JP3518927B2 - 眼科装置 - Google Patents
眼科装置Info
- Publication number
- JP3518927B2 JP3518927B2 JP09394695A JP9394695A JP3518927B2 JP 3518927 B2 JP3518927 B2 JP 3518927B2 JP 09394695 A JP09394695 A JP 09394695A JP 9394695 A JP9394695 A JP 9394695A JP 3518927 B2 JP3518927 B2 JP 3518927B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cornea
- eye
- pattern
- ring
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Eye Examination Apparatus (AREA)
Description
これに加えて眼屈折力を測定可能な眼科装置に関する。
を他覚的に測定するオートレフラクトメータ(眼屈折
計)や被検眼角膜の曲率を測定するオートケラトメータ
(角膜曲率測定装置)がある。この両装置とも眼科医が
適切な診断を行うために必要なデータを提供するもので
ある。
短縮,及び装置コストの削減等の為に、異なる測定を行
う複数の装置を組み合わせることが試みられている。例
えば、上述したオートレフラクトメータとオートケラト
メータの組み合せが試みられている。この組み合せでは
眼屈折力の測定と角膜曲率を一つの装置で測定できるの
で、検査が容易となる。
を入れる手術を行う前には、精密に角膜の形状を測定す
る必要がある。このため、角膜曲率を測定するオートケ
ラトに比べてより広範囲に角膜の形状を測定することが
求められている。
としては、被検眼の角膜に向けて可視光によるプラチド
パターン即ち同心円状パターンを投影し、この同心円状
パターンの被検眼角膜からの反射形状が投影パターン形
状と比較してどの程度変化しているか否かを認識させ
て、この形状変化から角膜の形状を判断する角膜形状測
定装置が知られている。特に、被検眼角膜に対して手術
を行うとき或は行った後には、角膜形状測定装置を用い
て、プラチドパターン像(プラチドリング像)による角
膜形状解析、いわゆる角膜トポグラフィ(角膜形状等圧
線)を測定することが行われている。
測定と被検眼の角膜の中心部の曲率を測るという作業
は、眼鏡やコンタクトレンズを処方するときに常に行わ
れ、その頻度は非常に高いものである。しかも、測定点
が少ないので計算時間も短く、ルーチンワークとして行
われている。
により角膜トポグラフィを求めるケースは、角膜の中心
部の形状測定に比べれば頻度は低いものである。しか
し、被検眼角膜に対して手術を行うとき或は行った後に
は、角膜形状測定装置により角膜トポグラフィ(角膜形
状等高線)を測定する必要がある。
検眼角膜の中心部だけでなく外側の形状も測定するため
に測定範囲が広範囲となり、被検眼の角膜の中心部の曲
率を測るという作業に比べて、測定点の数が非常に多
く、計算時間も長くかかるものであった。このため、多
くの患者の角膜トポグラフィを求めるような場合には非
常に時間がかかるものであった。
膜にメスを入れる手術が非常に普及してきたことに加
え、装置の設置面積の縮小,検査時間の短縮,及び装置
コストの削減等を考慮して、角膜形状測定装置とオート
レフラクトメータとを組み合せることが試みられてい
る。
を求めるには時間がかかるものであるため、角膜形状測
定装置とオートレフラクトメータを組み合わせた眼科装
置により、被検眼の眼屈折力と角膜トポグラフィの両方
を求める場合には、眼屈折力測定に要する時間と角膜ト
ポグラフィを求める時間を単純に加えた時間がかかるた
め、単に角膜トポグラフィを求める以上に一人の患者の
診察に時間がかかり、好ましいものではなかった。この
ようなことは、眼屈折力と角膜の中心部の曲率を求める
場合も同様である。
グパターンの一部のリングパターンが正常であるか否か
を判断して、異常である場合にのみ角膜トポグラフィを
求める作業を行うことにより、角膜形状の測定及び演算
を短縮できる眼科装置を提供することにある。また、こ
の発明の第2の目的は、第1の目的の目的に加えて、被
検眼の眼屈折力と角膜形状の両方を求める場合でも、こ
の各測定に要する時間を単純に加えた時間よりも短い時
間で眼屈折力と角膜トポグラフィを求めることができる
ようにした眼科装置を提供することにある。
成するため、請求項1の発明の眼科装置は、多重リング
パターンを被検眼の角膜に投影するパターン投影光学系
と、前記被検眼からの反射光束を受光させる受光手段
と、前記角膜における多重リングパターンの反射光を前
記受光手段に導いて前記多重リングパターンのリング反
射像を受光手段に結像させる観察光学系と、前記受光手
段の出力から前記被検眼の角膜形状を求める演算手段を
備える眼科装置であって、前記演算制御手段は、前記多
重リングパターンのリング反射像のうちの内側の一部の
リング像から前記被検眼の角膜の中心部の曲率形状を求
めて、前記曲率形状から前記被検眼の角膜が正常である
か否かを判断し、異常である場合には前記多重リングパ
ターンのリングパターン像の残りのリング反射像から前
