JPH1170079A - 眼科装置 - Google Patents
眼科装置Info
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- JPH1170079A JPH1170079A JP9234726A JP23472697A JPH1170079A JP H1170079 A JPH1170079 A JP H1170079A JP 9234726 A JP9234726 A JP 9234726A JP 23472697 A JP23472697 A JP 23472697A JP H1170079 A JPH1170079 A JP H1170079A
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Abstract
を提供すること。 【解決手段】被検眼Eの角膜Cの厚みを光学的に非接触
で測定する角膜厚測定回路92と、被検眼Eの視線を任
意に誘導する固視標光学系80とを有し、固視標光学系
8の固視標提示位置と角膜厚測定回路92によって得ら
れた測定値を合成し角膜厚み分布を算出する厚み分布合
成演算回路93と、厚み分布合成演算回路93により合
成された角膜厚み分布を表示させる画面17を有する眼
科装置。
Description
の厚みの測定が可能な眼科装置、例えば、パコメータ
ー、角膜厚み測定機能が付加された角膜内皮細胞撮影装
置等の眼科装置に関する。
は特開平6−327634号が知られている。この眼科
装置では、被検眼に対して斜め方向からスリット光を投
影し、その反射光を被検眼光軸に対して略対称な方向か
ら受光して、角膜内皮細胞を含んだ角膜反射像を観察・
撮影する。また、角膜内皮細胞像の観察・撮影と共に、
その角膜内皮細胞像の一部をハーフミラー等により分割
し、角膜表面での反射光と角膜裏面での反射光による光
像を一次ラインセンサー等により受光してその像間隔を
測定し、その値を基に被検眼角膜の厚みを求めている。
期症状として浮腫等の厚みの変化が知られている。ま
た、近年PRKやLASICのような屈折矯正手術が行われるよ
うになり、角膜厚み分布を測定したいとの要求が高まっ
てきている。しかし、この従来の眼科装置では決まった
位置の厚みを測定するのみで、全体の厚み分布を容易に
知ることができないという問題点が存在した。
で、角膜厚み分布を測定して表示できる眼科装置を提供
することを目的とする。
め、請求項1の発明は、被検眼の角膜の厚みを光学的に
非接触で測定する角膜厚み測定手段と、被検眼の視線を
誘導する指標提示手段とを有し、前記指標提示手段の提
示位置と前記角膜厚み測定手段によって得られた測定値
を合成し角膜厚み分布を算出する角膜厚み分布合成手段
と、前記角膜厚み分布合成手段により合成された角膜厚
み分布を表示させる表示手段を有する眼科装置としたこ
とを特徴とする。
め方向よりスリット光を投影するスリット光投影手段
と、その反射光を被検眼光軸に対してほぼ対称な方向か
ら受光して、角膜内皮細胞を含んだ角膜反射像を観察・
撮影する観察・撮影手段を有し、前記角膜厚み分布と共
に前記角膜内皮細胞像を前記表示手段に表示させる様に
したことを特徴とする請求項1に記載の眼科装置。
手段は、前記角膜厚み分布から厚さ変化を表す角膜断面
を表示手段に表示させることを特徴とする。
光学的に非接触で測定する角膜厚み測定手段と、被検眼
の視線を誘導する指標提示手段とを有し、前記指標提示
手段の提示位置と前記角膜厚み測定手段によって得られ
た測定値を合成して角膜厚み分布を算出する角膜厚み分
布合成手段と、前記角膜厚み分布合成手段により合成さ
れた角膜厚み分布から厚さ変化を表す角膜断面を表示さ
せる表示手段とを備えることを特徴とする。
