JPS58121531A - 陰極試験用電子管 - Google Patents

陰極試験用電子管

Info

Publication number
JPS58121531A
JPS58121531A JP279982A JP279982A JPS58121531A JP S58121531 A JPS58121531 A JP S58121531A JP 279982 A JP279982 A JP 279982A JP 279982 A JP279982 A JP 279982A JP S58121531 A JPS58121531 A JP S58121531A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cathode
anode
diameter
hole
electron tube
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP279982A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6312346B2 (ja
Inventor
Osahisa Mita
三田 長久
Kiyoshi Shimokawa
下川 清志
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP279982A priority Critical patent/JPS58121531A/ja
Publication of JPS58121531A publication Critical patent/JPS58121531A/ja
Publication of JPS6312346B2 publication Critical patent/JPS6312346B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/42Measurement or testing during manufacture

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
  • Microwave Tubes (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は低い電源電圧で経済的に陰極の経時特・性を測
定できる陰極試験用電子管に関するもので・ある。
従来陰極の1.経時特性を試j検する場合、陽極は陰・
極にほぼ平行な面を対向して有する2極管が用い0られ
できた。この上うな2極管を用いて1倉極の経時特性を
測定すると、バリウム化合物を含んだ陰極は700〜1
100℃程度に加熱されているため遊離バリウムが生じ
、このバリウムが蒸発して対向する陽極に達し、さらに
これが陰極側にはね返るため陰極表面のバリウム濃度を
増すことになる。
一方、実際には陰極は例えば進行波管のピアス型電子銃
等に組込まれており、この場合陽極には穴が開いており
、陰極と陽極の間隔もかなり離れて(例えば陰極径の6
倍程度)設置されているた10め、上記のようなバリウ
ムのはね図りはほとんど。
ない。従って2極管で陰極の経時試験を行なった゛結果
は、実際に進行波管等に組込んだ場合と異な。
って見掛は上方化が少ない結果しか得られないと。
いう欠点を有する。             +3進
行波管の電子銃部だけを組込んだ電子管を作。
す、これを用いて陰極の経時特性を測定すること゛も考
えられるが、これでは陽極に数kVの電源が゛必要(必
要なビームエネルギーが得られるよ’5K・設計されて
いるから)で、しかもコレクタ電源も20必要であり、
実験設備が非常に高価なものになる。
本発明はこれらの欠点を除去するため、バリウムをはね
返さない構造の陽極を陰極に近接して設げ、陽極雪圧を
下げて陰極の経時特性を1all定できるようにしたも
のである。以下図面忙ついて詳細に説明する。
第1図は本発明の陰極試験用電子管の一実!血例の構造
を示す断面図である。図にお1ハで、1は陰極、2はビ
ーム形成電極、6は陽極、4は陽極の。
穴、5は真空外囲器、6はゲッタ、7はヒータで10あ
る。
lS極1をヒータ7により加熱し、陰極1と1湯極゛6
に電圧を印加して陰極から電流を取り出す。こ゛のとき
ビーム形成電極2は陰極の放射電流密度を。
均一にする役割をはたし、通常陰極と同電位に保13た
れている。陽極の穴4は陰極から蒸発したパリ・ラム原
子が陰極の方へはね返されない構造(詳細・は後述する
)になっている。真空外囲器5はセラ・ミンク外囲器を
用いたが、ガラス外囲器を用いて・もよい。なお、真空
を保持するためゲッタ6を付20加している。
第2図は第1図の要部拡大図であり、軸対称構造なので
断面の半分を示している。8は陽極の穴の陰極側]テー
パ面、9は陽極の穴の陰極とは反対側のテーパ面、10
はigA極の穴の最小径部、11は陰極の電子放出面、
12は陽極の陰極側の;箱である。各部分の具体的構造
2寸法の一例を示すと次の通りである。
陰極1の直径は3mmであり、陽極の穴4の陰。
極側吸大径は同じ< 5 mm とした。この穴4の陰
10極側最大径は陰極1のl径と等しいかもしくはそ。
れより大きくしないとバリウムのはね返りを起こ。
すことになる。陽極の穴の最小径部の直径は2 mm’
、穴の陰極側テーパ面8と陽極の陰極側の面12の。
なす角θは約128°である。この角が105°以上1
)になると陰極から蒸発して来たバリウム原子が弾・性
反射して陰極にはね返る可能性が大きくなる。・陰極と
は反対側のテーパ面9は陽極部(穴の近傍)での発熱敏
を減じるため、電子ビームが衝突しな・いように設けた
ものであるが、陽極の消費電力が20・ 3 ・ 少なければ必ずしも必要ではない。陰極の電子放出面1
1と陽極ろの距離toは1.8 mmであり、穴の最小
径部の半径(1mm )の18倍となっている。
他の部分(図に付した記号の部分)の寸法は11=0.
2mm、A2=0.55mm、A5=0.7mm。
Z4=05mm+  75=0.8mm+  r1=1
.75mm。
r2 = 2.6 mmである。
従来のピアス形の電子銃では陽極穴の半径の6゜倍以上
陰極と陽極を離さなければ、陽極穴による。
電界の乱れにより均一な電子放射密度分布か得られない
が、本実施例のような陽極穴の横置にする。
と、l宸1返と陽極の間隔を陽極の穴の最小半径の6°
倍以内に短縮しても穴の影響な受けにくくなり、゛均一
な陰極電流密度分布が得られる。
第6図は上記構造1寸法を有する電子管の陰極+5電流
密度分布の計算値を示したグラフで、陰極と・ビーム形
成電極を接地し、陽極に470■の電圧・を印加した場
合の例である。設計値0.6 A/cm2に。
対し±3幅以内の均一な陰極電流密度分布が得ら・れて
いる。                  20・ 
4 ・ 第4図は従来の陰極に対向した陽極を有する2極管に含
浸形陰極を組込んで、陰極を1180℃に加熱して経時
特性を測定した結果であり、1 [1000時間経過し
ているにもかかわらず陰極電流はわずかな増加を示して
おり、劣化は全く見られない。
実際には1180℃という高温で1oooo時間経過す
れば、含浸形陰極は劣化の傾向が現れるはずであり、バ
リウム原子がはね返って陰極表面でのバリウム存在確率
を増すために、陰極電流が低下し。
ていないものと思われる。          、10
第5図は本発明の実施例の電子管に倉庫形陰極゛を組込
んで、陰極温度を1180℃に加熱して経時゛特性を測
定した結果であり、ll5OOO時間ですでに。
陰極電流の低下傾向がはっきりと出ている。これ・はバ
リウム原子がはね返らない構造になっている1)ため、
進行波管等に組込んだ場合と等しい劣化傾・向を示して
いるものと認められる。
以上説明したように、本発明の構造を有する電・子骨を
用いて陰極を試験すれば、試験用電源電圧・を大幅に低
下できるため、電源設備を安価にてき2Iζしかも実用
の電子管に組込んだ場合と等しい陰ホの劣化傾向を把握
することができるという利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の陰極試験用電子管の一実1准例の構潰
な示す断面図、第2図は第1図の要部拡大図、第6図は
陰極電流密度分布の計算値を示したグラフ、第4図は従
東の2極管に含浸形陰極を甜。 込んだ場合の陰極電流の経時変化を示すグラフ、。 第5図は本発明の実施例の電子管に含浸形陰極を10組
込んだ場合の陰極電流の7経時変化を示すグラフ゛であ
る。 1・・陰極       2・・ビーム形成電極 6 
陽極       4・・・陽極の穴5・真空外囲器 
   6・・ゲッタ     1)7・・・ヒータ 8・穴の陰極側テーパ面 9・・穴の陰極とは反対側のテーパ面 10・穴の最小径部  11・・陰極の電子放出面。 12 ・陽極の陰極側の面 、 7  。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 陰極と陽極とビーム形成電極を有する電子管において、
    陽極の中心に穴を開け、その穴を陰極に面した側から徐
    々に直径を減するようなテーパ状とし、陰画に面した側
    tはその穴の直径を陰極の。 直径と等しいかもしくは陰極の直径よりも大きく゛し、
    その穴の最小の直径は陰極の直径よりも小さIoくし、
    この陽極の断面を見たときにテーバ而と陽。 極の陰極側の面のなす角が90°より大きく135°。 以下の範囲にあるようにしたことを特徴とする陰極試験
    用電子管。
JP279982A 1982-01-13 1982-01-13 陰極試験用電子管 Granted JPS58121531A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP279982A JPS58121531A (ja) 1982-01-13 1982-01-13 陰極試験用電子管

