JPS5810605A - 距離測定装置 - Google Patents

距離測定装置

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JPS5810605A
JPS5810605A JP56108718A JP10871881A JPS5810605A JP S5810605 A JPS5810605 A JP S5810605A JP 56108718 A JP56108718 A JP 56108718A JP 10871881 A JP10871881 A JP 10871881A JP S5810605 A JPS5810605 A JP S5810605A
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JP56108718A
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Makoto Masunaga
増永 誠
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C3/00Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
    • G01C3/10Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders using a parallactic triangle with variable angles and a base of fixed length in the observation station, e.g. in the instrument

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は距離測定装置に係)、特に赤外発光素子と蓄積
型のラインセンサを用いることによ)、効果的に距離を
検出し、例えばこれに基いてカメラ等の撮影レンズを自
動焦点合わせ制御するに好適な距IIIWJ定装置に関
するO従来から、距離測定については種々の方式が提案
されておシ、実用化もされているが、受動方式つtシ距
離測定対象物からの光に基き、2重像合致なiしはコン
トラスト検出を行なうて距離を検出する方式のものは低
輝度側で測距能力が落ちるという問題点があるOこれに
対して、距離測定対象物に対して光を発射して、この反
射光に基き距離測定を行う方式、つま、り能動方式は低
輝度側での測距能力が高いという特徴を有する反面、機
械的な走査系を必要としえシ。
電気的な信号JaFl系の少債を高く保つ必要がある等
、問題も少なくないO 第1図は従来の能動方式の距離測定装置の一例を示すブ
ロック図であシ、同図中2は一距視舒の至近側から無限
側に向うて赤外光を投光走査する投光系、4は測距視野
人の赤外光を受光する受光光学系、6は前記受光光学系
4からO赤外光を受光して電気信号に変換する受光素子
、8社帥記投光系2の赤外発光素子101’C対して変
調信号を与える変調器、i2は前記受光素子6の受光赤
外光の中から、前記変調器80変調信号に基いて、前記
赤外発光素子10から投光された赤外光の成分を取プ出
す復11!、14は前記復嘴器12からの電気信号の中
からピークが出力され九時点で、これを検出し、その検
出信号を出力するピーク検出回路である。
かかる構成に於匹て、投光系2と受光光学系4は一定の
基線長りを介して配設されておシ、測距視野入内KTo
る測距対象物BK対して、3角鋼量系を構成する0つi
り、投光系2が測距対象物BK対して赤外光を投光する
様な角度にある時、測距対象物Bで赤外光が反射され、
受光光学系4に飛び込む◇従って1この時点での投光系
2の角度−と測距対象物Btでの距離りの関係はD =
 L m #となる。従って、投光系2から投光された
赤外光が測距対象物B)C当りてこζで反射され、受光
光学系4に#!って来る様な投光系20角度θを知れば
、これを測距対象物Bfiでの距離に対応づけることが
出来るものである。
ここで、実際に距sm定を行う場合、投光系20角度θ
を像々に大きくしてゆくことKより、つまり投光系2を
その投光赤外光が測距視野A内を至近から無限に向って
