JPH1170079A - 眼科装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 角膜厚み分布を測定して表示できる眼科装置
を提供すること。 【解決手段】被検眼Ｅの角膜Ｃの厚みを光学的に非接触
で測定する角膜厚測定回路９２と、被検眼Ｅの視線を任
意に誘導する固視標光学系８０とを有し、固視標光学系
８の固視標提示位置と角膜厚測定回路９２によって得ら
れた測定値を合成し角膜厚み分布を算出する厚み分布合
成演算回路９３と、厚み分布合成演算回路９３により合
成された角膜厚み分布を表示させる画面１７を有する眼
科装置。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、非接触で被検眼の角膜
の厚みの測定が可能な眼科装置、例えば、パコメータ
ー、角膜厚み測定機能が付加された角膜内皮細胞撮影装
置等の眼科装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、厚み測定が可能な眼科装置として
は特開平６−３２７６３４号が知られている。この眼科
装置では、被検眼に対して斜め方向からスリット光を投
影し、その反射光を被検眼光軸に対して略対称な方向か
ら受光して、角膜内皮細胞を含んだ角膜反射像を観察・
撮影する。また、角膜内皮細胞像の観察・撮影と共に、
その角膜内皮細胞像の一部をハーフミラー等により分割
し、角膜表面での反射光と角膜裏面での反射光による光
像を一次ラインセンサー等により受光してその像間隔を
測定し、その値を基に被検眼角膜の厚みを求めている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】一般に、角膜疾患の初
期症状として浮腫等の厚みの変化が知られている。ま
た、近年PRKやLASICのような屈折矯正手術が行われるよ
うになり、角膜厚み分布を測定したいとの要求が高まっ
てきている。しかし、この従来の眼科装置では決まった
位置の厚みを測定するのみで、全体の厚み分布を容易に
知ることができないという問題点が存在した。

【０００４】本発明は、上記事情に鑑みて為されたもの
で、角膜厚み分布を測定して表示できる眼科装置を提供
することを目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、請求項１の発明は、被検眼の角膜の厚みを光学的に
非接触で測定する角膜厚み測定手段と、被検眼の視線を
誘導する指標提示手段とを有し、前記指標提示手段の提
示位置と前記角膜厚み測定手段によって得られた測定値
を合成し角膜厚み分布を算出する角膜厚み分布合成手段
と、前記角膜厚み分布合成手段により合成された角膜厚
み分布を表示させる表示手段を有する眼科装置としたこ
とを特徴とする。

【０００６】請求項２の発明は、前記被検眼に対して斜
め方向よりスリット光を投影するスリット光投影手段
と、その反射光を被検眼光軸に対してほぼ対称な方向か
ら受光して、角膜内皮細胞を含んだ角膜反射像を観察・
撮影する観察・撮影手段を有し、前記角膜厚み分布と共
に前記角膜内皮細胞像を前記表示手段に表示させる様に
したことを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。

【０００７】請求項３の発明は、前記角膜厚み分布合成
手段は、前記角膜厚み分布から厚さ変化を表す角膜断面
を表示手段に表示させることを特徴とする。

【０００８】請求項４の発明は、被検眼の角膜の厚みを
光学的に非接触で測定する角膜厚み測定手段と、被検眼
の視線を誘導する指標提示手段とを有し、前記指標提示
手段の提示位置と前記角膜厚み測定手段によって得られ
た測定値を合成して角膜厚み分布を算出する角膜厚み分
布合成手段と、前記角膜厚み分布合成手段により合成さ
れた角膜厚み分布から厚さ変化を表す角膜断面を表示さ
せる表示手段とを備えることを特徴とする。

【０００９】請求項５の発明は、前記角膜厚み分布合成
手段は、眼屈折力矯正の為に、前記表示手段に表示され
た角膜断面の最小厚みと角膜切削手術の条件とから、前
記角膜断面の切削可能深を求めて、切削可能深を前記角
膜断面と重ねて表示手段に表示させることを特徴とす
る。

【００１０】請求項６の発明は、眼屈折力矯正の為に前
記被検眼角膜の切削量を入力する入力手段を有すると共
に、前記角膜厚さ合成手段は前記入力手段で入力される
切削量を前記表示手段に表示された前記角膜断面に重ね
て表示させることを特徴とする。

【００１１】請求項７の発明は、前記被検眼の屈折度数
を入力する入力手段を有すると共に、前記角膜厚さ合成
手段は、眼屈折力矯正のために前記入力手段で入力され
る屈折度数と前記角膜厚さ分布から前記被検眼角膜の切
削量を求めて、この求めた切削量を前記角膜断面に重ね
て前記表示手段に表示させることを特徴とする。

