JPS5810467B2 - Manufacturing method for circuit pattern punching mold - Google Patents
Manufacturing method for circuit pattern punching moldInfo
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- JPS5810467B2 JPS5810467B2 JP13278478A JP13278478A JPS5810467B2 JP S5810467 B2 JPS5810467 B2 JP S5810467B2 JP 13278478 A JP13278478 A JP 13278478A JP 13278478 A JP13278478 A JP 13278478A JP S5810467 B2 JPS5810467 B2 JP S5810467B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、例えはダイススタンプ法により印刷配線板を
製造するのに用いられ金属箔を回路パターンに打抜くの
に好適な刃型を有する回路パターン打抜き金型のように
、金属箔を所望のパターンに打抜くのに適した刃型を備
え、その刃型で囲んだその内側は金属箔を押圧するのに
適するように浅く陥没し、またその外側は打抜いた後の
不用な金属箔が逃げれるように深く陥没して段差を有す
る回路パターン打抜き金型の製造方法に関し、簡単な方
法にして精度が高く高品質になった打抜き金型を容易に
製造できるようにすることを目的とする。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a circuit pattern punching die having a blade die suitable for punching out a circuit pattern from metal foil, which is used for manufacturing printed wiring boards by the die stamp method, for example. It is equipped with a blade suitable for punching the metal foil into a desired pattern, and the inside surrounded by the blade is shallowly recessed so as to be suitable for pressing the metal foil, and the outside is hollow Regarding the manufacturing method of a circuit pattern punching mold that is deeply recessed and has a step so that unnecessary metal foil can escape, it is possible to easily manufacture a punching mold with high precision and high quality using a simple method. The purpose is to
従来上述のように刃型の内側と外側との間に段差が生ず
るようにするエツチング技術は、金属箔から印刷配線板
のベースとなる有機絶縁基板上に回路パターンを打抜く
のに適した刃型を有する回路パターン打抜き用金型の製
造方法(例えは、特公昭50−32651号、特開昭4
8−1864号、特開昭51−32959号)に含まれ
る1つの工程に応用されており、エツチングレジストの
形状に用いられる回路パターンフォトマスクとして所望
の配線回路パターンより僅かに広い回路幅を有する回路
パターンネガフィルムAと僅かに狭い回路幅を有する回
路パターンポジフィルムBとの2種のフォトマスクを用
いて、段差エツチングを行なっている。Conventionally, the etching technology that creates a step between the inside and outside of the blade mold as described above is a blade suitable for punching circuit patterns from metal foil onto organic insulating substrates that serve as the base of printed wiring boards. A method of manufacturing a circuit pattern punching die having a mold (for example, Japanese Patent Publication No. 50-32651, Japanese Patent Application Laid-open No. 4
8-1864, JP-A No. 51-32959), and has a circuit width slightly wider than the desired wiring circuit pattern as a circuit pattern photomask used in the shape of an etching resist. Step etching is performed using two types of photomasks: a circuit pattern negative film A and a circuit pattern positive film B having a slightly narrower circuit width.
ここで従来の上記2種のフォトマスクA、Bを用いて、
前述のような刃型を有する金型の製造工程の一部を第1
図〜第9図を用いて簡単に説明する。Here, using the above two conventional photomasks A and B,
A part of the manufacturing process of a mold having a blade type as described above is explained in the first step.
This will be briefly explained using FIGS.
所望の配線回路パターンより僅かに広い回路パターン1
を有するネガブイルムA(第1図、第2図)を用いて金
属原板3の上にエツチングレジスト2(第3図)を形成
し、エツチング法により平型回路パターン4を有する金
属板5(第4図)を製造し、次に該金属板5の凹陥部6
に、例えばエポキシ樹脂よりなる耐酸性樹脂9を第7図
に示すように充填する。Circuit pattern 1 slightly wider than the desired wiring circuit pattern
An etching resist 2 (FIG. 3) is formed on the metal original plate 3 using a negative film A (FIGS. 1 and 2) having a flat circuit pattern 4. ) is manufactured, and then the concave portion 6 of the metal plate 5 is manufactured.
is filled with acid-resistant resin 9 made of, for example, epoxy resin as shown in FIG.
次に所望の配線回路パターンより僅かに狭い回路パター
ン7を有するポジフィルムB(第5図、第6図)を用い
て、第7図のようにエツチングレジスト8を形成し、エ
ツチング法により第8図に示すように浅くエツチングし
、耐酸性樹脂9を加熱軟化除去する。Next, using a positive film B (FIGS. 5 and 6) having a circuit pattern 7 slightly narrower than the desired wiring circuit pattern, an etching resist 8 is formed as shown in FIG. As shown in the figure, shallow etching is performed, and the acid-resistant resin 9 is softened and removed by heating.