走査する様に揺動させてやシ、同時に受光光学系4から
受光素子6に飛び込む赤外光の強さを検出し、赤外光の
最も強く入射した時点の投光系2の角WL0を測距対象
物までの距離に対応づけることによシ距i測定を行うこ
ととなる。
ところが、受光素子6で検出される赤外光は必ずしも投
光系2から発射され、測距対象物Bで反射されだものば
かシと唸限らず、自然光に含まれる赤外成分もあるため
、赤外光検出に尚りてのいを悪くシ、特に反射赤外光の
強変性直接光と違ってレベルが低いため検出困麺な場合
が多い。このため、投光系2の赤外発光素子10からの
赤外光に変FA器8で変調を与え、−力受光素子6で検
出された赤外光の検出信号を復調812に導11%投光
系2から投光され九赤外光成分を抽出している0ζうす
ることによつて、レベルの低い反射赤外光を検出し、復
調器12からの信号をピーク検出回路14に導くことK
よって測距対象物Bから最4多(反射光が入射する時点
での投光系20角11!0を検出している。
ところが、かかる構成によれば、どうしても投光系2を
機械的に揺動させる必要があるため、構造が複雑になり
、またピーク検出回路14のピーク検出には必然的に遅
れ時間を伴う九め投光系2の角変θとピーク検出時点の
相関がとりに〈<、距離検出精度を劣化させるという問
題点がある0 これに対して、投光系2を揺動させる代りに投光系20
角変を固定とし、受光光学系のうしろに受光素子を複数
個並べるという方式も考えられるが、受光素子毎に受光
アンプ中復調器を設ける必要がある丸め、構造が複雑に
′Ikり、調整4h困難になる等の問題があり、経済的
でないO従って、本発明の目的は上記従来技術の欠点を
なくシ、受光系に蓄積型のイメージセンナを用い、信号
も理をデジタル的に行うことにようて、可動部がなく調
整も簡単な能動方式の距離測定装置を′提供するにある
O 更に詳細には、本発明社−距視野に向って真直に赤外光
を投光すると共に、一定の基線長を隔て九位置に配され
た受光光学系の後に置かれた複数受光単位を有する蓄積
型のイメージセンナでこれをとらえ、投光時と非投光時
の入射赤外線量の差の最も大i1な受光単位の位置をl
l1m対象物までの距離に対応ずけることによ)、距離
測定を行う距離測定装置を提供するものであるO 以下−図面に従って本発明OI[離一定装置を更に詳細
に説明するり 第2図は本発明の一夷總例に係る距lII欄定装置のブ
ロック図で、特に8備の受光工Vメントを有する蓄積型
ラインセンナを用いて測原対象物までの距離を8点のゾ
ーンに分割して検出する場合を例示するものである。同
図中、16は赤外線の点発光源を構成するIRBD (
赤外発光ダイオード)、18は前記IRBD16から発
され九赤外光を測距対象物20に向って平行光束として
指向させる投光レンズ、22状前記投光レンズ18と一
定の基線長1を介して配置される受光レンズ、24は前
記IRgD160投光赤外先の波長に合せて、可視光側
をカットする赤外透過フィルタ、26は前記受光レンズ
22の後方に配置され、前記フィルタ24、受光レンズ
22を介して受光され九赤外光を8つの箇所に於ける赤
外光の分布としてとらえる蓄積型のラインセンナ、28
は前記ラインセンナ26から各受光エレメント部KJI
ける赤外線の強度分布を表わす信号として直列に出力さ
れる8個の信号を納豆能なダイナtツタRAM、34は
8ビ、トの演算用シフトレジスタ、36は入力される2
っのデータの減算処理を行う演算回路、38は前記演算
回路36での演算の結果、キャリーが出た場合にこれを
記憶するキャリー7リツグ70スタ34、演算回路36
に制御信号を与えるシーケンスコントローラをそれぞれ
示す一〇であるO かかる構成に於いて、個別の回路部分の詳細な構成を次
に説明する。先ず、ラインセンt26は第3図の回路構
成図に示す如き構成を有するもので、同図中、PDI〜
PD8は8つ′の受光エレメントを構成するフォトダイ
オード、01−08は前記各受光ニレメン)FDI〜P
D80それぞれに対応して、並列に配置される蓄積用の
ゴンデン?、Gl、G8は前記コンデン?01−080
それぞれに対応して、各コンデンサをVOOvベルベプ
リチャージするクリアゲート、A8Rd並列に職り込ま
れ九電荷を直列に転送するアナログシフトレジスタ、8
