JPS5810847A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPS5810847A JPS5810847A JP56109723A JP10972381A JPS5810847A JP S5810847 A JPS5810847 A JP S5810847A JP 56109723 A JP56109723 A JP 56109723A JP 10972381 A JP10972381 A JP 10972381A JP S5810847 A JPS5810847 A JP S5810847A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor element
- heat sink
- epoxy resin
- support plate
- concave section
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
このii@は樹脂封止層の牛導体装置C:関する・m1
ll及び第12図は従来の樹脂封止型1例えばトッyス
ファモールド鳳の牛導体装置である。
ll及び第12図は従来の樹脂封止型1例えばトッyス
ファモールド鳳の牛導体装置である。
同111:おいて、1はm伝導の良好なCu(鋼)で形
成され麩−ヒートシンクであり、このヒートνyり1は
半導体素子Iを支持すると共c:、このkP4体嵩子2
に斃生する熱の放熱体を兼れてぃYloこのヒートシン
ク1は上下面が112WAに示すようt:xFIfとな
っており、半導体素子1は上面C:早EBJ付けされて
いるII4は半導体素子lを橿うよう舊ニモールド成形
されたエボキV1M脂、6.5・・・は一端がポンディ
ングワイヤ6を介して半導体素子2の電極部1暑に接続
され、他端がエポキシ樹脂4を貫通して外部に導出され
た複数の外部リードである・ ところで、王妃牛導体装置にあっては、モールド成形さ
れたエポキシ樹脂4で覆われているため、エポキシ樹脂
4の収sC:より半導体素子2に応力(%4=横方向か
らの応力)が生じる。
成され麩−ヒートシンクであり、このヒートνyり1は
半導体素子Iを支持すると共c:、このkP4体嵩子2
に斃生する熱の放熱体を兼れてぃYloこのヒートシン
ク1は上下面が112WAに示すようt:xFIfとな
っており、半導体素子1は上面C:早EBJ付けされて
いるII4は半導体素子lを橿うよう舊ニモールド成形
されたエボキV1M脂、6.5・・・は一端がポンディ
ングワイヤ6を介して半導体素子2の電極部1暑に接続
され、他端がエポキシ樹脂4を貫通して外部に導出され
た複数の外部リードである・ ところで、王妃牛導体装置にあっては、モールド成形さ
れたエポキシ樹脂4で覆われているため、エポキシ樹脂
4の収sC:より半導体素子2に応力(%4=横方向か
らの応力)が生じる。
このため、従来、半導体素子2(=クラ・ツタが生じ、
破壊C=至ることがあった・また、ヒートシンク1の全
体がC−で形成されているため、l1品が高価格となる
欠点があった。
破壊C=至ることがあった・また、ヒートシンク1の全
体がC−で形成されているため、l1品が高価格となる
欠点があった。
この発明は上記夾情(:―みてなされたもので。
その目的は、モールド樹脂の収41(二よる破壊を防止
できる安価な牛導体装置を提供することζ二ある。
できる安価な牛導体装置を提供することζ二ある。
以下1図面を参照してこの発明の一実施例をm明する。
第3図においC%11は放熱体を兼ね、半導体素子12
を支持するヒートシンクである。このヒー)1/ンク1
1の中央部−二は第4図(=示すよう(二平面形状が矩
形で半導体素子1zを収納できる大きさの凹部IIが形
成されている・この凹部11の深さは半導体素子12全
体が沈み込む程度が最も良好である。このビー1’ンク
11は凸部11を含む中央の素子取付@l1mと、その
両端部の外部固定部11b。
を支持するヒートシンクである。このヒー)1/ンク1
1の中央部−二は第4図(=示すよう(二平面形状が矩
形で半導体素子1zを収納できる大きさの凹部IIが形
成されている・この凹部11の深さは半導体素子12全
体が沈み込む程度が最も良好である。このビー1’ンク
11は凸部11を含む中央の素子取付@l1mと、その
両端部の外部固定部11b。
11Cとではその形成材料が異なっている。すなわち、
素子取付部11mは熱伝導の良好な倒木、ば Cuで形
成されており、その大きさは半導体素子120発熱I:
耐え得る大きさとなっている。一方、外部固定部11b
、llcはそれぞれ安価な金属、例えばAI (アルミ
二りム)、Fs(鉄)等で形成され、素子取付部11暑
の両II(二接着固定されている。
素子取付部11mは熱伝導の良好な倒木、ば Cuで形
成されており、その大きさは半導体素子120発熱I:
耐え得る大きさとなっている。一方、外部固定部11b
、llcはそれぞれ安価な金属、例えばAI (アルミ
二りム)、Fs(鉄)等で形成され、素子取付部11暑
の両II(二接着固定されている。
また、半導体素子12は凹部ISの底面に半田14付け
されるeJjは半導体素子12を囲むようにモールド成
形された樹脂例えはエポキシ樹脂、16は一燗がボンデ
ィングワイヤ11を介して半導体素子12の電極部J
J ! (:、接続され、他晦がエポキシ樹脂15を貫
通して外部し導出された複数(ここでは、一部のみ図示
)の外部リードである・ この半導体装[1mおい工は、半導体素子12がシート
シンク11の凹部IS内に収納されているため、エポキ
シ樹脂15の収縮による半導体素子12への応力が従来
Cニルべて大幅(=減少する。従って、半導体素子12
のククツクの発生を防止し破壊を防止できる。また、ヒ
ートシック11の素子取付部JJaを熱伝導の良好な金
属、例えばCuで形成し、外部固定部11b。
されるeJjは半導体素子12を囲むようにモールド成
形された樹脂例えはエポキシ樹脂、16は一燗がボンデ
ィングワイヤ11を介して半導体素子12の電極部J
J ! (:、接続され、他晦がエポキシ樹脂15を貫
通して外部し導出された複数(ここでは、一部のみ図示
)の外部リードである・ この半導体装[1mおい工は、半導体素子12がシート
シンク11の凹部IS内に収納されているため、エポキ
シ樹脂15の収縮による半導体素子12への応力が従来
Cニルべて大幅(=減少する。従って、半導体素子12
のククツクの発生を防止し破壊を防止できる。また、ヒ
ートシック11の素子取付部JJaを熱伝導の良好な金
属、例えばCuで形成し、外部固定部11b。
11Gを安価な金属、例えばAj、Fe 等で形成す
るよう(ニジたので、全体として安価(:なる・尚、ヒ
ートシンク11の凹部1sの形状は。
るよう(ニジたので、全体として安価(:なる・尚、ヒ
ートシンク11の凹部1sの形状は。
矩形C=限定するものではなく、丸形でも良く、特に方
向性を持たせる必要はない、また、凹部13の大きさは
、半導体素子12の大きさく二応15’(変えることが
でき、このため早出14を一定の厚さく=保持できる・ 以上のよ引:この発明によれば、放熱を兼ねる支持板(
ヒートシック)に凹部を設6す、この凹部に半導体素子
を接続載置させるよう6二したので、モールド樹脂の収
縮砿:よる破壊を防止できる・また、支持板の半導体素
子取付部周辺以外の部分を安価な金属材料で形成するよ
う(=すれは製品価格を低減できる・
向性を持たせる必要はない、また、凹部13の大きさは
、半導体素子12の大きさく二応15’(変えることが
でき、このため早出14を一定の厚さく=保持できる・ 以上のよ引:この発明によれば、放熱を兼ねる支持板(
ヒートシック)に凹部を設6す、この凹部に半導体素子
を接続載置させるよう6二したので、モールド樹脂の収
縮砿:よる破壊を防止できる・また、支持板の半導体素
子取付部周辺以外の部分を安価な金属材料で形成するよ
う(=すれは製品価格を低減できる・
第1図は従来の半導体装置の横断面図、第2図は同じく
縦断面図、第3図はこの発明の一実施例1:係る半導体
装置の縦断面図、第4図会よ上記装置のヒートシンクを
示す斜視図である。 11・・・ヒー)Mンク、12・・・半導体素子、13
・・・凹部、15・・エポキシ樹脂、16・・・外部リ
− ド。 串願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図
縦断面図、第3図はこの発明の一実施例1:係る半導体
装置の縦断面図、第4図会よ上記装置のヒートシンクを
示す斜視図である。 11・・・ヒー)Mンク、12・・・半導体素子、13
・・・凹部、15・・エポキシ樹脂、16・・・外部リ
− ド。 串願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 放熱を兼ねる支持板と、この支持板の一方主面に形成さ
れた凹部と、この凹部−二おいて前記支持板に電気的C
:接続載置された半導体素子と。 この半導体素子を覆うよう域=前記支持板上ζ:設けら
れた樹脂成形部材と、一端が前記苧導体素子七電気的ζ
二俵絖され、他端が前記樹脂成形部材を貫通して外部C
二導出されたリードとを真値したことを脣徴とする苧導
体装置・
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56109723A JPS5810847A (ja) | 1981-07-14 | 1981-07-14 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56109723A JPS5810847A (ja) | 1981-07-14 | 1981-07-14 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5810847A true JPS5810847A (ja) | 1983-01-21 |
