JPS58103651A - 湿度測定方法 - Google Patents
湿度測定方法Info
- Publication number
- JPS58103651A JPS58103651A JP20297581A JP20297581A JPS58103651A JP S58103651 A JPS58103651 A JP S58103651A JP 20297581 A JP20297581 A JP 20297581A JP 20297581 A JP20297581 A JP 20297581A JP S58103651 A JPS58103651 A JP S58103651A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- drying
- coating
- granulation
- humidity
- Prior art date
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/56—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は空気を造粒・コーティング・乾燥の主要媒体と
する通気−造粒・1−チイツプ・乾gIk装置の湿度測
定方法に嘴するものである。
する通気−造粒・1−チイツプ・乾gIk装置の湿度測
定方法に嘴するものである。
通気型造粒・】−ティング・乾燥装置は、造粒、コーテ
イング液の噴霧、乾燥のく抄返しか壇九は造粒、コーテ
イング液の噴霧、乾燥を同時に行うかにより造粒・コー
ティングを行なつ九り、tたは造粒、コーテイング物の
乾燥のみに用い九やしているが、その際温度の測定は安
定し九操業と品質の一定した製品を得るKsPいて重要
である。
イング液の噴霧、乾燥のく抄返しか壇九は造粒、コーテ
イング液の噴霧、乾燥を同時に行うかにより造粒・コー
ティングを行なつ九り、tたは造粒、コーテイング物の
乾燥のみに用い九やしているが、その際温度の測定は安
定し九操業と品質の一定した製品を得るKsPいて重要
である。
従来温度測定に関しては、排気側の湿度を測定すゐ考え
方があったが1m度針の検出部が着京等の付着あるいは
他の原因で妨害を受は中すく、また寿命が短かかつ九抄
して温度@電のための適当な計器がなく湿度測定が困難
で鳴り★。
方があったが1m度針の検出部が着京等の付着あるいは
他の原因で妨害を受は中すく、また寿命が短かかつ九抄
して温度@電のための適当な計器がなく湿度測定が困難
で鳴り★。
そζで本発明者らは、造粒・】−ティング・乾燥装置に
おける湿度測定について種々検討を重ね九醋果、造粒・
コーティング−乾燥室への通気口部分く設けた温度針の
値を!D2造粒・ツーティング・乾燥室内ま九は排気口
部分に設は亀温度針の値をTV、給気側の絶対湿度の値
をHDに示゛すように7D、 Tg、 iip を真
数とする関数によって示されることが判った。
おける湿度測定について種々検討を重ね九醋果、造粒・
コーティング−乾燥室への通気口部分く設けた温度針の
値を!D2造粒・ツーティング・乾燥室内ま九は排気口
部分に設は亀温度針の値をTV、給気側の絶対湿度の値
をHDに示゛すように7D、 Tg、 iip を真
数とする関数によって示されることが判った。
ii w f (テp* %−JAD I
(1)φ■f(TD、!訃11Dl
(至)従って、τD−TI−”D を変数と
する関係を演算することによって温度が算出されること
が判った。
(1)φ■f(TD、!訃11Dl
(至)従って、τD−TI−”D を変数と
する関係を演算することによって温度が算出されること
が判った。
ここでいう造粒・コーティング・乾燥とは。
造粒俟作重たはコーティング′操作會たは通電しながら
コーティングを行iう操作または乾燥のみの操作のいず
れもをさすものとする。
コーティングを行iう操作または乾燥のみの操作のいず
れもをさすものとする。
さらに湿度とは相対湿−R,比較温度のいずれコーへ温
度計オたは電気的温度測電素子等が用いられるため、市
輯の温度針と異な抄湿度測弯のための検出部が肴末勢の
付着あるいは他の原因で妨害を受けることがないため、
従奄、は不可能であった役塵がたちこめる造粒・コーチ
イングー乾−室内の濃度の副定か可能となり常時。
度計オたは電気的温度測電素子等が用いられるため、市
輯の温度針と異な抄湿度測弯のための検出部が肴末勢の
付着あるいは他の原因で妨害を受けることがないため、
従奄、は不可能であった役塵がたちこめる造粒・コーチ
イングー乾−室内の濃度の副定か可能となり常時。
安定した状態で湿度を検出できるという一期的な特徴を
有している。
有している。
本発明を実施するに必要な比較湿度を演算する方法を以
下に記載する。
下に記載する。
造粒・−一ティング・乾−に用いる乾燥用空気の絶対湿
度HD、温度をTDとした場合、造粒・コーティング・
乾燥室のtj/ILfがと弄すゐKつれて造粒・コーテ
ィング・乾燥室内の温度はイ 断熱冷却線に沿って低下する。ダして造粒・コーティン
グ・乾燥室の温度が−TV K 1に2九と117)I
l対湿度をflyとし、またTgKkける鉋和温駅をl
lffとすれば、比較lIfφは11式から傘オる。
度HD、温度をTDとした場合、造粒・コーティング・
乾燥室のtj/ILfがと弄すゐKつれて造粒・コーテ
ィング・乾燥室内の温度はイ 断熱冷却線に沿って低下する。ダして造粒・コーティン
グ・乾燥室の温度が−TV K 1に2九と117)I
l対湿度をflyとし、またTgKkける鉋和温駅をl
lffとすれば、比較lIfφは11式から傘オる。
また乾燥流動化空気の絶対湿fケID、llfをTDと
じたときの断熱冷却・線は【ダ)式で示されるため造粒
・コーティング・乾燥室内oatt@での絶対濃II!
