JPH1158046A - レーザ溶接欠陥検出装置 - Google Patents
レーザ溶接欠陥検出装置Info
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- JPH1158046A JPH1158046A JP9213223A JP21322397A JPH1158046A JP H1158046 A JPH1158046 A JP H1158046A JP 9213223 A JP9213223 A JP 9213223A JP 21322397 A JP21322397 A JP 21322397A JP H1158046 A JPH1158046 A JP H1158046A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 オンラインで溶接箇所の欠陥の検出を行うこ
とができ、しかも欠陥の種類の判別をも行うことができ
るレーザ溶接欠陥検出装置を提供すること。 【解決手段】 溶接箇所からのレーザ散乱光を検出する
光検出部２０と、検出されたレーザ散乱光を電気信号に
変換するフォトダイオード３０と、前記電気信号のレベ
ルから欠陥の有無を検出するための欠陥検出処理装置４
０とを備えた。
とができ、しかも欠陥の種類の判別をも行うことができ
るレーザ溶接欠陥検出装置を提供すること。 【解決手段】 溶接箇所からのレーザ散乱光を検出する
光検出部２０と、検出されたレーザ散乱光を電気信号に
変換するフォトダイオード３０と、前記電気信号のレベ
ルから欠陥の有無を検出するための欠陥検出処理装置４
０とを備えた。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ光による溶
接箇所について溶接を行っている状態、すなわちオンラ
インで欠陥の有無を検出するためのレーザ溶接欠陥検出
装置に関する。
接箇所について溶接を行っている状態、すなわちオンラ
インで欠陥の有無を検出するためのレーザ溶接欠陥検出
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】最近、レーザ光を用いたレーザ溶接が実
用化されている。レーザ光によれば、高パワー密度での
溶接が可能であり、特に自動車ボディのような薄い鋼板
の溶接に適している。これまで、レーザ溶接における溶
接欠陥検査は、検査員が目視で行っていることが多い。
しかし、自動車製造のような大量生産ラインでは多くの
箇所の検査が必要であり、目視の場合には検査員の負担
が大きい。そこで、検査員の負担を減らすためのオンラ
イン欠陥計測技術が要求されている。
用化されている。レーザ光によれば、高パワー密度での
溶接が可能であり、特に自動車ボディのような薄い鋼板
の溶接に適している。これまで、レーザ溶接における溶
接欠陥検査は、検査員が目視で行っていることが多い。
しかし、自動車製造のような大量生産ラインでは多くの
箇所の検査が必要であり、目視の場合には検査員の負担
が大きい。そこで、検査員の負担を減らすためのオンラ
イン欠陥計測技術が要求されている。
【０００３】このような要求にこたえる計測技術とし
て、ＣＯ2 ガスレーザ発振器を使用したレーザ溶接にお
いて、溶接箇所から発生するプラズマ光を計測して欠陥
の有無を計測する技術が提案されている。これは、溶接
学会論文集 第１４巻 第４号１９９６年 ｐ６８９〜
６９３に、『テーラードブランク溶接における溶接欠陥
の検出』と題して開示されている。この計測技術は、以
下の原理に基づいている。
て、ＣＯ2 ガスレーザ発振器を使用したレーザ溶接にお
いて、溶接箇所から発生するプラズマ光を計測して欠陥
の有無を計測する技術が提案されている。これは、溶接
学会論文集 第１４巻 第４号１９９６年 ｐ６８９〜
６９３に、『テーラードブランク溶接における溶接欠陥
の検出』と題して開示されている。この計測技術は、以
下の原理に基づいている。
【０００４】レーザ溶接は、レーザ光を金属等の対象ワ
ークに照射して溶融接合するものであり、溶融部分には
プラズマが発生してプラズマ光を放出する。プラズマ光
の計測にはフォトダイオードの使用が一般的であり、そ
の検出範囲は紫外光から近赤外光程度（波長０．２〜
１．２μｍ程度）である。言い換えれば、上記の計測技