Gl〜8Ggは前記コンデ/す01〜08の電荷を前記
アナログシフトV)スタASRK4jIL列にRLシ込
むシフトゲ−)、OPGハ前記アナログシフトレジスタ
ASRに対して転送パルスタ1、〆、を与えるパルス発
生器、DPIは前記アナログ77 ) L/9スタAS
Rの基準レベルと出力信号レベルの差を演算する差動増
!II器、BDAは前記アナログシフ)L/レジスタS
Rの空送り時の転送レベルを記憶する空送レベル記憶回
路、OBは前記空送ノベル記憶回路BD人の記憶用コン
デンサ、DF2は前記差動増幅器DPIの出力がら空送
レベル記憶回路BDAの出力を減算して、受光素子PD
I、PD8の受光信号成分のみを抽出するための差動層
1g器、 SHDは前記差動+11@?!JDF2から
の信号をピット単位で一定Vベヤを持う良信号に変換す
るサンプルホールド回路、O8は前記サンプルホールド
回路SHDの信号ホールド用のコンデンサである。
かかる構成に於いて、以下にその動作を第4図のタイム
チャートに従りて説明する。
ノーケンスコントローラ40かG:p9インセンサ26
に与えられる信号はアナログシフトレジスタASHの転
送用クロックパルスゲ1,4の基本となるクロックパル
スタ、各コニy f y サ01S−08に対する光電
流の蓄積を指令する蓄積ゲート信号IOG 、アナログ
シフトレジス!AS几の空送レベルの記憶を指令する空
送記憶信号BD、各コンデンサ01〜08の蓄積電荷を
アナログシフトレジスタA88に移すことを指令するシ
フトパルスSH等である。
今、蓄積ノー)91号IOGがHレベル、シフトパルス
8HがLレベルにある本のとすると、シフトゲートSG
1〜808は全てOFFであり、従ってアナログシフト
レジスタA8Rは空送ルモードにある。一方、受光素子
PDI〜PD8の光電流はクリアゲートG1−G3がO
N l、ているため、電源レベルv00から供給され、
従ってコンデンサ01〜08のレベルハ略vooレベル
にアル。
この様な状態から、蓄積ゲート信号IOGがLレベルに
落ちると各クリアゲート01〜G8はOFFとなり、従
うて受光素子PDI〜PD80光電流L各フンデンナO
1〜08から供給されることになるワこ〇九め、一定の
時間が経過した後のコンダン?01〜08の電圧は受光
素子PDI :〜PD8に当っている光のレベルに応じ
て異なりて来るrしかる後に、シフトパルス8Ht−H
レベルにすると各77トゲー) SG1〜808がON
 してコンデノナ01〜080電荷はアナログシフトV
ジスタA8RKシフトされる。
アナログシフトレジスタ人8Rはパルス発生器OPGか
らのクロックパルス鵬、4によりて、そのアナログデー
タを直列に転送してお如、その内容を図面の右端から信
号08として出方している。ちなみに、アナ曹グシフト
レジスタAf98線電荷転送を行なっていることから、
出力端に魂れ大電荷はクリアする必要がある◇このため
、アナログシフトレジスタ人8Bに対してはパルス発生
器OPGからす竜ットパルス88%与えられる。なお、
アナaダシフトレジスタA8Bから出力されているDO
8唸償号信号に対す為基準を与える補償出力である。
上Ol!嘴からも嘴らかな如く、蓄積ゲート信号IOG
をLレベルに落すと各受光素子PDI〜PDg O光電
流がコンダン?01〜08に蓄積さ[れるえめ、次に1
シフトパルス8Hを出力してコンダンfQl〜08の電
荷をアナログシyトvジスタA8RK転送するまでの時
間を適宜制御することKようて、あらゆる輝度レベルに
対して所望のレベルを得ることが出来る〇 上のIKして、アナログシフトレジスタ人8Rから出力
された光量に応じ良信号o8と1準レベルDO8は第1
の差動増幅@DFIK与えられ、空送シレベルを含んだ
信号DDYとして出力されるO さて、実@に9インセンナ26から光の分布に応じ良信
号をJIEe出す場合の具体的な動作にライて説明する
。シーケンスコントロー94Gから基本タロツクパルス
声が入力されると、パルス発生@OPGから#i、アナ
ログシ7トレジスJA8Bの転送パルスj’s s I
s mリセットパルス囚が出力されゐ0なか、転送パル
ス鵡、III*の位朝合せは、電源投入直後にシフトパ
ルス8Hを入力することくよってパルス発生gOPG内
で行なわれる。
さて、7−ケンスコントローラ40Thら入力される蓄
