JPS58127132A - 光検出装置 - Google Patents

光検出装置

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JPS58127132A
JPS58127132A JP57008801A JP880182A JPS58127132A JP S58127132 A JPS58127132 A JP S58127132A JP 57008801 A JP57008801 A JP 57008801A JP 880182 A JP880182 A JP 880182A JP S58127132 A JPS58127132 A JP S58127132A
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鈴木 武臣
Kenzo Ishibashi
謙三 石橋
Isamu Hashimoto
勇 橋本
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/36Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、光検出装置に関するものである。
光検出装置は、例えば、カメラ、ビデオカメラ等におい
て、複数の受光素子の配列を結像光学系の結像面に配置
して光学像情報を検出して合焦位置を検出する場合等に
用いられている。
例えば合焦位置検出のような場合には、光学像の明るさ
が広い範囲にわたり変動しかつ時間的にも変化するため
、像の輝度に応じて光感度を常に適当な水準に変化させ
るとともにある瞬間の光学像情報を保持記憶する手段が
必要である。光感度の調節は、受光素子の光感度が一定
であるため、受光素子に生じる光電子を蓄積し、その蓄
積値を出力信号として、蓄積時間を制御して行なってい
る。この蓄積時間を調節するには、光電子蓄積値を常時
監視する必要がある。しかし、受光素子が多数の場合は
、すべての蓄積値を監視することが困難なため、蓄積値
の平均値を監視することが行なわれている。しかし、平
均値である以上、高い光照度を受けている受光素子の出
力は測定範囲を越えてしまうおそれがあり、この場合に
どの程度越えているか判断できない。
これを避けるため、同時に光積分を行わせている受光素
子の全部あるいは適当に選んだ一部を逐次走査して受光
素子の出力を監視することが考えられる。しかしながら
、走査速度にも限界があるため、受光素子の出力の検出
時間ずれが生じ、光学像の光照度が短時間で変化すると
きは一走査終了以前に出力が一定範囲を越えてしまうお
それがあり、この場合に適切な光積分時間の設定は困難
である。
そこでこの発明は、このような問題点に鑑みてなされた
もので、すべての受光素子について同時に光積分を開始
し、光積分開始後直ちに受光素子の出力を逐次走査して
出力の少なくとも1つの値がある一定レベルである第1
の参照信号VAに達した時点ですべての出力を保持し、
更にこれら保持された出力の中にもう一つのレベル■以
上になっているものがあれば、光積分時間を順次減少さ
せて出力が第2の参照信号■以下か否かを調べて、すべ
ての受光素子の出力が一定水準に保たれるように制御し
て正確な光検出をすることを目的としている。
以下、この発明を図面に基づいて説明する。
第1図はこの発明の光検出装置の一実施例で、1はフォ
トセンサで複数の光積分型の受光素子1aよりなる受光
素子配列である。受光素子1aにはそれぞれ例えばMO
S型のスイッチ歴1が接続されア+31 一部されている。またフォトセンサ1の受光素子1a毎
に記憶素子3aがそれぞれ例えばMOS型のスイッチS
W、を介して接続され記憶手段であるメモリ3を構成し
ている。さらに、メモリ3の記憶素子3a毎に例えばM
OS型のスイッチ歴、を介して走査手段であるシフトレ
ジスタ4に接続されている。
シフトレジスタ4は比較手段である比較器5に接続され
ている。比較器5には、参照信号を設定する比較電圧発
生回路5a1シフトレジスタ4および比較電圧発生回路
5aの出力を比較する電圧比較器5b Nおよび電圧比
