JPS58127373A - イメ−ジセンサ - Google Patents
イメ−ジセンサInfo
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- JPS58127373A JPS58127373A JP57010370A JP1037082A JPS58127373A JP S58127373 A JPS58127373 A JP S58127373A JP 57010370 A JP57010370 A JP 57010370A JP 1037082 A JP1037082 A JP 1037082A JP S58127373 A JPS58127373 A JP S58127373A
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- Pending
Links
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
ム1!甲に可視光又0、赤外光である光信号を電艶信号
に変換するセンサ部がホトダイオードからなゐイメージ
センサに関するの 寡発甲に強い強度のfにおいて一1作のない、信号出力
の大きな高速のイメージセンサを提供するものである・ 従来ファクシS +1送信轡の党電を換系には、OCD
あるいijMO8などのICセンサが使用されている・ しか【7センサが小型・高密度であるためレンズ光学系
により原稿を縮少させる必要があり、装置の小型でヒが
困難でしかも高価格である欠点を有していbo そこで硫fヒカドミウム(cds)や非晶質シ11コン
の光導電素子又に、非晶質シ11コンのホトダイオード
を用い導光用に集束性党ファイ、バー素子齢を用いるイ
メージセンサの研究が進められている0 Cdsに感度が高(、大面積f?が容易である反面、膜
の均一性が悪い、緑色から赤色の光に対する感度が低い
、光のオン・オフに対する応答速度が遅い、毒性を有す
る勢*々の欠点を有している。
に変換するセンサ部がホトダイオードからなゐイメージ
センサに関するの 寡発甲に強い強度のfにおいて一1作のない、信号出力
の大きな高速のイメージセンサを提供するものである・ 従来ファクシS +1送信轡の党電を換系には、OCD
あるいijMO8などのICセンサが使用されている・ しか【7センサが小型・高密度であるためレンズ光学系
により原稿を縮少させる必要があり、装置の小型でヒが
困難でしかも高価格である欠点を有していbo そこで硫fヒカドミウム(cds)や非晶質シ11コン
の光導電素子又に、非晶質シ11コンのホトダイオード
を用い導光用に集束性党ファイ、バー素子齢を用いるイ
メージセンサの研究が進められている0 Cdsに感度が高(、大面積f?が容易である反面、膜
の均一性が悪い、緑色から赤色の光に対する感度が低い
、光のオン・オフに対する応答速度が遅い、毒性を有す
る勢*々の欠点を有している。
非晶質シ11コン、微結晶シリコン、多結晶シリコン吟
より製造されるホトダイオード並びにもれ電流防止ダイ
オードを積層して成るイメージセンtttIIt!配欠
点を有していない特性の優れたイメージセンサであるが
、強い強度の光の下でに#本ね電流防止タイオードに光
が到達し、吊力低下を起す衿の欠点を有している、 未発F!i1にかかる欠点を除去し斤もので、強い強度
の下でもW力低下のないイメージセンサを提供するもの
である。
より製造されるホトダイオード並びにもれ電流防止ダイ
オードを積層して成るイメージセンtttIIt!配欠
点を有していない特性の優れたイメージセンサであるが
、強い強度の光の下でに#本ね電流防止タイオードに光
が到達し、吊力低下を起す衿の欠点を有している、 未発F!i1にかかる欠点を除去し斤もので、強い強度
の下でもW力低下のないイメージセンサを提供するもの
である。
最初に、イメージセンナの動作について簡単にトーする
。
。
r1図にイメージセンサの輯価回跡で示す図でI?i、
Fm・・・・・・1?nij共通璽棒、Cm 、Cm・
・・・・・cmi個別IFII% DI 、 DI −
・・・−nm m Dtm IDl5・・・・・・Dm
m・・・・・Dmm灯もね電流防止ダイオード、rss
、rss・−−rms 、rss−−rll =・
・・rlm・・・・・・rmnijホトダイオード、F
s109!L衝抵抗、Eに電源である。
Fm・・・・・・1?nij共通璽棒、Cm 、Cm・
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s109!L衝抵抗、Eに電源である。
rl・・・・・・rI!In上に集束光ファイバー郷に
