JP2001281570A - 光走査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ビームに光量の変動や走査速度の変動があ
る場合でも、正確な副走査位置の検出が可能な光走査装
置を提供する。 【解決手段】 フォトセンサ７０は、受光領域９１の主
走査方向の開始端縁９２Ａと終了端縁９２Ｂとが互いに
非平行になるように配置されており、受光時間検出部９
９に接続されている。光ビームの副走査方向の位置によ
って光ビームが通過する受光領域９１の長さが異なるた
め、受光時間が異なる。受光時間検出部９９は、フォト
センサ７０からの出力信号の振幅の１／２を閾値として
設定し、この閾値を超える時間を受光時間とする。この
受光時間に基づいて光ビームの副走査位置を検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光走査装置に係り、
特に、光ビームを走査して画像の書込みを行うと共に、
走査ビームの副走査方向の走査位置を検出する機能を有
するレーザビームプリンタ、電子写真複写機等の電子写
真装置に用いられる光走査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種の光走査装置としては、例
えば図１３に示すようなものがある。この光走査装置１
００は、一つの光源１０１から射出されたレーザービー
ムを、集光レンズ群１０２を介して回転多面鏡１０４へ
照射すると共に、該回転多面鏡１０４に照射されたレー
ザービームを該回転多面鏡１０４の回転に伴って移動す
る反射面１０４Ａによって反射することにより、結像レ
ンズ１０６を介して感光体ドラム１０８の軸方向に沿っ
て走査露光するように構成したものである。

【０００３】ところで、レーザプリンタやデジタル複写
機などの画像記録装置には、画像を高画質で出力するこ
とが望まれている。そして、この要求に応えるために、
回転多面鏡を用いた光走査装置では、回転多面鏡の各反
射面の倒れなどにより、各走査線ごとに副走査方向の光
ビームの走査位置が相対的にずれてしまう場合がある。
このように副走査方向の光ビームの走査位置がずれる
と、走査線間で粗密が生じ画像むらとなって画質が低下
してしまう。しかし、回転多面鏡の反射面の倒れを抑え
るためには、回転多面鏡の加工精度や回転多面鏡を回転
駆動させるスキャナモータの組立精度をあげる必要があ
るが、反射面の倒れをゼロにすることは難しく限界があ
る。

【０００４】また、近年、カラー画像を高速で出力する
ため、複数の光ビームを用いた光走査装置で複数の感光
体に静電潜像を形成し、転写ドラム等の転写部材で複数
のトナー像を重なり合わせることで、一度の紙送りでカ
ラー画像を形成することができ、単位時間当りのプリン
ト枚数を増加することができる画像形成装置が知られて
いる。カラー画像を感光体上に潜像として形成する光走
査装置は、各色間での潜像を高精度に重ね合わせる必要
があり、光走査装置が感光体へ出力する各光ビームの相
対位置が非常に重要になる。

【０００５】そこで、走査線の走査位置ずれを検出する
ものとして、走査位置を検出し制御する手段が考えられ
る。走査線の走査位置ずれを検出するものとして、特開
昭６４−８８５１６号公報に示すような光ビームの副走
査方向の走査位置を検出する光ビーム位置検出装置が知
られている。図１４は、このような光ビーム位置検出装
置の構成図を示している。

【０００６】図１４に示した光ビーム位置検出装置１１
０は、走査面となるべき位置に図１３に示したようなフ
ォトセンサ１１１とフォトセンサ１１１の受光面上に配
置した三角形状の光透過性スリット１１２とから構成さ
れている。光ビームは、三角形状の光透過性スリット１
１２を通過し、フォトセンサ１１１に入射する。光透過
性スリット１１２を三角形状としているため、光ビーム
がフォトセンサ１１１に入射する時間は、副走査位置に
より異なる。したがって光ビームがフォトセンサ１１１
に入射している時間を検出することで、光ビームの副走
査位置を検出することができる。

【０００７】また、複数の光ビームの相対位置を合わせ
る手段を備えたレーザビームプリンタが特開平９−１７
９３５７号公報に開示されている。図１５は、このよう
なレーザビームプリンタの概略構成を示している。

【０００８】また、図１６（Ａ）には、図１５に示すレ
ーザプリンタの感光体ベルトの要部正面図が、図１６
（Ｂ）にはその側面図が、図１６（Ｃ）にはセンサの具
体的構成が、図１６（Ｄ）には上下方向のずれの補正に
ついて説明するための図がそれぞれ示されている。

【０００９】特開平９−１７９３５７号公報に記載され
たレーザプリンタには、図１５に示すように、感光体１
１４の一端側にレーザの走査位置を検出するための光検
出手段１１６が設けられている。この光検出手段１１６
は、図１６（Ｃ）に示すように、２つの三角形状の受光
領域を有するフォトセンサ１１６Ａ、１１６Ｂからな
り、受光量に比例した電流がセンサ信号処理回路１１８
へ送られ、電流−電圧変換された後、二値化してデジタ
ル値に変換される。

【００１０】図１６（Ｄ）に示すように、基準位置を走
査する光ビーム１２０Ａが副走査方向にずれ、光ビーム
１２０Ｂとなった場合には、（イ）、（ロ）に示すフォ
トセンサ１１６Ａ、１１６Ｂの受光領域Ａ及び受光領域
Ｂの出力Ｔ１が、（ハ）、（ニ）に示す出力Ｔ２とな
る。このため、基準位置を走査する光ビームの受光領域
Ａ、Ｂの出力Ｔ１と比較することにより、基準位置から
の副走査方向のずれ量を知ることができる。この構成に
より、正規の光ビームの走査位置に対する副走査方向の
ずれを補正し、高品質な画像を得ることができる。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術では、副走査方向の同じ位置に光ビームが通って
いても、フォトセンサ１１６へ入射する光ビームの光量
が変化すると、フォトセンサ１１６が出力する信号波形
の振幅が変化するので受光時間の検出にずれが生じる。

【００１２】図１７は、フォトセンサ１１６に入射する
光ビームの光量が変化した時の、フォトセンサ１１６の
出力信号波形を示している。フォトセンサ１１６に入射
する光ビームの光量がＰ１からΡ２（Ｐ１＞Ｐ２）に減
少すると、フォトセンサ１１６の信号波形と閾値（スレ
ショルドレベル）との交点によって決まる光ビームの受
光時間は、信号波形の立上り部と立ち下がり部でそれぞ
れ△ｔ減少し、検出される受光時間はＷ１からＷ２に減
少する。受光時間のずれは副走査方向の光ビーム位置の
ずれとして検出されるため、光ビームの光量が変化する
場合は、正確な走査位置を検出できない、という問題点
があった。