このようにして刃型11を有する金型10(第9図)が
製造される。In this way, a mold 10 (FIG. 9) having a blade 11 is manufactured.
ここで、刃型を有する金型の製造工程での重要な点は、
エツチングレジストを形成するための2種のフォトマス
クにあり、この従来例において示したように所望の配線
回路パターンより僅かに広い回路幅を有する回路パター
ンAと僅かに狭い回路幅を有する回路パターンBとの2
種のフォトマスクでは、前記金型製造工程中の樹脂埋込
み後のフォトレジスト形成工程に際し、広い面積の印刷
配線用金型を製造するときなどは特にそうであるが、第
1回目のエツチングで形成した平面金型上にエツチング
レジスト(第7図の8)を形成するための所望の配線回
路パターンより僅かに狭い回路幅を有する回路パターン
B(第5図)が正確に位置決めされ、かつ中心があうよ
うに、注意深く位置決めしなけれはならず、金属板上で
は、相当の熟練を必要とし、この2種のフォトマスクA
。Here, the important points in the manufacturing process of a mold with a blade are:
There are two types of photomasks for forming an etching resist, and as shown in this conventional example, circuit pattern A has a slightly wider circuit width than the desired wiring circuit pattern, and circuit pattern B has a slightly narrower circuit width than the desired wiring circuit pattern. Tono 2
In the case of a seed photomask, during the photoresist formation process after resin filling in the mold manufacturing process, this is especially true when manufacturing a large area printed wiring mold, but the first etching process The circuit pattern B (Fig. 5), which has a slightly narrower circuit width than the desired wiring circuit pattern for forming the etching resist (8 in Fig. 7), is accurately positioned and centered on the flat mold. They must be carefully positioned so that they match, and considerable skill is required on the metal plate, and these two types of photomasks A
.
Bの位置の合せ方で刃先の形状か左右され数10μのず
れでも必要としている金型の刃先(第9図の11)が、
左右でアンバランスなものとなり、片側の刃先は比較的
太いが片側の刃先は非常に細いという結果になりやすい
など所望品質の金型を得ることは、頗る困難であった。The shape of the cutting edge depends on how the position of B is aligned, and even if there is a deviation of several tens of microns, the cutting edge of the mold (11 in Figure 9) is required.
It was extremely difficult to obtain a mold of desired quality, as the left and right sides were unbalanced, and the cutting edge on one side was relatively thick while the cutting edge on the other side was very thin.
本発明は、金属板の表面に所望の回路パターンを形成す
る為に必要なエツチングレジストパターンを簡単に形成
することができ、しかも回路パターンフォトマスクの位
置合せ等も迅速に行なえるような新規なパターン形状の
フォトマスクを用いることにより、従来の回路パターン
打抜き金型の製造方法における上述のような欠点を改良
し、常に一定した高品質の金型が容易に得られるように
しようとするもので、以下に図面を用いその実施例を説
明する。The present invention is a novel method that allows easy formation of the etching resist pattern necessary to form a desired circuit pattern on the surface of a metal plate, and also enables quick alignment of a circuit pattern photomask. By using a pattern-shaped photomask, we aim to improve the above-mentioned drawbacks of the conventional manufacturing method of circuit pattern punching molds and make it easier to obtain consistently high-quality molds. , Examples thereof will be described below with reference to the drawings.
まず本発明において用いられる新規なパターン形状のフ
ォトマスクは、1枚の原図(トレース図)から普通の写
真技術で作成した所望の回路パターンに輪郭線を設けた
輪郭線付パターンフォトマスクB3(第16図、第17
図)と所望の回路パターンの回路幅以上の少し広めの回
路幅を有するパターンフォトマスクA4(第18図、第
19図)との2種のフォトマスクの組合せたものであり
、以下そのフォトマスクの形状について詳細に説明する
。First, the novel pattern-shaped photomask used in the present invention is a patterned photomask B3 (No. Figure 16, 17
It is a combination of two types of photomasks: pattern photomask A4 (Figures 18 and 19) having a slightly wider circuit width than the circuit width of the desired circuit pattern, and the photomask will be referred to below as a combination of two types of photomasks: The shape of will be explained in detail.
たとえは、第28図に示すように所望の回路幅がa(刃
の外側で金属箔が切れることは実験的に確認している。For example, as shown in FIG. 28, the desired circuit width is a (it has been experimentally confirmed that the metal foil can be cut on the outside of the blade).
