｅｌＴｙｐｅＳｅｎｓｏｒ１ＰＴＰ１１１２ＰＴＰ２１２３ＢＬＧ１２１ＥＮＴＥＲＬＩＮＥＮＵＭＢＥＲ１ＥＮＴＥＲ４ＣＨＡＲ．ＬＡＢＥＬＰＴＰ１ＥＮＴＥＲＭＥＡＳＵＲＥＭＥＮＴＴＹＰＥ１ＥＮＴＥＲＳＥＮＳＯＲＮＵＭＢＥＲ（Ｓ）１テーブル２の許容可能なラインの最大数を示す変数ＭＡ
Ｘは、プログラマによって入力される。ＭＡＸの値は、
プログラムによってアクセスされる共通のデータ記憶テ
ーブルに記憶される。テーブル２にディスプレイされる
タイプの数は、プログラムによって遂行される分析のタ
イプと等しい。望ましい実施例において、プログラム
は、ピークからピークへの分析（ＰＴＰ）か、あるい
は、いわゆる突部分析（ＢＬＧ）かのいずれかを遂行で
きる。該プログラムは、ピークからピークの分析に対し
てタイプ（Ｔｙｐｅ）番号１を、そして突部分析に対し
タイプ番号２を割り当てた。

【００２７】テーブル２に表示されたセンサ（Ｓｅｎｓ
ｏｒ）番号は、図３に示されるセンサと等しい。センサ
の番号は、追跡用のプローブが接続されるアナログ入力
１４４のチャネルを決定することによって割り当てられ
る。望ましい実施例では、センサの番号はプローブ１１
８ａに番号１が割り当てられ、プローブ１１８ｂに番号
２が割り当てられている。

【００２８】テーブル２に示されるように、オペレータ
は、なんら再プログラミングなしに、装置の測定機構を
定め得る。テーブル２は異なるセンサと、テストのアル
ゴリズムのタイプ、あるいはデータ分析とをミックスな
らびにマッチすることができる。たとえば、オペレータ
は、センサとしてのプローブ１１８ａあるいはプローブ
１１８ｂから得られるデータに関連して、ピークからピ
ークの分析（ＰＴＰ）を選択できる。同様に、オペレー
タは、プローブ１１８ａあるいは１１８ｂから突部分析
（ＢＬＧ）を選択できる。分析ならびにセンサの各組み
合わせの場合、オペレータはテーブル２の表示の下方で
要求しているデータを入れる。たとえば、オペレータが
プローブ１１８ａからピークからピークの分析を望むと
仮定すると、彼はライン番号１を入れ、そして任意の４
の文字ラベル（たとえば、ＰＴＰ１）をタイプする。彼
はそれから、ピークからピークの分析のためのタイプコ
ード（すなわち、１）、ならびに所望されるセンサ番号
（すなわち、プローブ１１８ａの場合、１）を入力す
る。オペレータはそれから、任意の特定のタイヤに関す
る、所望の分析タイプならびにセンサの他のすべての組
み合わせについて、同様な情報を入力する。このとき、
分析の新しいタイプは、他のライン番号を必要とする。

【００２９】オペレータが、プローブ１１８ａについて
ライン番号１に示す、ピークからピークの分析を選択し
たと仮定すると、テーブル２のアンダーラインされた値
が、表示される。もし、オペレータがそれから、プロー
ブ１１８ｂのためにもう１つのピークからピークの分析
を要求し、さらにプローブ１１８ａのために突部分析を
要求すると、ディスプレイ１５２は、同様な方法でこれ
らの要求のために値を表示する。

【００３０】オペレータによって入力された情報は、デ
ィスプレイ１５２に表示するのみならず、測定テーブル
ＭＥＳＰＣのメモり１４２に記憶される。

【００３１】オペレータが、適切な測定明細を入力した
ことを確認した後、彼は、ＫＢＵのディスプレイに戻る
と共に、それからＫＢＵ番号３をキーボードから入力す
ることによって、許容限度テーブルの入力へと進む。そ
こでディスプレイ１５２は、アンダーラインされた値が
書かれていないテーブル３に示される制限テーブルを表
示する。