【００１３】光ビームの光量変化の影響を除去する手段
として、特開平７−７２３９９号公報には、２つの三角
形状の受光領域に設けた非平行エッジ部のビーム通過時
間差で副走査位置を検出する技術が開示されている。図
１８（Ａ）には、この技術におけるフォトセンサ１１６
の構成が、図１８（Ｂ）にはフォトセンサ１１６が出力
する信号波形がそれぞれ示されており、実線はフォトセ
ンサ１１６に入射する光ビームの光量が大きい時、破線
はフォトセンサ１１６に入射する光ビームの光量が小さ
い時の様子を示している。

【００１４】特開平７−７２３９９号公報に開示された
技術によれば、２つの受光領域が出力する信号波形の立
上り時間間隔△ｔによって光ビームの副走査位置を検出
している。立上り時間間隔Δｔは、光ビームの光量が変
化しても変化しないので、検出される副走査位置は光量
の影響を受けない。

【００１５】しかしながら、図１８（Ｃ）に示すよう
に、回転多面鏡を回転駆動させるスキャナモータの回転
変動等により光ビームの走査速度に変動があると、立上
り時間間隔△ｔが変動する。すなわち、走査速度が速い
場合にはΔｔｆ、走査速度が遅い場合にはΔｔｓといっ
たように立上り時間間隔△ｔが変動するので、正確な副
走査方向の位置を検出できない、という問題があった。

【００１６】本発明は、上記問題を解決すべく成された
もので、光ビームに光量の変動や走査速度の変動がある
場合でも、正確な副走査位置の検出が可能な光走査装置
を提供することを目的とする。

【００１７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に請求項１記載の発明は、入射された光ビームを主走査
及び該主走査と交差する副走査することにより像担持体
上を走査する走査手段と、前記光ビームの副走査方向の
位置を検出するビーム位置検出手段と、を備えた光走査
装置において、前記ビーム位置検出手段は、入射された
光ビームの光量を検出すると共に、前記光ビームの副走
査方向の位置に応じて主走査方向に走査された光ビーム
の検出領域が異なるフォトセンサと、前記フォトセンサ
で検出した光量の大きさに応じて所定閾値を定め、前記
フォトセンサで検出した光量の大きさが所定閾値以上で
主走査された時間を副走査方向の位置として検出する受
光時間検出手段と、を含むことを特徴とする。

【００１８】この発明によれば、光ビームの副走査方向
の受光位置に応じてフォトセンサの主走査方向に走査さ
れた光ビームの検出領域、すなわち受光時間が異なるた
め、この受光時間に基づいて副走査方向の光ビームの走
査位置を検出することができる。ここで、受光時間と
は、フォトセンサで検出した光量の大きさが所定閾値以
上で主走査された時間、例えばフォトセンサの出力信号
の振幅値が所定閾値以上の時間である。

【００１９】また、フォトセンサで検出した光量の大き
さに応じて所定閾値を定めるため、すなわち、例えば出
力信号の振幅値に基づいて所定閾値を変化させるため、
フォトセンサに入射した光ビームの光量が変化しても、
光ビーム光量の変化に対応してフォトセンサの出力信号
波形に対する所定閾値（スレッショルド値）が変化す
る。このため、光ビームの光量が変化しても受光時間を
一定にすることができるため、検出する副走査位置を一
定にすることができる。

【００２０】請求項２記載の発明は、前記受光時間検出
手段は、前記出力信号の振幅値に所定値を乗じた値を前
記所定閾値として設定することを特徴とする。

【００２１】この発明によれば、受光時間検出手段で受
光時間を検出するための所定閾値を、フォトセンサの出
力信号波形の振幅値に所定値を乗じた値とする。この所
定値は例えばメモリ等の内部に保持される固定値であ
り、オーバーシュートやアンダーシュートの影響を受け
難い約１／２に設定するのが望ましい。所定値を１／２
に設定した場合、フォトセンサに入射する光ビームの光
量に対するフォトセンサの出力感度が非線形であるよう
な場合でも、受光時間検出手段が出力する受光時間は、
光量変動の影響を受けない。所定値を例えば１／２に設
定した場合、閾値は常に振幅値×１／２になる。したが
って振幅値の変動に応じて、所定閾値も変化し、信号波
形と所定閾値との交点によって決まる受光時間は、光量
変動によらず常に一定になる。

【００２２】請求項３記載の発明は、前記フォトセンサ
の検出領域は、前記光ビームの主走査方向の検出開始端
縁と検出終了端縁とが共に直線でかつ互いに非平行に形
成されていることを特徴とする。

【００２３】この発明によれば、フォトセンサの主走査
方向の検出開始端縁と検出終了端縁を直線形状でかつ互
いに非平行になるように形成したので、フォトセンサに
入射する光ビ―ムの副走査方向の変動に対し、光ビーム
がフォトセンサに入射する時間が線形に変動する。従っ
て、フォトセンサへの光ビームの入射時間から光ビーム
の副走査位置への変換が複雑な変換式を必要とせずに容
易に検出することがでいる。

【００２４】請求項４記載の発明は、前記光ビームの主
走査方向の検出開始端縁及び検出終了端縁の少なくとも
一方に接し、かつ主走査方向の検出領域が略同一の閾値
決定用フォトセンサをさらに備え、前記受光時間検出手
段は、前記閾値決定用フォトセンサの検出光量及び前記
フォトセンサの検出光量の大きさが略一致する値を前記
所定値として設定することを特徴とする。

【００２５】この発明によれば、フォトセンサの主走査
方向の検出開始端縁及び検出終了端縁の少なくとも一方
に接し、かつ主走査方向の検出領域が略同一の閾値決定
用フォトセンサをさらに備え、フォトセンサを副走査方
向のビーム位置検出用とし、閾値決定用フォトセンサを
受光時間検出手段による閾値決定用として使用する。

【００２６】すなわち、フォトセンサの主走査方向の検
出開始端縁及び検出終了端縁の少なくとも一方と互いに
平行に接する閾値決定用フォトセンサをさらに備えてい
る。

【００２７】そして、所定値（閾値）を閾値決定用フォ
トセンサの検出光量及びフォトセンサの検出光量の大き
さが略一致する値とする。すなわち、例えば閾値決定用
フォトセンサ及びフォトセンサから出力される出力信号
の振幅値が略一致する値とする。これにより、閾値を決
定するための手順を、振幅値検出→アナログ−デジタル
変換→閾値算出→デジタル−アナログ変換等のような複
雑な手順を用いずに、低コストなアナログのコンパレー
タ回路等で簡単に構成できるようになる。また、例えば
閾値決定用フォトセンサの主走査方向検出終了端縁と、
フォトセンサの主走査方向検出開始端縁とを互いに平行
に接するように配置することにより、２つのフォトセン
サが出力する信号波形の振幅値が等しくなる値は、振幅
値の約１／２となる。所定値を１／２に設定した場合、
フォトセンサに入射する光ビームの光量に対するフォト
センサの出力感度が非線形であるような場合でも、受光
時間検出手段が出力する受光時間は、光量変動の影響を
受けない。所定値を例えば１／２に設定した場合、閾値
は常に振幅値×１／２になる。したがって振幅値の変動
に応じて、閾値も変化し、信号波形と閾値との交点によ
って決まる受光時間は、光量変動によらず常に一定にな
る。

