JPH0225221B2 - - Google Patents
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- JPH0225221B2 JPH0225221B2 JP57189395A JP18939582A JPH0225221B2 JP H0225221 B2 JPH0225221 B2 JP H0225221B2 JP 57189395 A JP57189395 A JP 57189395A JP 18939582 A JP18939582 A JP 18939582A JP H0225221 B2 JPH0225221 B2 JP H0225221B2
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- video signals
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
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- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
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- Signal Processing (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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- Image Processing (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の分野〕
本発明は全体として容器用の側壁検査装置に関
するものであり、とくにガラスびんのような容器
の検査から得た個々の映像データ信号を比較する
ための方法および装置に関するものである。
するものであり、とくにガラスびんのような容器
の検査から得た個々の映像データ信号を比較する
ための方法および装置に関するものである。
容器の側壁を検査するために光学的走査器を用
いることはよく知られている。たとえば米国特許
第3708680号、第3716136号に示されているような
数多くの装置が、検査対象物品を透過した光を受
け、その光を解釈するための手段を含む回路を有
する。そのような装置は物品を比較するための光
学的表示器を含むが、照射された光の強さに比例
する抵抗値を生ずることができる装置を用いる。
そのような装置の出力が光学的なもの、または電
気的なものいずれであつても、検査対象物が寸法
と構造の面で適切なものであるか否か、ひび、
傷、または異物がないかどうかを決定するため
に、最終的にはその出力をモデルと比較される。
そのような装置は、１個もしくは多数のびんを含
む動くびんの列に含まれているびんを検査するた
めの自動びん検査装置を目的とするものである。
いることはよく知られている。たとえば米国特許
第3708680号、第3716136号に示されているような
数多くの装置が、検査対象物品を透過した光を受
け、その光を解釈するための手段を含む回路を有
する。そのような装置は物品を比較するための光
学的表示器を含むが、照射された光の強さに比例
する抵抗値を生ずることができる装置を用いる。
そのような装置の出力が光学的なもの、または電
気的なものいずれであつても、検査対象物が寸法
と構造の面で適切なものであるか否か、ひび、
傷、または異物がないかどうかを決定するため
に、最終的にはその出力をモデルと比較される。
そのような装置は、１個もしくは多数のびんを含
む動くびんの列に含まれているびんを検査するた
めの自動びん検査装置を目的とするものである。
米国特許第3877821号には、検査対象物体を透
過した光を表す振幅を有する一連のパルスを発生
するために、直列に質問される走査アレイを有す
る装置が開示されている。隣り合うパルスは比較
されて、パルス振幅の差を表す振幅を有するパル
スを発生する。検査対象物体中の欠陥を指示する
ために差パルスを利用できる。米国特許第
3942001号には、透明な容器中でも異物またはひ
びの存在を検出するための装置が開示されてい
る。検査信号を発生させるために光ビームが容器
を透過させられる。その検査信号は合格信号と比
較される。容器に対するスポツトビームの位置に
従つて合格信号の振幅が変えられる。
過した光を表す振幅を有する一連のパルスを発生
するために、直列に質問される走査アレイを有す
る装置が開示されている。隣り合うパルスは比較
されて、パルス振幅の差を表す振幅を有するパル
スを発生する。検査対象物体中の欠陥を指示する
ために差パルスを利用できる。米国特許第
3942001号には、透明な容器中でも異物またはひ
びの存在を検出するための装置が開示されてい
る。検査信号を発生させるために光ビームが容器
を透過させられる。その検査信号は合格信号と比
較される。容器に対するスポツトビームの位置に
従つて合格信号の振幅が変えられる。
従来の検査装置における問題の１つは、容器の
内外における周囲光の変化を検査装置が感ずるこ
とである。たとえば、前記米国特許第3877821号
においては、差パルスの振幅が光の強さに従つて
変化する。したがつて、光の強さが容器の内外で
変化するものとすると、容器の１つの部分におけ
る１つの種類の欠陥を表す差パルスの振幅は、異
なる強さの光を照射される容器の別の部分の類似
する欠陥を表す差パルスの振幅と異なる。
内外における周囲光の変化を検査装置が感ずるこ
とである。たとえば、前記米国特許第3877821号
においては、差パルスの振幅が光の強さに従つて
変化する。したがつて、光の強さが容器の内外で
変化するものとすると、容器の１つの部分におけ
る１つの種類の欠陥を表す差パルスの振幅は、異
なる強さの光を照射される容器の別の部分の類似
する欠陥を表す差パルスの振幅と異なる。
本発明は、検査対象である物体の内外における
周囲光の変化に対して比較結果が影響を受けな
い、物体の検査により発生された映像データ信号
を比較する方法と装置に関するものである。物体
上のある特定の検査点すなわちピクセル（pixel）
から受けた光の量に対応する大きさを有する一連
の映像信号を発生するために光源とカメラが利用
される。引き続く映像信号が物体上の隣り合うピ
クセルを表す。
周囲光の変化に対して比較結果が影響を受けな
い、物体の検査により発生された映像データ信号
を比較する方法と装置に関するものである。物体
上のある特定の検査点すなわちピクセル（pixel）