【００１２】

【発明の実施の形態】図１、図２は本発明に係わる眼科
装置としての角膜厚み測定機能付き角膜内皮細胞撮影装
置の光学系を示している。

【００１３】図１、図２において、装置Ｓは被検眼Ｅの
前眼部を観察するための前眼部観察光学系１０、ＸＹ方
向のアライメント検出を行なうための視標光を被検眼Ｅ
の角膜Ｃに投影するための視標投影光学系２０、アライ
メント視標光の角膜Ｃによる反射光を受光して装置Ｓと
角膜Ｃの相対位置を検出するＸＹアライメント検出光学
系３０を有する。

【００１４】また、装置Ｓは、角膜内皮細胞を投影する
ためのスリット光を角膜Ｃに対して斜めから照射する撮
影用照明光学系（スリット光投影手段）４０、Ｚ方向の
アライメント検出及び角膜厚測定用のスリット光を角膜
Ｃに対して斜めから照射するＺアライメント検出用の照
明光学系５０を有する。

【００１５】更に、装置Ｓは、撮影用の照明光学系４０
と被検眼光軸に関して略対称な位置に設けられて撮影用
照明光学系４０により照射されたスリット光の角膜Ｃに
よる反射光を受光することにより角膜内皮細胞像を撮影
する撮影光学系（観察・撮影手段）６０、照明光学系５
０により照射されたスリット光の角膜Ｃによる反射光を
受光してＺ方向のアライメント検出及び角膜厚み測定の
ための角膜像を受像するＺアライメント用の検出光学系
（アライメント検出手段）７０、被検眼Ｅに固視像を提
供する固視標光学系（視標提示手段）８０を備えてい
る。

【００１６】前眼部観察光学系１０は、被検眼Ｅの左右
に位置して前眼部を直接赤外光にて照明する複数個の前
眼部照明光源１１、ハーフミラー１４、遮光板１５、Ｃ
ＣＤカメラ１６を備え、Ｏ１はその光軸である。前眼部
照明光源１１によって照明された被検眼Ｅの前眼部像は
ハーフミラー１２、対物レンズ１３、ハーフミラー１４
を経て、ＣＣＤカメラ１６に導かれる。遮蔽板１５は前
眼部観察時は光路上から退避され、角膜内皮細胞撮影時
には光路中に挿入される。

【００１７】視標投影光学系２０は、赤外光を射出する
光源２１、集光レンズ２２、開口絞り２３、視標を形成
するピンホール板２４、ダイクロイックミラー２５、ピ
ンホール２４に焦点を一致させるようにして光路上に配
置された投影レンズ２６、ハーフミラー１２を有する。
光源２１から射出された赤外光は、集光レンズ２２によ
り集光されつつ開口絞り２３を通過してピンホール２４
に導かれる。ピンホール２４を通過した光束はダイクロ
イックミラー２５で反射され、投影レンズ２６によって
平行光束Ｋとなり、ハーフミラー１２で反射されて角膜
Ｃに導かれる。角膜Ｃに投影された視標光は、図３に示
すように角膜Ｃの曲率中心Ｏ２との中間位置に輝点像Ｒ
を形成するようにして角膜表面Ｔで反射される。尚、開
口絞り２３は投影レンズ２６に関して角膜頂点Ｐと共役
な位置に設けられている。

【００１８】ＸＹアライメント検出光学系３０は、ハー
フミラー１２、対物レンズ１３、ハーフミラー１４、ア
ライメントセンサ３１を有する。視標投影光学系２０に
より角膜Ｃに投影され輝点像Ｒを形成するように反射さ
れた視標光は、ハーフミラー１２を透過し対物レンズ１
３で集束されつつハーフミラー１４でその一部が反射さ
れてアライメントセンサ３１上に輝点像Ｒの像Ｒ´を形
成する。

【００１９】アライメントセンサ３１はＰＳＤ等の位置
検出が可能な受光素子である。このアライメントセンサ
３１の出力はＸ−Ｙアライメント検出回路９１ａに入力
される。そして、Ｘ−Ｙアライメント検出回路９１ａ
は、アライメントセンサ３１の出力に基づき装置Ｓと角
膜Ｃの相対位置（ＸＹ方向）を演算する。

【００２０】一方、ハーフミラー１４を透過した角膜反
射光束はＣＣＤカメラ１６に導かれて輝点像Ｒ´´を形
成する。ＣＣＤカメラ１６はモニタ装置に画像信号を出
力し、図４に示すように被検眼Ｅの前眼部像Ｅ´、輝点
像Ｒ´´がモニタ装置（画像表示装置）の画面（表示手
段）１７に表示される。尚、符号１８は図示しない画像
生成手段によって生成されたアライメント許容範囲を示
すマークである。検者はこの画面を観察しつつ、輝点像
Ｒ´´がマーク１８内に入ってピントが合うように被検
眼Ｅに対して装置Ｓを移動させることによりアライメン
トを行なう。

