JP2557097B2 - 放射輪郭線の検出システム - Google Patents

放射輪郭線の検出システム

Info

Publication number
JP2557097B2
JP2557097B2 JP63505864A JP50586488A JP2557097B2 JP 2557097 B2 JP2557097 B2 JP 2557097B2 JP 63505864 A JP63505864 A JP 63505864A JP 50586488 A JP50586488 A JP 50586488A JP 2557097 B2 JP2557097 B2 JP 2557097B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detection system
level
detection
output signal
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP63505864A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH03501880A (ja
Inventor
オーメン,ゲイスバート・ローレンス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
OPUTEITSUSHE IND DE ODE DERUFUTO BV
Optische Industrie de Oude Delft NV
Original Assignee
OPUTEITSUSHE IND DE ODE DERUFUTO BV
Optische Industrie de Oude Delft NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by OPUTEITSUSHE IND DE ODE DERUFUTO BV, Optische Industrie de Oude Delft NV filed Critical OPUTEITSUSHE IND DE ODE DERUFUTO BV
Publication of JPH03501880A publication Critical patent/JPH03501880A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2557097B2 publication Critical patent/JP2557097B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N3/00Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
    • H04N3/10Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical
    • H04N3/14Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by means of electrically scanned solid-state devices
    • H04N3/15Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by means of electrically scanned solid-state devices for picture signal generation
    • H04N3/1575Picture signal readout register, e.g. shift registers, interline shift registers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/024Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/713Transfer or readout registers; Split readout registers or multiple readout registers
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、M行N列の感光検出素子のマトリックス、
これら検出素子の出力信号をクロック信号の制御下でシ
フトする手段、および1つの入力が関連する検出素子と
常に接続されておりかつレベル検出器回路を含む読出し
回路、からなる放射輪郭線の検出システムに関するもの
である。
放射輪郭線を観察するシステムは、とりわけ、ある輪
郭を第1の角度で扇状光線により照射する間、この照射
