JPS58123789A - Icリ−ド末插入検出装置 - Google Patents

Icリ−ド末插入検出装置

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Publication number
JPS58123789A
JPS58123789A JP57005395A JP539582A JPS58123789A JP S58123789 A JPS58123789 A JP S58123789A JP 57005395 A JP57005395 A JP 57005395A JP 539582 A JP539582 A JP 539582A JP S58123789 A JPS58123789 A JP S58123789A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detection pin
lead
detection
phototransistor
light
Prior art date
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Pending
Application number
JP57005395A
Other languages
English (en)
Inventor
興津 光
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Electronics Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority to JP57005395A priority Critical patent/JPS58123789A/ja
Publication of JPS58123789A publication Critical patent/JPS58123789A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、基板にICを組みつける際、基板に穿たれた
スルーホールにICのリードが正常に挿入されたか否か
を自動的に検出する装置に関するものである。
この種の検出装置は、従来一般に、上記のスルーホール
に挿通されたICリードによって押動されるリンク機構
を設け、該りンク慎構によってマイクロスイッチを機械
的に動かす構造である。
ところが、周知のごとくマイクロスイッチの耐用命数紘
通常100万回程度であるため、2万回/日の割合で作
動させると約2ケ月毎にマイクロスイッチを変換しなけ
ればならないという不具合がある。
本発明は上述の事情に鑑殊て為され、耐用命数を格段に
延長せしめ得るI CIJ−ド未挿入検出装置を提供し
ようとす・るものである。
上記の目的を達成するため、本発明は、暴仮に穿たれた
スルーホールに対向せしめて、I CIj −ドによっ
て押動される検出ピンを弾性的に支承し。
かつ、押動された状態の検出ピンに向けて投光するよう
にグラスファイバを設置するとともに、上記グラスファ
イバの投光光軸上にフォトトランジスタを設置して、前
記検出ピンの移動を光電的に検出し得るように構成した
ことを特徴とする。
次に、本発明を適用して、10個ずつ2列のリードを設
けられたICのリード挿入状態を検出するように構成し
たI CIJ−ド未挿入検出装置の一実施例を第1図及
び第2図について説明する。
仮想線で示し九1はI Cb 1 a e 1 mはそ
のリードであり、仮想線で示した2は基板、2m、2m
は上記のリードを挿通するために穿たれたスルーホール
である。本図においては、10個ずつ2列に設けられた
リード1mおよびスルーホール2&の各列が表わされて
いる。
上記のスルーホール2a、2aに対向するように検出ピ
ン4,4を次記のようにして弾性的に支承する。
検出ピン4は、その中央付近にバネ座4aを一体連設し
た細長い円柱状に形成する。
−万、基板2のスルーホール2&I2&と等間隔に、検
出ピン4.4と摺動自在に嵌合する透孔を穿ったヘッド
ブロック3、及び同様に透孔を穿ったアラ・母グレート
5を形成する。
上記と別体に、検出ピン4.4のバネ座4m。
4aと摺動自在に嵌合する透孔を、前記のスルーホール
間隔と等間隔に穿ったビイブロック9、並びに検出ピン
4.4の下半部と摺動自在に嵌合する透孔を上記と等間
隔に穿ったアンダブレート6ドプロツク7に固着する。
ヘッドブロック7の下方には空洞部7aを形成し、同ブ
ロック7の頂面から上記空洞$7aに連通するよう2′
)の透孔7b、7bを穿っである。
上記の透孔7b、7bの間隔はスルーホール2m。
2aの間隔と等間隔とし、その径は検出ピン4の上半部
と緩やかに嵌合する寸法とする。
ヘッド!ロック70頂面にヘッドグレート3を薯固着し