手段は、眼屈折力矯正の為に、前記表示手段に表示され
た角膜断面の最小厚みと角膜切削手術の条件とから、前
記角膜断面の切削可能深を求めて、切削可能深を前記角
膜断面と重ねて表示手段に表示させることを特徴とす
る。
記被検眼角膜の切削量を入力する入力手段を有すると共
に、前記角膜厚さ合成手段は前記入力手段で入力される
切削量を前記表示手段に表示された前記角膜断面に重ね
て表示させることを特徴とする。
を入力する入力手段を有すると共に、前記角膜厚さ合成
手段は、眼屈折力矯正のために前記入力手段で入力され
る屈折度数と前記角膜厚さ分布から前記被検眼角膜の切
削量を求めて、この求めた切削量を前記角膜断面に重ね
て前記表示手段に表示させることを特徴とする。
装置としての角膜厚み測定機能付き角膜内皮細胞撮影装
置の光学系を示している。
前眼部を観察するための前眼部観察光学系10、XY方
向のアライメント検出を行なうための視標光を被検眼E
の角膜Cに投影するための視標投影光学系20、アライ
メント視標光の角膜Cによる反射光を受光して装置Sと
角膜Cの相対位置を検出するXYアライメント検出光学
系30を有する。
ためのスリット光を角膜Cに対して斜めから照射する撮
影用照明光学系(スリット光投影手段)40、Z方向の
アライメント検出及び角膜厚測定用のスリット光を角膜
Cに対して斜めから照射するZアライメント検出用の照
明光学系50を有する。
と被検眼光軸に関して略対称な位置に設けられて撮影用
照明光学系40により照射されたスリット光の角膜Cに
よる反射光を受光することにより角膜内皮細胞像を撮影
する撮影光学系(観察・撮影手段)60、照明光学系5
0により照射されたスリット光の角膜Cによる反射光を
受光してZ方向のアライメント検出及び角膜厚み測定の
ための角膜像を受像するZアライメント用の検出光学系
(アライメント検出手段)70、被検眼Eに固視像を提
供する固視標光学系(視標提示手段)80を備えてい
る。
に位置して前眼部を直接赤外光にて照明する複数個の前
眼部照明光源11、ハーフミラー14、遮光板15、C
CDカメラ16を備え、O1はその光軸である。前眼部
照明光源11によって照明された被検眼Eの前眼部像は
ハーフミラー12、対物レンズ13、ハーフミラー14
を経て、CCDカメラ16に導かれる。遮蔽板15は前
眼部観察時は光路上から退避され、角膜内皮細胞撮影時
には光路中に挿入される。
光源21、集光レンズ22、開口絞り23、視標を形成
するピンホール板24、ダイクロイックミラー25、ピ
ンホール24に焦点を一致させるようにして光路上に配
置された投影レンズ26、ハーフミラー12を有する。
光源21から射出された赤外光は、集光レンズ22によ
り集光されつつ開口絞り23を通過してピンホール24
に導かれる。ピンホール24を通過した光束はダイクロ
イックミラー25で反射され、投影レンズ26によって
平行光束Kとなり、ハーフミラー12で反射されて角膜
Cに導かれる。角膜Cに投影された視標光は、図3に示
すように角膜Cの曲率中心O2との中間位置に輝点像R
を形成するようにして角膜表面Tで反射される。尚、開
口絞り23は投影レンズ26に関して角膜頂点Pと共役
な位置に設けられている。
フミラー12、対物レンズ13、ハーフミラー14、ア
ライメントセンサ31を有する。視標投影光学系20に
より角膜Cに投影され輝点像Rを形成するように反射さ
れた視標光は、ハーフミラー12を透過し対物レンズ1
3で集束されつつハーフミラー14でその一部が反射さ
れてアライメントセンサ31上に輝点像Rの像R´を形
成する。
検出が可能な受光素子である。このアライメントセンサ
31の出力はX−Yアライメント検出回路91aに入力
される。そして、X−Yアライメント検出回路91a
は、アライメントセンサ31の出力に基づき装置Sと角