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP279982A JPS58121531A (ja) 1982-01-13 1982-01-13 陰極試験用電子管

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58121531A true JPS58121531A (ja) 1983-07-19
JPS6312346B2 JPS6312346B2 (ja) 1988-03-18

Family

ID=11539415

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP279982A Granted JPS58121531A (ja) 1982-01-13 1982-01-13 陰極試験用電子管

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58121531A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102967812A (zh) * 2011-09-01 2013-03-13 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 评估行波管寿命的方法及其装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102967812A (zh) * 2011-09-01 2013-03-13 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 评估行波管寿命的方法及其装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6312346B2 (ja) 1988-03-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3479545A (en) Surface ionization apparatus and electrode means for accelerating the ions in a curved path
US4122347A (en) Ion source
US3783325A (en) Field effect electron gun having at least a million emitting fibers per square centimeter
JPS58121531A (ja) 陰極試験用電子管
JPS56127935A (en) Production of magnetic recording medium
US2316276A (en) Electron discharge apparatus
JPS6318297B2 (ja)
RU2299489C1 (ru) Ионный источник с холодным катодом
Maxfield et al. Characteristics of the Glow to Arc Transition in Mercury Vapor
Ono et al. Laser‐heated emission of electrons from a carbon‐coated metal surface and its application to the emissive probe measurements
GB2058142A (en) Sputtering electrodes
RU2817564C1 (ru) Источник быстрых атомов для травления диэлектриков
JPH024979B2 (ja)
JPS5963729A (ja) イオンシヤワ装置
JP2526303B2 (ja) リニアフィラメント型電子銃
RU2233505C2 (ru) Газоразрядный источник ионов
JPS5713175A (en) Ion etching method
SU629652A1 (ru) Способ нагрева объектов
JPS57134855A (en) Ionization vacuum gauge
JPS6413183A (en) Emission display element
JP2000215785A (ja) 含浸型陰極基体、その製造方法および陰極構体
JPS6272111A (ja) 薄膜形成装置
RU98110774A (ru) Способ и устройство для получения оптического излучения
JPS6096759A (ja) 薄膜蒸着装置
Kok Theory and probe measurements of gabor’s gas-filled triode