JPH03501880A - 放射輪郭線の検出システム - Google Patents

放射輪郭線の検出システム

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 放射輪郭線の検出システム 本発明は、M行N列の感光検出素子のマトリックス、これら検出素子の出力信号 をクロック信号の制御下で列方向に行単位でシフトする手段、および1つの入力 がM番目の行の検出素子内。
の関連する検出素子と常にt#続された読出し回路、からなる放射輪郭線の検出 システムに関するものである。
放射輪郭線を観察するシステムは、とりわけ、ある輪郭を第1の角度で扇状光線 により照射する間、この照射した輪郭をその第1の角度と異なる第2の角度から 検出システムにより観察する、という三角測量において使用されている。このよ うな方法で観察する輪郭線は、その輪郭における絶対距離の計算を可能にするも のである。
その輪郭線を観察するためには、テレビジョン・カメラか、あるいは怒光素子の 行列をなすマトリックスを含む2次元の検出器かでなる検出システムを使用する ことができる。テレビジョン・カメラおよびその現在ある2次元検出器の短所は 、画素即ち検出素子がライン毎あるいは行単位で順次読出さねばならず、これが 1抄出たりに観察できる輪郭の数を通常のマスク速度に制限してしまうことであ る。このように、MXN個の怒光素子のマトリックスによる1読出しサイクル当 たり、MXN個の読出しが必要となる。
オランダ国特許出願第8,500,600号は、この問題について認識した検出 システムを提供している。この特許出願によれば、この問題に対する解決法が、 諸列の感光検出素子を使用するのではなく、列状に相互に平行に置いた多数のい わゆる「位置恣応性デバイス(PSD)Jを使用することにより与えられており 、このようなPSDは、光線が入射しているこのPSD上の位置の測定である出 力信号を発生するようになっている。前記出力信号は、補助的な計算により判定 される。N個のPSDの場合の前記公知の検出システムでは、N回、即ちPSD 当たり1回の連続する読出しにより輪郭線の変化に関する完全な情報を得ること が可能であるが、PSDの使用もまた多くの短所を有している。第一に、より高 い周波数で必要とする上記補助的計算を実現することが困難であること、またそ のような計算の実現に要求される複雑な電子装置のため高コストとなってしまう ことである。第二に、PSDの出力信号は、このようなPSDの構造の故に多量 の熱ノイズを含んでいることである。この熱ノイズあるにもかかわらず充分に高 い信号/ノイズ比を達成するためには、充分な光量がPSDを含む検出システム に到達するように、高レベルの光を使用することが必要である9更にまた、PS Dからの信号を処理するため必要な電子装置は、適当な高さの解像度および適当 な高さのダイナミック・レンジが要求される場合は、実現できないかもしくはで きたとしても非常に高いコストによってのみ可能である。
ヨーロッパ特許出願第0.181,553号もまた、観察された輪郭線を高速で 読出すことを可能にするよう意図した放射輪郭線の検出システムについて記載し ている。この目的のため、輪郭線の観察システムが提供されており、これにおい て検出システムが観察する扇状のビームにより生成された全体的な輪郭線ではな く、観察すべき輪郭に対する細い光線により投射された連続的な光点から構成さ れる輪郭線である。観察するべき輪郭により反射されたそれら光点は、多数の、 例えば8個の長方形の検出器素子からなる検出システム上に円筒状レンズを介し て線としてイメージ化される。この検出器素子の各々は、連続したそれら素子が 2進コ一ド化信号を生じるようマスクされるようになっている。このようなマス クされたある検出器素子が受取る光の量が、ある閾値を越える(各検出器素子と 接続されたレベル検出器により判定される)場合、このことはその関連の検出器 素子の出力信号が論理「1」であることを意味する。このように、検出システム の出力信号が即座にディジタル形感で得られ、その結果前記信号の処理が非常に 高速となり得る。もし上記の細い光線を発生するのに用いるレーザ源のパワーが 充分な高さであるならば、数MHzの走査速度が前記公知の検出システムにより 達成可能である。