較器5bの出力をラッチさせるラッチ回路5Cが設けら
れている。また、シフトレジスタ4は図示しない鑞(ア
ナログ・デジタル)変換器に連なる増幅器7に接続され
ている。
2は光積分コントローラで、オンでチャージしオフで光
積分を開始するスイッチSW、およびオンでサンプリン
グしオフで保持するスイッチSWZにそれぞれ接続され
ている。この光積分コントローラ2は光積分時間を計数
する計時手段であるタイマ6に接続されるとともに比較
器5のラッチ回路(4) 5Cとも接続されている。
次に第1図〜第5図を参照して動作を説明する。
フォトセンサ1の受光素子1aは、光積分コントローラ
2よりスイッチ歴、へのオン信号により同時に初期状態
としてチャージされる。すなわち、第2図〜第5図にお
いてチャージ開始時tc  から光積分の開始時t8 
 まで電圧VOが充電されている。
次に、光積分コントローラ2から積分開始信号が与えら
れると、スイイチSW、はオフされて受光素子1aは光
積分を開始して受光する光の強さに応じて出力面ll1
lOA、CBのように蓄積される。このときの受光素子
1aの出力信号は、光積分コントローラ・2からのサン
プル信号によりスイッチ謂、がオンされてメモリ3の記
憶素子3a (例えばコンデンサ)に蓄えられる。さら
にこの情報はスイッチSW、がオンされるシフトレジス
タ4の走査駆動により、1ビツトずつ比較器5に送られ
、そのレベルが常に監視される。受光素子1aの出力信
号と比較電圧発生回路5aで設定された低位の第1の参
照信号VAと電圧比較器5bで比較して出力信号の少な
くとも1つ(すなわち最大照度を受ける受光素子)が第
1の参照信号■に達した時にその出力をラッチ回路5C
でラッチする。そして光積分コントローラ2はホールド
信号を出してスイッチ8W2 ’にオフさせてその時の
7オトセンサ1のすべての出力をメモリ3に保持さぜる
。このときメモリ3に保持されたデータは、比較器5で
判断した時よりも時間的に遅れていることあるいは7オ
トセンサ1の受けている光の強度によっては、第1の参
照信号VAをかなり越えて飽和に達している場合もある
。そこで比較器5、シフトレジスタ4をリセットして第
1の参照信号■より高位の第2の参照信号■とメモリ3
の出力とを比較器5を用いて再比較する。この再比較の
結果、メモリ3に記憶されたデータが有2gならば、そ
のデータは増 幅器7全通してb変換器に導かれ、順次アナログ信号か
らデジタル信号へ /1)変換がなされる。もし、有効
でない(第2の参照信号■以上)場合は、最初の積分開
始からホールドまでのそのときの積分時間がタイマ6に
よって計測されてお(7) す、この時間よりも短い次の光積分時間を設定し、この
時間で光積分を行ない、再び第2の参照信号■と出力と
の比較を行なう。有効なデータが得られるまで上述の動
作を繰り返す制御を行なう。
さらに、第2図〜第5図で光学像の明暗で区別して説明
する。
第2図は光学像が比較的暗い場合で、最大照度を受ける
受光素子1aの出力曲線いが示されている。従って、こ
の場合には第1回の走査終了時t8゜までには受光素子
1aの出力信号が光検出に適切な第1の参照信号VAに
達せず、第2回の走査終了時ts2も同様で、第3回の
走査終了時ts3に達することとなる。このとき、この
受光素子1aおよび他の受光素子1aの出力信号をホー
ルド信号で保持する。
この場合には出力信号の変化がゆるやかなため、第2の
参照信号VBを越える受光素子はない。
第3図〜第5図は、光学像が明るい場合で最大照度を受
ける受光素子1&の出力曲1fJOBが示されている。
このような場合には、第1回の走査終了時t8.までに
は受光素子1aの出力信号が参照信号VA。
l   Q   − ■を越えて放電し、第3図のように飽和レベルに達して
保持されている。これは出力の変化が速かったため第1
の参照信号VAに達したと判定された時には既に第2の
参照信号VBをも越えてしまっていたためである。従っ
て次回の光積分時間を短くする必要がある。光積分時間
T。はタイマ6により計数されて既知であるので、これ
に一定の係数α(0<α〈1)をかけた次の光積分時間
