JPH1184282A - 画像形成装置 - Google Patents
画像形成装置Info
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- JPH1184282A JPH1184282A JP26097797A JP26097797A JPH1184282A JP H1184282 A JPH1184282 A JP H1184282A JP 26097797 A JP26097797 A JP 26097797A JP 26097797 A JP26097797 A JP 26097797A JP H1184282 A JPH1184282 A JP H1184282A
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- JP
- Japan
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- laser beam
- image forming
- scanning direction
- forming apparatus
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- Prior art date
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 画像補正動作を画像形成動作中に実行でき、
画像形成動作を中断することなく高精度な補正を行って
良好な画像を得る。 【解決手段】 レーザービームが走査方向L1のように走
査しているときは、レーザービームがエッジ２５ａを通
過すると、フォトセンサ２３により光エネルギが電気エ
ネルギに変換されて電圧として出力され、レーザービー
ムがエッジ２５ｂを通過した後はフォトセンサ２３の出
力は０となるので、このときの電圧出力時間を求める。
この電圧出力時間と、同様にして求めたレーザービーム
が走査方向L2のように走査しているときの電圧出力時間
との差を求め、レーザービームの副走査方向の位置の変
化量Δｙを求める。これによって、装置内の状態変化に
よってレーザービームの副走査方向の走査位置が変化し
た場合でも、常に高精度の位置補正が可能となる。
画像形成動作を中断することなく高精度な補正を行って
良好な画像を得る。 【解決手段】 レーザービームが走査方向L1のように走
査しているときは、レーザービームがエッジ２５ａを通
過すると、フォトセンサ２３により光エネルギが電気エ
ネルギに変換されて電圧として出力され、レーザービー
ムがエッジ２５ｂを通過した後はフォトセンサ２３の出
力は０となるので、このときの電圧出力時間を求める。
この電圧出力時間と、同様にして求めたレーザービーム
が走査方向L2のように走査しているときの電圧出力時間
との差を求め、レーザービームの副走査方向の位置の変
化量Δｙを求める。これによって、装置内の状態変化に
よってレーザービームの副走査方向の走査位置が変化し
た場合でも、常に高精度の位置補正が可能となる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、走査線の位置ずれ
を補正する機能を有する多重転写式の画像形成装置に関
するものである。
を補正する機能を有する多重転写式の画像形成装置に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】図１２はカラープリンタ等に使用する多
重転写式の従来の画像形成装置の斜視図を示し、シア
ン、マゼンタ、イエロ、ブラックの４種のレーザービー
ムを発する４つの半導体レーザー光源１ａ、１ｂ、１
ｃ、１ｄ、シアン及びマゼンタのレーザービームとイエ
ロ及びブラックのレーザービームをそれぞれ双方向に偏
向走査する１個のポリゴンミラー２、４組の折り返しミ
ラー群３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄ、４つの画像形成部であ
る感光ドラム４ａ、４ｂ、４ｃ、４ｄ、各レーザービー
ムの一部を検知するビーム検出器５ａ、５ｂ、５ｃ、５