Hwはけ)式で求まる。
じたときの断熱冷却・線は【ダ)式で示されるため造粒
・コーティング・乾燥室内oatt@での絶対濃II!
Hwはけ)式で求まる。
Og (TD−テl1wrg(My−HD)
(1)OH=湿り比熱(Icoal / Ml乾纜
空気”c )rl:T、の蒸発潜熱(Icoal /水
/#〕なおOHはα)式で求まあことが知られている。
(1)OH=湿り比熱(Icoal / Ml乾纜
空気”c )rl:T、の蒸発潜熱(Icoal /水
/#〕なおOHはα)式で求まあことが知られている。
OH!O0評+0.4I4 I!D(1)ryは(7)
式で求噛為。
式で求噛為。
ry 冨 j 9 j −−’x、 ”
′υ)iiw、s 次にTyKおける胞和温RH8Nは別途K(1)t。
′υ)iiw、s 次にTyKおける胞和温RH8Nは別途K(1)t。
から求まることが知られている。
Palはアントインの式(化学工学便覧、化学工学協会
−1−5頁、−6頁:を適用して(!)式から求まる。
−1−5頁、−6頁:を適用して(!)式から求まる。
なお−pawとTVの関係式は′(デ)式に@定されな
い、温[Tyとその温度での麿和水蒸気圧P、f例えば
クラレウス、クラペイロンの関係式を適用してもよい。
い、温[Tyとその温度での麿和水蒸気圧P、f例えば
クラレウス、クラペイロンの関係式を適用してもよい。
以上、IIIは(j) 、 (4) 、 (’7)’i
ieから1ip−Tp、 TVを変数とする関部で、あ
るa 1istは(#)、(?)(からTVを変数とす
る関数である。従って、このよ乾flk1!内の塩、較
湿度ψが算出され為こと[する。
ieから1ip−Tp、 TVを変数とする関部で、あ
るa 1istは(#)、(?)(からTVを変数とす
る関数である。従って、このよ乾flk1!内の塩、較
湿度ψが算出され為こと[する。
相対aRRFi、(/θ1式から求まるつ<101 <
のByは(//)丈から求まることが知られている。
のByは(//)丈から求まることが知られている。
り士U、−
以上、〜lは(//) 、 (j) 、 (4) 、
(7)式からHD * TD * ’f’wを変数とす
る関数である。
(7)式からHD * TD * ’f’wを変数とす
る関数である。
pswは(?)式から〜を変数とする関数である。従う
て、このようなHD−% −TDを変数とする関係を演
算することによって造粒・フーティング・乾燥室内の相
対f11度Rが算出されるととKなる。
て、このようなHD−% −TDを変数とする関係を演
算することによって造粒・フーティング・乾燥室内の相
対f11度Rが算出されるととKなる。
温度針を設置□する場所は、前述のTDに和尚する温度
を測定する位置については造粒・コーティング・乾燥室
への通気口の近辺に設置されることが望ましい。TwK
相当する亀゛度を測定する位fllKついては造粒・コ
ーテイング室内が望ましく、・また排気口入口付近に設
置してもよ゛ いO しかし、温度針の設置箇所によって得られ名湿度の値が
異なるため、実際測定するKあたりては、次の方法で温
度針の位置を設定する必豐がある。
を測定する位置については造粒・コーティング・乾燥室
への通気口の近辺に設置されることが望ましい。TwK
相当する亀゛度を測定する位fllKついては造粒・コ
ーテイング室内が望ましく、・また排気口入口付近に設
置してもよ゛ いO しかし、温度針の設置箇所によって得られ名湿度の値が
異なるため、実際測定するKあたりては、次の方法で温
度針の位置を設定する必豐がある。
予め、造粒・コーティング・乾燥装置の造粒・コーティ
ング・乾燥室内の上部に湿度計9を設置し、かつ造粒・
コーティングφ乾燥室内に試料を充填せず空の状態で通
気し、造粒、コーテイング液を噴霧しながら温度計の位
置を種々変えてffi度針の値と一致する最適な温度針
の設置箇所を見いだす。
ング・乾燥室内の上部に湿度計9を設置し、かつ造粒・
コーティングφ乾燥室内に試料を充填せず空の状態で通
気し、造粒、コーテイング液を噴霧しながら温度計の位
置を種々変えてffi度針の値と一致する最適な温度針
の設置箇所を見いだす。
前述の助を測定する位置は空気取入口から造粒・=−テ
ィング・乾燥室の通気孔への間、を九は空気取入口付近
で測定すれば何れでもよいO 絶対湿度の検出は市販の絶対湿度計で直接測定するか、
