JPS58106968A - 撮像装置 - Google Patents
撮像装置Info
- Publication number
- JPS58106968A JPS58106968A JP56205782A JP20578281A JPS58106968A JP S58106968 A JPS58106968 A JP S58106968A JP 56205782 A JP56205782 A JP 56205782A JP 20578281 A JP20578281 A JP 20578281A JP S58106968 A JPS58106968 A JP S58106968A
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- Japan
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Links
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- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims abstract description 4
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 5
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/70—Circuitry for compensating brightness variation in the scene
- H04N23/72—Combination of two or more compensation controls
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明社CCD等の撮像素子を用いた撮像装置の改良に
関する。
関する。
特に最適な蓄積時間が得られると共に、振れの少ない#
i像の得られる撮像装置に関するものである。
i像の得られる撮像装置に関するものである。
一般にCODなどの固体撮像素子においては長藷柚時の
信号電荷に対゛するノイズ成分は暗電流ムシか支配的で
ある。上記暗′#iL流ムラFiS積時間に比Nuして
増加するため、実質的なセンサー感ik′i着棟時間と
ともに低下してしまうという欠点かある。
信号電荷に対゛するノイズ成分は暗電流ムシか支配的で
ある。上記暗′#iL流ムラFiS積時間に比Nuして
増加するため、実質的なセンサー感ik′i着棟時間と
ともに低下してしまうという欠点かある。
従って従来の撮9I素子技術においては予め最反薯槓時
間を少し短か目に固定する事によってこυ;・間組を逃
れようとしている為、撮影隣界が必要以上に低く抑えら
れてしまっていた。
間を少し短か目に固定する事によってこυ;・間組を逃
れようとしている為、撮影隣界が必要以上に低く抑えら
れてしまっていた。
而も比較的高い温度条件下で使用される場合にはやはり
暗電流ムラが無視し得ないノイズ成分として入り込んで
来る欠点があった。
暗電流ムラが無視し得ないノイズ成分として入り込んで
来る欠点があった。
本発明社、上述従来技術の欠点を除去すると同時に1蓄
積時間(撮像スピード)の限界を巌過に決定し得る様に
することにより、手振れ等の少ない撮像装置を提供する
事を目的としたものである。
積時間(撮像スピード)の限界を巌過に決定し得る様に
することにより、手振れ等の少ない撮像装置を提供する
事を目的としたものである。
その為に本発明で祉温度検出手段を設けると共に、撮像
素子における蓄積時間を制御する為の刺御手段に対し、
前記温度検出手段の出力情報を導入し1温度パラメータ
により撮像素子の蓄積時間を制御する様構成している。
素子における蓄積時間を制御する為の刺御手段に対し、
前記温度検出手段の出力情報を導入し1温度パラメータ
により撮像素子の蓄積時間を制御する様構成している。
これにより、環境温度や扱与体#嵐の変動に対しても冨
に適切な信号レベルが得られる様になるものである。
に適切な信号レベルが得られる様になるものである。
以下本発明を実施例に基づき詐細に欧明する。
第1図は一般的固体撮像素子のSハの温度依存性を示す
特性−であり、図中1は暗’amムラによる8/N分、
2ハアンフノイスニヨルS/rIJ分、3#−i両者の
合成による8/N 特性を示している。
特性−であり、図中1は暗’amムラによる8/N分、
2ハアンフノイスニヨルS/rIJ分、3#−i両者の
合成による8/N 特性を示している。
図の如く、暗電流ムラによるノイズ成分は蓄積時間TI
NTOあたりよりアンプノイズに比べて大きな影響を与
える様になり、蓄積時間が長(なる程8/Nを決定する
主な要因となっている。
NTOあたりよりアンプノイズに比べて大きな影響を与
える様になり、蓄積時間が長(なる程8/Nを決定する
主な要因となっている。
一般に感度はSハに比例するからこの様な長い蓄積時間
においては感&はかなり低下する。従ってこの様な領域
で所定レベル以上の信号電荷を得る為に蓄積時間を長く
する事社むしろ好ましくない。
においては感&はかなり低下する。従ってこの様な領域
で所定レベル以上の信号電荷を得る為に蓄積時間を長く
する事社むしろ好ましくない。
本発明では上述の点に鑑みこの様な長蓄積時間領域のあ
る時点からは蓄積時間を延ばさず直接アンプのゲインを
増大させてやる様に構成しているので低輝度被写体に対
しても光分な感度を得るJ↓ができると共に手振れ等に
よる画II!]振れの少ない良質な画壇を得る事ができ
る。
る時点からは蓄積時間を延ばさず直接アンプのゲインを
増大させてやる様に構成しているので低輝度被写体に対
しても光分な感度を得るJ↓ができると共に手振れ等に
よる画II!]振れの少ない良質な画壇を得る事ができ
る。
第2瞼は本発明の実施例を示すブロック凶である。
図中4はサーミスタ等の温度センサー、5は該扁肱セン
サー情報に基づき第6図示の如き特性のTINTO出力
信号を出力する変換器、6#18PC%の光電変換手段
であって該手段は撮像素子10に入射すべき光量を検出
する。
サー情報に基づき第6図示の如き特性のTINTO出力
信号を出力する変換器、6#18PC%の光電変換手段
であって該手段は撮像素子10に入射すべき光量を検出
する。
尚、該SPCを用いる代わりに後述の撮&素子10の出
力を利用しても良い。7Fi該8PCの出力等に基づき
適正な露出レベルEνを出力する#1元回路、8#i該
測光回路出力に基づき撮像素子10における蓄積時間丁
lNTh及び撮像素子10の出力を増巾するアンプ11
の増巾率(ゲイン)を後述する様なプログラムに基づき
制御し得る様構成された制御回路である。
力を利用しても良い。7Fi該8PCの出力等に基づき
適正な露出レベルEνを出力する#1元回路、8#i該
測光回路出力に基づき撮像素子10における蓄積時間丁
lNTh及び撮像素子10の出力を増巾するアンプ11
の増巾率(ゲイン)を後述する様なプログラムに基づき
制御し得る様構成された制御回路である。
10ti皺制御回路によりWi像蓄積開始スイッチ9、
をONしてからの1儂の蓄積時間TINTが制御される
撮像素子、11はその出力アンプ、12は出力端である
。
をONしてからの1儂の蓄積時間TINTが制御される
撮像素子、11はその出力アンプ、12は出力端である
。
第4図は制御回路8におけるTolJ御プログラムの一
セリを示すプログラム図で横@はTi−積時間の対数、
縦軸はアンプ11のゲインであり、gνは測光回路出力
、13Fi第6図の温度TlにおけるToI制御プログ
ラム曲軸、14は第3ら示温屓Tsにおける湘」御プロ
グラム曲線を示す。
セリを示すプログラム図で横@はTi−積時間の対数、
縦軸はアンプ11のゲインであり、gνは測光回路出力
、13Fi第6図の温度TlにおけるToI制御プログ
ラム曲軸、14は第3ら示温屓Tsにおける湘」御プロ
グラム曲線を示す。
本発明では第4図示の如<、FJyの増大に伴って単に
蓄積時間TINTを増大する制御を行なうのではなく、
アンプゲインをも変化させる事により常に良好な8/V
特性を得る事ができる。
蓄積時間TINTを増大する制御を行なうのではなく、
アンプゲインをも変化させる事により常に良好な8/V
特性を得る事ができる。
更に又、本発明で社所足の蓄積時間TINTO迄は蓄積
時間を制御し、これを越えると蓄積時間を−1にしアン
プゲインのみを制御する様構成して−・るのでプログラ
ムか非常に単純化され制御回路の構成が容易となる利点
もある。又、本発明では前記蓄積時間TINT(1を温
度センサー4の出力により変化させているので常に最適
の画像形成が為されノイズ成分が一定比率以下に抑制さ
れるといつ宜れた効果が得られるものである。
時間を制御し、これを越えると蓄積時間を−1にしアン
プゲインのみを制御する様構成して−・るのでプログラ
ムか非常に単純化され制御回路の構成が容易となる利点
もある。又、本発明では前記蓄積時間TINT(1を温
度センサー4の出力により変化させているので常に最適
の画像形成が為されノイズ成分が一定比率以下に抑制さ
れるといつ宜れた効果が得られるものである。
尚、変換回路出力としてのTINTO慣釦は例えば電圧
レベルとして勧」御回路8に入力しても良いし鳳コード
パターンとして入力しても団い。又、制御回路8におけ
る第4図示の如きプログラムノくターンは従来公知の適
宜の方法で形成すれば艮い。ν・」えはパターンジェネ
レータ、ROM、PLA(フログラマプル・ロジック−
アレイ)等を用いる本により形成し得る。又、プログラ
ムll1mとしては第4図示の如きパターンに限るもの
ではない。
レベルとして勧」御回路8に入力しても良いし鳳コード
パターンとして入力しても団い。又、制御回路8におけ
る第4図示の如きプログラムノくターンは従来公知の適
宜の方法で形成すれば艮い。ν・」えはパターンジェネ
レータ、ROM、PLA(フログラマプル・ロジック−
アレイ)等を用いる本により形成し得る。又、プログラ
ムll1mとしては第4図示の如きパターンに限るもの
ではない。
又、撮像素子としてはCODだけでな(BBL)ヤM
08であっても良いのは当然である。
08であっても良いのは当然である。
又、本発明の撮影装置性イメージセンサだけでなく、測
距用の2インセンサ等にも充分適用可b′#:。
距用の2インセンサ等にも充分適用可b′#:。
であり、低温から高温に到る迄あらゆる温度条件におい
て優れた8/N特性を得る事ができる。
て優れた8/N特性を得る事ができる。
又、低輝度の被写体に対して必要以上に蓄積時間を延ば
さな(て良いから撮像装置の振動等による−面振れが生
じ難い。
さな(て良いから撮像装置の振動等による−面振れが生
じ難い。
従って本発明の撮像装置をカメラとして利用した場合に
特にその効果は大きい。
特にその効果は大きい。
MI図は一般的撮像水子のル今の蓄積時間依存性を示す
模式1、第21社本発明の構成の一例を示すブロック内
、第3図Fi第2図示変換回路5の変換特性図、第4図
は被写体輝度と蓄積時間及び出力ゲイン空間におけるプ
ログラム繕出曲籾の一例を示す図、 4・・・・の温屓検出手段、5・拳・・・変換回路、6
・・・・・被写体輝屓検出手段、7・・・・・#1元回
路、8・00駆動制御回路、9・・・・・撮像スタート
スイッチ、10・・・拳・撮gI!素子、11・・・・
・出力アンプ。 酔出麩 キャノン株式会社 、i92丁INTOJ4丁INr
模式1、第21社本発明の構成の一例を示すブロック内
、第3図Fi第2図示変換回路5の変換特性図、第4図
は被写体輝度と蓄積時間及び出力ゲイン空間におけるプ
ログラム繕出曲籾の一例を示す図、 4・・・・の温屓検出手段、5・拳・・・変換回路、6
・・・・・被写体輝屓検出手段、7・・・・・#1元回
路、8・00駆動制御回路、9・・・・・撮像スタート
スイッチ、10・・・拳・撮gI!素子、11・・・・
・出力アンプ。 酔出麩 キャノン株式会社 、i92丁INTOJ4丁INr
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1) k度検出手段と、該温度検出手段により得られ
た温度情報に基づき撮i&素子における画像蓄積時間を