した輪郭をその第1の角度と異なる第2の角度から検出
システムにより観察する、という三角測量において使用
されている。このような方法で観察する輪郭線は、その
輪郭における絶対距離の計算を可能にするものである。
その輪郭線を観察するためには、テレビジョン・カメ
ラか、あるいは感光素子の行列をなすマトリックスを含
む2次元の検出器かでなる検出システムを使用すること
ができる。テレビジョン・カメラおよびその現在ある2
次元検出器の短所は、画素即ち検出素子がライン毎ある
いは行単位で順次読出さねばならず、これが1秒当たり
に観察できる輪郭の数を通常のラスタ速度に制限してし
まうことである。このように、M×Nの感光素子のマト
リックスによる1読出しサイクル当たり、M×N個の読
出しが必要となる。
オランダ国特許出願第8,500,600号は、この問題につ
いて認識した検出システムを提供している。この特許出
願によれば、この問題に対する解決法が、諸列の感光検
出素子を使用するのではなく、列状に相互に平行に置い
た多数のいわゆる「位置感応性デバイス(PSD)」を使
用することにより与えられており、このようなPSDは、
光線が入射していることのPSD上の位置の測定である出
力信号を発生するようになっている。前記出力信号は、
補助的な計算により判定される。N個のPSDの場合の前
記公知の検出システムでは、N回、即ちPSD当たり1回
の連続する読出しにより輪郭線の変化に関する完全な情
報を得ることが可能であるが、PSDの使用もまた多くの
短所を有している。第一に、より高い周波数で必要とす
る上記補助的計算を実現することが困難であること、ま
たそのような計算の実現に要求される複雑な電子装置の
ため高コストとなってしまうことである。第二に、PSD
の出力信号は、このようなPSDの構造の故に多量の熱ノ
イズを含んでいることである。この熱ノイズあるにもか
かわらず充分に高い信号/ノイズ比を達成するために
は、充分な光量がPSDを含む検出システムに到達するよ
うに、高レベルの光を使用することが必要である。更に
また、PSDからの信号を処理するため必要な電子装置
は、適当な高さの解像度および適当な高さのダイナミッ
ク・レンジが要求される場合は、実現できないかもしく
はできたとしても非常に高いコストによってのみ可能で
ある。
ヨーロッパ特許出願第0,181,553号もまた、観察され
た輪郭線を高速で読出すことを可能にするよう意図した
放射輪郭線の検出システムについて記載している。この
目的のため、輪郭線の観察システムが提供されており、
これにおいて検出システムが観察する扇状のビームによ
り生成された全体的な輪郭線ではなく、観察すべき輪郭
に対する細い光線により投射された連続的な光点から構
成される輪郭線である。観察するべき輪郭により反射さ
れたそれら光点は、多数の、例えば8個の長方形の検出
器素子からなる検出システム上に円筒状レンズを介して
線としてイメージ化される。この検出器素子の各々は、
連続したそれら素子が2進コード化信号を生じるようマ
スクされるようになっている。このようなマスクされた
ある検出器素子が受取る光の量が、ある閾値を越える
(各検出器素子と接続されたレベル検出器により判定さ
れる)場合、このことはその関連の検出器素子の出力信
号が論理「1」であることを意味する。このように、検
出システムの出力信号が即座にディジタル形態で得ら
れ、その結果前記信号の処理が非常に高速となり得る。
もし上記の細い光線を発生するのに用いるレーザ源のパ
ワーが充分な高さであるならば、数MHzの走査速度が前
記公知の検出システムにより達成可能である。
それにも拘わらず、前記公知の検出システムには多く
の欠点がある。即ち、種々の長方形の検出器素子上に反
射光線を分散する間、それら素子上において照明強度を
充分でかつ均一に配分されるようにするためには、その
所要のレーザー・パワーは非常に高くなければならな
い。もし2つの隣接する検出器素子が共に「1」の出力
信号を生じる程多くの光を受取るように光のスポットが
検出器素子上に入射する場合、得られる出力信号もまた
実際の状態を全く不正確に再現することになる。
ヨーロッパ特許出願第0,157,141号もまた、観察した
輪郭線を高速で読出すことを可能にするよう意図した放
射輪郭線検出システムについて記載している。この目的
のため、全ての行は、最後の列において同時に読出され
る。この最後の列に存在する情報が読出された後、全て
の行内の情報が列単位で行方向にシフトされる。各行に
対して、輪郭が存在していた検出素子の位置が記憶素子
に格納される。全ての記憶素子がこの情報で充填された
後、これら情報は輪郭が存在していた全ての検出素子の
位置を判定するため読出されるようになっている。
本発明の目的は、公知の諸システムの短所を持たない
検出システムを提供し、それによって、例えば輪郭線を