【００２１】撮影用照明光学系４０は、キセノンランプ
からなる撮影用照明光源４１、集光レンズ４２、スリッ
ト４３、可視光を透過し赤外光を反射するダイクロイッ
クミラー４４、開口絞り４５、対物レンズ４６を有し、
Ｏ３はその光軸である。撮影時に、撮影用照明光源４１
から射出された可視光は集光レンズ４２により集光され
てスリット４３に導かれ、ダイクロイックミラー４４を
透過し、開口絞り４５を通過して、対物レンズ４６によ
り角膜Ｃに導かれ、その角膜Ｃが横断照明される。

【００２２】図５（ａ）は、照明光学系４０により投影
されたスリット光束の角膜Ｃにおける反射状態を示し、
スリット光束の一部は空気と角膜Ｃとの境界面である角
膜表面Ｔにおいてまず反射される。また、角膜表面Ｔを
透過した光束の一部は角膜内皮細胞面Ｎで反射される。
角膜表面Ｔからの反射光束Ｔ´の光量が最も大きく、角
膜内皮細胞面Ｎからの反射光束Ｎ´の光量は相対的に小
さく、角膜実質Ｍからの反射光束Ｍ´の光量が最も小さ
い。

【００２３】Ｚアライメント検出用の照明光学系５０
は、赤外光を射出する光源５１、集光レンズ５２、スリ
ット５３、ダイクロイックミラー４４、開口絞り４５、
対物レンズ４６を有する。光源５１から射出された赤外
光は、集光レンズ５２で集束されつつスリット５３を通
過する。その通過光束はダイクロイックミラー４４で反
射され、開口絞り４５を通過して対物レンズ４６により
集束され、角膜Ｃに導かれる。照明光学系５０により投
影されたスリット光束と同様に、図５（ａ）に示すよう
に反射される。

【００２４】撮影光学系６０は、対物レンズ６１、赤外
光を反射しかつ可視光を透過するダイクロイックミラー
６２、マスク６３、ミラー６４、リレーレンズ６５、遮
光板６６、前眼部観察光束の妨げとならない位置に配設
されると共に物面側（被検眼Ｅ側）の傾斜角θと同一角
をもって傾斜するミラー６７、ＣＣＤカメラ１６を有
し、Ｏ４はその光軸である。

【００２５】撮影用照明光学系４０から射出されかつ角
膜Ｃによって反射された可視光反射光束は、対物レンズ
６１により集光されつつダイクロイックミラー６２を透
過してマスク６３上に一度角膜内皮細胞像として結像さ
れる。角膜内皮細胞像を形成する以外の余分の反射光束
はこのマスク６３により遮蔽され、マスク６３を通過し
た角膜内皮細胞像を形成する反射光束はミラー６４で反
射され、リレーレンズ６５により集光されつつミラー６
７に導かれかつ反射されて、ＣＣＤカメラ１６はモニタ
装置に画像信号を出力し、モニタ装置の画面１７には図
５（ｂ）に示すように角膜内皮細胞像６８ａが表示され
る。

【００２６】この図５（ｂ）において、破線で示す６８
ｂはマスク６３によって遮蔽されないとしたら角膜表面
Ｔからの反射光束Ｔ´により形成される光像である。こ
の図５（ｂ）において、斜線部分はマスク６３によって
遮蔽された部分である。尚、遮蔽板６６は角膜内皮細胞
撮影時は光路上から退避されていて、前眼部観察時には
光路中に挿入される。

【００２７】固視標光学系８０は、可視光を射出する固
視標用光源８１、ピンホール８２、ダイクロイックミラ
ー２５を透過し投影レンズ２６により平行光束とされた
後、ハーフミラー１２に反射される。被検者は、このハ
ーフミラー１２に反射された固視標光を固視目標とする
ことにより視線が固定される。

【００２８】この固視標用光源８１は複数配置されてい
て、複数の固視標用光源８１の点灯位置は固視標提示回
路９４により制御される様になっている。また、ピンホ
ール８２は複数の固視標用光源８１に対応してそれぞれ
設けられ、この複数の固視標用光源８１とピンホール８
２は厚み分布測定の際には順次点灯制御されて、被検眼
の視線を誘導する。また、このとき図示しない公知の手
段により被検眼の視線検出を行い、検出される信号によ
り被検眼Ｅの測定部位検出の際に補正を行えば、より高
精度の厚み分布測定が可能となる。

【００２９】図２（ｂ），（ｃ）が、上述の複数の固視
標用光源８１の配置例を示したものである。そして、図
２（ｂ）は複数の固視標用光源８１を升目（碁盤の目）
状に配列した例を示し、図２（ｃ）は複数の固視標用光
源８１を放射状に配列した例を示したものである。

