JPH1190077A - 縫い目検査装置 - Google Patents
縫い目検査装置Info
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- JPH1190077A JPH1190077A JP27058897A JP27058897A JPH1190077A JP H1190077 A JPH1190077 A JP H1190077A JP 27058897 A JP27058897 A JP 27058897A JP 27058897 A JP27058897 A JP 27058897A JP H1190077 A JPH1190077 A JP H1190077A
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Sewing Machines And Sewing (AREA)
- Treatment Of Fiber Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 縫い目部分の大小に左右されることなく、確
実に目飛びを検出する。 【解決手段】 ラインセンサ1は縫い目に沿って相対移
動し、縫い目の明暗に応じて時系列的に変化する縫い目
信号を出力する。信号処理回路3はウェーブレット変換
により、縫い目信号を逐次的に所定の周波数帯域毎に分
離し、各周波数帯域の信号強度に基づいて目飛びの判定
指標を算出するとともに、判定指標を閾値と比較して目
飛びの有無を判定する。
実に目飛びを検出する。 【解決手段】 ラインセンサ1は縫い目に沿って相対移
動し、縫い目の明暗に応じて時系列的に変化する縫い目
信号を出力する。信号処理回路3はウェーブレット変換
により、縫い目信号を逐次的に所定の周波数帯域毎に分
離し、各周波数帯域の信号強度に基づいて目飛びの判定
指標を算出するとともに、判定指標を閾値と比較して目
飛びの有無を判定する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はミシンの縫い目の目
飛びを検出する縫い目検査装置に関する。
飛びを検出する縫い目検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】ミシンの縫い目は上糸と下糸が周期的に
現れ、あるいは上糸又は下糸が周期的に縫製物中に隠れ
て、通常その反射光量が周期的に変化する。そこで、従
来より、光学的に縫い目を追跡して目飛びを検出する試
みがなされている。例えば特開昭63−12756号公
報には、光ファイバセンサで縫い目を追跡し、反射光量
の周期的変化が所定長を越えた時に目飛びがあったもの
と判定する装置が示されている。
現れ、あるいは上糸又は下糸が周期的に縫製物中に隠れ
て、通常その反射光量が周期的に変化する。そこで、従
来より、光学的に縫い目を追跡して目飛びを検出する試
みがなされている。例えば特開昭63−12756号公
報には、光ファイバセンサで縫い目を追跡し、反射光量
の周期的変化が所定長を越えた時に目飛びがあったもの
と判定する装置が示されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の装置は、縫
い目を含む一定領域をCCDカメラ等で撮像し、画像処
理によって縫い目間隔を直接測定する装置(例えば特開
平7−16376号公報)に比して、煩雑な処理を行う
ことなく、簡易に目飛びを検出することができるという
特徴を有している。しかし、上糸又は下糸がやや強く食
い込む等によって縫い目部分が小さくなると、この部分
での反射光量の変化が小さくなるため、往々にして目飛
びと誤判定するという問題があった。
い目を含む一定領域をCCDカメラ等で撮像し、画像処
理によって縫い目間隔を直接測定する装置(例えば特開
平7−16376号公報)に比して、煩雑な処理を行う
ことなく、簡易に目飛びを検出することができるという
特徴を有している。しかし、上糸又は下糸がやや強く食
い込む等によって縫い目部分が小さくなると、この部分
での反射光量の変化が小さくなるため、往々にして目飛
びと誤判定するという問題があった。
【0004】そこで、本発明はこのような課題を解決す
るもので、縫い目部分の大小に左右されることなく、確
実に目飛びを検出することが可能な縫い目検査装置を提
供することを目的とする。
るもので、縫い目部分の大小に左右されることなく、確
実に目飛びを検出することが可能な縫い目検査装置を提
供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明では、縫い目に沿って相対移動し、縫い目に