から受けた光の量に対応する大きさを有する一連
の映像信号を発生するために光源とカメラが利用
される。引き続く映像信号が物体上の隣り合うピ
クセルを表す。
比較回路が映像信号に応答して、２つのアナロ
グ映像信号の間の大きさのずれを表す比較信号を
発生する。本発明に従つて、２つの映像信号の比
を表す大きさの比較信号が発生される。その比
は、２つの各アナログ映像信号を、計算を行う前
に、デジタル形式に変換することにより計算され
る。その後で、デジタル技術により希望の比を計
算できる。アナログ映像信号をデジタル形式にま
ず変換することにより、本発明の比較回路により
行われる計算は部品の値の変化や、アナログ比較
回路のドリフトの影響を受けなくなる。
グ映像信号の間の大きさのずれを表す比較信号を
発生する。本発明に従つて、２つの映像信号の比
を表す大きさの比較信号が発生される。その比
は、２つの各アナログ映像信号を、計算を行う前
に、デジタル形式に変換することにより計算され
る。その後で、デジタル技術により希望の比を計
算できる。アナログ映像信号をデジタル形式にま
ず変換することにより、本発明の比較回路により
行われる計算は部品の値の変化や、アナログ比較
回路のドリフトの影響を受けなくなる。
本発明の好適な実施例においては、アナログ映
像信号をデジタル形式に変換するための比較回路
はＡ／Ｄ変換器を用いる。デジタル化された映像
信号の一方を貯えるためにラツチが用いられる。
他方の映像信号はＡ／Ｄ変換器へ与えられる。ラ
ツチの出力とＡ／Ｄ変換器の出力は個々のROM
対数表へ与えられる。各ROM対数表はそれぞれ
の入力信号の対数を表す出力信号を生ずる。２つ
の対数出力信号の差は加算器により決定される。
この加算器は出力信号をROM逆対数表へ与え
る。このROM逆対数表は差信号の指数をとつ
て、２つの映像信号の比を表す比較信号を発生す
る。ROM逆対数表は、２つの映像信号の比が１
に等しいか、１より小さい値で発生されるよう
に、２つの対数出力信号の負の差の真数をとるた
めにプログラムされる。
像信号をデジタル形式に変換するための比較回路
はＡ／Ｄ変換器を用いる。デジタル化された映像
信号の一方を貯えるためにラツチが用いられる。
他方の映像信号はＡ／Ｄ変換器へ与えられる。ラ
ツチの出力とＡ／Ｄ変換器の出力は個々のROM
対数表へ与えられる。各ROM対数表はそれぞれ
の入力信号の対数を表す出力信号を生ずる。２つ
の対数出力信号の差は加算器により決定される。
この加算器は出力信号をROM逆対数表へ与え
る。このROM逆対数表は差信号の指数をとつ
て、２つの映像信号の比を表す比較信号を発生す
る。ROM逆対数表は、２つの映像信号の比が１
に等しいか、１より小さい値で発生されるよう
に、２つの対数出力信号の負の差の真数をとるた
めにプログラムされる。
本発明の比較回路により、各入来アナログ映像
信号を、一連の映像信号の暗い信号レベルを表す
量だけオフセツトするための手段も構成する。こ
の比較回路に関連して用いられるカメラは、暗い
信号レベルの一連の映像信号の一部を発生する。
比較回路は暗い信号レベルの映像信号に応答し
て、その暗い信号レベルに比例するカウント値に
カウンタをセツトする。そのカウンタの出力をア
ナログ・オフセツト信号に変換するためにＤ／Ａ
変換器が設けられる。そのアナログ・オフセツト
信号は入来映像信号に組合わされる。それらの入
来オフセツト信号をオフセツトすることにより、
比較回路はＡ／Ｄ変換器の全範囲を利用できるこ
とになり、そのために、計算された比の確度が高
くなる。
信号を、一連の映像信号の暗い信号レベルを表す
量だけオフセツトするための手段も構成する。こ
の比較回路に関連して用いられるカメラは、暗い
信号レベルの一連の映像信号の一部を発生する。
比較回路は暗い信号レベルの映像信号に応答し
て、その暗い信号レベルに比例するカウント値に
カウンタをセツトする。そのカウンタの出力をア
ナログ・オフセツト信号に変換するためにＤ／Ａ
変換器が設けられる。そのアナログ・オフセツト
信号は入来映像信号に組合わされる。それらの入
来オフセツト信号をオフセツトすることにより、
比較回路はＡ／Ｄ変換器の全範囲を利用できるこ
とになり、そのために、計算された比の確度が高
くなる。
以下、図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。
る。
まず、容器のような物体の欠陥を検出する側壁
検査装置の一部がブロツク図で示されている第１
図を参照する。第１図については簡単に説明する
が、図に100番以下の参照番号をつけて示されて
いる構成要素と、この検査装置のうち第１図に示
されていない部品は1980年11月７日付の米国特許
出願第205054号において説明されている。
検査装置の一部がブロツク図で示されている第１
図を参照する。第１図については簡単に説明する
が、図に100番以下の参照番号をつけて示されて
いる構成要素と、この検査装置のうち第１図に示
されていない部品は1980年11月７日付の米国特許
出願第205054号において説明されている。
第１図において、ガラスびん（図示せず）のよ
うな物体がカメラ１０により走査される。このカ
メラ１０は、ガラスびんから受けた光の量に比例
する大きさを有する複数個の信号を発生してそれ
らの信号を線１２へ与える。本発明の好適な実施
例においては、光源（図示せず）が光ビームを検
査するガラスピンを通じてカメラ１０へ照射す
る。第２図に示すように、カメラ１０はフオトダ
イオードのような光検出器１００―１〜１００―
ｎを複数個含む。それらの光検出器は１列になつ
て垂直方向に配列される。256個のフオトダイオ
ードを１列に配列することにより満足できる結果
が得られることが見出されている。フオトダイオ
ードは、入射光の量に比例して電圧を通す可変抵
抗素子である。
うな物体がカメラ１０により走査される。このカ
メラ１０は、ガラスびんから受けた光の量に比例
する大きさを有する複数個の信号を発生してそれ
らの信号を線１２へ与える。本発明の好適な実施
例においては、光源（図示せず）が光ビームを検
査するガラスピンを通じてカメラ１０へ照射す
る。第２図に示すように、カメラ１０はフオトダ
イオードのような光検出器１００―１〜１００―
ｎを複数個含む。それらの光検出器は１列になつ
て垂直方向に配列される。256個のフオトダイオ
ードを１列に配列することにより満足できる結果
が得られることが見出されている。フオトダイオ
ードは、入射光の量に比例して電圧を通す可変抵
抗素子である。
各フオトダイオードはびんの種々の検査点を透
過してきた光を受ける。この検査点のことは通常
はピクセルと呼ぶ。びんにひび割れや異物が存在