【００３２】

【表３】テーブル３制限テーブルのディスプレイＬｉｎｅＭｅａｓｕｒｅｍｅｎｔＬｉｍｉｔ１ＰＴＰ１３５２ＰＴＰ２３５３ＢＬＧ１２０ＭａｒｋｉｎｇＢｉｔｓ４００００００００ＥｎｔｅｒＬｉｎｅＮｕｍｂｅｒ１ＥｎｔｅｒＶａｌｕｅ３５テーブル３に示されたディスプレイに応答して、オペレ
ータは、選択された分析の種別別にこれを越えると、タ
イヤは欠かんと判断される限度値（Ｌｉｍｉｔ）を入
れ、また、ライン番号４には８ビットのマーク用コード
の値を入れることができる。

【００３３】オペレータが、ライン１のピークからピー
クの分析（すなわち、ＰＴＰ１）のために限度値３５を
入れると仮定すると、ディスプレイ１５２は、テーブル
３のアンダラインされた部分で示されるように、この限
度値を表示する。第２〜４行目の値についても同様に表
示する。

【００３４】テーブル３に入力される値は、表示される
のみならず、図９ならびに図１０に示される分析処理に
より使用するためにメモリ１４２に記憶される。

【００３５】限度値が入力された後、オペレータがテー
ブル１に「０」を入力することによってＫＢＵ機能を終
了（ｅｘｉｔ）にすると、装置はタイヤ１１９を分析す
ることが可能になる。

【００３６】図７を参照すると、プログラムが、搭載さ
れたタイヤを待機するステップＳ２０に入る。図１２に
示されるように、タイヤ１１９は、コンベア１６０に沿
って本装置に運ばれる。図２ならびに図３に示されるよ
うに、タイヤはチャック１１１、１１６に自動的に嵌合
される。それからチャックは図３に示される閉じられた
位置に駆動される。その後、搭載用ローラ１２３は回転
されると共に、移動してタイヤ１１９のとレッドと接触
し、この結果、タイヤはチャックに適切に装着され、そ
して膨張される。タイヤ１１９がチャック上で回転を始
めるや否や、パルスが、パルスの発生器１２５（図６）
からコンピュータ１４０に送られる。パルスが送られる
と、プログラムはステップＳ２１（図７）に入り、そし
て、予め定められた時間が過ぎるまで待機して、その
後、プログラムはタイヤが所定のスピードで回転してい
ると見做す。

【００３７】ステップＳ２２で、コンピュータはサンプ
リングすると共に、サイドウォールＷ１からの３６０個
の値、ならびにサイドウォールＷ２（図３）からの３６
０個の値をディジタルの形で記憶する。サイドウォール
Ｗ１、Ｗ２のそれぞれ１つの値が、タイヤ１１９の回転
の各角度毎に記憶される。かくして、３６０個の値は、
サイドウォールＷ１の全３６０度の円弧に対応し、そし
て同様な数の値は、サイドウォールＷ２の全３６０度の
円弧に対応する。タイヤの回転の各角度の値は、テーブ
ル４に示される形でメモリアレイのＩＶＡＬに記憶され
る。

【００３８】

【表４】テーブル４記憶されたタイヤのデータ（ＤＢＵＦ）ＳＡＭＰＥＬＳＥＮＳＯＲＩＶＡＬ１１０２１０３１０４１０５１０６１０７１０８１０９１０１０１０１２１０１３１０１４１０１５１０１６１＋８１７１＋１２１８１＋１６１９１＋２０２０１＋２０２１１＋２０２２１＋１６２３１＋１２２４１＋８２５１＋４２６１＋４２７１０２８１０２９１０３０１０３１１０３２１０３３１０３４１０３５１０３６１０３７１ −４３８１ −８３９１ −４４０１０４１１０ ↓ ↓ ↓ ３０６１０実例として、プローブ１１８ａの最初の４１のサンプル
から得られるサンプルデータがテーブル４に示されてい
る。同様なデータが、センサのプローブ１１８ｂの場合
に得られると共に、記憶されるが、しかしここには示さ
れていない。