積ゲート信号l0(h5!Lレベルに落ちると、各コン
ダンto1〜08に対する受光素子PDx、PD8O光
電流の蓄積が開電流れるが、シフトパルスSHが出力さ
れる前に空送記憶信号BDが出力され、差動増幅11D
F1の出力信号DDVの中から空送期間のレベルが空送
Vペル記憶回路BDAK記憶され、空送レベルDLとし
て出力される0この空送レベルDLは第20差動増幅器
DF2に基準レベルとして与えられる0このため、第2
0@@増幅器DF2で紘第1の差動増@ il DF 
1からの信号DDVから空送Vへkf)l。
O減算が行なわれ、これを信号vDvとして出力する。
次に1シフトパルス8Hが出力されると、受光素子FD
I〜PD80光電#lK応じてコンデンナO1〜08に
蓄積され大電荷がアfaグシフトレ−)スタA8RK転
送され、信号osとして出方される0この信号は先にも
述べ丸儂に第10殖動増輻1)DPIで基準レベルDO
8から減算され。
次に第20差動増幅湯DP2で空送レベルDI、を減算
されるため、歳終的には、受光素子PD1〜PD8の光
量分布く応じた直列な信号VDVとなる訳である。とζ
ろが、ここで得られ良信号VDVはアナ四グシフトレジ
スタA3R1’C9セットパルスR8が入力されている
間は落ち込んだ信号、りま)リセットレベルにある丸め
、をンプルホールド回路SHD′tllWIち込みのな
一連続し九ビデオ信号DVK変換され出力されることと
なる0なお、シフトパルス8Hが出方され先後は。
次の睨み出しに備えて蓄積ゲート信号IOGはHレベル
に戻されることとなる〇 飄上述べた様に、ラインセン926唸蓄積時間を制御す
ることkよ)検出光量のダイナ電ツタレンジを成〈設定
する仁とが可能であ〉、債数個の信号を直列な信号とし
て堆に出すことが出来るため、受光素子毎に光電流の増
幅−路を設ける必要がない等の特徴を有するため、複数
の光信号を取シ扱う場合に極めて有利である。
次に、本実施例の距離測定装置の動作について更に詳細
に説明する。
先にも述べ先様に、ラインセンサ26から効果的にビデ
オ信号DVを読み出すためには、先ず最適な蓄積時間が
与えられる必要がある。蓄積時間の決定のためKは、予
め定められた蓄積時間を与えて、その結果得られたビデ
オ信号DVのレベルを判定し、これに基いて蓄積時間の
段階的な制御を行うのが好ましい。
上の動作のために1シーケンスコントローラ40からは
IRBDI6に通電することなく、ラインセンサ26に
対して最も長い蓄積時間T、を与える。この時、ライン
センナ26に対しては、外部からフィルタ24を介して
外光要因に基く赤外光が入力されるが、このレベルが予
め定められ九レベルを趨えていた場合、シーケンスコン
トローラ40はそれよりも1段階短い蓄積時間T、をラ
インセンナ26に与え、同様の判定に基く蓄積時間の適
否を調べる。そして、この様な動作の繰抄返しの後に、
最終的な蓄積時間を決定する。
なお、上に述べた蓄積時間制定状、ラインセン−?26
から読み出されたビデオ信号DVを、対応してRAM3
20所定番地に格納し、この全ての値を演算回路36で
予め定めら艶九定数と比較し、全ての値が定数を超えな
い事を判定することKよって行われる。ちなみに1演算
回路36での比較結果はキャリーフリップフロップ38
の状態をシーケンスコントローラ40で判定することに
よシ行なわれる。
上の櫟な動作を通じて、最終的に蓄積時間が決定される
と、その蓄積時間に於けるラインセン4P26の外光要
因に基(ビデオ信号DVO取り込みが行なわれる。この
堆抄込みは、ラインセンサ26の各ビットに対応するビ
デオ信号DVを順次〜Φ変換s30でデジタル値に変換
し、この変換f−夕をRAM320所定番地に書き込む
ことによって行なわれるO 以上の動作が終了すると、次には蓄積時間を変えること
なく、シーケンスプントローラ40からの指令により、
ツインセンナ40に対して蓄積ゲート信号IOGがLv
レベル与えられている間のみ、IRBDI6が点灯させ
られるOつtり、ラインセンナ16(D各党光素子には
、測距対象20で反射した赤外光がフィルタ24、Vン
ズ22を介して入射することとなる0そして、その入射
位置は3角測量OJ[jlに基き、測距対象Rofでの
距離に対応するビット位置の入射光量が最も大きくなる