すると、びんの対応するピクセルを透過した光の
一部が遮断または反射されるから、そのピクセル
に対応するフオトダイオードが、それらの欠陥が
存在しない時に受ける光とは異なる強さの光を受
ける。
過してきた光を受ける。この検査点のことは通常
はピクセルと呼ぶ。びんにひび割れや異物が存在
すると、びんの対応するピクセルを透過した光の
一部が遮断または反射されるから、そのピクセル
に対応するフオトダイオードが、それらの欠陥が
存在しない時に受ける光とは異なる強さの光を受
ける。
カメラ１０のフオトダイオード１００―１〜１
００―ｎからの信号は複数の線１２―１〜１２―
ｎを介して標本化器１４へ供給される。各フオト
ダイオードからの信号は順次標本化されて一連の
映像信号パルスとなり、線１６に出力される。そ
れらのパルス信号は検査されているびんのフオト
ダイオードの垂直列に対応する点を透過した光の
量を表す。標本化器１４はこの分野では周知のも
のである。検査するびんをカメラ１０に対して回
転させることにより複数回の掃引を行うことがで
きる。各掃引によりびんの異なる部分が検査され
る。約375〜400回の掃引を行うことにより平均的
なびんを十分にカバーでき、正確な検査を行える
ことが見出されている。したがつて、標本化器１
４は、びんの対応する点を透過した光の量に比例
する大きさをそれぞれ有する複数の映像信号列を
発生する。
００―ｎからの信号は複数の線１２―１〜１２―
ｎを介して標本化器１４へ供給される。各フオト
ダイオードからの信号は順次標本化されて一連の
映像信号パルスとなり、線１６に出力される。そ
れらのパルス信号は検査されているびんのフオト
ダイオードの垂直列に対応する点を透過した光の
量を表す。標本化器１４はこの分野では周知のも
のである。検査するびんをカメラ１０に対して回
転させることにより複数回の掃引を行うことがで
きる。各掃引によりびんの異なる部分が検査され
る。約375〜400回の掃引を行うことにより平均的
なびんを十分にカバーでき、正確な検査を行える
ことが見出されている。したがつて、標本化器１
４は、びんの対応する点を透過した光の量に比例
する大きさをそれぞれ有する複数の映像信号列を
発生する。
第２図に示すように、アナログ・カメラ映像信
号が線１６ａに与えられる。線１６ａを介して与
えられるカメラ映像信号に加えて、標本化器１４
はカメラクロツク信号とカメラ掃引信号も発生
し、それらのクロツク信号と掃引信号は線１６
ｂ，１６ｃにそれぞれ与えられる。カメラ掃引信
号は各カメラ掃引の開始を表すパルスより成り、
カメラクロツク信号は、１６ａへの映像パルス信
号の送り出しを合図するパルスの列より成る。
号が線１６ａに与えられる。線１６ａを介して与
えられるカメラ映像信号に加えて、標本化器１４
はカメラクロツク信号とカメラ掃引信号も発生
し、それらのクロツク信号と掃引信号は線１６
ｂ，１６ｃにそれぞれ与えられる。カメラ掃引信
号は各カメラ掃引の開始を表すパルスより成り、
カメラクロツク信号は、１６ａへの映像パルス信
号の送り出しを合図するパルスの列より成る。
標本化器１４により発生された映像信号は線１
６を介して事象検出器４８へ与えられる。この事
象検出器４８は、検査装置インターフエイス１８
として示してある、検査装置の一部を表す。前記
米国特許出願第205054号に詳しく説明されている
インターフエイス１８は、ガラスびんの掃引から
意味のあるデータを、コンピユータでの解析に適
当なやり方で迅速にとり出すように機能する。
６を介して事象検出器４８へ与えられる。この事
象検出器４８は、検査装置インターフエイス１８
として示してある、検査装置の一部を表す。前記
米国特許出願第205054号に詳しく説明されている
インターフエイス１８は、ガラスびんの掃引から
意味のあるデータを、コンピユータでの解析に適
当なやり方で迅速にとり出すように機能する。
事象検出器４８は比較回路１０２を含む。この
比較回路１０２はアナログ映像信号を線１６を介
して受け、デジタル比較信号を発生して、その比
較信号を線１０４を介して加算器６４へ与える。
比較回路１０２は、線１６を介して与えられた２
つのアナログ映像信号のずれを表す比較信号を線
発生するように機能する。
比較回路１０２はアナログ映像信号を線１６を介
して受け、デジタル比較信号を発生して、その比
較信号を線１０４を介して加算器６４へ与える。
比較回路１０２は、線１６を介して与えられた２
つのアナログ映像信号のずれを表す比較信号を線
発生するように機能する。
事象検出器４８は複数のしきい値信号を格納す
るためのしきい値RAM５８を含む。RAM５８
に格納されている各しきい値信号は、比較回路１
０２により発生された特定の比較信号に対応す
る。比較回路１０２により発生された現在の比較
信号に対応する、RAM５８からの個々のしきい
値信号を選択するためにダイオード・カウンタ６
０が用いられる。このダイオード・カウンタ６０
はクリヤ信号により零リセツトでき、増加信号に
よりカウント値を増加できる。クリヤ信号と増加
信号はインターフエイス１８の制御論理ユニツト
５４（図示せず）により発生できる。
るためのしきい値RAM５８を含む。RAM５８
に格納されている各しきい値信号は、比較回路１
０２により発生された特定の比較信号に対応す
る。比較回路１０２により発生された現在の比較
信号に対応する、RAM５８からの個々のしきい
値信号を選択するためにダイオード・カウンタ６
０が用いられる。このダイオード・カウンタ６０
はクリヤ信号により零リセツトでき、増加信号に
よりカウント値を増加できる。クリヤ信号と増加
信号はインターフエイス１８の制御論理ユニツト
５４（図示せず）により発生できる。
しきい値RAM５８からの信号は加算器６４の
相補入力端子へ与えられ、そこで、比較回路１０
２から線１０４を介して与えられた比較信号に組
合わされる。その比較信号が対応するしきい値信
号より大きい時は、加算器６４は、検出器４８が
欠陥を検出したことをインターフエイス１８の制
御論理ユニツト５４へ知らせる事象信号を発生す
る。加算器６４は、比較信号と対応するしきい値
信号との大きさの差について、インターフエイス
１８の制御論理ユニツト５４へ知らせる大きさ信
号も発生する。
相補入力端子へ与えられ、そこで、比較回路１０
２から線１０４を介して与えられた比較信号に組
合わされる。その比較信号が対応するしきい値信
号より大きい時は、加算器６４は、検出器４８が
欠陥を検出したことをインターフエイス１８の制
御論理ユニツト５４へ知らせる事象信号を発生す
る。加算器６４は、比較信号と対応するしきい値
信号との大きさの差について、インターフエイス
１８の制御論理ユニツト５４へ知らせる大きさ信