【００３９】図７を再び参照すると、プローブ１１８
ａ、１１８ｂの読み出しが、メモリのテーブル４のデー
タ（ＤＢＵＦ）に入力されたあと、プログラムはステッ
プＳ２３に入り、記憶された測定テーブル２の（ＭＥＳ
ＰＣ）についてライン番号「１」をセットする。このこ
とは、プログラムが、ステップＳ２４によって示される
ように、テーブル２のライン番号１に示されるデータを
アクセスするのを可能にする。プログラムはステップＳ
２６に進み、ここで変数のＳＥＮＳＯＲが、テーブル２
のライン番号１で指摘されたセンサに等しくセットされ
る。（すなわち、センサ１はプローブ１１８ａに対応す
る。）テーブル２のライン番号１の分析タイプが、タイ
プ１に等しいので、プログラムは分析ルーチンＰＥＡＫ
を呼び出し、ピークからピークの分析を遂行する（ステ
ップＳ２７、Ｓ２８）。

【００４０】図９を参照すると、ピークからピークの分
析アルゴリズム（ＰＥＡＫ）が、ステップＳ３８から始
まる。ステップＳ３９で、変数ＳＡＭＰＬＥが、「１」
にセットされる。ステップＳ４０で変数ＬＯＷＰＫは、
例えばテーブル４に示すサンプル（角度）１ならびにセ
ンサ１（１、ＳＥＮＳＯＲ）の入力データの値、即ちＩ
ＶＡＬに等しいすなわち、ここでは「０」がセットされ
る。ステップＳ４１で、他の変数ＨＩＧＨＰＫが、同じ
値に等しくセットされる。ステップＳ４２で、ＳＡＭＰ
ＬＥが「２」にセットされる。

【００４１】ステップＳ４３で、ＳＡＭＰＬＥ２のセン
サ１におけるＩＶＡＬの値が、ＨＩＧＨＰＫの値と比較
される。もしＩＶＡＬの値が、ＨＩＧＨＰＫより大であ
れば、ＨＩＧＨＰＫの値はステップＳ４４で、ＳＡＭＰ
ＬＥ２のセンサ１におけるＩＶＡＬの値にセットされ
る。

【００４２】ステップＳ４５で、サンプル毎のＩＶＡＬ
の現在値が、ＬＯＷＰＫの値と比較される。もしそのＩ
ＶＡＬの値がＬＯＷＰＫより小さい場合は、そのサンプ
ルのＩＶＡＬの値が、ステップＳ４６でＬＯＷＰＫの値
に替わる。

【００４３】図９の最初のフローではＳＡＭＰＬＥの番
号が２なので、ＳＡＭＰＬＥはステップＳ４７、Ｓ４８
で１が加算され、そしてルーチンがステップＳ４３に戻
る。ステップＳ４３〜Ｓ４７は、３６０までのＳＡＭＰ
ＬＥの各値で繰り返される。丁度、このステップでＨＩ
ＧＨＰＫが、サンプル中の最大の正の値に等しく（すな
わち、このサンプルでは＋２０になる）、そしてＬＯＷ
ＰＫはサンプル中のもっとも小さい値に等しい（すなわ
ち、この場合、−８になる）。ステップＳ４９で、変数
ＶＡＬＵＥは、ＨＩＧＨＰＫとＬＯＷＰＫとの間の絶対
的な差に等しくセットされる。結果として、ＶＡＬＵＥ
が、センサ１からのデータのピークからピークの値に等
しい。図１１に示される実例では、この差が２８である
（すなわち＋２０−（−８））。

【００４４】ステップＳ５０は、ステップＳ７２にプロ
グラムを戻し（図８）、この場合、現在の指数のＶＡＬ
ＵＥは、テーブル５に示される方法で、メモリのテーブ
ル（ＭＢＵＦ）に記憶される。