膜Cの相対位置(XY方向)を演算する。
射光束はCCDカメラ16に導かれて輝点像R´´を形
成する。CCDカメラ16はモニタ装置に画像信号を出
力し、図4に示すように被検眼Eの前眼部像E´、輝点
像R´´がモニタ装置(画像表示装置)の画面(表示手
段)17に表示される。尚、符号18は図示しない画像
生成手段によって生成されたアライメント許容範囲を示
すマークである。検者はこの画面を観察しつつ、輝点像
R´´がマーク18内に入ってピントが合うように被検
眼Eに対して装置Sを移動させることによりアライメン
トを行なう。
からなる撮影用照明光源41、集光レンズ42、スリッ
ト43、可視光を透過し赤外光を反射するダイクロイッ
クミラー44、開口絞り45、対物レンズ46を有し、
O3はその光軸である。撮影時に、撮影用照明光源41
から射出された可視光は集光レンズ42により集光され
てスリット43に導かれ、ダイクロイックミラー44を
透過し、開口絞り45を通過して、対物レンズ46によ
り角膜Cに導かれ、その角膜Cが横断照明される。
されたスリット光束の角膜Cにおける反射状態を示し、
スリット光束の一部は空気と角膜Cとの境界面である角
膜表面Tにおいてまず反射される。また、角膜表面Tを
透過した光束の一部は角膜内皮細胞面Nで反射される。
角膜表面Tからの反射光束T´の光量が最も大きく、角
膜内皮細胞面Nからの反射光束N´の光量は相対的に小
さく、角膜実質Mからの反射光束M´の光量が最も小さ
い。
は、赤外光を射出する光源51、集光レンズ52、スリ
ット53、ダイクロイックミラー44、開口絞り45、
対物レンズ46を有する。光源51から射出された赤外
光は、集光レンズ52で集束されつつスリット53を通
過する。その通過光束はダイクロイックミラー44で反
射され、開口絞り45を通過して対物レンズ46により
集束され、角膜Cに導かれる。照明光学系50により投
影されたスリット光束と同様に、図5(a)に示すよう
に反射される。
光を反射しかつ可視光を透過するダイクロイックミラー
62、マスク63、ミラー64、リレーレンズ65、遮
光板66、前眼部観察光束の妨げとならない位置に配設
されると共に物面側(被検眼E側)の傾斜角θと同一角
をもって傾斜するミラー67、CCDカメラ16を有
し、O4はその光軸である。
膜Cによって反射された可視光反射光束は、対物レンズ
61により集光されつつダイクロイックミラー62を透
過してマスク63上に一度角膜内皮細胞像として結像さ
れる。角膜内皮細胞像を形成する以外の余分の反射光束
はこのマスク63により遮蔽され、マスク63を通過し
た角膜内皮細胞像を形成する反射光束はミラー64で反
射され、リレーレンズ65により集光されつつミラー6
7に導かれかつ反射されて、CCDカメラ16はモニタ
装置に画像信号を出力し、モニタ装置の画面17には図
5(b)に示すように角膜内皮細胞像68aが表示され
る。
bはマスク63によって遮蔽されないとしたら角膜表面
Tからの反射光束T´により形成される光像である。こ
の図5(b)において、斜線部分はマスク63によって
遮蔽された部分である。尚、遮蔽板66は角膜内皮細胞
撮影時は光路上から退避されていて、前眼部観察時には
光路中に挿入される。
視標用光源81、ピンホール82、ダイクロイックミラ
ー25を透過し投影レンズ26により平行光束とされた
後、ハーフミラー12に反射される。被検者は、このハ
ーフミラー12に反射された固視標光を固視目標とする
ことにより視線が固定される。
て、複数の固視標用光源81の点灯位置は固視標提示回
路94により制御される様になっている。また、ピンホ
ール82は複数の固視標用光源81に対応してそれぞれ
設けられ、この複数の固視標用光源81とピンホール8
2は厚み分布測定の際には順次点灯制御されて、被検眼
