JPH1172715A - 倒立顕微鏡 - Google Patents

倒立顕微鏡

Info

Publication number
JPH1172715A
JPH1172715A JP9244864A JP24486497A JPH1172715A JP H1172715 A JPH1172715 A JP H1172715A JP 9244864 A JP9244864 A JP 9244864A JP 24486497 A JP24486497 A JP 24486497A JP H1172715 A JPH1172715 A JP H1172715A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stage
optical system
microscope
objective lens
members
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9244864A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3885305B2 (ja
Inventor
Shuji Toyoda
修治 豊田
Takashi Kawahito
敬 川人
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP24486497A priority Critical patent/JP3885305B2/ja
Priority to US09/116,247 priority patent/US6239905B1/en
Priority to DE19861507.8A priority patent/DE19861507B3/de
Priority to DE19832319.0A priority patent/DE19832319B4/de
Publication of JPH1172715A publication Critical patent/JPH1172715A/ja
Priority to US09/827,906 priority patent/US6404546B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3885305B2 publication Critical patent/JP3885305B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/0088Inverse microscopes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】光学系を新たに追加することのできる構造を有
する倒立顕微鏡を提供する。 【解決手段】この倒立顕微鏡は、顕微鏡基台1と、試料
12を載置するステージ2と、顕微鏡基台から延在して
ステージを支持するステージ支持部材15,16とを具
備し、ステージ支持部材が顕微鏡基台に対して伸縮す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、試料の観察を下方
から行う倒立顕微鏡に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の倒立顕微鏡においては、ステージ
の下方に対物レンズと対物レンズを固定するレボルバが
配置されており、落射蛍光観察をする場含、予め設けら
れたスペースに落射蛍光装置を取付けて試料観察を行
う。この落射蛍光装置の光源として水銀灯やキセノンラ
ンプが一般に用いられている。また、特開昭60−53
916号公報に開示されるように、落射蛍光装置から別
の装置に切替ることのできる顕微鏡が公知である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、観察対象によ
ってはレーザ光を対物レンズに導入してコンフォーカル
光学系を形成したり、ケージド試薬開裂光学系、レーザ
マニピュレーション光学系を同時に使用できることが要
求されることがある。
【0004】倒立顕微鏡において、対物レンズの上下動
機構を用いて試料に対するピント合わせを行うが、この
機構の上下動のストロークは、10mm以下の場合が多
く、また、ステージが顕微鏡の基台に固定され、ステー
ジと基台との高さ方向の位置関係を変えることはでき
ず、その上、顕微鏡の対物レンズの光軸方向に新たな光
学系を追加することができない。また、倒立顕微鏡の対
物レンズと結像レンズとの間隔は固定されている。この
ように、従来技術の倒立顕微鏡では、落射照明光学系を
対物レンズの光軸方向に積層した構造において新たに上
述のような光学系を追加して配置することはできなかっ
た。
【0005】本発明の目的は、光学系を新たに追加する
ことのできる構造を有する倒立顕微鏡を提供することで
ある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題達成のため、本
発明による倒立顕微鏡は、顕微鏡基台と、試料を載置す
るステージと、前記顕微鏡基台に対して前記ステージを
前後両端側で支持するステージ支持部材と、を具備し、
前記ステージ支持部材が前記顕微鏡基台に対して伸縮す
ることを特徴とする。
【0007】本発明によれば、ステージ部材が顕微鏡基