それにも拘わらず、前記公知の検出システムには多くの欠点がある。即ち、種々 の長方形の検出器素子上に反射光線を分散する間、それら素子上において照明強 度を充分でかつ均一に配分されるようにするためには、その所要のレーザー・パ ワーは非常に高くなければならない。もし2つの隣接する検出器素子が共に「1 」の出力信号を生じる程多くの光を受取るように光のスポットが検出器素子上に 入射する場合、得られる出力信号もまた実際の状態を全く不正確に再現すること になる。
本発明の目的は、公知の諸システムの短所を持たない検出システムを提供し、そ れによって、例えば輪郭線を公知の諸システムを用いて観察できる速度と少なく とも等しい速度で輪郭線の観察が可能であるにも拘わらず、補助的計算および( または)強力なレーザー・パワーのための高価な電子装置が不要であるようにし 、また更に、目的として不正確な測定結果の可能性を著しく排除することにある 。
この目的のため、本発明は上記のタイプのシステムを提供するものであり、これ においては、読出し回路が、各列のM番目の検出素子と接続されておりかつそれ ぞれ各列と対応するN個の出力を有したレベル検出器回路を含んでおり、またレ ベル検出器回路の出力が最大量の光を受取ったM番目の行内の素子の位置を表わ すディジタル・コードを発生することができる回路と接続されている。
本発明は、2次元の検出システムにより輪郭線を観察する際、各行の検出素子内 の唯一の素子が観察すべき輪郭線から光を受取り、一方その他の検出素子は光を 全く受取らないかあるいは少なくとも非常に微量の光しか受取らない、という概 念に基づくものである。従って、行単位でその行内の全検出素子について同時に 、どの素子が閾値を越える出力信号を発生しているかを判定することにより、そ の素子をディジタル・コードにより示し、そしてこのコードにより1つの行内の どの検出素子が、一連の順次のディジタル・コード信号により反映される最大量 の光を受取ったかを行単位で決定することが可能である。このように、輪郭線の パターンが、従来の検出システムの場合における如きMXN個の出力によるので はなく、M個の読出しによりM行N列の検出素子を含むマトリックスにおいて決 定することができる。
以下に、本発明を、実施例に基づいて図面を参照しながら更に詳細に説明する0 図面において、 第1図は、本発明による検出システムを示す概略図、および第2図は、1つの行 内の2つの感光素子が閾値を越える量の光を受取る場合に、信頼し得る測定結果 を得るための、第1図によるシステムの拡張を示す図である。
(実施例) 第1図は、放射輪郭線を観察するための検出システムの構造を略図的に示してい る。本発明の原理はM行(M=任意の整数)およびN列(N=任意の整数)を含 むマトリックスに適用し得るものであるが、本実施例は、判り易くするため、8 行8列を含むマトリックスに基いて記述する。しかし、これが限定と見做される べきでないことに注意されたい。
本システムは、それぞれ8つの行1a乃至1hの感光素子と、8つの列2a乃至 2hの感光素子とからなっている。従って、本検出システムは、8×8個の感光 素子からなっている。1つの特定の列の8つの感光素子の各々からの信号は、読 出しゲート電極の制御下で、前記列と関連する縦方向のCCDシフト・レジスタ 3a乃至3hに対して転送することができる。クロック信号は、それ自体公知の 方法でバス4を介して前記シフト・レジスタ3a乃至3h、および読出しゲート 電極に対して送られる。8番目の行では、各列のシフト・レジスタの最後の。
CCD素子が、このCCD素子内の電荷をそれ自体公知の方法で対応する電圧へ 変換するため、図示しない回路に接続されている。各列と関連するこの電荷/電 圧コンバータの出力信号は、関連するレベル検出器5&乃至5hの第1の入力端 子にそれぞれ!続されている。各レベル検出器は第2の入力端子を含み、この全 ての第2の入力端子は相互に接続され、そして基準電圧IJ refに接続され ている。レベル検出器5は、それ自体公知の方法で、第1の入力端子の信号がU refより高い場合に「1」の出力信号を送出し、また第1の入力端子の信号が Urefより低い場合に「0」の出力信号を送出するように構成されている。