よシ導資された1lii儂がrl・・・・・・rmnに
より電気信号Ktl)される@このとき、共通W極R,
をオンし、個別電極C1、○−・・・・・・CIIIf
llj次オンすることにより、rl・・・・・・rmn
の出力信号が検知される。
よシ導資された1lii儂がrl・・・・・・rmnに
より電気信号Ktl)される@このとき、共通W極R,
をオンし、個別電極C1、○−・・・・・・CIIIf
llj次オンすることにより、rl・・・・・・rmn
の出力信号が検知される。
以下これを繰り返し、1走査分の信号を得てい(0この
とき必要に応じて電源Eによりrl・・・rmnに1l
lEEが印加される。このとき、もれti防止タイオー
ドニタとえばI’lt、Otをオンし1口の出力を取抄
出す時、rll・・・rmnによる種々出力がr s+
の出力の上にのるのを防ぎ、1錐なrllの出力を取り
出す#1きをする・ 第2図に従来の非晶質シ11コン、微結晶シリコン、多
結晶シ1;コンより成るイメージセンサにおいて通常用
いられる非晶質シリコンイメージセンサの断面構造を示
す、21はガラス郷の絶縁性基板、22Fj共通電極、
25にボロン叫を混入したプラズマCVD法よυ形成さ
れる非晶質シリコン層(p層)%24.26Fj混入を
行わない非晶質シ11コン層C1層)、2.5,27打
11ン叫會混入した非結晶シリコン層(p層)、2層1
個別電極である自覚は個別電極側より入射され、該p層
23、該1階24及び該n層25より成るもれ電流防止
タイオードと19層27、該1層26及び該n層25よ
り成るホトタイオードの積層構造よりイメージセンサが
構成される。該個別IIr極側より強廣の強い方が入射
すると光は該ホト4’イオードでは完全に吸収されず1
もれ電流防止ダイオードまで光が−1遅し、該ホト4イ
オード■光信号による出力がし到達した光により該もれ
電流防止ダイオードに発生する出力により打ち消さtt
iat力低下を招負、階vIA岬が十分得らねかかつ六
〇ム発甲はホトダイオードともれ電流防止ダイオードの
間に導電性を有しかつ遮T性を卆する反射層を設ける事
によりイメージセンサの11力低下を防止するげか抄で
な(、該イメージセンサの内部抵抗を小さい、光を有効
に電気信号Vct抄するイメージセンサを提供するもの
である。
とき必要に応じて電源Eによりrl・・・rmnに1l
lEEが印加される。このとき、もれti防止タイオー
ドニタとえばI’lt、Otをオンし1口の出力を取抄
出す時、rll・・・rmnによる種々出力がr s+
の出力の上にのるのを防ぎ、1錐なrllの出力を取り
出す#1きをする・ 第2図に従来の非晶質シ11コン、微結晶シリコン、多
結晶シ1;コンより成るイメージセンサにおいて通常用
いられる非晶質シリコンイメージセンサの断面構造を示
す、21はガラス郷の絶縁性基板、22Fj共通電極、
25にボロン叫を混入したプラズマCVD法よυ形成さ
れる非晶質シリコン層(p層)%24.26Fj混入を
行わない非晶質シ11コン層C1層)、2.5,27打
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個別電極である自覚は個別電極側より入射され、該p層
23、該1階24及び該n層25より成るもれ電流防止
タイオードと19層27、該1層26及び該n層25よ
り成るホトタイオードの積層構造よりイメージセンサが
構成される。該個別IIr極側より強廣の強い方が入射
すると光は該ホト4’イオードでは完全に吸収されず1
もれ電流防止ダイオードまで光が−1遅し、該ホト4イ
オード■光信号による出力がし到達した光により該もれ
電流防止ダイオードに発生する出力により打ち消さtt
iat力低下を招負、階vIA岬が十分得らねかかつ六
〇ム発甲はホトダイオードともれ電流防止ダイオードの
間に導電性を有しかつ遮T性を卆する反射層を設ける事
によりイメージセンサの11力低下を防止するげか抄で
な(、該イメージセンサの内部抵抗を小さい、光を有効
に電気信号Vct抄するイメージセンサを提供するもの
である。
第5図に未発明によるイメージセンサの断面図を示す、
31はガラス岬の絶−性基板、32は共通電極、35.
59はn層、54.58は1層、35.37はp層、3
6は未発−によりあらたに設けた導電性を有しかつ嬉5
v′性會有する層、40は個別電極であり、党は骸個別
電極側より入射婆れる′・該個別電極は酸什スズ、酸什
インジウム、酸体スズインジウム等により4成される透
#J導電性電極、該共通電極はアルミニウム、モ11ブ
デン雛により形5vされる導電性電極である・又、p。
31はガラス岬の絶−性基板、32は共通電極、35.