術は、プラズマ光の波長がフォトダイオードによる計測
範囲にあることを利用していると言える。
ークに照射して溶融接合するものであり、溶融部分には
プラズマが発生してプラズマ光を放出する。プラズマ光
の計測にはフォトダイオードの使用が一般的であり、そ
の検出範囲は紫外光から近赤外光程度（波長０．２〜
１．２μｍ程度）である。言い換えれば、上記の計測技
術は、プラズマ光の波長がフォトダイオードによる計測
範囲にあることを利用していると言える。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】これに対し、本発明
は、溶接箇所から放出されるプラズマ光以外の光でも欠
陥の検出を可能とするレーザ溶接欠陥検出装置を実現し
ようとするものである。
は、溶接箇所から放出されるプラズマ光以外の光でも欠
陥の検出を可能とするレーザ溶接欠陥検出装置を実現し
ようとするものである。
【０００６】本発明の他の課題は、欠陥の検出をオンラ
インで行うことができ、しかも欠陥の種類の判別をも行
うことができるレーザ溶接欠陥検出装置を実現しようと
するものである。
インで行うことができ、しかも欠陥の種類の判別をも行
うことができるレーザ溶接欠陥検出装置を実現しようと
するものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、レーザ光によ
る溶接箇所について溶接を行っている状態で欠陥の有無
を検出するためのレーザ溶接欠陥検出装置において、溶
接箇所からのレーザ散乱光を検出する光検出手段と、検
出されたレーザ散乱光を電気信号に変換する変換手段
と、前記電気信号のレベルから欠陥の有無を検出するた
めの欠陥検出手段とを備えたことを特徴とする。
る溶接箇所について溶接を行っている状態で欠陥の有無
を検出するためのレーザ溶接欠陥検出装置において、溶
接箇所からのレーザ散乱光を検出する光検出手段と、検
出されたレーザ散乱光を電気信号に変換する変換手段
と、前記電気信号のレベルから欠陥の有無を検出するた
めの欠陥検出手段とを備えたことを特徴とする。
【０００８】なお、前記欠陥検出手段は、前記変換手段
からの電気信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換
器と、前記ディジタル信号からあらかじめ定められた高
周波成分を除去するためのローパスフィルタと、該ロー
パスフィルタの出力を微分して微分信号を出力するため
の微分処理部と、前記ディジタル信号の値が第１のしき
い値Ｌ１を越えているかどうかで第１の欠陥を検出し、
前記ディジタル信号の値が前記第１のしきい値Ｌ１より
も低い第２のしきい値よりも低いかどうかで第２の欠陥
を検出するための第１の処理手段と、前記微分信号の値
が変化量０の場合を基準としてこの値を間にした第３の
しきい値Ｌ３と第４のしきい値Ｌ４（但しＬ３＞Ｌ４）
の範囲を越えているかどうかを検出する第２の処理手段
と、該第２の処理手段の検出結果と前記第１の処理手段
の検出結果とを受けて前記第２の処理手段のみから出力
がある時にこれを第３の欠陥として検出する欠陥種類判
別処理部とを有する。
からの電気信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換
器と、前記ディジタル信号からあらかじめ定められた高
周波成分を除去するためのローパスフィルタと、該ロー
パスフィルタの出力を微分して微分信号を出力するため
の微分処理部と、前記ディジタル信号の値が第１のしき
い値Ｌ１を越えているかどうかで第１の欠陥を検出し、
前記ディジタル信号の値が前記第１のしきい値Ｌ１より
も低い第２のしきい値よりも低いかどうかで第２の欠陥
を検出するための第１の処理手段と、前記微分信号の値
が変化量０の場合を基準としてこの値を間にした第３の
しきい値Ｌ３と第４のしきい値Ｌ４（但しＬ３＞Ｌ４）
の範囲を越えているかどうかを検出する第２の処理手段
と、該第２の処理手段の検出結果と前記第１の処理手段
の検出結果とを受けて前記第２の処理手段のみから出力
がある時にこれを第３の欠陥として検出する欠陥種類判
別処理部とを有する。
【０００９】前記レーザ光としては、ＹＡＧレーザ光で
あることが好ましい。
あることが好ましい。
【００１０】前記光検出手段は、集光レンズと、ＹＡＧ