レベル検出器5a乃至5hの出力端子は、本実施例においては8つの入力端子6 a乃至6hおよび3つの出力端子7a乃至7hからなるダイオード・マトリック スに接続されている。このダイオード・マトリックスは、それ自体公知の形態で 構成され、検出器5aの出力の「1」出力信号が前記ダイオード・マトリックス の出力端子7&乃至7Cに対し2進数000の信号を送出し、また検出器5hの 出力の「1」出力信号が出力端子7a乃至7cに対し2進数111の信号を送出 するように、入力端子6&乃至6hを介して各々のレベル検出器5m乃至5hに 接続されている。レベル検出器5b乃至5gの出力の「1」出力信号は、中間の 2進数信号を出力端子7a乃至7c’\送出し、従って例えばレベル検出器5f については信号101である。
このように、第1図の検出システムによれば、各行の全体について、どの感光素 子が「1」信号(素子が光を受取ったことを示す)を関連するレベル検出器を介 して送出しているかを判定することが可能である。その結果、M行N列を含むマ トリックスを、公知の検出システムにおけるMXN個のステップの代わりに、M 個のステップからなる1サイクルにて読出すことができるのである。
それ自体公知の方法で列2&乃至2h内の感光素子の機能を列3a乃至3h内の 関連するシフト・レジスタ素子の機能と組合わせることが常に可能であるが、感 光素子がシフト・レジスタとは別個である第1図に略図的に示した構造を使用す ることが望ましい、何故なら、このような形態では、電荷の移動中、干渉信号の 可能性が最も低いためであり、この結果、第1図に線Aで略図的に示した放射輪 郭線の変化の最も正確な表示が得られる。第1図に示した回路全体が半導体基板 上に集積されることが望ましいことは明らかであろう。
本発明の検出システムによる輪郭線の観察においてできるだけ妨害周囲光の効果 を抑制するためには、観察すべき輪郭を扇状に照射するように閃光を用いること が望ましく、マトリックス状の感光性の検出素子は、このような閃光の開のみ受 取る光の量に比例した出力信号を発生するように、クロック・パルスによって付 勢される。
もし鏡面反射が起きたならば、感光素子内の電荷の量は高い値に達することがあ る。このような感光素子から隣接して置かれた感光素子に対し電荷が溢れ出るこ とを防止するために、ブルーミング防止電極が設けられている。この結果として 、1つの行内の1つより多い感光素子が電荷溢れの結果としてUrefよりも高 い出力信号を送出する可能性が低減される。
もし何等らの理由から、1つの行内の2つ又はそれ以上の感光素子が、1つの輪 郭線の観察中、Urefより高い出力信号を送出して、いくつかのレベル検出器 5が「1」の出力信号を発生する場合、その結果何らの措置が講じられなければ 、完全に不正確な測定結果をもたらすことになる。
このような障害を排除することが可能な第1の方法を第1図に示しである。この 目的のため、1つのダイオード(8a乃至8h)および1つの抵抗(9a乃至9 h)の直列回路の1つの端子が、レベル検出器5a乃至5hの各々の各出力端子 と接続され、この直列回路の他の端子は、常に他の直列回路の対応する端子とお よびレベル検出器10の第1の入力と接続されている。
このように、諸レベル検出器の出力信号が加算され、この加算された信号が、レ ベル検出器10により「1」信号レベルに等しい第2の基準電圧Uzrefと比 較される。もしいくつかのレベル検出器5が’IJ信号を発生する場合、レベル 検出器10もまた「1」信号を発生し、これはこの時、各1行に関するいくつか のレベル検出器の「1」出力信号の結果として不正確な測定の表示となる。
もし1つの行内の2つの感光素子が関連するレベル検出器5を介して「1」信号 を発生する場合、本発明の望ましい実施例によれば、不明確でない方法で信頼し 得る測定値信号へ変換することが可能であり、これにより例えば1つの行の感光 要素の照射の実際の重心が2つのこのような素子の間にあることを判定すること が可能である。
第2図は、このような測定を可能にするため、第1区によるダイオード・マトリ ックスが拡張されるべき方法を略図的に示している。このダイオード・マトリッ クスしか示していないが、その理由は、感光素子のマトリックス構造およびその レベル検出器5との接続が第1図のシステムにおけるのと同じであるからである 。