【００３０】Ｚアライメント用検出光学系７０は、対物
レンズ６１、ダイクロイックミラー６２、合焦検出セン
サ７１を有する。照明光学系５０により投光されたスリ
ット光の角膜Ｃによる反射光は、対物レンズ６１により
集束されつつダイクロイックミラー６２に導かれかつ反
射され、合焦検出センサ７１上に結像され、合焦検出セ
ンサ７１の検出信号（出力信号）はＺアライメント検出
回路９１ｂに入力される。

【００３１】この合焦検出センサ７１はラインセンサ等
の光量分布が検出可能な受光素子である。この合焦検出
センサ７１上には図６（ａ）に示す光像が形成され、そ
の光量分布は図６（ｂ）のようになる。その図６（ａ）
において、符号７２は角膜表面Ｔにおいて反射された光
束Ｔ´の光像であり、符号７３は角膜内皮細胞面Ｎで反
射された光束Ｎ´の光量のピーク位置７３´である。こ
のピーク位置７３´は、合焦センサ７１からの出力信号
を基にＺアライメント検出回路９１ｂにより検出され
る。この検出されたピーク位置７３´が角膜内皮細胞の
位置となる。尚、この角膜内皮細胞面Ｎの位置検出方法
の詳細は特開平６−３２７６３７４号公報に記載されて
いるのでその詳細な説明は省略する。

【００３２】角膜厚測定回路（角膜厚み測定手段）９２
は、合焦位置検出センサ７１の出力に基づき光束Ｔ´の
光量のピーク位置７２´と光束Ｎ´の光量のピーク位置
７３´との間の間隔Ｋ（図６（ｂ）を参照）を検出す
る。そして、この検出結果の出力に基づき、結像倍率Ｍ
をパラメータとして、ピーク位置７２´、７３´を合焦
位置検出センサ７１と対物レンズ６１に関して共役な面
７１´に射影した点Ｑ３、Ｑ４の間隔Ｋ´を求める。そ
して、このＫ´から傾斜角θや角膜の屈折率等をパラメ
ータとして角膜厚Ｄを演算する。

【００３３】Ｘ−Ｙアライメント検出回路９１ａで求め
られた装置Ｓと角膜Ｃの相対位置（ＸＹ方向）の情報、
Ｚアライメント検出回路９１ｂにより検出されたピーク
位置７３´（角膜内皮細胞の位置）の情報、及び角膜厚
測定回路９２により算出される角膜厚みＤの情報が厚み
分布合成演算回路（角膜厚み分布測定手段）９３に入力
される様になっている。また、この厚み分布合成演算回
路９３には固視標提示回路９４からの固視標提示位置の
情報が入力されるようになっている。

【００３４】次に、この角膜厚さの測定及び角膜内皮細
胞の撮影の具体的手順を述べる。

【００３５】まず、装置Ｓの電源を投入すると、図示し
ない演算制御回路は光源１１、２１、５１、８１を点灯
させる。検者はモニタ装置の画面を観察しながらアライ
メントを行い、装置Ｓと被検眼Ｅが所定位置関係になる
と、つまり、アライメントセンサ３１、合焦検出センサ
７１による出力が所定範囲内で検出されると、自動的に
角膜厚みの測定が行われる。そして、図示しない演算制
御回路は、この角膜厚さの測定が行われた後、光源１
１、２１、５１、８１を消灯し、光源４１を発光させ、
角膜内皮細胞の撮影を行う。この様な角膜厚さの測定及
び角膜内皮細胞の撮影は、複数の固視標８１を順に点灯
して、各位置で行う。

【００３６】このとき、角膜厚み測定回路９２により算
出される角膜厚みＤとＸＹアライメント検出回路９１
ａ、Ｚアライメント検出回路９１ｂによる装置Ｓと被検
眼Ｅの相対位置情報、固視標提示回路９４による固視標
提示位置の情報が厚み分布合成演算回路９３に入力され
る。そして、これらの情報を基に厚み分布合成演算回路
９３は、厚み計測位置の特定及び計測された厚みＤの合
成を行い、角膜厚み分布をモニタ装置の画面１７やプリ
ンタ（図示せず）に出力する。

【００３７】即ち、厚み分布合成演算回路９３は、上述
した各情報を基に、図８（ｂ）に示した角膜厚さの分布
線ａ１，ａ２，…ａｎからなる角膜厚さ分布線図１００
をモニタ装置の画面１７に表示させる。また、厚み分布
合成演算回路９３は、図８（ｂ）に示した角膜厚さの分
布から、例えば断面位置表示線Ｈの位置における角膜の
断面の厚さを図８（ａ）の様に画面１７に表示させる。
この断面位置表示線Ｈは図示しないキー操作により被検
眼の瞳孔中心を中心として回転できるようにすると共
に、各回転位置における角膜厚さの断面を図８(b)の様
に表示させるようにすることもできる。