記角膜の中心部以外の曲率形状を求め、前記角膜の中心
部の曲率形状と前記角膜の中心部以外の曲率形状とから
前記角膜の広範囲なトポグラフィを求めるように設定さ
れていることを特徴とする。
請求項2の発明の眼科装置は、多重リングパターンを被
検眼の角膜に投影するパターン投影光学系と、前記被検
眼からの反射光束を受光させる受光手段と、前記角膜に
おける多重リングパターンの反射光を前記受光手段に導
いて前記多重リングパターンのリング反射像を受光手段
に結像させる観察光学系と、前記受光手段に結像された
多重リングパターンのリング反射像を記憶するメモリ
と、前記被検眼内に屈折力測定パターンを投影する測定
光束投影光学系と、前記被検眼内における前記屈折力測
定パターンの反射光を前記受光手段に導いて屈折力測定
パターン像を前記受光手段に結像させる受光光学系と、
前記受光手段の出力から前記被検眼の角膜形状と眼屈折
力を求める演算手段を備える眼科装置であって、前記演
算制御手段は、前記多重リングパターンのリング反射像
のうちの内側の一部のリング像から前記被検眼の角膜の
中心部の曲率形状を求めて、前記曲率形状から前記被検
眼の角膜が正常であるか否かを判断し、異常である場合
には前記多重リングパターンのリングパターン像の残り
のリング反射像から前記角膜の中心部以外の曲率形状を
求め、前記角膜の中心部の曲率形状と前記角膜の中心部
以外の曲率形状とから前記角膜の広範囲なトポグラフィ
を求めるように設定されていることを特徴とする。更
に、上述した第2の目的を達成するため請求項3の発明
の眼科装置は、多重リングパターンを被検眼の角膜に投
影するパターン投影光学系と、前記被検眼からの反射光
束を受光させる受光手段と、前記角膜における多重リン
グパターンの反射光を前記受光手段に導いて前記多重リ
ングパターンのリング反射像を受光手段に結像させる観
察光学系と、前記受光手段に結像された多重リングパタ
ーンのリング反射像を記憶するメモリと、前記被検眼内
に屈折力測定パターンを投影する測定光束投影光学系
と、前記被検眼内における前記屈折力測定パターンの反
射光を前記受光手段に導いて屈折力測定パターン像を前
記受光手段に結像させる受光光学系と、前記受光手段の
出力から前記被検眼の角膜形状と眼屈折力を求める演算
手段を備え、前記演算手段は、前記眼屈折力測定時に、
前記メモリの多重リングパターンのリング反射像から前
記被検眼の角膜形状を求めるように設定されている眼科
装置であって、前記演算制御手段は、前記多重リングパ
ターンのリング反射像のうちの内側の一部のリング像か
ら前記被検眼の角膜の中心部の曲率形状を求めて、前記
曲率形状から前記被検眼の角膜が正常であるか否かを判
断し、異常である場合には前記多重リングパターンのリ
ングパターン像の残りのリング反射像から前記角膜の中
心部以外の曲率形状を求め、前記角膜の中心部の曲率形
状と前記角膜の中心部以外の曲率形状とから前記角膜の
広範囲なトポグラフィを求めるように設定されているこ
とを特徴とする。
(プラチドリングパターン)即ち多重リングパターンを
投影して角膜形状を測定する角膜形状測定装置を一体化
した眼科装置の実施例を図面に基づいて説明する。
置1と被検者2との関係を示したものである。この眼科
装置1は、ベース3と、ベース3上に前後・左右動可能
に装着された装置本体4と、装置本体4に装着されて装
置本体4を前後・左右動操作するジョイステックレバー
5(操作レバー)と、ベース3の前端部に装着されたフ
レーム6と、フレーム6に上下動可能に設けられた顎受
け7と、フレーム6に保持されて顎受け7を上下動操作
する操作ノブ8を有する。
検眼Eの前眼部を観察する前眼部観察光学系10と、被
検眼Eに固視標を投影する固視標投影光学系50と、被
検眼Eの眼底Erに眼屈折力を測定するための測定光を
投影する測定投影光学系70と、眼底Erで反射される
測定光を受光する受光光学系90と、被検眼Eの角膜E
cに角膜形状を測定するためのプラチドパターンを投影
するプラチドパターン投影系100と、作動距離検出用
のマークを角膜Ecに向けて投影するマーク投影光学系
120とを備えている。
と、ダイクロイックミラー60と、ミラー13と、リレ
ーレンズ14と、ダイクロイックミラー15と、リレー
レンズ16と、結像レンズ17と、受光手段としてのC
CDからなるエリアセンサ(撮像素子)18とを備えて
いる。
センサ18上に十字状のスケール像P(図7参照)を形
成するスケール投影系20が設けられている。スケール
投影系20は、光源21と、コンデンサレンズ22と、
スケール(図示せず)が形成されたスケール板23とを備
え、光源21から射出された光はコンデンサレンズ22
に集光されてスケール板23を照射し、これによりスケ
ール板23から十字形状の光束がダイクロイックミラー
15,92(後述する)を介して結像レンズ17に達
し、この結像レンズ17 よりエリアセンサ18上
にスケール像Pが結像される。そして、このスケール像
Pが前眼部とともにモニタ202(図7参照)に表示さ
れる。
外をカットするフィルタFと、コンデンサレンズ52
と、固視標板53と、リレーレンズ54と、ミラーM1
と、ダイクロイックミラー55と、リレーレンズ56
と、ミラーM2と、リレーレンズ57と、ミラーM3と、
ダイクロイックミラー60と、対物レンズ11とを備え
