JPS58121531A - 陰極試験用電子管 - Google Patents
陰極試験用電子管Info
- Publication number
- JPS58121531A JPS58121531A JP279982A JP279982A JPS58121531A JP S58121531 A JPS58121531 A JP S58121531A JP 279982 A JP279982 A JP 279982A JP 279982 A JP279982 A JP 279982A JP S58121531 A JPS58121531 A JP S58121531A
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- JP
- Japan
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- cathode
- anode
- diameter
- hole
- electron tube
- Prior art date
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- Granted
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/42—Measurement or testing during manufacture
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
- Microwave Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は低い電源電圧で経済的に陰極の経時特・性を測
定できる陰極試験用電子管に関するもので・ある。
定できる陰極試験用電子管に関するもので・ある。
従来陰極の1.経時特性を試j検する場合、陽極は陰・
極にほぼ平行な面を対向して有する2極管が用い0られ
できた。この上うな2極管を用いて1倉極の経時特性を
測定すると、バリウム化合物を含んだ陰極は700〜1
100℃程度に加熱されているため遊離バリウムが生じ
、このバリウムが蒸発して対向する陽極に達し、さらに
これが陰極側にはね返るため陰極表面のバリウム濃度を
増すことになる。
極にほぼ平行な面を対向して有する2極管が用い0られ
できた。この上うな2極管を用いて1倉極の経時特性を
測定すると、バリウム化合物を含んだ陰極は700〜1
100℃程度に加熱されているため遊離バリウムが生じ
、このバリウムが蒸発して対向する陽極に達し、さらに
これが陰極側にはね返るため陰極表面のバリウム濃度を
増すことになる。
一方、実際には陰極は例えば進行波管のピアス型電子銃
等に組込まれており、この場合陽極には穴が開いており
、陰極と陽極の間隔もかなり離れて(例えば陰極径の6
倍程度)設置されているた10め、上記のようなバリウ
ムのはね図りはほとんど。
等に組込まれており、この場合陽極には穴が開いており
、陰極と陽極の間隔もかなり離れて(例えば陰極径の6
倍程度)設置されているた10め、上記のようなバリウ
ムのはね図りはほとんど。
ない。従って2極管で陰極の経時試験を行なった゛結果
は、実際に進行波管等に組込んだ場合と異な。
は、実際に進行波管等に組込んだ場合と異な。
って見掛は上方化が少ない結果しか得られないと。
いう欠点を有する。 +3進
行波管の電子銃部だけを組込んだ電子管を作。
行波管の電子銃部だけを組込んだ電子管を作。
す、これを用いて陰極の経時特性を測定すること゛も考
えられるが、これでは陽極に数kVの電源が゛必要(必
要なビームエネルギーが得られるよ’5K・設計されて
いるから)で、しかもコレクタ電源も20必要であり、
実験設備が非常に高価なものになる。
えられるが、これでは陽極に数kVの電源が゛必要(必
要なビームエネルギーが得られるよ’5K・設計されて
いるから)で、しかもコレクタ電源も20必要であり、
実験設備が非常に高価なものになる。
本発明はこれらの欠点を除去するため、バリウムをはね
返さない構造の陽極を陰極に近接して設げ、陽極雪圧を
下げて陰極の経時特性を1all定できるようにしたも
のである。以下図面忙ついて詳細に説明する。
返さない構造の陽極を陰極に近接して設げ、陽極雪圧を
下げて陰極の経時特性を1all定できるようにしたも
のである。以下図面忙ついて詳細に説明する。
第1図は本発明の陰極試験用電子管の一実!血例の構造
を示す断面図である。図にお1ハで、1は陰極、2はビ
ーム形成電極、6は陽極、4は陽極の。
を示す断面図である。図にお1ハで、1は陰極、2はビ
ーム形成電極、6は陽極、4は陽極の。
穴、5は真空外囲器、6はゲッタ、7はヒータで10あ
る。
る。
lS極1をヒータ7により加熱し、陰極1と1湯極゛6
に電圧を印加して陰極から電流を取り出す。こ゛のとき
ビーム形成電極2は陰極の放射電流密度を。
に電圧を印加して陰極から電流を取り出す。こ゛のとき
ビーム形成電極2は陰極の放射電流密度を。
均一にする役割をはたし、通常陰極と同電位に保13た
れている。陽極の穴4は陰極から蒸発したパリ・ラム原
子が陰極の方へはね返されない構造(詳細・は後述する