【００３８】ここで、厚み分布合成回路９３は、眼屈折
力矯正の為に、モニタ装置（表示手段）の画面１７に表
示された角膜断面の最小厚みと角膜切削手術の条件とか
ら、角膜断面の切削可能深Ｈを求めて、切削可能深Ｈを
一点鎖線で示した様に角膜断面と重ねて画面１７に表示
させる様になっている。ここで、角膜切削手術の条件と
しては、放射状角膜切開（ＲＫ）や、角膜切除（ＡＬ
Ｋ，ＬＡＳＩＫ，ＰＲＫ）等がある。

【００３９】しかも、図示は省略したが、眼屈折力矯正
の為の被検眼角膜の切削量や、被検眼の屈折度数等その
他を入力するキーボードやマウス、ライトペン等の入力
手段が設けられている。そして、被検眼の眼屈折力の検
査結果に基づいた処方箋に従って、被検眼の矯正屈折力
が「０」ディオプターとなる切削量（切削深さ）を入力
手段により入力することにより、この入力された切削量
に基づき厚み分布合成回路９３が破線で示した様に画面
１７上の角膜断面に屈折力矯正のための切削深さ位置ｈ
を重ねて表示させるようになっている。

【００４０】また、厚み分布合成回路（角膜厚さ合成手
段）９３は、眼屈折力矯正のために上述の入力手段で入
力される屈折度数と角膜厚さ分布から「被検眼の矯正屈
折力が「０」ディオプターとなる切削量（切削深さ）」
を求めて、この求めた切削量を画面１７の角膜断面に重
ねて表示させることもできる様になっている。

【００４１】しかも、角膜断面における光軸Ｏ上に角膜
表面からの深さを表す目盛Ｍを付すことで、角膜表面か
ら切削可能深Ｈや切削深さ位置ｈまでの距離を視覚的に
容易に知ることができる。更に、この切削深さ位置ｈは
キーボードのカーソルキーやマウス等で左右に移動させ
ることができ、しかも、厚み分布合成回路９３は、切削
深さ位置ｈの左右への移動に伴い画面１７に表示させた
矯正屈折力の表示値も自動的に求めて変更する様になっ
ている。従って、切削深さ位置ｈが切削可能深Ｈよりも
角膜内皮側にある場合には、矯正屈折力が「０」ディオ
プターより低下しても切削深さ位置ｈを切削可能深Ｈよ
りも右側に移動させて、角膜表面の切削手術の後の被検
眼の安全を図る深さを容易に求めることができる。

【００４２】尚、図８(a)において、Ｃｂは角膜Ｃの裏
面位置を示し、Ｃｆは角膜Ｃの表面位置を示す。そし
て、本実施例では、説明の便宜上、角膜Ｃの裏面Ｃｂの
曲率が一定であるとして、即ち裏面Ｃｂの半径が一定で
あるとして、表面Ｃｆの位置を表示させているが、上述
した各情報を基に裏面Ｃｂや表面Ｃｆの位置を正確に表
示させてもよい。

【００４３】また、この様な角膜厚み分布の表示の際、
同時に角膜内皮細胞撮影像の合成を行って画面１７に同
時に表示させることにより、角膜厚み分布と合わせ総合
的な診断が可能となる。即ち、角膜厚み分布Ｆｃの画面
１７への表示に際しては、図９，図１０に示した様に、
角膜内皮細胞数の分布線図１００及び各位置Ｐ１〜Ｐ９
における角膜内皮細胞像ｂ１〜ｂ９及び細胞数表示部ｃ
１〜ｃ９と共に行うとよい。このことにより、被検眼の
切開手術部位ＯＰがある場合は、この切開手術部位ＯＰ
に対応する部分の角膜内皮細胞数は例えばｃ８，ｃ９に
示した様に急激に減少している部分が容易に分かる。

【００４４】そして、単位面積あたりの角膜内皮細胞数
が１０００個以下に減少した場合には、角膜内皮細胞の
面積が大きくなっているために、この状態で角膜表面の
切開や切除（切削即ち蒸散）を行うと、角膜内皮細胞に
好ましくない。従って、上述のように角膜厚さに角膜内
皮細胞数を同時に表示させることで、角膜表面の切開や
切除（切削即ち蒸散）等の手術を行うことができるか否
かの判断と、手術ができる場合には角膜表面の切削深さ
ｈや切削可能深Ｈ等とを同時にできることになる。