ｄ及びビーム検出ミラー６ａ、６ｂ、６ｃ、６ｄ、転写
部材を搬送する画像形成ステーション７から構成されて
いる。
重転写式の従来の画像形成装置の斜視図を示し、シア
ン、マゼンタ、イエロ、ブラックの４種のレーザービー
ムを発する４つの半導体レーザー光源１ａ、１ｂ、１
ｃ、１ｄ、シアン及びマゼンタのレーザービームとイエ
ロ及びブラックのレーザービームをそれぞれ双方向に偏
向走査する１個のポリゴンミラー２、４組の折り返しミ
ラー群３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄ、４つの画像形成部であ
る感光ドラム４ａ、４ｂ、４ｃ、４ｄ、各レーザービー
ムの一部を検知するビーム検出器５ａ、５ｂ、５ｃ、５
ｄ及びビーム検出ミラー６ａ、６ｂ、６ｃ、６ｄ、転写
部材を搬送する画像形成ステーション７から構成されて
いる。
【０００３】半導体レーザー光源１ａ〜１ｄからの各レ
ーザービームはポリゴンミラー２で偏向走査され、折り
返しミラー群３ａ〜３ｄにより光路が変えられて、感光
ドラム４ａ〜４ｄ上に達して静電潜像が形成される。そ
して、図示しない現像器によって顕在化した後に、Ｘ方
向から送られてくる記録部材上に順次に多重転写が行わ
れ、フルカラー画像が形成される。
ーザービームはポリゴンミラー２で偏向走査され、折り
返しミラー群３ａ〜３ｄにより光路が変えられて、感光
ドラム４ａ〜４ｄ上に達して静電潜像が形成される。そ
して、図示しない現像器によって顕在化した後に、Ｘ方
向から送られてくる記録部材上に順次に多重転写が行わ
れ、フルカラー画像が形成される。
【０００４】また、ポリゴンミラー２で偏向されたレー
ザービームの一部は、画像領域より上流にあるビーム検
出ミラー６ａ〜６ｄで反射され、ビーム検出器５ａ〜５
ｄで検出され、所定時間後に画像が書き出される。この
ように、レーザービームの走査方向の画像書き出しタイ
ミングにより画像の書き出しを行うことによって、レー
ザービームの副走査方向つまり記録部材の送り方向の直
線性を保つことができる。
ザービームの一部は、画像領域より上流にあるビーム検
出ミラー６ａ〜６ｄで反射され、ビーム検出器５ａ〜５
ｄで検出され、所定時間後に画像が書き出される。この
ように、レーザービームの走査方向の画像書き出しタイ
ミングにより画像の書き出しを行うことによって、レー
ザービームの副走査方向つまり記録部材の送り方向の直
線性を保つことができる。
【０００５】このような多重転写式を用いた画像形成装
置においては、同一の記録部材上に順次に異なる色の画
像を転写するために、各画像形成部におけるレーザービ
ームの副走査方向の走査位置が装置内の温度変化や機械
の捩れ等によって所定位置からずれると、例えば多色画
像の場合には異なる色の画像間隔のずれや重なりとな
り、またカラー画像の場合には色味の変化や色ずれとな
って現れるので、画像の品質を著しく劣化させる。
置においては、同一の記録部材上に順次に異なる色の画
像を転写するために、各画像形成部におけるレーザービ
ームの副走査方向の走査位置が装置内の温度変化や機械
の捩れ等によって所定位置からずれると、例えば多色画
像の場合には異なる色の画像間隔のずれや重なりとな
り、またカラー画像の場合には色味の変化や色ずれとな
って現れるので、画像の品質を著しく劣化させる。
【０００６】この画像劣化を防止するために、転写ベル
ト上の画像の位置ずれを検知して、折り返しミラー群３
ａ〜３ｄの位置と画像書き出しタイミングを変えること
によって画像補正する装置が知られている。また、特開
昭６２−２６７７７３号公報には、副走査方向のレーザ
ービーム位置を検出してレーザービームの位置を調整す
る装置が開示されている。
ト上の画像の位置ずれを検知して、折り返しミラー群３
ａ〜３ｄの位置と画像書き出しタイミングを変えること
によって画像補正する装置が知られている。また、特開
昭６２−２６７７７３号公報には、副走査方向のレーザ
ービーム位置を検出してレーザービームの位置を調整す
る装置が開示されている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述の従
