JPS58125843A - 集積回路試験用端子 - Google Patents
集積回路試験用端子Info
- Publication number
- JPS58125843A JPS58125843A JP864282A JP864282A JPS58125843A JP S58125843 A JPS58125843 A JP S58125843A JP 864282 A JP864282 A JP 864282A JP 864282 A JP864282 A JP 864282A JP S58125843 A JPS58125843 A JP S58125843A
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- terminal
- integrated circuit
- resistor
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Power Engineering (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、集積回路の試験用端子、特に被試験集積回路
端子と接触する際に生ずる静電破壊を防止した集積回路
試験用端子に関する。
端子と接触する際に生ずる静電破壊を防止した集積回路
試験用端子に関する。
集積回路試験用端子は、集積回路端子と接触して、集積
回路と外部回路とを接続するだめのものである。従来、
集積回路試験用端子は、集積回路の試験に際し、集積回
路チップの摩擦により静電気が発生し、集積回路端子と
試験用端子の接触時に１この静電気が外部回路を通して
放電し、その衝撃電流によって被試験集積回路の入力回
路を破壊することがあるという問題があった。
回路と外部回路とを接続するだめのものである。従来、
集積回路試験用端子は、集積回路の試験に際し、集積回
路チップの摩擦により静電気が発生し、集積回路端子と
試験用端子の接触時に１この静電気が外部回路を通して
放電し、その衝撃電流によって被試験集積回路の入力回
路を破壊することがあるという問題があった。
本発明は、斯かる問題点を解決すべくなされたもので、
その目的は、試験用端子と被試験集積回路端子が接触す
る際に試験用端子と外部回路を高抵抗を介して接続する
ととくより、静電荷の放電時間を長くして衝撃電流を減
少させ、上記静電破壊を防止する端子を供給することＫ
ある。
その目的は、試験用端子と被試験集積回路端子が接触す
る際に試験用端子と外部回路を高抵抗を介して接続する
ととくより、静電荷の放電時間を長くして衝撃電流を減
少させ、上記静電破壊を防止する端子を供給することＫ
ある。
即ち、本発明は、上記目的を達成すべく、集積回路端子
と接触して集積回路と外部回路とを接続する集積回路試
験用端子において、集積回路端子と接触する接触ビンと
、該ビンを支持すると共に該ビンと外部回路とを接続す
る基台とを有して成り、上記接触ピンは、先端側に導体
部を設けると共に１基趨側に抵抗部を設けて構成され、
且つ、上記基台は、上記接触ピンが集積回路端子と接触
する際、上記抵抗部を第１の接点とし、上記導体部を第
２の接点として該接触ピンと１１１続するよう構成され
て成るものである。
と接触して集積回路と外部回路とを接続する集積回路試
験用端子において、集積回路端子と接触する接触ビンと
、該ビンを支持すると共に該ビンと外部回路とを接続す
る基台とを有して成り、上記接触ピンは、先端側に導体
部を設けると共に１基趨側に抵抗部を設けて構成され、
且つ、上記基台は、上記接触ピンが集積回路端子と接触
する際、上記抵抗部を第１の接点とし、上記導体部を第
２の接点として該接触ピンと１１１続するよう構成され
て成るものである。
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて説明する。
第１図は本発明試験用端子の一実施例を示し、囚はフィ
ルムキャリヤ集積回路を接続していない状１１１を示す
断面図、［Ｆ］）は接続し丸状Ｍｔ−示す断面図である
。これらの図にシｂて本発明試験用端子は、集積回路端
子７と接触する接触ピン１と、腋ビン１を支持すると共
に該ビン１と外部回路とを接続する基台６とを有して構