応じて時系列的に変化する縫い目信号を得る縫い目検出
手段(1)と、上記縫い目信号を逐次的に所定の周波数
帯域毎に分離し、各周波数帯域の信号強度に基づいて目
飛びの判定指標を算出する判定指標算出手段(3,ステ
ップ101,102)と、上記判定指標を閾値と比較し
て目飛びの有無を判定する目飛び判定手段(3,ステッ
プ103)とを備えている。ここで「逐次的」とは、一
旦記憶された縫い目信号に対して所定の時間領域毎に順
次処理する場合と、入力する縫い目信号をその都度リア
ルタイムで処理する場合の両者を意味している。
め、本発明では、縫い目に沿って相対移動し、縫い目に
応じて時系列的に変化する縫い目信号を得る縫い目検出
手段(1)と、上記縫い目信号を逐次的に所定の周波数
帯域毎に分離し、各周波数帯域の信号強度に基づいて目
飛びの判定指標を算出する判定指標算出手段(3,ステ
ップ101,102)と、上記判定指標を閾値と比較し
て目飛びの有無を判定する目飛び判定手段(3,ステッ
プ103)とを備えている。ここで「逐次的」とは、一
旦記憶された縫い目信号に対して所定の時間領域毎に順
次処理する場合と、入力する縫い目信号をその都度リア
ルタイムで処理する場合の両者を意味している。
【0006】本第1発明において、縫い目信号を逐次的
に所定の周波数帯域毎に分離し、各周波数帯域の信号強
度に基づいて算出される判定指標は、縫い目部分の大小
に係わらず目飛びを生じている部分でのみ大きく変化す
る。したがって、閾値を適当に設定することにより、目
飛びを生じたか否かを確実に判定することができる。そ
して、縫い目信号を逐次的に所定の周波数帯域毎に分離
していることにより、縫い目信号のうちの目飛びを生じ
た部分を特定することができる。
に所定の周波数帯域毎に分離し、各周波数帯域の信号強
度に基づいて算出される判定指標は、縫い目部分の大小
に係わらず目飛びを生じている部分でのみ大きく変化す
る。したがって、閾値を適当に設定することにより、目
飛びを生じたか否かを確実に判定することができる。そ
して、縫い目信号を逐次的に所定の周波数帯域毎に分離
していることにより、縫い目信号のうちの目飛びを生じ
た部分を特定することができる。
【0007】なお、判定指標算出手段において縫い目信
号を分離する周波数帯域は、縫い目信号の基本周波数域
と、これより高い所定数の周波数域およびこれより低い
所定数の周波数域とする。この場合、目飛びの判定指標
としては、基本周波数域の信号パワーと、これより高周
波側および低周波側の信号パワーの差等を使用する。ま
た、周波数帯域毎の縫い目信号の分離は、ウェーブレッ
ト変換を使用することにより好適に行うことができる。
号を分離する周波数帯域は、縫い目信号の基本周波数域
と、これより高い所定数の周波数域およびこれより低い
所定数の周波数域とする。この場合、目飛びの判定指標
としては、基本周波数域の信号パワーと、これより高周
波側および低周波側の信号パワーの差等を使用する。ま
た、周波数帯域毎の縫い目信号の分離は、ウェーブレッ
ト変換を使用することにより好適に行うことができる。
【0008】判定指標算出手段は、基本周波数域と、こ
れより高い所定数の周波数域およびこれより低い所定数
の周波数域を適宜合成したバンドパスフィルタ(61
A,61B)を使用することによっても実現することが
できる。
れより高い所定数の周波数域およびこれより低い所定数
の周波数域を適宜合成したバンドパスフィルタ(61
A,61B)を使用することによっても実現することが
できる。
【0009】なお、上記カッコ内の符号は、後述する実
施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものであ
る。
施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものであ
る。
【0010】
(第1実施形態)図1には縫い目検査装置の全体構成を
示す。縫い目検査装置は受光セルを直線的に配したライ
ンセンサ1を有し、このラインセンサ1は図略の縫製物
の縫い目に直交するように置かれている。ラインセンサ
1直下を縫い目が通過すると、いずれかの受光セルに縫
い目からの反射光が入射し、この時の反射光量(明度)
に応じた大きさの信号(縫い目信号)が出力される。な
お、ラインセンサ1に代えて、他の光学素子を使用する
こともできる。
示す。縫い目検査装置は受光セルを直線的に配したライ
ンセンサ1を有し、このラインセンサ1は図略の縫製物
の縫い目に直交するように置かれている。ラインセンサ
1直下を縫い目が通過すると、いずれかの受光セルに縫
い目からの反射光が入射し、この時の反射光量(明度)
に応じた大きさの信号(縫い目信号)が出力される。な