)、刃型33の1幅がV、金属箔を押圧するための浅い
溝27の深さがd、金属箔を逃がすための深い溝31が
Dである金属箔を所望のパターン状に打抜くのに適した
刃型を有する金型(第28図)を製造する場合、一方の
フォトマスクは、刃型33と金属箔を押圧するための浅
い溝27を形成するための輪郭線付パターン18を有す
るフォトマスクB3(第16図、第17図)である。), the width of the blade 33 is V, the depth of the shallow groove 27 for pressing the metal foil is d, and the deep groove 31 for letting the metal foil escape is D. Punching the metal foil into a desired pattern. When manufacturing a mold (FIG. 28) having a blade mold suitable for the above, one of the photomasks has a contoured pattern 18 for forming a shallow groove 27 for pressing the blade mold 33 and the metal foil. 16 and 17).
このフォトマスクB3は、所望のパターンの回路幅aか
ら、金型の刃型の幅Vに2を乗じたものと金属箔を押圧
するのに適するように浅くエツチング(深さd)したと
きのサイドエッチ量(2d/E、F、、但しE、F、は
金属板をエツチングするときのエッチファクターであり
、深さdだけエツチングしたとき、レジスト画線部より
bだけサイドエッチが行なわれたとすると、E、F、−
2d/bで表わされる)とを減じたものに等しい幅a;
を有して所望のパターン形状に対応するパターンの尿わ
りに輪郭線41を有している。This photomask B3 is obtained by multiplying the circuit width a of the desired pattern by 2 by the width V of the mold blade, and by shallowly etching (depth d) suitable for pressing the metal foil. Side etch amount (2d/E, F, where E and F are etch factors when etching a metal plate, and when etching is done to a depth d, side etching is performed by a distance b from the resist image area. Then, E, F, -
2d/b) minus the width a;
The pattern has an outline 41 corresponding to the desired pattern shape.
そしてこの輪郭線41の内側の幅a2は、所望のパター
ンの幅aに、浅くエツチングしたときのサイドエッチ量
(2d/E、F、)を加えたものに等しくしである。The inner width a2 of this contour line 41 is equal to the width a of the desired pattern plus the side etch amount (2d/E, F,) when shallowly etched.
また輪郭線41の外側の=a3は回路幅aに、深くエツ
チング(深さD)したときのサイドエッチ量2D/E、
Fから浅くエツチング(深さd)したときのサイドエッ
チ量を減じたものに等しくしである。Further, =a3 outside the contour line 41 is the side etching amount 2D/E when deeply etched (depth D) to the circuit width a,
It is equal to F minus the amount of side etching when shallowly etched (depth d).
これらの関係を第17図、第28図にそって式で表わす
と、a1=a−(2v+2d/E、F、)
a2=a+2d/E、F。These relationships are expressed by formulas as shown in FIGS. 17 and 28: a1=a-(2v+2d/E, F,) a2=a+2d/E, F.
a3=a+2(D−d)/E、F、(但しD〉d)とな
る。a3=a+2(D-d)/E, F, (where D>d).
次にもう一方のフォトマスクは、金属箔を逃がすための
深い溝31を形成するための少し広めのパターン19を
有するフォトマスクA4(第18図、第19図)である
。Next, the other photomask is photomask A4 (FIGS. 18 and 19) having a slightly wider pattern 19 for forming deep grooves 31 for letting the metal foil escape.
このフォトマスクA4はその幅a4が所望の回路パター
ンの回路幅aより広くか又は等しくなるようにし、かつ
幅aに深い溝31(深さD)を形成するためエツチング
したときのサイドエッチ量(2D/E、F、)を加えた
幅よりも狭くか又は等しくなるようにしているこの関係
を第19図、第28図に沿って式で表わすと、
a≦a4≦a+2D/E、F。This photomask A4 is made so that its width a4 is wider than or equal to the circuit width a of the desired circuit pattern, and the side etch amount ( This relationship is made to be narrower than or equal to the sum of 2D/E, F,), and can be expressed as an equation according to FIGS. 19 and 28 as follows: a≦a4≦a+2D/E,F.
となる。becomes.
次に以上のような2種のフォトマスクを用いて金型を製
造したときの製造方法について、やはり図面を用い説明
する。Next, a manufacturing method for manufacturing a mold using the two types of photomasks as described above will be described with reference to the drawings.
なお説明を(イ)カメラワーク工程と、(ロ)エツチン
グ工程の2つに分けて行なう。The explanation will be divided into two parts: (a) camera work process and (b) etching process.