号も発生する。
第３図には本発明の比較回路１０２のブロツク
図が示されている。基本的には、この比較回路
は、線１６ａを介して与えられた２つの映像信号
の大きさの差を表す比較信号を発生するように動
作する。後で説明するように、本発明の方法によ
り、びんの内外の周囲光の変化により影響を受け
ない比較信号が得られる。
図が示されている。基本的には、この比較回路
は、線１６ａを介して与えられた２つの映像信号
の大きさの差を表す比較信号を発生するように動
作する。後で説明するように、本発明の方法によ
り、びんの内外の周囲光の変化により影響を受け
ない比較信号が得られる。
第３図において、線１６ａを介して与えられた
アナログ・カメラ映像信号は加算点１０６の第１
の入力端子へ与えられる。この加算点１０６の出
力線１０７はＡ／Ｄ変換器１０８の入力端子へ接
続され、その出力線１０７を介してオフセツト映
像信号Xoを与える。Ａ／Ｄ変換器１０８はアナ
ログ映像信号Xoをデジタル形式に変換し、変換
されたデジタル信号を線１０９を介してラツチ１
１０とROM対数表１１２の入力端子へ与える。
ラツチ１１０のクロツク（CLK）入力端子は線
１６ｂへ接続されてカメラ・クロツク信号を受け
る。ラツチ１１０の出力信号Xo-1は線１１４を
介して第２のROM対数表１１６の入力端子へ与
えられる。ROM対数表１１２，１１６はそれぞ
れの入力信号の対数を表すデジタル出力信号を発
生し、線１１８，１２０へそれぞれ与える。後で
説明するように、ROM対数表１１２は入来オフ
セツト映像信号Xoの極性を表す極性論理信号も
発生する。この極性論理信号は線１２２を介して
オフセツト回路１２４の入力端子へ与えられ、こ
のオフセツト回路はその極性論理信号を用いてオ
フセツト信号を決定する。このオフセツト信号は
入来カメラ映像信号に組合わされる。
アナログ・カメラ映像信号は加算点１０６の第１
の入力端子へ与えられる。この加算点１０６の出
力線１０７はＡ／Ｄ変換器１０８の入力端子へ接
続され、その出力線１０７を介してオフセツト映
像信号Xoを与える。Ａ／Ｄ変換器１０８はアナ
ログ映像信号Xoをデジタル形式に変換し、変換
されたデジタル信号を線１０９を介してラツチ１
１０とROM対数表１１２の入力端子へ与える。
ラツチ１１０のクロツク（CLK）入力端子は線
１６ｂへ接続されてカメラ・クロツク信号を受け
る。ラツチ１１０の出力信号Xo-1は線１１４を
介して第２のROM対数表１１６の入力端子へ与
えられる。ROM対数表１１２，１１６はそれぞ
れの入力信号の対数を表すデジタル出力信号を発
生し、線１１８，１２０へそれぞれ与える。後で
説明するように、ROM対数表１１２は入来オフ
セツト映像信号Xoの極性を表す極性論理信号も
発生する。この極性論理信号は線１２２を介して
オフセツト回路１２４の入力端子へ与えられ、こ
のオフセツト回路はその極性論理信号を用いてオ
フセツト信号を決定する。このオフセツト信号は
入来カメラ映像信号に組合わされる。
ROM対数表１１２，１１６の出力は加算器１
２６の入力端子へ与えられる。この加算器１２６
はそれら２つの入来対数信号の差を表すデジタル
出力信号を発生する。ROM対数表１１２，１１
６から線１１８，１２０をそれぞれ介して与られ
た２つの論理信号の差は、それらのROM対数表
へ線１１４，１０９を介して与えられたデジタル
化された映像信号の比の対数を表す。加算器１２
６により発生された差対数信号は線１２８を介し
てROM逆対数表１３０の入力端子へ与えられ
る。このROM逆対数表１３０は線１２８を介し
て与えられた信号の真数を計算して比較信号を発
生する。この比較信号は線１３２を介してラツチ
１３４の入力端子へ与えられる。ラツチ１３４の
クロツク（CLK）入力端子には線１６ｂが接続
されてカメラ・クロツク信号が与えられ、ラツチ
１３４の出力端子は線１０４を介して加算器６４
に接続され、比較信号Yoを加算器６４へ与える。
２６の入力端子へ与えられる。この加算器１２６
はそれら２つの入来対数信号の差を表すデジタル
出力信号を発生する。ROM対数表１１２，１１
６から線１１８，１２０をそれぞれ介して与られ
た２つの論理信号の差は、それらのROM対数表
へ線１１４，１０９を介して与えられたデジタル
化された映像信号の比の対数を表す。加算器１２
６により発生された差対数信号は線１２８を介し
てROM逆対数表１３０の入力端子へ与えられ
る。このROM逆対数表１３０は線１２８を介し
て与えられた信号の真数を計算して比較信号を発
生する。この比較信号は線１３２を介してラツチ
１３４の入力端子へ与えられる。ラツチ１３４の
クロツク（CLK）入力端子には線１６ｂが接続
されてカメラ・クロツク信号が与えられ、ラツチ
１３４の出力端子は線１０４を介して加算器６４
に接続され、比較信号Yoを加算器６４へ与える。
ROM逆対数表１３０は、線１２８を介して与
えられた差対数信号の負の値の真数を計算するよ
うにプログラムされる。したがつて、線１２８を
介して与えられた差対数信号の値が正であると、
ROM対数表１３０はその信号を負の値にしてか
ら逆対数計算を行う。この結果として、１に等し
いか、１より小さい値を有する比較信号が得ら
れ、したがつて２つの映像信号の大きい方を分母
として比を表す。
えられた差対数信号の負の値の真数を計算するよ
うにプログラムされる。したがつて、線１２８を
介して与えられた差対数信号の値が正であると、
ROM対数表１３０はその信号を負の値にしてか
ら逆対数計算を行う。この結果として、１に等し
いか、１より小さい値を有する比較信号が得ら
れ、したがつて２つの映像信号の大きい方を分母
として比を表す。
オフセツト回路１２４はオフセツト信号を発生
し、この信号を線１３６を介して加算点１０６の
第２の入力端子へ与える。基本的には、このオフ
セツト信号は、カメラ１０のフオトダイオード１
００の一部により発生された暗信号レベルを表す
大きさで発生される。
し、この信号を線１３６を介して加算点１０６の
第２の入力端子へ与える。基本的には、このオフ
セツト信号は、カメラ１０のフオトダイオード１
００の一部により発生された暗信号レベルを表す
大きさで発生される。
オフセツト回路１２４はカウンタ１３８を含
み、このカウンタのクロツク（CLK）入力端子
は線１６ｂからカメラ・クロツク信号を受け、ロ
ード（LOAD）入力端子は線１６ｃからカメラ
掃引信号を受ける。カウンタ１３８のプリセツト
入力端子Ａ，Ｂは＋Ｖ電源（図示せず）に接続さ
れ、プリセツト入力端子Ｃ，Ｄは接地される。カ
ウンタ１３８のMAX／MIN出力端子はカウンタ
１４０のクロツク（CLK）入力端子へ接続され、
このカウンタ１４０のアツプ／ダウン（Ｕ／Ｄ）
