JPS58116745A - フエ−スダウンボンデイングの位置合わせ方法 - Google Patents

フエ−スダウンボンデイングの位置合わせ方法

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JPS58116745A
JPS58116745A JP21296681A JP21296681A JPS58116745A JP S58116745 A JPS58116745 A JP S58116745A JP 21296681 A JP21296681 A JP 21296681A JP 21296681 A JP21296681 A JP 21296681A JP S58116745 A JPS58116745 A JP S58116745A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
integrated circuit
circuit element
conductor pattern
face
protrusion
Prior art date
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Pending
Application number
JP21296681A
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English (en)
Inventor
Kunio Sakuma
佐久間 国雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Suwa Seikosha KK
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Suwa Seikosha KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp, Suwa Seikosha KK filed Critical Seiko Epson Corp
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Publication of JPS58116745A publication Critical patent/JPS58116745A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
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    • H01L2224/818Bonding techniques
    • H01L2224/81801Soldering or alloying
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    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はフェースダウンボンディング時の位置合わせの
微調整法に関する。
一般に集積回路素子(以下工0チップと呼ぶ)のフェー
スダウンボンディング方式は、マル;カチップの高密度
実輌に適していることや、信頼性が高いことなどその他
機々表長所を有している反面、その他のワイヤーボンデ
ィング方式やテープキャリア方式などの実装方式に比較
して、ボンディング時のICチップと回路基板導体パタ
ーンとの位置合わせの微調整がむずかしいという点に難
がある。
従来の位置合わせ方式は、たとえば第1図に示すように
、トランボート1によシ支持した工0チップ2と回路基
板4上の導体パターン3の間にミラー6とハーフミラ−
5を組合わせた可動式の光学系を入れ、ICチップのバ
ンプ像と導体パターン像を顕微鏡7の同−視野内に合成
することによシ、それらの位置関係を検出して位置調整
を行なっている。また、テレビカメラを2台利用するこ
とによ)、同一テレビ画面内にICチップのバンプと回
路基板導体パターンを合成する方式もある。
装置が比較的複雑となシ、調整にもやや時間を必要とす
るという欠点を有している。
本発明はかかる欠点を除去したもので、その目的は簡易
な方法によシ、工Cテップと回路基板の位置合わせの微
調整を行なうことである。
以下実施例に基づいて本発明の詳細な説明する。
第2図は、本発明による位置合わせの微調整法を示した
ものである。ここで回路基板4′の導体パターン5′上
にはプラスチック製突起8が設けられておシ、この突起
は基板例の直線部とチップ側のテーパ一部とからなpl
 工Cチップ2の輪郭形状に合わせて最低2個配置され
ている。そしてトランスポート1によp支持されたIC
チップ2が導体パターン3′に重ね合わされる時に、こ
の突起8のテーパ一部によシエCチップ側面が案内され
、微小な導体パターンとの位置ずれが自動補正され、最
終的にはこの突起8の直線部により位置決めを行なうと
いうものである。なおこの突起のテーパ一部はICテッ
プ2のダイシングによるパリを逃げる働きもしている。
特に具体例をあげると、回路基板4′及び突起8はエボ
シキ、ポリカーボネイト、ポリアセタール等のプラスチ
ックをインジエクシ画ン成形あるいはトランスファー成
形によシ一体成形を行なったものである。そして導体パ
ターン3′は4270イ、コバール、洋白等の金属によ
るリードフレームである。tたこの位置決め用突起8は
φ500μ程度で直線部100μ程度、テーパ一部30
0μ程度のものである。
本発明は、位置決め用突起を基板と一体で同時に成形で
きるため、低コストにて位置微調整が可能となシ、また
位置微調整にiとんど時間を要しないなどすぐれた効果
を有するものである。
【図面の簡単な説明】
wJ1図は従来のフェースダウンボンディング時の位置
決め法を示したものであシ、第2図は本発明によるフェ
ースダウンボンディング時の位置決め法を示したもので
ある。 1 ・・・・・・トランスポート 2 ・・・・・・ICチップ 3.3′・・・導体パターン 4.4′・・・回路基板 5 ・・・・・・ハーフミラ− 6・・・・・・ミラー 7 ・・・・・・顕微鏡 8 ・・・・・・位置決め用突起 以上

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. フェースダウンボンディング時において、回路基板の片
    面に、集積回路素子の輪郭形状に沿って集積回路素子の
    側面に接するようなプラスチック製の突起を配置し、そ
    の突起の集積回路素子側に設は九テーパ一部によ〕、集
    積回路素子を案内することでその回路基板導体パターン
    との位置関係の微調整を行なうことを特徴としたフェー
    スダ、ランボンディングの位置合わせ方法。
JP21296681A 1981-12-29 1981-12-29 フエ−スダウンボンデイングの位置合わせ方法 Pending JPS58116745A (ja)

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JPS58116745A true JPS58116745A (ja) 1983-07-12

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ID=16631236

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JP21296681A Pending JPS58116745A (ja) 1981-12-29 1981-12-29 フエ−スダウンボンデイングの位置合わせ方法

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7553134B2 (en) 2004-03-31 2009-06-30 Denso Corporation Switch valve structure of fluid machine

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7553134B2 (en) 2004-03-31 2009-06-30 Denso Corporation Switch valve structure of fluid machine

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