(イ)カメラワーク工程
最初に作図誤差を押えるため作図精度、寸法許容値等を
考慮し拡大率を決め、第10図のように、第16図、第
17図でいうと、輪郭線41の内側部分(すなわち、巾
が32になった部分)を拡大したパターン12の画かれ
た拡大原図を作成する。(B) Camera work process First, in order to reduce drawing errors, the magnification ratio is determined by considering drawing accuracy, dimensional tolerances, etc. As shown in Fig. 10, in Figs. An enlarged original drawing in which pattern 12 is drawn is created by enlarging the inner part (that is, the part whose width is 32).
次にこの拡大原図を普通の写真製版用カメラで原寸に縮
少して第11図のように幅が32(a2=a−2d/E
、F)になったパターン13を有するネガフィルムA1
を作成する。Next, this enlarged original drawing was reduced to the original size using an ordinary photoengraving camera, and the width was 32 (a2 = a - 2d / E) as shown in Figure 11.
, F) Negative film A1 having the pattern 13
Create.
次に普通の写真製版用のガラスのついている真空焼枠あ
るいはスプリングで圧力をかける密着焼枠を用いて、第
20図のように未露光フィルム20を置き、その上に原
稿21(前記の原寸に縮少した第11図の如きネガフィ
ルムA1)を、そしてその上に密着用ガラス22を重ね
て密着し、その上方から点光源(密着焼付用ランプ)2
3で露光する。Next, using a vacuum printing frame with glass for ordinary photolithography or a contact printing frame with pressure applied by a spring, place the unexposed film 20 as shown in Figure 20, and place the original 21 (the original size A negative film A1) as shown in FIG.
Expose at 3.
未露光フィルム20にネガ−ネガ(ポジーポジ)タイプ
の写真フィルム、例えはコダックスーパースピードデュ
ープリケーテイングフイルムNo、2551を用いると
、第21図の曲線Nに示すように露光量(露光時間)を
変えることにより元の拡散量が変り、原稿21の線幅を
所望の線幅に太らすことができる。When a negative-negative (positive-positive) type photographic film, for example Kodak Super Speed Duplicating Film No. 2551, is used as the unexposed film 20, the exposure amount (exposure time) is changed as shown by curve N in FIG. As a result, the original amount of diffusion changes, and the line width of the original 21 can be increased to a desired line width.
このことは実験の結果から確認済みである。This has been confirmed from experimental results.
そこで原稿21として第11図のネガフィルムA1を装
着し、露光時間を太り量が第16図。Therefore, the negative film A1 shown in FIG. 11 was mounted as the original 21, and the exposure time was such that the amount of thickening was as shown in FIG. 16.
第17図の(a3−a2)に相当する時間でネガ−ネガ
タイプの未露光フィルム20に露光し、現像、定着、水
洗すれは少し太った回路パターン(第12図の14)を
有するネガフィルムA2を得る。A negative-negative type unexposed film 20 is exposed for a time corresponding to (a3-a2) in FIG. 17, and after developing, fixing, and washing, a negative film A2 having a slightly thicker circuit pattern (14 in FIG. 12) is formed. obtain.
一方策11図のネガフィルムA1から適正露光を与えて
密着反転で該ネガフィルムA1の回路パターン13と同
寸の回路パターン(第13図の15)を有するポジフィ
ルムB1を作成しておく。On the other hand, a positive film B1 having a circuit pattern (15 in FIG. 13) having the same size as the circuit pattern 13 of the negative film A1 is prepared by applying proper exposure to the negative film A1 shown in FIG. 11 and inverting the negative film A1.
次に第20図で未露光フィルム20として、ポジーポジ
タイプの写真フィルム(例えはコダック製リスフィルム
No、255])を用い、原稿21として第13図のポ
ジフィルムB1を、そしてその上に密着用ガラス22を
重ねて密着し、その上方から点元源23で露光すると、
第21図において曲線Pで示すように露光量(露光時間
)を変えることにより元の拡散量が変り、原稿21の線
幅を所望の線幅に細らすことができる。Next, in FIG. 20, a positive type photographic film (for example, Kodak Risfilm No. 255) is used as the unexposed film 20, and the positive film B1 shown in FIG. When the glasses 22 are stacked and brought into close contact with each other and exposed from above with a point source 23,
As shown by curve P in FIG. 21, by changing the exposure amount (exposure time), the original amount of diffusion changes, and the line width of the original 21 can be narrowed to a desired line width.
