JPH1151757A - 電子式秤量装置 - Google Patents
電子式秤量装置Info
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- JPH1151757A JPH1151757A JP21976097A JP21976097A JPH1151757A JP H1151757 A JPH1151757 A JP H1151757A JP 21976097 A JP21976097 A JP 21976097A JP 21976097 A JP21976097 A JP 21976097A JP H1151757 A JPH1151757 A JP H1151757A
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Abstract
式秤量装置において、校正を過不足なく行なう。 【解決手段】 重量表示Wpと温度Tとの関係を予め多
点の温度で測定し、この結果を曲線として記憶してお
く。また重量表示Wpの最大許容誤差emを設定し、温
度T1(基準温度TQ1)において校正を行い、かつこ
の第1回校正時の基準温度TQ1を基準としてこの最大
許容誤差emと前記曲線とから最大許容誤差emとなる
温度TH1とTL1を設定し記憶する。温度検知装置は
測定温度Tがこの校正温度TH1又はTL1となった時
に校正を行なう。また校正を行なった校正温度TH1又
はTL1を次の基準温度TQ2とし、前記と同様最大許
容誤差emと記憶する曲線から次回の校正温度TH2又
はTL2を設定記憶する。この手順を順次行なうことに
より、必ず最大許容誤差em内で校正を過不足なく行な
う。
Description
る電子式の秤量装置に係り、特に校正を過不足なく行な
うよう校正時期を設定する電子式秤量装置に関する。
の荷重と平衡する電磁力を発生させてこの秤量物の荷重
を計測する電磁平衡式秤量装置(以下「電子天秤」とす
る)にあっては、電磁部の温度依存特性が重量表示の出
力に大きく影響する。ここで、上記電子天秤は下記式で
示される原理に基づいて秤量物の荷重が測定される。 F=kIB F:付加された荷重と釣り合う力 I:前記力Fを発生させるための電流 B:電磁部のマグネットの磁束密度 k:定数
に線図TB´として示す如く−200〜−300ppm/℃
の温度係数を有している。ここで上記式から所定の荷重
と釣り合う力Fと定数kは一定であるので、上記磁束密
度Bの温度依存性に対応して、電流Iは逆に+200〜
+300ppm/℃の温度係数を持つことになる。つまりこ
のことは、電子天秤に付加された荷重に対する重量表示
Wが図8(B)において線図TW´として示すように+
200〜+300ppm/℃の温度係数をもってしまうこと
を意味する。
の高精度の電子天秤であれば、分解能は200万分の1
となるが、この電子天秤の場合には上記温度係数を有す
る場合、表示が+400〜600カウント/℃(1カウ
ント=0.5ppm )となってしまい、このままでは使用
に耐えない。このため温度補正が行なわれる。しかし、
温度補正の調整時の誤差、例えば温度設定の誤差、調整
時の空気の流動、振動等による誤差等のため、補正によ
って温度係数を完全に0ppm とすることはできない。例
えば図9の線図TWa、TWbで示すように温度補正に
よっても±2ppm /℃の温度係数が残ったとすると、上
記高精度電子天秤では±4カウント/℃の誤差が発生し
てしまう。このため、上記高精度の電子天秤を始めとし
て比較的高い精度を要求される秤量装置では、校正分銅
が内蔵されており、秤量装置の周囲の温度が予め定めら
れた量変化した時に自動的に内蔵の校正分銅により校正
が行なわれるようになっている。
を示す。即ち、一定の温度ΔTβの変化に対応して温度
T0 、T1 ・・・・T4 において校正が行なわれる。こ
の校正によりTWa或いはTWbに沿って重量表示Wが
変化するのを、TWsで示す適正表示(温度係数0ppm
)を中心として一定の許容値Eの範囲内に入るよう校
正を行なう。このように校正時期を設定することにより
校正は適正に行なわれ、重量表示のずれは常時許容値内
となり適正な表示が行なわれるはずである。
実施方法では不要な校正を行なったり、反対に必要な校
正が行なわれなくなる等の問題が生じるのである。これ
は、マグネットの磁束密度の温度特性が実際には図8に
示すような直線TB´ではなく、図11(A)に示すよ
うに僅かに曲線を描いた曲線TBとなること、従って同