の視線を誘導する。また、このとき図示しない公知の手
段により被検眼の視線検出を行い、検出される信号によ
り被検眼Eの測定部位検出の際に補正を行えば、より高
精度の厚み分布測定が可能となる。
標用光源81の配置例を示したものである。そして、図
2(b)は複数の固視標用光源81を升目(碁盤の目)
状に配列した例を示し、図2(c)は複数の固視標用光
源81を放射状に配列した例を示したものである。
レンズ61、ダイクロイックミラー62、合焦検出セン
サ71を有する。照明光学系50により投光されたスリ
ット光の角膜Cによる反射光は、対物レンズ61により
集束されつつダイクロイックミラー62に導かれかつ反
射され、合焦検出センサ71上に結像され、合焦検出セ
ンサ71の検出信号(出力信号)はZアライメント検出
回路91bに入力される。
の光量分布が検出可能な受光素子である。この合焦検出
センサ71上には図6(a)に示す光像が形成され、そ
の光量分布は図6(b)のようになる。その図6(a)
において、符号72は角膜表面Tにおいて反射された光
束T´の光像であり、符号73は角膜内皮細胞面Nで反
射された光束N´の光量のピーク位置73´である。こ
のピーク位置73´は、合焦センサ71からの出力信号
を基にZアライメント検出回路91bにより検出され
る。この検出されたピーク位置73´が角膜内皮細胞の
位置となる。尚、この角膜内皮細胞面Nの位置検出方法
の詳細は特開平6−3276374号公報に記載されて
いるのでその詳細な説明は省略する。
は、合焦位置検出センサ71の出力に基づき光束T´の
光量のピーク位置72´と光束N´の光量のピーク位置
73´との間の間隔K(図6(b)を参照)を検出す
る。そして、この検出結果の出力に基づき、結像倍率M
をパラメータとして、ピーク位置72´、73´を合焦
位置検出センサ71と対物レンズ61に関して共役な面
71´に射影した点Q3、Q4の間隔K´を求める。そ
して、このK´から傾斜角θや角膜の屈折率等をパラメ
ータとして角膜厚Dを演算する。
られた装置Sと角膜Cの相対位置(XY方向)の情報、
Zアライメント検出回路91bにより検出されたピーク
位置73´(角膜内皮細胞の位置)の情報、及び角膜厚
測定回路92により算出される角膜厚みDの情報が厚み
分布合成演算回路(角膜厚み分布測定手段)93に入力
される様になっている。また、この厚み分布合成演算回
路93には固視標提示回路94からの固視標提示位置の
情報が入力されるようになっている。
胞の撮影の具体的手順を述べる。
ない演算制御回路は光源11、21、51、81を点灯
させる。検者はモニタ装置の画面を観察しながらアライ
メントを行い、装置Sと被検眼Eが所定位置関係になる
と、つまり、アライメントセンサ31、合焦検出センサ
71による出力が所定範囲内で検出されると、自動的に
角膜厚みの測定が行われる。そして、図示しない演算制
御回路は、この角膜厚さの測定が行われた後、光源1
1、21、51、81を消灯し、光源41を発光させ、
角膜内皮細胞の撮影を行う。この様な角膜厚さの測定及
び角膜内皮細胞の撮影は、複数の固視標81を順に点灯
して、各位置で行う。
出される角膜厚みDとXYアライメント検出回路91
a、Zアライメント検出回路91bによる装置Sと被検
眼Eの相対位置情報、固視標提示回路94による固視標
提示位置の情報が厚み分布合成演算回路93に入力され
る。そして、これらの情報を基に厚み分布合成演算回路
93は、厚み計測位置の特定及び計測された厚みDの合
成を行い、角膜厚み分布をモニタ装置の画面17やプリ
ンタ(図示せず)に出力する。
した各情報を基に、図8(b)に示した角膜厚さの分布
線a1,a2,…anからなる角膜厚さ分布線図100
をモニタ装置の画面17に表示させる。また、厚み分布