入力端子は線１２２に接続されて極性論理信号を
受ける。カウンタ１４０の出力はＤ／Ａ変換器１
４２の入力端子へ与えられる。このカウンタ１４
２の出力端子は線１３６に接続される。カウンタ
１４０のMAX／MIN出力端子は「オフセツト・
バツド」LED１４６のカソードに抵抗器１４４
を介して接続される。このLED１４６のアノー
ドは＋Ｖ電源へ接続される。
み、このカウンタのクロツク（CLK）入力端子
は線１６ｂからカメラ・クロツク信号を受け、ロ
ード（LOAD）入力端子は線１６ｃからカメラ
掃引信号を受ける。カウンタ１３８のプリセツト
入力端子Ａ，Ｂは＋Ｖ電源（図示せず）に接続さ
れ、プリセツト入力端子Ｃ，Ｄは接地される。カ
ウンタ１３８のMAX／MIN出力端子はカウンタ
１４０のクロツク（CLK）入力端子へ接続され、
このカウンタ１４０のアツプ／ダウン（Ｕ／Ｄ）
入力端子は線１２２に接続されて極性論理信号を
受ける。カウンタ１４０の出力はＤ／Ａ変換器１
４２の入力端子へ与えられる。このカウンタ１４
２の出力端子は線１３６に接続される。カウンタ
１４０のMAX／MIN出力端子は「オフセツト・
バツド」LED１４６のカソードに抵抗器１４４
を介して接続される。このLED１４６のアノー
ドは＋Ｖ電源へ接続される。
暗信号レベルの大きさを決定するためには、本
発明ではカメラ１０の少くとも１個のフオトダイ
オード１００を「しやへい」することを必要とす
る。これは、カメラ１０の選択されたフオトダイ
オードを覆うことにより行われる。たとえば、第
２図においてフオトダイオード１００―１〜１０
０―５が覆われている様子が示されている。走査
器の各掃引の開始時にカメラ掃引信号が発生され
る。このカメラ掃引信号は線１６ｃを介してカウ
ンタ１３８へ与えられて、プリセツト入力端子
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにおけるプリセツト・カウントを
カウンタ１３８にプリセツトさせる。第３図にお
いてはプリセツト・カウントの値は３である。カ
メラ掃引信号がカウンタ１３８に与えられると、
カウンタ１３８はカウンタ・クロツク信号に応答
して、カウント値が零になるまでカウント・ダウ
ンを行う。カウンタ１３８のカウント値が零にな
ると、カウンタ１３８はMAX／MIN出力端子に
信号を発生し、その信号をカウンタ１４０のクロ
ツク入力端子へ与える。そうすると、カウンタ１
４０のカウント値は、線１２２における極性論理
信号のレベルに従つて１カウントだけ増加または
減少させられる。
発明ではカメラ１０の少くとも１個のフオトダイ
オード１００を「しやへい」することを必要とす
る。これは、カメラ１０の選択されたフオトダイ
オードを覆うことにより行われる。たとえば、第
２図においてフオトダイオード１００―１〜１０
０―５が覆われている様子が示されている。走査
器の各掃引の開始時にカメラ掃引信号が発生され
る。このカメラ掃引信号は線１６ｃを介してカウ
ンタ１３８へ与えられて、プリセツト入力端子
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにおけるプリセツト・カウントを
カウンタ１３８にプリセツトさせる。第３図にお
いてはプリセツト・カウントの値は３である。カ
メラ掃引信号がカウンタ１３８に与えられると、
カウンタ１３８はカウンタ・クロツク信号に応答
して、カウント値が零になるまでカウント・ダウ
ンを行う。カウンタ１３８のカウント値が零にな
ると、カウンタ１３８はMAX／MIN出力端子に
信号を発生し、その信号をカウンタ１４０のクロ
ツク入力端子へ与える。そうすると、カウンタ１
４０のカウント値は、線１２２における極性論理
信号のレベルに従つて１カウントだけ増加または
減少させられる。
フオトダイオード１０１―１に対応するカメラ
映像信号の発生直前にカメラの掃引が行われ、カ
ウンタ１３８のプリセツト入力が３にプリセツト
されるから、カウンタ１３８のカウント値が零に
なつた時にROM対数表１１２に供給されている
ある特定のカメラ映像信号がフオトダイオード１
００―３に一致する。フオトダイオード１００―
３により線１０９に与えられたオフセツト映像信
号Xoが零より大きいとすると、ROM対数表１１
２は極性論理信号を発生して、その信号を線１２
２を介してカウンタ１４０へ与えられ、そのため
にカウンタ１４０はカウンタ１３８からの
MAX／MIN出力信号に応答してカウント・アツ
プさせられる。このように、フオトダイオード１
００―３に対応するオフセツト映像信号の極性が
正であると、カウンタ１３８のMAX／MIN出力
のためにカウンタ１４０のカウント値が増加させ
られるために、オフセツト信号の値が増加させら
れる。これとは逆に、線１０９を介して与えられ
るオフセツト映像信号の極性が負の場合には、線
２２を介して与えられる極性論理信号のためにカ
ウンタ１４０のカウント値が減少させられるか
ら、オフセツト信号の値が減少させられる。
映像信号の発生直前にカメラの掃引が行われ、カ
ウンタ１３８のプリセツト入力が３にプリセツト
されるから、カウンタ１３８のカウント値が零に
なつた時にROM対数表１１２に供給されている
ある特定のカメラ映像信号がフオトダイオード１
００―３に一致する。フオトダイオード１００―
３により線１０９に与えられたオフセツト映像信
号Xoが零より大きいとすると、ROM対数表１１
２は極性論理信号を発生して、その信号を線１２
２を介してカウンタ１４０へ与えられ、そのため
にカウンタ１４０はカウンタ１３８からの
MAX／MIN出力信号に応答してカウント・アツ
プさせられる。このように、フオトダイオード１
００―３に対応するオフセツト映像信号の極性が
正であると、カウンタ１３８のMAX／MIN出力
のためにカウンタ１４０のカウント値が増加させ
られるために、オフセツト信号の値が増加させら
れる。これとは逆に、線１０９を介して与えられ
るオフセツト映像信号の極性が負の場合には、線
２２を介して与えられる極性論理信号のためにカ
ウンタ１４０のカウント値が減少させられるか
ら、オフセツト信号の値が減少させられる。
したがつて、走査器１４の掃引ごとに、Ａ／Ｄ
変換器１０８へ与えられる入力信号Xoの極性に
応じて、カウンタ１４０のカウント値が減少また
は増加させられる。比較回路１０２の最初のスタ
ート中には、線１３６に与えられたオフセツト信
号の大きさを暗信号レベルにするために所定回数
の掃引が要求される。その後で、オフセツト回路
１２４は選択された１個のフオトダイオードから
の暗信号レベルのモニタを継続し、それに従つて
カウンタ１４０のカウント値を更新する。そのカ