【００４５】尚、各位置Ｐ１〜Ｐ９における角膜内皮細
胞像ｂ１〜ｂ９の細胞数は、例えば次のようにして求め
る。即ち、画面１７の下部に例えば細胞数が１０００，
２０００，３０００，４０００のサンプルＳ１，Ｓ２，
Ｓ３，Ｓ４を表示させる一方、各位置Ｐ１〜Ｐ９やこれ
に対応する細胞数表示部部ｃ１〜ｃ９を反転表示（斜線
で示した部分）させて、角膜内皮細胞像ｂ１〜ｂ９のう
ち反転表示に対応する角膜内皮細胞像Ｐi（本例ではＰ
９）をサンプルＳ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４の上側に拡大表
示させてサンプルＳ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４と比較できる
ようにする。この比較により、角膜内皮細胞像ｂ１〜ｂ
９の細胞数を求める。この比較は、角膜内皮細胞像の細
胞の大きさがサンプルＳ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４のいずれ
に最も近いかで判断する。この様にして求めた細胞数は
スイッチやキー操作等で細胞表示部部ｃ１〜ｃ９に入力
できるようにする。

【００４６】ここで、この角膜内皮細胞像Ｐiをサンプ
ルＳ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４に沿って左右に移動操作可能
に設けることにより、より容易に角膜内皮細胞像（本例
ではＰ９）をサンプルＳ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４と比較で
きる。しかも、サンプルＳ１からＳ４に沿って移動させ
ることにより、細胞数表示部ｃ１〜ｃ９の選択されたも
のの値が自動的に無段階或は段階的に順次大きくなるよ
うにし、サンプルＳ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４等間の中間値
も細胞数表示部ｃ１〜ｃ９に表示できるようにしてもよ
い。この場合、この細胞数の値の設定は設定キー（図示
せず）により行うとよい。

【００４７】更に、計測される角膜厚み分布からは、公
知の角膜前面曲率半径計測手段を設けることにより角膜
裏面の曲率半径が計測可能であり、角膜の総合診断の
他、より正確な眼屈折力の測定も可能となる。

【００４８】この様にして、角膜厚みの分布、角膜内皮
細胞像の細胞数やその分布を求めて画面１７に表示させ
ることにより、被検眼の屈折力の矯正手術のため、角膜
表面をレーザーで切り取る手術の際のデータとすること
ができる。例えば、本実施例では、角膜厚さは中央で略
１mm程度あり周辺に向うに従って厚くなっていると共
に、角膜内皮細胞像の細胞数が３０００以上あるので、
被検眼の屈折力矯正のために角膜表面をレーザーで蒸散
させることが可能である。

【００４９】この場合、例えばレーザーのスポット径を
６φ或は８φ程度に設定して、このスポット径のレーザ
ーで被検眼角膜表面を所定深さまで切り取る場合に、こ
の切り取る範囲２００や切り取る深ｈさを、角膜表面の
曲率を考慮しながら図示しない演算制御回路により求め
させて、図１１(a)，(b)に示した様に表示させることが
できる。

【００５０】そして、この様にして求めたデータを基に
角膜表面を切りとった後に、再度上述したようにして角
膜厚さを測定して、図１１(a)，(b)に示した様な角膜厚
さや角膜厚み分布を画面１７に表示させ、実際の術後の
状態を確認することができる。更に、図１１(a)，(b)に
示した様な角膜厚さや角膜厚み分布を画面１７に表示さ
せる際には、眼内圧の日内変動、例えば朝，昼，夕の眼
内圧を画面１７に表示させるようにしても良い。この場
合には、日内における角膜厚みの僅かな変化と共に眼内
圧との関係を知ることができるので、見え方の変化と眼
内圧との関係を被検者毎に知ることができる。

【００５１】尚、以上説明した実施例では、図２(b)，
(c)に示した様な複数の固視目標光源８１を固視標提示
回路９４により点灯制御して、固視位置を変えながら、
各固視位置における被検眼角膜の厚さの測定や角膜内皮
細胞の撮影等を行うようにしている。この場合には、固
視位置を変えてから被検眼の固視状態が安定した後、そ
の位置での測定や撮影に時間がかかるので、必ずしも図
２(b)，(c)の多数の固視標光源８１を用いなくてもよ
い。例えば、一つの固視目標を被検眼に固視させて、被
検眼を固定しておき、装置全体又は一部をチルトスイン
グさせることにより、被検眼角膜の測定及び撮影のため
の位置を変えながら測定及び撮影を行うようにしても良
い。

【００５２】また、上述した実施例では、角膜内皮細胞
の細胞数をサンプルと比較することにより概算する様に
したが、撮影した角膜内皮細胞の細胞数をソフト的に自
動解析して自動的に求めるようにしても良い。