合成演算回路93は、図8(b)に示した角膜厚さの分
布から、例えば断面位置表示線Hの位置における角膜の
断面の厚さを図8(a)の様に画面17に表示させる。
この断面位置表示線Hは図示しないキー操作により被検
眼の瞳孔中心を中心として回転できるようにすると共
に、各回転位置における角膜厚さの断面を図8(b)の様
に表示させるようにすることもできる。
力矯正の為に、モニタ装置(表示手段)の画面17に表
示された角膜断面の最小厚みと角膜切削手術の条件とか
ら、角膜断面の切削可能深Hを求めて、切削可能深Hを
一点鎖線で示した様に角膜断面と重ねて画面17に表示
させる様になっている。ここで、角膜切削手術の条件と
しては、放射状角膜切開(RK)や、角膜切除(AL
K,LASIK,PRK)等がある。
の為の被検眼角膜の切削量や、被検眼の屈折度数等その
他を入力するキーボードやマウス、ライトペン等の入力
手段が設けられている。そして、被検眼の眼屈折力の検
査結果に基づいた処方箋に従って、被検眼の矯正屈折力
が「0」ディオプターとなる切削量(切削深さ)を入力
手段により入力することにより、この入力された切削量
に基づき厚み分布合成回路93が破線で示した様に画面
17上の角膜断面に屈折力矯正のための切削深さ位置h
を重ねて表示させるようになっている。
段)93は、眼屈折力矯正のために上述の入力手段で入
力される屈折度数と角膜厚さ分布から「被検眼の矯正屈
折力が「0」ディオプターとなる切削量(切削深さ)」
を求めて、この求めた切削量を画面17の角膜断面に重
ねて表示させることもできる様になっている。
表面からの深さを表す目盛Mを付すことで、角膜表面か
ら切削可能深Hや切削深さ位置hまでの距離を視覚的に
容易に知ることができる。更に、この切削深さ位置hは
キーボードのカーソルキーやマウス等で左右に移動させ
ることができ、しかも、厚み分布合成回路93は、切削
深さ位置hの左右への移動に伴い画面17に表示させた
矯正屈折力の表示値も自動的に求めて変更する様になっ
ている。従って、切削深さ位置hが切削可能深Hよりも
角膜内皮側にある場合には、矯正屈折力が「0」ディオ
プターより低下しても切削深さ位置hを切削可能深Hよ
りも右側に移動させて、角膜表面の切削手術の後の被検
眼の安全を図る深さを容易に求めることができる。
面位置を示し、Cfは角膜Cの表面位置を示す。そし
て、本実施例では、説明の便宜上、角膜Cの裏面Cbの
曲率が一定であるとして、即ち裏面Cbの半径が一定で
あるとして、表面Cfの位置を表示させているが、上述
した各情報を基に裏面Cbや表面Cfの位置を正確に表
示させてもよい。
同時に角膜内皮細胞撮影像の合成を行って画面17に同
時に表示させることにより、角膜厚み分布と合わせ総合
的な診断が可能となる。即ち、角膜厚み分布Fcの画面
17への表示に際しては、図9,図10に示した様に、
角膜内皮細胞数の分布線図100及び各位置P1〜P9
における角膜内皮細胞像b1〜b9及び細胞数表示部c
1〜c9と共に行うとよい。このことにより、被検眼の
切開手術部位OPがある場合は、この切開手術部位OP
に対応する部分の角膜内皮細胞数は例えばc8,c9に
示した様に急激に減少している部分が容易に分かる。
が1000個以下に減少した場合には、角膜内皮細胞の
面積が大きくなっているために、この状態で角膜表面の
切開や切除(切削即ち蒸散)を行うと、角膜内皮細胞に
好ましくない。従って、上述のように角膜厚さに角膜内
皮細胞数を同時に表示させることで、角膜表面の切開や
切除(切削即ち蒸散)等の手術を行うことができるか否
かの判断と、手術ができる場合には角膜表面の切削深さ
hや切削可能深H等とを同時にできることになる。
胞像b1〜b9の細胞数は、例えば次のようにして求め
る。即ち、画面17の下部に例えば細胞数が1000,
