JPH1172645A - 異なる型式の光ファイバをスプライスする方法及び装置 - Google Patents
異なる型式の光ファイバをスプライスする方法及び装置Info
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- JPH1172645A JPH1172645A JP10197947A JP19794798A JPH1172645A JP H1172645 A JPH1172645 A JP H1172645A JP 10197947 A JP10197947 A JP 10197947A JP 19794798 A JP19794798 A JP 19794798A JP H1172645 A JPH1172645 A JP H1172645A
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/255—Splicing of light guides, e.g. by fusion or bonding
- G02B6/2551—Splicing of light guides, e.g. by fusion or bonding using thermal methods, e.g. fusion welding by arc discharge, laser beam, plasma torch
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- Mechanical Coupling Of Light Guides (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 モード・フィールド直径整合用しきい値を自
動的に選択することによって異種型式光ファイバを低光
バワ損失で容易、敏速にスプライスする。 【解決手段】 スプライスを行った（ステップ５５）後
の延長加熱（ステップ５７）によって光ファイバのモー
ド・フィールド直径の整合を完遂する。延長加熱中、こ
れら２つのファイバ端のホット・ファイバ指標を連続的
に決定する。指標の１つ又はこれから導出した量をしき
い値と常時比較し、かつ指標の１つ又は導出した量がし
きい値に達するとき加熱を停止する。加熱中、スプライ
スする動作の中の先行段で、同じ種類の試験ファイバ片
を使用してしきい値を決定する、すなわち、指標に加え
て絶えず測定する光の伝送が最大値を持つとき相当する
ホット・ファイバ指標を記憶し、これからしきい値を導
出する。
動的に選択することによって異種型式光ファイバを低光
バワ損失で容易、敏速にスプライスする。 【解決手段】 スプライスを行った（ステップ５５）後
の延長加熱（ステップ５７）によって光ファイバのモー
ド・フィールド直径の整合を完遂する。延長加熱中、こ
れら２つのファイバ端のホット・ファイバ指標を連続的
に決定する。指標の１つ又はこれから導出した量をしき
い値と常時比較し、かつ指標の１つ又は導出した量がし
きい値に達するとき加熱を停止する。加熱中、スプライ
スする動作の中の先行段で、同じ種類の試験ファイバ片
を使用してしきい値を決定する、すなわち、指標に加え
て絶えず測定する光の伝送が最大値を持つとき相当する
ホット・ファイバ指標を記憶し、これからしきい値を導
出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、異なる型式又は異
種型式の光ファイバをスプライスする方法、特にモード
・フィールドを整合するためにしきい値を自動的に選択
する技術に関する。
種型式の光ファイバをスプライスする方法、特にモード
・フィールドを整合するためにしきい値を自動的に選択
する技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】最近、ますます多くの異なる型式の光フ
ァイバが光通信システム、センシング・システム、光フ
ァイバ・ジャイロ等における特定用途向けに開発されて
いる。したがって、異種型式の光ファイバのスプライス
をいかに行うかの問題は、波長多重（ｗａｖｅｌｅｎｇ
ｔｈ ｄｉｖｉｓｉｏｎ ｍｕｌｔｉｐｌｅｘｉｎｇ；
以下、ＷＤＭと称する）を利用するジャイロを製作する
及び同じくＷＤＭを利用するシステム及び構成要素を組
み立てる研究所及び工場、一般に、多くの異なる製造業
者から得られた光学組立て素子を使用する研究所及び工
場で、しばしば、起こる。
ァイバが光通信システム、センシング・システム、光フ
ァイバ・ジャイロ等における特定用途向けに開発されて
いる。したがって、異種型式の光ファイバのスプライス
をいかに行うかの問題は、波長多重（ｗａｖｅｌｅｎｇ
ｔｈ ｄｉｖｉｓｉｏｎ ｍｕｌｔｉｐｌｅｘｉｎｇ；
以下、ＷＤＭと称する）を利用するジャイロを製作する
及び同じくＷＤＭを利用するシステム及び構成要素を組
み立てる研究所及び工場、一般に、多くの異なる製造業
者から得られた光学組立て素子を使用する研究所及び工
場で、しばしば、起こる。
【０００３】表１は、使用波長において非常に変動する
幾何学的特性及びモード・フィールド直径（ｍｏｄｅ
ｆｉｅｌｄ ｄｉａｍｅｔｅｒ； ＭＦＤ）を有するい
くつかのしばしば使用される単一モード・ファイバの特
性データをリストしている。
幾何学的特性及びモード・フィールド直径（ｍｏｄｅ
ｆｉｅｌｄ ｄｉａｍｅｔｅｒ； ＭＦＤ）を有するい
くつかのしばしば使用される単一モード・ファイバの特
性データをリストしている。
【０００４】
【表１】
【０００５】モード・フィールド直径の不整合に因るつ
き合わせ（ｂｕｔｔ Ｊｏｉｎｔ）スプライスのスプラ
イス損失は、式（１）によって近似することができる。
き合わせ（ｂｕｔｔ Ｊｏｉｎｔ）スプライスのスプラ
イス損失は、式（１）によって近似することができる。
【０００６】
【数１】
【０００７】ここに、Γｍはモード・フィールドの不整
合に因るスプライス損失であり、ｗ１及びｗ２はスプラ
イスされた２つのファイバのモード・フィールド半径
（ｍｏｄｅ ｆｉｅｌｄ ｒａｄｉｕｓ； ＭＦＲ）で
ある。損失は図１のグラフに図解されており、この図は
損失を互いにスプライスされる２つの光ファイバのモー
ド・フィールド半径の比ｗ１／ｗ２の関数として示す。
２つのモード・フィールド直径が互いに等しい場合、式
（１）に従って損失は最小である、すなわち、零に等し
い。もちろん、式（１）が理論的最良値を与えるのに反
して、実際には、ファイバ・コアの基本的整列の欠除及
びスプライスする領域の変形のために損失は常にもっと
大きい。
合に因るスプライス損失であり、ｗ１及びｗ２はスプラ
イスされた２つのファイバのモード・フィールド半径
（ｍｏｄｅ ｆｉｅｌｄ ｒａｄｉｕｓ； ＭＦＲ）で
ある。損失は図１のグラフに図解されており、この図は
損失を互いにスプライスされる２つの光ファイバのモー
ド・フィールド半径の比ｗ１／ｗ２の関数として示す。
２つのモード・フィールド直径が互いに等しい場合、式
（１）に従って損失は最小である、すなわち、零に等し
い。もちろん、式（１）が理論的最良値を与えるのに反
して、実際には、ファイバ・コアの基本的整列の欠除及
びスプライスする領域の変形のために損失は常にもっと
大きい。
【０００８】表１にリストされたファイバを考察する
と、モード・フィールド直径又はモード・フィールド半
径の大きな比を有する２つのファイバ間に行われたスプ
ライスが２ｄＢより大きなスプライス損失を与え、この
場合、条件ｗ１／ｗ２＞２が常に成り立つことが判る。
このような大きなスプライス損失は、これらスプライス
されたファイバを使用する光学システムの品質の大きな
劣化を一般に招くことになる。良く知られているよう
に、モード・フィールド半径ｗと光ファイバのコア半径
ａとの間の関係は、式（２）によって近似することがで
きる。Ｗ・チェン、「単一モード・ファイバの溶着スプ
ライスの損失評価」、ＳＰＩＥ、ファイバ構成要素及び
信頼性、１５８０巻、３８０〜３９０頁、１９９１年
（Ｗ．Ｚｈｅｎｇ，”Ｌｏｓｓ ｅｓｔｉｍａｔｉｏｎ
ｆｏｒ ｆｕｓｉｏｎ ｓｐｌｉｃｅｓ ｏｆ ｓｉ
ｎｇｌｅ−ｍｏｄｅ ｆｉｂｅｒｓ”，ＳＰＩＥ，Ｆｉ
ｂｅｒＣｏｍｐｏｎｅｎｔｓ ａｎｄ Ｒｅｌｉａｂｉ
ｌｉｔｙ，Ｖｏｌ．１５８０，ｐｐ．３８０−３９０，
１９９１）参照。
と、モード・フィールド直径又はモード・フィールド半
径の大きな比を有する２つのファイバ間に行われたスプ
ライスが２ｄＢより大きなスプライス損失を与え、この
場合、条件ｗ１／ｗ２＞２が常に成り立つことが判る。
このような大きなスプライス損失は、これらスプライス
されたファイバを使用する光学システムの品質の大きな
劣化を一般に招くことになる。良く知られているよう
に、モード・フィールド半径ｗと光ファイバのコア半径
ａとの間の関係は、式（２）によって近似することがで
きる。Ｗ・チェン、「単一モード・ファイバの溶着スプ
ライスの損失評価」、ＳＰＩＥ、ファイバ構成要素及び
信頼性、１５８０巻、３８０〜３９０頁、１９９１年
（Ｗ．Ｚｈｅｎｇ，”Ｌｏｓｓ ｅｓｔｉｍａｔｉｏｎ
ｆｏｒ ｆｕｓｉｏｎ ｓｐｌｉｃｅｓ ｏｆ ｓｉ
ｎｇｌｅ−ｍｏｄｅ ｆｉｂｅｒｓ”，ＳＰＩＥ，Ｆｉ
ｂｅｒＣｏｍｐｏｎｅｎｔｓ ａｎｄ Ｒｅｌｉａｂｉ
ｌｉｔｙ，Ｖｏｌ．１５８０，ｐｐ．３８０−３９０，
１９９１）参照。
【０００９】
【数２】
【００１０】ここに、Ｖは正規化周波数、すなわち、
【００１１】
【数３】
【００１２】
【数４】
【００１３】及びｎｃｏとｎｃｌはファイバのコアとク
ラッドのそれぞれ屈折率、及びλは使用波長である。正
規化周波数Ｖは単一モード伝送を維持するためにスプラ
イス点の両側で同じであるべきであるから、式（５）を
得る。Ｋ・シライシ、Ｔ・ヤナギ、Ｓ・カワカミ、「熱
拡散膨張コア・ファイバ内光伝搬特性」、光波技術に関
する米国電気電子学会誌、１１巻、１０号、１５８４〜
１５９１頁、１９９３年１０月（Ｋ．Ｓｈｉｒａｉｓｈ
ｉ，Ｔ．Ｙａｎａｇｉ ａｎｄ Ｓ．Ｋａｗａｋａｍ
ｉ，”Ｌｉｇｈｔ−ｐｒｏｐａｇａｔｉｏｎ ｃｈａｒ
ａｃｔｅｒｉｓｔｉｃｓ ｉｎ ｔｈｅｒｍａｌｌｙ
ｄｉｆｆｕｓｅｄ ｅｘｐａｎｄｅｄ ｃｏｒｅ ｆｌ
ｂｅｒ”，ＩＥＥＥ Ｊ．ｏｆ Ｌｉｇｈｔｗａｖｅ
Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ，Ｖｏｌ．１１，Ｎｏ．１０，ｐ
ｐ．１５８４−１５９１，Ｏｃｔ．，１９９３）参照。
ラッドのそれぞれ屈折率、及びλは使用波長である。正
規化周波数Ｖは単一モード伝送を維持するためにスプラ
イス点の両側で同じであるべきであるから、式（５）を
得る。Ｋ・シライシ、Ｔ・ヤナギ、Ｓ・カワカミ、「熱
拡散膨張コア・ファイバ内光伝搬特性」、光波技術に関
する米国電気電子学会誌、１１巻、１０号、１５８４〜
１５９１頁、１９９３年１０月（Ｋ．Ｓｈｉｒａｉｓｈ
ｉ，Ｔ．Ｙａｎａｇｉ ａｎｄ Ｓ．Ｋａｗａｋａｍ
ｉ，”Ｌｉｇｈｔ−ｐｒｏｐａｇａｔｉｏｎ ｃｈａｒ
ａｃｔｅｒｉｓｔｉｃｓ ｉｎ ｔｈｅｒｍａｌｌｙ
ｄｉｆｆｕｓｅｄ ｅｘｐａｎｄｅｄ ｃｏｒｅ ｆｌ
ｂｅｒ”，ＩＥＥＥ Ｊ．ｏｆ Ｌｉｇｈｔｗａｖｅ
Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ，Ｖｏｌ．１１，Ｎｏ．１０，ｐ
ｐ．１５８４−１５９１，Ｏｃｔ．，１９９３）参照。
【００１４】
【数５】
【００１５】式（５）内の添字１と２は、スプライスの
左ファイバと右ファイバを表す。式（５）から、小さい
コア半径を有するファイバについてはコアの屈折率とク
ラッドの屈折率と間の差が大きいことを明かに認めるこ
とができる。加熱中、ファイバ端が互いに融着されると
き、屈折率の大きな差がコア材料の高い拡散速度を招く
ことは、Ｗ・チェン、Ｏ・フルテン、Ｒ・リーランダ
ー、「エルビウム・ドープト・ファイバ・スプライシン
グ及びスプライス損失評価」、光波技術に関する米国電
気電子学会誌、１２巻、３号、４３０〜４３５頁、１９
９４年（Ｗ．Ｚｈ ｄｏｐｅｄ ｆｉｂｅｒ ｓｐｌｉｃｉｎｇ ａｎｄ
ｓｐｌｉｃｅ ｌｏｓｓｅｓｔｉｍａｔｉｏｎ”，ＩＥ
ＥＥ Ｊ．ｏｆ Ｌｉｇｈｔｗａｖｅ Ｔｅｃｈｎｏｌ
ｏｇｙ，Ｖｏｌ．１２，Ｎｏ．３，ｐｐ．４３０−４３
５，１９９４）に論じられた通りである。このように異
なる拡散速度差は、小さいモード・フィールド半径を大
きいモード・フィールド半径よりも高速で大きくする傾
向がある。加熱プロセスを続けると、モード・フィール
ド半径の不整合に因る最低スプライス損失が得られる瞬
間を常に発見することができる。この損失をＷ・チェン
・Ｏ・フルテン他による上に挙げた論文に論じられてい
るように最適化するいくつかの方法がある。ディジタル
画像処理を使用する最も有効な方法の１つは、同論文及
びスエーデン特許出願第９２０１８１８−３号及び同第
９２０１８１７−６号に述べられたホット・ファイバ指
標（ｈｏｔ−ｆｉｂｅｒ ｉｎｄｅｘ）監視技術であ
り、この論文及びこれらの特許出願は、言及することに
よってその内容が本明細書に組み入れられている。
左ファイバと右ファイバを表す。式（５）から、小さい
コア半径を有するファイバについてはコアの屈折率とク
ラッドの屈折率と間の差が大きいことを明かに認めるこ
とができる。加熱中、ファイバ端が互いに融着されると
き、屈折率の大きな差がコア材料の高い拡散速度を招く
ことは、Ｗ・チェン、Ｏ・フルテン、Ｒ・リーランダ
ー、「エルビウム・ドープト・ファイバ・スプライシン
グ及びスプライス損失評価」、光波技術に関する米国電
気電子学会誌、１２巻、３号、４３０〜４３５頁、１９
９４年（Ｗ．Ｚｈ ｄｏｐｅｄ ｆｉｂｅｒ ｓｐｌｉｃｉｎｇ ａｎｄ
ｓｐｌｉｃｅ ｌｏｓｓｅｓｔｉｍａｔｉｏｎ”，ＩＥ
ＥＥ Ｊ．ｏｆ Ｌｉｇｈｔｗａｖｅ Ｔｅｃｈｎｏｌ
ｏｇｙ，Ｖｏｌ．１２，Ｎｏ．３，ｐｐ．４３０−４３
５，１９９４）に論じられた通りである。このように異
なる拡散速度差は、小さいモード・フィールド半径を大
きいモード・フィールド半径よりも高速で大きくする傾
向がある。加熱プロセスを続けると、モード・フィール
ド半径の不整合に因る最低スプライス損失が得られる瞬
間を常に発見することができる。この損失をＷ・チェン
・Ｏ・フルテン他による上に挙げた論文に論じられてい
るように最適化するいくつかの方法がある。ディジタル
画像処理を使用する最も有効な方法の１つは、同論文及
びスエーデン特許出願第９２０１８１８−３号及び同第
９２０１８１７−６号に述べられたホット・ファイバ指
標（ｈｏｔ−ｆｉｂｅｒ ｉｎｄｅｘ）監視技術であ
り、この論文及びこれらの特許出願は、言及することに
よってその内容が本明細書に組み入れられている。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、行わ
れたスプライス内に各々低損失を維持するように異なる
種類の光ファイバを互いにスプライスする方法を提供す
ることにある。
れたスプライス内に各々低損失を維持するように異なる
種類の光ファイバを互いにスプライスする方法を提供す
ることにある。
【００１７】本発明の他の目的は、特に自動式スプライ
シング装置内で自動的に敏速及び容易に実行することが
できる、異なる種類の光ファイバをスプライスする方法
を提供することにある。
シング装置内で自動的に敏速及び容易に実行することが
できる、異なる種類の光ファイバをスプライスする方法
を提供することにある。
【００１８】
【課題を解決するための手段】異なる種類の光ファイバ
を互いにスプライスするとき、それらの光ファイバ内の
異なる材料を拡散させるように、当のスプライシング・
プロセスの後に、加熱によってそれらのファイバのモー
ド・フィールド直径の整合を行う。延長加熱中、それら
の２つの光ファイバ端のホット・ファイバ指標を連続的
に決定する。これらの指標の１つ又はこれから導出され
た量のどちらかをしきい値と比較し、かつ指標の１つ又
はこれから導出された量がしきい値に達すると、加熱を
停止する。しきい値は、延長加熱期間を含む同様のスプ
ライシング動作の中で同じ種類の試験ファイバ片を使用
して先行段で既に決定されている。先行段で、ホット・
ファイバ指標に加えて、加熱中光の伝送を絶えず測定
し、かつこの伝送がその最大値に持つとき、同じ時刻に
関連する相当するホット・ファイバ指標を記憶しかつし
きい値を導出すために使用する。モード・フィールド直
径を整合するこの方法は、簡単でかつ短時間しか要しな
い。
を互いにスプライスするとき、それらの光ファイバ内の
異なる材料を拡散させるように、当のスプライシング・
プロセスの後に、加熱によってそれらのファイバのモー
ド・フィールド直径の整合を行う。延長加熱中、それら
の２つの光ファイバ端のホット・ファイバ指標を連続的
に決定する。これらの指標の１つ又はこれから導出され
た量のどちらかをしきい値と比較し、かつ指標の１つ又
はこれから導出された量がしきい値に達すると、加熱を
停止する。しきい値は、延長加熱期間を含む同様のスプ
ライシング動作の中で同じ種類の試験ファイバ片を使用
して先行段で既に決定されている。先行段で、ホット・
ファイバ指標に加えて、加熱中光の伝送を絶えず測定
し、かつこの伝送がその最大値に持つとき、同じ時刻に
関連する相当するホット・ファイバ指標を記憶しかつし
きい値を導出すために使用する。モード・フィールド直
径を整合するこの方法は、簡単でかつ短時間しか要しな
い。
【００１９】一般に、異なる型式の２つの光ファイバの
端をスプライスするとき、これらのファイバ端の端面を
互いに及び（又は）互いを目指して接近して向い合わせ
に位置決めする。例えば、２つの電極の間に発生させた
電気アークから熱をこれらのファイバ端を目指して或る
１つの領域に印加して、これらのファイバ端をこれらの
ファイバのドーパント材料が拡散するような温度に加熱
する、すなわち、これらのファイバのコアを拡散させか
つこれらのコアにファイバの端部分で大きな直径を持た
せる。加熱中、各ファイバ端のホット・ファイバ指標を
連続的に又は短い間隔を挟んだ周期的に繰り返される時
刻に決定する。これらの間隔は、例えば、ファイバの端
部分を互いに溶融するのに要する期間の長さ又は全スプ
ライシング・プロセスに要する時間間隔の長さに比較し
て短い。加熱中、決定されたホット・ファイバ指標の１
つ又はこれから導出された量を或る所定の適当に選択さ
れたしきい値と比較しかつ指標の１つ又はこれから導出
された量がしきい値に達するとき加熱を停止する。
端をスプライスするとき、これらのファイバ端の端面を
互いに及び（又は）互いを目指して接近して向い合わせ
に位置決めする。例えば、２つの電極の間に発生させた
電気アークから熱をこれらのファイバ端を目指して或る
１つの領域に印加して、これらのファイバ端をこれらの
ファイバのドーパント材料が拡散するような温度に加熱
する、すなわち、これらのファイバのコアを拡散させか
つこれらのコアにファイバの端部分で大きな直径を持た
せる。加熱中、各ファイバ端のホット・ファイバ指標を
連続的に又は短い間隔を挟んだ周期的に繰り返される時
刻に決定する。これらの間隔は、例えば、ファイバの端
部分を互いに溶融するのに要する期間の長さ又は全スプ
ライシング・プロセスに要する時間間隔の長さに比較し
て短い。加熱中、決定されたホット・ファイバ指標の１
つ又はこれから導出された量を或る所定の適当に選択さ
れたしきい値と比較しかつ指標の１つ又はこれから導出
された量がしきい値に達するとき加熱を停止する。
【００２０】しきい値の信頼性ある値を決定するため
に、試験片を用意する。これらの２つの試験片はスプラ
イスされる２つの主光ファイバの各々と同等の光ファイ
バから採られる。試験スプライシングを上に述べたのと
同じようにして行う、すなわち、２つの片のファイバ端
の端面を互いを目指して置き、これらのファイバのドー
パント材料が拡散するような温度へファイバ端を加熱す
るためにこれらファイバ端を目指して或る１つの領域を
加熱し、かつ、加熱中、各ファイバ端のホット・ファイ
バ指標を連続的に又は短い間隔を挟んだ周期的に繰り返
される時刻に決定する。この加熱中、光パワー、特に１
つの片から他の片へ伝搬する光の光パワーの損失をまた
連続的に又は短い間隔を挟んだ周期的に繰り返される時
刻に決定する。制御手段が光パワの最小値又はこれに相
当する光パワーの損失の最小値を発見するために光パワ
ーの決定された値又は光パワー損失を監視する。制御手
段はこの最小値が決定された時刻に決定されたその決定
ホット・ファイバ指標を記録するか、又はこれら決定ホ
ット・ファイバ指標から計算されたしきい値を記憶する
ことができる。次いで、スプライスされる元のファイバ
への加熱中遂行される比較動作の中で、決定ホット・フ
ァイバ指標の１つ又はこの指標の１つから導出された量
を記録されたホット・ファイバ指標から計算されたしき
い値と又は記録されたしきい値と比較する。
に、試験片を用意する。これらの２つの試験片はスプラ
イスされる２つの主光ファイバの各々と同等の光ファイ
バから採られる。試験スプライシングを上に述べたのと
同じようにして行う、すなわち、２つの片のファイバ端
の端面を互いを目指して置き、これらのファイバのドー
パント材料が拡散するような温度へファイバ端を加熱す
るためにこれらファイバ端を目指して或る１つの領域を
加熱し、かつ、加熱中、各ファイバ端のホット・ファイ
バ指標を連続的に又は短い間隔を挟んだ周期的に繰り返
される時刻に決定する。この加熱中、光パワー、特に１
つの片から他の片へ伝搬する光の光パワーの損失をまた
連続的に又は短い間隔を挟んだ周期的に繰り返される時
刻に決定する。制御手段が光パワの最小値又はこれに相
当する光パワーの損失の最小値を発見するために光パワ
ーの決定された値又は光パワー損失を監視する。制御手
段はこの最小値が決定された時刻に決定されたその決定
ホット・ファイバ指標を記録するか、又はこれら決定ホ
ット・ファイバ指標から計算されたしきい値を記憶する
ことができる。次いで、スプライスされる元のファイバ
への加熱中遂行される比較動作の中で、決定ホット・フ
ァイバ指標の１つ又はこの指標の１つから導出された量
を記録されたホット・ファイバ指標から計算されたしき
い値と又は記録されたしきい値と比較する。
【００２１】本発明の追加の目的及び利点は、続く説明
に記載され、及び部分的にはこの説明から明白になり、
又は本発明の実行によって習得されると云ってよい。本
発明の目的及び利点は、前掲の特許請求の範囲に特に指
摘された方法、プロセス、手段、及び組合わせによって
実現されかつ得られると云ってよい。
に記載され、及び部分的にはこの説明から明白になり、
又は本発明の実行によって習得されると云ってよい。本
発明の目的及び利点は、前掲の特許請求の範囲に特に指
摘された方法、プロセス、手段、及び組合わせによって
実現されかつ得られると云ってよい。
【００２２】
【発明の実施の形態】ホット・ファイバ指標監視技術
（Ｗ・チェン、Ｏ・ハルテン他による上に挙げた論文及
び上に挙げたスエーデン特許出願参照）を使用すると
き、スプライスの左（１）側及び右（２）側のファイバ
のいわゆるホット・ファイバ指標Δｈ１及びΔｈ２が２
つの光ファイバを互いに溶接する又は溶着するプロセス
中実時間に測定される。添字ｈは、ホット・ファイバ指
標Δｈを式（４）に使用された光屈折率の差Δと区別す
るためここでは使用される。ホット・ファイバ指標の計
算のために、ファイバの縦方向に垂直な方向に沿って取
られた光強度プロファイルを測定する。次いで、ファイ
バの中心線からの距離の関数としての測定された強度を
分析し、２ステップで低域通過フィルタする。１ステッ
プは、他のステップより少しかフィルタしない。フィル
タされた関数間の差は、ホット・ファイバ指標プロファ
イルと呼ばれ、ファイバ内の材料の分布に関係する。差
曲線又はその平方根の中心ピークの高さが、ホット・フ
ァイバ指標である。
（Ｗ・チェン、Ｏ・ハルテン他による上に挙げた論文及
び上に挙げたスエーデン特許出願参照）を使用すると
き、スプライスの左（１）側及び右（２）側のファイバ
のいわゆるホット・ファイバ指標Δｈ１及びΔｈ２が２
つの光ファイバを互いに溶接する又は溶着するプロセス
中実時間に測定される。添字ｈは、ホット・ファイバ指
標Δｈを式（４）に使用された光屈折率の差Δと区別す
るためここでは使用される。ホット・ファイバ指標の計
算のために、ファイバの縦方向に垂直な方向に沿って取
られた光強度プロファイルを測定する。次いで、ファイ
バの中心線からの距離の関数としての測定された強度を
分析し、２ステップで低域通過フィルタする。１ステッ
プは、他のステップより少しかフィルタしない。フィル
タされた関数間の差は、ホット・ファイバ指標プロファ
イルと呼ばれ、ファイバ内の材料の分布に関係する。差
曲線又はその平方根の中心ピークの高さが、ホット・フ
ァイバ指標である。
【００２３】延長加熱期間、これに伴うコア材料のファ
イバのクラッド内への拡散、及びホット・ファイバ指標
プロファイルの相当する変動を含む典型的スプライシン
グ・プロセスが、図２に示されている。図２の右手部分
に、ホット・ファイバ指標プロファイルがファイバを溶
着する加熱プロセスの４つの異なる段について示され、
プロセスは未加熱ファイバに対して図の上側から開始
し、図の下側はホット・ファイバ指標プロファイルの連
続等化を示す。図３は、同じ加熱プロセス中の時間の関
数としてファイバ端のホット・ファイバ指標及びその結
果の損失を図解する線図を示す。
イバのクラッド内への拡散、及びホット・ファイバ指標
プロファイルの相当する変動を含む典型的スプライシン
グ・プロセスが、図２に示されている。図２の右手部分
に、ホット・ファイバ指標プロファイルがファイバを溶
着する加熱プロセスの４つの異なる段について示され、
プロセスは未加熱ファイバに対して図の上側から開始
し、図の下側はホット・ファイバ指標プロファイルの連
続等化を示す。図３は、同じ加熱プロセス中の時間の関
数としてファイバ端のホット・ファイバ指標及びその結
果の損失を図解する線図を示す。
【００２４】拡散プロセス中にスプライス損失を測定す
るとき、図３に最小損失点を通る破線１で示されたよう
に、最小損失を得る瞬間を発見することができる。もし
この瞬間を実時間に決定することができるならば、この
瞬間をコンピュータから又はオペレータからスプライシ
ング装置に通信することができ、オペレータは加熱を停
止するようにスプライシング装置に命令するために適当
なキーを押すことができる。この瞬間は他の２つの曲
線、すなわち、ホット・ファイバ指標の特殊レベルに相
当し、これらは実時間に容易に得られるから、スプライ
シング装置は、最小損失を得るように加熱を停止させる
正しい瞬間を発見するために、適当にセットされたしき
い値との比較するのにこれらのホット・ファイバ指標を
使用することができる。ファイバ端を加熱するためにア
ークを使用するアーク溶接装置の場合、加熱を停止させ
る時刻、すなわち、溶接電極への電流の供給を停止させ
る時刻は、停止点と呼ばれる。残る問題は、したがっ
て、適当なしきい値を自動的に選択することであり、こ
れは互いにスプライスされる２つの光ファイバのモード
・フィールド直径の自動化整合行うためのキー論点であ
る。
るとき、図３に最小損失点を通る破線１で示されたよう
に、最小損失を得る瞬間を発見することができる。もし
この瞬間を実時間に決定することができるならば、この
瞬間をコンピュータから又はオペレータからスプライシ
ング装置に通信することができ、オペレータは加熱を停
止するようにスプライシング装置に命令するために適当
なキーを押すことができる。この瞬間は他の２つの曲
線、すなわち、ホット・ファイバ指標の特殊レベルに相
当し、これらは実時間に容易に得られるから、スプライ
シング装置は、最小損失を得るように加熱を停止させる
正しい瞬間を発見するために、適当にセットされたしき
い値との比較するのにこれらのホット・ファイバ指標を
使用することができる。ファイバ端を加熱するためにア
ークを使用するアーク溶接装置の場合、加熱を停止させ
る時刻、すなわち、溶接電極への電流の供給を停止させ
る時刻は、停止点と呼ばれる。残る問題は、したがっ
て、適当なしきい値を自動的に選択することであり、こ
れは互いにスプライスされる２つの光ファイバのモード
・フィールド直径の自動化整合行うためのキー論点であ
る。
【００２５】溶着プロセス中監視する対象として選択す
ることができるいくつかの値がある、すなわち、加熱プ
ロセス中連続的に測定することができかつ適当なしきい
値と比較するいくつかの量があることが、図３から明ら
かである。すなわち、 １． 左ファイバのホット・ファイバ指標、 ２． 右ファイバのホット・ファイバ指標、 ３． これら２つのホット・ファイバ指標の差、 ４． これらのホット・ファイバ指標のうちの高い方
（どちら側かに無関係）、 ５． 監視の開始におけるホット・ファイバ指標のうち
の高い方。
ることができるいくつかの値がある、すなわち、加熱プ
ロセス中連続的に測定することができかつ適当なしきい
値と比較するいくつかの量があることが、図３から明ら
かである。すなわち、 １． 左ファイバのホット・ファイバ指標、 ２． 右ファイバのホット・ファイバ指標、 ３． これら２つのホット・ファイバ指標の差、 ４． これらのホット・ファイバ指標のうちの高い方
（どちら側かに無関係）、 ５． 監視の開始におけるホット・ファイバ指標のうち
の高い方。
【００２６】測定する最良の量を選択する判定基準は、
すなわち、 １． その量が定電力での加熱中時間の関数として単調
である、 ２． その量の導関数が時間の関数として５つの量型式
の中で停止点において最大のものである、 ３． その量が、もし可能ならばどちらの側か（左側又
は右側か）に無関係である。
すなわち、 １． その量が定電力での加熱中時間の関数として単調
である、 ２． その量の導関数が時間の関数として５つの量型式
の中で停止点において最大のものである、 ３． その量が、もし可能ならばどちらの側か（左側又
は右側か）に無関係である。
【００２７】３番目の判定規準の重要性は、その順番の
番号と同じである、すなわち、最低の重要性を有する。
第１規準を満たす変量のみが第２判定規準について考察
され、第２判定規準を満たす変調のみが第３判定規準に
ついて考察される。
番号と同じである、すなわち、最低の重要性を有する。
第１規準を満たす変量のみが第２判定規準について考察
され、第２判定規準を満たす変調のみが第３判定規準に
ついて考察される。
【００２８】監視される量の選択及び損失の連続的測定
の後、停止点で測定されたホット・ファイバ指標から相
当するしきい値を直接読み取ることができる。しきい型
式及びしきい値を、行われたスプライスにおけるのと同
じ種類の２つのファイバの次順のスプライスのために保
存することができる。そうすれば、この新スプライス
を、加熱プロセス中の損失を測定することなく容易に行
うことができる。
の後、停止点で測定されたホット・ファイバ指標から相
当するしきい値を直接読み取ることができる。しきい型
式及びしきい値を、行われたスプライスにおけるのと同
じ種類の２つのファイバの次順のスプライスのために保
存することができる。そうすれば、この新スプライス
を、加熱プロセス中の損失を測定することなく容易に行
うことができる。
【００２９】図６は、スプライシング・プロセス中かつ
当のスプライシング瞬間の後に起こり得る延長加熱期間
中実時間に損失を測定する完全自動化モード・フィール
ド直径整合又はしき値選択用施設を示す。それゆえ、左
ファイバ３及び右ファイバ５が自動化スプライシング装
置９内の電極７間に発生された電気アーク内で加熱によ
って加熱されることになる。スプライシング装置９は、
ビデオ・カメラのような光学監視及び測定手段、及び図
示されていない画像処理ユニットを備えている。それゆ
え、ファイバ３、５の内側端の端面は、電極７の先端点
間の領域内で互いに接近してかつ向かい合って位置決め
される。これらのファイバの他の端は、光入射装置及び
光検出装置に接続され、この図では、レーザ源１１が左
ファイバ３の外側端に接続され、かつ光検出器１３が右
ファイバ５の外側端に接続されている。光検出器１３
は、ヒューレット・パッカード（Ｈｅｗｌｅｔｔ−Ｐａ
ｃｋａｒｄ）製の「ＨＰ８１５３ライトウェープ・マル
チメータ（Ｌｉｇｈｔｗａｖｅ Ｍｕｌｔｉ−Ｍｅｔｅ
ｒ）」であってよく、かつレーザ源１１から発射された
のと同じ波長を有する光のみを受けかつスプライス領域
内の加熱された材料によって発射された光を阻止するた
めに帯域通過フィルタ１５を備える。光検出器１３は、
その電気出力をパワー・メータ（ｐｏｗｅｒ ｍｅｔｅ
ｒ）１７に送り、後者は光検出器１３が受けた光のパワ
ーを表す電気信号を出力する。このパワー信号をコンピ
ュータ１９が受けて分析する。コンピュータ１９は、パ
ワー信号が最大になる時刻を発見するためにパワー信号
を分析するように構成されている。それゆえ、コンピュ
ータ１９は、パワーが減少し始めることをセンシングす
ることによってパワー信号が最大になることを検出する
とき、電気信号をスプライシング装置９へ送る。したが
って、スプライシング装置９は、電極７に供給される電
流を遮断することによって溶接プロセスを直ちに停止さ
せることができる。いずれにしても、スプライシング領
域の捕獲画像の自動処理を常時行うスプライシング装置
９の図示されていない電子監視プロセッサが上に説明し
た量、特に２つの光ファイバの端部分のホット・ファイ
バ指標を計算することになる。次いで、これらの量及び
指標は、これら２つのスプライスされたファイバの種類
の識別データと一緒にスプライシング装置９内の図示さ
れていないメモリに記憶されるが、これは同じ種類のフ
ァイバ間にスプライスが行われるときに使用されるため
であり、そのとき図６の測定施設は必要ない。
当のスプライシング瞬間の後に起こり得る延長加熱期間
中実時間に損失を測定する完全自動化モード・フィール
ド直径整合又はしき値選択用施設を示す。それゆえ、左
ファイバ３及び右ファイバ５が自動化スプライシング装
置９内の電極７間に発生された電気アーク内で加熱によ
って加熱されることになる。スプライシング装置９は、
ビデオ・カメラのような光学監視及び測定手段、及び図
示されていない画像処理ユニットを備えている。それゆ
え、ファイバ３、５の内側端の端面は、電極７の先端点
間の領域内で互いに接近してかつ向かい合って位置決め
される。これらのファイバの他の端は、光入射装置及び
光検出装置に接続され、この図では、レーザ源１１が左
ファイバ３の外側端に接続され、かつ光検出器１３が右
ファイバ５の外側端に接続されている。光検出器１３
は、ヒューレット・パッカード（Ｈｅｗｌｅｔｔ−Ｐａ
ｃｋａｒｄ）製の「ＨＰ８１５３ライトウェープ・マル
チメータ（Ｌｉｇｈｔｗａｖｅ Ｍｕｌｔｉ−Ｍｅｔｅ
ｒ）」であってよく、かつレーザ源１１から発射された
のと同じ波長を有する光のみを受けかつスプライス領域
内の加熱された材料によって発射された光を阻止するた
めに帯域通過フィルタ１５を備える。光検出器１３は、
その電気出力をパワー・メータ（ｐｏｗｅｒ ｍｅｔｅ
ｒ）１７に送り、後者は光検出器１３が受けた光のパワ
ーを表す電気信号を出力する。このパワー信号をコンピ
ュータ１９が受けて分析する。コンピュータ１９は、パ
ワー信号が最大になる時刻を発見するためにパワー信号
を分析するように構成されている。それゆえ、コンピュ
ータ１９は、パワーが減少し始めることをセンシングす
ることによってパワー信号が最大になることを検出する
とき、電気信号をスプライシング装置９へ送る。したが
って、スプライシング装置９は、電極７に供給される電
流を遮断することによって溶接プロセスを直ちに停止さ
せることができる。いずれにしても、スプライシング領
域の捕獲画像の自動処理を常時行うスプライシング装置
９の図示されていない電子監視プロセッサが上に説明し
た量、特に２つの光ファイバの端部分のホット・ファイ
バ指標を計算することになる。次いで、これらの量及び
指標は、これら２つのスプライスされたファイバの種類
の識別データと一緒にスプライシング装置９内の図示さ
れていないメモリに記憶されるが、これは同じ種類のフ
ァイバ間にスプライスが行われるときに使用されるため
であり、そのとき図６の測定施設は必要ない。
【００３０】上に説明された測定中スプライシング装置
９によって遂行された異なるステップはまた、図４の線
図によって示されている。ここで、溶接電極７間を流れ
る電流及びスプライスされるファイバの端面間の縦方向
距離が、時間の関数としてプロットされている。第１ス
テップ４１でファイバ３、５の端を粗く整列させ、次い
でステップ４３で電極７間のアークをファイバ端の予溶
着を遂行するために低電力で短期間中点弧する。次にス
テップ４５でこれらのファイバの端面を互いに接近させ
てその機械的接触位置を発見してこれをそのプロセスに
おいて後ほど使用するために記録する。次いでステップ
４７でこれらのファイバ端を互いから短い距離変位さ
せ、次いでステップ４９でこれらのファイバ端を互いと
精確に整列させる。
９によって遂行された異なるステップはまた、図４の線
図によって示されている。ここで、溶接電極７間を流れ
る電流及びスプライスされるファイバの端面間の縦方向
距離が、時間の関数としてプロットされている。第１ス
テップ４１でファイバ３、５の端を粗く整列させ、次い
でステップ４３で電極７間のアークをファイバ端の予溶
着を遂行するために低電力で短期間中点弧する。次にス
テップ４５でこれらのファイバの端面を互いに接近させ
てその機械的接触位置を発見してこれをそのプロセスに
おいて後ほど使用するために記録する。次いでステップ
４７でこれらのファイバ端を互いから短い距離変位さ
せ、次いでステップ４９でこれらのファイバ端を互いと
精確に整列させる。
【００３１】機械的位置決めシステム内のヒステリシス
を除去するためにステップ５１でこれらのファイバの端
面間のギャップを大きくし、次いでステップ５３でこれ
らのファイバ端を予熱するために低電力でアークを点弧
する。ステップ５３で、これらの端面を接触点まで互い
に接近させるように動かす。接触点に達すると、次のス
テップ５５、すなわち、主溶着ステップで、アークを正
規に駆動してスプライスを行い、次いでアークの電力を
適当値までかなり増大させる。実際のスプライスを行っ
てしまったとき、ステップ５７で電気アークの同じ電力
のままで加熱を延長する。このステップ中、複数の画像
を撮りかつ分析し、かつ、例えば、スプライシング装置
９の、図示されていないキーボード上の特殊キー（キー
「＃」）を押すとき、分析された値が将来のスプライス
に使用されるためにしきい値として記憶される。このキ
ーを、オペレータがコンピュータ１９のモニタを見なが
ら押すことができ、このモニタには計算されたかつ受け
た光パワー又は相当する損失がグラフィック表示され
る。代わりに、しきい値に使用されるデータの記憶動作
をトリガするためにコンピュータ１９からの信号を使用
することができる。この信号をまた延長加熱を停止させ
るために使用することができる。しかしながら、図４に
示されたように、他の特殊キー（キー「＊」）を手動で
押すことによって加熱を停止させる。このような押しの
後、手順は終了する。
を除去するためにステップ５１でこれらのファイバの端
面間のギャップを大きくし、次いでステップ５３でこれ
らのファイバ端を予熱するために低電力でアークを点弧
する。ステップ５３で、これらの端面を接触点まで互い
に接近させるように動かす。接触点に達すると、次のス
テップ５５、すなわち、主溶着ステップで、アークを正
規に駆動してスプライスを行い、次いでアークの電力を
適当値までかなり増大させる。実際のスプライスを行っ
てしまったとき、ステップ５７で電気アークの同じ電力
のままで加熱を延長する。このステップ中、複数の画像
を撮りかつ分析し、かつ、例えば、スプライシング装置
９の、図示されていないキーボード上の特殊キー（キー
「＃」）を押すとき、分析された値が将来のスプライス
に使用されるためにしきい値として記憶される。このキ
ーを、オペレータがコンピュータ１９のモニタを見なが
ら押すことができ、このモニタには計算されたかつ受け
た光パワー又は相当する損失がグラフィック表示され
る。代わりに、しきい値に使用されるデータの記憶動作
をトリガするためにコンピュータ１９からの信号を使用
することができる。この信号をまた延長加熱を停止させ
るために使用することができる。しかしながら、図４に
示されたように、他の特殊キー（キー「＊」）を手動で
押すことによって加熱を停止させる。このような押しの
後、手順は終了する。
【００３２】説明した手順後、図５に示された画像を、
スプライシング装置９のディスプレイ・ウインドー上に
表示することができる。ここに、グラフは損失曲線を除
き図３の曲線と類似しており、図５は、それゆえ、時間
の関数としての左ファイバ及ひ右ファイバのホット・フ
ァイバ指標がキー「＃」を押すことによって選択された
停止点と一緒に表示されることを表す。なお、数学的に
平滑化されたホット・ファイバ指標曲線は示されていな
い。
スプライシング装置９のディスプレイ・ウインドー上に
表示することができる。ここに、グラフは損失曲線を除
き図３の曲線と類似しており、図５は、それゆえ、時間
の関数としての左ファイバ及ひ右ファイバのホット・フ
ァイバ指標がキー「＃」を押すことによって選択された
停止点と一緒に表示されることを表す。なお、数学的に
平滑化されたホット・ファイバ指標曲線は示されていな
い。
【００３３】本発明の特定実施例を図示しかつ説明した
が、その多数の追加利点、修正実施例、及び変形実施例
を当業者が容易に思い付くことは当然である。それゆ
え、本発明は、その広範な観点から、ここに図示されか
つ説明された特殊な細部、代表的装置、及び図解例に限
定されない。したがって、種々の修正実施例は、前掲の
特許請求の範囲及びこれらに相当する範囲によって明確
にされた全般的発明構想の精神又は範囲に反することな
く行われると云ってよい。それゆえ、云うまでもなく、
前掲の特許請求の範囲は、本発明の真の精神と範囲に含
まれる全てのこのような修正実施例及び変形実施例に及
ぶことを意図する。
が、その多数の追加利点、修正実施例、及び変形実施例
を当業者が容易に思い付くことは当然である。それゆ
え、本発明は、その広範な観点から、ここに図示されか
つ説明された特殊な細部、代表的装置、及び図解例に限
定されない。したがって、種々の修正実施例は、前掲の
特許請求の範囲及びこれらに相当する範囲によって明確
にされた全般的発明構想の精神又は範囲に反することな
く行われると云ってよい。それゆえ、云うまでもなく、
前掲の特許請求の範囲は、本発明の真の精神と範囲に含
まれる全てのこのような修正実施例及び変形実施例に及
ぶことを意図する。
【図１】スプライスされたファイバのモード・フィール
ド半径の比の関数としてのつき合わせスプライスの損失
のグラフ図。
ド半径の比の関数としてのつき合わせスプライスの損失
のグラフ図。
【図２】延長加熱期間を含む典型的スプライシング・プ
ロセスの説明図であって、図の左手部分はファイバに垂
直な方向から見た拡散プロセスを示し、図の右手部分は
ファイバのモード・フィールド半径を互いに整合させる
加熱プロセスの４つの異なる段についてファイバに垂直
な線に沿う距離の関数としてのファイバの屈折率の変化
を示す。
ロセスの説明図であって、図の左手部分はファイバに垂
直な方向から見た拡散プロセスを示し、図の右手部分は
ファイバのモード・フィールド半径を互いに整合させる
加熱プロセスの４つの異なる段についてファイバに垂直
な線に沿う距離の関数としてのファイバの屈折率の変化
を示す。
【図３】本発明の方法によるスプライシング動作を行っ
た後の同じ延長加熱中の時間の関数としての２つのファ
イバ端のホット・ファイバ指標及び結果の光パワーの損
失を示す線図であって、ホット・ファイバ指標の変化は
屈折率の変化に相当する。
た後の同じ延長加熱中の時間の関数としての２つのファ
イバ端のホット・ファイバ指標及び結果の光パワーの損
失を示す線図であって、ホット・ファイバ指標の変化は
屈折率の変化に相当する。
【図４】本発明によりモード・フィールド半径を整合さ
せるためにしきい値を決定するプロセスを説明する電
流、距離−時間線図。
せるためにしきい値を決定するプロセスを説明する電
流、距離−時間線図。
【図５】本発明の方法によるしきい値決定の後本発明に
よるスプライシング装置によって表示されたホット・フ
ァイバ指標の変動を示す画像を表す図。
よるスプライシング装置によって表示されたホット・フ
ァイバ指標の変動を示す画像を表す図。
【図６】本発明による完全自動化モード・フィールド直
径整合又はしきい値選択用施設のブロック図であって、
しきい値決定を開始する場合の構成を示す。
径整合又はしきい値選択用施設のブロック図であって、
しきい値決定を開始する場合の構成を示す。
３ 左ファイバ ５ 右ファイバ ７ 電極 ９ スプライシング装置 １１ レーザ源 １３ 光検出器 １５ 帯域通過フィルタ １７ パワ・メータ １９ コンピュータ
Claims (4)
- 【請求項１】 異なる型式の２つの光ファイバのファイ
バ端の端表面を互いを目指して位置決めするステップ
と、 前記光ファイバのドーパント材料が拡散するような温度
へ前記ファイバ端を加熱するために前記ファイバ端を目
指して或る１つの領域を加熱するステップと、 加熱中、各ファイバ端のホット・ファイバ指標を連続的
に又は短い間隔を挟んだ周期的に繰り返される時刻に決
定するステップとを含む、前記異なる型式の２つの光フ
ァイバの端を互いにスプライスする方法であって、 加熱中、前記決定されたホット・ファイバ指標の１つ又
は前記指標の１つから導出された量を所定しきい値と比
較することと、前記指標の１つ又は前記導出された量が
前記しきい値に達するとき前記加熱を停止することとを
特徴とする方法。 - 【請求項２】 異なる型式の２つの光ファイバのファイ
バ端の端表面を互いを目指して位置決めする位置決め手
段と、 前記光ファイバのドーバント材料が拡散するような温度
へ前記ファイバ端を加熱するために前記ファイバ端を目
指して或る１つの領域を加熱する加熱手段と、 加熱中、各ファイバ端のホット・ファイバ指標を連続的
に又は短い間隔を挟んだ周期的に繰り返される時刻に決
定する決定手段とを含む、前記異なる型式の２つの光フ
ァイバの端を互いにスプライスする装置であって、 加熱中、前記決定されたホット・ファイバ指標の１つ又
は前記指標の１つから導出された量を所定しきい値と比
較する比較手段を含み、かつ前記加熱手段と前記決定手
段とに結合された制御手段であって、 前記指標の１つ又は前記導出された量が前記しきい値に
達することを前記比較手段が発見するとき前記加熱を停
止するために前記加熱手段を制御するように構成される
前記制御手段を特徴とする装置。 - 【請求項３】 異なる型式の２つの主光ファイバの端を
互いにスプライスする方法であって、 スプライスされる前記２つの主光ファイバの各々と同等
の光ファイバの２つの片を用意するステップと、 前記２つの片のファイバ端の端面を互いを目指して位置
決めするステップと、 前記光ファイバのドーパント材料が拡散するような温度
へ前記ファイバ端を加熱するために前記ファイバ端を目
指して或る１つの領域を加熱するステップと、 加熱中、各ファイバ端のホット・ファイバ指標を連続的
に又は短い間隔を挟んだ周期的に繰り返される時刻に決
定するステップと加熱中、１つの前記片から他の前記片
へ伝搬する光の光パワーの損失を連続的に又は短い間隔
を挟んだ周期的に繰り返される時刻に決定するステップ
と前記光パワーの損失の最小値を発見するために前記光
パワーの損失の決定された値を監視するステップと、 前記最小値が決定された時刻に決定された前記決定され
たホット・ファイバ指標を記録するか又は前記決定され
たホット・ファイバ指標から計算されたしきい値を記録
するステップと、 、前記主光ファイバのファイバ端の端面を互いを目指し
て位置決めするステップと、 前記光ファイバのドーパント材料が拡散するような温度
へ前記ファイバ端を加熱するために前記ファイバ端を目
指して或る１つの領域を加熱するステップと、 加熱中、各光ファイバ端のホット・ファイバ指標を連続
的に又は短い間隔を挟んだ周期的に繰り返される時刻に
決定するステップと加熱中、前記決定されたホット・フ
ァイバ指標の１つ又は前記指標の１つから導出された量
を前記記録されたホット・ファイバ指標から計算された
しきい値と又は前記記録されたしきい値と比較するステ
ップと、 前記指標又は前記導出されら量が前記しきい値に達する
とき前記加熱を停止するステップとを特徴とする方法。 - 【請求項４】 異なる型式の２つの主光ファイバの端を
互いにスプライスする装置であって、 光ファイバのファイバ端の端面を互いを目指して位置決
めする位置決め手段と、 前記光ファイバのドーバント材料が拡散するような温度
へ前記ファイバ端を加熱するために前記ファイバ端を目
指して或る１つの領域を加熱する加熱手段と、 加熱中、各前記ファイバ端のホット・ファイバ指標を連
続的に又は短い間隔を挟んだ周期的に繰り返される時刻
に決定する決定手段と前記位置決め手段によって位置決
めされたファイバ端の端面を有する１つの光ファイバ内
へ光を入射させる光入射手段と、 加熱中、前記光入射装置から前記ファイバへ伝搬する光
を検出しかつ前記検出に基づき１つの片から他の片へ伝
搬する光の光パワーの損失を連続的に又は短い間隔を挟
んだ周期的に繰り返される時刻に決定するために前記位
置決め手段によって位置決めされたファイバ端の端面を
有する１つの光ファイバから光を受ける光検出手段と、 前記光パワの損失の最小値を発見するために前記光パワ
の損失の決定された値を監視するように前記加熱手段
と、前記決定手段と、前記光検出手段とに結合された制
御手段であって、 光パワの損失の最小値が決定された時刻に決定された前
記決定されたホット・ファイバ指標を記録するメモリ手
段を含む前記制御手段か、又は光パワーの最小値が決定
された時刻に決定された前記決定されたホット・ファイ
バ指標に基づいてしきい値を計算する計算手段と前記し
きい値を記憶するメモリ手段とを含む前記制御手段、 加熱中、前記決定されたホット・ファイバ指標の１つ又
は前記指標の１つから導出された量を前記記録されたホ
ット・ファイバ指標から計算されたしきい値と又は前記
記憶されたしきい値と比較する比較手段を含む前記制御
手段、 前記指標の１つ又は前記導出された量が前記しきい値に
達することを前記比較手段が発見するとき前記加熱を停
止するために前記加熱手段を制御するように構成される
前記制御手段を特徴とする装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SE9702211A SE511966C2 (sv) | 1997-06-09 | 1997-06-09 | Förfarande och anordning för att hopskarva ändarna hos två optiska fibrer av olika typ med varandra |
| SE9702211-5 | 1997-06-09 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1172645A true JPH1172645A (ja) | 1999-03-16 |
Family
ID=20407322
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10197947A Pending JPH1172645A (ja) | 1997-06-09 | 1998-06-09 | 異なる型式の光ファイバをスプライスする方法及び装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6062743A (ja) |
| EP (1) | EP0890853A1 (ja) |
| JP (1) | JPH1172645A (ja) |
| SE (1) | SE511966C2 (ja) |
Families Citing this family (26)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20020069677A1 (en) * | 1996-04-29 | 2002-06-13 | Berkey George E. | Optical fiber and method of making optical fiber |
| US6428218B1 (en) * | 1998-03-27 | 2002-08-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Method and device for splicing optical conductors |
| JP3528665B2 (ja) * | 1998-10-20 | 2004-05-17 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
| AU6413000A (en) | 1999-10-12 | 2001-04-26 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Connection unit, optical fiber line unit, optical cable, and optical transmission system |
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