T、はT1−αToとなる。この光積分時間T、でのホ
ールド時にも第4図のように受光素子1aの出力信号が
第2の参照信号VB以下に入らない場合には何度もこれ
を繰り返す。例えば光積分時間5−α5−1−αnTo
のとき受光素子1aの出力は第5図に示すように第2の
参照信号VB以下となりホールド信号により保持される
。このようにある水準以上の明るさの場合には光積分を
何回も繰り返すことになるが、明るいときに必要な積分
時間はわずかであるので全体の検出所要時間は大きくは
ならない。
以上説明してきたように、この発明によれば広範囲に明
るさが変化しかつ様々の光強度分布を有する被測定物の
情報であっても最大照度部に合わせて光積分時間を調節
するので測定範囲を越えるところがなく短時間に正確に
光検出することが可能となる。また、積分データのとり
込みは一旦記憶手段に蓄えられた後にスタティック(静
的)に行なわれるので、ダイナミック動作時に見られる
MOS型のスイッチのノイズの彩管は受けない。
この光検出装置を合焦位置検出に使用するならば、従来
にもまして早く正確に検出できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す光検出装置のブロッ
ク図、第2図は被測定物(光学像)が暗い場合で最大照
度を受ける受光素子の出力と走査の説明図、第3図〜第
5図は被測定物が明るい場合で最大照度を受ける受光素
子の出力と走査の説明図である。 1・・・フォトセンサ、IFL・・・受光素子、2・・
・光積分コントローラ、3・・・メモリ(記憶手段)、
4・・・シフトレジスタ(走査手段)、5・・・比較器
(比較手段)、6・・・タイマ(計時手段)、VA 、
■・・・参照信号。 千 鮪 捕 T 婁 (白墾) 1娑+:l+−+7.−+−11−Jy”+↓私4ツー
1.λA−λJJ、+―ゝA%昭和57年11月22日 特許庁長官 殿 ■、事件の表示 昭和57年特許願第008801号 2、発明の名称 光検出装置 3、 補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都板橋区前野町2丁目36番9号名称(0
52)旭光学工業株式会社 4、代理人 〒107電話583−6939住 所  
 東京都港区赤坂6丁目6番4号5、補正の対象 明細書及び図面 6、 補正の内容 (1)明細書第9頁第18行目と第19行目との間に改
行して「第6図は第1図に示すブロック図のさらに詳細
な実施例を示すブ11vノ1% −4?J  / 7F
  h ’t! 7 ”f 11! )L) 1M J
−IM  j、=  lJ’ 1つI又り、各フォ1−
セ〉号セル1Mj〜JM3 ・1j受光素j′l八 ノ
、rノチSW1に相当するMO3型スイッチ素」”l’
 F + 、スイッチSW2に相当するMO5型スイリ
チ素了17 F j 、およびフ71− l−センサ1
の7トリンノ、11選択用のM CI S型スイッチ素
子1′ド3によりt< 1++B構成されている。そし
て、MO5型スイッチ素了1Fパ1は積分タイミンク発
生回路8により制御さ、11.ろ、J、うになっている
。この積分タイミンシ発生回路F目土受光素子1aがチ
ャージさオ″(た電荷を放電して光積分を開始する際に
作動するものであり、制御手段を構成するマイクロコン
ピュータMCのバスライ> l+ +、に連な−)だ積
分コン1へロールバスバッファ91υ信号INTにより
制御される。また、MO8型ス1′−ノチ素J”I” 
ト“4二はサンプルホール1−′)イミンク発lI回y
810により制御されるようになっている。この什ニッ
プルホールトタイミング発生回路lOは受光素子1dか
ら得ら狛る光積分信じを所定の時点て保持する際に作M
fIJするものであり、積分コントロールバスハノ’7
/ 7j−,1の信号S t−1により制御される。さ
らに、t14 ’、−1:”r聖人イノチ素子1゛F、
は受光素子1aから得ら、1(る債分信υを取り出すた
め積分コンl−Ll−ルバス2− バッファ9の信号■、St、、LS2をテコ−1へする
デコーダ11の出力I)1.D= 、D31 L)4に