ている。固視標板53は眼底Erと共役位置にあり、固
視標板53には固視標となるマーク(図示せず)が形成さ
れ、このマークが眼底Erに投影されるものである。こ
のマークの投影により被検眼Eを所定方向に向けるとと
もに雲霧視させる。
は、光源71と、コンデンサレンズ72と、円錐プリズ
ム73と、リング開口(図示せず)が形成されたリング開
口板74と、リレーレンズ75と、ミラー76と、リレ
ーレンズ77と、ダイクロイックミラー78と、ミラー
79と、ダイクロイックミラー80と、ダイクロイック
ミラー60と、対物レンズ11とを備えている。
2によって集光された光源71から光をリング開口板7
4のリング開口に集光させるものである。リング開口板
74と眼底Erとは共役位置にあり、リング開口板74
のリング開口を透過する光束によりリング像(図示せず)
が眼底Erに投影される。
光束は、対物レンズ11,ダイクロイックミラー60,ダ
イクロイックミラー80,ミラー79,ダイクロイックミ
ラー78,ダイクロイックミラー91,リレーレンズ5
7,ミラーM2,リレーレンズ56,ダイクロイックミラー
55,ダイクロイックミラー92,結像レンズ17を介し
てエリアセンサ18に結像してリング像が形成される。
このリング像から眼屈折力を後述する演算制御装置20
3が演算して求める。
1と、ダイクロイックミラー60と、ダイクロイックミ
ラー80と、ミラー79と、ダイクロイックミラー7
8,91と、リレーレンズ57と、ミラーM2と、リレー
レンズ56と、ダイクロイックミラー55,92と、結
像レンズ17と、エリアセンサ18とから構成されてい
る。
示すように、円板状のパターン板101(プラチドパタ
ーン板)と、複数の赤外発光ダイオード102(光源
(光投影手段))と、可視カットフィルタ103等とか
ら構成されている。この複数の発光ダイオード102
は、後述するリングC1〜C9(透光リングパターン)に
沿ってPC板104(プリント基板)に取り付けられて
いる。
よりパターン板101のプラチドパターン(即ち、径の
異なる複数の同心リング(同心円)状の透光リングパタ
ーン)が被検眼に投影されても、プラチドパターンは赤
外光で投影されるため、被検眼の注意を換気するような
ことはなくなる。
ード102が設けられた面(パターン板101に対向す
る側の面)には、白色の反射層(図示略)が設けられて
いる。この反射層は、PC板104(プリント基板)に
部品説明用の白色のシルク印刷を行う印刷手段を用い
て、PC板104(プリント基板)に白色の塗装を施す
ことにより簡易に形成できる。
過率の低いフィルタに代えてもよい。また、可視カット
フィルタ103の被検眼E側の面には、反射防止コーテ
ィング層103aが施されている。しかも、この様な可
視カットフィルタ103は、被検眼Eとパターン板10
1との間に配設されていて、室内照明光等の外光により
パターン板101のプラチドパターンが見えるのを防止
していると共に、反射防止コーティング層103aによ
り被検者自信が可視カットフィルタ103に映って反射
するのを防止している。
ドパターンや被検者の像が被検眼の注意を惹いて、被検
眼の調節作用が発生するようなことはなくなり、正確な
眼屈折測定が可能となる。
散可能な拡散板が用いられている。このパターン板10
1は、図4(c)に示した様に装置本体4の前端部の円筒
部4aに装着されていると共に、図1,図2及びから分
かるように、被検眼EC(一方の眼)を装置光軸Oに合
わせた状態で、縁部近傍の部分が他方の眼(反対眼)E
C´に臨む大きさに形成されている。これにより、被検
者2の両方の眼(両眼)EC,EC´がパターン板10
1に臨んでいる。
に示すように、中心部に円形の孔101aが開いている
と共に、この孔101aの周囲に同心に設けた9つの同
心円状のリングC1〜C9(透光リングパターンまたは多
重リングパターン)が形成されている。
すように、白色塗料層101c(白色反射層)と黒色塗
料層101d(黒色層)とからなる遮光部D1〜D9を
パターン板101の表面101bに同心に間隔をおいて
複数形成することにより、この遮光部D1〜D9の隣接
するもの同士間(すなわち塗料101c,101dが塗ら
れていない部分)に形成されたものである。
02から出た光のうちリングC1〜C9に向かう光は、遮
光部D1〜D9とPC板104の作用により図4(a),
(b)のL,L1,L2に示した様に拡散と反射を繰り返
す。即ち、この拡散と反射の作用をリングC1と一つの
赤外発光ダイオード102を用いて説明すると、赤外発
光ダイオード102からリング(透光リングパターン)
C1に向かう光束Lは、大半が拡散板であるパターン板
101を透過する際に拡散光L1としてリングC1を透
過し、残りが反射光L2としてPC板104側に反射す
る。この反射光L2及び赤外発光ダイオード102から
直接に遮光部D1〜D9に向かう光は、PC板104で
反射光L3として反射した後、白色塗料層(白色反射
層)101cの部分とPC板104との間で多数回反射
した後にリングC1〜C9のいずれかから被検眼E側に投
影される。これにより、赤外発光ダイオード102から
出た光は無駄なくプラチドパターン(プラチドリングパ
ターン)投影のために利用されると共に、このプラチド
パターンに均一な照明光を投影できる。