レーザ光の透過可能な帯域を持つフィルタとを含み、前
記変換手段は、フォトダイオードで構成される。
レーザ光の透過可能な帯域を持つフィルタとを含み、前
記変換手段は、フォトダイオードで構成される。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下に、図面を参照して本発明の
好ましい実施の形態について説明する。図１において、
本形態によるレーザ溶接欠陥検出装置は、レーザ伝送フ
ァイバ１０を通して図示しないレーザ発振器から供給さ
れるレーザ光をレーザトーチ１１で対象ワーク１２に照
射してレーザ溶接を行っている状態で溶接箇所の欠陥の
有無をオンラインで検出するものである。レーザ溶接欠
陥検出装置は、溶接箇所からのレーザ散乱光を検出する
光検出部２０と、検出されたレーザ散乱光を電気信号に
変換して計測信号として出力するフォトダイオード３０
と、計測信号を増幅するアンプ３１と、増幅された計測
信号のレベルから欠陥の有無を検出するための欠陥検出
処理装置４０と、検出された欠陥をその種別に応じて表
示する表示装置５０と、検出された欠陥をその種別に応
じて記憶する記憶装置６０とを備えている。
好ましい実施の形態について説明する。図１において、
本形態によるレーザ溶接欠陥検出装置は、レーザ伝送フ
ァイバ１０を通して図示しないレーザ発振器から供給さ
れるレーザ光をレーザトーチ１１で対象ワーク１２に照
射してレーザ溶接を行っている状態で溶接箇所の欠陥の
有無をオンラインで検出するものである。レーザ溶接欠
陥検出装置は、溶接箇所からのレーザ散乱光を検出する
光検出部２０と、検出されたレーザ散乱光を電気信号に
変換して計測信号として出力するフォトダイオード３０
と、計測信号を増幅するアンプ３１と、増幅された計測
信号のレベルから欠陥の有無を検出するための欠陥検出
処理装置４０と、検出された欠陥をその種別に応じて表
示する表示装置５０と、検出された欠陥をその種別に応
じて記憶する記憶装置６０とを備えている。
【００１２】本形態では、レーザ発振器としてＹＡＧレ
ーザ発振器を用いる。これは、ＹＡＧレーザによる溶接
において溶接箇所から放出されるレーザ散乱光は欠陥に
対して明確に特徴が現れるという点に着目している。し
かも、ＹＡＧレーザは、波長が１．０６μｍであるた
め、その散乱光をフォトダイオード３０でも検出できる
という利点もある。このような観点から、光検出部２０
は、集光レンズ２１と、ＹＡＧレーザ散乱光の透過可能
な帯域を持つフィルタ２２とから成る。
ーザ発振器を用いる。これは、ＹＡＧレーザによる溶接
において溶接箇所から放出されるレーザ散乱光は欠陥に
対して明確に特徴が現れるという点に着目している。し
かも、ＹＡＧレーザは、波長が１．０６μｍであるた
め、その散乱光をフォトダイオード３０でも検出できる
という利点もある。このような観点から、光検出部２０
は、集光レンズ２１と、ＹＡＧレーザ散乱光の透過可能
な帯域を持つフィルタ２２とから成る。
【００１３】欠陥検出装置４０は、図２を参照して、増
幅された計測信号をディジタル信号に変換するためのＡ
／Ｄ変換器４１と、ＣＰＵ４２、及び高速信号処理プロ
セッサ４３とから成り、あらかじめ決められている欠陥
検出処理アルゴリズムに従って欠陥検出処理を行う。こ
のような構成自体は、信号処理装置として一般的であ
り、パーソナルコンピュータを利用して容易に実現でき
る。
幅された計測信号をディジタル信号に変換するためのＡ
／Ｄ変換器４１と、ＣＰＵ４２、及び高速信号処理プロ
セッサ４３とから成り、あらかじめ決められている欠陥
検出処理アルゴリズムに従って欠陥検出処理を行う。こ
のような構成自体は、信号処理装置として一般的であ
り、パーソナルコンピュータを利用して容易に実現でき
る。
【００１４】ＣＰＵ４２及び高速信号処理プロセッサ４
３を機能ブロック図で表すと、図３のようになる。すな
わち、Ａ／Ｄ変換器４１からのディジタル化された計測
信号を受けて後述する処理を行うと共に、ディジタルロ
ーパスフィルタ４５、微分処理部４６を通して送られて
くる信号を受けて後述する処理を行う欠陥検出処理部４
７を含む。ディジタルローパスフィルタ４５は、ディジ
タル化された計測信号からあらかじめ定められた高周波
成分を除去するためのものであり、微分処理部４６は、