そこで露光時間を細り量が第17図の(a2−al)に
相当する時間で、露光し、現像定着、水洗すれは、少し
細った回路パターン(第14図の16)を有するポジフ
ィルムB2を得る。Therefore, after exposing, developing, fixing, and washing with water for an exposure time corresponding to the amount of thinning (a2-al) in FIG. 17, positive film B2 having a slightly thinned circuit pattern (16 in FIG. 14) was obtain.
さらにこのポジフィルムB2から適正露光の密着反転に
よりポジフィルムB2の回路パターン16と同寸の回路
パターン(第15図の17)を有するネガフィルムA3
を作成する次に第20図で未露光フィルム20としてネ
ガ−ポジタイプの写真フィルム、例えは、コダックリプ
ロダクションフイルムNo、2566を用い原稿21と
して、第13図のポジフィルムB1と、少し太った回路
パターン(第12図の14:を有するネガフィルムA2
とを重ねて密着し、適正露光を与える。Further, from this positive film B2, a negative film A3 having a circuit pattern (17 in FIG. 15) having the same size as the circuit pattern 16 of the positive film B2 by inverting the contact with proper exposure.
Next, as shown in FIG. 20, a negative-positive type photographic film, for example, Kodak Reproduction Film No. 2566, is used as the unexposed film 20, and as the original 21, positive film B1 in FIG. 13 is used with a slightly thicker circuit pattern. (Negative film A2 having 14: in Fig. 12)
The images are overlapped and brought into close contact to give proper exposure.
次に公知のレジスターパンチを用いたピン合せ装置(図
示せず)を用いて第13図と第12図のフィルムB1と
A2の代りに第15図の少し細ったネガフィルムA3を
重ねて再露光し、現像、定着、水洗処理することにより
、本発明において重要部分をなす輪郭線付き回路パター
ン(第16図、第17図の18:を有するポジフィルム
B3が作成される。Next, using a known focusing device (not shown) using a register punch, a slightly narrower negative film A3 shown in Figure 15 is superimposed in place of the films B1 and A2 shown in Figures 13 and 12, and re-exposed. By developing, fixing, and washing with water, a positive film B3 having a circuit pattern with outlines (18 in FIGS. 16 and 17), which is an important part of the present invention, is created.
次に真空焼枠などを用いて、第20図のように未露光フ
ィルム20としてネガ−ネガタイプの写真フィルムを置
き、その上に原稿21として、前記拡大原図を原寸に縮
小した第11図のネガフィルムA1を置き、露光時間は
、回路パターンの線幅が金型の刃型をおおうだけの量(
a≦a4≦a+2D/E、F)になるように、第21図
を参照して選んで決める。Next, using a vacuum printing frame or the like, a negative-negative type photographic film is placed as an unexposed film 20 as shown in FIG. Place the film A1, and set the exposure time to the amount that the line width of the circuit pattern covers the die of the mold (
Select and decide with reference to FIG. 21 so that a≦a4≦a+2D/E, F).
露光後、現像定着、水洗処理すると所望の回路パターン
の回路幅よりも広い回路パターン(第18図、第19図
の19)を有するネガフィルムAが作成される。After exposure, development, fixation, and washing are performed to produce a negative film A having a circuit pattern (19 in FIGS. 18 and 19) wider than the circuit width of the desired circuit pattern.
(0)エツチング工程
第22図のように、金属原板25(炭素工具鋼5に−3
などの低炭素鋼か、これに焼入れ処理したもの)に、フ
ォトレジスト材24(例えは東京応化工業製TPR、コ
ダック製KPRなどのエツチングレジスト)をホアラー
で塗布焼付し、その上に所望の回路パターンに輪郭線を
設けた輪郭線付き回路パターン18を有するパターンフ
ォトマスクとしての前記ポジフィルム旦3(第17図)
を置いて上から紫外線(メタルハライドランプなど)を
照射した後、現像し水洗する。(0) Etching process As shown in Fig. 22, the metal original plate 25 (-3
A photoresist material 24 (for example, an etching resist such as Tokyo Ohka Kogyo's TPR or Kodak's KPR) is coated and baked on a low-carbon steel (such as, for example, or a hardened material) using a hoarer, and a desired circuit is printed on it. The positive film 3 as a pattern photomask having a circuit pattern 18 with an outline provided in the pattern (FIG. 17)
After exposing the film to ultraviolet light (metal halide lamp, etc.), develop it and wash it with water.
