JPS5810638A - 鋼管内面検査装置 - Google Patents
鋼管内面検査装置Info
- Publication number
- JPS5810638A JPS5810638A JP10973381A JP10973381A JPS5810638A JP S5810638 A JPS5810638 A JP S5810638A JP 10973381 A JP10973381 A JP 10973381A JP 10973381 A JP10973381 A JP 10973381A JP S5810638 A JPS5810638 A JP S5810638A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ultraviolet
- image
- steel pipe
- upset
- guide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/954—Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は鋼管内面の磁粉探傷用の検査装置に関するも
のである。
のである。
従来、鋼管内面の検査は、深い欠陥であれば鋼管外面か
らの渦流探傷や漏洩磁束探傷でも検出可能であるが、通
常渦流探傷や漏洩磁束探傷のセンサーを鋼管内部に挿入
して行っていた。
らの渦流探傷や漏洩磁束探傷でも検出可能であるが、通
常渦流探傷や漏洩磁束探傷のセンサーを鋼管内部に挿入
して行っていた。
ところが第１図に示すような断面形状を有する内面アプ
セット管に於ては、アプセット部１１が障害となるため
センサーを挿入する方式の内面検査は困難であった。そ
して、外面からの検査を行うとしても、直管部１２とア
プセット部１１との境界のテーパ一部１８が疑似信号を
生じさせるのでテーパ一部１８付近は検査不能領域とな
っていた。
セット管に於ては、アプセット部１１が障害となるため
センサーを挿入する方式の内面検査は困難であった。そ
して、外面からの検査を行うとしても、直管部１２とア
プセット部１１との境界のテーパ一部１８が疑似信号を
生じさせるのでテーパ一部１８付近は検査不能領域とな
っていた。
そこで、通常はアプセット加工前の状態で鋼管の内面検
査を行い、アプセット加工後に、アプセット部付近の内
面だけを磁粉探傷検査している。
査を行い、アプセット加工後に、アプセット部付近の内
面だけを磁粉探傷検査している。
渦流探傷や漏洩磁束探傷は自動化された装置があるが、
磁粉探傷は検査員が目視判定を行わねばならないため個
人差や見のがしがさけられず、特に内面アプセット管の
テーパ一部は、第２図に示すようにブラックライト（紫
外線ランプ）２１を照射して管端から観察することにな
るため、観察しづらく、高精度の検査は困難であった。
磁粉探傷は検査員が目視判定を行わねばならないため個
人差や見のがしがさけられず、特に内面アプセット管の
テーパ一部は、第２図に示すようにブラックライト（紫
外線ランプ）２１を照射して管端から観察することにな
るため、観察しづらく、高精度の検査は困難であった。
従って、本発明の目的は、内面アプセット管のアプセッ
ト部、特にそのテーパ一部の観察を容易にし、この部分
の磁粉探傷の検査精度を高めることを可能にする検査装
置を提供することである。
ト部、特にそのテーパ一部の観察を容易にし、この部分
の磁粉探傷の検査精度を高めることを可能にする検査装
置を提供することである。
この目的を達成するため、本発明による検査装置は、細
長いケース内に、鋼管内に紫外線を照射するための紫外
線源及び紫外線ガイドと、鋼管内の螢光磁粉模様の像を
観察者側へ導（ためのイメージガイドと、角度調整自在
な対物反射ミラーとを備え、前記ケースを鋼管内面に回
転可能に保持する機構を備えている。
長いケース内に、鋼管内に紫外線を照射するための紫外
線源及び紫外線ガイドと、鋼管内の螢光磁粉模様の像を
観察者側へ導（ためのイメージガイドと、角度調整自在
な対物反射ミラーとを備え、前記ケースを鋼管内面に回
転可能に保持する機構を備えている。
以下図面をｉ照して本発明による検査装置の実施例につ
いて説明する。
いて説明する。
第８図は、本発明による検査装置の第１の実施例の断面
を示した図であり、装置は内面アプセット管８１内に保
持リング３２で取り付けられた状態を示している。保持
リング８２は外径を鋼管内径に合わせてお（か、円筒状
スペーサやねじ機構によって外径を鋼管内径に合わせて
調整可能としである。
を示した図であり、装置は内面アプセット管８１内に保
持リング３２で取り付けられた状態を示している。保持
リング８２は外径を鋼管内径に合わせてお（か、円筒状
スペーサやねじ機構によって外径を鋼管内径に合わせて
調整可能としである。
保持リング８２と検査装置本体８８との間には回転機構
８４があって、本体３８はリング８２の内部で回転自在
になっており、これによって鋼管３１の内面の全周にわ
たって観察可能になっている。この回転機構８４は、ロ
ーラーベアリング等で良いが、簡単には本体８８とリン
グ８２とをすり合わせ構造にしても良い。
８４があって、本体３８はリング８２の内部で回転自在
になっており、これによって鋼管３１の内面の全周にわ
たって観察可能になっている。この回転機構８４は、ロ
ーラーベアリング等で良いが、簡単には本体８８とリン
グ８２とをすり合わせ構造にしても良い。
紫外線光源８５は螢光磁粉な励起発光させる波長成分を
含む紫外線を発生するもので電源（図示せず）と接続さ
れている。この様な光源は一般に可視光成分をも含むこ
とが多（、可視光成分は螢光磁粉模様観察に際して鮮明
さを低下させる原因となるので、螢光磁粉励起発光に有
効な紫外成分のみを通す紫外線透過フィルター８６を通
して紫外成分のみを紫外線ガイド８７へ導き、開口部８
８かも鋼管内面へ照射する。このガイド３７の材質は紫
外線の吸収の少い石英等による光フアイバー束が望まし
い。
含む紫外線を発生するもので電源（図示せず）と接続さ
れている。この様な光源は一般に可視光成分をも含むこ
とが多（、可視光成分は螢光磁粉模様観察に際して鮮明
さを低下させる原因となるので、螢光磁粉励起発光に有
効な紫外成分のみを通す紫外線透過フィルター８６を通
して紫外成分のみを紫外線ガイド８７へ導き、開口部８
８かも鋼管内面へ照射する。このガイド３７の材質は紫
外線の吸収の少い石英等による光フアイバー束が望まし
い。
この紫外線ガイドは、第４図（Ｃ）の断面図に８７で示
すように円筒形でも良いが、これを第５図（Ｃ）に８７
で示すように扁平な形状にすれば、検査装置本体８８を
細径にすることが可能なので、細径の鋼管の検査が可能
となる。
すように円筒形でも良いが、これを第５図（Ｃ）に８７
で示すように扁平な形状にすれば、検査装置本体８８を
細径にすることが可能なので、細径の鋼管の検査が可能
となる。
以上の様にして照射された紫外線により励起された磁粉
模様の像は、対物ミラー８９、対物レンズ４０、イメー
ジガイド４１、紫外線カツトフィルター４２及び接眼レ
ンズ４８を通って観察者側へ導かれる。
模様の像は、対物ミラー８９、対物レンズ４０、イメー
ジガイド４１、紫外線カツトフィルター４２及び接眼レ
ンズ４８を通って観察者側へ導かれる。
対物ミラー３９は観察しようとする部分の像が対物レン
ズ４０を通してイメージガイドの前端面に結像するよう
に傾きを調整されているが、このミラーを回転支持点４
４の回りでミラー角度調整レバー４５によって傾動調節
可能にしておけば、テーパ一部の傾きに合わせ、又、ケ
ース（一部以外の管内面も検査可能とすることができる
０ここで１観察しようとする部分までの距離力；変化す
ると、レンズ４０による結像位置も変化するので、これ
を調整するために、例えばイメージガイド４１を包むケ
ース４６の外側と本体８Ｂの内側にはネジが切ってあり
、ケース４６を回転させることによってケース４６自体
が本体８３内で前進後退し、レンズ４０とイメージガイ
ド４１の端面との距離を変化させ得るようになっている
。
ズ４０を通してイメージガイドの前端面に結像するよう
に傾きを調整されているが、このミラーを回転支持点４
４の回りでミラー角度調整レバー４５によって傾動調節
可能にしておけば、テーパ一部の傾きに合わせ、又、ケ
ース（一部以外の管内面も検査可能とすることができる
０ここで１観察しようとする部分までの距離力；変化す
ると、レンズ４０による結像位置も変化するので、これ
を調整するために、例えばイメージガイド４１を包むケ
ース４６の外側と本体８Ｂの内側にはネジが切ってあり
、ケース４６を回転させることによってケース４６自体
が本体８３内で前進後退し、レンズ４０とイメージガイ
ド４１の端面との距離を変化させ得るようになっている
。
また、図に於てミラー上方の窓部には保護ガラス４７が
設けられてあり、ミラー面上にほこり等が付着しないよ
うになっている。
設けられてあり、ミラー面上にほこり等が付着しないよ
うになっている。
このミラー付近の構成を第８図の上方から見た所の概略
図を第４図（α）に示す。そしてこの図に於て、Ａ−Ａ
での断面を同図（ｈ）に、Ｂ−Ｂでの断面を同図（Ｃ）
に示す。
図を第４図（α）に示す。そしてこの図に於て、Ａ−Ａ
での断面を同図（ｈ）に、Ｂ−Ｂでの断面を同図（Ｃ）
に示す。
そして、前述の紫外線ガイドを扁平な形状にした時の上
方から見た所の概略図を第５図（α）に示し、この図に
於て、Ａ−Ａでの断面を同図（ｂ）に、Ｂ−Ｂでの断面
を同図（Ｃ）に示す。尚、第４図、第５図及び第６図に
於て第８図と同じ番号を付した部分は第３図を参照して
説明したのと、同じ構成部分を示している。
方から見た所の概略図を第５図（α）に示し、この図に
於て、Ａ−Ａでの断面を同図（ｂ）に、Ｂ−Ｂでの断面
を同図（Ｃ）に示す。尚、第４図、第５図及び第６図に
於て第８図と同じ番号を付した部分は第３図を参照して
説明したのと、同じ構成部分を示している。
更に、紫外線透過フィルター８６を取りはずし可能にし
ておけば、まず可視光下で被検査部付近の形状を観察し
て確認して後に螢光磁粉模様を観察できるので、より確
実な検査が可能となる。
ておけば、まず可視光下で被検査部付近の形状を観察し
て確認して後に螢光磁粉模様を観察できるので、より確
実な検査が可能となる。
次に、第６図は、本発明による検査装置の第２の実施例
の断面を示した図である。
の断面を示した図である。
この実施例に於ては、専用の紫外線ガイドを用いるかわ
りに、ハーフミラ−６０を用いることによってイメージ
ガイド４１を紫外線ガイドとしても共用するようになっ
ている。
りに、ハーフミラ−６０を用いることによってイメージ
ガイド４１を紫外線ガイドとしても共用するようになっ
ている。
即ち、紫外線源８５からの紫外線をハーフミラ−６０で
イメージガイド４１へ導き、対物レンズ４０、対物ミラ
ー８９を介して被検査部へ照射する。磁粉模様の像は、
対物ミラー８９、対物レンズ４０、イメージガイド４１
．ハーフミラ−６０１、紫外線カツトフィルター４２及
び接眼レンズ４８を通って観察者側へ導かれる。この機
な構成にすれば、紫外線ガイドが不要になるので装置の
構成が簡単になり、径を更に細（できるのでより細径の
鋼管の検査にも適応できる。
イメージガイド４１へ導き、対物レンズ４０、対物ミラ
ー８９を介して被検査部へ照射する。磁粉模様の像は、
対物ミラー８９、対物レンズ４０、イメージガイド４１
．ハーフミラ−６０１、紫外線カツトフィルター４２及
び接眼レンズ４８を通って観察者側へ導かれる。この機
な構成にすれば、紫外線ガイドが不要になるので装置の
構成が簡単になり、径を更に細（できるのでより細径の
鋼管の検査にも適応できる。
更に、ハーフミラ−６００代りに干渉フィルターのよう
な、紫外線のみを反射し、可視光のみを透過する装置を
用いれば、紫外線の有効利用が図れることになる。
な、紫外線のみを反射し、可視光のみを透過する装置を
用いれば、紫外線の有効利用が図れることになる。
以上説明した様な構成とすることによって、本発明装置
は、従来困難であった内面アプセット鋼管のテーパ一部
付近の内面磁粉探傷を容易かつ正確にすることを可能に
したばかりでな（、種々の径の鋼管の内面検査、観察を
容易にし、更に、本装置をビデオカメラ等に取り付けて
遠隔操作可能とすることにより、この分野の自動検査を
も実現し得るのである。
は、従来困難であった内面アプセット鋼管のテーパ一部
付近の内面磁粉探傷を容易かつ正確にすることを可能に
したばかりでな（、種々の径の鋼管の内面検査、観察を
容易にし、更に、本装置をビデオカメラ等に取り付けて
遠隔操作可能とすることにより、この分野の自動検査を
も実現し得るのである。
第１図は内面アプセット鋼管の断面図。
第２図は従来のアプセット部の観察方法を示す図。
第８図は本発明による検査装置の第１の実施例を示す断
面図。 第４図（α）は第８図の装置の一部の上面を示す図。 第４図（ｈ）は第４図（α）のＡ−Ａに於る断面図。 第４図（Ｃ）は第４図（α）のＢ−Ｂに於る断面図。 第５図（α）は第３図の装置の一部の他の構成の上面を
示す図。 第５図（ｂ）は第５図（α）のＡ−Ａに於る断面図。 第５図（ｃ）は第５図（ａ）のＢ−Ｂに於る断面図。 第６図は本発明による検査装置の第２の実施例を示す断
面図。
面図。 第４図（α）は第８図の装置の一部の上面を示す図。 第４図（ｈ）は第４図（α）のＡ−Ａに於る断面図。 第４図（Ｃ）は第４図（α）のＢ−Ｂに於る断面図。 第５図（α）は第３図の装置の一部の他の構成の上面を
示す図。 第５図（ｂ）は第５図（α）のＡ−Ａに於る断面図。 第５図（ｃ）は第５図（ａ）のＢ−Ｂに於る断面図。 第６図は本発明による検査装置の第２の実施例を示す断
面図。
Claims (1)
- 細長いケース内に、鋼管内に紫外線を照射するための紫
外線源及び紫外線ガイドと、鋼管内の螢光磁粉模様の像
を観察者側へ導くための対物反射ミラー、対物レンズ、
イメージガイド、紫外線カツトフィルター及び接眼レン
ズとを設けて成る鋼管内面検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10973381A JPS5810638A (ja) | 1981-07-14 | 1981-07-14 | 鋼管内面検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10973381A JPS5810638A (ja) | 1981-07-14 | 1981-07-14 | 鋼管内面検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5810638A true JPS5810638A (ja) | 1983-01-21 |
Family
ID=14517857
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10973381A Pending JPS5810638A (ja) | 1981-07-14 | 1981-07-14 | 鋼管内面検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5810638A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6128849A (ja) * | 1984-07-18 | 1986-02-08 | Kawasaki Steel Corp | 管の内面検査装置 |
| JPS62104149U (ja) * | 1985-12-20 | 1987-07-02 | ||
| US5281819A (en) * | 1991-06-06 | 1994-01-25 | Aluminum Company Of America | Apparatus for nondestructively determining coating thickness on a metal object and associated method |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS441838Y1 (ja) * | 1967-11-29 | 1969-01-23 |
-
1981
- 1981-07-14 JP JP10973381A patent/JPS5810638A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS441838Y1 (ja) * | 1967-11-29 | 1969-01-23 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6128849A (ja) * | 1984-07-18 | 1986-02-08 | Kawasaki Steel Corp | 管の内面検査装置 |
| JPS62104149U (ja) * | 1985-12-20 | 1987-07-02 | ||
| US5281819A (en) * | 1991-06-06 | 1994-01-25 | Aluminum Company Of America | Apparatus for nondestructively determining coating thickness on a metal object and associated method |
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