て、それぞれに穿たれた透孔を同心状に揃える。
ヘッドブロック7の空洞部7aの天井面にアラ/母プレ
ート5を固着して、それぞれの部付に穿たれた透孔を同
心状に揃える。
検出ピン4.4の上半部を前記のヘッドグレート3及び
アラ/4fレート5に穿たれた透孔に摺動自在に嵌合す
る。上記の検出ピン4,4はヘッド:1 ブロック7の透孔7b、7bの内壁面に触れることなく
該透孔7b 、7bを貫通する。
上記の検出ピン4.4のバネ座4 m + 4 mをピ
ンブロック9の透孔に摺動自在に嵌合させて該ピンブロ
ック9をアンダープレート5の下面に固定する。
前記のバネ座4m、4mよりも若干、小径に形成したコ
イルスプリング8,8を検出ピン4の下半部に外嵌して
ピンブロック9の透孔内に収納し、その下方にアンダー
プレート6を取りつけて上記のコイルスプリング8.8
をバネ座4ae4mとアンダーグレート6との間に圧輪
介装する。
これにより検出ピン4,4はコイルスプリング8.8に
よって上方に付勢され、バネ座4a e4mがアラl4
fv−)5に当接する。アッノQfレート5社慣出ピン
4.4のストツノ臂として作用する。
本実施例は以上のようにしてスに一ホール2m。
2aに対向するように検出ピン4.4を弾性的に支承し
である口 上記の検出ピン4.4社外部から別設の力を加えられな
いとき社実線で図示したようにバネ座41” * 4 
mがアンダープレート5に当接した位置にあり、押し下
げられるとその下端部が仮想線で示した4b、4b位置
まで下降する。
上記の押動された状態の検出ピンの下端部位置4b、4
bに向けて投光するように次記のごとくグラスファイバ
を設ケル・ 上記の押動された検出ピンの下端部の位置4bに向けて
矢印A 、 A’のごとく投光するようにファイバブロ
ック12を設置し、これに接続したグラスファイバ16
の他端に光源15を設置する。光源15から出てグラス
ファイバ16を通った光はファイバブロック12で矢印
A、A’方向に分割されて検出ピンの下降時の端@4b
、4bに向けて投射される。
上記の矢印A、A’の延長線上にフォトトランジスタ1
1.11を設置し、検出ピンの下降時の端部4b、4b
を介してファイバブロック120投光口に対向させてそ
の投光光束を検出し得るように構成する。14 、14
はフォト基板である。
13 、13はフォトトランジスタ11.11を支承す
るフォトブロック、10 、10はピンブロック9を支
承するスタッドである。
前記のフォトトランジスタ11 、11 、ファイバブ
ロック12 、12 、グラスファイバ16%及び光源
15の平面的配置を第2図に示す。
グラスファイバ16によって送られてきた光源15の光
はファイバブロック12によって左、右各列、10個ず
つの光束に分割され、それぞれの投光光軸をフォトトラ
ンジスタ11 、11に向けている。仮想線で示した4
、4は検出ピンの位置であシ、上記の投光光軸上に位置
している0 本実施例は以上のようにして、押動された状態の検出ビ
ン下端部の位置4bに向けて投光するグラスファイバを
設置すると共に、上記ダラスファイ/?の投光光軸上に
、上記の検出ピン位置4bを介してフォトトランジスタ
11をグラスファイノ々の投光口に対向せしめである。
第1図及び第2図から容易に理解されるごとく、検出ピ
ン4が上昇しているときはこれに対応しているフォトト
ランジスタ11が受光し、検出ピン4の下降によって上
記の受光が遮られる。
このようにして各フォトトラン、ジスタ11.11Hそ
れぞれ対応している検出ピン4.4の上下動を非接触的
Kll知し得るように構成する。各フォトトランジスタ
11.11の検出信号は制#s(図示せず)に入力せし
める。
次に、以上のように構成したICリード未挿入検出装置
の使用方法と作用とを説明する。
第3図に示すように基板2をヘッドグレート3の上に置
き、スルーホール2m、2mを検出ピン4゜4に対向さ
せる。この状態で上記のスルーホール2m 、2aにI
CIのリードla、laを挿入する。
図示のようにリード1亀がスルーホール2at貞通する
とリード1aが検出ピン4を押し下げる。
このため検出ピン4の下端部がフォトトランジスタ11
の受光を妨げるので咳フォトトランジスタ11は受光し
ないことを表わす電気信号を出力し、これを受けた制御
tilS(図示せず)はり−ド1&力;スルーホール2
&に挿入され九ものと判断する口重実施例の場合、第2
図に示したように四個のフォトトランジスタ11.11
を設けであるので、その全部が受光しなく一つたとき、
制御部(図示せず)は1個のICについて全リードの挿
入を完了    □したものと判断する。
第4図に示すように、もし、いずれかのリード1m’が
スルーホールに旨く挿通され表かったときは、当該リー
ド1 a/に対応する検出ピン4′が押し下げられない