)になっている。真空外囲器5はセラ・ミンク外囲器を
用いたが、ガラス外囲器を用いて・もよい。なお、真空
を保持するためゲッタ6を付20加している。
れている。陽極の穴4は陰極から蒸発したパリ・ラム原
子が陰極の方へはね返されない構造(詳細・は後述する
)になっている。真空外囲器5はセラ・ミンク外囲器を
用いたが、ガラス外囲器を用いて・もよい。なお、真空
を保持するためゲッタ6を付20加している。
第2図は第1図の要部拡大図であり、軸対称構造なので
断面の半分を示している。8は陽極の穴の陰極側]テー
パ面、9は陽極の穴の陰極とは反対側のテーパ面、10
はigA極の穴の最小径部、11は陰極の電子放出面、
12は陽極の陰極側の;箱である。各部分の具体的構造
2寸法の一例を示すと次の通りである。
断面の半分を示している。8は陽極の穴の陰極側]テー
パ面、9は陽極の穴の陰極とは反対側のテーパ面、10
はigA極の穴の最小径部、11は陰極の電子放出面、
12は陽極の陰極側の;箱である。各部分の具体的構造
2寸法の一例を示すと次の通りである。
陰極1の直径は3mmであり、陽極の穴4の陰。
極側吸大径は同じ< 5 mm とした。この穴4の陰
10極側最大径は陰極1のl径と等しいかもしくはそ。
10極側最大径は陰極1のl径と等しいかもしくはそ。
れより大きくしないとバリウムのはね返りを起こ。
すことになる。陽極の穴の最小径部の直径は2 mm’
、穴の陰極側テーパ面8と陽極の陰極側の面12の。
、穴の陰極側テーパ面8と陽極の陰極側の面12の。
なす角θは約128°である。この角が105°以上1
)になると陰極から蒸発して来たバリウム原子が弾・性
反射して陰極にはね返る可能性が大きくなる。・陰極と
は反対側のテーパ面9は陽極部(穴の近傍)での発熱敏
を減じるため、電子ビームが衝突しな・いように設けた
ものであるが、陽極の消費電力が20・ 3 ・ 少なければ必ずしも必要ではない。陰極の電子放出面1
1と陽極ろの距離toは1.8 mmであり、穴の最小
径部の半径(1mm )の18倍となっている。
)になると陰極から蒸発して来たバリウム原子が弾・性
反射して陰極にはね返る可能性が大きくなる。・陰極と
は反対側のテーパ面9は陽極部(穴の近傍)での発熱敏
を減じるため、電子ビームが衝突しな・いように設けた
ものであるが、陽極の消費電力が20・ 3 ・ 少なければ必ずしも必要ではない。陰極の電子放出面1
1と陽極ろの距離toは1.8 mmであり、穴の最小
径部の半径(1mm )の18倍となっている。
他の部分(図に付した記号の部分)の寸法は11=0.
2mm、A2=0.55mm、A5=0.7mm。
2mm、A2=0.55mm、A5=0.7mm。
Z4=05mm+ 75=0.8mm+ r1=1
.75mm。
.75mm。
r2 = 2.6 mmである。
従来のピアス形の電子銃では陽極穴の半径の6゜倍以上
陰極と陽極を離さなければ、陽極穴による。
陰極と陽極を離さなければ、陽極穴による。
電界の乱れにより均一な電子放射密度分布か得られない
が、本実施例のような陽極穴の横置にする。
が、本実施例のような陽極穴の横置にする。
と、l宸1返と陽極の間隔を陽極の穴の最小半径の6°
倍以内に短縮しても穴の影響な受けにくくなり、゛均一
な陰極電流密度分布が得られる。
倍以内に短縮しても穴の影響な受けにくくなり、゛均一
な陰極電流密度分布が得られる。
第6図は上記構造1寸法を有する電子管の陰極+5電流
密度分布の計算値を示したグラフで、陰極と・ビーム形
成電極を接地し、陽極に470■の電圧・を印加した場
合の例である。設計値0.6 A/cm2に。
密度分布の計算値を示したグラフで、陰極と・ビーム形
成電極を接地し、陽極に470■の電圧・を印加した場
合の例である。設計値0.6 A/cm2に。
対し±3幅以内の均一な陰極電流密度分布が得ら・れて
いる。 20・
4 ・ 第4図は従来の陰極に対向した陽極を有する2極管に含
浸形陰極を組込んで、陰極を1180℃に加熱して経時
特性を測定した結果であり、1 [1000時間経過し
ているにもかかわらず陰極電流はわずかな増加を示して
おり、劣化は全く見られない。
いる。 20・
4 ・ 第4図は従来の陰極に対向した陽極を有する2極管に含
浸形陰極を組込んで、陰極を1180℃に加熱して経時
特性を測定した結果であり、1 [1000時間経過し
ているにもかかわらず陰極電流はわずかな増加を示して
おり、劣化は全く見られない。
実際には1180℃という高温で1oooo時間経過す
れば、含浸形陰極は劣化の傾向が現れるはずであり、バ
リウム原子がはね返って陰極表面でのバリウム存在確率
を増すために、陰極電流が低下し。
れば、含浸形陰極は劣化の傾向が現れるはずであり、バ
リウム原子がはね返って陰極表面でのバリウム存在確率
を増すために、陰極電流が低下し。
ていないものと思われる。 、10
第5図は本発明の実施例の電子管に倉庫形陰極゛を組込
んで、陰極温度を1180℃に加熱して経時゛特性を測
定した結果であり、ll5OOO時間ですでに。
第5図は本発明の実施例の電子管に倉庫形陰極゛を組込
んで、陰極温度を1180℃に加熱して経時゛特性を測
定した結果であり、ll5OOO時間ですでに。
陰極電流の低下傾向がはっきりと出ている。これ・はバ