Family
ID=14517586
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56109723A Pending JPS5810847A (ja) | 1981-07-14 | 1981-07-14 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5810847A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01164643A (ja) * | 1987-11-13 | 1989-06-28 | Dr Alois Stankiewicz Gmbh | 隔壁用吸音性防音材 |
-
1981
- 1981-07-14 JP JP56109723A patent/JPS5810847A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01164643A (ja) * | 1987-11-13 | 1989-06-28 | Dr Alois Stankiewicz Gmbh | 隔壁用吸音性防音材 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6229702B1 (en) | Ball grid array semiconductor package having improved heat dissipation efficiency, overall electrical performance and enhanced bonding capability | |
US6093960A (en) | Semiconductor package having a heat spreader capable of preventing being soldered and enhancing adhesion and electrical performance | |
KR950009624B1 (ko) | 방열부를 갖는 반도체장치 및 그 제조방법 | |
KR20090056594A (ko) | 온도 감지소자가 장착된 반도체 파워 모듈 패키지 및 그제조방법 | |
JPH0621276A (ja) | 熱強化型半導体素子およびその製造方法 | |
US3469017A (en) | Encapsulated semiconductor device having internal shielding | |
JP4904104B2 (ja) | 半導体装置 | |
US20030089976A1 (en) | Heat sink with collapse structure and semiconductor package with heat sink | |
KR19980032479A (ko) | 표면 설치 to-220 패키지 및 그의 제조 공정 | |
JP6580015B2 (ja) | モールド樹脂封止型パワー半導体装置 | |
KR980006174A (ko) | 버틈 리드 패키지 | |
US20080116590A1 (en) | Semiconductor device | |
JPS5810847A (ja) | 半導体装置 | |
JP2905609B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
US20050285249A1 (en) | Multi-chip semiconductor connector assemblies | |
JP3124381B2 (ja) | 半導体装置及び実装構造体 | |
JP6907670B2 (ja) | 半導体装置および半導体装置の製造方法 | |
JPH07176664A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
US20050062149A1 (en) | Integral heatsink ball grid array | |
JPH0514519Y2 (ja) | ||
JPS6223097Y2 (ja) | ||
US20040000703A1 (en) | Semiconductor package body having a lead frame with enhanced heat dissipation | |
JPS62229961A (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
JPH0118584B2 (ja) | ||
KR970053677A (ko) | 히트싱크가 부착된 컬럼형 패키지 |