【００４５】

【表５】テーブル５記憶される値（ＭＢＵＦ）ＬｉｎｅＶａｌｕｅ１２８２２８３７．４８図８を再び参照すると、ステップＳ７３で、もし指数
が、共通のデータ記憶のテーブルに記憶されたＭＡＸの
値よりも小さいと、可変のライン番号の値が、ステップ
Ｓ７４で１加算されると共に、プログラムがステップＳ
２４にもどる［図７］。それから、テーブル２のライン
番号２の情報がステップＳ２４、Ｓ２５でアクセスさ
れ、そしてセンサの数値が、ステップＳ２６で２に変え
られる。テーブル２のライン番号２は、タイプ１の測定
アルゴリズムを指定するので、ＰＥＡＫのルーチンが再
びステップＳ２８で呼び出される。図９に示されるＰＥ
ＡＫのルーチンがそれから、センサ２の値で繰り返され
（図示省略）、これらが、メモリのテーブル４と同様の
方法で記憶される。ＰＥＡＫのルーチンの終わりで、ラ
イン番号２の値が、テーブル５で示されるＭＢＵＦのテ
ーブルに記憶される。センサ２からのデータが、センサ
１のためのデータと同じであると仮定すると、テーブル
５に記憶される値が再び２８になろう。しかしながら一
般に、センサ２の値は、センサ１の値と異なると期待さ
れ得る。

【００４６】ステップＳ７３、Ｓ７４では（図８）、ラ
イン番号の値が再び１が加算されて値３まで増加され
る。そこで、プログラムは、テーブル２のライン番号３
からの情報がアクセスされるステップＳ２４、Ｓ２５に
戻りループする。ステップ２６で、センサの値は、テー
ブル２のライン番号３にしたがって１に変えられる。ス
テップＳ２７、Ｓ７０、Ｓ７１では、タイプ２の分析
が、テーブル２のライン番号３で指摘されているのでＢ
ＬＧのアルゴリズムが呼び出される。

【００４７】図１０を参照すると、ＢＬＧのルーチン
は、ステップＳ１２０から始まる。

【００４８】ステップＳ１２１ではサイドウォールＷ１
のために、メモリに記憶された１から変数ＩＷＩＤＥの
値までのＩＶＡＬの値を総計することによってプログラ
ムが初期の参照値ベースを確立する。ＩＷＩＤＥの値は
３１に等しいことが望ましく、そしてこれが、テーブル
１のＫＢＵ番号１に入れられた値である。ＩＷＩＤＥが
３１に等しいと仮定すると、テーブル４に記憶される最
初の３１の横ぶれのサンプル値が、コンピュータによっ
て総計されると共に、変数ＩＷＳＵＭとして記憶され
る。図１１に示されるように、回転の最初の３１°の角
度の間のテーブル４に例示のＩＶＡＬ値の合計値ＩＷＳ
ＵＭ₁ は、１４０に等しい。

【００４９】ステップＳ１２２では、横ぶれの値の第１
のグループと関連して使用される他の初期の数値が、す
なわち、コンピュータの変数ＩＳＴＲＴ、ＩＣＥＮＴＲ
ならびにＩＦＩＮＩが設定される。図１１に示されるよ
うに、３１の横ぶれの値の第１のグループのためのこれ
らの数値は、ＳＡＭＰＬＥの番号値１、１６ならびに３
１にそれぞれ等しい。

【００５０】ステップＳ１２３では、初期のサイドウォ
ールの突部変形に対応するプログラム変数ＶＡＬＵＥ
を、０にセットし、そしてＳＡＭＰＬＥは再び１にセッ
トする。横ぶれの値の３６０の異なったグループの参照
値が、最終的に計算され、そしてＳＡＭＰＬＥの番号値
はソフトウェアのカウンタとして設定されて、どれ位の
グループが計算されたかについての追跡が行なわれる。
カウンタは初めに１にセットされる。

【００５１】ステップＳ１２４で、ＩＷＳＵＭの参照値
は、ＩＷＩＤＥ値と角度１６（すなわち、中央点の値Ｉ
ＣＮＴＲ）の横ぶれの値との乗算値と比較される。この
結果が、回転の最初の３１の角度によって表わされる横
ぶれの値に対応する変形の度合いを示すグループの変形
値（ＮＥＷＶＡＬ）である。図１１で示す例では、最初
のＮＥＷＶＡＬ値（ＮＥＷＶＡＬ₁ ）が、８×３１−１
４０＝１０８である。