より制御される。このように、マイクロコンピュータM
C1積分コンi・ロールバスバッファ9、積分タイミン
グ発生回路8、サンプルホールドタイミング発生回路1
0などにより光積分コントローラ2が構成されている。 なお、各フォトセンサセルIM」〜−+MaコにはMO
3型スイッチ素子素子2に連なりメモリ3の記憶素子3
aを構成するコンデンサCmかそれぞれ接続されている
。また、フカ1−センサ1の7トリクス列の選択はシフ
トレジスタ4により駆動されるMO8型スイッチ素子素
子F 4により行なわれる。このシフ1−レジスタ4は
積分コンI〜ロールバスバッファ9の信号S TE P
 1やこの積分コン1−ロールバスバッファ9ど同様に
マイクロコンピュータMCのパスラインBT、に連なる
A−D変換コン1−ロールバスバッファ12の信号5T
EP2により1ピツ1へずつ走査駆動される。この場合
、信号S T E P 1 、 S TE P 3の選
択は積分コン1−ロールバスバッファ9、A−1)変換
コン1−ロールバスバッファ12のそれぞれのチップセ
レノ1−信号C81,C82を操作することにより〉号
1の各フォトセンサセルjM1〜4M32から’lJら
れる光積分信号S o u t、は比較器5を構成する
電圧比較器51Iに供給される。二の電圧比較器5bに
は比較ミノL発生回路13が接続されており、この比較
電圧発生回路13に′C第1および第2の参照信号A−
v。 h・i!ノらオ(る53なお、この第1および第2の参
照信号4、■8を得るための信号源はセル14.15の
出力であり、セル口はフォトセンサlが飽和していると
き、またセル15はフカ1−センサ1による光積分が開
Qrtされる前の出力をそ4tそれ得るものである。し
たが)で、第1および第2の参照信号VA、V&はセル
ト1.I5に3J、り定まる信号レベルの範囲にあるこ
ととろ・る1、なお電圧比較器5bはタイミング発生回
路21℃光生じたクロックのタイミングで比較動作を行
なう、なj′9、このタイミング発生回路21のクロッ
ク源CK Mは外部から供給され、その出力はシフトレ
ジスタ4、積分タイミング発生回路8およびサンプルホ
ールド91′ミンク発生回路10のクロックを供給すr
′I、。 電圧比較器5bにおいて第1の参照信号V4ど゛フォト
センサ1の出力どが比較され、その結果電圧比較3− 器5bの出力か反転するとこれによりラッチ回路5cを
構成する図示省略のフリップフロップの出力も反転して
すべでのフカ1〜センサセルIM1〜4M32の光積分
信号をホールドする。このホールド情報はマイクロコン
ピュータMCに供給され、マイクロコンピュータMCは
フォトセンサ1の第1回目の走査路Y情報を得る。この
情報を受けてマイクロコンピュータMCのプログラムに
よる計時手段としてのラフ1−タイマは光積分の計時を
停止し第1回目の積分時間のデータが得られる。このデ
ータを得た後再びシフ1−レジスタ4を駆動し、電圧比
較器5bにおいて第2の参照信号■、とフカ1−センサ
1の出力とが比較され各フカ1〜センサセル1M1〜4
M32の飽和の有無をチエツクする。そして、飽和した
ものが検出されたどきには上述した如く第1回目の積分
時間よりも短い積分時間で走査を行ない、以下飽和した
ものか検出されなくなるまであるいはソフトタイマの積
分最小時間に達するまで計時のフローが繰り返さ、1L
る1、そして、このフローによって得られたフォトセン
サ1の出力は増幅器7を構成するレベルシフト21rア
ンプ15およびインピーダンス変換用電圧フォロア16
を介してA−])変換器17/\供給される。なお。 4− レベルシフI・兼アンプ15によるシフ]〜の範囲はシ
フト範囲電圧発生回路18の出力を受けた電圧フォロア
19、20の各出力により定められる。ここでシフ1−
範囲電圧発生回路18は比較電圧発生回路にて得られる
第11jよび第2の参照信号VA、VBにより出力が定
まる。こうして、フカ1−センサ1から得られる情報は
lへ一〇変換器17を介してマイクロコンピュータMO
/\転送され、データ処理が可能となる。このデータ処