散板から形成しているが、必ずしもこれに限定されるも
のではない。例えば、パターン板と拡散板(図示せず)
を別体に形成して重ねあわせると共に、上述した遮光部
D1〜D9をパターン板と拡散板との間に形成してもよ
い。
並んだ2つの円形のマークQ1,Q2が形成されている。
このマークQ1,Q2も上記と同様に塗料101c,101d
が塗られていない部分である。
1〜C9に対向するとともに各リングC1〜C9に沿って、
図5に示すように所定間隔毎にPC板104に取り付け
られている。PC板104はユニットベース105に固
定され、その表面104aは白色となって赤外光を前方
へ反射するようになっている。ユニットベース105は
対物レンズ11を保持した鏡筒部106に固定されてい
る。107はPC板104と可視カットフィルタ103
との間に配置した反射鏡である。
01に形成されたマークQ1,Q2と、同一水平面に配設
された一対の平行投影ユニット121,131(図1参
照)とから構成され、各平行投影ユニット121,13
1は赤外発光ダイオード122,132と、この赤外発
光ダイオード122,132から射出された赤外光を平
行光束にしてマークQ1,Q2に向けて射出する投影レン
ズ123,133とを鏡筒125,135にそれぞれ備
えている。
21a,131aはマークQ1,Q2を通って被検眼角膜Ec
に向けられており、投影レンズ123,133による平
行光束によってマークQ1,Q2を無限遠の距離から被検
眼角膜Ecに向けて投影する状態となっている。すなわ
ち、パターン板101と異なる距離からマークQ1,Q2
を被検眼角膜Ecに向けて投影するものである。
は、PC板104(プリント基板)の中心部に形成した
孔104bの凹部104cに挿入されているとともに鏡筒
部106にネジNにより固定されている。平行投影ユニ
ット131も上記と同様に鏡筒部106に固定されてい
る。
たブロック図である。図6において201はエリアセン
サ18が受光する画像を記憶するフレームメモリ、20
2はエリアセンサ18が受光する画像を表示するモニ
タ、203はフレームメモリ201に記憶された画像の
各リング像Ca〜Ci(図7参照)から角膜形状を演算し
て求めるとともに、リング像Cbの径L1とマーク像Qa,
Qb間の距離L2との比から装置本体の作動距離を検出し
たり、この作動距離を基にして上記角膜形状を補正した
りする演算制御装置(演算手段)である。そして、演算
制御装置203は角膜形状演算手段と作動距離検出手段
と補正手段としての機能を有している。
と、マーク投影光学系120と、前眼部観察光学系10
と、演算制御装置203とで角膜の形状を測定する角膜
形状測定装置が構成される。
205の操作に基づいてプリンタ206,記録装置20
7,光源21,51,71,102,122,132等の制御
を行ったりする。また、演算制御装置203は眼底Er
に投影されたリング像から眼屈折力を演算するようにな
っている。図6中、206は演算結果等を表示するモニ
タ(表示手段)である。
手段300が接続されていて、演算制御装置203はモ
ード設定手段300の操作によりプラチドモード,レフ
プラチドモード,レフモード,ケラトモード,レフケラ
モードの切換を行うようになっている。
から角膜形状を広範囲に測定するモードであり、レフプ
ラチドモードはプラチド画像を一度取り込んだ後に操作
部205の測定スイッチ(図示せず)をON操作する毎に
眼屈折力を測定演算するモードであり、レフモードは眼
屈折力の計算のみを行うモードであり、ケラトモードは
角膜中心の曲率のみの計算を行うモードであり、レフケ
ラモードであれば眼屈折力と角膜中心部の曲率の計算を
行うモードである。
定) プラチドモードにおいて、操作部205の操作によりプ
ラチドパターン投影系100の赤外発光ダイオード10
2と、マーク投影光学系120の赤外発光ダイオード1
22,132を点灯する。また、スケール投影系20の
光源21を点灯する。
ターン板101のリングC1〜C9から可視カットフィル
タ103を介して赤外光によるリング光束が射出され、
このリング光束が被検眼角膜Ecに投影されてリングC1
〜C9(図7,図10参照)による反射像が形成される
こととなる。
2から射出された赤外光は投影レンズにより平行光束と
なってマークQ1,Q2を照射し、このマークQ1,Q2によ
り円形の平行光束となって被検眼角膜Ecに投影されて
マークQ1,Q2による反射像が形成される。
グ反射像およびマーク反射像の光束は、対物レンズ1
1,ダイクロイックミラー60,ミラー13,リレーレン
ズ14,ダイクロイックミラー15,リレーレンズ16,
ダイクロイックミラー92,結像レンズ17を介してエ
リアセンサ18に前眼部像とともに結像される。そし
て、モニタ202には、図7に示すように前眼部像Ea
とともにリング反射像Ca〜Ciおよびマーク反射像Qa,
Qbが表示される。
灯によりエリアセンサ18上にスケール像が結像される
ので、モニタ202にスケール像Pも表示される。
像Pとリング反射像Caとを見ながら、スケール像Pの
交点Paがリング反射像Caの中心に位置するように装置
本体を上下左右に移動させてXY方向のアライメントを
行う。また、マーク反射像Qa,Qbがリング反射像Cbと
がほぼ一致するように装置本体を前後方向に移動させて
Z方向のアライメントを行う。