【００２８】請求項５記載の発明は、前記光ビームの主
走査方向の検出開始端縁及び検出終了端縁の少なくとも
一方に接し、かつ前記光ビームの副走査方向の位置に応
じて主走査方向の検出領域が異なり、前記フォトセンサ
と合わせた主走査方向の検出領域が前記光ビームの副走
査方向の位置によらず等しくなるように形成した走査速
度キャンセル用フォトセンサをさらに備え、前記ビーム
位置検出手段は、前記受光時間検出手段により検出した
前記フォトセンサの主走査時間と前記走査速度キャンセ
ル用フォトセンサの主走査時間との比に基づいて前記光
ビームの副走査方向の位置を検出することを特徴とす
る。

【００２９】この発明によれば、副走査方向の光ビーム
の位置を、フォトセンサの主走査時間及び走査速度キャ
ンセル用フォトセンサの主走査時間、すなわち例えばフ
ォトセンサ及び走査速度キャンセル用フォトセンサが出
力する信号波形から検出された受光時間から算出するの
ではなく、フォトセンサ及び走査速度キャンセル用フォ
トセンサの主走査時間の比、すなわち受光時間の比から
算出する。スキャナモータの回転変動等により光ビーム
の走査速度が変動しても、受光時間の比は無次元値のた
め変動することはなく、高精度に副走査方向の光ビーム
の走査位置を検出できる。

【００３０】また、複数の光源を含む光走査装置に本発
明を適用することができる。複数の光源を配置した光走
査装置、特にカラー画像を出力するための光走査装置で
は、画像に応じた静電潜像を形成する像担持体上の各光
ビームの副走査位置が一致していることが望ましい。し
かし、環境等の変化によって光ビームの位置は少なから
ずずれてしまう。このため、各光ビームが異なった位置
に画像を形成してしまう色ずれが発生してしまう。そこ
で、複数の光源を配置した光走査装置に本発明を適用
し、各光ビームの走査位置を検出、補正することで、色
ずれを抑えることができる。

【００３１】

【発明の実施の形態】［第１実施形態］以下、図面を参
照して本発明の第１実施形態について詳細に説明する。
図１には、本発明の第１の実施形態に係る光走査装置３
０の斜視図が示されている。

【００３２】図１に示すように、光走査装置３０は、後
述する回転多面鏡３４の偏向面に偏向面より幅広の光束
を入射させるオーバーフィルドタイプの光学系を適用し
ている。

【００３３】図１において、光源部は略ガウシアン分布
の光ビームを発光する半導体レーザ３６を備え、この半
導体レーザ３６の光ビーム射出側には縦横に異なる広が
り角を有する光ビームがその焦点位置から発光された場
合に該光ビームを略平行光とする作用を有するコリメー
タレンズ３８、中央部の光ビームのみを通過させるビー
ム整形用のスリット３９、及び入射した光ビームを後述
する回転多面鏡の偏向面近傍に副走査方向に収束させる
シリンドリカルレンズ４１がそれぞれ配置されている。

【００３４】なお、半導体レーザ３６は、図示しない制
御部が接続されており、この制御部は、画像情報に基づ
いて半導体レーザ３６の光ビーム出力を変調するように
制御する。

【００３５】また、コリメータレンズ３８は、半導体レ
ーザ３６との間隔がコリメータレンズ３８の焦点距離よ
りも約１mm短くなる位置に配置されており、この配置に
より、コリメータレンズ３８を通過した光ビームは、略
平行光とならず緩い発散光となる。

【００３６】シリンドリカルレンズ４１の光ビーム射出
側には、射出された光ビームを反射する平面ミラー４０
が配置されている。平面ミラー４０の反射側には、複数
の同一面幅の偏向面（鏡面）を側面部に有する正多角柱
の形状をなすと共に、中心軸の回りに図示しない駆動手
段により矢印方向に等角速度で回転する回転多面鏡３４
が配置されている。

【００３７】また、平面ミラー４０と回転多面鏡３４の
間には、二枚組のレンズからなるｆθレンズ４４が配置
されている。オーバーフィルド光学系の場合、ｆθレン
ズ４４は、平面ミラー４０により反射された緩い発散光
を回転多面鏡３４の面幅より広い細長い線像として主走
査方向に収束させる。これにより、複数の偏向面をまた
がるように収束する。

【００３８】さらにｆθレンズ４４は、回転多面鏡３４
により偏向された光ビームが再びｆθレンズ４４を通過
するように配置されており、再度通過した光ビームを後
述する感光体上に光スポットとして収束させると共に、
該光スポットを感光体上で主走査方向に略等速度で移動
させる機能を有する。

【００３９】また、回転多面鏡３４に対してｆθレンズ
４４が配置されている側には、回転多面鏡３４により偏
向された画像記録用の光ビームを反射する平面ミラー４
６が配置されており、平面ミラー４６で反射された光ビ
ームはシリンドリカルミラー４８で反射された後、下部
に配置された感光体１８上に至る。

【００４０】なお、図１ではシリンドリカルミラー４８
を用いているが、平面ミラーやシリンドリカルレンズで
あっても良い。シリンドリカルミラー及びシリンドリカ
ルレンズは、副走査方向に光ビームを収束させるパワー
を持ち、回転多面鏡３４の偏向面のばらつきにより生じ
る感光体１８上での副走査方向の位置ずれ（面倒れ）を
補正する機能を持つ。

【００４１】感光体１８は、光ビームに感応する感光材
料がその表面に塗布された細長い円柱状の形状を有して
おり、主走査方向が、この感光体１８の長手方向に一致
するように配置されている。すなわち、回転多面鏡３４
の回転方向と共に感光体１８上に収束された光スポット
は、主走査方向に沿って感光体１８上を移動し、走査線
での画像記録が可能となる。

【００４２】また、感光体１８は、その回転軸を中心と
して図示しない駆動手段により一定の回転速度で回転
し、感光体１８上での走査線を副走査方向に順次移動さ
せる。

【００４３】さらに、これらの走査線における画像記録
が行われる書き出し位置を設定するために、ｆθレンズ
４４を通過した光ビームの経路上には、光ビームを折り
返す平面ミラー８０、副走査方向にビームを結像させる
シリンドリカルレンズ８１、およびＳＯＳセンサ（主走
査位置検出センサ）６４が配置されている。