ウント値が最大許容カウント値に達したとする
と、カウンタ１４０はアース電圧に近いレベルの
MAX／MIN信号を発生して「オフセツト・バツ
ド」LED１４６を点灯し、線１３６に存在する
オフセツト信号が実際の暗信号レベルを正しく表
さないかも知れないことをオペレータに合図す
る。
変換器１０８へ与えられる入力信号Xoの極性に
応じて、カウンタ１４０のカウント値が減少また
は増加させられる。比較回路１０２の最初のスタ
ート中には、線１３６に与えられたオフセツト信
号の大きさを暗信号レベルにするために所定回数
の掃引が要求される。その後で、オフセツト回路
１２４は選択された１個のフオトダイオードから
の暗信号レベルのモニタを継続し、それに従つて
カウンタ１４０のカウント値を更新する。そのカ
ウント値が最大許容カウント値に達したとする
と、カウンタ１４０はアース電圧に近いレベルの
MAX／MIN信号を発生して「オフセツト・バツ
ド」LED１４６を点灯し、線１３６に存在する
オフセツト信号が実際の暗信号レベルを正しく表
さないかも知れないことをオペレータに合図す
る。
隣り合うピクセルの差を求める方法を本発明の
方法と比較すると、本発明の利点が容易にわか
る。隣り合うピクセルの差を求める方法において
は、比較信号はYo＝Xo−Xo-1である。したがつ
てXoの大きさが４で、Xo-1の大きさが３であれ
ば比較信号Yoは、与えられた照度に対して１に
等しい。しかし、照度が２倍になつたとすると、
比較信号の値は２となる。したがつて、ピクセル
の差を求める従来の方法においては、びんの内外
の周囲光を比較的一様に保つて、同じような欠陥
に対して同じような応答が得られるようにする。
本発明により、比較信号の値に影響を及ぼすこと
なしに、びんの内外の周囲光を徐々に変化でき
る。たとえば、本発明の方法において、信号Xo
とXo-1がそれぞれ４，３に等しいとすると、比
較信号Yoは3/4に等しくなる。同じ欠陥に対して
Xoの値が８、Xo-1の値が６となるように照度を
高くしたとしてもYoの値は依然として3/4に等し
い。このように、XoピクセルとXo-1ピクセルに
共通な周囲光レベルとは無関係に、本発明の方法
では同じ欠陥に対しては同じ比較信号値が得られ
ることになる。
方法と比較すると、本発明の利点が容易にわか
る。隣り合うピクセルの差を求める方法において
は、比較信号はYo＝Xo−Xo-1である。したがつ
てXoの大きさが４で、Xo-1の大きさが３であれ
ば比較信号Yoは、与えられた照度に対して１に
等しい。しかし、照度が２倍になつたとすると、
比較信号の値は２となる。したがつて、ピクセル
の差を求める従来の方法においては、びんの内外
の周囲光を比較的一様に保つて、同じような欠陥
に対して同じような応答が得られるようにする。
本発明により、比較信号の値に影響を及ぼすこと
なしに、びんの内外の周囲光を徐々に変化でき
る。たとえば、本発明の方法において、信号Xo
とXo-1がそれぞれ４，３に等しいとすると、比
較信号Yoは3/4に等しくなる。同じ欠陥に対して
Xoの値が８、Xo-1の値が６となるように照度を
高くしたとしてもYoの値は依然として3/4に等し
い。このように、XoピクセルとXo-1ピクセルに
共通な周囲光レベルとは無関係に、本発明の方法
では同じ欠陥に対しては同じ比較信号値が得られ
ることになる。
びんの内外の周囲光の影響を受けない比較方法
に加えて、本発明は、希望の比の計算がアナログ
比較回路のドリフトと、部品の値の変化の影響を
受けないように、比較回路中にデジタル回路も使
用する。更に、基本的なデジタル／オフセツト回
路が、Ａ／Ｄ変換器１８０の全レンジを利用でき
るように、入来アナログ・カメラ映像信号をオフ
セツトするのに効果的な手段が得られる。
に加えて、本発明は、希望の比の計算がアナログ
比較回路のドリフトと、部品の値の変化の影響を
受けないように、比較回路中にデジタル回路も使
用する。更に、基本的なデジタル／オフセツト回
路が、Ａ／Ｄ変換器１８０の全レンジを利用でき
るように、入来アナログ・カメラ映像信号をオフ
セツトするのに効果的な手段が得られる。
第３図に示す回路は引き続く２つのカメラ映像
信号の比を表す比較信号を発生するように構成さ
れている。しかし、ある場合には、引き続いてい
ないカメラ映像信号を比較したい場合もある。た
とえば、第４図は第３図の変更例を示すもので、
第２のラツチ１５０がラツチ１１０の出力端子と
ROM対数表１１６の入力端子の間に接続され
る。ラツチ１５０のクロツク（CLK）入力端子
は線１６ｂに接続されてカメラ・クロツク信号を
受ける。このような構成により、交互に発生され
たカメラ映像信号を、XoとXo―2の映像信号の比
を表す比較信号を発生することによつて、比較回
路は比較できる。
信号の比を表す比較信号を発生するように構成さ
れている。しかし、ある場合には、引き続いてい
ないカメラ映像信号を比較したい場合もある。た
とえば、第４図は第３図の変更例を示すもので、
第２のラツチ１５０がラツチ１１０の出力端子と
ROM対数表１１６の入力端子の間に接続され
る。ラツチ１５０のクロツク（CLK）入力端子
は線１６ｂに接続されてカメラ・クロツク信号を
受ける。このような構成により、交互に発生され
たカメラ映像信号を、XoとXo―2の映像信号の比
を表す比較信号を発生することによつて、比較回
路は比較できる。
隣り合う映像信号ではなくて１つおきの映像信
号を比較することにより得られる１つの利点は、
１つおきの映像信号を比較したことにより発生さ
れた比較信号が、検出した欠陥を一層正確に表す
ことができることである。たとえば、びんのある
特定のピクセルの所に石があるとすると、そのピ
クセルの検査から受けた光の量が減少する。しか
し、通常は、隣り合うピクセルの検査から受ける
光もその石の影響を受け、その光の量も通常の場
合よりは減少する。一方、石が含まれているピク
セルからピクセル２つ分だけ離れているピクセル
の検査から受ける光はその石による影響をあまり
大きくは受けない。したがつて、１つおきの映像
信号の比較の方がガラスに石が含まれていること
をより正確に反映することになる。
号を比較することにより得られる１つの利点は、
１つおきの映像信号を比較したことにより発生さ
れた比較信号が、検出した欠陥を一層正確に表す
ことができることである。たとえば、びんのある
特定のピクセルの所に石があるとすると、そのピ
クセルの検査から受けた光の量が減少する。しか
し、通常は、隣り合うピクセルの検査から受ける
光もその石の影響を受け、その光の量も通常の場
合よりは減少する。一方、石が含まれているピク
セルからピクセル２つ分だけ離れているピクセル
の検査から受ける光はその石による影響をあまり
大きくは受けない。したがつて、１つおきの映像
信号の比較の方がガラスに石が含まれていること
をより正確に反映することになる。
第３，４図に示されている部品は全て市販され
ているものである。Ａ／Ｄ変換器１０８は米国カ
リホルニア州レドンド・ビーチ（Redondo
Beach）所在のTRWプロダクツ（TRW
Products）のTDC―1001J型を使用でき、ラツチ
１１０，１３４，１５０としてはLS374ラツチを
使用でき、ROM対数表１１２，１１６としては
74S471PROMを使用でき、加算器１２６は74283
型４ビツト２進加算器で構成でき、ROM逆対数
表130としては2732A型EPROMを使用でき、カ
ウンタ１３８，１４０は74191型アツプ／ダウン
２進カウンタで構成できる。これらの部品は全て
テキサス・インスツルメンツ社（Texas
Instruments，Inc.）から入手できる。Ｄ／Ａ変
換器１４２としてはナシヨナル・セミコンダクタ
社（Natinal Semiconductors）のDAC1222 12
ビツトＤ／Ａ変換器を使用できる。
ているものである。Ａ／Ｄ変換器１０８は米国カ
リホルニア州レドンド・ビーチ（Redondo
Beach）所在のTRWプロダクツ（TRW
Products）のTDC―1001J型を使用でき、ラツチ
１１０，１３４，１５０としてはLS374ラツチを
使用でき、ROM対数表１１２，１１６としては
74S471PROMを使用でき、加算器１２６は74283
型４ビツト２進加算器で構成でき、ROM逆対数
表130としては2732A型EPROMを使用でき、カ
ウンタ１３８，１４０は74191型アツプ／ダウン
２進カウンタで構成できる。これらの部品は全て
テキサス・インスツルメンツ社（Texas
Instruments，Inc.）から入手できる。Ｄ／Ａ変
換器１４２としてはナシヨナル・セミコンダクタ
社（Natinal Semiconductors）のDAC1222 12
ビツトＤ／Ａ変換器を使用できる。
本発明は、２つの映像信号の比を表す比較信号
を得るために、１つの映像ピクセル信号の値を第
２の映像ピクセル信号の値で除する方法も含むも
のである。しかし、実用上の立場からは、広い範
囲の値をカバーできる比をとることは一般的に望
ましいことではない。このことは、アナログ信号
をデジタル信号に変換するために、レンジが限ら
れているＡ／Ｄ変換器を用いる場合にとくにそう
である。たとえば、分母が分子よりも非常に小さ
い場合にはその比は比較的大きくなる。したがつ
て、本発明の比較回路は、２つの映像信号のうち
の大きい方が分母にくる時の比を計算する装置を
含む。そうすると、比は１に等しいか、１より小
さくなる。これにより、本発明の方法をコンピユ
ータ制御デジタル回路に容易に適用できる。
を得るために、１つの映像ピクセル信号の値を第
２の映像ピクセル信号の値で除する方法も含むも
のである。しかし、実用上の立場からは、広い範
囲の値をカバーできる比をとることは一般的に望
ましいことではない。このことは、アナログ信号
をデジタル信号に変換するために、レンジが限ら
れているＡ／Ｄ変換器を用いる場合にとくにそう
である。たとえば、分母が分子よりも非常に小さ
い場合にはその比は比較的大きくなる。したがつ
て、本発明の比較回路は、２つの映像信号のうち
の大きい方が分母にくる時の比を計算する装置を
含む。そうすると、比は１に等しいか、１より小
さくなる。これにより、本発明の方法をコンピユ
ータ制御デジタル回路に容易に適用できる。
本発明の方法は、一連のデジタル化された映像
信号を発生するカメラにも容易に適用できる。そ
の場合には、第３図Ａ／Ｄ変換器１０８は不要で
あり、カメラの出力信号はラツチ１１０とROM
対数表１１２に直接与えることができる。
信号を発生するカメラにも容易に適用できる。そ
の場合には、第３図Ａ／Ｄ変換器１０８は不要で
あり、カメラの出力信号はラツチ１１０とROM
対数表１１２に直接与えることができる。
第１図は本発明の検査装置のブロツク図、第２
図は第１図のカメラユニツトと標本化器の詳しい
ブロツク図、第３図は第１図の比較回路のブロツ
ク図、第４図は第３図の回路の一部の別の実施例
のブロツク図である。 １０…カメラ、１８…検査装置インターフエイ
ス、５８…しきい値RAM、６０…ダイオード・
カウンタ、６４，１２６…加算器、１００…光検
出器、１０２…比較回路、１０８…Ａ／Ｄ変換
器、１１０，１３４，１５０…ラツチ、１１２，
１１６…ROM対数表、１３０…ROM逆対数表、
１３８，１４０…カウンタ、１４２…Ｄ／Ａ変換
器。
図は第１図のカメラユニツトと標本化器の詳しい
ブロツク図、第３図は第１図の比較回路のブロツ
ク図、第４図は第３図の回路の一部の別の実施例
のブロツク図である。 １０…カメラ、１８…検査装置インターフエイ
ス、５８…しきい値RAM、６０…ダイオード・
カウンタ、６４，１２６…加算器、１００…光検
出器、１０２…比較回路、１０８…Ａ／Ｄ変換
器、１１０，１３４，１５０…ラツチ、１１２，
１１６…ROM対数表、１３０…ROM逆対数表、
１３８，１４０…カウンタ、１４２…Ｄ／Ａ変換
器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 物体上のある特定の検査点から受けた光の量
に比例する大きさをそれぞれ有する一連の複数の
アナログ映像信号を発生するためのカメラと、前
記複数のアナログ映像信号のうちの２つの映像信
号の大きさを比較するための比較信号を発生し、
この動作を順次前記２つの映像信号の異なる組に
ついて繰り返す回路と、 を含む、物体中の欠陥を検出する欠陥検出装置に
おいて、 前記回路は、前記２つの映像信号の大きさの値
をデジタル形式に変換する変換器と、デジタル化
された前記２つの映像信号の大きさの比を表わす
大きさを有する比較信号を発生する比較器と、そ
の比較信号としきい値との大小を比較して欠陥の
有無を検出する欠陥検出手段と、を備えるもので
あることを特徴とする欠陥検出装置。 ２ 特許請求の範囲第１項記載の装置であつて、
前記比較信号は１に等しいか、１より小さい値を
有する比をもつて発生されることを特徴とする装
置。 ３ 特許請求の範囲第１項記載の装置であつて、
比較される２つのアナログ映像信号は物体上の隣
接する検査点から受けた光を表すことを特徴とす
る装置。 ４ 特許請求の範囲第１項記載の装置であつて、
比較される２つのアナログ映像信号は物体上の隣
接しない検査点を表すことを特徴とする装置。 ５ 特許請求の範囲第１項記載の装置であつて、
２つのデジタル化された映像信号のうちの一方を
格納するための要素を含むことを特徴とする装