゛または乾湿球湿度針の原理に従って転球と湿球の温度
を測定し、この値をもとに絶対ffi度を導く方法勢に
よシ検出することができるO 前述の式から湿度を演算する方法は鈑算または計算機を
用いて実施することができるし、または温度針にサーミ
スタなどの電気的温度測定素子を′用い、かつ絶対湿度
も一気的手段によって求め、各検出器の電気信号をアナ
ログ−・ディジタル変換してコンビエータ−に入力しコ
ンビ1−ターで自動的に演算しグラフィック・ディスプ
レーま良はプリンターで表示することもできる。
ィング・乾燥室の通気孔への間、を九は空気取入口付近
で測定すれば何れでもよいO 絶対湿度の検出は市販の絶対湿度計で直接測定するか、
゛または乾湿球湿度針の原理に従って転球と湿球の温度
を測定し、この値をもとに絶対ffi度を導く方法勢に
よシ検出することができるO 前述の式から湿度を演算する方法は鈑算または計算機を
用いて実施することができるし、または温度針にサーミ
スタなどの電気的温度測定素子を′用い、かつ絶対湿度
も一気的手段によって求め、各検出器の電気信号をアナ
ログ−・ディジタル変換してコンビエータ−に入力しコ
ンビ1−ターで自動的に演算しグラフィック・ディスプ
レーま良はプリンターで表示することもできる。
本発明を実施するために造粒・コーテング・乾燥室で噴
霧される造粒、コーテイング液の溶媒は水に限定される
。また被乾燥物も水を含有したものに@定される。
霧される造粒、コーテイング液の溶媒は水に限定される
。また被乾燥物も水を含有したものに@定される。
なお本発明を第1図の実施例にもとづいて簡単に説明す
ると第1図は流動造粒・−一一インク装置にお叶るf1
度欄測定示したものでtおよび?は亀気弱温度測定菓子
を示し/θBgおよびりの電気的温度測定素子で測定さ
れた温度を表示する記録針であ−る。
j絶対湿度を求めるため相対湿度を測定する湿
度針を//Km度針を/コに設置した。 ゛本
装置によシ湿度を測定するKiりて造粒・コーテイング
輩内の上部に湿度針を設置し、試 j料を充填せず空
の状態で通気しながら水を噴霧 :し、湿度針の値と
一致する測温部所を選定した(4 実験装置:フローコ
ーターPL −60瀝Q 試 料:押出し造粒機で造
粒した碩粒0顆粒処方 乳 糖 7.4IIlipトウモロコシ
デンプン 3.2塾 L−HPC/、/塾 RPC(L) 0.3塾■試料量=/
コ訃 (ロ) コーティング液:水 (支)測定結果 測定回数 測定番号 /−3 Il!Ml”Hp(’−”’、−、、、、、) 0.0
0n O,(XB60.0017−気口部分の温l T
D (”C) 7g 71 4り、j造粒
、・コーテイング室の温度ハ、H”c) sb
4A3s;i、sか一9論より 凡戦湿度(%)
& お 侭寅算で求めた湿度 相対r
ig<’s)u J7 i湿度針で求めた
相対all<饅) j? J4 4As
嵐 量(m3贋 工4 j、 ふ4tdM
nk 注/、温縦針はサーミスタ温度針を使用TDの側温位置
は第1図のlの位置に設置〜の測温位置はスプレ−ガン
0上部約 3θmの位置に設置した。
ると第1図は流動造粒・−一一インク装置にお叶るf1
度欄測定示したものでtおよび?は亀気弱温度測定菓子
を示し/θBgおよびりの電気的温度測定素子で測定さ
れた温度を表示する記録針であ−る。
j絶対湿度を求めるため相対湿度を測定する湿
度針を//Km度針を/コに設置した。 ゛本
装置によシ湿度を測定するKiりて造粒・コーテイング
輩内の上部に湿度針を設置し、試 j料を充填せず空
の状態で通気しながら水を噴霧 :し、湿度針の値と
一致する測温部所を選定した(4 実験装置:フローコ
ーターPL −60瀝Q 試 料:押出し造粒機で造
粒した碩粒0顆粒処方 乳 糖 7.4IIlipトウモロコシ
デンプン 3.2塾 L−HPC/、/塾 RPC(L) 0.3塾■試料量=/
コ訃 (ロ) コーティング液:水 (支)測定結果 測定回数 測定番号 /−3 Il!Ml”Hp(’−”’、−、、、、、) 0.0
0n O,(XB60.0017−気口部分の温l T
D (”C) 7g 71 4り、j造粒
、・コーテイング室の温度ハ、H”c) sb
4A3s;i、sか一9論より 凡戦湿度(%)
& お 侭寅算で求めた湿度 相対r
ig<’s)u J7 i湿度針で求めた
相対all<饅) j? J4 4As