お、ラインセンサ1に代えて、他の光学素子を使用する
こともできる。
【0011】ここで、縫い目は例えば図3(1)に示す
ようなもので、左右方向へ延びる上糸51上に一定間隔
で下糸52が現れている。上糸51と下糸52は異なる
色としてあり、この結果、両者は明度が異なっている。
ラインセンサ1を使用していることにより、当該センサ
1の長さ内で縫い目の通過経路が幅方向(図3(1)の
上下方向)へ変動しても、いずれかの受光セルによって
確実に縫い目信号を得ることができる。なお、ラインセ
ンサ1のサンプリング周期は縫い目周期(下糸52が現
れる周期)の1/50程度とする。
ようなもので、左右方向へ延びる上糸51上に一定間隔
で下糸52が現れている。上糸51と下糸52は異なる
色としてあり、この結果、両者は明度が異なっている。
ラインセンサ1を使用していることにより、当該センサ
1の長さ内で縫い目の通過経路が幅方向(図3(1)の
上下方向)へ変動しても、いずれかの受光セルによって
確実に縫い目信号を得ることができる。なお、ラインセ
ンサ1のサンプリング周期は縫い目周期(下糸52が現
れる周期)の1/50程度とする。
【0012】図1において、ラインセンサ1からの縫い
目信号はA/D変換回路2に入力してデジタル信号に変
換された後、パーソナルコンピュータ等で実現される信
号処理回路3の入力インターフェース31を経て、その
メモリ33に記憶される。ここで、図3(2)には、図
3(1)の縫い目に対応した縫い目信号を示す。縫い目
信号は、明度の高い上糸51の部分では大きくなり、明
度の低い下糸52の部分では小さくなって、周期的な凹
凸を示す。そして、下糸52の現れない「目飛び」を生
じると(図3のA部)、凹凸の周期が長くなる。
目信号はA/D変換回路2に入力してデジタル信号に変
換された後、パーソナルコンピュータ等で実現される信
号処理回路3の入力インターフェース31を経て、その
メモリ33に記憶される。ここで、図3(2)には、図
3(1)の縫い目に対応した縫い目信号を示す。縫い目
信号は、明度の高い上糸51の部分では大きくなり、明
度の低い下糸52の部分では小さくなって、周期的な凹
凸を示す。そして、下糸52の現れない「目飛び」を生
じると(図3のA部)、凹凸の周期が長くなる。
【0013】信号処理回路3のCPU32は、メモリ3
3に記憶された縫い目信号に対して図2に示す処理を行
う。すなわち、図2のステップ101では、メモリ33
に記憶された縫い目信号に対してウェーブレット変換を
施す。本実施形態では、縫い目信号の基本周波数をf0
として、式(1)に示すGabor関数を基本ウェーブ
レット関数として使用する。Gabor関数を使用した
理由は時間的および周波数的な局在性が良いためで、図
5にはGabor関数の実数部の一例を示す。
3に記憶された縫い目信号に対して図2に示す処理を行
う。すなわち、図2のステップ101では、メモリ33
に記憶された縫い目信号に対してウェーブレット変換を
施す。本実施形態では、縫い目信号の基本周波数をf0
として、式(1)に示すGabor関数を基本ウェーブ
レット関数として使用する。Gabor関数を使用した
理由は時間的および周波数的な局在性が良いためで、図
5にはGabor関数の実数部の一例を示す。
【0014】
【数1】
【0015】そして、式(2)で示す相似関数の組を基
底関数として、式(3)に示すウェーブレット変換を行
う。
底関数として、式(3)に示すウェーブレット変換を行
う。
【0016】
【数2】
【0017】本実施形態ではf0 =10Hzとし、上記
スケールパラメータaを適当に選択して、f0 より1/
2オクターブ毎に高い周波数f2 (=14.14H
z),f1 (20.00Hz)と、f0 より1/2オク
ターブ毎に低い周波数f3 (=7.07Hz),f4
(=5.00Hz),f5 (=3.54Hz)の相似関
数を含めて6組の基底関数(ウェーブレット関数)によ
って縫い目信号をウェーブレット変換する。なお、シフ
トパラメータbは縫い目信号の所定の時間領域を逐次ウ
ェーブレット変換すべく、適当に設定する。
スケールパラメータaを適当に選択して、f0 より1/
2オクターブ毎に高い周波数f2 (=14.14H
z),f1 (20.00Hz)と、f0 より1/2オク
ターブ毎に低い周波数f3 (=7.07Hz),f4
(=5.00Hz),f5 (=3.54Hz)の相似関
数を含めて6組の基底関数(ウェーブレット関数)によ
って縫い目信号をウェーブレット変換する。なお、シフ
トパラメータbは縫い目信号の所定の時間領域を逐次ウ
ェーブレット変換すべく、適当に設定する。
【0018】このようなウェーブレット関数によって縫