台に対して伸びるように構成されるから、ステージ部材
と顕微鏡基台との間に新たな空間を形成することができ
る。従って、この空間に新たな光学系を追加して配置す
ることが可能となる。これにより、倒立顕微鏡において
新たな光学系による観察が可能となり、倒立顕微鏡の利
用範囲が広がる。
【0008】また、前記ステージ支持部材が前記ステー
ジと前記顕微鏡基台との少なくとも一方に対して着脱可
能であり、前記ステージと前記顕微鏡基台との少なくと
も一方と前記ステージ支持部材との間にスペーサ部材を
配置することにより、上述のステージ部材の伸縮構造を
構成できる。
【0009】また、前記ステージの下部に配置され、試
料からの光を受けて平行光束とする対物レンズと、前記
顕微鏡基台内に配置され前記対物レンズからの平行光束
を集光する結像レンズとを具備し、新たな光学系を収納
するハウジングを前記対物レンズと前記結像レンズとの
間に配置可能であるように構成することができる。
【0010】かかる構成により、試料からの光が平行光
束となって出射する対物レンズと結像レンズとの間に新
たな光学系を配置するので、この新たな光学系を配置す
ることによる顕微鏡の光学性能にほとんど影響を与えず
光学性能の低下は生じない。
【0011】また、前記対物レンズが取り付けられるレ
ボルバと、このレボルバを着脱可能に支持するとともに
前記顕微鏡基台に対して上下動可能に設けられたレボル
バ支持台とを更に具備し、前記レボルバと前記レボルバ
支持台との間に前記ハウジングが配置可能であるように
構成できる。
【0012】また、前記スペーサおよび前記ハウジング
の少なくとも一方の前記対物レンズの光軸方向の厚みが
調節可能であるように構成できる。これにより、ハウジ
ングの厚さに対応してスペーサ部材の厚さを選択するこ
とができ、ハウジングの厚さの分だけステージ部材を伸
ばすことができる。
【0013】また、前記ハウジング内に収納される新た
な光学系は、落射照明光学系、ケージド開裂光学系、レ
ーザ光学系、レーザマニピュレーション光学系、プリズ
ム光学系、光センサ光学系、観察光学系、及び変倍光学
系の内の1つまたは複数を選択して配置することができ
る。これにより、倒立顕微鏡において種々の観察及び観
察をしながらの実験が可能となる。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明による実施の形態について
図面を用いて説明する。図1及び図2は本発明の実施の
形態による倒立顕微鏡の側面図である。図1に示す倒立
顕微鏡は、顕微鏡の基台1と、この基台1の前面側に設
けられ接眼部6を支持する接眼部支柱14と、基台1の
背面側に設けられ透過照明用ランプハウス13等を支持
する照明支柱3と、シャーレ12等の試料を載せるステ
ージ2と、基台1から垂直方向上方に突出するように設
けられるとともにステージ2を接眼部支柱14の近傍に
おいて着脱可能に支持する第1のステージ支持部材15
と、基台1の背面側に垂直方向上方に突出するように一
体に設けられた突出部1aに対してねじ16aにより取
り付けられステージ2を着脱可能に支持する第2のステ
ージ支持部材16とを備える。照明支柱3は第2のステ
ージ支持部材16により支持される。このようにして、
図1に示す倒立顕微鏡は、ボックス構造に構成されてい
る。
【0015】図1の倒立顕微鏡は、更に、ステージ2の
下方に配置された複数の対物レンズ4a,4bと、これ
らの対物レンズ4a,4bを切替のため回転可能に取り
付けたレボルバ5と、レボルバ5の支持部5aが着脱可
能に取り付けられたレボルバ支持台11aを有する焦準
部材11とを備える。焦準部材11は、水平方向に配置
されたレボルバ支持台11aの一端から垂直方向下方に
基台1内まで延在し、基台1内に図1の破線で示すラッ
ク・ピニオン機構を備えて焦準ノブ11bの回転により
上下方向に移動する。焦準ノブ11bを回転させること
により、図1に示すように観察可能状態に位置する対物
レンズ4aをステージ2に対して上下動させて合焦させ
る。
【0016】また、図1に示す倒立顕微鏡には、落射蛍
光観察のための落射蛍光装置が顕微鏡基台1に設けられ
ている。この落射蛍光装置は、水銀ランプ9と、試料照
明のための光学系を含む照明光投光装置8と、焦準部材
11のレボルバ支持台11aと顕微鏡基台1との間の空
間に配置されフィルタ等の光学系から構成されるフィル
タユニット10とを備える。フィルタユニット10の光
学系は、ダイクロイックミラー、励起光フィルタ、吸収
フィルタ、ミラー等から構成される。対物レンズ4aの
光軸方向に対して垂直方向に入射する水銀ランプ9から
の光がフィルタユニット10により対物レンズ4aの光
軸方向に曲げられてステージ2上の試料12に向かう。
【0017】また、図1の倒立顕微鏡は、透過照明観察
のため、照明支柱3に支持された透過照明用ランプハウ
ス13からの光をステージ2上の試料12に集光するコ
ンデンサレンズ7を備える。また、フィルタユニット1
0の下方であって顕微鏡基台1内に結像レンズ(図示省
略)が配置されている。対物レンズ4a,4bは無限遠
光学系から構成され、対物レンズ4a,4bから射出し
た光が平行光束となってこの平行光束が結像レンズに入
射するように構成されている。
【0018】次に、図1に示す倒立顕微鏡に新たな光学
系等を含む装置を追加して配置する場合について図2に
より説明する。図1に示した状態においてステージ2を
第1のステージ支持部材15及び第2のステージ支持部
材16から取り外し、図2に示すように、第1のステー
ジ支持部材15の上端に第1のスペーサ部材17をねじ
17aにより取り付ける。
【0019】一方、第2のステージ支持部材16を顕微
鏡基台1の突出部1aからねじ16aを弛めて取り外し
てから、突出部1aにねじ18aにより第2のスペーサ
部材18を取り付ける。次に、図2に示すように第2の
スペーサ部材18上に第2のステージ支持部材をねじ1
6aにより取り付ける。上述の第1のスペーサ部材17
及び第2のスペーサ部材18の上下方向(対物レンズ4
aの光軸方向)の各厚さは、図2に示すようにともにm
であり、等しく構成されている。
【0020】次に、ステージ2を第1のスペーサ部材1
7及び第2のステージ支持部材16に取り付けるること
により、倒立顕微鏡を図2に示す状態にすることができ
る。また、以上の組立順序を逆に行えば、倒立顕微鏡の
各ステージ支持部材を図2の伸びた状態から図1の縮ん
だ状態に戻すことができる。
【0021】このようにして、倒立顕微鏡において、ス
テージ2を第1及び第2のステージ支持部材15,16
に対して着脱でき、第1及び第2のスペーサ部材17,
18をそれぞれ第1及び第2のステージ支持部材15,
16に介在させ、かつ第1及び第2のスペーサ部材1
7,18を取り外すことのできる構成とすることによ
り、第1及び第2のステージ支持部材15,16を顕微
鏡基台1に対して対物レンズ4aの光軸方向に伸縮する
構造とすることができる。この構造により、各ステージ
支持部材15,16が伸ばされると、ステージ2と顕微
鏡基台1上のフィルタユニット10との間に新たな空間
が形成される。
【0022】更に、レボルバ5の支持部5aと焦準部材
11のレボルバ支持台11aとを分離してから、支持部
5aとレボルバ支持部材11aとの間に追加の光学系装
置19を配置する。この場合、この追加の光学系装置1
9はハウジング内に納められ、そのハウジングの上下方
向(対物レンズ4aの光軸方向)の厚さnは、第1及び
第2のスペーサ部材の厚さm以下に構成されている。
【0023】追加された光学系装置19は、例えば生物
観察において用いられるケージド開裂装置から構成さ
れ、このケージド開裂装置に対して外部に配置されたレ
ーザ装置等から第2のスペーサ部材18内を通して配置
された光ファイバ20により光を導くことができる。ケ
ージド開裂装置とは、例えば生物細胞を観察する場合
に、レーザ光等をスポット的に目的の細胞部分に照射し
て細胞の一部を破壊し、その破壊により生じた開裂部分
に蛍光試薬を入れることができるように構成されたもの
である。従って、倒立顕微鏡に図1に示すように設けら
れていた落射蛍光装置8,9,10とともに使用するこ
とによって、生物細胞の目的部分を蛍光観察することが
できる。このケージド開裂装置はミラー等を含む光学系
を備え、この光学系によって、対物レンズ4aの光軸方
向に対して垂直方向に入射する光ファイバ20からの光
が対物レンズ4aの光軸方向に曲げられステージ2上の
試料12に向かう。
【0024】以上のように、本実施の形態の倒立顕微鏡
によれば、従来の落射蛍光装置に加えて新たな光学系を
含む装置を対物レンズの光軸方向に積層して追加できる
ので、追加の光学系装置により観察機能が増え、両装置
の同時使用も可能であるため各種の観察及び観察しなが
らの実験が容易に行えるようになり、倒立顕微鏡の利用
範囲が広がる。
【0025】また、追加の光学系装置19のハウジング
の光軸方向の厚さnは、第1及び第2のスペーサ部材の
厚さm以下に設定されているから、対物レンズがステー
ジに当たってしまうことはなく、観察時における顕微鏡
の合焦操作に支障がない。
【0026】また、追加の光学系装置と落射蛍光装置と
は、ともに対物レンズ4aと結像レンズとの間に配置さ
れており、対物レンズ4aからでた光は平行光束である
ため、新たな光学系装置を追加しても、顕微鏡の光学性
能にはほとんど影響を与えず、光学性能の低下は生じな
く観察にも支障がない。
【0027】なお、本実施の形態では、顕微鏡基部1上
に設けられた装置が、落射蛍光装置であり、追加の光学
系装置が、ケージド開裂装置であったが、本発明はこれ
に限定されるものではなく、落射照明光学系装置、光の
波長を変えることのできる落射照明光学系装置、ケージ
ド開裂装置、レーザ装置、レーザマニピュレーション光
学系装置、偏光プリズム光学系装置、光センサ光学系装
置、及び変倍光学系装置等を目的に応じて種々組み合わ
せることができ、更に新たな第3の光学系装置を上述の
空間に配置することもできる。また、対物レンズとレボ
ルバとの間に第2の対物レンズ上下動装置を配置するこ
ともできる。
【0028】また、スペーサ部材は、図2に示す位置に
限らずに、各ステージ支持部材が顕微鏡基台に対して対
物レンズの光軸方向に伸びるように配置されるものであ
れば、その配置位置はどこであってもよく、例えば顕微
鏡基台とスペーサ部材との間等であってよい。
【0029】また、スペーサ部材は、その厚さmを種々
変えることができ、追加光学系装置のハウジングの厚さ
nに対応して厚さmの異なるスペーサ部材を用いること
ができる。ハウジングの厚さnに応じてスペーサ部材の
厚さmを選ぶことができるように、複数のスペーサ部材
を用意しておくことができる。
【0030】また、上述のスペーサ部材を合成樹脂等か
らなる断熱材料から構成することができる。これによ
り、試料を設定された温度に保つヒーティングステージ
を使用する場合、ステージの温度が顕微鏡基台にステー
ジ支持部材を通して伝熱する量を低く抑えることがで
き、保温効率が向上する。
【0031】また、本発明においてステージ支持部材の
伸縮構造は、スペーサ部材の介在構造のみに限定され
ず、例えば、図3に示すようにステージ支持部材を2つ
の分離した部材15、18、31、32から構成し、一
方を大きい筒状部材15、18にし、他方31、32を
この筒状部材の中におさまるように構成した入れ子構造
にしたものであってもよい。
【0032】本発明は上述した図2、図3に示す実施形
態の構成に限定されるものではなく、種々の構成をとり
得る。
【0033】
【発明の効果】本発明によれば、倒立顕微鏡において新
たな光学系を追加できる構造を提供することができ、種
類の異なる光学系による観察が可能となり倒立顕微鏡の
利用範囲が広がる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による第1実施の形態の倒立顕微鏡の側
面図である。
【図2】図1の倒立顕微鏡に新たな光学系を追加した状
態を示す側面図である。
【図3】本発明による第2実施の形態の倒立顕微鏡であ
る。
【符号の説明】 1 顕微鏡基台 2 ステージ 4a,4b 対物レンズ 5 レボルバ 11 焦準部材 11a レボルバ支持台 12 シャーレ(試料) 15 第1のステージ支持部材 16 第2のステージ支持部材 17 第1のスペーサ部材 18 第2のスペーサ部材 19 追加の光学系装置 m 第1及び第2のスペーサ部材
の光軸方向厚さ n 追加の光学系装置のハウジン
グの光軸方向厚さ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 顕微鏡基台と、 試料を載置するステージと、 前記顕微鏡基台に対して前記ステージを前後両端側で支
    持するステージ支持部材と、を具備し、 前記ステージ支持部材が前記顕微鏡基台に対して伸縮す
    ることを特徴とする倒立顕微鏡。
  2. 【請求項2】 前記ステージ支持部材が前記ステージと
    前記顕微鏡基台との少なくとも一方に対して着脱可能で
    あり、前記ステージと前記顕微鏡基台との少なくとも一
    方と前記ステージ支持部材との間にスペーサ部材を配置
    することを特徴とする請求項1記載の倒立顕微鏡。
  3. 【請求項3】 前記ステージの下部に配置され、試料か
    らの光を受けて平行光束とする対物レンズと、前記顕微
    鏡基台内に配置され前記対物レンズからの平行光束を集
    光する結像レンズと、を具備し、 新たな光学系を収納するハウジングを前記対物レンズと
    前記結像レンズとの間に配置可能であることを特徴とす
    る請求項1または2記載の倒立顕微鏡。
  4. 【請求項4】 前記対物レンズが取り付けられるレボル
    バと、このレボルバを着脱可能に支持するとともに前記
    顕微鏡基台に対して上下動可能に設けられたレボルバ支
    持台と、を更に具備し、 前記レボルバと前記レボルバ支持台との間に前記ハウジ
    ングが配置可能であることを特徴とする請求項3記載の
    倒立顕微鏡。
  5. 【請求項5】 前記スペーサ部材及び前記ハウジングの
    少なくとも一方の前記対物レンズの光軸方向の厚みが調
    節可能であることを特徴とする請求項4記載の倒立顕微
    鏡。
  6. 【請求項6】 前記ハウジング内に収納される新たな光
    学系は、落射照明光学系、ケージド開裂光学系、レーザ
    光学系、レーザマニピュレーション光学系、プリズム光
    学系、光センサ光学系、観察光学系、及び変倍光学系の
    内の少なくとも1つであることを特徴とする請求項3,
    4または5記載の倒立顕微鏡。
JP24486497A 1997-08-27 1997-08-27 倒立顕微鏡 Expired - Lifetime JP3885305B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24486497A JP3885305B2 (ja) 1997-08-27 1997-08-27 倒立顕微鏡
US09/116,247 US6239905B1 (en) 1997-08-27 1998-07-16 Inverted microscope
DE19861507.8A DE19861507B3 (de) 1997-08-27 1998-07-17 Umgekehrtes Mikroskop
DE19832319.0A DE19832319B4 (de) 1997-08-27 1998-07-17 Umgekehrtes Mikroskop
US09/827,906 US6404546B2 (en) 1997-08-27 2001-04-09 Inverted microscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24486497A JP3885305B2 (ja) 1997-08-27 1997-08-27 倒立顕微鏡

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1172715A true JPH1172715A (ja) 1999-03-16
JP3885305B2 JP3885305B2 (ja) 2007-02-21

Family

ID=17125136

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24486497A Expired - Lifetime JP3885305B2 (ja) 1997-08-27 1997-08-27 倒立顕微鏡

Country Status (3)

Country Link
US (2) US6239905B1 (ja)
JP (1) JP3885305B2 (ja)
DE (2) DE19861507B3 (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002031759A (ja) * 2000-07-17 2002-01-31 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡
US6771416B2 (en) 2000-09-20 2004-08-03 Olympus Optical Co., Ltd. Inverted microscope
US6813071B2 (en) 2001-03-23 2004-11-02 Olympus Optical Co., Ltd. Inverted microscope
JP2006139210A (ja) * 2004-11-15 2006-06-01 Olympus Corp 顕微鏡観察装置
JP2006189616A (ja) * 2005-01-06 2006-07-20 Nikon Corp 光路切換装置及びこれを備える倒立顕微鏡
JP2006209111A (ja) * 2005-01-26 2006-08-10 Leica Microsystems Cms Gmbh 顕微鏡
JP2011095782A (ja) * 2011-02-17 2011-05-12 Olympus Corp 顕微鏡システム及び観察方法
JP2013114004A (ja) * 2011-11-28 2013-06-10 Olympus Corp 顕微鏡
EP2645145A1 (en) 2012-03-30 2013-10-02 Olympus Corporation Inverted microscope
US8749883B2 (en) 2010-05-28 2014-06-10 Olympus Corporation Inverted microscope

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999042886A1 (de) * 1998-02-17 1999-08-26 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Mikroskop
CA2243090A1 (en) * 1998-07-10 2000-01-10 Timothy M. Richardson Inverted darkfield contrast microscope and method
JP2005043624A (ja) * 2003-07-28 2005-02-17 Nikon Corp 顕微鏡制御装置、顕微鏡装置、及び顕微鏡対物レンズ
US7139121B2 (en) * 2004-06-18 2006-11-21 Quickmate Company, Inc Projection microscope
JP2006091723A (ja) * 2004-09-27 2006-04-06 Olympus Corp 倒立顕微鏡
EP1795940B1 (en) * 2004-09-30 2012-06-13 Hirata Corporation Monitoring device and stage unit
JP4789454B2 (ja) * 2004-12-03 2011-10-12 株式会社キーエンス 蛍光顕微鏡
US7463414B2 (en) * 2005-01-26 2008-12-09 Leica Microsystems Cms Gmbh Microscope
DE102005043870A1 (de) * 2005-09-12 2007-03-29 Carl Zeiss Jena Gmbh Mikroskop mit Fokussiereinrichtung zur Beobachtung von Tiefenstrukturen an Objekten
JP4725734B2 (ja) * 2006-06-30 2011-07-13 株式会社ニコン 光学装置拡張用支援装置
JP2008009298A (ja) * 2006-06-30 2008-01-17 Nikon Corp 顕微鏡用環境維持装置及び顕微鏡
JP4974717B2 (ja) * 2007-03-12 2012-07-11 オリンパス株式会社 顕微鏡の補正環付対物レンズの補正環駆動装置
JP5087386B2 (ja) * 2007-12-18 2012-12-05 オリンパス株式会社 顕微鏡
JP2013105155A (ja) * 2011-11-16 2013-05-30 Olympus Corp 顕微鏡システム
JP6411763B2 (ja) * 2013-07-18 2018-10-24 オリンパス株式会社 顕微鏡システムおよび対物レンズユニット
USD824445S1 (en) 2014-08-19 2018-07-31 Leica Microsystems Cms Gmbh Microscope
US10642014B2 (en) 2015-03-12 2020-05-05 Purdue Research Foundation Biodynamic microscopes and methods of use thereof
WO2018070048A1 (ja) 2016-10-14 2018-04-19 株式会社ニコン 顕微鏡装置、及び対物レンズユニット
WO2019034751A1 (de) 2017-08-18 2019-02-21 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopieanordnung mit mikroskopsystem und haltevorrichtung sowie verfahren zur untersuchung einer probe mit einem mikroskop
CN112198652A (zh) * 2020-09-09 2021-01-08 安徽九陆生物科技有限公司 一种倒置式自动玻片扫描仪装置及其使用方法
DE202023102816U1 (de) 2023-05-22 2023-06-29 Thoms Engineering GmbH Mikroskop

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT289413B (de) * 1967-12-13 1971-04-26 Leitz Ernst Gmbh Halterung für Mikroskoptische
US4210384A (en) 1976-09-11 1980-07-01 Carl Zeiss-Stiftung Inverted-design optical microscope
DE7628471U1 (de) * 1976-09-11 1976-12-30 Zeiss, Carl Lichtmikroskop inverser bauart
US4756611A (en) 1984-08-31 1988-07-12 Olympus Optical Co., Ltd. Multiple-purpose microscope
GB2185323B (en) * 1984-10-12 1988-01-06 Vickers Plc Microscope having an improved stage
DD245495B1 (de) * 1986-02-03 1990-10-17 Zeiss Jena Veb Carl Inverses lichtmikroskop
JPS6431110A (en) * 1987-07-27 1989-02-01 Micro Pack Kk Automatic focusing method for microscope
JP2966514B2 (ja) * 1990-11-19 1999-10-25 オリンパス光学工業株式会社 焦準機構付き顕微鏡
DE4323129C2 (de) * 1992-07-24 2002-10-02 Zeiss Carl Inverses Mikroskop
USD356804S (en) * 1993-03-11 1995-03-28 Leica Mikroskopie Und Systeme Gmbh Inverted microscope
JPH0772378A (ja) * 1993-09-02 1995-03-17 Nikon Corp 合焦装置
JP3537194B2 (ja) * 1994-10-17 2004-06-14 オリンパス株式会社 光学顕微鏡
JPH11344675A (ja) * 1998-05-29 1999-12-14 Nikon Corp 倒立顕微鏡

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002031759A (ja) * 2000-07-17 2002-01-31 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡
US6771416B2 (en) 2000-09-20 2004-08-03 Olympus Optical Co., Ltd. Inverted microscope
US6813071B2 (en) 2001-03-23 2004-11-02 Olympus Optical Co., Ltd. Inverted microscope
DE10212386B4 (de) * 2001-03-23 2011-05-05 Olympus Corporation Umgekehrtes Mikroskop
JP2006139210A (ja) * 2004-11-15 2006-06-01 Olympus Corp 顕微鏡観察装置
JP2006189616A (ja) * 2005-01-06 2006-07-20 Nikon Corp 光路切換装置及びこれを備える倒立顕微鏡
JP2006209111A (ja) * 2005-01-26 2006-08-10 Leica Microsystems Cms Gmbh 顕微鏡
US8749883B2 (en) 2010-05-28 2014-06-10 Olympus Corporation Inverted microscope
JP2011095782A (ja) * 2011-02-17 2011-05-12 Olympus Corp 顕微鏡システム及び観察方法
JP2013114004A (ja) * 2011-11-28 2013-06-10 Olympus Corp 顕微鏡
EP2645145A1 (en) 2012-03-30 2013-10-02 Olympus Corporation Inverted microscope
US9494780B2 (en) 2012-03-30 2016-11-15 Olympus Corporation Inverted microscope

Also Published As

Publication number Publication date
US20010021064A1 (en) 2001-09-13
DE19832319B4 (de) 2016-06-16
DE19832319A1 (de) 1999-03-04
US6239905B1 (en) 2001-05-29
US6404546B2 (en) 2002-06-11
JP3885305B2 (ja) 2007-02-21
DE19861507B3 (de) 2017-03-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH1172715A (ja) 倒立顕微鏡
EP0488023B1 (en) Microscope having a focus-adjusting mechanism
US6898004B2 (en) Microscope system
JPH11344675A (ja) 倒立顕微鏡
JPH0735986A (ja) 倒立型及び正立型顕微鏡
JP2004086009A (ja) 走査型レーザ顕微鏡システム
JP3861357B2 (ja) 光学装置と一体化された顕微鏡用レボルバおよび顕微鏡
JPH1138326A (ja) 倒立顕微鏡
JP2004302441A (ja) システム顕微鏡
JP7025530B2 (ja) 広領域の共焦点及び多光子顕微鏡で用いる動的フォーカス・ズームシステム
JPH0843741A (ja) 倒立顕微鏡
JP2000098250A (ja) 落射蛍光顕微鏡
JP2006091723A (ja) 倒立顕微鏡
EP2594982B1 (en) Microscope system
JP2003270537A (ja) 高安定性光学顕微鏡
JP4790248B2 (ja) 観察装置および蛍光観察装置
US20180045940A1 (en) Microscope and optical unit
JP2002055282A (ja) システム顕微鏡
JP2004318181A (ja) 倒立顕微鏡
JP5512122B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡および非デスキャン検出のためのサブアセンブリ
JP4106139B2 (ja) 高解像マクロスコープ
JP3879218B2 (ja) 倒立顕微鏡
JP6978592B2 (ja) 広領域の共焦点及び多光子顕微鏡で用いる動的フォーカス・ズームシステム
JP4725734B2 (ja) 光学装置拡張用支援装置
WO2007034889A1 (ja) 顕微鏡

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040825

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040826

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060424

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060509

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060704

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060808

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061004

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20061031

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20061113

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091201

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121201

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121201

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151201

Year of fee payment: 9

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151201

Year of fee payment: 9

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151201

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term