公知の諸システムを用いて観察できる速度と少なくとも
等しい速度で輪郭線の観察が可能であるにも拘わらず、
補助的計算および(または)強力なレーザー・パワーの
ための高価な電子装置が不要であるようにし、また更
に、目的として不正確な測定結果の可能性を著しく排除
することにある。
この目的のため、本発明は上記のタイプのシステムを
提供するものであり、これにおいては、読出し回路が、
各列のM番目の検出素子と接続されておりかつそれぞれ
各列と対応するN個の出力を有したレベル検出器回路を
含んでおり、またレベル検出器回路の出力が最大量の光
を受取ったM番目の行内の素子の位置を表わすディジタ
ル・コードを発生することができる回路と接続されてい
る。
本発明は、2次元の検出システムにより輪郭線を観察
する際、各行の検出素子内の唯一つの素子が観察すべき
輪郭線から光を受取り、一方その他の検出素子は光を全
く受取らないかあるいは少なくとも非常に微量の光しか
受取らない、という概念に基づくものである。従って、
行単位でその行内の全検出素子について同時に、どの素
子が閾値を越える出力信号を発生しているかを判定する
ことにより、その素子をディジタル・コードにより示
し、そしてこのコードにより1つの行内のどの検出素子
が、一連の順次のディジタル・コード信号により反映さ
れる最大量の光を受取ったかを行単位で決定することが
可能である。このように、輪郭線のパターンが、従来の
検出システムの場合における如きM×N個の出力による
のではなく、M個の読出しによりM行N列の検出素子を
含むマトリックスにおいて決定することができる。
以下に、本発明を、実施例に基づいて図面を参照しな
がら更に詳細に説明する。図面において、 第1図は、本発明による検出システムを示す概略図、
および第2図は、1つの行内の2つの感光素子が閾値を
越える量の光を受取る場合に、信頼し得る測定結果を得
るための、第1図によるシステムの拡張を示す図であ
る。
(実施例) 第1図は、放射輪郭線を観察するための検出システム
の構造を略図的に示している。本発明の原理はM行(M
=任意の整数)およびN列(N=任意の整数)を含むマ
トリックスに適用し得るものであるが、本実施例は、判
り易くするため、8行8列を含むマトリックスに基いて
記述する。しかし、これが限定と見做されるべきでない
ことに注意されたい。
本システムは、それぞれ8つの行1a乃至1hの感光素子
と、8つの列2a乃至2hの感光素子とからなっている。従
って、本検出システムは、8×8個の感光素子からなっ
ている。1つの特定の列の8つの感光素子の各々からの
信号は、読出しゲート電極の制御下で、前記列と関連す
る縦方向のCCDシフト・レジスタ3a乃至3hに対して運転
することができる。クロック信号は、それ自体公知の方
法でバス4を介して前記シフト・レジスタ3a乃至3h、お
よび読出しゲート電極に対して送られる。8番目の行で
は、各列のシフト・レジスタの最後のCCD素子が、このC
CD素子内の電荷をそれ自体公知の方法で対応する電圧へ
変換するため、図示しない回路に接続されている。各列
と関連するこの電荷/電圧コンバータの出力信号は、関
連するレベル検出器5a乃至5hの第1の入力端子にそれぞ
れ接続されている。各レベル検出器は第2の入力端子を
含み、この全ての第2の入力端子は相互に接続され、そ
して基準電圧Urefに接続されている。レベル検出器5
は、それ自体公知の方法で、第1の入力端子の信号がU
refより高い場合に「1」の出力信号を送出し、また第
1の入力端子の信号がUrefより低い場合に「0」の出力
信号を送出するように構成されている。
レベル検出器5a乃至5hの出力端子は、本実施例におい
ては8つの入力端子6a乃至6hおよび3つの出力端子7a乃
至7hからなるダイオード・マトリックスに接続されてい
る。このダイオード・マトリックスは、それ自体公知の
形態で構成され、検出器5aの出力の「1」出力信号が前
記ダイオード・マトリックスの出力端子7a乃至7cに対し
2進数000の信号を送出し、また検出器5hの出力の
「1」出力信号が出力端子7a乃至7cに対し2進数111の
信号を送出するように、入力端子6a乃至6hを介して各々
のレベル検出器5a乃至5hに接続されている。レベル検出
器5b乃至5gの出力の「1」出力信号は、中間の2進数信
号を出力端子7a乃至7cへ送出し、従って例えばレベル検
出器5fについては信号101である。
このように、第1図の検出システムによれば、各行の
全体について、どの感光素子が「1」信号(素子が光を
受取ったことを示す)を関連するレベル検出器を介して
送出しているかを判定することが可能である。その結
果、M行N列を含むマトリックスを、公知の検出システ
ムにおけるM×N個のステップの代わりに、M個のステ
ップからなる1サイクルにて読出すことができるのであ