0−)iり、 IRBDI6を蓄積時間中に点灯するこ
とKより、ラインセンナ26には外光レベルに対して反
射赤外光分が重畳され丸形で与えられることとな〉、こ
の重畳外の最も大きくなるポイントが距離に対応するこ
ととなる0 上の様な動作を通じて、ツインセンナ26に対する反射
赤外充分を含んだ光レベルの蓄積が行なわれると、ビデ
オ信号DVo31り込みが行なわれる。この取り込みは
、ラインセンナ26の各ビットに対応するビデオ信号D
Vを順次A/D変換器30Iでデジタル値に変換して、
このデータをRAM320所定番地に書き込むことによ
りて行なわれる。
第5図は上述の動作の結果としてツインセンナ26上に
得られ九赤外先の分布の一例を示す。
第5図(A)はIRBDI6を点灯しないで得られ先受
光分布であ少、第5図(B)はIRBDI@を点灯した
場合の受光分布である・今、 IRBDI・の非点灯時
の各受光素子PDI−PD80A/D変換データをF 
(DI) 〜F (DI) 1!: L、IRHDI@
0点灯時の各受光素子PDI〜PD80A/D変換デー
タR(Di)〜R(DI)とする。そして、それぞれの
データがRAM320G−1510各アドレスに対して
第6図に示す如く格納されているものとする〇 かかる状態から、次に四距演算のプロセスについて説明
する0先ず、RAM12の8番地のデ−タR(Dl)を
レジスタ34に格納し、次にレジスタ34の内容R(D
l)からRAM32の0番地のデータF(DI)を演算
回路36で減算して、その結果R(DI) −F (D
I)をレジスタi4に格納し、しかる後レジスタ34の
データを〜諷32の0番地に格納する0同様に、凡人M
32の1+8番地のデータR(D(n+8) )をレジ
スタ34に格納し、次にレジスタ34の内容からRAM
32のn番地のデータF (D(n))を演算回路36
で減算して、その結果R(D(n−+−8)) F(D
(n))をレジスタ34に格納し、しかる後にレジスタ
34のデータをRAM32のn番地に格納する0こO操
作はn = O〜70全てKついて行なわれ、この動作
を終rした時点でRAM32の内容は第7図に示す如く
なる0上の演算操作は全てシーケンスコントローラ40
からの指令によって行なわれる。
上の演算の結果、凡AM32の0番地から7番地には、
各受光素子PDI−PD8のIRBD16の点灯と非点
灯時の差信号が格納されることとなる。そして、先にも
述べた様に、この差信号の最も大きい受光素子PDI、
PD8の位置が測距対象までの距離に対応するものであ
る0従って、第7図の様にデータが格納され&RAM3
200〜7番地の中で最も大きな差信号が格納されたR
AMアドレスが測距対象までの距離に対応する訳である
0ζζで、RAM3200〜7番地のデータ中で最大値
を見つける処理に関して説明する0 先ず、0番地のデータR(Di)−F(Di)をVラス
タ34に導入し、レジスタ34のデータから1番地のデ
ータR(D2)−F(D2)を減算する0この減算に関
しては演算結果を問題にするのではなく、キャリー7リ
ツプ70ツグ38の状態のミt−シーケンスコントロー
ラ40にて判定fる0そして、この減算の結果、キャリ
ーが出されれば、0番地のデータよりも1番地のデータ
が大きいとの判定が行なわれ九こととなる0従って、シ
ーケンスコントローラ40FiRAM320811地K
”1″番地を示すデータを書き込むと共に1番mの、’
−夕をレジスタ34に導入する〇一方、減算の結果、キ
ャリーが出なければ%00番地データは1番地のデータ
よシも大きいとの判定が行なわれたこととなるO従りて
、シーケンスコントロー240はRAM3208番地に
″′O″番地金示すデータを書き込み、レジスタ34に
は再び0番地のデータを書き込む0 次に、レジスタ34のデータから今度はRAM3202
番地のデータR(D3)−F(D3)を減算する0この
減算に関しても先と同様の6埋が行なわれ、2番地のデ
ータが大きかった時のみRAM32の8番地に′″2”
番地を示すデータが書き込まれる。
上の動作は、几AM32の7番地のデータR(D8 )
−F(D8)を演算回路36に導入して同様処理を行う
までの間、IIIk〉返し行なわれ、最終的に几AM3
2の8書地には測距対象201での距離に対応するデー