2000,3000,4000のサンプルS1,S2,
S3,S4を表示させる一方、各位置P1〜P9やこれ
に対応する細胞数表示部部c1〜c9を反転表示(斜線
で示した部分)させて、角膜内皮細胞像b1〜b9のう
ち反転表示に対応する角膜内皮細胞像Pi(本例ではP
9)をサンプルS1,S2,S3,S4の上側に拡大表
示させてサンプルS1,S2,S3,S4と比較できる
ようにする。この比較により、角膜内皮細胞像b1〜b
9の細胞数を求める。この比較は、角膜内皮細胞像の細
胞の大きさがサンプルS1,S2,S3,S4のいずれ
に最も近いかで判断する。この様にして求めた細胞数は
スイッチやキー操作等で細胞表示部部c1〜c9に入力
できるようにする。
ルS1,S2,S3,S4に沿って左右に移動操作可能
に設けることにより、より容易に角膜内皮細胞像(本例
ではP9)をサンプルS1,S2,S3,S4と比較で
きる。しかも、サンプルS1からS4に沿って移動させ
ることにより、細胞数表示部c1〜c9の選択されたも
のの値が自動的に無段階或は段階的に順次大きくなるよ
うにし、サンプルS1,S2,S3,S4等間の中間値
も細胞数表示部c1〜c9に表示できるようにしてもよ
い。この場合、この細胞数の値の設定は設定キー(図示
せず)により行うとよい。
知の角膜前面曲率半径計測手段を設けることにより角膜
裏面の曲率半径が計測可能であり、角膜の総合診断の
他、より正確な眼屈折力の測定も可能となる。
細胞像の細胞数やその分布を求めて画面17に表示させ
ることにより、被検眼の屈折力の矯正手術のため、角膜
表面をレーザーで切り取る手術の際のデータとすること
ができる。例えば、本実施例では、角膜厚さは中央で略
1mm程度あり周辺に向うに従って厚くなっていると共
に、角膜内皮細胞像の細胞数が3000以上あるので、
被検眼の屈折力矯正のために角膜表面をレーザーで蒸散
させることが可能である。
6φ或は8φ程度に設定して、このスポット径のレーザ
ーで被検眼角膜表面を所定深さまで切り取る場合に、こ
の切り取る範囲200や切り取る深hさを、角膜表面の
曲率を考慮しながら図示しない演算制御回路により求め
させて、図11(a),(b)に示した様に表示させることが
できる。
角膜表面を切りとった後に、再度上述したようにして角
膜厚さを測定して、図11(a),(b)に示した様な角膜厚
さや角膜厚み分布を画面17に表示させ、実際の術後の
状態を確認することができる。更に、図11(a),(b)に
示した様な角膜厚さや角膜厚み分布を画面17に表示さ
せる際には、眼内圧の日内変動、例えば朝,昼,夕の眼
内圧を画面17に表示させるようにしても良い。この場
合には、日内における角膜厚みの僅かな変化と共に眼内
圧との関係を知ることができるので、見え方の変化と眼
内圧との関係を被検者毎に知ることができる。
(c)に示した様な複数の固視目標光源81を固視標提示
回路94により点灯制御して、固視位置を変えながら、
各固視位置における被検眼角膜の厚さの測定や角膜内皮
細胞の撮影等を行うようにしている。この場合には、固
視位置を変えてから被検眼の固視状態が安定した後、そ
の位置での測定や撮影に時間がかかるので、必ずしも図
2(b),(c)の多数の固視標光源81を用いなくてもよ
い。例えば、一つの固視目標を被検眼に固視させて、被
検眼を固定しておき、装置全体又は一部をチルトスイン
グさせることにより、被検眼角膜の測定及び撮影のため
の位置を変えながら測定及び撮影を行うようにしても良
い。
の細胞数をサンプルと比較することにより概算する様に
したが、撮影した角膜内皮細胞の細胞数をソフト的に自
動解析して自動的に求めるようにしても良い。
目標光源81のうち被検眼に提示した固視目標光源の位
置と被検眼が実際に固視している位置がズレることも考