59はn層、54.58は1層、35.37はp層、3
6は未発−によりあらたに設けた導電性を有しかつ嬉5
v′性會有する層、40は個別電極であり、党は骸個別
電極側より入射婆れる′・該個別電極は酸什スズ、酸什
インジウム、酸体スズインジウム等により4成される透
#J導電性電極、該共通電極はアルミニウム、モ11ブ
デン雛により形5vされる導電性電極である・又、p。
1、n畢より構成される非晶質シリコン中製造方法は水
素、へ11ウム、ネオン、アルゴン、キャノン等をペー
スガスとし、モノシラン、四弗什シうン、ジクロルシう
ン輯をキャ1)アーガスとする所定ガスを排気系を具備
する真空槽内に導入して所定の内圧とし、骸真空槽内に
放電1i−起こさしめ、Iガスを分制し、所定温度に加
熱された基板上に非晶質シ11コ/層を析出するブうズ
マOVD法を用いた・このとき、周期*訝第1−b族1
tび第v−b族を混入しない非晶%シllコン層(1層
)が18られる0又、該非晶質シリコン中に周期律表第
i−b族を混入するp層は前記ガス導入時にジボラン(
Bs Ti@ )’!ドーピングガスを前記ベースガス
とともに導入し得られる◎又、該非晶質シリコン中に周
期律費第v−btst混入するn層はホスフィン、アル
シン尋ドーピングガスを同様に導入し得られる・未発−
による導電性會有しかつ連光性を有する層にして、アル
ミニウム。
素、へ11ウム、ネオン、アルゴン、キャノン等をペー
スガスとし、モノシラン、四弗什シうン、ジクロルシう
ン輯をキャ1)アーガスとする所定ガスを排気系を具備
する真空槽内に導入して所定の内圧とし、骸真空槽内に
放電1i−起こさしめ、Iガスを分制し、所定温度に加
熱された基板上に非晶質シ11コ/層を析出するブうズ
マOVD法を用いた・このとき、周期*訝第1−b族1
tび第v−b族を混入しない非晶%シllコン層(1層
)が18られる0又、該非晶質シリコン中に周期律表第
i−b族を混入するp層は前記ガス導入時にジボラン(
Bs Ti@ )’!ドーピングガスを前記ベースガス
とともに導入し得られる◎又、該非晶質シリコン中に周
期律費第v−btst混入するn層はホスフィン、アル
シン尋ドーピングガスを同様に導入し得られる・未発−
による導電性會有しかつ連光性を有する層にして、アル
ミニウム。
クーロム、鉄、コバルト、マンガン、ニッケル、銅。
亜鉛、モ11ブデン、#、インジウム、スズ、アン千モ
ン、タンタル、タングステン、鉛、ロジウム。
ン、タンタル、タングステン、鉛、ロジウム。
パラジbム、イリジウム、金、白金婢の金属又は骸金属
による合金を10X〜1μm1itf真空加熱蒸着、電
子ビームの蒸着、又はスパッタ蒸剌し、その後必lII
な形状にホトエラチングラ行つ。
による合金を10X〜1μm1itf真空加熱蒸着、電
子ビームの蒸着、又はスパッタ蒸剌し、その後必lII
な形状にホトエラチングラ行つ。
第4図に光強変と出力特性の関係を示す。工はハロケン
f源に嘉る奔強度、Sはイメージセンサ出力である一a
は従来のイメージセンサ、bFiム実#−のイメージセ
ンサである。−らかに、伜い弥廖の光の下においても本
実誇汐11のイメージセンサは直線性が失わわれず、従
来のイメージセンサよりも2倍以上の強い水でも出力低
下がないばかりでな(、最近、ホトダイオードともれ電
流防止ダイオードの間に青吸収性のp層を設けるイメー
ジセンサの提案本なされているが、骸イメージセンサで
は#p*で吸収されfc光は田方信号として卆#)lf
′、せない・又p層の抵抗分により大きなWカミ流の時
電圧降下が起こり1Mm性が失なわれる輯の欠虚を有し
ているが、ム実Mflのイメージセンサは前記反射層に
より光は再びホトタイオードに反射さね、有効に出力に
変換される口又該反IId層は非常にX抵抗が小さいた
め、直線性に優れている叫、従味のイメージセンサに比
らべ10チ朴寝゛の大きな出力が得られ有用である・ 水実施例は個別電極側より光を入射する構造であるが、
共通電極側からでも良いし、又個別電極を下部電極、共
通電極を上部電極としても園様の幼芽が得られる・ 本発明によれば高速でW力の大きなEl/N比の優れた
イメージセンサが得られ有効であり、ファタシミIf
、ml象又は文字岬の読み込み装置、ビデオカメラ尋に
応用できる◎
f源に嘉る奔強度、Sはイメージセンサ出力である一a
は従来のイメージセンサ、bFiム実#−のイメージセ
ンサである。−らかに、伜い弥廖の光の下においても本
実誇汐11のイメージセンサは直線性が失わわれず、従
来のイメージセンサよりも2倍以上の強い水でも出力低
下がないばかりでな(、最近、ホトダイオードともれ電
流防止ダイオードの間に青吸収性のp層を設けるイメー
ジセンサの提案本なされているが、骸イメージセンサで
は#p*で吸収されfc光は田方信号として卆#)lf
′、せない・又p層の抵抗分により大きなWカミ流の時
電圧降下が起こり1Mm性が失なわれる輯の欠虚を有し
ているが、ム実Mflのイメージセンサは前記反射層に
より光は再びホトタイオードに反射さね、有効に出力に
変換される口又該反IId層は非常にX抵抗が小さいた