タ、つtb、差信号が最も大きいRAM32のアドレス
が残されることとなる0なお、測距対象201での距離
が非常に遠い場合、反射赤外光が十jに反射して戻りて
ζない0この場合は、測距対象20が一定以上の遠点に
あるとの判定を下せばよい訳であるが、これはI R1
i!D 16のON、OFFのいずれでも、ラインセン
サ26から出力される信・号のレベルが同じである事を
判定の条件とすればよいOこれは。
几AM32に差信号に関するデータが格納され九時点で
、0番地から7番地のデータが全て@′0”であること
を判定することによシ、容易に判定可能であるO とζろが、現実に社、ラインセンt26から出力される
ビデオ信号のノイズ、N勺変換器菊の量子化誤差等によ
って差信号が全て完全に10”になるという事は望み難
いO従うて、本実施例では、差信号の極大値を検出する
に先立って、差信号の全てが予め定められた一定のレベ
ル以下にあるか否かを判定しているOこれ紘^体的Kt
iシーケンスコントローラ40からの指令によつてRA
M32の0番地から7番地のデータを順次読み出し、予
め定められた定数と突き合せて、各突き合せ#sKヤヤ
リーアリッププロップ38の状1を判定し、全ての突き
合せでキャリープリップ70ツブ38が同−状1であっ
た時に醐を対置20が一定の距離以遠にあるとの判定を
下す0なお、この場合との@1に檎く差1号の1に、@
の判定処lは行なわない0上記実−例に腸いては、ライ
ン−ンすのビット数を8ピツトとしたが、本発明の実権
はこれに限定されるものではなく、必要な11m分解能
に応じて適宜検定し得るものでちるofた、友1を漬器
のピット数も8ビツトに限定されるものではなく、適宜
選択可能なものであろことは云うまでもない。
また、上記実権例では、信号部1のためKRAMと−7
’ジタル式のシーケンスコントローラを組み合せた構成
を例示し、その^体的な信号部1プロロスを説明し九が
、信号処理の方法は糟々胃知の方式が′h〉、本発明の
実権は必ずしもこれに制約されるものではな込0 以と述べた如く、本発明によれば、赤外@雇射弐の3角
測量を行うに烏って、蓄積層Oツインセンナを用いた丸
め、赤外光の変調、復調等のための一路が不要とな〉、
耐雑音性に優れ、しかも可動部を用いることなく距離一
定を行うことが可能とな)、II!K[噛をデジタルデ
ータとして得ることが出来る丸め、例えばカメラ等に用
いてVンズの制御が容墨な新規の[峻欄定装置を得るこ
とが出来るもので、そO有用性極めて大なる4のである
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の能動方式〇*@s1mat0−例を示す
ブロック図、第2図は本蜀IIl!〇−夷雄例に係る距
離測定装置のプ四ツク図、第3■紘嬉2図示ラインセン
ナの構成を示す回路構成−1第4図は第3図のツイン七
ンナO動作を説明するタイムチャート、第5図は第zs
os*の動作を説明するtIL形図、第6図及び第7■
紘嬉8図示RAMの各状態での内容を示す説明間である
018.1g・・・赤外発光系を構成するIRID(赤
外発光ダイオード)及び投光光学系、 20・・・測距対象物、22・・・受光光学系、26・
・・#積重うインセ/す、 32、34.36・・・演算手段を構成するダイナミッ
クRAM 、演算用シフ)L/レジスタび演算回路、 
 40・・・制御手段としてのシーケンスコントローラ
0 特許出願人  キャノン株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 測距対象物に向叶て赤外光を投光する赤外発光系と、前
    記赤外発光系と一定の基線長を介して配される受光光学
    系と、前記受光光学系OI&形成面に配され、複数個の
    受光素子な著し九蓄1[oラインセンナと、前記ライン
    竜ンtを前記赤外発光系を動作させた第1の状部で蓄積
    動作させろと共にそうでない第2の状態で蓄積動作させ
    る制御手段と、前記第1、第20状籟の夫々に対応する
    前記ラインセンナの出力信号の相違を各ビット毎に検出
    すると共に1誼検出結定憤置0
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