さて、このダイオード・マトリックスは、3つの8力端子7a乃至7Cの代わり に、6つの出力端子7a乃至7fを含んでいる。入力端子6a乃至6hは、第1 図の実施例におけるのと同じ方法でダイオード・マトリックスのダイオードを介 して出力端子7a乃至7cと接続されている。しかし、出力端子7d乃至7fは 、このダイオード・マトリックスのダイオードを介して入力端子6a乃至6hに 対して、端子7a乃至7cにおける出力信号と相補的な出力信号をこれら端子が 生じるように接続されている。このため、出力端子7d乃至7fは、レベル検出 器5hが「1」出力信号を発生する場合に000の2進信号を、またレベル検出 器5aが「1」出力信号を発生する場合に111の信号を発生する。
例示として、レベル検出器5bおよび5eが観察した放射輪郭線の結果として「 1」出力信号を発生するものと仮定する。
もし出力端子7a乃至7cからの出力信号のみが使用されるものとすれば、2進 信号100がレベル検出器5bを介して得られ、信号001がレベル検出器5e を介して得られることになり、その結果、端子7a乃至7cの総合的な2進数の 出力信号が101となり、これは、レベル検出器5fが「1」出力信号を発生し ていることを示すことになる。これは、明らかに完全に不正確であり、信頼でき ない測定結果である。
しかし、第2図の実施例において付加されたダイオード・マトリックスの上記部 分の出力ti 7 c!乃至7fは、レベル検出器5bの「1」出力信号に対し ては011の2進出力信号を、またレベル検出器5eの「1」出力信号に対して は110の信号を発生する。線7d乃至7fにおける総合的な出力信号は、これ ら2つの信号の和、即ち2進信号111である。これは、レベル検出器5aが「 1」出力信号を発生していることを表わしており、そしてこれもまた不正確な測 定結果を構成している。
しかし、もし端子7a乃至7cの2進数出力信号および端子7d乃至7fの2進 数出力信号を別々にこれら信号の平均値を決定するように構成した回路11へ送 るならば、回路11の出力信号は、実際に行1a内の感光素子の列2bと感光素 子の列2eとの間の幾何学的中心を正確に表わすことが判る。この平均の場合は 、2進数出力信号は、感光素子1cと1dとの間の位置を表わし、これは実際に は列2bと2eとの開の幾何学的中心である。
端子7a乃至7cおよび端子7d乃至7fの2進コードを加えることにより2進 信号が得られ、これがこの平均値プラス追加の情報の1ビ・ソトを再現し、従っ てこれにより2つの列間の位置が示される。端子7a乃至70のものと相補的な 2進出力信号f!:発生する3つの出力端子をもった別の°ダイオード・マトリ ックスを付加することにより、もし1つの行内の2つの感光素子が同時に照射さ れる場合に、これら2つの感光素子間の中心に関する信頼し得る情報を得ること が可能である。
もし第2図によるそのような付加的ダイオード・マトリックスを設ける場合、レ ベル検出器10の基準電圧U2refを調整することにより、1つの行内の3つ 以上の感光素子が、その関連するレベル検出器を介して「1」出力信号を発生す る場合に、もしレベル検出器10が故障信号しか発生しないようにできる。何故 なら、その追加のダイオード・マトリックスにより、そのような多数照射が、信 頼し得る測定信号を結果としてもたらすことがないからである。
しかし原理的には、更に複雑なダイオード・マトリックスおよび複雑なロジック 処理を使用することにより、同時に照射された1つの行内の3つ以上の感光素子 でも信頼し得る出力信号を得ることもまた可能である。
多数行の感光素子を含む実施例について以上に記述したが、本発明が基く原理は 、同じ効果を以て唯一の行の感光素子の場合にも適用することができる。このと き、その行全体は、レベル検出器およびダイオード・マトリックスにより並行的 に常に読出される。このような検出器は、観察すべき輪郭を扇形状の光線ではな く点状の光線を用いて照射し、そして放射輪郭線を連続的な反射光点から構成す るようになった、ヨーロッパ特許出願第0.181.553号に記載されたタイ プの放射輪郭線観察システムにおいて用いることができる。1行の6光素子を含 む本発明によるこのシステムにより、達成可能な読出し周波数は、前記ヨーロッ パ特許出願によるシステムにおけるのと全く同じ高さとなる。しかし、高パワー のレーザー光源は不要である一方で、行内の2つの感光素子の同時の照射の場合 であっても、第2図に示したダイオード・マトリックスの拡張を用いるなら−ば 、信頼し得る出力信号を常に得ることが可能である。