嵐 量(m3贋 工4 j、 ふ4tdM
nk 注/、温縦針はサーミスタ温度針を使用TDの側温位置
は第1図のlの位置に設置〜の測温位置はスプレ−ガン
0上部約 3θmの位置に設置した。
注コ、絶対湿度線空気取入口に温度針と相対−縦針(V
AISALA高感度湿度計HM /縦針U 11に二ケ
ット科学研究所)を設置しくり)、 (/J)式から求
め良〇 上表よシ明らかなとおり本発明方法よシ得られ九湿度値
は湿度針で実測した値とはぼ一致する仁とが判った。
AISALA高感度湿度計HM /縦針U 11に二ケ
ット科学研究所)を設置しくり)、 (/J)式から求
め良〇 上表よシ明らかなとおり本発明方法よシ得られ九湿度値
は湿度針で実測した値とはぼ一致する仁とが判った。
以上詳細Km明したように本発明は従来技術では全く不
可能であり九粉塵等がたちこめる造粒・コーティング・
乾燥室内の湿度測定を可能ならしめた画期的な造粒・コ
ーティング・乾燥装置の湿度測定・方法である。
可能であり九粉塵等がたちこめる造粒・コーティング・
乾燥室内の湿度測定を可能ならしめた画期的な造粒・コ
ーティング・乾燥装置の湿度測定・方法である。
なお、本発明の実施態様の一例を第1IIK示したが勿
論、本発明社これに何ら限定されるも
論、本発明社これに何ら限定されるも
第7図は流動造粒eコーティング装置における本発明の
実施態様の一例を示す概略図を示すものである。 第1図において、/は乾燥流動化用空気の取入れ口、−
は1からの空気を加熱する熱交換器、3は被コーテイン
グ物を収納するコンテナー、4t11被コーテイング物
、jはスプレーガン、6線被コーテイング物と乾燥流動
化用空気とを分離させる金網、7は排気口を示す。lお
よび?は電気的温度測定素子、ioB温度記母計、l/
は湿度針、/コは温度針を示す。13は造粒・1−ティ
ング・乾燥室への通気口を示す◇なお図中の矢印は空気
の流れを破11社検出信号の経路をそれぞれ示す。 第1゛図 手続補正音(自発) 昭和n年り月^五日 1、事件の表示 昭和56年 特許願第〃コ?7t 号2 発明の名
称 湿度測定方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出m人 ・・住 所 大阪市東区北浜5丁目1旙地名称 (2
09)住友化学工業株式会社代表者 土 方
武 4、代理人 住 所 大阪市東区北浜5丁目1旙地6、補正や内容 (1) ljl!細書を以下のとおり補正する◇−図
面(第1−)を別紙のとおシ補正する0以上 第1図 ;゛贅入千9jうに7M・を申しニずま弯。
実施態様の一例を示す概略図を示すものである。 第1図において、/は乾燥流動化用空気の取入れ口、−
は1からの空気を加熱する熱交換器、3は被コーテイン
グ物を収納するコンテナー、4t11被コーテイング物
、jはスプレーガン、6線被コーテイング物と乾燥流動
化用空気とを分離させる金網、7は排気口を示す。lお
よび?は電気的温度測定素子、ioB温度記母計、l/
は湿度針、/コは温度針を示す。13は造粒・1−ティ
ング・乾燥室への通気口を示す◇なお図中の矢印は空気
の流れを破11社検出信号の経路をそれぞれ示す。 第1゛図 手続補正音(自発) 昭和n年り月^五日 1、事件の表示 昭和56年 特許願第〃コ?7t 号2 発明の名
称 湿度測定方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出m人 ・・住 所 大阪市東区北浜5丁目1旙地名称 (2
09)住友化学工業株式会社代表者 土 方
武 4、代理人 住 所 大阪市東区北浜5丁目1旙地6、補正や内容 (1) ljl!細書を以下のとおり補正する◇−図
面(第1−)を別紙のとおシ補正する0以上 第1図 ;゛贅入千9jうに7M・を申しニずま弯。
Claims (1)
- 空気を造粒・コーティング書乾燥の主要、媒体とする通
気型造粒・1−ティング・乾燥装置によ静水を乾燥させ
る方法において、■造粒・コーティング・乾燥室への通
気口部分に設は九温度針の値、■造粒・]−ティング・
lII燥璽内ま九は排気口部分に設は九温度針の値、0
造粒俤コーティング・乾燥に用いる乾燥用空気の絶対湿
度の値、これら3系続の値にもとづいて、造粒・コーテ
ィング・乾燥室内の温ad膚′稼検串す為ことを特徴と
゛すゐ造粒・コーティング・乾燥装置の湿度測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20297581A JPS58103651A (ja) | 1981-12-15 | 1981-12-15 | 湿度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20297581A JPS58103651A (ja) | 1981-12-15 | 1981-12-15 | 湿度測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58103651A true JPS58103651A (ja) | 1983-06-20 |
JPH0210899B2 JPH0210899B2 (ja) | 1990-03-12 |
Family
ID=16466250
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20297581A Granted JPS58103651A (ja) | 1981-12-15 | 1981-12-15 | 湿度測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58103651A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60158343A (ja) * | 1984-01-30 | 1985-08-19 | Shisaka Kenkyusho:Kk | 高温気体の湿度測定方法 |
JPS6178430A (ja) * | 1984-09-26 | 1986-04-22 | Fuji Paudaru Kk | 造粒・コ−テイング装置における制御方法 |
JPS61110042A (ja) * | 1984-11-02 | 1986-05-28 | Daikin Ind Ltd | 湿度測定装置 |
JPS62234538A (ja) * | 1986-04-04 | 1987-10-14 | Freunt Ind Co Ltd | 粉粒体処理装置の制御方法 |
WO2002053079A3 (en) * | 2000-12-22 | 2003-01-30 | Hill Rom Services Inc | Humidity sensor for incubator |
-
1981
- 1981-12-15 JP JP20297581A patent/JPS58103651A/ja active Granted
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60158343A (ja) * | 1984-01-30 | 1985-08-19 | Shisaka Kenkyusho:Kk | 高温気体の湿度測定方法 |
JPH0378938B2 (ja) * | 1984-01-30 | 1991-12-17 | Shisaka Kenkyusho Kk | |
JPS6178430A (ja) * | 1984-09-26 | 1986-04-22 | Fuji Paudaru Kk | 造粒・コ−テイング装置における制御方法 |
JPS61110042A (ja) * | 1984-11-02 | 1986-05-28 | Daikin Ind Ltd | 湿度測定装置 |
JPS62234538A (ja) * | 1986-04-04 | 1987-10-14 | Freunt Ind Co Ltd | 粉粒体処理装置の制御方法 |
WO2002053079A3 (en) * | 2000-12-22 | 2003-01-30 | Hill Rom Services Inc | Humidity sensor for incubator |
US6711937B2 (en) | 2000-12-22 | 2004-03-30 | Hill-Rom Services, Inc. | Humidity sensor for incubator |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0210899B2 (ja) | 1990-03-12 |
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