されていることにより、装置本体のZ方向の距離に拘ら
ずマーク反射像Qa,Qb間の距離L2は一定であり、他
方、リング反射像Cbの径L1がZ方向の距離によって変
化するので、図7に示したマーク反射像Qa,Qb間の距
離L2とリング反射像Cbの径L1の大きさとを比較する
ことにより、Z方向のアライメントを調整することがで
き、作動距離を求めることができる。
が表示されているので、アライメントはそのスケール像
Pを見て行えばよいので大変行い易いものとなる。
205の測定スイッチ(図示せず)を押すと、図8に示す
ステップ2では図7に示す画像がフレームメモリ201
に記憶される。
1に記憶されたリング反射像Cbの径L1とマーク反射像
Qa,Qb間の距離L2との比を求め、この比から装置本体
の作動距離を演算する。そして、この作動距離と予め設
定されている設定作動距離との差、すなわちZ方向にお
けるアライメントの誤差を演算する(ステップ3)。こ
の誤差が所定範囲内であるか否かがステップ4で判断さ
れ、イエスであれば、フレームメモリ201に記憶され
たリング反射像Ca〜Ciから角膜形状を求め、さらに、
上記誤差に応じてその角膜形状を補正する(ステップ
5)。この補正により、Z方向のアライメントが正確に
行われなくとも正確な角膜形状が求められることとな
る。
動距離とがモニタ202に表示されるとともに、これら
データはプリンタ206によってプリントアウトされ、
記録装置207に図7に示す画像とともに記録される
(ステップ6)。
に行われなくとも、アライメントの誤差が求められてそ
の誤差に基づいて角膜形状が補正されて正確な角膜形状
が求められるので、作動距離が短くてもアライメントの
許容範囲を広く設定することができ、しかも、正確な角
膜形状を求めることができる。
グラフィが求められ、図10(b)中、T1〜t6等は角
膜Cにおける等高線である。
眼屈折力の複数測定平均値算出) このレフプラチドモードにおいて、操作部205の測定
スイッチ(図示せず)を1回目にONさせると、演算制御
装置203は、最初にプラチドパターン像を取り込んで
フレームメモリ206に記憶し、フレームメモリ206
のプラチドパターン像を基に被検眼角膜の曲率形状を求
める演算を開始する。尚、2回目以降の測定スイッチの
ON操作ではレフ測定(眼屈折力の測定)のみを行う。
に、測定スイッチをON操作すると、レフ測定(眼屈折力
の測定)が行われるので、このレフ測定(眼屈折力の測
定)を複数回行わせる。この複数回のレフ測定時のアラ
イメント等のときに、演算制御装置203はプラチドパ
ターン像を基に被検眼角膜の曲率形状をもとめる。
操作部205の図示しないプリントスイッチを押すと、
演算制御装置203により求められた各レフ測定の値と
その平均値及びプラチドパターン像による被検眼角膜の
曲率形状の演算結果がプリントアウトされると同時に、
フレームメモリ206がリセット(初期化)されて次の
測定に備えられる。
測定の回数が少なく、プラチドパターン像による被検眼
角膜の曲率形状の演算が終っていないときには、演算制
御装置203はモニタ202の画面に演算中と表示させ
る。尚、レフ測定中にプラチドパターン像による被検眼
角膜の曲率形状の演算が先に終ると、モニタ202の画
面にプラチドパターン像による被検眼角膜の曲率形状の
演算終了(プラチド終了)の表示が演算制御装置203
によりなされると共に、演算結果が表示されるが、レフ
測定ための前眼部像は表示されている状態となってい
る。この様な制御は演算制御装置203により行われ
る。
装置203は、固視標投影光学系50の光源51を点灯
させて被検眼Eを所定方向に向けさせるとともに雲霧視
させる。そして、測定投影光学系70の光源71を点灯
して眼底Erにリング像(図示せず)を投影し、このリン
グ像を対物レンズ11,ダイクロイックミラー60,ダイ
クロイックミラー80,ミラー79,ダイクロイックミラ
ー78,ダイクロイックミラー91,リレーレンズ57,
ミラーM2,リレーレンズ56,ダイクロイックミラー5
5,ダイクロイックミラー92,結像レンズ17を介して
エリアセンサ18に結像させ、このリング像から眼屈折
力を演算制御装置203が演算して求める。
定) ケラトモードにおいて演算制御装置203は、操作部2
05の測定スイッチ(図示せず)をONすると、被検眼角
膜cに投影されているプラチドパターン像を取り込んで
フレームメモリ206に記憶させた後、図9に示した様
に、被検眼の瞳の輪郭線P1内プラチドパターン像のう
ちのリングCa〜Ciの内側から2本目と3本目(所定
のリングパターン)から角膜Cの曲率形状を演算して求
める。図中、P2は非検眼の虹彩の外側輪郭を示す。
状及び眼屈折力の測定) レフケラモードにおいて演算制御装置203は、角膜中
心部の曲率形状及び眼屈折力の測定する。即ち、演算制
御装置203は、図9に示した様に、ステップS10で
操作部205の測定スイッチ(図示せず)を押す(ONす
る)と、ステップS11で被検眼角膜cに投影されてい
るプラチドパターン像を取り込んでフレームメモリ20
6に記憶させ、次にステップS12で(2)の眼屈折力測
定を行う。
折力測定と並行して、フレームメモリ206に記憶され
たプラチドパターン像を用い、図10に示した様に、被
検眼の瞳の輪郭線P1内プラチドパターン像のうちのリ