い目信号を変換した場合の、各周波数f0 〜f5 領域の
信号パワーP0 〜P5 の時間変化を図3(3)に示す。
なお、図中のPN0〜PN5は、上記信号パワーP0 〜P5
を式(4)で正規化したものである。この正規化によ
り、照明の変化やリニヤセンサの特性変動等の影響が排
除される。
い目信号を変換した場合の、各周波数f0 〜f5 領域の
信号パワーP0 〜P5 の時間変化を図3(3)に示す。
なお、図中のPN0〜PN5は、上記信号パワーP0 〜P5
を式(4)で正規化したものである。この正規化によ
り、照明の変化やリニヤセンサの特性変動等の影響が排
除される。
【0019】
【数3】
【0020】図3(3)より明らかなように、目飛びが
生じている領域(図のA部領域)では基本周波数域より
低い周波数域の信号パワーPN3,PN4,PN5が大きくな
り、目飛びの生じていない領域では基本周波数域とこれ
より高い周波数域の信号パワーPN0,PN1,PN2が大き
くなる。そこで、図2のステップ102では、式(5)
を使用して目飛びの判定指標Hを算出する。この判定指
標Hの時間変化を図3(4)に示し、目飛びを生じてい
るA部領域では判定指標Hは負の値を示す。なお、本実
施形態で、信号パワーPN3を判定指標Hの算出に使用し
なかったのは、発明者の実験によると、この周波数域の
信号パワーPN3は縫い目の間隔の変動に過度に反応して
変動するからである。
生じている領域(図のA部領域)では基本周波数域より
低い周波数域の信号パワーPN3,PN4,PN5が大きくな
り、目飛びの生じていない領域では基本周波数域とこれ
より高い周波数域の信号パワーPN0,PN1,PN2が大き
くなる。そこで、図2のステップ102では、式(5)
を使用して目飛びの判定指標Hを算出する。この判定指
標Hの時間変化を図3(4)に示し、目飛びを生じてい
るA部領域では判定指標Hは負の値を示す。なお、本実
施形態で、信号パワーPN3を判定指標Hの算出に使用し
なかったのは、発明者の実験によると、この周波数域の
信号パワーPN3は縫い目の間隔の変動に過度に反応して
変動するからである。
【0021】
【数4】
【0022】図2のステップ103では、算出された判
定指標Hを閾値(例えば0)と比較して、H<閾値の所
で目飛びを生じているものと判定する。続くステップ1
04で、この結果を出力インターフェース34(図1)
を介して表示器4上に表示する。
定指標Hを閾値(例えば0)と比較して、H<閾値の所
で目飛びを生じているものと判定する。続くステップ1
04で、この結果を出力インターフェース34(図1)
を介して表示器4上に表示する。
【0023】さて、図4(1)に示す縫い目では、下糸
52がやや強く食い込む等によって縫い目部分(下糸5
2の現れる部分)が交互に小さくなっており、かつ、図
のB部で目飛びを生じている。このような縫い目をライ
ンセンサ1で検出して得られる縫い目信号を図4(2)
に示す。縫い目信号は縫い目の明度変化に対応して周期
的な凹凸を示すものの、小さな縫い目部分では信号の凹
凸は僅かであり、B部のような目飛びとの区別がつきに
くいため誤判定し易い。
52がやや強く食い込む等によって縫い目部分(下糸5
2の現れる部分)が交互に小さくなっており、かつ、図
のB部で目飛びを生じている。このような縫い目をライ
ンセンサ1で検出して得られる縫い目信号を図4(2)
に示す。縫い目信号は縫い目の明度変化に対応して周期
的な凹凸を示すものの、小さな縫い目部分では信号の凹
凸は僅かであり、B部のような目飛びとの区別がつきに
くいため誤判定し易い。
【0024】そこで、本実施形態では、既に説明した処
理手順で縫い目信号をウェーブレット変換し、図4
(3)に示すような各周波数f0 〜f5 領域での信号パ
ワー正規化値PN0〜PN5の時間変化を得る。そして、こ
の信号パワー正規化値PN0〜PN5から、上式(5)で目
飛びの判定指標Hを算出する。この判定指標Hの時間変
化を図4(4)に示す。図より明らかなように、判定指
標Hは、小さな縫い目部分と目飛び部分とではその値が
大きく異なり、小さな縫い目部分では正の値を維持して
いるのに対して、目飛び部分では負の値になっている。
そこで、既述のように閾値を0として目飛びの判定をす
ると、H<0となる図4のB部でのみ目飛びを生じてい
るものと判定される。
理手順で縫い目信号をウェーブレット変換し、図4
(3)に示すような各周波数f0 〜f5 領域での信号パ
ワー正規化値PN0〜PN5の時間変化を得る。そして、こ
の信号パワー正規化値PN0〜PN5から、上式(5)で目
飛びの判定指標Hを算出する。この判定指標Hの時間変
化を図4(4)に示す。図より明らかなように、判定指
標Hは、小さな縫い目部分と目飛び部分とではその値が
大きく異なり、小さな縫い目部分では正の値を維持して
いるのに対して、目飛び部分では負の値になっている。
そこで、既述のように閾値を0として目飛びの判定をす
ると、H<0となる図4のB部でのみ目飛びを生じてい
るものと判定される。
【0025】このように、本実施形態では、時系列的に
得られた縫い目信号を所定の時間・周波数領域でウェー
ブレット変換し、各周波数域の信号パワー正規化値より
判定指標を算出して目飛び判定をしている。このため、
縫い目部分が小さくなっても目飛びのみを確実に検出す
ることができる。
得られた縫い目信号を所定の時間・周波数領域でウェー
ブレット変換し、各周波数域の信号パワー正規化値より
判定指標を算出して目飛び判定をしている。このため、
縫い目部分が小さくなっても目飛びのみを確実に検出す
ることができる。
【0026】(第2実施形態)第1実施形態における6
組のウェーブレット関数を周波数軸上で表現すると図6
に示すものとなる。ここで、F0 〜F5 はそれぞれ周波
数f0 〜f5 のウェーブレット関数をそれぞれ周波数軸
上で表現したものである。図6より明らかなように、ウ
ェーブレット関数F0 〜F5 は、周波数f0 〜f5 を中
心周波数とするバンドパスフィルタとなっている。
組のウェーブレット関数を周波数軸上で表現すると図6
に示すものとなる。ここで、F0 〜F5 はそれぞれ周波
数f0 〜f5 のウェーブレット関数をそれぞれ周波数軸
上で表現したものである。図6より明らかなように、ウ
ェーブレット関数F0 〜F5 は、周波数f0 〜f5 を中
心周波数とするバンドパスフィルタとなっている。
【0027】そこで、図7に示すように、ウェーブレッ
ト関数F0 〜F2 の特性を合成したバンドパスフィルタ
部61Aとウェーブレット関数F4 〜F5 の特性を合成
したバンドパスフィルタ部61Bとを並設し、それぞれ
に縫い目信号をリアルタイムで入力させる。そして、各
バンドパスフィルタ部61A,61Bを通過した信号の
パワーをパワー計算部62A,62Bで計算し、パワー
信号PH ,PL のリップル分を次段のローパスフィルタ
部63A,63Bで除去する。そして、信号遅れ調整部
64でパワー信号PH の位相を遅らせてパワー信号PL
の位相と一致させ、続く減算部で両信号の差を算出して
目飛びの判定指標H´を得る。この判定指標H´は、正
規化がなされていない点を除けば上式(5)で算出され
たものと実質的に同一であり、この判定指標H´を閾値
と比較することによって目飛びの有無の判定が可能であ
る。なお、図7に示す各ブロック機能部はハードウエア
あるいはソフトウエアのいずれでも実現することができ
る。
ト関数F0 〜F2 の特性を合成したバンドパスフィルタ
部61Aとウェーブレット関数F4 〜F5 の特性を合成
したバンドパスフィルタ部61Bとを並設し、それぞれ
に縫い目信号をリアルタイムで入力させる。そして、各
バンドパスフィルタ部61A,61Bを通過した信号の
パワーをパワー計算部62A,62Bで計算し、パワー
信号PH ,PL のリップル分を次段のローパスフィルタ
部63A,63Bで除去する。そして、信号遅れ調整部
64でパワー信号PH の位相を遅らせてパワー信号PL
の位相と一致させ、続く減算部で両信号の差を算出して
目飛びの判定指標H´を得る。この判定指標H´は、正
規化がなされていない点を除けば上式(5)で算出され
たものと実質的に同一であり、この判定指標H´を閾値
と比較することによって目飛びの有無の判定が可能であ
る。なお、図7に示す各ブロック機能部はハードウエア
あるいはソフトウエアのいずれでも実現することができ
る。
【0028】発明者の実験によれば、本実施形態の縫い
目検査装置は第1実施形態のものに比して判定の精度は
やや劣るものの実用範囲では問題がなく、また、全体の
演算量は第1実施形態のものの1/10以下になるか
ら、安価に実現できるという利点を有する。なお、本実
施形態において、式(6)に示す演算を行う正規化部を
設けて、正規化された信号パワーPNH, PNLで判定指標
H´を算出するようにしても良い。
目検査装置は第1実施形態のものに比して判定の精度は
やや劣るものの実用範囲では問題がなく、また、全体の
演算量は第1実施形態のものの1/10以下になるか
ら、安価に実現できるという利点を有する。なお、本実
施形態において、式(6)に示す演算を行う正規化部を
設けて、正規化された信号パワーPNH, PNLで判定指標
H´を算出するようにしても良い。
【0029】
【数5】
【0030】(その他の実施形態)判定指標Hとして上
式(5)に代えて、下式(7)を使用することもでき
る。これによれば、上式(4)による正規化を行うこと
なく、照明の変化やリニヤセンサの特性変動等の影響を
排除して常に正確な目飛び判定をすることができる。な
お、照明等が安定している場合には、上式(5)を使用
する場合にも上式(4)による正規化は不要である。
式(5)に代えて、下式(7)を使用することもでき
る。これによれば、上式(4)による正規化を行うこと
なく、照明の変化やリニヤセンサの特性変動等の影響を
排除して常に正確な目飛び判定をすることができる。な
お、照明等が安定している場合には、上式(5)を使用
する場合にも上式(4)による正規化は不要である。
【0031】
【数6】
【0032】ラインセンサのサンプリング周期を一定周
期とせず、ミシン速度に同期して変されるようにすれ
ば、ミシン速度が変動した場合にも縫い目信号の基本周
波数が変動することを避けることができる。
期とせず、ミシン速度に同期して変されるようにすれ
ば、ミシン速度が変動した場合にも縫い目信号の基本周
波数が変動することを避けることができる。
【0033】ウェーブレット変換に代えて、短時間フー
リエ変換を使用することができる。また、これらウェー
ブレット変換等を使用する場合に、縫い目信号をリアル
タイムで入力させて逐次ウェーブレット変換等を行うよ
うにしても良い。
リエ変換を使用することができる。また、これらウェー
ブレット変換等を使用する場合に、縫い目信号をリアル
タイムで入力させて逐次ウェーブレット変換等を行うよ
うにしても良い。
【0034】
【発明の効果】以上のように、本発明の縫い目検査装置
によれば、縫い目部分の大小に左右されることなく、確
実に目飛びを検出することができる。
によれば、縫い目部分の大小に左右されることなく、確
実に目飛びを検出することができる。
【図1】本発明の第1実施形態における縫い目検査装置
のブロック構成図である。
のブロック構成図である。
【図2】CPUの処理手順を示すフローチャートであ
る。
る。
【図3】縫い目と各種信号のタイムチャートである。
【図4】縫い目と各種信号のタイムチャートである。
【図5】ウェーブレット関数の一例を示す時間軸上での
変化グラフである。
変化グラフである。
【図6】ウェーブレット関数の周波数軸上での変化グラ
フである。
フである。
【図7】本発明の第2実施形態における縫い目検査装置
の要部ブロック構成図である。
の要部ブロック構成図である。
1…ラインセンサ(縫い目検出手段)、3…信号処理装
置(判定指標算出手段、目飛び判定手段)、61A,6
1B…バンドパスフィルタ。
置(判定指標算出手段、目飛び判定手段)、61A,6
1B…バンドパスフィルタ。
Claims (1)
- 【請求項1】 縫い目に沿って相対移動し、縫い目に応
じて時系列的に変化する縫い目信号を得る縫い目検出手
段と、 上記縫い目信号を逐次的に所定の周波数帯域毎に分離
し、各周波数帯域の信号強度に基づいて目飛びの判定指
標を算出する判定指標算出手段と、 上記判定指標を閾値と比較して目飛びの有無を判定する
目飛び判定手段とを具備する縫い目検査装置
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27058897A JPH1190077A (ja) | 1997-09-16 | 1997-09-16 | 縫い目検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27058897A JPH1190077A (ja) | 1997-09-16 | 1997-09-16 | 縫い目検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1190077A true JPH1190077A (ja) | 1999-04-06 |
Family
ID=17488220
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27058897A Pending JPH1190077A (ja) | 1997-09-16 | 1997-09-16 | 縫い目検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1190077A (ja) |
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- 1997-09-16 JP JP27058897A patent/JPH1190077A/ja active Pending
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