リウム原子がはね返らない構造になっている1)ため、
進行波管等に組込んだ場合と等しい劣化傾・向を示して
いるものと認められる。
リウム原子がはね返らない構造になっている1)ため、
進行波管等に組込んだ場合と等しい劣化傾・向を示して
いるものと認められる。
以上説明したように、本発明の構造を有する電・子骨を
用いて陰極を試験すれば、試験用電源電圧・を大幅に低
下できるため、電源設備を安価にてき2Iζしかも実用
の電子管に組込んだ場合と等しい陰ホの劣化傾向を把握
することができるという利点がある。
用いて陰極を試験すれば、試験用電源電圧・を大幅に低
下できるため、電源設備を安価にてき2Iζしかも実用
の電子管に組込んだ場合と等しい陰ホの劣化傾向を把握
することができるという利点がある。
第1図は本発明の陰極試験用電子管の一実1准例の構潰
な示す断面図、第2図は第1図の要部拡大図、第6図は
陰極電流密度分布の計算値を示したグラフ、第4図は従
東の2極管に含浸形陰極を甜。 込んだ場合の陰極電流の経時変化を示すグラフ、。 第5図は本発明の実施例の電子管に含浸形陰極を10組
込んだ場合の陰極電流の7経時変化を示すグラフ゛であ
る。 1・・陰極 2・・ビーム形成電極 6
陽極 4・・・陽極の穴5・真空外囲器
6・・ゲッタ 1)7・・・ヒータ 8・穴の陰極側テーパ面 9・・穴の陰極とは反対側のテーパ面 10・穴の最小径部 11・・陰極の電子放出面。 12 ・陽極の陰極側の面 、 7 。
な示す断面図、第2図は第1図の要部拡大図、第6図は
陰極電流密度分布の計算値を示したグラフ、第4図は従
東の2極管に含浸形陰極を甜。 込んだ場合の陰極電流の経時変化を示すグラフ、。 第5図は本発明の実施例の電子管に含浸形陰極を10組
込んだ場合の陰極電流の7経時変化を示すグラフ゛であ
る。 1・・陰極 2・・ビーム形成電極 6
陽極 4・・・陽極の穴5・真空外囲器
6・・ゲッタ 1)7・・・ヒータ 8・穴の陰極側テーパ面 9・・穴の陰極とは反対側のテーパ面 10・穴の最小径部 11・・陰極の電子放出面。 12 ・陽極の陰極側の面 、 7 。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 陰極と陽極とビーム形成電極を有する電子管において、
陽極の中心に穴を開け、その穴を陰極に面した側から徐
々に直径を減するようなテーパ状とし、陰画に面した側
tはその穴の直径を陰極の。 直径と等しいかもしくは陰極の直径よりも大きく゛し、
その穴の最小の直径は陰極の直径よりも小さIoくし、
この陽極の断面を見たときにテーバ而と陽。 極の陰極側の面のなす角が90°より大きく135°。 以下の範囲にあるようにしたことを特徴とする陰極試験
用電子管。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP279982A JPS58121531A (ja) | 1982-01-13 | 1982-01-13 | 陰極試験用電子管 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP279982A JPS58121531A (ja) | 1982-01-13 | 1982-01-13 | 陰極試験用電子管 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58121531A true JPS58121531A (ja) | 1983-07-19 |
JPS6312346B2 JPS6312346B2 (ja) | 1988-03-18 |
Family
ID=11539415
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP279982A Granted JPS58121531A (ja) | 1982-01-13 | 1982-01-13 | 陰極試験用電子管 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58121531A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102967812A (zh) * | 2011-09-01 | 2013-03-13 | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 | 评估行波管寿命的方法及其装置 |
-
1982
- 1982-01-13 JP JP279982A patent/JPS58121531A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102967812A (zh) * | 2011-09-01 | 2013-03-13 | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 | 评估行波管寿命的方法及其装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6312346B2 (ja) | 1988-03-18 |
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