ングCa〜Ciの内側から2本目と3本目(所定のリン
グパターン)から角膜Cの曲率形状を演算して求める。
は、角膜の中心部における曲率形状を求める時間と眼屈
折力を求めるための時間を単純に加算した場合に比べ
て、より少ない時間で角膜の中心部における曲率形状と
眼屈折力を求めることができる。
ンから求められた被検眼角膜の曲率形状は、即ちケラト
の数値をフレームメモリ201に記憶させて、この記憶
された演算結果すなわちケラトの数値をステップS13
でモニタ202に表示させた後、ステップS14でプリ
ンタ206によりプリントアウトされステップS15に
移行する。
モードによる測定の演算結果、即ちケラトの数値がモニ
タ202に表示されているので、このモニタ202に表
示された演算結果から被検眼角膜の形状が正常あるか否
か(即ちケラトの数値が所定値を越えているか否かを)
判断して、再度被検眼角膜を広範囲に精密に測定する必
要があるか否かを決定する。この判断決定は、測定者が
行ってもよいし、演算制御装置203が判断してもよ
い。
であり広範囲に測定する必要がある場合には、ステップ
S16に移行して、測定者が操作部205の測定スイッ
チとは異なる図示しないプラチド演算スイッチを押すこ
とにより、或は演算制御装置が広範囲な演算を開始さ
せ、ステップS17に移行する。このステップS17で
は、演算制御装置203は、既にフレームメモリ201
に記憶されているプラチドパターン像のリングCa〜C
iの内、レフケラモードで用いたリングを除いたものを
用いて、角膜Cの曲率形状を演算により求め、この演算
結果とレフケラモードで求めた角膜の中心部における曲
率形状とから図10(b)に示した様なトポグラフィを求
める。
取り込まれたプラチドパターン像と既にレフケラモード
で求めた角膜の中心部の曲率形状を用いているので、新
たにプラチドパターン像を取り込むための測定を行わな
くてもよく、又、プラチドモードによる角膜形状の広範
囲な測定に要する時間は新たに(1)の測定を行う場合に
比べて大きく短縮できる。尚、角膜形状の広範囲な測定
を行う場合、既にフレームメモリ201に取り込まれた
プラチドパターン像のリングCa〜Ciの全てについて
演算を行わせてもよい。この場合でも、新たにプラチド
パターン像を取り込むための測定を行わなくてもよいの
で、新たにプラチドパターン像を取り込んだ後に演算を
行うときと比較して、プラチドモードによる角膜形状の
広範囲な測定に要する時間を短縮できる。
形状の広範囲な測定と(2)のレフモードによる眼屈折力
の測定をこの順に行って、フレームメモリ201に取り
込んだリングCa〜Ciから角膜形状を眼屈折力の測定
と並行して演算により求めるように演算制御装置203
を設定することもできる。この場合にも、角膜形状の広
範囲な測定に要する時間と眼屈折力に要する時間を単に
加算した場合に比べて、角膜形状の広範囲な測定と眼屈
折力に要する時間を非常に短くできる。
は、前記演算制御手段が、前記多重リングパターンのリ
ング反射像のうちの内側の一部のリング像から前記被検
眼の角膜の中心部の曲率形状を求めて、前記曲率形状か
ら前記被検眼の角膜が正常であるか否かを判断し、異常
である場合には前記多重リングパターンのリングパター
ン像の残りのリング反射像から前記角膜の中心部以外の
曲率形状を求め、前記角膜の中心部の曲率形状と前記角
膜の中心部以外の曲率形状とから前記角膜の広範囲なト
ポグラフィを求めるように設定されている構成としたの
で、簡易に求めた曲率形状の結果から被検眼角膜が正常
な範囲を大幅に越えている場合、更に被検眼角膜の広範
囲を精密に測定する必要があるので、この場合にのみ多
重リングパターンの全部を演算すればよいことになり、
通常は被検眼角膜の中心部の曲率形状を迅速に求めるこ
とができる。尚、所定のリングパターンの演算後に被検
眼角膜の広範囲を精密に測定する必要がある場合には、
多重リングパターンの全てについて演算することもでき
る。また、所定のリングパターンの演算後に被検眼角膜
の広範囲を精密に測定する必要がある場合には、所定の
リングパターンは既に演算しているので、この所定リン
グの演算結果を予め記憶しておいて、所定のリングパタ
ーンを除いた残りのリングパターンの全てについてのみ
演算して、所定のリングパターンの演算結果とこれを除
いた残りのリングパターンの演算結果について総合する
ことにより、演算時間をより短縮できることになる。
前記眼屈折力測定時に、前記メモリの多重リングパター
ンのリング反射像から前記被検眼の角膜形状を求めるよ
うに設定されている眼科装置であって、前記演算制御手
段が、前記多重リングパターンのリング反射像のうちの
内側の一部のリング像から前記被検眼の角膜の中心部の
曲率形状を求めて、前記曲率形状から前記被検眼の角膜
が正常であるか否かを判断し、異常である場合には前記
多重リングパターンのリングパターン像の残りのリング
反射像から前記角膜の中心部以外の曲率形状を求め、前
記角膜の中心部の曲率形状と前記角膜の中心部以外の曲
率形状とから前記角膜の広範囲なトポグラフィを求める
ように設定されている構成としたので、上述した請求項
1,2の効果に加えて、被検眼の眼屈折力と角膜トポグ
ラフィの両方を求める場合でも、この各測定に要する時
間を単純に加えた時間よりも短い時間で眼屈折力と角膜