理の後次の光積分を行なうために同様な処理か繰り返さ
れる。 なtj、図において符号S:l 、S2.S:lは電圧
フォロア+9.16.20の入力端に接続されるスイッ
チ素子であり、各スイッチ素子S1..S2.S:lは
A−1)変換=】ントロールバスバッファ12の信号φ
1゜(J−: + φヨによりそれぞれ制御される。ま
た、CI。 C3は電圧フォロア19.20の入力端にそれぞれ接続
さ、1シろマツチング用コンデンサである。さらに、D
l、1−)=は電圧フォロア19.20の出力端にそれ
ぞれ接続さ5れるスイッチ素子であり、これらのスイッ
チ素j’l)+、[)シはA−D変換コンI−ロールバ
スバッファ12の信号PDを受けてA−D変換器17に
対すン  4”+  dn r4e  h  九 n+
+ 4+1 =ヒ y−十771  <  +  7−
    f  +−Sノー1 1− 覆ノシスタへは積
分コンhロールバスバッファ9の信号5R8Tにより、
タイミング発生回路21はA−D変換コン1−ロールバ
スバッファ12の信号CR3Tによりそれぞれリセッ1
へされ、積分タイミング発生回路8、サンプルホール1
〜タイミング発生回路IOはマイクロコンピュータMC
のリセット信号RS 1Tによりリセットされるように
なっている。」を加入する。 (2)明細書第10頁、第16行目の「図である9」を
1図、第6図は第1図に示すブロック図のさらに詳細な
実施例を示すブロック図である。」と補正する。 (3)第1図を添伺図面に差替えると共に第6図を添イ
1のとおり追加する。 以」ニ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 複数の光積分型の受光素子よりなる受光素子配列と、 該受光素子毎に備えられ、光積分開始後任意の群間にお
    ける前記受光素子の出力信号をほぼ同時に保持する記憶
    手段と、 前記受光素子配列の少なくとも一部を走査して前記各受
    光素子の出力を逐次取り出す走査手段と、該走査手段に
    より取り出された前記受光素子の出力信号を参照信号と
    比較する比較手段と、光積分時間を計数する計時手段と
    、 光積分開始後直ちに前記受光素子の出力を走査開始して
    取り出された前記受光素子の各出力信号を前記比較手段
    で予め設定された第1の参照信号と比較し、前記出力信
    号中の少なくとも一つが前記第1の参照信号に達した時
    前記記憶手段に前記出力信号をすべてほぼ同時に保持さ
    せ、さらに前記比較手段で別に設定された第2の参照信
    号と前記第1の参照信号に達した出力信号とを比較し、
    該出力信号が前記第2の参照信号に達していないときに
    は光検出の過程を終了し、該第2の参照信号に達してい
    るときには光積分を最初からやり直して前回の前記計時
    手段によって計数された光積分時間より一定比率だけ短
    縮された光積分時間経過後に出力信号を保持し前記第2
    の参照信号と比較する過程を繰り返すことにより保持さ
    れた出力信号が前記第2の参照間信号値以下に収まるよ
    うに制御する制御手段とを有することを特徴とする光検
    出装置。
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JPH0245813B2 JPH0245813B2 (ja) 1990-10-11

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JPS561022A (en) * 1979-06-18 1981-01-08 Asahi Optical Co Ltd Focus detector of camera

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JPH0245813B2 (ja) 1990-10-11
US4547676A (en) 1985-10-15

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