る。
それ自体公知の方法で例2a乃至2h内の感光素子の機能
を列3a乃至3h内の関連するシフト・レジスタ素子の機能
と組合わせることが常に可能であるが、感光素子がシフ
ト・レジスタとは別個である第1図に略図的に示した構
造を使用することが望ましい。何故なら、このような形
態では、電荷の移動中、干渉信号の可能性が最も低いた
めであり、この結果、第1図に線Aで略図的に示した放
射輪郭線の変化の最も正確な表示が得られる。第1図に
示した回路全体が半導体基板上に集積されることが望ま
しいことは明らかであろう。
本発明の検出システムによる輪郭線の観察においてで
きるだけ妨害周囲光の効果を抑制するためには、観察す
べき輪郭を扇状に照射するように閃光を用いることが望
ましく、マトリックス状の感光性の検出素子は、このよ
うな閃光の間のみ受取る光の量に比例した出力信号を発
生するように、クロック・パルスによって付勢される。
もし鏡面反射が起きたならば、感光素子内の電荷の量
は高い値に達することがある。このような感光素子から
隣接して置かれた感光素子に対し電荷が溢れ出ることを
防止するために、ブルーミング防止電極が設けられてい
る。この結果として、1つの行内の1つより多い感光素
子が電荷溢れの結果としてUrefよりも高い出力信号を送
出する可能性が低減される。
もし何等らの理由から、1つの行内の2つ又はそれ以
上の感光素子が、1つの輪郭線の観察中、Urefより高い
出力信号を送出して、いくつかのレベル検出器5が
「1」の出力信号を発生する場合、その結果何らの措置
が講じられなければ、完全に不正確な測定結果をもたら
すことになる。
このような障害を排除することが可能な第1の方法を
第1図に示してある。この目的のため、1つのダイオー
ド(8a乃至8h)および1つの抵抗(9a乃至9h)の直列回
路の1つの端子が、レベル検出器5a乃至5hの各々の各出
力端子と接続され、この直列回路の他の端子は、常に他
の直列回路の対応する端子とおよびレベル検出器10の第
1の入力と接続されている。このように、諸レベル検出
器の出力信号が加算され、この加算された信号が、レベ
ル検出器10により「1」信号レベルに等しい第2の基準
電圧U2refと比較される。もしいくつかのレベル検出器
5が「1」信号を発生する場合、レベル検出器10もまた
「1」信号を発生し、これはこの時、各1行に関するい
くつかのレベル検出器の「1」出力信号の結果として不
正確な測定の表示となる。
もし1つの行内の2つの感光素子が関連するレベル検
出器5を介して「1」信号を発生する場合、本発明の望
ましい実施例によれば、不明確でない方法で信頼し得る
測定値信号へ変換することが可能であり、これにより例
えば1つの行の感光要素の照射の実際の重心が2つのこ
のような素子の間にあることを判定することが可能であ
る。
第2図は、このような測定を可能にするため、第1図
によるダイオード・マトリックスが拡張されるべき方法
を略図的に示している。このダイオード・マトリックス
しか示していないが、その理由は、感光素子のマトリッ
クス構造およびそのレベル検出器5との接続が第1図の
システムにおけるのと同じであるからである。
さて、このダイオード・マトリックスは、3つの出力
端子7a乃至7cの代わりに、6つの出力端子7a乃至7fを含
んでいる。入力端子6a乃至6hは、第1図の実施例におけ
るのと同じ方法でダイオード・マトリックスのダイオー
ドを介して出力端子7a乃至7cと接続されている。しか
し、出力端子7d乃至7fは、このダイオード・マトリック
スのダイオードを介して入力端子6a乃至6hに対して、端
子7a乃至7cにおける出力信号と相補的な出力信号をこれ
ら端子が生じるように接続されている。このため、出力
端子7d乃至7fは、レベル検出器5hが「1」出力信号を発
生する場合に000の2進信号を、またレベル検出器5aが
「1」出力信号を発生する場合に111の信号を発生す
る。
例示として、レベル検出器5bおよび5eが観察した放射
輪郭線の結果として「1」出力信号を発生するものと仮
定する。もし出力端子7a乃至7cからの出力信号のみが使
用されるものとすれば、2進信号100がレベル検出器5b
を介して得られ、信号001がレベル検出器5eを介して得
られることになり、その結果、端子7a乃至7cの総合的な
2進数の出力信号が101となり、これは、レベル検出器5
fが「1」出力信号を発生していることを示すことにな
る。これは、明らかに完全に不正確であり、信頼できな
い測定結果である。
しかし、第2図の実施例において付加されたダイオー
ド・マトリックスの上記部分の出力線7d乃至7fは、レベ
ル検出器5bの「1」出力信号に対しては011の2進出力
信号を、またレベル検出器5eの「1」出力信号に対して
は110の信号を発生する。線7d乃至7fにおける総合的な
出力信号は、これら2つの信号の和、即ち2進信号111
である。これは、レベル検出器5aが「1」出力信号を発
生していることを表わしており、そしてこれもまた不正
確な測定結果を構成している。
しかし、もし端子7a乃至7cの2進数出力信号および端
子7d乃至7fの2進数出力信号を別々にこれら信号の平均
値を決定するように構成した回路11へ送るならば、回路
11の出力信号は、実際に行1a内の感光素子の列2bと感光
素子の列2eとの間の幾何学的中心を正確に表わすことが
判る。この平均の場合は、2進数出力信号は、感光素子
1cと1dとの間の位置を表わし、これは実際には列2bと2e
との間の幾何学的中心である。
端子7a乃至7cおよび端子7d乃至7fの2進コードを加え
ることにより2進信号が得られ、これがこの平均値プラ
ス追加の情報の1ビットを再現し、従ってこれにより2
つの列間の位置が示される。端子7a乃至7cのものと相補
的な2進出力信号を発生する3つの出力端子をもった別
のダイオード・マトリックスを付加することにより、も
し1つの行内の2つの感光素子が同時に照射される場合
に、これら2つの感光素子間の中心に関する信頼し得る
情報を得ることが可能である。
もし第2図によるそのような付加的ダイオード・マト
リックスを設ける場合、レベル検出器10の基準電圧U
2refを調整することにより、1つの行内の3つ以上の感
光素子が、その関連するレベル検出器を介して「1」出
力信号を発生する場合に、レベル検出器10が故障信号し
か発生しないようにできる。何故なら、その追加のダイ
オード・マトリックスにより、そのような多数照射が、
信頼し得る測定信号を結果としてもたらすことがないか
らである。
しかし原理的には、更に複雑なダイオード・マトリッ
クスおよび複雑なロジック処理を使用することにより、
同時に照射された1つの行内の3つ以上の感光素子でも
信頼し得る出力信号を得ることもまた可能である。
多数行の感光素子を含む実施例について以上に記述し
たが、本発明が基く原理は、同じ効果を以て唯一の行の
感光素子の場合にも適用することができる。このとき、
その行全体は、レベル検出器およびダイオード・マトリ
ックスにより並行的に常に読出される。このような検出
器は、観察すべき輪郭を扇形状の光線ではなく点状の光
線を用いて照射し、そして放射輪郭線を連続的な反射光
点から構成するようになった、ヨーロッパ特許出願第0,
181,553号に記載されたタイプの放射輪郭線観察システ
ムにおいて用いることができる。1行の感光素子を含む
本発明によるこのシステムにより、達成可能な読出し周
波数は、前記ヨーロッパ特許出願によるシステムにおけ
るのと全く同じ高さとなる。しかし、高パワーのレーザ
ー光源は不要である一方で、行内の2つの感光素子の同
時の照射の場合であっても、第2図に示したダイオード
・マトリックスの拡張を用いるならば、信頼し得る出力
信号を常に得ることが可能である。
1行の感光素子の場合およびいくつかの行の感光素子
の場合の双方において、本発明によるシステムを用いれ
ば「1」出力信号を関連するレベル検出器へ送出してい
る感光素子の実際のレベルを簡単な方法で決定すること
が可能である。これは、全てのレベル検出器の第1の入
力端子に走査線を常開スイッチを介して常に接続し、前
記の「1」の出力信号を発生するレベル検出器の第1の
入力端子に属するそのスイッチを閉じるようにすること
によって可能であり、その閉成は関与するレベル検出器
の「1」出力信号の制御下で生じ得る。
レベル検出器5a乃至5hおよび基準電圧UREFは、一緒に
なってレベル検出器回路を形成しており、この回路は、
各列のM番目の検出素子と接続され、そして各々が各列
と対応するN個の出力を有している。しかし、このよう
なレベル検出回路の上述の実施例が唯1可能なものでは
ない。N個の入力およびM個の出力を持つレベル検出器
回路の別の実施例は、「Scientific American」第257
号、1987年12月号、62乃至70頁に記載のいわゆるn−フ
ロップを使用するものである。正しい接続ネットワーク
を選択することにより、唯1つの出力信号が「1」の状
態に駆動され、他の全ての出力信号は「0」の状態に駆
動されることになる。このようなn−フロップは、感光
性素子と同じチップ上にうまく集積することができ、非
常にコンパクトな検出器を作ることができる。別の利点
は、M番目の行の諸出力信号が相互にのみ比較される故
に、特定の基準電圧レベルUREFを前もって選択する必要
がないことである。
最後に、本発明による検出システムがCCDの使用に限
定されないという事実に注意されたい。本原理はまた、
フォトダイオードがX線アドレス指定により読出すこと
ができるようになった2次元フォトダイオード・アレイ
の場合にも適用することができる。

Claims (9)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】M行(1a,…,1h)N列(2a,…,2h)の感光
    検出素子を含むマトリックスと、制御クロック信号
    (4)の下で前記検出素子の出力信号をシフトする手段
    と、1つの入力が常に関連する検出素子と接続されてお
    りかつレベル検出回路(5)を含んでいる読出し回路
    (5,6,7)と、から成る放射輪郭線(A)の検出システ
    ムにおいて、前記シフト手段は、前記検出素子の出力信
    号を行単位で列方向にシフトし、また前記読出し回路の
    前記1つの入力が前記レベル検出回路(5)を含んでお
    り、また前記レベル検出回路は、各列のM番目の検出素
    子に接続されており、また前記レベル検出回路は各々が
    各列と対応するN個の出力(6a,…,6h)を有しており、
    また前記レベル検出回路の出力が、前記M番目の行(1
    a)内の最大量の光を受取った素子の位置を表わすディ
    ジタル・コードを発生することができる回路に接続され
    ていること、を特徴とする検出システム。
  2. 【請求項2】ディジタル・コードを発生できる前記の回
    路がダイオード・マトリックスであり、その入力数が該
    マトリックス内の列数と対応し、かつその出力数が該列
    数の2進コード化に必要なビット数と対応しているこ
    と、を特徴とする請求項1記載の検出システム。
  3. 【請求項3】前記レベル検出回路の出力(6)には、第
    1のダイオード・マトリックスの入出力数と等しい入出
    力数を有する別のダイオード・マトリックスが接続さ
    れ、該別のダイオード・マトリックスは、前記第1のダ
    イオード・マトリックスの出力信号と相補的な2進出力
    信号を発生するように構成されていること、を特徴とす
    る請求項2記載の検出システム。
  4. 【請求項4】前記第1のダイオード・マトリックスの2
    進出力信号と第2のダイオード・マトリックスの2進出
    力信号との間の平均値を決定する手段(11)が設けられ
    ていること、を特徴とする請求項3記載の検出システ
    ム。
  5. 【請求項5】前記レベル検出回路がn−フロップからな
    ることを特徴とする請求項1記載の検出システム。
  6. 【請求項6】前記レベル検出回路が各列に対し1つのレ
    ベル検出器(5)からなることを特徴とする請求項1記
    載の検出システム。
  7. 【請求項7】全てのレベル検出器の出力信号を加算する
    手段(8,9)が設けられており、該加算された信号を基
    準電圧(U2ref)と比較する別のレベル検出器(10)が
    設けられていること、を特徴とする請求項6記載の検出
    システム。
  8. 【請求項8】前記基準電圧が、前記例と接続された前記
    レベル検出器の高出力信号と実質的に等しいこと、を特
    徴とする請求項7記載の検出システム。
  9. 【請求項9】行の数が1に等しいことを特徴とする請求
    項1乃至8のいずれかに記載の検出システム。
JP63505864A 1987-08-05 1988-07-07 放射輪郭線の検出システム Expired - Lifetime JP2557097B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8701847A NL8701847A (nl) 1987-08-05 1987-08-05 Detectiestelsel voor een stralingsprofiellijn.
NL8701847 1987-08-05

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03501880A JPH03501880A (ja) 1991-04-25
JP2557097B2 true JP2557097B2 (ja) 1996-11-27

Family

ID=19850418

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63505864A Expired - Lifetime JP2557097B2 (ja) 1987-08-05 1988-07-07 放射輪郭線の検出システム

Country Status (7)

Country Link
US (1) US5210402A (ja)
EP (1) EP0379486B1 (ja)
JP (1) JP2557097B2 (ja)
KR (1) KR960013679B1 (ja)
DE (1) DE3865020D1 (ja)
NL (1) NL8701847A (ja)
WO (1) WO1989001129A1 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3805548A1 (de) * 1988-02-23 1989-08-31 Thiedig Ullrich Optische fernmesseinrichtung
NL8801342A (nl) * 1988-05-25 1989-12-18 Imec Inter Uni Micro Electr Stralingsopnemer.
DE4027732A1 (de) * 1990-09-01 1992-03-05 Thiedig Ullrich Kamerachip fuer eine punktfoermige ereignisse erfassende und auswertende kamera
US5294803A (en) * 1991-12-30 1994-03-15 Tandberg Data A/S System and a method for optically detecting an edge of a tape
US5554858A (en) * 1994-09-22 1996-09-10 Robotic Vision Systems, Inc Segmented position sensing detector for reducing non-uniformly distributed stray light from a spot image
WO2000059211A1 (en) 1999-03-31 2000-10-05 The Regents Of The University Of California Multi-channel detector readout method and integrated circuit
US8066700B2 (en) * 2003-01-31 2011-11-29 Smith & Nephew, Inc. Cartilage treatment probe
FR2986352B1 (fr) * 2012-01-30 2014-02-14 Soc Fr Detecteurs Infrarouges Sofradir Procede de recherche de pixels dans une matrice et circuit mettant en oeuvre le procede

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3894230A (en) * 1973-10-25 1975-07-08 Coherent Radiation Apparatus for detecting the position of a moving or modulated light beam
CA1082811A (en) * 1976-04-05 1980-07-29 Greenwood Mills, Inc. Diffraction pattern amplitude analysis for use in fabric inspection
US4322752A (en) * 1980-01-16 1982-03-30 Eastman Technology, Inc. Fast frame rate sensor readout
JPS58127132A (ja) * 1982-01-25 1983-07-28 Asahi Optical Co Ltd 光検出装置
FR2560472B1 (fr) * 1984-02-23 1987-08-21 Proge Dispositif de releve de profil rapide

Also Published As

Publication number Publication date
NL8701847A (nl) 1989-03-01
EP0379486B1 (en) 1991-09-18
KR890701988A (ko) 1989-12-22
EP0379486A1 (en) 1990-08-01
WO1989001129A1 (en) 1989-02-09
KR960013679B1 (ko) 1996-10-10
JPH03501880A (ja) 1991-04-25
DE3865020D1 (de) 1991-10-24
US5210402A (en) 1993-05-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11796648B2 (en) Multi-channel lidar illumination driver
US7202898B1 (en) Self gating photosurface
CN110596725B (zh) 基于插值的飞行时间测量方法及测量系统
US4522492A (en) Distance measuring device
US4794262A (en) Method and apparatus for measuring profile of three-dimensional object
CN110596722A (zh) 直方图可调的飞行时间距离测量系统及测量方法
US4523229A (en) Shading correction device
US20020100862A1 (en) Multiplexed and pipelined column buffer for use with an array of photo sensors
JP2557097B2 (ja) 放射輪郭線の検出システム
US4218673A (en) Pattern matching method and such operation system
JP2581863B2 (ja) 立体形状計測装置及び立体形状計測用センサ
CN110780312A (zh) 一种可调距离测量系统及方法
US4668084A (en) Distance measuring equipment
JP2003247809A (ja) 距離情報入力装置
JPS6357721B2 (ja)
US4640613A (en) Image data comparison circuit for rangefinders
US5892985A (en) Eye ball detecting device
JP3122732B2 (ja) 読出し装置および距離測定装置
US4192015A (en) Optical image sensor semiconductor apparatus
JP3042643B2 (ja) 固体撮像装置及び固体撮像装置の駆動方法
US5773809A (en) Optical code reading apparatus
JPH05248838A (ja) イメージセンサ
JPS62138715A (ja) 変位の測定方法および装置
SU824189A1 (ru) Устройство дл вывода информацииС элЕКТРОННОлучЕВОй ТРубКи
JP2000221005A (ja) 固体撮像装置