【００４４】ＳＯＳセンサ６４は、図示しない制御部に
接続されており、制御部はＳＯＳセンサ６４の出力信号
を検出した時点から所定時間経過した後、画像信号の変
調を開始する。

【００４５】さらに、走査線の副走査位置を検出するた
めに、ＳＯＳセンサ６４を走査した後の光路上で、かつ
感光体１８へ画像を形成する領域外でシリンドリカルミ
ラー４８を反射した光ビームを折り返す平面ミラー８５
及び平面ミラー８５で折り返された光ビーム、すなわち
副走査位置を検出する副走査位置検出センサ６６が配置
されている。

【００４６】副走査位置検出センサ６６は、感光体１８
と略等価な位置に配置されているため、感光体１８上の
ビーム位置変化と、副走査位置検出センサ６６上でのビ
ーム位置変化は等しくなる。

【００４７】次に第１の実施形態の作用について説明す
る。

【００４８】まず、光源である半導体レーザ３６は、画
像情報に基づいて画像信号の変調を行なう。副走査位置
検出センサ６６は、画像の書き出し位置を設定するため
のＳＯＳセンサ６４を走査した後の光路上で、かつ画像
形成領域より以前の領域に配置されている。

【００４９】この副走査位置検出センサ６６は、光ビー
ムの副走査方向の走査位置に対応した信号を出力し、光
ビームの位置変化を算出し、感光体１８上の副走査方向
の書き出しタイミングを制御する。なお、副走査位置検
出センサ６６は、走査開始側に限らず走査終端側の画像
形成領域外に配置されていても良い。

【００５０】図２は、副走査位置検出センサ６６に設け
られたフォトセンサ７０の構成を示している。フォトセ
ンサ７０は、直角三角形に形成された受光領域９１を備
えており、主走査方向の開始端縁９２Ａは主走査方向に
直交するように、終了端縁９２Ｂは開始端縁に対し非平
行（図２では略４５度）になるよう配置してある。フォ
トセンサ７０は、受光時間検出部９９に接続されてい
る。受光時間検出部９９では、フォトセンサ７０からの
出力信号に基づいて受光時間を検出する。

【００５１】なお、図２に示したフォトセンサ７０の受
光領域９１の形状は、図２に示した形状に限定するもの
ではなく、受光領域９１の主走査方向の開始端縁９２Ａ
と終了端縁９２Ｂとが互いに非平行になるように配置さ
れていればよい。

【００５２】光ビームの副走査位置は、ＳＯＳセンサ６
４の出力から所定の時間だけ経過した後に半導体レーザ
３６の点灯制御がなされ、フォトセンサ７０の受光領域
９１にレーザ光が入射することでフォトセンサ７０から
出力される信号波形をもとに受光時間検出部９９が検出
する受光時間に基づいて検出することができる。

【００５３】図３には、フォトセンサ７０の受光領域９
１から出力される信号波形が示されており、図３におい
てＳ１，Ｓ２，Ｓ３の信号波形が図２に示す光ビームＬ
１、Ｌ２、Ｌ３にそれぞれ対応している。フォトセンサ
７０に光ビームが入射すると、受光領域９１は図３に示
すような信号波形を出力する。光ビームが受光領域９１
を通過する副走査方向の位置によって、光ビームが通過
する受光領域９１の長さが異なるため、受光時間Ｗが異
なる。

【００５４】また、光ビームが受光領域９１を通過する
時間、すなわち信号波形の受光時間Ｗは、信号波形と閾
値（スレッショルドレベル）ＴＨとの交点で求められる
が、スレッショルドレベルＴＨは、本実施形態では、受
光時間検出部９９により信号波形の振幅の１／２に設定
される。

【００５５】図４は、フォトセンサ７０に入射する光量
が変化した場合の、受光時間Ｗの変動を説明する図であ
る。図４には、２種類の光量Ｐ１、Ｐ２に対するフォト
センサ７０の出力波形Ｓ１、Ｓ２を示している。ここ
で、前述したように、スレッショルドレベルＴＨは、信
号波形の振幅の１／２に設定されるため、信号波形Ｓ１
のスレショルドレベルＴＨ１はＰ１／２、信号波形Ｓ２
のスレショルドレベルＴＨ２はＰ２／２に設定される。
これにより、光量が変化した場合でも、受光時間Ｗを一
定にすることができる。このように、スレショルドレベ
ルを信号波形の振幅の１／２とすることで、信号波形の
オーバーシュートやアンダーシュートによって、受光時
間Ｗに誤差が生じるのを低減することができる。

【００５６】［第２実施形態］次に、本発明の第２実施
形態について説明する。

【００５７】図５には、副走査位置検出センサ６６に設
けられたフォトセンサ７０の他の例が示されている。

【００５８】フォトセンサ７０は、それぞれ個別に信号
を出力する３つのセンサを一体とした構成であり、受光
領域９１Ａ、９１Ｂ、９１Ｃを備えている。３つのセン
サは主走査方向に並べて配置され、受光領域９１Ａ→９
１Ｂ→９１Ｃの順に光ビームが走査される。Ｌ１、Ｌ
２、Ｌ３は副走査方向の位置が異なる３本の光ビームを
あらわしている。受光領域９１Ａ、９１Ｃは四角形に、
受光領域９１Ｂは直角三角形に形成されている。そし
て、受光領域９１Ｂの主走査方向の開始端縁９２Ａは主
走査方向に直交するように、終了端縁９２Ｂは開始端縁
９２Ａに対し非平行（図５では略４５度）になるよう配
置してある。フォトセンサ７０は受光時間検出部９９に
接続されている。受光時間検出部９９は、受光領域９１
Ａ、９１Ｂ、９１Ｃからの出力信号に基づいて受光時間
を検出する。

【００５９】なお、図５に示したフォトセンサ７０の受
光領域９１Ａ、９１Ｂ、９１Ｃの形状は、図５に示した
形状に限定するものではなく、受光領域９１Ａの主走査
方向終了端縁と、受光領域９１Ｂの主走査方向開始端縁
９２Ａとが互いに平行に接するように配置され、受光領
域９１Ｂの主走査方向終了端縁９２Ｂと、受光領域Ｃの
主走査方向開始端縁とが互いに平行に接するように配置
され、受光領域９１Ｂの少なくとも一方の主走査方向端
縁が、他方の主走査方向端縁に対して非平行であればよ
い。