置。 ６ 特許請求の範囲第１項記載の装置であつて、
前記比較信号を発生する前記比較器は、前記２つ
のデジタル化された映像信号の一方に応答してそ
の一方の映像信号の値の対数を表す第１の対数信
号を発生する第１のROM対数表と、前記２つの
デジタル化された映像信号の他方に応答してその
他方の映像信号の値の対数を表す第２の対数信号
を発生する第２のROM対数表と、前記第１と第
２の対数信号に応答してそれら第１と第２の対数
信号の値の差を表す出力信号を発生する要素と、
前記出力信号に応答して前記比較信号を発生する
ROM逆対数表とを備えることを特徴とする装
置。 ７ 特許請求の範囲第１項記載の装置であつて、
出力信号を発生する前記要素は前記第１と第２の
対数信号の値の負の差を表す大きさの前記出力信
号を発生することを特徴とする装置。 ８ 特許請求の範囲第１項記載の装置であつて、
前記一連の映像信号に応答してその一連の映像信
号の暗信号の大きさを表すオフセツト信号を発生
するオフセツト要素を含むことを特徴とする装
置。 ９ 特許請求の範囲第８項記載の装置であつて、
前記オフセツト信号に応答して前記暗信号の大き
さによりアナログ映像信号をオフセツトする要素
を含むことを特徴とする装置。 １０ 特許請求の範囲第８項記載の装置であつ
て、前記一連のアナログ映像信号のうち少なくと
も選択された１つが前記暗信号の大きさで発生さ
れ、前記オフセツト要素は、前記選択された１つ
のアナログ映像信号に応答して前記暗信号の大き
さを表す値を格納する要素を含むことを特徴とす
る装置。 １１ 特許請求の範囲第１０項記載の装置であつ
て、前記格納する要素は、前記選択された１つの
デジタル映像信号に応答して前記暗信号の大きさ
を表す信号を格納するカウンタであることを特徴
とする装置。 １２ 特許請求の範囲第１１項記載の装置であつ
て、前記オフセツト要素はＤ―Ａ変換器を含み、
前記オフセツト信号をアナログ形式で発生するた
めにこのＤ―Ａ変換器の入力端子は前記カウンタ
の出力端子へ接続されることを特徴とする装置。 １３ カメラによつて発生させた、物体上のある
特定の検査点から受けた光の量に比例する大きさ
をそれぞれ有する一連の複数のアナログ映像信号
に基づいて、物体中の欠陥を検出する欠陥検出方
法であつて、 (a) アナログ映像信号のうちの２つの映像信号を
デジタル形式に変換する過程と、 (b) 前記２つのデジタル化された映像信号の値の
比を決定する過程と、 (c) 前記比に等しい大きさの比較信号を発生する
過程と、 (d) 前記(a)〜(c)の過程を順次２つのアナログ映像
信号の異なる組について繰り返す過程と、 (e) 前記各比較信号としきい値とを比較して、欠
陥の有無を検出する過程と、 を備えることを特徴とする物体中の欠陥を検出す
る欠陥検出方法。 １４ 特許請求の範囲第１３項記載の方法であつ
て、過程(b)は１より小さいか、１に等しい値であ
る前記比を決定することにより行われることを特
徴とする方法。 １５ 特許請求の範囲第１４項記載の方法であつ
て、過程(b)は、 (b1) ２つのデジタル化された映像信号の値の対
数を決定する過程と、 (b2) ２つの対数値の間の負の差の値を決定する
過程と、 (b3) 前記負の差の値の指数をとつて比を決定す
る過程と、 を備えることを特徴とする方法。 １６ 特許請求の範囲第１３項記載の方法であつ
て、２つのアナログ映像信号の値を一連の映像信
号の暗信号の大きさを表す量だけオフセツトする
過程を含むことを特徴とする方法。 １７ 特許請求の範囲第１３項記載の方法であつ
て、比較される前記２つの映像信号は物体上の隣
り合う検査点から受けた光の量を表すことを特徴
とする方法。 １８ 特許請求の範囲第１３項記載の方法であつ
て、比較される前記２つの映像信号は物体上の隣
り合わない検査点から受けた光の量を表すことを
特徴とする方法。 １９ 検査物から受けた光の量に比例する大きさ
を有する別々の映像信号をそれぞれ発生する複数
の光検出器を有するカメラと、それらの光検出器
のうちの少なくとも１つを覆つて暗信号としての
選択映像信号を発生する要素と、前記選択映像信
号に応答して暗信号の大きさを表すオフセツト信
号を発生するオフセツト要素と、前記オフセツト
信号に応答して前記各映像信号の値を暗信号の大
きさを表す量だけオフセツトする要素と、それら
のオフセツト済映像信号のうちの２つのものの大
きさの比を表す大きさを有する比較信号を発生す
る比較器と、その比較信号としきい値との大小を
比較して欠陥の有無を検出する欠陥検出手段と、
を含むことを特徴とする欠陥検出装置。 ２０ カメラにおける複数の光検出器によつて、
検査物から受けた光の量に比例する大きさを有す
る別々の映像信号をそれぞれ発生させて検査物の
欠陥を検出する方法であつて、 (a) 選択された少なくとも１つの光検出器を覆つ
て暗信号としての選択映像信号を発生させる過
程と、 (b) 前記選択映像信号に応答して暗信号の大きさ
を表わすオフセツト信号を発生する過程と、 (c) 暗信号の大きさを表す量だけ各映像信号をオ
フセツトする過程と、 (d) それらのオフセツト済映像信号のうちの２つ
のものの大きさの比を表わす大きさを有する比
較信号を発生する過程と、 (e) 前記各比較信号としきい値とを比較して、欠
陥の有無を検出する過程と、 を備えることを特徴とする欠陥検出方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US323793 | 1981-11-23 | ||
| US06/323,793 US4432013A (en) | 1981-11-23 | 1981-11-23 | Method and apparatus for comparing data signals in a container inspection device |
Publications (2)
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|---|---|
| JPS5892068A JPS5892068A (ja) | 1983-06-01 |
| JPH0225221B2 true JPH0225221B2 (ja) | 1990-06-01 |
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| JP57189395A Granted JPS5892068A (ja) | 1981-11-23 | 1982-10-29 | 欠陥検出装置及び欠陥検出方法 |
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