その結果金属原板25の上にポジフィルムB3(第17
図)の透明な回路パターンに相当するエツチングレジス
ト26(第23図)が形成される。As a result, a positive film B3 (17th
An etching resist 26 (FIG. 23) corresponding to the transparent circuit pattern shown in FIG.
次にこのエツチングレジスト26が形成された金属原板
25を浅くエツチング処理することにより、エツチング
レジスト26が施されていない金属原板25の露出され
た部分が腐食されて第24図に示されるように凹陥部2
7が形成される。Next, by shallowly etching the metal original plate 25 on which the etching resist 26 has been formed, the exposed portion of the metal original plate 25 on which the etching resist 26 is not applied is corroded and a depression is formed as shown in FIG. Part 2
7 is formed.
こうして得られた金属板28(第24図)の表面のエツ
チングレジスト26を剥離液で剥離する。The etching resist 26 on the surface of the thus obtained metal plate 28 (FIG. 24) is removed using a removing solution.
この凹陥部27に例えばエポキシ樹脂よりなる耐酸性樹
脂29を第25図に示すようにエツチングされていない
部分と同じ高さの平らな表面になるように充填する。This concave portion 27 is filled with an acid-resistant resin 29 made of, for example, epoxy resin so as to form a flat surface at the same height as the unetched portion, as shown in FIG.
次にこの表面にフォトレジスト材を塗布焼付し、所望の
回路パターンの回路幅よりも広い回路幅を有する回路パ
ターン19を有するパターンフォトマスクとしての前記
ネガフィルムA4(第19図)を用いて露光し、現像、
水洗し、第26図に示すようなエツチングレジスト30
を形成する。Next, a photoresist material is applied and baked on this surface, and exposed using the negative film A4 (FIG. 19) as a pattern photomask having a circuit pattern 19 having a circuit width wider than the circuit width of the desired circuit pattern. Develop,
Wash with water and form an etching resist 30 as shown in FIG.
form.
この後、深くエツチング処理31することにより第27
図に示すように腐食される。After this, by deep etching treatment 31, the 27th
Corroded as shown in the figure.
そしてエツチングレジスト30を剥離液で剥離し、さら
に耐酸性樹脂29を加熱軟化して除去する。Then, the etching resist 30 is peeled off using a stripping solution, and the acid-resistant resin 29 is further heated and softened to be removed.
このようにして第28図に示すような刃型33を有する
金型27が製造される。In this way, a mold 27 having a blade 33 as shown in FIG. 28 is manufactured.
なおフォトマスク(第17図のポジフィルムB3の輪郭
線付き回路パターンの幅(al、a2)を変えることに
より、鈍い刃型のもの、鋭い刃型のもの、さらに尖鋭な
刃型をもった印刷配線用回路パターン打抜き金型が製造
される。By changing the width (al, a2) of the contoured circuit pattern of the photomask (positive film B3 in Fig. 17), it is possible to print with a blunt edge, a sharp edge, and even a sharp edge. A circuit pattern punching die for wiring is manufactured.
以上の説明から明らかなように、本発明において重要な
役割をはたす2種のフォトマスクのうちの一方であり、
輪郭線付パターンを有するフォトマスクB3は、金型の
刃先を形成するための輪郭(a2−al)が写真的にレ
ジスターパンチによるピン合せ方式で精度よく形成され
ているために、パターンの位置決めの許容差が広くなり
、またより簡単にかつ正確にエツチングレジストの形成
が可能なため、常に一定した高品質の金型を得ることが
でき、その効果は極めて犬である。As is clear from the above explanation, this is one of the two types of photomasks that play an important role in the present invention.
In the photomask B3 having a pattern with contour lines, the contour (a2-al) for forming the cutting edge of the mold is formed with high precision by photo-register punching and pin-alignment, so it is easy to position the pattern. Since the tolerances are wider and the etching resist can be formed more easily and accurately, molds of consistently high quality can be obtained, and the effect is extremely effective.