。従ってこれに対応するフォトトランジス月1′は受光
を妨げられi−ので、受光していることを表わす電気信
号を出力し続ける。これi( によシ制#部(図示せず)は未挿入リードの存在を検知
することができる。
以上の構成及び作動から明らかなように、本発明に係る
I CIJ−ド未挿入検出装置は機械的接点を有するマ
イクロスイッチを使用せず、検出ピンの動きを非接触的
に検知してリードの挿入、未挿入を判断することができ
る。
上記の検出ピンは機械的にリードの当接を受けて押し下
げられ、スプリングの付勢力によって復元する作動を繰
返すが、極めて単純な構成で単純な作動を繰返すだけで
あり、その摺動面である円柱面は別設の側圧を受けない
ため摩耗の進行は実用土無視することができ、非常に長
い耐用時間を期待し得る。
以上説明し喪ように、本発明は、基板に穿たれたICリ
ード挿入用スルーホーkに対向するように検出ピンを弾
性的に支承し、上記の検出ピンに向けて投光するように
グラスファイノ々を設置し、上記の投光の光軸上にフォ
トトランジスタを設けて、前記の検出ピンの動きを上記
のフォトトランジスタによって非接触的に検出し得るご
とく構成することにより、ICリード未挿入検出装置の
耐用命数を飛躍的に延長させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るI CIJ−ド未挿入検出装置の
一実施例の断面正面図、第2図は上記実施例におけるグ
ラスファイバ及びフォトトランジスタの平面的配置図、
第3図及び第4図はそれぞれ上記実施例の作動を説明す
るための断面正面図である。 1・・・IC% 1a・・・同リード、2・・・基板、
2a・・・同スルーホール、4・・・検出ピン、4a・
・・1ift/”ネ座。 4b・・・下降した検出ピンの下端部% 8・・・コイ
ルスプリング、11・・・フォトトランジスタ、12・
・・ファイ1パブロツク、14・・・フォト基板、15
・・・光源、16・・・グラスファイバ。 特許出願人  日立電子エンジニアリング株式会社代理
人 弁理士  秋   本   正   実第1図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基板に穿たれたICリード挿入用スルーホールbに対向
    するよう弾性的に支承した検出ピンと、上記の検出ピン
    に向けて投光するように設置したグラスファイバと、上
    記の投光の光軸上に設けたフォトトランジスタとよシな
    り、前記の検出ピンの移mt上記のフォトトランジスタ
    によって検出シ得るように構成したことを特徴とするI
    Cリード未挿入検出装置・
JP57005395A 1982-01-19 1982-01-19 Icリ−ド末插入検出装置 Pending JPS58123789A (ja)

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JP57005395A JPS58123789A (ja) 1982-01-19 1982-01-19 Icリ−ド末插入検出装置

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JPS58123789A true JPS58123789A (ja) 1983-07-23

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ID=11609961

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JP (1) JPS58123789A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60124100U (ja) * 1984-01-30 1985-08-21 日立電子エンジニアリング株式会社 Icリ−ド未挿入検出機構
JPS60124099U (ja) * 1984-01-30 1985-08-21 日立電子エンジニアリング株式会社 Icリ−ド未挿入検出装置
JPS62257800A (ja) * 1986-05-01 1987-11-10 秋田精工株式会社 電子部品の組立体の監視方法とその監視要素

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60124100U (ja) * 1984-01-30 1985-08-21 日立電子エンジニアリング株式会社 Icリ−ド未挿入検出機構
JPS60124099U (ja) * 1984-01-30 1985-08-21 日立電子エンジニアリング株式会社 Icリ−ド未挿入検出装置
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