【００５３】更に、上述した構成において、複数の固視
目標光源８１のうち被検眼に提示した固視目標光源の位
置と被検眼が実際に固視している位置がズレることも考
えられる。従って、被検眼の視線検出を視線検出手段に
より行って、視線検出手段により検出される信号により
被検眼の測定部位検出の際に補正を行えば、より高精度
の厚み分布測定ができる。この場合の視線検出手段とし
ては、例えば、被検眼前眼部Ｅ´、及び、被検眼角膜か
らの輝点像Ｒ´´を画面１７に表示させると共に、被検
眼前眼部Ｅ´の瞳孔と輝点像Ｒ´´との位置関係をＣＣ
Ｄカメラ１６からの出力信号とアライメントセンサ３１
からの出力信号から解析させて、被検眼の固視位置を図
示しない演算制御回路（演算手段）により求めさせる様
にすることもできる。また、視線検出手段としては、周
知の構造のものを採用できる。

【００５４】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１の発明
は、被検眼の角膜の厚みを光学的に非接触で測定する角
膜厚み測定手段と、被検眼の視線を誘導する指標提示手
段とを有し、前記指標提示手段の提示位置と前記角膜厚
み測定手段によって得られた測定値を合成し角膜厚み分
布を算出する角膜厚み分布合成手段と、前記角膜厚み分
布合成手段により合成された角膜厚み分布を表示させる
表示手段を有する構成としたので、角膜厚み分布を測定
できると共に、角膜厚みの分布を容易に知ることがで
き、被検眼の眼屈折力の矯正のための手術のデータに用
いることができる。

【００５５】また、請求項２の発明は、前記被検眼に対
して斜め方向よりスリット光を投影するスリット光投影
手段と、その反射光を被検眼光軸に対してほぼ対称な方
向から受光して、角膜内皮細胞を含んだ角膜反射像を観
察・撮影する観察・撮影手段を有し、前記角膜厚み分布
と共に前記角膜内皮細胞像を前記表示手段に表示させる
様にしたので、角膜厚みと内皮細胞との関係を知ること
ができると共に、この関係を基に被検眼の眼屈折力の矯
正のための手術ができるか否かを知ることができる。

【００５６】請求項３の発明は、前記角膜厚み分布合成
手段は、前記角膜厚み分布から厚さ変化を表す角膜断面
を表示手段に表示させる構成としたので、角膜断面にお
ける厚さの変化を視覚的に知ることができる。

【００５７】請求項４の発明は、被検眼の角膜の厚みを
光学的に非接触で測定する角膜厚み測定手段と、被検眼
の視線を誘導する指標提示手段とを有し、前記指標提示
手段の提示位置と前記角膜厚み測定手段によって得られ
た測定値を合成して角膜厚み分布を算出する角膜厚み分
布合成手段と、前記角膜厚み分布合成手段により合成さ
れた角膜厚み分布から厚さ変化を表す角膜断面を表示さ
せる表示手段とを備える構成としたので、角膜断面にお
ける厚さの変化を視覚的に知ることができる。請求項５
の発明は、前記角膜厚み分布合成手段は、眼屈折力矯正
の為に、前記表示手段に表示された角膜断面の最小厚み
と角膜切削手術の条件とから、前記角膜断面の切削可能
深を求めて、切削可能深を前記角膜断面と重ねて表示手
段に表示させる構成としたので、矯正屈折力「０」ディ
オプターを得るために必要な角膜切削量をとることがで
きるか否かを容易に知ることができる。

【００５８】請求項６の発明は、眼屈折力矯正の為に前
記被検眼角膜の切削量を入力する入力手段を有すると共
に、前記角膜厚さ合成手段は前記入力手段で入力される
切削量を前記表示手段に表示された前記角膜断面に重ね
て表示させる構成としたので、角膜切削深さを視覚的に
知ることができる。

【００５９】請求項７の発明は、前記被検眼の屈折度数
を入力する入力手段を有すると共に、前記角膜厚さ合成
手段は、眼屈折力矯正のために前記入力手段で入力され
る屈折度数と前記角膜厚さ分布から前記被検眼角膜の切
削量を求めて、この求めた切削量を前記角膜断面に重ね
て前記表示手段に表示させる構成としたので、矯正屈折
力「０」ディオプターを得るために必要な角膜切削量を
自動的に求めて表示させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明に係わる眼科装置の光学系の要部構成
図であってその平面配置図である。

【図２】 本発明に係わる眼科装置の光学系の要部構成
図であってその側面配置図である。

【図３】 角膜に照射されたアライメント光束の反射の
説明図である。

【図４】 モニターの画面に表示された前眼部像を示す
図である。

【図５】 角膜に照射されるスリット光束と画面に表示
される角膜内皮細胞像の説明図であって、（ａ）は角膜
に照射されたスリット光束の反射の説明図、（ｂ）は画
面に表示された角膜内皮細胞像の説明図である。