ディジタルローパスフィルタ４５の出力を微分して微分
信号を出力するためのものである。なお、図中破線で示
すディジタルバンドパスフィルタ４４は省略されても良
い。
３を機能ブロック図で表すと、図３のようになる。すな
わち、Ａ／Ｄ変換器４１からのディジタル化された計測
信号を受けて後述する処理を行うと共に、ディジタルロ
ーパスフィルタ４５、微分処理部４６を通して送られて
くる信号を受けて後述する処理を行う欠陥検出処理部４
７を含む。ディジタルローパスフィルタ４５は、ディジ
タル化された計測信号からあらかじめ定められた高周波
成分を除去するためのものであり、微分処理部４６は、
ディジタルローパスフィルタ４５の出力を微分して微分
信号を出力するためのものである。なお、図中破線で示
すディジタルバンドパスフィルタ４４は省略されても良
い。
【００１５】欠陥検出処理部４７は更に、図４に示す機
能ブロック図で表すことができる。すなわち、ディジタ
ル化された計測信号を受けてそのレベル（ディジタル
値）が後述する第１のしきい値Ｌ１を越えているかどう
かで第１の欠陥を検出し、ディジタル化された計測信号
のレベルが第１のしきい値Ｌ１よりも低い第２のしきい
値Ｌ２よりも低いかどうかで第２の欠陥を検出するため
の第１の処理部４７−１と、微分信号を受けてそのレベ
ルが後述する第３のしきい値Ｌ３と第４のしきい値Ｌ４
との範囲を越えているかどうかを検出するための第２の
処理部４７−２と、第１の処理部４７−１の検出結果と
第２の処理部４７−２の検出結果とを受けて、第１のし
きい値Ｌ１と第２のしきい値Ｌ２との間で所定値以上の
変化を呈する第３の欠陥を検出するための欠陥種類判別
処理部４７−３とを有する。
能ブロック図で表すことができる。すなわち、ディジタ
ル化された計測信号を受けてそのレベル（ディジタル
値）が後述する第１のしきい値Ｌ１を越えているかどう
かで第１の欠陥を検出し、ディジタル化された計測信号
のレベルが第１のしきい値Ｌ１よりも低い第２のしきい
値Ｌ２よりも低いかどうかで第２の欠陥を検出するため
の第１の処理部４７−１と、微分信号を受けてそのレベ
ルが後述する第３のしきい値Ｌ３と第４のしきい値Ｌ４
との範囲を越えているかどうかを検出するための第２の
処理部４７−２と、第１の処理部４７−１の検出結果と
第２の処理部４７−２の検出結果とを受けて、第１のし
きい値Ｌ１と第２のしきい値Ｌ２との間で所定値以上の
変化を呈する第３の欠陥を検出するための欠陥種類判別
処理部４７−３とを有する。
【００１６】図５に典型的な溶接欠陥を含んだ計測信号
波形を示す。ここでは、３種類の欠陥、、を含ん
でおり、その種類により波形の形や特徴が異なる。以下
に、欠陥検出処理アルゴリズムについて説明する。第１
の欠陥検出処理部４７−１による欠陥検出の処理は、図
５に示すように、良好な溶接時の波形のレベル（レーザ
散乱光強度に相当する）を間にして上下にそれぞれ第１
のしきい値Ｌ１、第２のしきい値Ｌ２を設定し、計測信
号のレベルが第１のしきい値Ｌ１を越えると第１の欠陥
と判別し、計測信号のレベルが第２のしきい値Ｌ２よ
りも低下すると第２の欠陥と判別する。これにより、
第１、第２の欠陥、を検出できる。
波形を示す。ここでは、３種類の欠陥、、を含ん
でおり、その種類により波形の形や特徴が異なる。以下
に、欠陥検出処理アルゴリズムについて説明する。第１
の欠陥検出処理部４７−１による欠陥検出の処理は、図
５に示すように、良好な溶接時の波形のレベル（レーザ
散乱光強度に相当する）を間にして上下にそれぞれ第１
のしきい値Ｌ１、第２のしきい値Ｌ２を設定し、計測信
号のレベルが第１のしきい値Ｌ１を越えると第１の欠陥
と判別し、計測信号のレベルが第２のしきい値Ｌ２よ
りも低下すると第２の欠陥と判別する。これにより、
第１、第２の欠陥、を検出できる。
【００１７】波形の変化が第１、第２のしきい値Ｌ１、
Ｌ２の範囲内であるために、上記の処理で判別できない
第３の欠陥の検出は、図５の波形をディジタルローパ
スフィルタ４５で高周波成分を除去して図６に示すよう
な波形を得た後、微分処理部４６による微分処理で波形
の変化、すなわち傾きを求めて行う。
Ｌ２の範囲内であるために、上記の処理で判別できない
第３の欠陥の検出は、図５の波形をディジタルローパ
スフィルタ４５で高周波成分を除去して図６に示すよう