トポグラフィを求めることができる。
した光学配置図である。
である。
示した正面図である。
拡大断面図、(b)はパターン板とPC板との関係を示す
説明図、(c)はこの発明にかかる眼科装置と被検者との
関係を示す斜視図である。
面図である。
ある。
る。
る。
る。
の説明図、(b)はプラチドパターン像から求めた被検眼
角膜のトポグラフィである。
Claims (3)
- 【請求項1】多重リングパターンを被検眼の角膜に投影
するパターン投影光学系と、前記被検眼からの反射光束
を受光させる受光手段と、前記角膜における多重リング
パターンの反射光を前記受光手段に導いて前記多重リン
グパターンのリング反射像を受光手段に結像させる観察
光学系と、前記受光手段の出力から前記被検眼の角膜形
状を求める演算手段を備える眼科装置であって、 前記演算制御手段は、前記多重リングパターンのリング
反射像のうちの内側の一部のリング像から前記被検眼の
角膜の中心部の曲率形状を求めて、前記曲率形状から前
記被検眼の角膜が正常であるか否かを判断し、異常であ
る場合には前記多重リングパターンのリングパターン像
の残りのリング反射像から前記角膜の中心部以外の曲率
形状を求め、前記角膜の中心部の曲率形状と前記角膜の
中心部以外の曲率形状とから前記角膜の広範囲なトポグ
ラフィを求めるように設定されていることを特徴とする
眼科装置。 - 【請求項2】多重リングパターンを被検眼の角膜に投影
するパターン投影光学系と、前記被検眼からの反射光束
を受光させる受光手段と、前記角膜における多重リング
パターンの反射光を前記受光手段に導いて前記多重リン
グパターンのリング反射像を受光手段に結像させる観察
光学系と、前記受光手段に結像された多重リングパター
ンのリング反射像を記憶するメモリと、前記被検眼内に
屈折力測定パターンを投影する測定光束投影光学系と、
前記被検眼内における前記屈折力測定パターンの反射光
を前記受光手段に導いて屈折力測定パターン像を前記受
光手段に結像させる受光光学系と、前記受光手段の出力
から前記被検眼の角膜形状と眼屈折力を求める演算手段
を備える眼科装置であって、 前記演算制御手段は、前記多重リングパターンのリング
反射像のうちの内側の一部のリング像から前記被検眼の
角膜の中心部の曲率形状を求めて、前記曲率形状から前
記被検眼の角膜が正常であるか否かを判断し、異常であ
る場合には前記多重リングパターンのリングパターン像
の残りのリング反射像から前記角膜の中心部以外の曲率
形状を求め、前記角膜の中心部の曲率形状と前記角膜の
中心部以外の曲率形状とから前記角膜の広範囲なトポグ
ラフィを求めるように設定されていることを特徴とする
眼科装置。 - 【請求項3】多重リングパターンを被検眼の角膜に投影
するパターン投影光学系と、前記被検眼からの反射光束
を受光させる受光手段と、前記角膜における多重リング
パターンの反射光を前記受光手段に導いて前記多重リン
グパターンのリング反射像を受光手段に結像させる観察
光学系と、前記受光手段に結像された多重リングパター
ンのリング反射像を記憶するメモリと、前記被検眼内に
屈折力測定パターンを投影する測定光束投影光学系と、
前記被検眼内における前記屈折力測定パターンの反射光
を前記受光手段に導いて屈折力測定パターン像を前記受
光手段に結像させる受光光学系と、前記受光手段の出力
から前記被検眼の角膜形状と眼屈折力を求める演算手段
を備え、前記演算手段は、前記眼屈折力測定時に、前記
メモリの多重リングパターンのリング反射像から前記被
検眼の角膜形状を求めるように設定されている眼科装置
であって、 前記演算制御手段は、前記多重リングパターンのリング
反射像のうちの内側の一部のリング像から前記被検眼の
角膜の中心部の曲率形状を求めて、前記曲率形状から前
記被検眼の角膜が正常であるか否かを判断し、異常であ
る場合には前記多重リングパターンのリングパターン像
の残りのリング反射像から前記角膜の中心部以外の曲率
形状を求め、前記角膜の中心部の曲率形状と前記角膜の
中心部以外の曲率形状とから前記角膜の広範囲なトポグ
ラフィを求めるように設定されていることを特徴とする
眼科装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP09394695A JP3518927B2 (ja) | 1995-04-19 | 1995-04-19 | 眼科装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP09394695A JP3518927B2 (ja) | 1995-04-19 | 1995-04-19 | 眼科装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003399641A Division JP3892434B2 (ja) | 2003-11-28 | 2003-11-28 | 眼科装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08280624A JPH08280624A (ja) | 1996-10-29 |
JP3518927B2 true JP3518927B2 (ja) | 2004-04-12 |
Family
ID=14096611