来例においては、画像補正動作を画像形成動作と独立に
行う必要があるために、画像補正動作時には画像形成動
作が中断されるという問題があり、更に副走査方向の補
正を電気的なタイミングで行っているために、分解能が
画素密度の１／２程度と粗く、画素密度を４００ｄｐｉ
とすると副走査方向のずれを６０μｍ以下にすることは
困難である。また、特開昭６２−２６７７７３号公報の
画像形成装置では、主走査方向のレーザービーム位置検
出方式との関係が不明確であり、かつ複雑な構成になる
という問題がある。
来例においては、画像補正動作を画像形成動作と独立に
行う必要があるために、画像補正動作時には画像形成動
作が中断されるという問題があり、更に副走査方向の補
正を電気的なタイミングで行っているために、分解能が
画素密度の１／２程度と粗く、画素密度を４００ｄｐｉ
とすると副走査方向のずれを６０μｍ以下にすることは
困難である。また、特開昭６２−２６７７７３号公報の
画像形成装置では、主走査方向のレーザービーム位置検
出方式との関係が不明確であり、かつ複雑な構成になる
という問題がある。
【０００８】本発明の目的は、上述の問題点を解決し、
画像形成動作を中断することなく、高精度に補正を行っ
て良好な画像を得る画像形成装置を提供することにあ
る。
画像形成動作を中断することなく、高精度に補正を行っ
て良好な画像を得る画像形成装置を提供することにあ
る。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明に係る画像形成装置は、複数の画像形成手段
と、レーザー露光手段と、転写手段とを有する画像形成
装置において、前記レーザー露光手段により走査するレ
ーザービームの主走査方向及び副走査方向の位置を同時
に検出するレーザービーム位置検出手段と、像坦持体上
のレーザービームの副走査方向位置を調整するレーザー
ビーム位置調整手段とを有することを特徴とする。
の本発明に係る画像形成装置は、複数の画像形成手段
と、レーザー露光手段と、転写手段とを有する画像形成
装置において、前記レーザー露光手段により走査するレ
ーザービームの主走査方向及び副走査方向の位置を同時
に検出するレーザービーム位置検出手段と、像坦持体上
のレーザービームの副走査方向位置を調整するレーザー
ビーム位置調整手段とを有することを特徴とする。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明を図１〜図１１に図示の実
施例に基づいて詳細に説明する。図１は実施例の画像形
成装置の斜視図を示し、半導体レーザー光源１１の前方
には、コリメータレンズ１２とポリゴンミラー１３が配
置され、ポリゴンミラー１３の反射方向には、シアン、
マゼンタ、イエロ、ブラック用に折り返しミラー群を保
持具１４によって９０度に組み合せた一対のミラー１
５、１６が配置され、ミラー１６の反射方向にはミラー
１７が設けられ、ミラー１７の反射方向には感光ドラム
１８が配置されている。保持具１４にはＥ方向に駆動す
るアクチュエータ１９、及びＥ方向と垂直なＦ方向に駆
動する２個のアクチュエータ２０ａ、２０ｂが取り付け
られており、感光ドラム１８のレーザービーム出射面の
延長線上には、ビーム位置検出器２１が配置されてい
る。
施例に基づいて詳細に説明する。図１は実施例の画像形
成装置の斜視図を示し、半導体レーザー光源１１の前方
には、コリメータレンズ１２とポリゴンミラー１３が配
置され、ポリゴンミラー１３の反射方向には、シアン、
マゼンタ、イエロ、ブラック用に折り返しミラー群を保
持具１４によって９０度に組み合せた一対のミラー１
５、１６が配置され、ミラー１６の反射方向にはミラー
１７が設けられ、ミラー１７の反射方向には感光ドラム
１８が配置されている。保持具１４にはＥ方向に駆動す
るアクチュエータ１９、及びＥ方向と垂直なＦ方向に駆
動する２個のアクチュエータ２０ａ、２０ｂが取り付け
られており、感光ドラム１８のレーザービーム出射面の
延長線上には、ビーム位置検出器２１が配置されてい
る。
【００１１】図２はビーム位置検出器２１の断面図、図