な波形を得た後、微分処理部４６による微分処理で波形
の変化、すなわち傾きを求めて行う。
【００１８】図７は微分処理結果を示し、第２の処理部
４７−２では変化量０、すなわち傾きが無い時の値を０
としてこれを間にした第３のしきい値Ｌ３と第４のしき
い値Ｌ４（Ｌ３＞Ｌ４）を設定し、微分処理結果が第３
のしきい値Ｌ３と第４のしきい値Ｌ４との間の範囲を越
えている時に欠陥と判別する。ただし、この処理では、
第１、第２の欠陥、も検出されるので、これらと区
別する必要がある。この区別は、欠陥種類判別処理部４
７−３で行われる。欠陥種類判別処理部４７−３は、第
１の処理部４７−１では欠陥が検出されず、第２の処理
部４７−２で欠陥が検出された場合に第３の欠陥と判
別する。
４７−２では変化量０、すなわち傾きが無い時の値を０
としてこれを間にした第３のしきい値Ｌ３と第４のしき
い値Ｌ４（Ｌ３＞Ｌ４）を設定し、微分処理結果が第３
のしきい値Ｌ３と第４のしきい値Ｌ４との間の範囲を越
えている時に欠陥と判別する。ただし、この処理では、
第１、第２の欠陥、も検出されるので、これらと区
別する必要がある。この区別は、欠陥種類判別処理部４
７−３で行われる。欠陥種類判別処理部４７−３は、第
１の処理部４７−１では欠陥が検出されず、第２の処理
部４７−２で欠陥が検出された場合に第３の欠陥と判
別する。
【００１９】このようにして、欠陥検出処理部４７は、
第１〜第３の欠陥〜を検出すると、その種類を示す
データと共に表示装置５０に送出して表示させたり、記
憶装置６０に送出して記憶させる。
第１〜第３の欠陥〜を検出すると、その種類を示す
データと共に表示装置５０に送出して表示させたり、記
憶装置６０に送出して記憶させる。
【００２０】以上の信号処理は、便宜上、バッチ処理的
に説明しているが、実際には計測信号を逐次演算処理し
て連続的に欠陥検出を行う。なお、レーザトーチ１１は
図示しない制御装置により位置制御されて移動するの
で、この位置制御信号を用いて溶接箇所を特定すること
ができる。それゆえ、上記のような欠陥を検出した時、
欠陥の種類だけでなくその発生箇所を示すデータも付加
して表示あるいは記憶させることができることは言うま
でも無い。
に説明しているが、実際には計測信号を逐次演算処理し
て連続的に欠陥検出を行う。なお、レーザトーチ１１は
図示しない制御装置により位置制御されて移動するの
で、この位置制御信号を用いて溶接箇所を特定すること
ができる。それゆえ、上記のような欠陥を検出した時、
欠陥の種類だけでなくその発生箇所を示すデータも付加
して表示あるいは記憶させることができることは言うま
でも無い。
【００２１】以上、本発明をＹＡＧレーザを用いた溶接
の場合について説明したが、本発明は他のレーザ発振
器、例えばＣＯ2 ガスレーザ発振器やエキシマレーザ発
振器を用いたレーザ溶接にも適用可能である。この場
合、光検出部２０はレーザ散乱光の波長に合わせたもの
とし、フォトダイオード３０も他の光電素子に代える必
要がある。例えば、ＣＯ2 ガスレーザ発振器のレーザ光
は、通常、１０．６μｍの波長を有するので、これを検
出できるように光学系の構成や光電素子の選定を行えば
良い。
の場合について説明したが、本発明は他のレーザ発振
器、例えばＣＯ2 ガスレーザ発振器やエキシマレーザ発
振器を用いたレーザ溶接にも適用可能である。この場
合、光検出部２０はレーザ散乱光の波長に合わせたもの
とし、フォトダイオード３０も他の光電素子に代える必
要がある。例えば、ＣＯ2 ガスレーザ発振器のレーザ光
は、通常、１０．６μｍの波長を有するので、これを検
出できるように光学系の構成や光電素子の選定を行えば
良い。
【００２２】
【発明の効果】以上説明してきたように、本発明によれ
ば、レーザ散乱光の強度変化によりオンラインで欠陥の
検出を行うことができ、しかも欠陥の種類の判別をも行
うことができる。したがって、検査員の削減、オンライ
ン計測による検査時間の短縮、検査の自動化による生産
ラインの自動化に大きく寄与することができる。
ば、レーザ散乱光の強度変化によりオンラインで欠陥の
検出を行うことができ、しかも欠陥の種類の判別をも行
うことができる。したがって、検査員の削減、オンライ
ン計測による検査時間の短縮、検査の自動化による生産
ラインの自動化に大きく寄与することができる。
【図１】本発明の好ましい実施の形態の構成を示す図で
ある。
ある。
【図２】図１に示された欠陥検出処理装置の構成を示し
たブロック図である。
たブロック図である。
【図３】図２に示されたＣＰＵと高速信号処理プロセッ
サとの機能ブロック図である。
サとの機能ブロック図である。
【図４】図３に示された欠陥検出処理部の機能ブロック
図である。
図である。
【図５】図１に示されたアンプから得られる計測信号の
一例を示した図である。
一例を示した図である。
【図６】図５の計測信号を図３に示されたディジタルロ
ーパルフィルタを通して得られる信号波形を示した図で
ある。
ーパルフィルタを通して得られる信号波形を示した図で
ある。
【図７】図６の信号を図３に示された微分処理部を通し
て得られる信号波形を示した図である。
て得られる信号波形を示した図である。
１０ レーザ伝送ファイバ １１ レーザトーチ １２ 対象ワーク ２０ 光検出部 ２１ 集光レンズ ２２ フィルタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｈ０１Ｓ 3/16 Ｈ０１Ｓ 3/16
Claims (4)
- 【請求項１】 レーザ光による溶接箇所について溶接を
行っている状態で欠陥の有無を検出するためのレーザ溶
接欠陥検出装置において、 溶接箇所からのレーザ散乱光を検出する光検出手段と、 検出されたレーザ散乱光を電気信号に変換する変換手段
と、 前記電気信号のレベルから欠陥の有無を検出するための
欠陥検出手段とを備えたことを特徴とするレーザ溶接欠
陥検出装置。 - 【請求項２】 請求項１記載のレーザ溶接欠陥検出装置
において、前記欠陥検出手段は、 前記変換手段からの電気信号をディジタル信号に変換す
るＡ／Ｄ変換器と、 前記ディジタル信号からあらかじめ定められた高周波成
分を除去するためのローパスフィルタと、 該ローパスフィルタの出力を微分して微分信号を出力す
るための微分処理部と、 前記ディジタル信号の値が第１のしきい値Ｌ１を越えて
いるかどうかで第１の欠陥を検出し、前記ディジタル信
号の値が前記第１のしきい値Ｌ１よりも低い第２のしき
い値よりも低いかどうかで第２の欠陥を検出するための
第１の処理手段と、 前記微分信号の値が変化量０の場合を基準としてこの値
を間にした第３のしきい値Ｌ３と第４のしきい値Ｌ４
（但しＬ３＞Ｌ４）の範囲を越えているかどうかを検出
する第２の処理手段と、 該第２の処理手段の検出結果と前記第１の処理手段の検
出結果とを受けて前記第２の処理手段のみから出力があ
る時にこれを第３の欠陥として検出する欠陥種類判別処
理部とを有することを特徴とするレーザ溶接欠陥検出装
置。 - 【請求項３】 請求項２記載のレーザ溶接欠陥検出装置
において、前記レーザ光は、ＹＡＧレーザ光であること
を特徴とするレーザ溶接欠陥検出装置。 - 【請求項４】 請求項３記載のレーザ溶接欠陥検出装置
において、前記光検出手段は、集光レンズと、ＹＡＧレ
ーザ光の透過可能な帯域を持つフィルタとを含み、前記
変換手段は、フォトダイオードで構成されることを特徴
とするレーザ溶接欠陥検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21322397A JP3385502B2 (ja) | 1997-08-07 | 1997-08-07 | レーザ溶接欠陥検出装置及び検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21322397A JP3385502B2 (ja) | 1997-08-07 | 1997-08-07 | レーザ溶接欠陥検出装置及び検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1158046A true JPH1158046A (ja) | 1999-03-02 |
| JP3385502B2 JP3385502B2 (ja) | 2003-03-10 |
Family
ID=16635582
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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