【００５２】その後、ＮＥＷＶＡＬは、新しい突部の値
が記憶されるかどうかを決定するためステップ１２３の
初めの変形値（ＶＡＬＵＥ）０と比較される。ステップ
Ｓ１２５にしたがって、新しい突部の値は、もしＮＥＷ
ＶＡＬの現在値がＶＡＬＵＥの現在値を越えると、指示
される。もしそうならば、新しい値が、ステップＳ１２
６の新しいＶＡＬＵＥとして記憶される。

【００５３】１０８（ＮＥＷＶＡＬ₁ ）が０（ＶＡＬＵ
Ｅ）よりも大きいので、図１１のＶＡＬＵＥの値は１０
８に変えられる。

【００５４】ステップＳ１２７では、プログラムは変数
ＳＡＭＰＬＥ値が、３６０に等しいかどうかを判定す
る。結果横ぶれの値まで１つのグループのみなので、答
は「否」となり、プログラムはステップＳ１２８へ移動
する。

【００５５】サイドウォールの回転の角度２〜３２が示
す横ぶれの値に対応する新しいグループの変形値の計算
にステップＳ１２８〜Ｓ１３２が使用される。言い換え
ると、最初のグループが回転の角度１〜３１に対応し、
思考中の新しいグループは角度２〜３２に対応する。プ
ログラムのこの部分は、この区間を介して示す横ぶれの
値を分析するためタイヤに配された３１の角度の広さの
窓に対比される。この窓はそれから１角度、回転され
て、前者の値のひとつがカバーされると共に、新しい値
が露呈される。カバーされた値を差し引くと共に、新し
く露呈された値を加えることによって、新しいグループ
のための値の総計が、ステップＳ１２１で要求される全
数の総計を行なうことなしに、直ちに決定され得る。こ
のアプローチによると、ステップＳ１２８で、前の参照
グループの最初の点（即ち、回転に対応するサンプル１
のＩＶＡＬ）は、これがグループの合計値から後で差し
引くことができるように記憶される。

【００５６】ステップＳ１３１では、ステップＳ１２２
で計算された同じ値のための指数（Ｐｏｉｎｔｅｒ）
は、係数演算子（ｍｏｄｕｌｕｓｏｐｅｒａｔｏｒ）
ＭＯＤの手段により、１を付加した指数とされる。これ
は、可変値が３６０を越えて指数化する前に、３６０を
差し引く標準のフォートラン機能である。これが必要と
されるのは、適切な値で計算するためで、窓がタイヤの
全周囲まわりを回り終って、角度１〜３１に対応するグ
ループの開始時の初期値が使用される時である。

【００５７】ステップＳ１３２では、新しい参照値が、
古い「カバーされた」値（ＩＯＶＡＬ）を差し引き、そ
の値に「新しく露呈された」値（すなわち、角度３２の
ＩＶＡＬ）を加え、その結果得られた値を変数ＩＷＳＵ
Ｍとして記憶することによって算出される。図１１に示
すように、第２のグループ（角度２〜３２）のためのＩ
ＷＳＵＭ₂ はなおも１４０である。横ぶれの値の新しい
グループのための新しい参照値が、ステップＳ１３２で
計算されたあと、プログラムはステップＳ１３３で変数
ＳＡＭＰＬＥに指数加算をする。プログラムはそれか
ら、第２のグループのために新しいグループの値（ＮＥ
ＷＶＡＬ）を計算するためにステップ１２４に戻る。第
２のグループのためのＮＥＷＶＡＬ（ＮＥＷＶＡＬ₂ ）
は計算されて２３２になる（図１１参照）。ＮＥＷＶＡ
Ｌ₂ がＶＡＬＵＥの前の値（すなわち、１０８）よりも
大きいので、２３２はステップＳ１２６のＶＡＬＵＥの
ための新しい値として記憶される。その後、プログラム
は前述のステップＳ１２７〜Ｓ１３３に従って進めら
れ、以後、Ｓ１２４〜Ｓ１３３が繰り返される。

【００５８】３６０のグループの値が考慮された後、変
数ＳＡＭＰＬＥは３６０に等しくなるので、プログラム
はステップＳ１２９に分岐する。ステップＳ１２９で、
テーブル３で設定された突部限度値と比較するための値
を準備するため、ＶＡＬＵＥは、３１（ＩＷＩＤＥの
値）で除算してカウントされる。ステップＳ１２９の始
めのＶＡＬＵＥが２３２であると仮定すると、ステップ
Ｓ１３０のＶＡＬＵＥは２３２／３１すなわち７．４８
である。ステップＳ１３０で、プログラムはステップＳ
７２に戻る（図８）。

【００５９】ステップＳ７２では、算出されたＶＡＬＵ
Ｅの値を、ある限度値と後で比較するため、テーブル５
のライン番号３に記憶させる。

【００６０】このときのライン番号ならびにＭＡＸの両
方が３なので、ステップＳ７３で、プログラムはステッ
プＳ１５０に進められる（図８）。図８に示すように、
プログラムは、前にテーブル５に記憶された値と、テー
ブル３に記憶された限度値とを比較する。ステップＳ１
５０で、ライン番号は、１にセットされ、そしてステッ
プＳ１５１で、テーブル３のライン番号１に記憶された
限度値（すなわち、３５）が得られる。限度値３５がテ
ーブル５のライン１に記憶された値（すなわち、２８）
よりも大きいので、ＳＡＭＰＬＥ番号の値はステップＳ
１５３、Ｓ１５４で１加算され、そしてプログラムはＳ
１５１に戻りループする。プログラムはそれから、テー
ブル５のライン番号２に記憶された値がテーブル３のラ
イン番号２で記憶された制限よりも大きいかどうかを判
定する。これがそうでないと、ライン番号は再び、ステ
ップＳ１５３、Ｓ１５４で１加算され、そしてテーブル
３、５のライン番号３に記憶された値ならびに限度値
と、比較される。ライン番号３が比較されると、ＩＮＤ
ＥＸはＭＡＸに等しくなり、そしてプログラムはステッ
プＳ１５５において出力のフラッグを発生する。ルーチ
ンが完成されたことを示すためである。プログラムはそ
れから、ステップＳ２０に戻り（図７）、そしてテスト
される他のタイヤを待機する。

【００６１】テーブル５に記憶された値が、テーブル３
に記憶された制限を越えた場合に、出力拒絶のフラッグ
が、ステップＳ１５６でセットされる（図８）。ステッ
プＳ１５６の拒絶のフラッグのセットに応答して、図１
２に示されるマーク用の装置は不合格の突部あるいはピ
ークからピークの値の存在を示す印でタイヤをマークす
るためにバス１９２を介して初期化される。同様に、１
つの論理信号が、導体１８２に伝達され、合格したタイ
ヤから、不合格のタイヤを分離するため、コンベアのゲ
ート１６８を、コンベア１６４の位置に上昇させる。

【００６２】本発明の最良のモードが、ここに記載され
たが、この技術分野に習熟する人は、次のことを認識で
きる。すなわち、最良のモードが、特許請求の範囲に定
められるような、本発明の真の精神ならびに展望から離
れることなしに、変化されると共に変形できることであ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】典型的な車両用タイヤ製造のフローチャートで
ある。