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP09394695A Expired - Fee Related JP3518927B2 (ja) | 1995-04-19 | 1995-04-19 | 眼科装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3518927B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE69931419T2 (de) * | 1998-03-31 | 2006-12-28 | Nidek Co., Ltd., Gamagori | Ophthalmologisches Gerät |
DE102004055683B4 (de) | 2004-10-26 | 2006-09-07 | Carl Zeiss Surgical Gmbh | Augenchirurgie-Mikroskopiesystem und Verfahren hierzu |
JP7147277B2 (ja) * | 2018-06-04 | 2022-10-05 | 株式会社ニデック | 眼科測定装置 |
WO2019235148A1 (ja) * | 2018-06-04 | 2019-12-12 | 株式会社ニデック | 眼科測定装置 |
JP7147276B2 (ja) * | 2018-06-04 | 2022-10-05 | 株式会社ニデック | 眼科測定装置 |
-
1995
- 1995-04-19 JP JP09394695A patent/JP3518927B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH08280624A (ja) | 1996-10-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6494577B2 (en) | Ophthalmologic apparatus | |
JP2003245300A (ja) | 眼科装置 | |
US7222963B2 (en) | Ophthalmic measurement apparatus | |
US6695450B2 (en) | Ophthalmic characteristics measuring apparatus | |
JP3636917B2 (ja) | 眼屈折力測定装置 | |
JP3518927B2 (ja) | 眼科装置 | |
JP2002200045A (ja) | 眼科装置 | |
JP3497002B2 (ja) | 眼科装置 | |
JP3576656B2 (ja) | 眼科器械用位置合わせ検出装置 | |
JP2812421B2 (ja) | 角膜細胞撮影装置 | |
JP3892434B2 (ja) | 眼科装置 | |
JP3195621B2 (ja) | 眼屈折計 | |
JP3305410B2 (ja) | 眼科装置 | |
US20080231806A1 (en) | Ophthalmic apparatus | |
JP3594447B2 (ja) | 眼科装置 | |
JP3497006B2 (ja) | 眼科装置 | |
JP2001120503A (ja) | 角膜形状測定装置 | |
JP4700785B2 (ja) | 眼科装置 | |
JP4700780B2 (ja) | 眼科検査装置 | |
JP3497007B2 (ja) | 眼科装置 | |
JP2568586B2 (ja) | エアパフ型眼圧計 | |
JPH0554325B2 (ja) | ||
JPH0554326B2 (ja) | ||
JPH09271461A (ja) | 検眼装置 | |
JP3708251B2 (ja) | 眼科装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040127 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040127 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080206 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090206 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100206 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100206 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110206 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120206 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120206 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130206 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |