JP4856840B2 - 光ファイバの種類の決定 - Google Patents
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Description
(技術分野)
本発明は、光ファイバの評価、特に、正しい継ぎパラメータを自動選択する自動ファイバ・スプライサで使用される、考慮された光ファイバが所属する光ファイバの一般的な種類を決定する方法及びスプライサで使用される光学系を設定する方法にも関する。
【0002】
(背景)
光ファイバに基づくシリカを一直線上に整列させ継ぐ装置及び方法は、多年の間開発され改善されている。0.2ミクロンより良好な精度で継ぐべき光ファイバの一直線上整列を行って、正確なスプライス損失評価を行う最も普通の方法は、光ファイバの実際の継ぎの前、その時及びその後に継ぎ位置のカメラ装置により生成の拡大画像の進歩したデジタル画像処理を含んでいる。多くの場合、溶融処理により行われる継ぎの前、継ぎ中及び継ぎ後に継いだファイバとそのコアの鮮明な画像を与えることができるコンパクトな光学系の設計は、高性能を有するファイバ継ぎ機の開発での重要な仕事であった。例えば、T.Haibara、M.Matumoto、T.Tanifuji及びM.Tokudaによる「Monitoring method for axis alignment of single−mode fiber and splice loss estimation」、Optics Letters、Vol6、No.4、April 1983、O.Kawata、K.Hoshino、Y.Miyajima、M.Ohnishi及びK.Ishiharaによる「A splicing and inspection technique for single−mode fibers using direct core monitoring」、J.Lightwave Technology、Vol.LT−2、No.2、April 1984、及びT.Katagiri、M.Tachikura及びI.Sankawaによる「Optical microscope observation method of a singlemode optical fiber core for precise core−axis alignment」、J.Lightwave Technology、Vol.LT−2、No.3、June 1984参照。
【0003】
デジタルカメラ装置を備えた融着スプライサにおいて、継ぐべき、または継がれた光ファイバは、レンズ系から見て光ファイバの後ろのある距離に配置された光源、通常はLEDにより従来は照射された。レンズ系は、ファイバ・クラディングまたはファイバ・コアのある点に合焦され、ファイバの拡大画像はCCDマトリックス(電荷結合装置)上に作成される。カメラからの電気信号はA/D変換され、そのデジタル画像はコンピュータ装置で処理される。次に、画像からの測定データは、その光ファイバを所望の正確な一直線上の整列状態に移動するために及び継ぎ損失を評価するために使用される。
【0004】
融着スプライサの光学系は、溶融中ホット・ファイバを投影するようにも構成できる。例えば、1990年8月24日出願のドイツ特許40 04 904とスエーデン特許出願9002725−1を参照。融着処理で使用される電弧に存在する約2000℃のような高温でのファイバ・クラディングとコアとの間の放射率の小さな差により従来ファイバの中央に配置されたコアの明るい画像を発生することが可能となる。加熱ファイバからの放射波の可視・近赤外部は、カメラ系により集められて検出される。ホット画像は、溶融中ファイバのリアル・タイム処理のために及び継ぎが完了した後の正確な継ぎ損失評価を行うために使用することができる。
【0005】
コア/クラディングの偏心率、クリーブ角(cleave angle)、カール(curl)、ファイバ端部の汚染及びモード・フィールド径(mode field diameter;MFD)のミスマッチは、溶融スプライス損失の主な理由であるということは公知である。MFDのミスマッチは、特に、異なる種類のファイバが互いに継ながれる場合のスプライス損失に大いに影響を与えることがある。互いに異なるMFDを有するファイバ間で低損失を有する継ぎを生成するためには、継ぎべきファイバの種類を特徴づけ、このファイバの種類に基づいて継ぎ処理で使用されるオーバラップ、溶融熱及び溶融時間のような適切なスプライス・パラメータを選択することが必要である。例えば、W.Zhengによる「Real time contorol of arc fugion for optical fiber splicing」、J.Lightwave Technology、Vol.11、pp.548−553、March 94とW.Zheng、
による「Erbium doped fiber splicing and splice loss estimation」、J.Lightwave Technology、Vol.12、pp.430−435、March 94参照。これらのパラメータの適切な選択は、大いにコアのサイズ及びファイバの屈折率プロフィールと、コアとクラディングの間の屈折率差に依存する。それ故、継ぎパラメータの自動選択のために溶融前にファイバを識別する方法は、異なる種類のファイバの低損失継ぎを行うために大いに重要である。
【0006】
Telfonektiebolaget L M Ericsson、発明者
についてのスエーデン特許出願9100979−5では、光ファイバの特性を決定する方法が開示されている。この方法は、加熱ファイバの画像、特に、この光ファイバに直角な線に沿う光強度プロフィールを解析するステップを含む。その中心ピークの一般的な形、特にその幅及び高さは評価される。同一の基本的な解析プロセスを使用する数学的方法は、Telfonaktiebolaget L M Ericsson、発明者Wenxin Zhangによるスエーデン特許出願9201817−5に開示されている。
【0007】
何らかの光検出領域に光ファイバを投影する自動ファイバ・スプライサの光学系は、コアが可視状態であり、または特に例えば、コアの位置及び幅が検出可能であるコールド・ファイバの鮮明な画像を生成するための、または、光を発する加熱した光ファイバの鮮明な画像でコア領域が検出可能ともなるようにこの鮮明な画像を生成するための、互いに異なる投影条件の場合は容易に設定することができない。異なる投影条件の場合のこの合焦は、一般的には互いに異なる合焦条件、すなわち、対象物、光ファイバ及び投影装置、主にレンズ系間の互いに異なる距離について捕獲した画像を観察することによって一般的手動的になされる。
【0008】
(要約)
本発明の目的は、光ファイバの種類を決定する信頼性ある方法の提供である。
本発明の他の目的は、光ファイバのコアが見える光ファイバの画像を提供する光学系を健全で自動的に設定する方法の提供である。
未知の光ファイバが属する種類を決定する場合に、溶接を用いる自動ファイバ・スプライサが使用される。このスプライサは、一直線上に整列する2本のファイバを位置決めする移動可能なクランプまたは保持具、付勢時に電弧を発生する電極、CCDマトリックスのようなカメラ装置及び背景照明を発生する光源を有している。これらの装置は全て制御手段(33)と必要なドライバ回路及びインタフェース回路を含む電子回路に結合されている。光ファイバがコールドの時、及び融着スプライスで使用される大体の温度またはこの温度より幾分低い温度まで加熱されてどんな背景照明も使用せずに画像を捕獲する充分な光を発する時、クランプの内の光ファイバ保持クランプの一部は高解像度レンズ系を介してカメラの光検出領域に投影され、この光ファイバのコアは、捕獲画像中で識別することができる。加熱状態で撮られたファイバの第1の画像からは、このファイバの長手方向にほぼ直角な線に沿う第1の光強度プロフィールが画像処理・解析モジュールで決定される。この第1の光強度プロフィールは、このプロフィールの導関数を計算し、この導関数を公知の互いに異なる種類の光ファイバについて以前決定した光強度プロフィールの導関数と比較することによって更に解析される。第2の光強度プロフィールを同様に決定することができる低温ファイバの第2の画像が撮られる。次に、このプロフィールは、前記公知の光ファイバについて以前決定した対応のプロフィールと比較される。最終的に、この比較の結果は、前記の試験した光ファイバの種類を決定するために評価される。
【0009】
自動ファイバ・スプライサで異なる投影条件についての正しい自動合焦は、次のステップを連続順に実行することにより得ることができる。光ファイバとスプライサの光学系との距離は変化され、異なる距離について画像が撮られる。この撮られた画像において、光ファイバの視直径の大きさと、これらのプロフィールで通常得られそしてその光ファイバの中心の高強度領域に対応すると共に少なくとも高解像度光学系の場合にその光ファイバのコアに対応する中心ピークの見かけの幅(apparant width)の大きさとを見つけるために解析される光強度プロフィールを決定する。これら2つの大きさの比は、計算され、所定値と比較される。大きさの値のこれらの比が所定値と一致または少なくともその値からできるだけずれない画像を与える距離が正しい投影を与える距離として採用される。互いに異なる種類のファイバ上での測定によって、コアの直径のようなコアの価値ある情報を得ることができるコールド画像の良好な画像を発生する所定値を決定することができ、加熱ファイバの対応する良好な画像を発生する別の所定値を決定することができるということが分かる。
【0010】
本発明の他の目的及び利点は、続く記載において述べるが、一部は、記載から明らかとなり、または、本発明の実施により理解されよう。本発明の目的及び利点は、上記の請求項で特に指摘された方法、プロセス、手段及び組み合わせにより実現され、また得られよう。
本発明の新規な特徴は、上記の請求項で特に述べたが、本発明の構成及び内容の両方及び上記及び他の特徴ついての本発明の完全な理解は今後添付図面に関して提供される非制限的な実施例の次の詳細な記載を考慮することにより得られ、更によく理解されよう。
【0011】
(詳細な説明)
図1aにおいて、自動光ファイバ・スプライサの基本的な構成が示されている。これは、従来技術のリボン・ファイバ・スプライサで使用された構成に類似である。米国特許5,961,865参照。継がれる光ファイバ1、1’の端部領域は、電極3の点間にあり、この電極3の間で光ファイバの端部を加熱するために電気放電5が発生される。電気放電の強度は、電極3間の電流の強度により制御される。光学レンズ系7は、2つの直交方向において光検出領域9、一般的には、CCD要素のマトリックスを備えたプレート上のファイバ端部領域を描く。継ぎ位置は、必要な時に背景照明を提供するLED11のような適切配置の光源により照明することができる。デジタル投影処理装置15は、ファイバ位置決め装置による使用光ファイバと継ぎ処理及び電極電流の強度を監視するために光検出領域9からの電気信号を処理する。該画像処理装置は、捕獲画像を示すためのモニタまたは表示要素17に接続されている。
【0012】
図1bの略図で、自動形式のファイバ・スプライス装置の幾分更に電気的な詳細が示してある。従って、このスプライス装置は、ファイバ1、1’の端部が配置されて位置決め及び継ぎ中に堅く保持される取付具または保持具21を有している。この保持具は、光ファイバの長手方向にほぼ平行で、かつ、この方向に直角な2つの方向の3つの直交座標方向に移動可能である。従って、保持具21は、制御モータ23により適当な機械的なガイド(図示せず)に沿ってずらされる。電極3、光源11及び制御モータ23への電線は、電気回路モジュール25から、この電気回路モジュール25のそれぞれ駆動回路27、28、29から延びている。光検出領域9から、電線は電気回路モジュールのビデオ・インタフェース31まで配置され、この電気回路モジュール25から適当な画像信号が画像処理・画像解析ユニット15に送られる。種々の処理ステップは、電気回路モジュールの制御回路33、例えば、適当なマイクロプロセッサにより制御される。制御回路33は、上記の処理ステップを行うので、適当な変移方向にモータ23を付勢することにより、互いに関してファイバ端部の変移を制御し、例えば、一直線上への整列処理の画像を捕獲する必要がある時に光源11に対し電流を提供し、得られた画像の解析を開始するために画像処理・画像解析ユニット15に対し信号を提供する。更に、制御回路33は、溶融電流が電極5に提供され始めるべき時及びこの電流が供給されるべき時間期間及びこの溶融電流の強度を制御する。
【0013】
コールド・ファイバのコアが見え、デジタル処理に適しているコールド・ファイバの画像を得るために、使用されるレンズ系7は、特別な性能特性及び特徴を有さなければならない。従って、レンズ系7は、光ファイバが加熱されず、横方向または背面から「コールド画像」を得るために別の光源により照明され、そして、このような画像が一般的な単一モード・ファイバの図2aに見られる時、光ファイバのコアを投影することができなければならない。レンズ系7は、光ファイバがホットで、「ホット画像」を得るために熱放射物を放射する溶融処理中に光ファイバを投影することもできなければならない。図2aの場合のように同一の光ファイバの図2bの画像参照。
【0014】
ファイバ・スプライサの投影装置は、通常の画像を捕獲すると共に、ホット光ファイバにより発せられた放射物を検出することもできなければならないCCDマトリックスまたはCCDカメラ9をも含んでいる。図3は、約1900℃の温度を有するホット・ファイバからの測定された放射スペクトルを示す図である。CCDカメラのスペクトル応答及びホット・ファイバ放射によるその生成物も図にプロットしてある。この後者は、CCDカメラがホット・ファイバにより発せられた光に十分感じるということを示す曲線を描いている。従って、色消しレンズ系7は、CCD装置9により捕獲された鮮明な「ホット画像」を発生することができる。
【0015】
図4は、近視野ファイバ幾何学的(near−field fiber geometry)スキャナにより測定された分散シフト光ファイバの屈折率プロフィールのプロットを示す図である。この光ファイバの直径は、125μmであり、コアの直径は約4μmであった。コアとクラディングとの屈折率の差は、図においてほぼ0.01を含むものと読むことができる。コアのこの幾分高い屈折率は、光ファイバの内側に配置した薄い円筒レンズとしてコアを動作させるに十分大きく、コアは、図5に見られるように光ファイバの後ろのある距離に配置した光源からの横方向の光線を屈折させる。焦点または更に正確に言えば、光ファイバのコアの焦点線上にほぼ合焦された高開口数の対物レンズを含むカメラ装置は、コアの画像を生成することができる。上記の引用文献参照。
【0016】
良好なコールド画像及びホット画像を生成するに適したレンズ系のデータの要約は、表1に与えてある。
【表1】
表1
項目 目標コールド画像 目標ホット画像
光学倍率 >8x >8x
共役長 <125mm <125mm
対物距離 >11.0mm >11.0mm
視野 0.25mm 0.25mm
開口数 >0.38 −
軸上の解像力 >400c/mmにおいて40% >100c/mmに
(MTF) おいて50%
スペクトル帯域幅 610〜690nm 500〜700nm
歪み <0.01% <0.01%
【0017】
寸法の発生変化により生じた影響を最小にした少数のレンズ要素をもつ表1によるレンズは、最小にされてリトロフォーカス・カメラレンズに類似した基本形状を有するように選ばれた。図6参照。対物レンズは、長共役に配置された2つの正要素とその負のダブレットから作られた。共役長は、11.1mmの対物距離の場合、121mmであった。
【0018】
図7aと図7bは、2つのスペクトル間隔について選択したレンズ系の場合、変調伝達関数(Modulation Transfer Function)のプロットを示す。従って、図7aは、610nm〜690nmの光源からの背景照明を使用する「コールド画像」の場合の対物レンズの解像力を示し、図7bは、「ホット画像」の、すなわち、500nm〜700nmの波長範囲のCCDカメラにより検出された発光光ファイバからの熱放射の場合の対物レンズの解像力を示す。
【0019】
コールド画像及びホット画像の両方を捕獲することができる投影装置を備えた自動融着スプライサは、今後示すように、継ぐべき光ファイバの種類の信頼性ある決定を行うために使用することができる。それにより、継ぎ処理で使用される正しいパラメータは、低挿入損失のような改良になる特性を有するスプライスを与えるために選択することができる。この識別処理は、次に記載する。
【0020】
従って、図8aと図8bは、上記のごとく、レンズ系により撮られた一般的な分散シフト・ファイバのそれぞれのコールド画像及びホット画像を示す。コアは、ドープしたコア・ガラスのより高い放射率のためにホット画像で鮮明に見ることができる。コールド画像及びホット画像の強度(グレー・レベル)のプロフィールは、図9において、捕獲画像の画素位置の関数として与えられ、この画素位置は、ファイバの長手方向に直角に延びる図面上に描いた実線に沿って撮られた光ファイバの物理的位置に相当する。ファイバのコアの中心は、中心ピークとして見ることができ、コアの周りの薄いリングは、コールド画像プロフィールのコアの各側における2つの低いピークとして見ることができる。ファイバのコアは、ホット画像プロフィールの中心ピークとして見ることもできる。リングの画像は、コアの画像に一部重畳されて、ホット画像プロフィールのコアの周りのグレー・レベルの増加値として見ることができる。
【0021】
コールド画像プロフィールとホット画像プロフィールは、ファイバ・コアの外形と形状に関する情報を含んでいる。この情報は、使用された光ファイバの種類を識別するために更に処理することができる。このような処理を、図12の流れ図に関して以下に説明する。
第1のブロック81において、カメラの焦点位置は、次に与える第1の値t1に設定される:
【数1】
【0022】
Dはコールド画像で見られる光ファイバの直径であり、dcは、図5と図9に示したコールド画像の最大値の半分における屈折照明光の幅である。このことは、合焦ステップにおいてレンズ系7の焦点位置を変える時に画像が撮られ、そして、値dcとDを決定するために解析されてついに撮られた画像において関係(1)が有効になり、すなわち、半幅値dcに対する見かけ上の直径Dの比は所定値に等しくなるということを意味する。次に、その所望比を有するこのデジタルコールド画像は、処理回路33のメモリに記憶される。次に、ブロック83で、カメラの焦点位置は値t2に変更される:
【数2】
【0023】
対応する方法でdhは、ホット画像の最大値の半分における屈折照明光の幅である。従って、この場合同一処理が行われるが、今や、背景照明は存在しない、すなわち、光源11は付勢されず電極9間のアークは、この電極間を流れる適当な電流を提供することによって点火される。電極電流は、互いに光ファイバの端部を実際に融着するために使用されるよりも小さくすべきである。半幅値dhと見かけの直径Dを発見するために焦点位置は変えられ、画像が捕獲され解析され、ついに条件(2)が満たされ、すなわち、前記量の比がコールド画像の焦点位置を設定するために使用される値よりも大きな所定値に等しい、例えば、その使用される値の約2倍に等しい
に等しい画像を焦点位置は与える。次に、このデジタルホット画像はプロセッサに記憶される。
【0024】
3×3平均フィルタは、正しい焦点位置の場合撮られ記憶されたホット画像の全部または一部の選択した領域のグレー・レベル値に次のブロック85で適用される。ブロック87で、光ファイバのホット画像の長手方向に直角な線上の点の画像の関数、更に正確に言うと、点の画像のグレー・レベル値を含む一次元アレイであるホット・ファイバ・プロフィールFh(x)はフィルタされた領域から選択され、従って、この線はX座標方向に延び、xはこの方向における位置を表す。値Fh(x)は、光ファイバの対応点から発せられた光の強度を表す測定値である。次に、強調された空間振幅変化をもつ差アレイGh(x)は、同一ブロックで発生され、式(3)により与えられる:
【数3】
【0025】
同一ブロック87で、対応する方法では、光ファイバのコールド画像の長手方向に直角な線上の点の画像のグレー・レベル値を含む一次元アレイであるコールド・ファイバ・プロフィールFc(x)も選択される。従って、値Fh(x)は、コールド・ファイバから来る光の強度を表す測定値である。
【0026】
図8a、図8bの画像を撮る分散シフト・ファイバについての高温グレー・レベル・アレイまたはホット・ファイバ・プロフィールFh(x)は、図10においてプロットされ、同図において、225個の画素を含むその一次導関数Gh(x)もプロットされている。コアとリングの境界は、その導関数の曲線の中央において4つの局部的な最大点として明確に描いてある。それらは、コールド画像プロフィールの中央における4つの局部的な最小点に比較することができる、図9参照。
【0027】
次に、導関数アレイGh(x)のコアを囲むw=100個の画素の範囲、図9参照、は、ブロック89で選択される。次に、この導関数アレイの値は公知のファイバについての対応する導関数アレイSn(x)に比較される。この比較の前に、導関数アレイは比較が適切な方法で行うことができるように規格化及び(または)変移することができる。比較の場合、公知のファイバの種類の各々のアレイSn(x)の導関数と考えられる導関数アレイGh(x)の平均平方誤差Enは次に従って計算される:
【数4】
【0028】
その後、計算された誤差の最小値Emは、ブロック91で決定され、従って、mは試験されたファイバに最も類似したファイバの種類を定義する。この最小値Emは、次のブロック93で閾値ε1と比較される。最小値Emがこの閾値より小さくない場合、ファイバは未知の種類と考えられ、例えば、表示装置に何らかのメッセージを示すために何らかの制御装置へその信号がブロック95で送られる。もしその最小値が閾値より小さい場合、コールド画像から得られた強度プロフィールも評価される。
【0029】
従って、ブロック97でコールド強度プロフィールFc(x)は3×1の中間フィルタに送ることにより低域フィルタリングされる。そこで、ブロック99ではこのフィルタリングされた強度プロフィールは、規格化されて、前にブロック89で実行されたようにある所定x位置まで対応的な方法で変位され、平均平方誤差ECは第m番目の光ファイバの種類のコールド画像強度プロフィールQmに比較される、フィルタされ規格化された強度プロフィールについて計算される。この計算された平均平方誤差ECはブロック101で閾値ε2に比較される。もしこの比較の結果、平均平方誤差がその閾値より小さい場合、この試験された光ファイバは、種類mであると決定され、その信号がブロック103で、例えば、融着パラメータを適切に設定し、及び(または)何らかのメッセージを表示するための何らかの制御装置に送られる。もし、ブロック101で平均平方誤差が第2の閾値より小さくないということが決定されると、その試験ファイバは、公知の種類のいずれもでもないと決定され、その信号は、ブロック105で何らかの制御装置に送られる。
【0030】
図12aは、コアの屈折率プロフィールの図であり、図12bは、それぞれコールド・ファイバ及びホット・ファイバの場合の測定された画素グレー・レベル値Qm(X)とSh(x)と、ホット・ファイバの屈折率プロフィールの導関数アレイGh(x)を示す図であり、図12cと図12dは、平たいクラディング、高ドープ分散シフト光ファイバのホット画像とコールド画像を示す。図13a〜図13dは、エルビューム・ドープのファイバの場合の対応する図及び画像であり、図14a〜図14dは、標準的な単一モード・ファイバSMF−28の対応する図及び画像であり、図15a〜図15dは、大きな有効領域非ゼロ分散シフト・ファイバの場合の対応する図及び画像であり、図16a〜図16dは、多重モード・ファイバの場合の対応する図及び画像であり、図17a〜図17dは、純粋なシリカコアの単一モード・ファイバの場合の対応する図及び画像である。
【0031】
本発明の特定実施例をここに図示し記載したが、数多くの追加の利点、変形例、及び変更は当業者に容易に想到されるであろう。従って、本発明はその広い対応においてここに図示し記載した特定の詳細、代表的な装置及び図示の例に限定されるものではない。従って、種々の変形例は、上記の請求項及びその均等物により明確化される一般的な発明思想の主旨及び範囲から逸脱せずに作成することができよう。従って、上記の請求項は、本発明の真の主旨及び範囲内に入るような全ての変形例及び変更を包含するものであると理解されるべきである。
【図面の簡単な説明】
【図1a】 互いに2本の光ファイバを溶融継ぎするための構成の略図。
【図1b】 電気制御回路の一部の要素も示す図1aの略図に似た図。
【図2a】 光ファイバが光源により側方から照らされた時のこの光ファイバのコールド画像。
【図2b】 光ファイバが輝き、光を発する時の溶融処理で撮られた光ファイバのホット画像。
【図3】 溶融状態の光ファイバの放射スペクトル、CCDカメラのスペクトル応答及び放射スペクトルと放射応答の積の図。
【図4】 ファイバ幾何的スキャナにより測定された分散シフト・ファイバの屈折率プロフィールの図。
【図5】 光ファイバにより光源からの平行側方光線の屈折を示す略図。
【図6】 高解像度レンズ系の設計を示す断面略図。
【図7a】 610nm〜690nmの範囲内の3つの波長について図6のレンズ系の変調伝達関数のプロットであり、また理想的なMTF(有限の回折)も示す。
【図7b】 500nm〜700nm範囲内の波長の場合の図7aに類似のプロット。
【図8a】 CCDカメラにより撮られた図6のレンズ系により投影される一般的な分散シフト・ファイバの、ファイバが赤のLED(λc = 660nm)により側方から照射された時に得られる低温。
【図8b】 CCDカメラにより撮られた図6のレンズ系により投影される一般的な分散シフト・ファイバの、ファイバの温度が約1900℃の時の溶融中に撮られたホット画像。
【図9】 図10aと図10bの分散シフト・ファイバのグレースケール値のホット画像及びコールド画像のプロット。
【図10】 図8aと図8bの分散シフト・ファイバのホット画像プロフィールF(X)とその一次導関数G(x)のプロット。
【図11】 ファイバ識別プロセスを示す流れ図。
【図12a】 平たいクラディング、高ドープ分散シフト・ファイバのコアの領域の屈折率プロフィールの図。
【図12b】 それぞれコールド・ファイバ及びホット・ファイバの場合の測定された画素グレー・スケール値Qm(x)とSh(x)のそれぞれと、図12aのファイバの高温プロフィールの導関数アレイGh(x)を示す図。
【図12c】 図12aのファイバのコールド画像。
【図12d】 図12aのファイバのホット画像。
【図13a】 図12aの図及び画像に対応するが、マッチングしたクラディング、エルビューム・ドープのファイバの場合の図及び画像。
【図13b】 図12bの図及び画像に対応するが、マッチングしたクラディング、エルビューム・ドープのファイバの場合の図及び画像。
【図13c】 図12cの図及び画像に対応するが、マッチングしたクラディング、エルビューム・ドープのファイバの場合の図及び画像。
【図13d】 図12dの図及び画像に対応するが、マッチングしたクラディング、エルビューム・ドープのファイバの場合の図及び画像。
【図14a】 図12aの図及び画像に対応するが、標準的な単一モード・ファイバSMF−28の場合の図及び画像。
【図14b】 図12bの図及び画像に対応するが、標準的な単一モード・ファイバSMF−28の場合の図及び画像。
【図14c】 図12cの図及び画像に対応するが、標準的な単一モード・ファイバSMF−28の場合の図及び画像。
【図14d】 図12dの図及び画像に対応するが、標準的な単一モード・ファイバSMF−28の場合の図及び画像。
【図15a】 図12aの図及び画像に対応するが、大きな有効面積非ゼロ分散シフト・ファイバの場合の図及び画像。
【図15b】 図12bの図及び画像に対応するが、大きな有効面積非ゼロ分散シフト・ファイバの場合の図及び画像。
【図15c】 図12cの図及び画像に対応するが、大きな有効面積非ゼロ分散シフト・ファイバの場合の図及び画像。
【図15d】 図12dの図及び画像に対応するが、大きな有効面積非ゼロ分散シフト・ファイバの場合の図及び画像。
【図16a】 図12aの図及び画像に対応するが、多重モード・ファイバの場合の図及び画像。
【図16b】 図12bの図及び画像に対応するが、多重モード・ファイバの場合の図及び画像。
【図16c】 図12cの図及び画像に対応するが、多重モード・ファイバの場合の図及び画像。
【図16d】 図12dの図及び画像に対応するが、多重モード・ファイバの場合の図及び画像。
【図17a】 図12aの図及び画像に対応するが、純粋シリカ・コアの単一モード・ファイバの場合の図及び画像。
【図17b】 図12bの図及び画像に対応するが、純粋シリカ・コアの単一モード・ファイバの場合の図及び画像。
【図17c】 図12cの図及び画像に対応するが、純粋シリカ・コアの単一モード・ファイバの場合の図及び画像。
【図17d】 図12dの図及び画像に対応するが、純粋シリカ・コアの単一モード・ファイバの場合の図及び画像。
Claims (12)
- 観察可能な量の光が発せられるような温度まで光ファイバの領域を加熱するステップと、
加熱中に発せられた光を第1の画像として記録するステップと、
前記光ファイバの長手方向にほぼ直角な線に沿う位置の関数として観察方向に見た前記線の全ての点から発せられた光の強度の値を含む第1の光強度プロフィールを前記第1の画像から決定するステップと、
この決定された第1の光強度プロフィールを解析するステップと、
前記決定された第1の光強度のプロフィールの導関数が計算され、この導関数が公知の異なる種類の複数の光ファイバについて以前決定された第1の光強度プロフィールの導関数と比較されることにより、前記決定された第1の光強度プロフィールを解析するステップと、
前記画像内において前記光ファイバのコアの画像を生成するために高解像度光学系を使用して未加熱状態にある前記光ファイバの領域の第2の画像を撮るステップと、
前記光ファイバの長手方向にほぼ直角な線に沿う位置の関数として観察方向に見た前記線の全ての点から発せられた光の強度の値を含む第2の光強度プロフィールを前記第2の画像から決定するステップと、
前記決定された第2の光強度プロフィールを前記公知の異なる種類の複数の光ファイバについて以前決定された第2の光強度プロフィールと比較するステップと、
前記画像が撮られた光ファイバに最も類似している公知の光ファイバの種類を発見するために前記第1と第2の光強度プロフィールの比較の結果を評価するステップと、
を有する光ファイバの種類を決定する方法。 - 前記第1の光強度プロフィールを決定するステップにおいて、円滑な画像を生成するために前記第1の画像の各点について局部平均(local mean)を計算することを特徴とする請求項1記載の方法。
- 前記決定された第1の光強度のプロフィールを解析するステップにおいて、前記決定された第1の光強度プロフィールは、前記導関数の計算前に低域フィルタを通されることを特徴とする請求項1記載の方法。
- 前記決定された第1の光強度プロフィールを解析するステップにおいて、前記決定された第1の光強度プロフィールの中央部のみの導関数が計算され、この導関数が前記公知の異なる種類の複数の光ファイバについて以前決定された第1の光強度プロフィールの対応中心部の導関数と比較されることを特徴とする請求項1記載の方法。
- 前記第2の光強度プロフィールを決定するステップにおいて、この決定の直後、次に比較される円滑な第2の光強度プロフィールを生成するために前記決定された第2の光強度プロフィールの各点について局部平均(local mean)を計算することを特徴とする請求項1記載の方法。
- 前記第2の光強度プロフィールを決定するステップにおいて、この決定の直後、前記決定された第2の光強度プロフィールは、比較前に低域フィルタを通されることを特徴とする請求項1記載の方法。
- 2本の光ファイバの内の第1の光ファイバの一端を前記2本の光ファイバの内の第2の光ファイバの一端と一直線上に整列するステップと、
前記第1の光ファイバの前記一端の端面を前記第2の光ファイバの端の端面に配置するために、前記第1の光ファイバの前記一端を移動するステップと、
前記2本の光ファイバの前記一端を互いに溶融するためにこれら2本の光ファイバの前記一端の領域を前記端面において加熱するステップと、
その領域の冷却を可能にするステップと、
を有する2本の光ファイバを互いに端部で継ぐ方法において、
請求項1から6までのいずれかの方法により前記2本の光ファイバが属する種類を決定するステップと、
前記決定された種類の光ファイバの継ぎ合わせのために前もって決定された前記第1の光ファイバの前記一端を移動するステップ及び(または)前記加熱するステップで使用される少なくとも1つの物理的パラメータを設定するステップと、
を更に有することを特徴とする方法。 - 前記加熱するステップで電弧が使用される時、前記物理的パラメータを設定するステップにおいて電極間を流れる電流の強度を設定されることを特徴とする請求項7記載の方法。
- 前記物理的パラメータを設定するステップにおいて、
前記領域の加熱期間を設定するステップと、
前記領域の加熱強度を設定するステップと、
オーバラップ距離を移動するステップを設定するステップと、
の少なくとも1つが行われることを特徴とする請求項8記載の方法。 - 観察可能な量の光が発せられるような温度まで光ファイバの領域を加熱する加熱手段と、
前記光ファイバの領域を投影する光学系と、
前記領域の加熱時に発せられて第1の画像として前記光学系により投影された光を記録する光検出手段と、
前記光ファイバの長手方向にほぼ直角な線に沿う位置の関数として観察方向に見た前記線の全ての点から発せられた光の強度の値を含む第1の光強度プロフィールを前記第1の画像から決定するための前記光検出手段に接続された決定手段と、
この決定された光強度のプロフィールを解析するために前記決定手段に接続された解析手段と、
前記決定された第1の光強度のプロフィールの導関数を計算する計算手段と、
前記第1の光強度のプロフィールの前記計算された導関数と公知の異なる種類の複数の光ファイバについて以前決定された光強度プロフィールの導関数とを比較するために前記計算手段に接続された比較手段と、
前記公知の異なる種類の複数の光ファイバの1本について前記計算された導関数は前記光ファイバの前記1本の光強度プロフィールの導関数からのずれが最も少ないということを前記比較手段により提供された信号が示す場合に、前記光ファイバは前記複数の光ファイバの前記1本の光ファイバと同一の種類であると決定するための前記比較手段に接続された決定手段と、を有し
前記光学系は高解像度で、前記生成された第2の画像内において前記光ファイバのコアの画像を生成するために、正しい設定の場合、未加熱状態にある前記光ファイバの領域の投影を可能にし、前記光検出手段は前記第2の画像をも記録し、
前記決定手段は、前記光ファイバの長手方向にほぼ直角な線に沿う位置の関数として観察方向に見た前記線の全ての点から発せられた光の強度の値を含む第2の光強度プロフィールを前記第2の画像から決定するように構成され、
前記比較手段は、前記決定された第2の光強度プロフィールを前記公知の異なる種類の複数の光ファイバについて以前決定された第2の光強度プロフィールと比較するように構成され、
前記決定手段は、前記第1と第2の画像が記録された光ファイバに最も類似している公知の光ファイバの種類を発見するために前記第1と第2の光強度のプロフィールの比較の結果を評価するように構成され、
ている光ファイバの種類を決定する装置。 - 前記比較手段は、前記公知の異なる種類の複数の光ファイバについての前記光強度プロフィールの導関数と、前記第1の光強度プロフィールの前記計算された導関数との差を表す値を計算するように構成され、
前記決定手段は、前記公知の異なる種類の複数の光ファイバの前記1本についての前記光強度プロフィールの導関数と前記第1の光強度プロフィールの前記計算された導関数との差を表す計算値を閾値に比較するように構成され、前記計算値が前記閾値より大きくない場合には前記光ファイバが前記光ファイバの前記1本と同一の種類であると決定するだけであることを特徴とする請求項10記載の装置。 - 2本の光ファイバの内の第1の光ファイバの一端を前記2本の光ファイバの内の第2の光ファイバの一端と一直線上に整列する整列手段と、
前記第1の光ファイバの前記一端の端面を前記第2の光ファイバの端の端面に配置するために、前記第1の光ファイバの前記一端を移動する移動手段と、
前記2本の光ファイバの前記一端を互いに溶融するためにこれら2本の光ファイバの前記一端の領域を前記端面において加熱する加熱手段と、
を有する2本の光ファイバを互いに端部で継ぐスプライサにおいて、
請求項10から11までのいずれかによる前記2本の光ファイバが属する種類を決定する装置と、
この種類を決定する装置に接続されて継ぎ前に継がれる光ファイバの種類を決定し、この決定された種類に合う物理的パラメータの値の少なくとも1つの値を見つけ、この見つけられた値を使用するために前記整列手段、移動手段、加熱手段のそれぞれを制御するよう前記決定手段に命令する制御手段と、
を有することを特徴とするスプライサ。
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---|---|---|---|---|
SE525441C2 (sv) * | 2002-12-04 | 2005-02-22 | Ericsson Telefon Ab L M | Bestämning av modfältsdiameter och skarvningsförlust för optiska fibrer |
DE102004054805A1 (de) * | 2004-11-12 | 2006-05-24 | CCS Technology, Inc., Wilmington | Verfahren zur Bestimmung der Exzentrizität eines Kerns eines Lichtwellenleiters sowie Verfahren und Vorrichtung zum Verbinden von Lichtwellenleitern |
KR100624256B1 (ko) * | 2005-01-13 | 2006-09-19 | 엘에스전선 주식회사 | 투명한 튜브의 외경과 내경을 측정하기 위한 장치 및 방법 |
DE102005020622A1 (de) * | 2005-05-03 | 2006-11-16 | CCS Technology, Inc., Wilmington | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Lage eines Faserkerns in einer optischen Faser |
SE530730C2 (sv) * | 2005-12-30 | 2008-08-26 | Ericsson Telefon Ab L M | Inriktning av optiska fibrer vid dessas skarvning |
SE530854C2 (sv) * | 2005-12-30 | 2008-09-30 | Ericsson Telefon Ab L M | Inriktning av optiska fibrer vid dessas skarvning |
DE102006031078A1 (de) * | 2006-07-05 | 2008-01-10 | CCS Technology, Inc., Wilmington | Verfahren zum Betreiben einer Vorrichtung zum Spleißen von Lichtwellenleitern |
US20080073485A1 (en) * | 2006-09-25 | 2008-03-27 | Robert Jahn | Visual inspection of optical elements |
US8998511B2 (en) * | 2008-07-08 | 2015-04-07 | Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) | Cladding alignment for fusion splicing optical fibers |
EP2148228A1 (en) * | 2008-07-22 | 2010-01-27 | CCS Technology, Inc. | Method for operating an apparatus for connecting optical waveguides and apparatus |
WO2010039951A1 (en) * | 2008-10-01 | 2010-04-08 | Afl Telecommunications Llc | Method of aligning polarization-maintaining optical fiber by image profile analysis |
US8797518B2 (en) * | 2010-10-07 | 2014-08-05 | At&T Intellectual Property I, L.P. | Identifiable visible light sources for fiber optic cables |
KR101181895B1 (ko) | 2011-04-26 | 2012-09-11 | 주식회사 옵텔콤 | 다파장의 광원을 이용하는 광섬유 융착 접속 장치 및 융착 접속 방법 |
US8909039B2 (en) * | 2013-03-07 | 2014-12-09 | International Business Machines Corporation | Optical cable testing and management |
KR20230162953A (ko) | 2021-03-31 | 2023-11-29 | 스미토모 덴코 옵티프론티어 가부시키가이샤 | 융착 접속 장치 및 코어 위치 특정 방법 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62208008A (ja) * | 1986-03-10 | 1987-09-12 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光フアイバ融着接続状態判別方法 |
JPS63197905A (ja) * | 1987-02-12 | 1988-08-16 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光フアイバのコア検出方法 |
JPH0821923A (ja) * | 1994-07-05 | 1996-01-23 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 光ファイバ融着接続装置 |
JPH095207A (ja) * | 1995-06-21 | 1997-01-10 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 異径コア光ファイバの融着接続部の評価方法 |
JPH09138319A (ja) * | 1995-11-14 | 1997-05-27 | Fujikura Ltd | 光ファイバの融着接続方法およびその装置 |
JPH10267790A (ja) * | 1997-03-28 | 1998-10-09 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 光ファイバのコア径測定方法 |
JPH11326682A (ja) * | 1998-03-18 | 1999-11-26 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 光ファイバ観察用画像処理装置とそれに用いられる入力処理回路 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4027977A (en) * | 1975-12-17 | 1977-06-07 | Western Electric Company, | Method and apparatus for determining ratio of core radius to cladding radius in clad optical fibers |
US4882497A (en) * | 1986-08-15 | 1989-11-21 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method and apparatus of measuring outer diameter and structure of optical fiber |
US5176731A (en) * | 1987-06-10 | 1993-01-05 | U.S. Philips Corp. | Device for performing measurements on a transparent object, method of manufacturing a fiber and fiber manufactured by means of said method |
US5365329A (en) * | 1988-11-15 | 1994-11-15 | York Technology Limited | Apparatus and method for measuring refractive index |
SE502563C2 (sv) * | 1994-03-08 | 1995-11-13 | Ericsson Telefon Ab L M | Sätt och anordning för att skarva optiska fibrer, samt användning av sättet för framställning av en skarv med förutbestämd dämpning |
SE505771C2 (sv) * | 1994-10-24 | 1997-10-06 | Ericsson Telefon Ab L M | Förfarande och anordning för bestämning av avståndet mellan kärnor i en optisk fiber samt användning av förfarandet respektive anordningen |
SE516153C2 (sv) * | 1997-02-14 | 2001-11-26 | Ericsson Telefon Ab L M | Förfarande och anordning vid hopsvetsning av optiska fibrer |
SE511805C2 (sv) * | 1997-02-14 | 1999-11-29 | Ericsson Telefon Ab L M | Förfarande och anordning för bestämning av hopsmältningsström för hopsvetsning av optiska fibrer, samt användning av förfarandet respektive anordningen |
SE511820C2 (sv) * | 1997-05-23 | 1999-11-29 | Ericsson Telefon Ab L M | Anordning för hopsvetsning av optiska fibrer |
DE19737410A1 (de) * | 1997-08-27 | 1999-03-04 | Siemens Ag | Verfahren sowie Vorrichtung zur Gewinnung von Informationen über mindestens ein Lichtleitfaserende |
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62208008A (ja) * | 1986-03-10 | 1987-09-12 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光フアイバ融着接続状態判別方法 |
JPS63197905A (ja) * | 1987-02-12 | 1988-08-16 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光フアイバのコア検出方法 |
JPH0821923A (ja) * | 1994-07-05 | 1996-01-23 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 光ファイバ融着接続装置 |
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JPH10267790A (ja) * | 1997-03-28 | 1998-10-09 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 光ファイバのコア径測定方法 |
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