【図２】本発明のタイヤ製造装置における検査装置の一
実施例を含むタイヤ製造装置の要部のそれぞれチャック
が開いた状態と閉じた状態を示す正面図である。

【図３】本発明のタイヤ製造装置における検査装置の一
実施例を含むタイヤ製造装置の要部のそれぞれチャック
が開いた状態と閉じた状態を示す正面図である。

【図４】チャックに搭載されたタイヤの斜視図である。

【図５】タイヤのサイドウォール上を追跡するプロープ
の斜視図である。

【図６】検査装置のブロック図である。

【図７】検査装置のフローチャートである。

【図８】検査装置のフローチャートである。

【図９】ＰＥＡＫ測定のフォローチャートである。

【図１０】ＢＬＧで測定のフローチャートである。

【図１１】測定フローのタイミングダイヤグラムとＶＡ
ＬＵＥの計算例を示す図である。

【図１２】検査結果によるタイヤのマーキングとゲーテ
ィングの説明図である。

【符号の説明】

１１０測定機１１１チャック１１２フレーム１１３フレーム１１４スピンドル１１５スリーブ１１６チャック１１７ａ、１１７ｂチップ１１８ａ、１１８ｂプローブ１１９タイヤ１２０ａ、１２０ｂサポート１２３搭載用ローラ１２４ａ、１２４ｂ近接センサ１２５パルス発生器１２６アーム１２７導体１２８ピン１３０リゾルバ１３４、１３６、１８２導体１４０コンピュータ１４２メモリ１４４アナログ入力カード１４５ディジタル出力カード１４６サイドウォール１５０ターミナル１５２ディスプレイ１５４キーボード１５６バス１６０、１６２、１６４、１６８コンベア１６６ゲート用機構１７０コンベア軸１７２コントローラ１７４シリンダ１７６ピストン１７８ロッド１８０バルブ１８２導体１８４マーカ１８６マーカ用プレート１８８インク供給１９０ソレノイド１９２バス

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】タイヤの部品の組立手段と、加硫手段
と、加硫されたタイヤを少なくとも第１のセンサ装置と
第２のセンサ装置で測定し、その測定データを少なくと
も第１のテストアルゴリズムと第２のテストアルゴリズ
ムによって分析する検査装置を含み、オペレータが検査
のための前記センサ装置とテストアルゴリズムの組合せ
を指定し、該組合せによりタイヤを分析するタイヤ製造
装置における検査装置であって、少なくとも第１と第２のセンサ装置のうちの一つと、少
なくとも第１と第２のテストアルゴリズムのうちの一つ
とからなる、少なくとも一つのセンサ装置とテストアル
ゴリズムの組合せを指定する手段と、指定されたセンサ装置とテストアルゴリズムの組合せを
設定する手段と、記憶手段と、設定されたセンサ手段により測定されたデータを前記記
憶装置に登録する手段と、前記記憶手段に登録されたデータを前記テストアルゴリ
ズムによって分析する分析処理手段と、前記データの分析処理手段の処理によるタイヤの検査結
果を表示する手段を有するタイヤ製造装置における検査
装置。
【請求項２】タイヤの測定データをアナログ信号の発
生によって検出し、該タイヤの測定値を示すアナログ信
号をディジタル信号に変換する手段を有する請求項１に
記載のタイヤ製造装置における検査装置。
【請求項３】前記記憶手段がディジタルメモリである
請求項２に記載のタイヤ製造装置における検査装置。
【請求項４】前記設定手段がキーボードおよびディス
プレイ用スクリーンを含む請求項１に記載のタイヤ製造
装置における検査装置。
【請求項５】前記設定手段は、タイヤの任意の特性の
少なくとも１つの許容限度値の入力が可能であり、入力
された許容限度値を前記記憶装置に登録する手段を含む
請求項１記載のタイヤ製造装置における検査装置。
【請求項６】前記分析処理手段が、オペレータによっ
て指定された組合せを設定する手段と、タイヤの状態の表示可能な検査結果を得るために、指定
されたセンサ装置によって測定されたタイヤのデータに
対して指定されたテストアルゴリズムに従って処理する
手段と、当該タイヤが合格かどうかを決定するために、検査結果
を前記許容限度値と比較する手段を含み、さらに、表示手段が、検査結果と前記許容限度値との比
較に基いてタイヤの状態を表示する手段を有する請求項
１記載のタイヤ製造装置における検査装置。
【請求項７】表示手段がタイヤにマークを付す手段を
有する請求項１乃至６に記載のタイヤ製造装置における
検査装置。
【請求項８】表示手段がタイヤの搬送の区分けを行な
う手段を含む請求項１乃至７に記載のタイヤ製造装置に
おける検査装置。