えられる。従って、被検眼の視線検出を視線検出手段に
より行って、視線検出手段により検出される信号により
被検眼の測定部位検出の際に補正を行えば、より高精度
の厚み分布測定ができる。この場合の視線検出手段とし
ては、例えば、被検眼前眼部E´、及び、被検眼角膜か
らの輝点像R´´を画面17に表示させると共に、被検
眼前眼部E´の瞳孔と輝点像R´´との位置関係をCC
Dカメラ16からの出力信号とアライメントセンサ31
からの出力信号から解析させて、被検眼の固視位置を図
示しない演算制御回路(演算手段)により求めさせる様
にすることもできる。また、視線検出手段としては、周
知の構造のものを採用できる。
は、被検眼の角膜の厚みを光学的に非接触で測定する角
膜厚み測定手段と、被検眼の視線を誘導する指標提示手
段とを有し、前記指標提示手段の提示位置と前記角膜厚
み測定手段によって得られた測定値を合成し角膜厚み分
布を算出する角膜厚み分布合成手段と、前記角膜厚み分
布合成手段により合成された角膜厚み分布を表示させる
表示手段を有する構成としたので、角膜厚み分布を測定
できると共に、角膜厚みの分布を容易に知ることがで
き、被検眼の眼屈折力の矯正のための手術のデータに用
いることができる。
して斜め方向よりスリット光を投影するスリット光投影
手段と、その反射光を被検眼光軸に対してほぼ対称な方
向から受光して、角膜内皮細胞を含んだ角膜反射像を観
察・撮影する観察・撮影手段を有し、前記角膜厚み分布
と共に前記角膜内皮細胞像を前記表示手段に表示させる
様にしたので、角膜厚みと内皮細胞との関係を知ること
ができると共に、この関係を基に被検眼の眼屈折力の矯
正のための手術ができるか否かを知ることができる。
手段は、前記角膜厚み分布から厚さ変化を表す角膜断面
を表示手段に表示させる構成としたので、角膜断面にお
ける厚さの変化を視覚的に知ることができる。
光学的に非接触で測定する角膜厚み測定手段と、被検眼
の視線を誘導する指標提示手段とを有し、前記指標提示
手段の提示位置と前記角膜厚み測定手段によって得られ
た測定値を合成して角膜厚み分布を算出する角膜厚み分
布合成手段と、前記角膜厚み分布合成手段により合成さ
れた角膜厚み分布から厚さ変化を表す角膜断面を表示さ
せる表示手段とを備える構成としたので、角膜断面にお
ける厚さの変化を視覚的に知ることができる。請求項5
の発明は、前記角膜厚み分布合成手段は、眼屈折力矯正
の為に、前記表示手段に表示された角膜断面の最小厚み
と角膜切削手術の条件とから、前記角膜断面の切削可能
深を求めて、切削可能深を前記角膜断面と重ねて表示手
段に表示させる構成としたので、矯正屈折力「0」ディ
オプターを得るために必要な角膜切削量をとることがで
きるか否かを容易に知ることができる。
記被検眼角膜の切削量を入力する入力手段を有すると共
に、前記角膜厚さ合成手段は前記入力手段で入力される
切削量を前記表示手段に表示された前記角膜断面に重ね
て表示させる構成としたので、角膜切削深さを視覚的に
知ることができる。
を入力する入力手段を有すると共に、前記角膜厚さ合成
手段は、眼屈折力矯正のために前記入力手段で入力され
る屈折度数と前記角膜厚さ分布から前記被検眼角膜の切
削量を求めて、この求めた切削量を前記角膜断面に重ね
て前記表示手段に表示させる構成としたので、矯正屈折
力「0」ディオプターを得るために必要な角膜切削量を
自動的に求めて表示させることができる。
図であってその平面配置図である。
図であってその側面配置図である。
説明図である。
図である。
される角膜内皮細胞像の説明図であって、(a)は角膜
に照射されたスリット光束の反射の説明図、(b)は画
面に表示された角膜内皮細胞像の説明図である。
センサとの位置関係を示す説明図であって、(a)はそ
の合焦位置検出センサに投影された反射光束の光像を示
す説明図、(b)はその光量分布を示す図である。
射関係を示す図であって、(a)は装置と被検眼とが理
想状態にある場合の説明図、(b)は装置と被検眼とが
理想状態からΔZだけz方向にずれている場合の説明図
である。
(b)は被検眼の角膜厚み分布線図である。
膜内皮細胞像等のモニターテレビの画面への表示例を示
す説明図である。
面における切削量を示す説明図、(b)は(a)の角膜切削範
囲を示す説明図である。
膜厚みを示す角膜断面の説明図、(b)は(a)の角膜切削範
囲を示す説明図である。
段) 80…固視標光学系(指標提示手段) 92…角膜厚み測定回路(角膜厚み測定手段) 93…厚み分布合成演算回路(角膜厚み分布測定手段) 94…固視標提示回路 C…角膜 D…角膜厚み E…被検眼 S…装置
Claims (7)
- 【請求項1】 被検眼の角膜の厚みを光学的に非接触で
測定する角膜厚み測定手段と、被検眼の視線を誘導する
指標提示手段とを有し、前記指標提示手段の提示位置と
前記角膜厚み測定手段によって得られた測定値を合成し
角膜厚み分布を算出する角膜厚み分布合成手段と、前記
角膜厚み分布合成手段により合成された角膜厚み分布を
表示させる表示手段を有することを特徴とする眼科装
置。 - 【請求項2】 前記被検眼に対して斜め方向よりスリッ
ト光を投影するスリット光投影手段と、その反射光を被
検眼光軸に対してほぼ対称な方向から受光して、角膜内
皮細胞を含んだ角膜反射像を観察・撮影する観察・撮影
手段を有し、前記角膜厚み分布と共に前記角膜内皮細胞
像を前記表示手段に表示させる様にしたことを特徴とす
る請求項1に記載の眼科装置。 - 【請求項3】 前記角膜厚み分布合成手段は、前記角膜
厚み分布から厚さ変化を表す角膜断面を表示手段に表示
させることを特徴とする請求項1又は2に記載の眼科装
置。 - 【請求項4】 被検眼の角膜の厚みを光学的に非接触で
測定する角膜厚み測定手段と、被検眼の視線を誘導する
指標提示手段とを有し、前記指標提示手段の提示位置と
前記角膜厚み測定手段によって得られた測定値を合成し
て角膜厚み分布を算出する角膜厚み分布合成手段と、前
記角膜厚み分布合成手段により合成された角膜厚み分布
から厚さ変化を表す角膜断面を表示させる表示手段とを
備えることを特徴とする眼科装置。 - 【請求項5】 前記角膜厚み分布合成手段は、眼屈折力
矯正の為に、前記表示手段に表示された角膜断面の最小
厚みと角膜切削手術の条件とから、前記角膜断面の切削
可能深を求めて、切削可能深を前記角膜断面と重ねて表
示手段に表示させることを特徴とする請求項3又は4に
記載の眼科装置。 - 【請求項6】 眼屈折力矯正の為に前記被検眼角膜の切
削量を入力する入力手段を有すると共に、前記角膜厚さ
合成手段は前記入力手段で入力される切削量を前記表示
手段に表示された前記角膜断面に重ねて表示させること
を特徴とする請求項3〜5のいずれかひとつに記載の眼
科装置。 - 【請求項7】 前記被検眼の屈折度数を入力する入力手
段を有すると共に、前記角膜厚さ合成手段は、眼屈折力
矯正のために前記入力手段で入力される屈折度数と前記
角膜厚さ分布から前記被検眼角膜の切削量を求めて、こ
の求めた切削量を前記角膜断面に重ねて前記表示手段に
表示させることを特徴とする請求項3〜5のいずれか一
つに記載の眼科装置。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 1997-08-29 JP JP23472697A patent/JP3897864B2/ja not_active Expired - Fee Related
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