成される。
ルムキャリヤ集積回路を接続していない状１１１を示す
断面図、［Ｆ］）は接続し丸状Ｍｔ−示す断面図である
。これらの図にシｂて本発明試験用端子は、集積回路端
子７と接触する接触ピン１と、腋ビン１を支持すると共
に該ビン１と外部回路とを接続する基台６とを有して構
成される。
上記接触ビン１＃″ｉ、先端側（集積回路端子７と接触
する＠）Ｋ導体部１ｍを設けると共に１基端側に高抵抗
値の抵抗部２を設けである。抵抗部２は、集積回路に帯
電している静電荷を大きな時定数で放電させて、皺電荷
による衝撃電ｆｌｔ、を生じさせないようにするもので
ある。
する＠）Ｋ導体部１ｍを設けると共に１基端側に高抵抗
値の抵抗部２を設けである。抵抗部２は、集積回路に帯
電している静電荷を大きな時定数で放電させて、皺電荷
による衝撃電ｆｌｔ、を生じさせないようにするもので
ある。
又、この接触ピンＩＫＦｉ、抵抗部２０基端及び導体部
１ｍ中間にそれぞれストッパ３，４が設けである。これ
らのストッパ３．４は、接触ピン１の長手方向の移動範
囲を設定する機能を有する。
１ｍ中間にそれぞれストッパ３，４が設けである。これ
らのストッパ３．４は、接触ピン１の長手方向の移動範
囲を設定する機能を有する。
基台６は、有底円筒状に形成されると共に、開ロ部ＫＦ
−１内向きフランジ６ｍが設けである。このフランジ６
ａｔｉ上記ストッパ３．４を係止すると共に、接触ピン
１との接続部として機能する。即ち、基台６Ｖｔ導体に
て形成すれば、フランジ６ｍの内壁６ｂは、抵抗部２を
第１の接点とし、導体部１１を第２の接点として順次こ
れらとの接続部となる。なお、この基台６を絶縁体にて
形成することもできるが、その場合は、上記フランジ内
壁６ｂＫ導体からなる接続部を別途設ける必要がある。
−１内向きフランジ６ｍが設けである。このフランジ６
ａｔｉ上記ストッパ３．４を係止すると共に、接触ピン
１との接続部として機能する。即ち、基台６Ｖｔ導体に
て形成すれば、フランジ６ｍの内壁６ｂは、抵抗部２を
第１の接点とし、導体部１１を第２の接点として順次こ
れらとの接続部となる。なお、この基台６を絶縁体にて
形成することもできるが、その場合は、上記フランジ内
壁６ｂＫ導体からなる接続部を別途設ける必要がある。
父、この基台６内には、上下方向に伸縮するバネ５が装
着しである。このバネ５は、基台底面６Ｃと上記接触ビ
ン１の基端との間にあって、該接触ピン１を押上げるよ
う付勢している。
着しである。このバネ５は、基台底面６Ｃと上記接触ビ
ン１の基端との間にあって、該接触ピン１を押上げるよ
う付勢している。
次に、本発明試験用端子の動作について図面を参照して
説明する。
説明する。
まず、被試験集積回路を接続する前は、バネ５により接
輪ビンｌｔｊ押上げられているから、基台６は第１接点
たる抵抗部２と電気的に接触している。なお、基台６に
は外部回路が接続されている。
輪ビンｌｔｊ押上げられているから、基台６は第１接点
たる抵抗部２と電気的に接触している。なお、基台６に
は外部回路が接続されている。
ついで帯電したフィルムキャリヤ集積回路を接続する際
、集積回路端子７Ｋｍ！！触ビン１の先端を接触させる
と、静電１７Ｉｆは、接触ピンｌの導体部１１、抵抗部
２を経て基台６に流れ、基台６から外部回路ｔ−通じて
接地点に放電される。この場合、放電時定数は、大きな
抵抗値を有する抵抗部２のために充分大きく、被試験集
積回路を破壊せしめるほどの衝撃電流は流れない。なお
、図において８はフィルムである。
、集積回路端子７Ｋｍ！！触ビン１の先端を接触させる
と、静電１７Ｉｆは、接触ピンｌの導体部１１、抵抗部
２を経て基台６に流れ、基台６から外部回路ｔ−通じて
接地点に放電される。この場合、放電時定数は、大きな
抵抗値を有する抵抗部２のために充分大きく、被試験集
積回路を破壊せしめるほどの衝撃電流は流れない。なお
、図において８はフィルムである。
更に、集積回路端子７を押下げると、接触ピン１がバネ
５に抗して下降し、抵抗部２がフランジ６ａの位置より
しだいに下方に移動するため、抵抗値が移動に伴なって
減少する。そして、フランジ内壁６ｂが第２接点たる導
体部１ａと接触すると、上記抵抗部２が短絡され、試験
電圧を集積回路端子７に直接印加できるようになる。