【００６０】光ビームの副走査位置は、ＳＯＳセンサ６
４の出力から所定の時間だけ経過した後に半導体レーザ
３６の点灯制御がなされ、フォトセンサ７０の受光領域
９１Ａ，９１Ｂ，９１Ｃにレーザ光が入射することでフ
ォトセンサ７０から出力される信号波形をもとに受光時
間検出部９９が検出する受光時間に基づいて検出するこ
とができる。

【００６１】図６には、フォトセンサ７０の受光領域９
１Ａ，９１Ｂ，９１Ｃからそれぞれ出力される信号波形
Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３が示されており、図６（Ａ）、
（Ｂ），（Ｃ）に示す信号波形が図５に示す光ビームＬ
１、Ｌ２、Ｌ３にそれぞれ対応している。フォトセンサ
７０に光ビームが入射すると、受光領域９１Ａ，９１
Ｂ，９１Ｃは図６に示すような信号波形Ｓ１，Ｓ２，Ｓ
３をそれぞれ出力する。

【００６２】各信号波形の受光時間は、信号波形と閾値
（スレッショルドレベル）ＴＨとの交点で求められる。
スレッショルドレベルＴＨは、受光時間検出部９９によ
り信号波形Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３の振幅レベルが同じになる
値に設定されている。この場合、受光領域９１Ａの主走
査方向終了端縁と、受光領域９１Ｂの主走査方向開始端
縁９２Ａとが互いに平行に接するように配置されている
ため、スレッショルドレベルＴＨは、信号波形Ｓ１、Ｓ
２、Ｓ３の振幅レベルが１／２になる値に設定される。

【００６３】受光領域９１Ａと受光領域９１Ｃは、副走
査方向の位置に対して光ビームが受光領域を通過する長
さが変わらないため、光ビームの副走査方向の位置が変
化しても、その受光時間ＷＡ、ＷＣは変わらない。受光
領域９１Βは、副走査方向の光ビームの位置によって、
光ビームが受光領域を通過する長さが異なるため、受光
時間ＷＢが異なる。

【００６４】図７は、受光時間検出部９９の構成を示す
図である。半導体レーザ３６がフォトセンサ７０上で光
ビームを点灯することより、受光領域９１Ａ、９１Ｂ、
９１Ｃから信号波形が出力される。受光領域９１Ａ、９
１Ｂ、９１Ｃからの信号波形は、電圧変換回路９３Ａ，
９３Ｂ，９３Ｃにより電圧変換され、コンパレータ回路
９４Ａ，９４Ｂにそれぞれ入力され比較される。そし
て、受光領域９１Ｂが出力する信号波形の受光時間ＷＢ
がカウンタ９５で測定される。

【００６５】すなわち、コンパレータ回路９４Ａでは受
光領域９１Ａの出力電圧と受光領域９１Ｂの出力電圧と
が比較され、受光領域９１Ｂの出力電圧が受光領域９１
Ａの出力電圧を超えた場合（スレッショルドレベルＴＨ
を超えた場合）にハイレベルが出力される。これがカウ
ンタ９５によるカウント開始を指示するＳｔａｒｔ信号
となる。

【００６６】一方、コンパレータ回路９４Ｂでは受光領
域９１Ｂの出力電圧と受光領域９１Ｃの出力電圧とが比
較され、受光領域９１Ｃの出力電圧が受光領域９１Ｂの
出力電圧を超えた場合（スレッショルドレベルＴＨを超
えた場合）にハイレベルが出力される。これがカウンタ
９５によるカウント停止を指示するＳｔｏｐ信号とな
る。

【００６７】カウンタ９５では、Ｓｔａｒｔ信号が入力
されるとカウントを開始し、Ｓｔｏｐ信号が入力される
とカウントを停止する。このときのカウント値が受光領
域９１Ｂの受光時間ＷＢとなる。

【００６８】カウンタ９５で測定された受光領域９１Ｂ
が出力する信号波形の受光時間ＷＢは、マイコン９６に
入力されて副走査方向のビーム走査位置に変換される。
半導体レーザ３６の点灯タイミングはマイコン９６で制
御されている。各種のタイミングは、レーザービームの
走査によって得られるＳＯＳセンサ６４の出力信号が基
準となり、タイミングジェネレータ９７によって制御さ
れる。

【００６９】次に、マイコン９６の処理について、図８
に示すフローチャートを参照して説明する。

【００７０】まず、マイコン９６は、半導体レーザ３６
を点灯させて光ビームを走査し（ステップ２００）、副
走査位置検出センサ６６で副走査方向の光ビームの位置
（受光時間）を検出する（ステップ２０２）。受光時間
の測定は、測定開始と終了のタイミング信号となるコン
パレータ回路９４Ａ、９４Ｂの出力信号であるＳｔａｒ
ｔ信号及びＳｔｏｐ信号に基づいて行われる。

【００７１】マイコン９６は、ＳＯＳセンサ６４で同期
位置を検出した後、所定の時間経過後にカウンタ９５の
測定値を検出する。そして、マイコン９６内部に保持し
てある設定値（初期値）と検出した値とを比較して（ス
テップ２０４）、副走査方向の光ビーム走査位置のずれ
量を算出する（ステップ２０６）。ずれ量が許容値を超
えた場合（例えば１ドット以上）は、副走査のビーム書
き出し位置を制御する。

【００７２】［第３実施形態］次に、本発明の第３実施
形態について説明する。

【００７３】図９は、副走査位置検出センサ６６に設け
られたフォトセンサ７０の他の例が示されている。

【００７４】フォトセンサ７０は、それぞれ個別に信号
を出力する４つのセンサを一体とした構成であり、受光
領域９１Ａ、９１Ｂ、９１Ｃ、９１Ｄを備えている。４
つのセンサは主走査方向に並べて配置され、受光領域９
１Ａ→９１Ｂ→９１Ｃ→９１Ｄの順に光ビームが走査さ
れる。Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３は副走査方向の位置が異なる３
本の光ビームをあらわしている。受光領域９１Ａ、９１
Ｄは四角形に、受光領域９１Ｂ、９１Ｃは直角三角形に
形成されている。

【００７５】受光領域９１Ｂの主走査方向の開始端縁９
２Ａと受光領域９１Ｃの主走査方向終了端縁９８Ｂは主
走査方向に直交するように、受光領域９１Ｂの主走査方
向の終了端縁９２Ｂと受光領域Ｃの主走査方向開始端縁
は主走査方向に対し略４５度の角度で隣接して配置され
ている。

【００７６】受光領域９１Ａの終了端縁と受光領域９１
Ｄの開始端縁は、受光領域９１Ｂの開始端縁９２Ａと受
光領域９１Ｃの終了端縁９８Ｂにそれぞれ接している。
受光領域９１Ｂの開始端縁９２Ａから受光領域９１Ｃの
終了端縁までの長さは、副走査方向の位置によらず一定
（図中Ｋで示す）になるように形成されている。また、
フォトセンサ７０は、受光時間検出部９９に接続されて
いる。

【００７７】なお、図９に示したフォトセンサ７０の受
光領域９１Ａ、９１Ｂ、９１Ｃ、９１Ｄの形状は、図９
に示した形状に限定するものではなく、受光領域９１
Ａ、９１Ｂ、９１Ｃ、９１Ｄの端縁が互いに平行に接す
るように配置され、受光領域９１Ｂの少なくとも一方の
主走査方向端縁が他方の主走査方向端縁と非平行であ
り、受光領域９１Ｃの少なくとも一方の主走査方向端縁
が他方の主走査方向端縁と非平行であり、受光領域９１
Ｂの開始端縁９２Ａから受光領域９１Ｃの終了端縁９８
Ｂまでの長さが副走査方向の位置によらず一定になって
いれば良い。

【００７８】光ビームの副走査位置は、ＳＯＳセンサ６
４の出力から所定の時間だけ経過した後に半導体レーザ
３６の点灯制御がなされ、フォトセンサ７０の受光領域
９１Ａ，９１Ｂ，９１Ｃ、９１Ｄにレーザ光が入射する
ことでフォトセンサ７０から出力される信号波形をもと
に受光時間検出部９９で検出した受光時間に基づいて検
出することができる。

【００７９】図１０は、フォトセンサ７０の受光領域９
１Ａ，９１Ｂ，９１Ｃ、９１Ｄからそれぞれ出力される
信号波形Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４が示されており、図１
０（Ａ）、（Ｂ），（Ｃ）に示す信号波形が図９に示す
光ビームＬ１、Ｌ２、Ｌ３にそれぞれ対応している。フ
ォトセンサ７０に光ビームが入射すると、受光領域９１
Ａ、９１Ｂ、９１Ｃ、９１Ｄは図１０に示すような信号
波形Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３、Ｓ４をそれぞれ出力する。

【００８０】各信号波形の受光時間は、信号波形と閾値
（スレッショルドレベル）ＴＨとの交点で求められる。
スレッショルドレベルＴＨは、受光時間検出部９９によ
り信号波形Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３、Ｓ４の振幅が同じになる
値に設定されている。この場合、受光領域９１Ａの主走
査方向終了端縁と、受光領域９１Ｂの主走査方向開始端
縁９２Ａとが互いに平行に接するように配置されている
ため、スレッショルドレベルＴＨは、信号波形Ｓ１、Ｓ
２、Ｓ３、Ｓ４の振幅レベルが１／２になる値に設定さ
れる。

【００８１】受光領域９１Ａと受光領域９１Ｄは、光ビ
ームの位置が副走査方向に変化しても、光ビームが受光
領域を通過する長さが変わらないため、受光時間ＷＡ，
ＷＤは変わらない。受光領域９１Ｂと受光領域９１Ｃ
は、副走査方向の光ビームの位置によって、光ビームが
受光領域を通過する長さが異なるため、受光時間ＷＢ，
ＷＣが異なる。また、受光領域９１Ｂの開始端縁９２Ａ
から受光領域９１Ｃの終了端縁９８Ｂまでは、光ビーム
の走査位置が副走査方向に変化しても光ビームが受光領
域を通過する長さが変わらないため、ビームの通過時間
は変わらない。

【００８２】ここで、受光時間ＷＢを改めてＴ１とし、
受光時間ＷＣを改めてＴ２とした場合、副走査方向ビー
ム位置の検出は、Ｔ１／（Ｔ１＋Ｔ２）あるいはＴ２／
（Ｔ１＋Ｔ２）により演算される値をもとに副走査方向
の光ビームの走査位置を検出する。Ｔ１／（Ｔ１＋Ｔ
２）あるいはＴ２／（Ｔ１＋Ｔ２）に、受光領域９１Ｂ
の開始端縁９２Ｂから受光領域９１Ｃの終了端縁９８Ｂ
までの長さＫを乗じた値は、それぞれ受光領域９１Ｂ、
受光領域９１Ｃでの副走査方向のビーム位置をあらわす
ことになる。ここで受光時間ＷＢを、受光領域９１Ａと
受光領域９１Ｂが出力する信号波形の振幅値が等しくな
る値から、受光領域９１Ｂと受光領域９１Ｃが出力する
信号波形の振幅値が等しくなる値までとし、受光時間Ｗ
Ｃを、受光領域９１Ｂと受光領域９１Ｃが出力する信号
波形の振幅値が等しくなる値から、受光領域９１Ｃと受
光領域９１Ｄが出力する信号波形の振幅値が等しくなる
値までとすることにより、光量変動の影響を取り除くこ
とができる。また、副走査方向の光ビームの位置を、Ｔ
１／（Ｔ１＋Ｔ２）あるいはＴ２／（Ｔ１＋Ｔ２）によ
り演算される値をもとに検出しているので、スキャナモ
ータの回転変動等により光ビームの走査速度が変動して
も、光ビームの副走査方向の走査位置が変わらなければ
Ｔ１／（Ｔ１＋Ｔ２）あるいはＴ２／（Ｔ１＋Ｔ２）の
比は常に一定になるため、走査速度の変動の影響を受け
ない。

【００８３】［第４実施形態］次に、本発明の第４実施
形態について説明する。第４実施形態に係る光走査装置
が第１乃至第３実施形態に係る光走査装置と構成上異な
るのは、光源である半導体レーザを複数個設けた光走査
装置に適用した点である。図１１、１２は複数の光源を
用いた光走査装置の構成を示しており、図１１は側面
図、図１２は平面図を示している。

【００８４】図１１，１２には、所謂スプレイペイント
方式のカラー画像形成装置１０が示されている。カラー
画像形成装置１０は、３個の搬送ローラ１２Ａ〜１２Ｃ
と、搬送ローラ１２Ａ〜１２Ｃに巻き掛けられた無端の
転写ベルト１４と、転写ベルト１４を挟んで搬送ローラ
１２Ｃと対向配置された転写ローラ１６と、を備えてい
る。

【００８５】転写ベルト１４の上方には、転写ベルト１
４が回転駆動されたときの転写ベルト１４の移動方向
（図１１矢印Ａ方向）に沿って、ブラック（Ｋ）画像形
成用の感光体ドラム１８Ｋ、イエロー（Ｙ）画像形成用
の感光体ドラム１８Ｙ、マゼンダ（Ｍ）画像形成用の感
光体ドラム１８Ｍ、シアン（Ｃ）画像形成用の感光体ド
ラム１８Ｃが略等間隔で配置されている。各感光体ドラ
ム１８は軸線が転写ベルト１４の移動方向と直交するよ
うに各々配置されている。

【００８６】なお、以下ではＫ，Ｙ，Ｍ，Ｃ各色毎に設
けられた部分に対し、上記と同様に、各部分の符号にＫ
／Ｙ／Ｍ／Ｃの記号を付して区別する。

【００８７】各感光体ドラム１８の周囲には、感光体ド
ラム１８を帯電させるための帯電器２０が各々配置され
ており、各感光体ドラム１２の上方には、帯電された各
感光体ドラム１８にレーザビームを各々照射して各感光
体ドラム１８に静電潜像を形成する光走査装置３０が配
置されている。

【００８８】また、各感光体ドラム１８の周囲には、感
光体ドラム１８の回転方向に沿ってレーザビーム照射位
置よりも下流側に、感光体ドラム１８上に形成された静
電潜像を所定色（Ｋ又はＹ又はＭ又はＣ）のトナーによ
って現像しトナー像を形成させる現像器２２、感光体ド
ラム１８上に形成されたトナー像を転写ベルト１４に転
写する転写器２４、感光体ドラム１８に残されたトナー
を除去する清掃器２６が順に配置されている。

【００８９】各感光体ドラム１８に形成された互いに異
なる色のトナー像は、転写ベルト１４のベルト面上で互
いに重なり合うように転写ベルト１４に各々転写され
る。これにより、転写ベルト１４上にカラーのトナー像
が形成され、形成されたカラーのトナー像は、搬送ロー
ラ１２Ｃと転写ローラ１６との間に送り込まれた転写材
２８に転写される。そして、転写材２８は図示しない定
着装置に送りこまれ、転写されたトナー像が定着され
る。これにより、転写材２８上にカラー画像（フルカラ
ー画像）が形成される。

【００９０】次に図１１及び図１２を参照し、光走査装
置３０について説明する。複数ビーム走査装置３０は底
面形状が略矩形状のケーシング３２を備え、ケーシング
３２の略中央部には、図示しないモータによって高速で
回転される回転多面鏡３４が配置されている。回転多面
鏡３４の軸線に直交する方向に沿ってケーシング３２の
一方の端部には、感光体ドラム１８Ｋへの照射用のレー
ザ光を射出する半導体レーザ（以下、ＬＤという）３６
Ｋと、感光体ドラム１８Ｙへの照射用のレーザ光を射出
するＬＤ３６Ｙが角部近傍に各々配置されている。

【００９１】ＬＤ３６Ｋのレーザ光射出側にはコリメー
タレンズ３８Ｋ、平面ミラー４０が順に配置されてい
る。ＬＤ３６Ｋから射出されたレーザビームＫは、コリ
メータレンズ３８Ｋによって平行光束とされて平面ミラ
ー４０に入射される。また、ＬＤ３６Ｙのレーザ光射出
側にはコリメータレンズ３８Ｙ、平面ミラー４２が順に
配置されており、ＬＤ３６Ｙから射出されたレーザビー
ムＹは、コリメータレンズ３８Ｙによって平行光束とさ
れた後に、平面ミラー４２で反射されて平面ミラー４０
に入射される。

【００９２】平面ミラー４０と回転多面鏡３４との間に
はｆθレンズ４４が配置されており、平面ミラー４０で
反射されたレーザビームＫ及びレーザビームＹは、ｆθ
レンズ４４を透過して回転多面鏡３４に入射され、回転
多面鏡３４で反射・偏向された後に、再びｆθレンズ４
４を透過するように構成されている（所謂正面入射、ダ
ブルパス構成）。

【００９３】ＬＤ３６ＫとＬＤ３６Ｙは回転多面鏡３４
の軸線方向（副走査方向に対応）に沿った位置が相違さ
れており、レーザビームＫ及びレーザビームＹは、副走
査方向に沿って異なる入射角で回転多面鏡３４に各々入
射されるので、ｆθレンズ４４を２回透過したレーザビ
ームＫ，Ｙは別々の平面ミラー４６Ｋ、４６Ｙに入射さ
れる。

【００９４】そしてレーザビームＫは、平面ミラー４６
Ｋにより、感光体ドラム１８Ｋの上方に相当する位置に
配置されたシリンドリカルミラー４８Ｋに入射され、シ
リンドリカルミラー４８Ｋから感光体ドラム１８Ｋへ向
けて射出され、感光体ドラム１８Ｋの周面上を走査され
る。また、レーザビームＹは、平面ミラー４６Ｙによ
り、感光体ドラム１８Ｙの上方に相当する位置に配置さ
れたシリンドリカルミラー４８Ｙに入射され、シリンド
リカルミラー４８Ｙから感光体ドラム１８Ｙへ向けて射
出され、感光体ドラム１８Ｙの周面上を走査される。

【００９５】ケーシング３２内部の、回転多面鏡３４を
挟んでＬＤ３６Ｋ及びＬＤ３６Ｙの配設位置の反対側の
端部には、感光体ドラム１８Ｍへの照射用のレーザ光を
射出するＬＤ３６Ｍと、感光体ドラム１８Ｃへの照射用
のレーザ光を射出するＬＤ３６Ｃが角部近傍に各々配置
されている。

【００９６】ＬＤ３６Ｃのレーザ光射出側にはコリメー
タレンズ３８Ｃ、平面ミラー５２が順に配置されてお
り、ＬＤ３６Ｃから射出されたレーザビームＣは、コリ
メータレンズ３８Ｃによって平行光束とされて平面ミラ
ー５２に入射される。また、ＬＤ３６Ｍのレーザ光射出
側にはコリメータレンズ３８Ｍ、平面ミラー５４が順に
配置され、ＬＤ３６Ｍから射出されたレーザビームＭ
は、コリメータレンズ３８Ｍによって平行光束とされた
後に、平面ミラー５４で反射されて平面ミラー５２に入
射される。

【００９７】平面ミラー５２と回転多面鏡３４との間に
はｆθレンズ５６が配置されており、平面ミラー５２で
反射されたレーザビームＣ及びレーザビームＭは、ｆθ
レンズ５６を透過して回転多面鏡３４に入射され、回転
多面鏡３４で反射・偏向された後に、再びｆθレンズ５
６を透過するように構成されている。

【００９８】ＬＤ３６ＣとＬＤ３６Ｍは回転多面鏡３４
の軸線方向（副走査方向に対応）に沿った位置が相違さ
れており、レーザビームＣ及びレーザビームＭは、副走
査方向に沿って異なる入射角で回転多面鏡３４に各々入
射されるので、ｆθレンズ５６を２回透過したレーザビ
ームＣ，Ｍは別々の平面ミラー４６Ｃ、４６Ｍに入射さ
れる。

【００９９】そしてレーザビームＣは、平面ミラー４６
Ｃにより、感光体ドラム１８Ｃの上方に相当する位置に
配置されたシリンドリカルミラー４８Ｃに入射され、シ
リンドリカルミラー４８Ｃから感光体ドラム１８Ｃへ向
けて射出され、感光体ドラム１８Ｃの周面上を走査され
る。また、レーザビームＭは、平面ミラー４６Ｍによ
り、感光体ドラム１８Ｍの上方に相当する位置に配置さ
れたシリンドリカルミラー４８Ｍに入射され、シリンド
リカルミラー４８Ｍから感光体ドラム１８Ｍへ向けて射
出され、感光体ドラム１８Ｍの周面上を走査される。

【０１００】上記より明らかなように、レーザビーム
Ｋ，Ｙと、レーザビームＣ，Ｍは回転多面鏡３４の対向
する面に入射されるため、図１２に矢印で各々示すよう
に、レーザビームＫ，ＹとレーザビームＣ，Ｍは逆方向
に走査される。

【０１０１】ケーシング３２の底部近傍には、シリンド
リカルミラー４８Ｋ、４８Ｙ、４８Ｍ、４８Ｃによって
各々反射されたレーザビームＫ、Ｙ、Ｍ、Ｃの走査軌跡
を横切るように、ピックアップミラー（平面ミラー）５
８が配置されている。ピックアップミラー５８はレーザ
ビームの走査軌跡のうち、レーザビームＫ、Ｙの走査開
始側端部（ＳＯＳ：Start Of Scan）付近、すなわちレ
ーザビームＭ、Ｃの走査終了側端部（ＥＯＳ：End Of S
can）付近に配置されている。

【０１０２】上記のように、副走査位置検出センサ６６
は、各ビームに対して１つずつ配置されている。各ビー
ムそれぞれの光ビーム位置を検出する事で、各々の副走
査書き出し位置を制御することが可能であり、また、感
光体１８上での各ビームの重なり、すなわち色ずれを精
度良く合わせる事ができる。

【０１０３】以上、本実施形態によれば、複数の光源を
有する光走査装置において、各ビームの走査位置を精度
良く検出、制御することができ、良好な画質を得ること
ができる。

【０１０４】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、環
境変動、光学部品の汚れ等による光ビームの光量変動
や、スキャナモータの回転速度変動等により光ビームの
走査速度が変化しても、高精度な光ビームの副走査位置
の検出が可能となる、という効果を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の第１実施形態に係る光走査装置の斜
視図である。

【図２】 本発明の第１実施形態に係るフォトセンサの
平面図である。

【図３】 本発明の第１実施形態に係るフォトセンサが
出力する信号波形の波形図である。

【図４】 本発明の第１実施形態に係るフォトセンサの
受光時間検出のための閾値について説明するための図で
ある。

【図５】 本発明の第２実施形態に係るフォトセンサの
平面図である。

【図６】 本発明の第２実施形態に係るフォトセンサが
出力する信号波形の波形図である。

【図７】 本発明の第２実施形態に係るフォトセンサの
受光時間検出部の概略構成図である。

【図８】 本発明の第２実施形態に係るフォトセンサの
ビーム位置検出の流れを示すフローチャートである。

【図９】 本発明の第３実施形態に係るフォトセンサの
平面図である。

【図１０】 本発明の第３実施形態に係るフォトセンサ
が出力する信号波形の波形図である。

【図１１】 本発明の第４の実施形態に係るカラー画像
形成装置（及び光走査装置）の概略構成図である。

【図１２】 本発明の第４の実施形態に係る光走査装置
の平面図である。

【図１３】 光走査装置の概略平面図である。

【図１４】 従来例に係る光学センサを示す図である。

【図１５】 従来例に係るレーザプリンタの概略構成図
である。

【図１６】 従来例に係る光検出手段を示す図である。

【図１７】 従来例に係るビーム位置検出手段の受光時
間検出について説明するための図である。

【図１８】 従来例に係る光学センサ及び受光時間につ
いて説明するための図である。

【符号の説明】

１０ カラー画像形成装置 １８ 感光体 ３０ 複数ビーム走査装置 ３４ 回転多面鏡 ３６ 半導体レーザ ６４ 主走査位置検知センサ ６６ 副走査位置検出センサ ７０ フォトセンサ ９９ 受光時間検出部

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 入射された光ビームを主走査及び該主走
   査と交差する副走査することにより像担持体上を走査す
   る走査手段と、前記光ビームの副走査方向の位置を検出
   するビーム位置検出手段と、を備えた光走査装置におい
   て、 前記ビーム位置検出手段は、入射された光ビームの光量
   を検出すると共に、前記光ビームの副走査方向の位置に
   応じて主走査方向に走査された光ビームの検出領域が異
   なるフォトセンサと、前記フォトセンサで検出した光量
   の大きさに応じて所定閾値を定め、前記フォトセンサで
   検出した光量の大きさが前記所定閾値以上で主走査され
   た時間を副走査方向の位置として検出する受光時間検出
   手段と、を含むことを特徴とする光走査装置。
2. 【請求項２】 前記受光時間検出手段は、前記フォトセ
   ンサの出力信号の振幅値に所定値を乗じた値を前記所定
   閾値として設定することを特徴とする請求項１記載の光
   走査装置。
3. 【請求項３】 前記フォトセンサの検出領域は、前記光
   ビームの主走査方向の検出開始端縁と検出終了端縁とが
   共に直線でかつ互いに非平行に形成されていることを特
   徴とする請求項１又は請求項２に記載の光走査装置。
4. 【請求項４】 前記光ビームの主走査方向の検出開始端
   縁及び検出終了端縁の少なくとも一方に接し、かつ主走
   査方向の検出領域が略同一の閾値決定用フォトセンサを
   さらに備え、前記受光時間検出手段は、前記閾値決定用
   フォトセンサの検出光量及び前記フォトセンサの検出光
   量の大きさが略一致する値を前記所定閾値として設定す
   ることを特徴とする請求項３記載の光走査装置。
5. 【請求項５】 前記光ビームの主走査方向の検出開始端
   縁及び検出終了端縁の少なくとも一方に接し、かつ前記
   光ビームの副走査方向の位置に応じて主走査方向の検出
   領域が異なり、前記フォトセンサと合わせた主走査方向
   の検出領域が前記光ビームの副走査方向の位置によらず
   等しくなるように形成した走査速度キャンセル用フォト
   センサをさらに備え、前記ビーム位置検出手段は、前記
   受光時間検出手段により検出した前記フォトセンサの主
   走査時間と前記走査速度キャンセル用フォトセンサの主
   走査時間との比に基づいて前記光ビームの副走査方向の
   位置を検出することを特徴とする請求項１乃至請求項４
   の何れか１項に記載の光走査装置。