【図６】 角膜からのスリット反射光束と合焦位置検出
センサとの位置関係を示す説明図であって、（ａ）はそ
の合焦位置検出センサに投影された反射光束の光像を示
す説明図、（ｂ）はその光量分布を示す図である。

【図７】 角膜厚みの補正を説明するための光束の入反
射関係を示す図であって、（ａ）は装置と被検眼とが理
想状態にある場合の説明図、（ｂ）は装置と被検眼とが
理想状態からΔＺだけｚ方向にずれている場合の説明図
である。

【図８】 (a)は(b)におけるＨ−Ｈ線における断面図、
(b)は被検眼の角膜厚み分布線図である。

【図９】 被検眼の角膜厚みの分布線と角膜厚み及び角
膜内皮細胞像等のモニターテレビの画面への表示例を示
す説明図である。

【図１０】 図９の要部拡大説明図である。

【図１１】 (a)は被検眼の眼屈折力矯正の為の角膜断
面における切削量を示す説明図、(b)は(a)の角膜切削範
囲を示す説明図である。

【図１２】 (a)は被検眼の角膜表面切削後における角
膜厚みを示す角膜断面の説明図、(b)は(a)の角膜切削範
囲を示す説明図である。

【符号の説明】

１７…画面（表示手段） ４０…撮影用の照明光学系（スリット光投影手段） ６０…撮影光学系（観察・撮影手段） ７０…アライメント検出光学系（アライメント検出手
段） ８０…固視標光学系（指標提示手段） ９２…角膜厚み測定回路（角膜厚み測定手段） ９３…厚み分布合成演算回路（角膜厚み分布測定手段） ９４…固視標提示回路 Ｃ…角膜 Ｄ…角膜厚み Ｅ…被検眼 Ｓ…装置

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被検眼の角膜の厚みを光学的に非接触で
   測定する角膜厚み測定手段と、被検眼の視線を誘導する
   指標提示手段とを有し、前記指標提示手段の提示位置と
   前記角膜厚み測定手段によって得られた測定値を合成し
   角膜厚み分布を算出する角膜厚み分布合成手段と、前記
   角膜厚み分布合成手段により合成された角膜厚み分布を
   表示させる表示手段を有することを特徴とする眼科装
   置。
2. 【請求項２】 前記被検眼に対して斜め方向よりスリッ
   ト光を投影するスリット光投影手段と、その反射光を被
   検眼光軸に対してほぼ対称な方向から受光して、角膜内
   皮細胞を含んだ角膜反射像を観察・撮影する観察・撮影
   手段を有し、前記角膜厚み分布と共に前記角膜内皮細胞
   像を前記表示手段に表示させる様にしたことを特徴とす
   る請求項１に記載の眼科装置。
3. 【請求項３】 前記角膜厚み分布合成手段は、前記角膜
   厚み分布から厚さ変化を表す角膜断面を表示手段に表示
   させることを特徴とする請求項１又は２に記載の眼科装
   置。
4. 【請求項４】 被検眼の角膜の厚みを光学的に非接触で
   測定する角膜厚み測定手段と、被検眼の視線を誘導する
   指標提示手段とを有し、前記指標提示手段の提示位置と
   前記角膜厚み測定手段によって得られた測定値を合成し
   て角膜厚み分布を算出する角膜厚み分布合成手段と、前
   記角膜厚み分布合成手段により合成された角膜厚み分布
   から厚さ変化を表す角膜断面を表示させる表示手段とを
   備えることを特徴とする眼科装置。
5. 【請求項５】 前記角膜厚み分布合成手段は、眼屈折力
   矯正の為に、前記表示手段に表示された角膜断面の最小
   厚みと角膜切削手術の条件とから、前記角膜断面の切削
   可能深を求めて、切削可能深を前記角膜断面と重ねて表
   示手段に表示させることを特徴とする請求項３又は４に
   記載の眼科装置。
6. 【請求項６】 眼屈折力矯正の為に前記被検眼角膜の切
   削量を入力する入力手段を有すると共に、前記角膜厚さ
   合成手段は前記入力手段で入力される切削量を前記表示
   手段に表示された前記角膜断面に重ねて表示させること
   を特徴とする請求項３〜５のいずれかひとつに記載の眼
   科装置。
7. 【請求項７】 前記被検眼の屈折度数を入力する入力手
   段を有すると共に、前記角膜厚さ合成手段は、眼屈折力
   矯正のために前記入力手段で入力される屈折度数と前記
   角膜厚さ分布から前記被検眼角膜の切削量を求めて、こ
   の求めた切削量を前記角膜断面に重ねて前記表示手段に
   表示させることを特徴とする請求項３〜５のいずれか一
   つに記載の眼科装置。