1行の感光素子の場合およびいくつかの行の感光素子の場合の双方において、本 発明によるシステムを用いれば「1」出力信号を関連するレベル検出器へ送出し ている感光素子の実際のレベルを簡単な方法で決定することが可能である。これ は、全てのレベル検出器の第1の入力端子に走査線を常開スイッチを介して常に 接続し、前記の「1」の出力信号と発生するレベル検出器の第1の入力端子に属 するそのスイッチを閉じるようにすることによって可能であり、その閉或は関与 するレベル検出器の「1」出力信号の制御下で生じ得る。
レベル検出器5a乃至5hおよび基準電圧U REFは、−緒になってレベル検 出器回路を形成しており、この回路は、各列のM番目の検出素子と接続され、そ して各々が各列と対応するN個の出力を有している。しかし、このようなレベル 検出回路の上述の実施例が唯1可能なものではない、N個の入力およびM゛個の 出力を持つレベル検出器回路の別の実施例は、rscientifie Ame ricanj第257号、1987年12月号、62乃至70頁に記載のいわゆ るn−フロップを使用するものである。正しい接続ネットワークを選択すること により、唯1つの出力信号が「1」の状態に駆動され、他の全ての出力信号は「 0」の状態に駆動されることになる。このようなn−フロップは、5光性素子と 同じチップ上にうまく集積することができ、非常にコンパクトな検出器を作るこ とができる。別の利点は、M番目の行の諸量力信号が相互にのみ比較される故に 、特定の基準電圧レベルU REFを前もって選択する必要がないことである。
最後に、本発明による検出システムがCCDの使用に限定されないという事実に 注意されたい。本原理はまた、フォトダイオードがX線アドレス指定により読出 すことができるようになった2次元フォトダイオード・アレイの場合にも適用す ることができる。
補正書の翻訳文提出書 (特許法第184条の8) 平成 2年 2月 5顔爆 特許庁長官 吉 1)文 毅 殿 1、特許出願の表示 PCT/EP88100620 2、発明の名称 放射輪郭線の検出システム 3、特許出願人 住 所 オランダ国エヌエル−2612イクスエー デルフト。
ファン・ミーレフニルトラーン 9 。
名 称 べ−・ファウ・オブティシエ・インダストリー・“デ・オウデ・デルフ ト” 4、代理人 住 所 東京都千代田区大手町二丁目2番1号新大手町ビル 206区 浄書(内容に変更なし) 英文明細書第1頁の補正 く翻訳文明細書第1頁第1行から第1頁第2?行迄)明細書 放射輪郭線の検量システム 本発明は、M行N列の感光検出素子のマトリックス、これら検出素子の出力信号 をクロック信号の制御下でシフトする手段、および1つの入力が関連する検出素 子と常に接続されておりかつレベル検出器回路を含む読出し回路、からなる放射 輪郭線の検出システムに関するものである。
放射輪郭線を観察するシステムは、とりわけ、ある輪郭を第1の角度で扇状光線 により照射する間、この照射した輪郭をその第1の角度と異なる第2の角度から 検出システムにより観察する、という三角測量において使用されている。このよ うな方法で観察する輪郭線は、その輪郭における絶対距離の計算と可能にするも のである。
その輪郭線を観察するためには、テレビジョン・カメラか、あるいは怒光素子の 行列をなすマトリックスを含む2次元の検出器かでなる検出システムを使用する ことができる。テレビジョン・カメラおよびその現在ある2次元検出器の短所は 、画素即ち検出素子がライン毎あるいは行単位で順次読出さねばならず、これが 1抄出たりに観察できる輪郭の数を通常のラスク速度に制限してしまうことであ る。このように、MXN個の感光素子のマトリックスによる1読出しサイクル当 たり、MXN個の読出しが必要となる。
英文明細書第4頁、第48頁の補正 (翻訳文明細書第1ρ第1に行から第μ頁第17行迄)それにも拘わらず、前記 公知の検出システムには多くの欠点がある。即ち、種々の長方形の検出器素子上 に反射光線を分散する間、それら素子上において照明強度を充分でかつ均一に配 分されるようにするためには、その所要のレーザー・パワーは非常に高くなけれ ばならない。もし2つの隣接する検出器素子が共に「1」の出力信号を生じる程 多くの光を受取るように光のスポットが検出器素子上に入射する場合、得られる 出力信号もまた実際の状態を全く不正確に再現することになる。