３はその正面図を示し、ビーム位置検出器２１において
はハウジング２２内にフォトセンサ２３が配置され、ハ
ウジング２２の前面パネル２４にはフォトセンサ２３の
前面位置となる部分に三角形状のスリット２５が設けら
れ、スリット２５はレーザービームの走査方向L1に対し
て略直角のエッジ２５ａと、レーザービームの走査方向
L1に対して角度θをなすエッジ２５ｂとから成る開口が
形成されている。
３はその正面図を示し、ビーム位置検出器２１において
はハウジング２２内にフォトセンサ２３が配置され、ハ
ウジング２２の前面パネル２４にはフォトセンサ２３の
前面位置となる部分に三角形状のスリット２５が設けら
れ、スリット２５はレーザービームの走査方向L1に対し
て略直角のエッジ２５ａと、レーザービームの走査方向
L1に対して角度θをなすエッジ２５ｂとから成る開口が
形成されている。
【００１２】半導体レーザー光源１１からのレーザービ
ームは、コリメータレンズ１２を通りポリゴンミラー１
３で偏向走査され、折り返しミラー１５、１６、１７を
反射して、感光ドラム１８に潜像を形成する。またこの
とき、ビーム位置検出器２１によりレーザービームの一
部が検出される。
ームは、コリメータレンズ１２を通りポリゴンミラー１
３で偏向走査され、折り返しミラー１５、１６、１７を
反射して、感光ドラム１８に潜像を形成する。またこの
とき、ビーム位置検出器２１によりレーザービームの一
部が検出される。
【００１３】レーザービームの走査によって、主走査方
向と副走査方向の位置を検出するには、レーザービーム
が走査方向L1のように走査しているときは、レーザービ
ームがエッジ２５ａを通過するとフォトセンサ２３によ
り光エネルギが電気エネルギに変換されて電圧として出
力され、レーザービームがエッジ２５ｂを通過した後は
フォトセンサ２３の出力は０となる。これによって、図
４(a) に示すように電圧変動a1が生じ、このときの波形
を基準電圧値V0に対してコンパレートすることにより方
形波a2が得られる。この方形波a2の立ち上がりから立ち
下がりまでの時間t1を、別途設けた計数手段で計測する
ことにより、レーザービームが開口を通過する時間t1が
計測される。
向と副走査方向の位置を検出するには、レーザービーム
が走査方向L1のように走査しているときは、レーザービ
ームがエッジ２５ａを通過するとフォトセンサ２３によ
り光エネルギが電気エネルギに変換されて電圧として出
力され、レーザービームがエッジ２５ｂを通過した後は
フォトセンサ２３の出力は０となる。これによって、図
４(a) に示すように電圧変動a1が生じ、このときの波形
を基準電圧値V0に対してコンパレートすることにより方
形波a2が得られる。この方形波a2の立ち上がりから立ち
下がりまでの時間t1を、別途設けた計数手段で計測する
ことにより、レーザービームが開口を通過する時間t1が
計測される。
【００１４】次に、レーザービームが走査方向L2のよう
に走査しているときは、図４(b) に示すように、電圧変
動b1に対して方形波b2となり、レーザービームが通過す
る開口の幅が変化した分だけ計測される時間が変化して
時間t2となる。
に走査しているときは、図４(b) に示すように、電圧変
動b1に対して方形波b2となり、レーザービームが通過す
る開口の幅が変化した分だけ計測される時間が変化して
時間t2となる。
【００１５】このとき、レーザービームの副走査方向の
位置の変化量Δｙは次式から求めることができる。 Δｙ＝Δｘ／tan θ＝（t1−t2）・ｖ／tan θ ・・・(1)
位置の変化量Δｙは次式から求めることができる。 Δｙ＝Δｘ／tan θ＝（t1−t2）・ｖ／tan θ ・・・(1)
【００１６】ここで、t1、t2は計測によって求めること
ができ、ｖはレーザービームの走査速度、θはエッジ２
５ａと２５ｂのなす角度で既知の値である。
ができ、ｖはレーザービームの走査速度、θはエッジ２
５ａと２５ｂのなす角度で既知の値である。
【００１７】従って、レーザービームの副走査方向の走
査位置が、装置内の状態変化によってL1からL2に変化し
た場合でも、常にこの変化量Δｙを知ることができる。
査位置が、装置内の状態変化によってL1からL2に変化し
た場合でも、常にこの変化量Δｙを知ることができる。
【００１８】実際には、時間t1、t2は図５に示すように
時間軸から見て周期的に変動しているが、これはレーザ
ービームを偏向走査しているポリゴンミラーの面倒れや
各ミラーの周期的振動によるものなので、実際の測定で
は一定の時間内の平均値を用いるのが好適である。な
お、角度θを３０度程度にすれば分解能は１μｍ程度が
可能である。
時間軸から見て周期的に変動しているが、これはレーザ
ービームを偏向走査しているポリゴンミラーの面倒れや
各ミラーの周期的振動によるものなので、実際の測定で
は一定の時間内の平均値を用いるのが好適である。な
お、角度θを３０度程度にすれば分解能は１μｍ程度が
可能である。
【００１９】図６はレーザービームの副走査方向の走査
位置を一対のミラー１５、１６によって補正する場合の
説明図を示し、アクチュエータ２０ａ、２０ｂを同時に
同じ方向に、例えば矢印F2方向に駆動すると、一対のミ
ラー１５、１６はF2方向に平行移動して、図７に示すよ
うに感光ドラム１８上において走査線m0を走査線m2の位
置まで移動することができる。なお、アクチュエータ１
９、２０ａ、２０ｂとしては、F1、F2方向で５μｍ程度
の移動量を有するものが知られており、このようなアク
チュエータ１９、２０ａ、２０ｂを用いて構成すれば、
走査線m0、m2方向の分解能は、機械的精度を考慮しても
１０〜２０μｍ程度とすることができる。
位置を一対のミラー１５、１６によって補正する場合の
説明図を示し、アクチュエータ２０ａ、２０ｂを同時に
同じ方向に、例えば矢印F2方向に駆動すると、一対のミ
ラー１５、１６はF2方向に平行移動して、図７に示すよ
うに感光ドラム１８上において走査線m0を走査線m2の位
置まで移動することができる。なお、アクチュエータ１
９、２０ａ、２０ｂとしては、F1、F2方向で５μｍ程度
の移動量を有するものが知られており、このようなアク
チュエータ１９、２０ａ、２０ｂを用いて構成すれば、
走査線m0、m2方向の分解能は、機械的精度を考慮しても
１０〜２０μｍ程度とすることができる。
【００２０】以上のような構成及び制御を加えることに
より、従来例に示した電気的なタイミングの調整では６
０μｍ程度だったレーザービームの副走査位置の調整分
解能を、１０〜２０μｍ程度に向上することができる。
より、従来例に示した電気的なタイミングの調整では６
０μｍ程度だったレーザービームの副走査位置の調整分
解能を、１０〜２０μｍ程度に向上することができる。
【００２１】また、ビーム位置検出スリット２５のエッ
ジ２５ａと２５ｂのなす角度θは、スリット２５の部品
精度によって保証され、レーザービームとエッジ２５ａ
との直角度は次のようにして保証することができる。即
ち、図１の一対の折返しミラー１５、１６によるレーザ
ービームの位置補正方法により、既知の量であるΔｙだ
けレーザービームの位置をずらし、ずらした前後での時
間差（t1−t2）を測定し、その値が式(1) から求まる時
間差（t1−t2）と同じになるまで、ビーム位置検出器２
１全体を回転する。
ジ２５ａと２５ｂのなす角度θは、スリット２５の部品
精度によって保証され、レーザービームとエッジ２５ａ
との直角度は次のようにして保証することができる。即
ち、図１の一対の折返しミラー１５、１６によるレーザ
ービームの位置補正方法により、既知の量であるΔｙだ
けレーザービームの位置をずらし、ずらした前後での時
間差（t1−t2）を測定し、その値が式(1) から求まる時
間差（t1−t2）と同じになるまで、ビーム位置検出器２
１全体を回転する。
【００２２】図８はビーム位置検出器２１の他の実施例
の正面図を示し、ハウジング内には２個のフォトセンサ
３０、３１が配置されており、ハウジングの前面パネル
３２には２個のスリット３３、３４がそれぞれフォトセ
ンサ３０、３１の前面位置に配置されている。スリット
３３はレーザービームの走査方向L1に対して略直角な開
口とされ、スリット３４はレーザービームの走査方向L1
に対して角度θだけ傾いた開口とされている。
の正面図を示し、ハウジング内には２個のフォトセンサ
３０、３１が配置されており、ハウジングの前面パネル
３２には２個のスリット３３、３４がそれぞれフォトセ
ンサ３０、３１の前面位置に配置されている。スリット
３３はレーザービームの走査方向L1に対して略直角な開
口とされ、スリット３４はレーザービームの走査方向L1
に対して角度θだけ傾いた開口とされている。
【００２３】レーザービームの走査により、主走査方向
と副走査方向の位置を検出するには、レーザービームが
走査方向L1のように走査しているときは、レーザービー
ムがスリット３３の開口を通過すると、フォトセンサ３
０によって光エネルギが電気エネルギに変換され電圧と
して出力され、レーザービームがスリット３３を通過し
た後は出力されなくなり、図９(a) に示すような方形波
a3が得られる。同様に、レーザービームがスリット３４
を通過することにより、フォトセンサ３１から方形波a4
が得られる。このときの方形波a3の立ち上がりから方形
波a4の立ち上がりまでの時間t1を、別途設けた計数手段
で計測することにより、レーザービームがスリット３３
の開口からスリット３４の開口を通過する時間t1が計測
される。
と副走査方向の位置を検出するには、レーザービームが
走査方向L1のように走査しているときは、レーザービー
ムがスリット３３の開口を通過すると、フォトセンサ３
０によって光エネルギが電気エネルギに変換され電圧と
して出力され、レーザービームがスリット３３を通過し
た後は出力されなくなり、図９(a) に示すような方形波
a3が得られる。同様に、レーザービームがスリット３４
を通過することにより、フォトセンサ３１から方形波a4
が得られる。このときの方形波a3の立ち上がりから方形
波a4の立ち上がりまでの時間t1を、別途設けた計数手段
で計測することにより、レーザービームがスリット３３
の開口からスリット３４の開口を通過する時間t1が計測
される。
【００２４】同様に、レーザービームが走査方向Ｌ２の
ように走査しているときは、図９(b) に示すようにレー
ザービームが通過するエッジの間隔が変化した分だけ計
測される時間も変化し時間t2となる。これらの時間t1、
t2及び式(1) から、レーザービームの副走査方向の走査
位置が方向L1から方向L2に変化したときの変化量Δｙを
求めることができる。
ように走査しているときは、図９(b) に示すようにレー
ザービームが通過するエッジの間隔が変化した分だけ計
測される時間も変化し時間t2となる。これらの時間t1、
t2及び式(1) から、レーザービームの副走査方向の走査
位置が方向L1から方向L2に変化したときの変化量Δｙを
求めることができる。
【００２５】また、ビーム位置検出器２１は図１に示す
ように、感光ドラム１８のレーザービーム照射面の延長
線上に配置する場合が最も精度が良いが、図１０に示す
ように感光ドラム１８の近傍にビーム位置検出ミラー３
５を配置して、一旦レーザービームを折り返してから感
光ドラム１８のレーザービーム照射面と等価位置で受光
するように、ビーム位置検出器２１を配置してもよい。
これによって、トナー飛散等の多い感光ドラム１８から
ビーム位置検出器２１を離すことができるので、ビーム
位置検出器２１を飛散トナー等により汚染することな
く、精度低下を回避して良好な性能を保持することがで
きる。
ように、感光ドラム１８のレーザービーム照射面の延長
線上に配置する場合が最も精度が良いが、図１０に示す
ように感光ドラム１８の近傍にビーム位置検出ミラー３
５を配置して、一旦レーザービームを折り返してから感
光ドラム１８のレーザービーム照射面と等価位置で受光
するように、ビーム位置検出器２１を配置してもよい。
これによって、トナー飛散等の多い感光ドラム１８から
ビーム位置検出器２１を離すことができるので、ビーム
位置検出器２１を飛散トナー等により汚染することな
く、精度低下を回避して良好な性能を保持することがで
きる。
【００２６】図１１は画像形成動作の実行タイミングの
フローチャート図を示し、電源投入後の装置立ち上げ中
に、転写ベルト上の画像の位置ずれを検知して、折り返
しミラー群１５〜１７の位置と画像書き出しタイミング
を変更する方式により画像補正を行う。
フローチャート図を示し、電源投入後の装置立ち上げ中
に、転写ベルト上の画像の位置ずれを検知して、折り返
しミラー群１５〜１７の位置と画像書き出しタイミング
を変更する方式により画像補正を行う。
【００２７】先ず、ステップS1でレーザービームの副走
査方向の位置合わせを行う。ステップS2で時間t1を測定
してメモリに格納しておく。ステップS3でスタンバイ状
態からコピースタート釦が押されたときに、ステップS4
で時間t2を測定する。ステップS5で走査線の位置のずれ
量が補正必要量を超えているときは、ステップS6でその
ずれ量に応じてアクチュエータ１９、２０ａ、２０ｂを
動作させる。ステップS7で動作終了後に時間t2を時間t1
に置き換えて、次にコピースタート釦が押されることに
備える。ステップS8でその後に画像形成動作を行う。
査方向の位置合わせを行う。ステップS2で時間t1を測定
してメモリに格納しておく。ステップS3でスタンバイ状
態からコピースタート釦が押されたときに、ステップS4
で時間t2を測定する。ステップS5で走査線の位置のずれ
量が補正必要量を超えているときは、ステップS6でその
ずれ量に応じてアクチュエータ１９、２０ａ、２０ｂを
動作させる。ステップS7で動作終了後に時間t2を時間t1
に置き換えて、次にコピースタート釦が押されることに
備える。ステップS8でその後に画像形成動作を行う。
【００２８】このように、走査線の副走査方向の位置
（トップマージン）補正を行うことにより、従来よりも
画像形成の精度をより向上することができる。なお、走
査線の副走査方向の位置補正の実行タイミングは、コピ
ー毎に毎回行うのが最も精度が良く、また連続通紙を行
うときは一定枚数後の紙間で実行すればよく、何枚毎に
実行するかは適宜設定可能にしておく。
（トップマージン）補正を行うことにより、従来よりも
画像形成の精度をより向上することができる。なお、走
査線の副走査方向の位置補正の実行タイミングは、コピ
ー毎に毎回行うのが最も精度が良く、また連続通紙を行
うときは一定枚数後の紙間で実行すればよく、何枚毎に
実行するかは適宜設定可能にしておく。
【００２９】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る画像形
成装置は、レーザービームの副走査方向の位置を簡単に
かつ短時間に変更できるので、レーザービームの主走査
方向と副走査方向の位置を同時に精度良く検出して、画
像形成動作中に補正が可能となり、画像形成動作を中断
することなく、常に色味変化や色ずれのない良好な画像
を得ることができる。
成装置は、レーザービームの副走査方向の位置を簡単に
かつ短時間に変更できるので、レーザービームの主走査
方向と副走査方向の位置を同時に精度良く検出して、画
像形成動作中に補正が可能となり、画像形成動作を中断
することなく、常に色味変化や色ずれのない良好な画像
を得ることができる。
【図１】画像形成装置の斜視図である。
【図２】ビーム位置検出器の断面図である。
【図３】正面図である。
【図４】フォトセンサの検出信号のグラフ図である。
【図５】副走査時の計測時間の変動のグラフ図である。
【図６】副走査時の補正動作の説明図である。
【図７】副走査時の補正動作の説明図である。
【図８】ビーム位置検出器の他の実施例の正面図であ
る。
る。
【図９】フォトセンサの検出信号のグラフ図である。
【図１０】ビーム位置検出器の他の実施例の斜視図であ
る。
る。
【図１１】実行タイミングのフローチャート図である。
【図１２】従来例の画像形成装置の斜視図である。
１１ 半導体レーザー光源 １３ ポリゴンミラー １５、１６、１７ 折り返しミラー １８ 感光体ドラム １９、２０ａ、２０ｂ アクチュエータ ２１ ビーム位置検出器 ２３、３０、３１ フォトセンサ ２４、３２ 前面パネル ２５、３３、３４ スリット
Claims (9)
- 【請求項１】 複数の画像形成手段と、レーザー露光手
段と、転写手段とを有する画像形成装置において、前記
レーザー露光手段により走査するレーザービームの主走
査方向及び副走査方向の位置を同時に検出するレーザー
ビーム位置検出手段と、像坦持体上のレーザービームの
副走査方向位置を調整するレーザービーム位置調整手段
とを有することを特徴とする画像形成装置。 - 【請求項２】 前記レーザービーム位置検出手段からの
副走査方向のレーザービーム位置情報によって、レーザ
ービーム位置を変更する請求項１に記載の画像形成装
置。 - 【請求項３】 前記レーザービーム位置検出手段は、前
記レーザー露光手段により走査するレーザービームの走
査方向に対する略直角方向の検出位置及びレーザービー
ムの走査方向に対する一定角度方向の検出位置を有する
請求項１に記載の画像形成装置。 - 【請求項４】 前記レーザービーム位置検出手段は、レ
ーザービームの走査方向に対する略直角方向の検出位置
及びレーザービームの走査方向に対する一定角度方向の
検出位置を、１つのセンサ面上に有する請求項１に記載
の画像形成装置。 - 【請求項５】 前記レーザービーム位置検出手段は、レ
ーザービームの走査方向に対する略直角方向の検出位置
及びレーザービームの走査方向に対する一定角度方向の
検出位置を、それぞれ異なるセンサ面上に有する請求項
１に記載の画像形成装置。 - 【請求項６】 前記レーザービーム位置検出手段の副走
査方向の分解能及び前記レーザービーム位置調整手段の
分解能は、画像形成時の画素密度の１／２以下とした請
求項１に記載の画像形成装置。 - 【請求項７】 前記レーザービーム位置検出手段を前記
画像形成手段の前記像坦持体の近傍に配置した請求項１
に記載の画像形成装置。 - 【請求項８】 前記レーザービーム位置検出手段は、前
記画像形成手段の前記像坦持体上でのレーザービーム位
置変動と相関する変動量を検出する請求項１に記載の画
像形成装置。 - 【請求項９】 前記レーザービーム位置検出手段は、前
記像坦持体上のレーザービームの副走査方向位置の調整
を画像形成動作中に実行可能とした請求項１に記載の画
像形成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26097797A JPH1184282A (ja) | 1997-09-09 | 1997-09-09 | 画像形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26097797A JPH1184282A (ja) | 1997-09-09 | 1997-09-09 | 画像形成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1184282A true JPH1184282A (ja) | 1999-03-26 |
Family
ID=17355379
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26097797A Pending JPH1184282A (ja) | 1997-09-09 | 1997-09-09 | 画像形成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1184282A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004191847A (ja) * | 2002-12-13 | 2004-07-08 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置及び画像形成装置 |
-
1997
- 1997-09-09 JP JP26097797A patent/JPH1184282A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004191847A (ja) * | 2002-12-13 | 2004-07-08 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置及び画像形成装置 |
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