制御する蓄積時間制御手段とを有する撮像装置。 Q)前記蓄積時間制御手段は創1温に検出手段の出力に
より撮像素子における画像蓄積時間の上限を制御される
ものである事を特徴とする特許紬求の範囲第(1)項記
載の撮像装置。 (3) m像素子における画像蓄積時間と該撮像素子出
力の増巾率との間に所定の相関々係を設疋し、被写体輝
屓及び前記相関々係に基づき該撮1#!素子を制御する
様為した撮像装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56205782A JPS58106968A (ja) | 1981-12-18 | 1981-12-18 | 撮像装置 |
US06/815,793 US4635126A (en) | 1981-12-18 | 1986-01-03 | Image pick-up system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56205782A JPS58106968A (ja) | 1981-12-18 | 1981-12-18 | 撮像装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58106968A true JPS58106968A (ja) | 1983-06-25 |
Family
ID=16512577
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56205782A Pending JPS58106968A (ja) | 1981-12-18 | 1981-12-18 | 撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58106968A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6035883A (ja) * | 1983-08-05 | 1985-02-23 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 電子スチルカメラ |
FR2552289A1 (fr) * | 1983-09-16 | 1985-03-22 | Rca Corp | Camera de television avec imageur a semi-conducteurs |
JPS6062784A (ja) * | 1983-09-16 | 1985-04-10 | Toshiba Corp | 電子カメラにおける撮像方式 |
FR2571197A1 (fr) * | 1984-09-28 | 1986-04-04 | Rca Corp | Camera a imageur a semi-conducteurs avec controle de refroidissement |
US6181219B1 (en) | 1998-12-02 | 2001-01-30 | Teradyne, Inc. | Printed circuit board and method for fabricating such board |
US7999192B2 (en) | 2007-03-14 | 2011-08-16 | Amphenol Corporation | Adjacent plated through holes with staggered couplings for crosstalk reduction in high speed printed circuit boards |
-
1981
- 1981-12-18 JP JP56205782A patent/JPS58106968A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6035883A (ja) * | 1983-08-05 | 1985-02-23 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 電子スチルカメラ |
FR2552289A1 (fr) * | 1983-09-16 | 1985-03-22 | Rca Corp | Camera de television avec imageur a semi-conducteurs |
JPS6062784A (ja) * | 1983-09-16 | 1985-04-10 | Toshiba Corp | 電子カメラにおける撮像方式 |
FR2571197A1 (fr) * | 1984-09-28 | 1986-04-04 | Rca Corp | Camera a imageur a semi-conducteurs avec controle de refroidissement |
US6181219B1 (en) | 1998-12-02 | 2001-01-30 | Teradyne, Inc. | Printed circuit board and method for fabricating such board |
US7999192B2 (en) | 2007-03-14 | 2011-08-16 | Amphenol Corporation | Adjacent plated through holes with staggered couplings for crosstalk reduction in high speed printed circuit boards |
US8481866B2 (en) | 2007-03-14 | 2013-07-09 | Amphenol Corporation | Adjacent plated through holes with staggered couplings for crosstalk reduction in high speed printed circuit boards |
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