ヨーロッパ特許出願第0.157,141号もまた、観察した輪郭線を高速で読 出すことを可能にするよう意図した放射輪郭線検出システムについて記載してい るやこの目的のため、全ての行は、最後の列において同時に読出される。この最 後の列に存在する情報が読出された後、全ての行内の情報が列単位で行方向にシ フトされる。各行に対して、輪郭が存在していた検出素子の位置が記憶素子に格 納される。全ての記憶素子がこの情報で充填された後、これら情報は輪郭が存在 していた全ての検出素子の位置を判定するため読出されるようになっている。
本発明の目的は、公知の諸システムの短所を持たない検出システムを提供し、そ れによって、例えば輪郭線を公知の諸システムを用いて観察できる速度と少なく とも等しい速度で輪郭線の観察が可能であるにも拘わらず、補助的計算および( または)強力なレーザー・パワーのための高価な電子装置が不要であるようにし 、また更に、目的として不正確な測定結果の可能性を著しく排除することにある 。
この目的のため、本発明は上記のタイプのシステムを提供するものであり、これ においては、読出し回路が、各列のM番目の検出素子と接続されておりかつそれ ぞれ各列と対応するN個の出力を有したレベル検出器回路を含んでおり、またレ ベル検出器回路の出力が最大量の光を受取ったM番目の行内の素子の位置を表わ すディジタル・コードを発生することができる回路と接続されている。
本発明は、2次元の検出システムにより輪郭線を観察する際、各行の検出素子内 の唯一つの素子が観察すべき輪郭線から光を受取り、一方その他の検出素子は光 を全く受取らないかあるいは少なくとも非常に微量の光しか受取らない、という 概念に基づくものである。
英文明細書第12頁の補正 (翻訳文明細書第1ρ頁第1L?行から第1/頁第n行迄〉端子7a乃至7cの ものと相補的な2進出力信号を発生する3つの出力端子をもった別のダイオード ・マトリックスを付加することにより、もし1つの行内の2つの5光素子が同時 に照射される場合に、これら2つの感光素子間の中心に間する信頼し得る情報を 得ることが可能である。
もし第2図によるそのような付加的ダイオード・マトリックスを設ける場合、レ ベル検出器10の基準電圧U2refを調整することにより、1つの行内の3つ 以上の感光素子が、その関連するレベル検出器を介して「1」出力信号を発生す る場合に、レベル検出器10が故障信号しか発生しないようにできる。何故なら 、その追加のダイオード・マトリックスにより、そのような多数照射が、信頼し 得る測定信号を結果としてもたらすことがないからである。
しかし原理的には、更に複雑なダイオード・マトリックスおよび複雑なロジック 処理を使用することにより、同時に照射された1つの行内の3つ以上の感光素子 でも信頼し得る出力信号を得ることもまた可能である。
多数行の感光素子を含む実施例について以上に託述したが、本発明が基く原理は 、同じ効果を以て唯一の行の感光素子の場合にも適用することができる。このと き、その行全体は、レベル検出器およびダイオード・マトリックスにより並行的 に常に読出される。このような検出器は、観察すべき輪郭を扇形状の光線ではな く点状の光線を用いて照射し、そして放射輪郭線を連続的な反射光点から構成す るようになった、ヨーロッパ特許出願第0.181.553号に記載されたタイ プの放射輪郭線観察システムにおいて用いることができる。1行の感光素子を含 む本発明によるこのシステムにより、達成可能な読比し周波数は、前記ヨーロッ パ特許出願によるシステムにおけるのと全く同じ高さとなる。
英文明細書第14頁の補正 (翻訳文明細書第1工頁第序行から第19頁第拍行迄)N個の入力およびM個の 出力を持つレベル検出器回路の別の実施例は、’5cientific Ame riearB第257号、1987年12月号、62乃至70頁に記載のいわゆ るn−フロップを使用するものである。正しい接続ネットワークを選択すること により、唯1つの出力信号が「1」の状態に駆動され、他の全ての出力信号は− 「0」の状態に駆動されることになる。このようなn−フロップは、感光性素子 と同じチップ上にうまく集積することができ、非常にコンパクトな検出器を作る ことができる。別の利点は、M番目の行の請出力信号が相互にのみ比較される故 に、特定の基準電圧レベルU REFを前もって選択する必要がないことである 。
最後に、本発明による検出システムがCCDの使用に限定されないという事実に 注意されたい。本原理はまた、フォトダイオードがX線アドレス指定により読出 すことができるようになった2次元フォトダイオード・アレイの場合にも適用す ることができる。
(請求項1〜7の全文補正、請求項8及び9は元のま′−)請求の範囲 1、M行(las−,1h)N列(2a、−,2h)の感光検出素子を含むマト リックスと、制御クロック信号<4)の下で前記検出素子の出力信号をシフトす る手段と、1つの入力が常に関連する検出素子と接続されておりかつレベル検出 回路(5)を含んでいる読出し回路<5.6.7>と、から成る放射輪郭線(A )の検出システムにおいて、前記シフト手段は、前記検出素子の出力信号を行単 位で列方向にシフトし、また前記読出し回路の前記1つの入力が前記レベル検出 回路(5)を含んでおり、また前記レベル検出回路は、各列のM番目の検出素子 に接続されており、また前記レベル検出回路は各々が各列と対応するN個の出力 (6a。
・・・、6h)を有しており、また前記レベル検出回路の出力が、前記M番目の 行(1a)内の最大量の光を受取った素子の位置を表わすディジタル・コードを 発生することができる回路に接続されていること、を特徴とする検出システム。
2、 ディジタル・コードを発生できる前記の回路がダイオード・マトリックス であり、その入力数が該マトリックス内の列数と対応し、かつその出力数が該列 数の2進コード化に必要なビット数と対応していること、を特徴とする請求項1 記載の検出システム。
3、前記レベル検出回路の出力(6)には、第1のダイオード・マトリックスの 入出力数と等しい入出力数を有する別のダイオード・マトリックスが接続され、 該別のダイオード・マトリックスは、前記第1のダイオード・マトリックスの出 力信号と相手続補正書坊幻 平成 2年り1月/計日 煽へ

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.M行N列の感光検出素子を含むマトリックスと、クロック信号の制御下で前 記検出素子の出力信号を行単位で列方向にシフトする手段と、1つの入力が常に M番目の行の検出素子内の関連する検出素子と接続された読出し回路と、から成 る放射輪郭線検出システムにおいて、前記読出し回路が、各列の前記M番目の検 出素子に接続されておりかつ各々が各列と対応するN個の出力を有するレベル検 出回路を含んでおり、また該レベル検出回路の出力が、前記M番目の行内の最大 量の光を受取った素子の位置を表わすディジタル・コードを発生することができ る回路に接続されていること、を特徴とする検出システム。
  2. 2.ディジタル・コードを発生できる前記の回路がダイオード・マトリックスで あり、その入力数が該マトリックス内の列数と対応し、かつその出力数が該列数 の2進コード化に必要なビット数と対応していること、を特徴とする請求項1記 載の検出システム。
  3. 3.前記レベル検出回路の出力には、第1のダイオード・マトリックスの入出力 数と等しい入出力数を有する別のダイオード・マトリックスが接続され、該別の ダイオード・マトリックスは、前記第1のダイオード・マトリックスの出力信号 と相補的な2進出力信号を発生するように構成されていること、を特徴とする請 求項2記載の検出システム。
  4. 4.前記第1のダイオード・マトリックスの2進出力信号と第2のダイオード・ マトリックスの2進出力信号との間の平均値を決定する手段が設けられているこ と、を特徴とする請求項3記載の検出システム。
  5. 5.前記レベル検出回路がn−フロップからなることを特徴とする請求項1記載 の検出システム。
  6. 6.前記レベル検出回路が各列に対し1つのレベル検出器からなることを特徴と する請求項1記載の検出システム。
  7. 7.全てのレベル検出器の出力信号を加算する手段が設けられており、該加算さ れた信号を基準電圧と比較する別のレベル検出器が設けられていること、を特徴 とする請求項6記載の検出システム。
  8. 8.前記基準電圧が、前記列と接続された前記レベル検出器の高出力信号と実質 的に等しいこと、を特徴とする請求項7記載の検出システム。
  9. 9.行の数が1に等しいことを特徴とする請求項1乃至8のいずれかに記載の検 出システム。
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