５に抗して下降し、抵抗部２がフランジ６ａの位置より
しだいに下方に移動するため、抵抗値が移動に伴なって
減少する。そして、フランジ内壁６ｂが第２接点たる導
体部１ａと接触すると、上記抵抗部２が短絡され、試験
電圧を集積回路端子７に直接印加できるようになる。
なお、上記実施例では、抵抗部及び導体部の側面を第１
．第２の接点としたが、ストッパ３，４を第１．第２の
接点として本よい。
．第２の接点としたが、ストッパ３，４を第１．第２の
接点として本よい。
以上説明したように１本発明け、抵抗部と導体部とで接
触ピンを形成し、前者を第１接点、後者を第２接点とし
て順次外部回路と接続するよう構成したことＫより、接
輪ビンと被試験集梼回路端子とが接触した際、集積回路
に帯電した静電荷を抵抗部を介して放電せしめるため、
静電荷の放電時に生ずる衡撃電流を減少できて、集積回
路の試験時の静電破壊を防止することができる効果があ
る。
触ピンを形成し、前者を第１接点、後者を第２接点とし
て順次外部回路と接続するよう構成したことＫより、接
輪ビンと被試験集梼回路端子とが接触した際、集積回路
に帯電した静電荷を抵抗部を介して放電せしめるため、
静電荷の放電時に生ずる衡撃電流を減少できて、集積回
路の試験時の静電破壊を防止することができる効果があ
る。
第１図は本発明試験用端子の一実施例を示し、（Ａ）Ｆ
ｉフィルムキャリヤ集積回路を接続していない状態を示
す断面図、＠は接続した状態を示す断面図である。 １・・・接輪ピン １ａ・・・導体部２・・・
抵抗部 ３，４・・・ストッパ５・・・バネ
６・・・基台６Ｆ・・７ランジ
６ｂ・・・７ランジ内壁６Ｃ・・・基台底面
７・・・集積回路端子出願人 日本電気株式会社
ｉフィルムキャリヤ集積回路を接続していない状態を示
す断面図、＠は接続した状態を示す断面図である。 １・・・接輪ピン １ａ・・・導体部２・・・
抵抗部 ３，４・・・ストッパ５・・・バネ
６・・・基台６Ｆ・・７ランジ
６ｂ・・・７ランジ内壁６Ｃ・・・基台底面
７・・・集積回路端子出願人 日本電気株式会社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 集積回路端子と接触して集積回路と外部回路とを接続す
る集積回路試験用端子において、集積回路端子と接触す
る接触ピンと、該ピンを支持すると共に＃ビンと外部回
路とを接続する基台とを有して成り、 上記接触ピンは、先端側に導体部を設けると共に、基端
側に抵抗部を設けて構成され、且つ、上記基台は、上記
接輪ピンが集積回路端子と接触する際、上記抵抗部を第
１の接点とし、上記導体部を第２の接点として該接触ピ
ンと接続するよう構成されて成ることを特徴とする集積
囲路試験用端子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP864282A JPS58125843A (ja) | 1982-01-22 | 1982-01-22 | 集積回路試験用端子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP864282A JPS58125843A (ja) | 1982-01-22 | 1982-01-22 | 集積回路試験用端子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58125843A true JPS58125843A (ja) | 1983-07-27 |
Family
ID=11698600
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP864282A Pending JPS58125843A (ja) | 1982-01-22 | 1982-01-22 | 集積回路試験用端子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58125843A (ja) |
-
1982
- 1982-01-22 JP JP864282A patent/JPS58125843A/ja active Pending
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