第1図ないし第9図はフォトマスクを用いて、金型を製
造する従来の製造方法を説明するための図で、このうち
第1図、第2図はそれぞれ所望の配線回路パターンより
僅かに広い回路パターンを有するネカブイルムの平面図
、および断面図、第3図および第4図は金属原板上に第
1図のネガフィルムの回路パターンをエツチングにより
得る手順を示す断面図、第5図、第6図はそれぞれ所望
の配線回路パターンより僅かに狭い回路パターンを有す
るポジフィルムの平面図および断面図、第7図ないし第
9図は第4図の金属板をエツチング処理し、刃型回路パ
ターンを有する金型を製造する手順を示す断面図、第1
0図ないし第28図は本発明の実施例である回路パター
ン打抜き金型の製造方法を説明するための図で、このう
ち第10図ないし第15図は本発明の実施例において用
いられる金型製作用フォトマスクの作成手順を説明する
ための平面図、第16図、第17図はそれぞれ同フォト
マスクの一方の側の平面図および断面図、第18図、第
19図はそれぞれ同フォトマスクの他方の側の平面図お
よび断面図、第20図は同フォトマスクを作成するとき
に用いる装置を説明するための図、第21図は上記装置
における露光時間と線幅の太り量および細り量との関係
を示す曲線図、第22図ないし第28図は金属原板を上
記フォトマスクを用いてエツチング処理し、刃型回路パ
ターンを有する金型を製造する手順を示すための断面図
である。
13.15・・・拡大トレース図から原寸大に縮小した
パターン、14・・・原寸大回路パターンより少し太っ
た回路パターン、17・・・原寸大回路パターンより少
し細った回路パターン、25・・・金属原板、26.3
0・・・エツチングレジスト、32・・・金型、33・
・・刃型、27・・・金属箔を押圧するための浅い溝、
31・・・金属箔を逃がすための深い溝、B3・・・輪
郭線付回路パターンフォトマスク(ポジフィルム)、A
4・・・少し広めの回路パターンフォトマスク(ネガフ
ィルム)。Figures 1 to 9 are diagrams for explaining the conventional manufacturing method of manufacturing a mold using a photomask. 3 and 4 are a plan view and a cross-sectional view of Nekabu film having a wide circuit pattern; FIGS. 3 and 4 are cross-sectional views showing the procedure for obtaining the circuit pattern of the negative film shown in FIG. 6 is a plan view and a sectional view of a positive film having a circuit pattern slightly narrower than the desired wiring circuit pattern, and FIGS. 7 to 9 show the metal plate shown in FIG. 4 etched to form a blade-shaped circuit pattern. A sectional view showing a procedure for manufacturing a mold having a first
0 to 28 are diagrams for explaining a method for manufacturing a circuit pattern punching mold according to an embodiment of the present invention, and among these, FIGS. 10 to 15 are diagrams showing a mold used in an embodiment of the present invention. 16 and 17 are respectively a plan view and a cross-sectional view of one side of the same photomask, and FIGS. 18 and 19 are respectively the same photomask. A plan view and a sectional view of the other side of the photomask, FIG. 20 is a diagram for explaining the equipment used to create the same photomask, and FIG. 21 shows the exposure time and the amount of thickening and thinning of the line width in the above equipment. FIGS. 22 to 28 are cross-sectional views showing the steps for etching a metal original plate using the photomask and manufacturing a mold having a blade-shaped circuit pattern. 13.15...Pattern reduced to the original size from the enlarged trace diagram, 14...Circuit pattern slightly thicker than the original size circuit pattern, 17...Circuit pattern slightly thinner than the original size circuit pattern, 25... Metal original plate, 26.3
0... Etching resist, 32... Mold, 33...
...blade shape, 27...shallow groove for pressing metal foil,
31...Deep groove for letting the metal foil escape, B3...Circuit pattern photomask with outline (positive film), A
4...Slightly wider circuit pattern photomask (negative film).
Claims (1)
プ状の刃を有し、上記の内側は浅く陥没しかつその外側
は深く陥没した回路パターン打抜用金型の製造方法にお
いて、上記刃のパターンに対応した回路パターン形状を
有するとともに上記パターンの外側に沿い所定幅の輪郭
線を有する第1のフォトマスクと、所望の回路パターン
の回路幅以上の少し広めの回路パターンを有する第2の
フォトマスクの2種のフォトマスクを作成する第1工程
と、第1のフォトマスクを用い金属板上に上記刃のパタ
ーンに対応するようにしてエツチングレジストを設ける
第2工程と、第2工程においてエツチングレジストが設
けられた上記金属緘を浅くエツチングすることにより、
上記金型の浅く陥没した部分を形成するとともに、上記
刃の外側に溝を形成する第3工程と、こうして得られた
金属板表面のエツチングレジストを剥離し、エツチング
で得られた浅く陥没した部分に耐酸性樹脂を充填する第
4工程と、第2フオトマスクで上記金属板の回路パター
ン上にエツチングレジストを設ける第5工程と、第5工
程においてエツチングレジストが設けられた上記金属板
を深くエツチングすることにより、上記金型の深く陥没
した部分を形成する第6エ程と、こうして得られた金属
板のエツチングレジストと金属板上の浅く陥没した部分
に充填した耐酸性樹脂を除去する第7エ程を有し、第1
のフォトマスク、第2のフォトマスクそれぞれのパター
ンの対向する刃に対応する部分についていえは、第1の
フォトマスクのパターンの内側を形取り対向する刃のそ
れぞれの内側の縁に対応する内側縁取線相互間の幅が、
所望の回路幅から刃の幅に2を乗じたものと第3工程に
おいて浅くエツチングしたときのサイドエッチ量とを減
じたものと等しく、また同じく第1のフォトマスクの外
側を形取り、対向する刃のそれぞれの外側の縁に対応す
るとともに輪郭線の内側を形取る線に共通する外側縁取
線相互間の幅が所望の回路幅に第3工程において浅くエ
ツチングしたときのサイドエッチ量を加えたものと等し
く、また輪郭線の外側を形取り、互いに対向する部分の
線間における幅が所望のパターン幅に第6エ程および第
3工程においてそれぞれ深くおよび浅くエツチングした
ときの両者のサイドエッチ量の差を加えたものと等しく
、さらに第2のフォトマスクのパターンを形取りする線
の対向する部分での両者間の幅が、所望のパターン幅よ
り小さくなく、かつ所望のパターン幅に第6エ程におい
て深くエツチングしたときのサイドエッチ量を加えたも
のより大きくないようにしたことを特徴とする回路パタ
ーン打抜き金型の製造方法。1. A method for manufacturing a die for punching a circuit pattern, which has a loop-shaped blade corresponding to the peripheral shape of the circuit pattern to be punched, the inner side of which is shallowly recessed, and the outer side of which is deeply recessed. a first photomask having a circuit pattern shape corresponding to the shape and having an outline line of a predetermined width along the outside of the pattern; and a second photomask having a circuit pattern slightly wider than the circuit width of the desired circuit pattern. A first step of creating two types of photomasks; a second step of forming an etching resist on a metal plate using the first photomask in a manner corresponding to the pattern of the blade; and a second step of forming an etching resist in the second step. By shallowly etching the metal strip provided with
A third step of forming a shallowly depressed part of the mold and forming a groove on the outside of the blade, and peeling off the etching resist on the surface of the metal plate obtained in this way, and etching the shallowly depressed part obtained by etching. a fourth step of filling the circuit pattern with an acid-resistant resin, a fifth step of providing an etching resist on the circuit pattern of the metal plate using a second photomask, and deeply etching the metal plate provided with the etching resist in the fifth step. As a result, the sixth step of forming the deeply depressed portion of the mold, and the seventh step of removing the etching resist of the metal plate thus obtained and the acid-resistant resin filled in the shallowly depressed portion of the metal plate. The first
Regarding the portions of the pattern of the photomask and the second photomask corresponding to the opposing blades, the inside edge of the pattern of the first photomask is shaped and corresponds to the inside edge of each of the opposing blades. The width between the lines is
It is equal to the desired circuit width multiplied by the width of the blade by 2 minus the amount of side etching when shallowly etched in the third step, and the outside of the first photomask is similarly shaped and facing The width between the outer edge lines, which correspond to each outer edge of the blade and are common to the lines that define the inside of the contour line, is the desired circuit width plus the amount of side etching when shallowly etched in the third step. The amount of side etching for both sides is equal to that, and when etching is done deeply and shallowly in the 6th and 3rd steps, respectively, so that the width between the lines of the mutually opposing parts is the desired pattern width. furthermore, the width between the lines forming the pattern of the second photomask at opposing parts is not smaller than the desired pattern width, and the sixth A method for manufacturing a circuit pattern punching die, characterized in that the amount of side etching is not greater than the sum of side etching when deeply etched in an etching process.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13278478A JPS5810467B2 (en) | 1978-10-27 | 1978-10-27 | Manufacturing method for circuit pattern punching mold |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13278478A JPS5810467B2 (en) | 1978-10-27 | 1978-10-27 | Manufacturing method for circuit pattern punching mold |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5561335A JPS5561335A (en) | 1980-05-09 |
JPS5810467B2 true JPS5810467B2 (en) | 1983-02-25 |
Family
ID=15089456
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13278478A Expired JPS5810467B2 (en) | 1978-10-27 | 1978-10-27 | Manufacturing method for circuit pattern punching mold |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5810467B2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59218226A (en) * | 1983-05-24 | 1984-12-08 | Copal Co Ltd | Working method of edge part pattern of main die for press die |
-
1978
- 1978-10-27 JP JP13278478A patent/JPS5810467B2/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5561335A (en) | 1980-05-09 |
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