め、直線性に優れている叫、従味のイメージセンサに比
らべ10チ朴寝゛の大きな出力が得られ有用である・ 水実施例は個別電極側より光を入射する構造であるが、
共通電極側からでも良いし、又個別電極を下部電極、共
通電極を上部電極としても園様の幼芽が得られる・ 本発明によれば高速でW力の大きなEl/N比の優れた
イメージセンサが得られ有効であり、ファタシミIf
、ml象又は文字岬の読み込み装置、ビデオカメラ尋に
応用できる◎
第1図はイメージセンサの叫仙i回―である〇第2図は
従来のイメージセンサの1面図である。 第3し・は本央維−1のイメージセンサの断面図で凝る
・ 糖4図は膏強歌とイメーパ/センサの出力特性を示すO 以上 出願人 株式会社 軸を精工舎 代理人 弁理士 象 上 務 第1図 2g 第2図
従来のイメージセンサの1面図である。 第3し・は本央維−1のイメージセンサの断面図で凝る
・ 糖4図は膏強歌とイメーパ/センサの出力特性を示すO 以上 出願人 株式会社 軸を精工舎 代理人 弁理士 象 上 務 第1図 2g 第2図
Claims (1)
- ■ 非晶質シリコン、微結晶1)ンコン又C多結晶シI
;コンよりY成されるけトタイオード並びにもれ電波防
止ダイオードを積層して成るイメージセンサにおいて、
トホト4イす−ドと骸もれ電流防止ダイオードの間に、
導W性を有しかつ透光性f*°する反射層を設けた事f
特徴とするイメージセンサ0
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57010370A JPS58127373A (ja) | 1982-01-26 | 1982-01-26 | イメ−ジセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57010370A JPS58127373A (ja) | 1982-01-26 | 1982-01-26 | イメ−ジセンサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58127373A true JPS58127373A (ja) | 1983-07-29 |
Family
ID=11748264
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57010370A Pending JPS58127373A (ja) | 1982-01-26 | 1982-01-26 | イメ−ジセンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58127373A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58141561A (ja) * | 1982-02-18 | 1983-08-22 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
JPS60161664A (ja) * | 1984-02-01 | 1985-08-23 | Sharp Corp | 密着型二次元画像読取装置 |
JPS60186073A (ja) * | 1984-03-02 | 1985-09-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光検出装置 |
JPS60235457A (ja) * | 1984-05-09 | 1985-11-22 | Nec Corp | イメ−ジセンサ |
JPS60235456A (ja) * | 1984-05-09 | 1985-11-22 | Nec Corp | イメ−ジセンサ |
-
1982
- 1982-01-26 JP JP57010370A patent/JPS58127373A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58141561A (ja) * | 1982-02-18 | 1983-08-22 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
JPS60161664A (ja) * | 1984-02-01 | 1985-08-23 | Sharp Corp | 密着型二次元画像読取装置 |
JPS60186073A (ja) * | 1984-03-02 | 1985-09-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光検出装置 |
JPS60235457A (ja) * | 1984-05-09 | 1985-11-22 | Nec Corp | イメ−ジセンサ |
JPS60235456A (ja) * | 1984-05-09 | 1985-11-22 | Nec Corp | イメ−ジセンサ |
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