図(B)に示されるように重量表示も直線TW´ではな
く実際には曲線TWとなることに由来する。
前記の場合と同様±2ppm/℃の誤差が残ったとすると、
図9に示す直線TWa(+2ppm/℃) 、直線TWb(−
2ppm/℃) 、直線TWs(0ppm/℃) とはならず、図1
2に示す如く曲線Ta、曲線Tb、曲線Tbとなる。こ
のような曲線において前記の方法によって校正を行なう
と次のような問題が生じる。
じる場合を例にとると、図13に示すように温度T0 か
らT2 の間では、重量表示は真値JWにほぼ等しい表示
出力となっているにも係わらず不要な校正動作を行なう
ことになってしまう。また反対に例えば温度T3 とT4
の間では重量表示は急激に立ち上がる曲線Taに沿って
急激に変化し、例えば時間T4 直前のT4 ´では許容値
を越える誤差が出ているにもかかわらず、校正が行なわ
れない事態が生じる。
cに沿って変化する場合には重量表示は例えば温度T0
とT1 の間では急激に下降する曲線Tc に沿って急激に
変化し、例えば時間T1 直前のT1 ´では許容値を越え
る誤差が出ているにもかかわらず、校正が行なわれない
事態が生じる。また温度温度T2 からT4 の間では、重
量表示は真値JWにほぼ等しい表示出力となっているに
も係わらず不要な校正動作を行なうことになってしま
う。
重量表示を行なうために過不足無く校正を行なうことが
できず、不要な校正を行なったり反対に必要な時に校正
が行なわれない場合が生じる。
鑑み構成されたものであり、先ず温度変化に対する重量
表示の変化は直線ではなく実際には曲線として現れるこ
とを前提とし、秤量装置の有する実際の温度特性を記憶
する手段と、この記憶手段の曲線に基づいて校正時期を
定める演算部とを有し、演算部は、第1回の校正時の温
度を第1の基準温度とし、記憶されている曲線に基づき
予め定められた重量表示の最大許容誤差に対応しかつ当
該第1の基準温度から増加した側の第2回校正温度、及
び最大許容誤差に対応しかつ基準温度から減少した側の
第2回校正温度をそれぞれ設定する手段と、測定温度が
上記増加側の第2回校正温度或いは減少側の第2回校正
温度となった時に校正動作信号を発する手段と、この校
正動作信号を発した第2回校正温度を第2の基準温度に
設定する手段と、第2の基準温度に対して前記記憶され
ている曲線に基づき前記重量表示の最大許容誤差に対応
しかつ当該第2の基準温度から増加した側の第3回校正
温度、及び同様に第2の基準温度から減少した側の第3
回校正温度を新たに設定する手段と、以後同様に第n番
の基準温度に対して前記記憶されている曲線に基づき前
記重量表示の最大許容誤差に対応しかつ当該第n回の基
準温度から増加した側の第n+1回校正温度、及び同様
に第n番の基準温度から減少した側の第n+1回校正温
度を新たに設定する手段とを有することにより、実際に
校正を行なった校正温度を順次基準温度として、次回の
校正温度を順次差し替えて校正時期を設定するようよう
構成したことを特徴とする秤量装置である。
には、個々の温度で測定され、かつ曲線で表示された重
量表示の特性(温度特性)が記憶される。秤量装置は温
度検知手段、自動校正装置、演算部を有し、温度検知手
段は秤量装置、特に温度依存性を有する電磁部の温度を
測定している。
準温度として、次回の校正を行なう温度が、記憶手段に
記憶されている曲線と、予め定められた最大許容誤差と
からこの基準温度から増加した側における第2回校正温
度、及び最大許容誤差に対応しかつ基準温度から減少し
た側における第2回校正温度をそれぞれ設定する。測定
温度が増加側又は減少側の何れかの第2回校正温度とな
ったならば演算部は自動校正装置に対して信号を発して
自動校正を行い、かつ第2回の校正を行なった温度を第
2の基準温度として取り込む。
に基づいて、前記最大許容誤差に対応してこの第2の基
準温度から増加した側における第3回校正温度、及び最
大許容誤差に対応しかつ基準温度から減少した側におけ
る第3回校正温度をそれぞれ設定し、前の基準温度及び
校正温度と差し替える。この様にして実際に校正を行な
った次回の校正温度を第3、第4の基準温度とすること
により校正温度を算出しして前回の校正温度と差替え、
差し替えた校正温度を基準として順次校正を行なう。
る電子天秤を示す。同装置において、装置本体1の重量
検出部2から電流として出力された荷重検出値は基準抵
抗R1にて電圧ΔVに変換され、A/D変換部3に入力
される。同A/D変換部3は基準電圧SV1 により前記
電圧ΔVに応じたデジタル値に変換し、このデジタル値
を演算部として中心的機能を果たす中央処理装置(CP
U)4に出力する。
けられ、温度センサ5の検知信号は別のA/D変換部6
に出力され、かつ同A/D変換部6において基準電圧S
V2により前記温度信号に応じたデジタル値に変換し、
このデジタル値が中央処理装置(CPU)4に出力され
る。7は測定値や各種設定値等を表示する表示器、8は
キイスイッチ等の設定手段、9は記憶手段である。
な校正を行なうため、次のようなデータが設定記憶され
る。即ち、対象の電子天秤に対して温度調整を行い、温
度補正を行なう。この場合前記図12に示したように補
正の後でも曲線Ta(図2の場合)、曲線Tc(図3の
場合)等のように誤差が曲線として現れる。
性)を測定する。この測定は電子天秤の使用者が行なう
ことも可能であるが、多点で温度測定を行う方法を採用
する場合には精密な温度制御が必要であり、この様な制
御を行なうことが一般的には困難である使用者の段階で
はその実施に無理があると考えられる。このため製品出
荷前に測定を行い、この測定結果を記憶手段に9に記憶
させた後に出荷するのが望ましい。また高精度の電子天
秤の場合にはメカニズム部分、回路部分の微妙な相違が
器差として影響する可能性が高いので、個々の装置に対
してそれぞれ補正誤差の測定を行い、この測定結果を各
電子天秤の記憶手段にそれぞれ記憶させるのが最も望ま
しい。
1℃刻みとして、各温度Tと重量表示Wpとの関係を一
点一点実測し、この20点のデータを記憶手段9に対し
て曲線Ta、Tc等として取り込む。また例えば前記1
0℃〜30℃の範囲で複数点(三点程度)の温度を選ん
で実測し、前記曲線Ta、Tcを予測する方法もある。
この方法であれば記憶されるデータの信頼性がやや低下
するものの電子天秤の使用者の段階でも実施可能であ
る。
ータの差替えの場合には有利である。即ち、電子天秤の
マグネットの経年変化等により温度特性そのものが時間
の変化と共に変化する可能性があるが、この場合でもそ
の温度特性自体、即ちその温度特性が曲線Ta、Tc或
いはTb(図12参照)の何れかで変化するかは基本的
には変わらない。このため、予め温度特性が判明してい
る場合には、以後数点の温度で重量表示Wpを出力する
ことにより、当該測定温度において予め記織していた曲
線(例えば曲線Ta)における重量表示Wpの値と変化
したならば、経年変化が生じたものとして新しい曲線に
Ta´に差し替える等の方法が実施可能となる。
は、実際には前記曲線Ta、Tb、Tcに基づいて、例
えば以下に示すように各温度域に対する重量表示Wpの
値として記憶される。なおこの例は秤量200g、最小
表示0.1mgの精度200万分の1の電子天秤を想定
し、この場合のTa特性を示す。 〔左側は温度Tの温度域(℃)、右側の数値は重量表示
Wp(g)を示す〕 (1) 10.0≦T<10.1 200.00000 (2) 10.1≦T<10.2 200.00000 (3) 10.2≦T<10.3 200.00001 (4)〜(N−3 )は省略 (N−2)29.7≦T<29.8 200.00392 (N−1)29.8≦T<29.9 200.00396 (N) 29.9≦T<30.0 200.00400
1のステップS1と第2のステップS2を実施したこと
になる。次に重量表示Wpの最大許容誤差emを設定
し、この数値をキイスイッチ等の入力手段8を用いて記
憶させる(S3)。この最大許容誤差emの設定終了後
に校正を行ない、この校正時の温度T1を第1の基準温
度TQ1として記憶する(S4)。なお、最大許容誤差
emは、例えば前述の秤量200g/精度200万分の
1の電子天秤であれば、例えばem=6カウント(3pp
m )程度に設定するのが望ましい。
図4に示す曲線Taであるとすれば、図4に示すように
この曲線Taに基づき、前記最大許容誤差emとなる温
度T2(次回校正温度TH1とする)とT0(次回校正
温度TL1)を求め、これを記憶する(S5)。ここで
温度TH1は、図4から前記基準温度TQ1よりも増加
した側で最大許容誤差emに対応する温度であり、同様
に温度TL1は、前記基準温度TQ1よりも減少した側
で最大許容誤差emに対応する温度である。以下後続ス
テップの場合も同様にTHnは基準温度TQnに対して
増加側の次回校正温度、TLnは同基準温度TQnに対
して減少側の次回校正温度を示す。
1、TL1が具体的に定まった状態で、温度センサ5は
温度の測定を行なっており、CPU4はこの測定温度T
が前記次回校正温度TH1及びTL1の範囲内であるか
否かを監視(S6、S7)し、当該温度範囲内であれば
校正を行なわず(S8)、最初に設定した状態を保持し
て荷重測定をおこなう。
の何れかとなったときは、CPU4は校正信号を発し、
内蔵分銅駆動装置10を作動させて自動校正を行なう
(S9)。この場合、例えば測定温度Tが上昇し、図4
で示す次回校正温度TH1である温度T2になったとす
るならば、この温度T2を第2の基準温度TQ2として
記憶する(S10)。
の基準温度TQ2(温度T2)を基準として、曲線Ta
から前記最大許容誤差emとなる温度T3(次回校正温
度TH2)とT1(次回校正温度TL2)を求め、これ
を記憶する(S11)。因みに最大許容誤差emは不変
であるため、この場合は前回の基準温度TQ1である温
度T1が低温側の次回校正温度TL2として設定される
ことになる。
更に温度が上昇し、前回の高温側次回校正温度T3に至
り、この温度T3において校正を行なった状態を示す。
従ってこの場合は当該温度T3が基準温度TQ3とな
る。高温側では曲線Taのカーブがきつくなるため、次
回の校正温度TH3、TL3ともにこの基準温度TQ3
に近接し、比較的僅かな温度変化で更に次回の校正が行
なわれることになる。
し、かつ校正を行なった際の温度を次回の基準温度とす
ることにより校正の度毎に次回の校正を行なうべき温度
(次回校正温度)を差し替える。なお、このようして順
次自動校正を行なう外、操作者が適宜手動で校正を行な
うことも可能である。この場合には入力手段8の校正ボ
タンを作動させる等により適宜校正を行なうが、この場
合にはこの手動校正時の温度を基準温度TQnとして次
回校正温度THn、TLnを新たに設定し、次回校正温
度THn、TLnとなったときに順次校正を行なう。従
って操作者が自己の判断で校正を行なうことはもとより
可能であり、またこの様な操作は当然のことながら自動
校正動作に悪影響を与えるものではない。
づき、予め定められた最大許容誤差emに対応する次回
校正温度を順次設定することにより、校正は温度の変化
量とは関わりなく必ず最大許容誤差emに対応する温度
で開始される。従って一定量の温度変化により校正が開
始される従来装置に比較して、不必要な校正動作が生じ
たり、或いは必要な校正が行なわれない等の問題が生じ
ることはなく、常時過不足なく校正が行なわれる。
ステリシスを有する場合には、このヒステリシスを示す
複数の曲線を予め設定してこれを記憶手段に記憶させ、
重量表示に対する最大許容誤差の発生が基準温度に対し
て温度増加によるものと温度減少によるものとで使用す
る曲線を選択し、この選択した曲線により次校正温度を
設定することによって、上記ヒステリシスも考慮したよ
り精密な次回校正タイミングの設定を行なうことも可能
である。
あることを前提に説明したが、曲線Tb、Tcの場合で
も同様の順序で適正な校正タイミングを設定することが
できる。
の温度依存特性に基づく校正の外、基準抵抗値の温度特
性、電圧レファレンス素子の有する温度特性等による重
量表示特性の補正に関してもそのまま利用可能であるこ
とは当業者であれば容易に想到することができるもので
ある。因みに上記基準抵抗値の温度特性、電圧レファレ
ンス素子の有する温度特性の何れもその特性は温度変化
に対して直線ではなく、曲線を描くことが知られてい
る。
装置では、予め実測されかつ記憶された温度特性曲線に
基づき、定められた最大許容誤差に対応する校正開始温
度を設定することにより、校正は温度の変化量とは関わ
りなく必ず最大許容誤差に対応する温度で開始される。
このため不必要な校正動作が生じたり、或いは必要な校
正が行なわれない等の問題が生じることはなく、常時過
不足なく校正が行なわれ、重量表示はより正確となり、
秤量装置の信頼性をより向上させることが可能となる。
ある。
表示する図である。
線を表示する図である。
状態を説明する線図である。
状態を説明する線図である。
状態を説明する線図である。
のフローを示すフローチャートである。
磁束密度との関係を示す線図、(B)は従来直線として
想定された温度変化と重量表示との関係を示す線図であ
る。
した状態において温度変化に対する重量表示の変化を直
線として想定した線図である。
校正時期を設定する方法を示す線図である。
は曲線として変化することを示す線図、(B)は前記図
8の(B)に対応し、実際には曲線として変化すること
を示す線図である。
ることを示す温度変化に対する重量表示の変化曲線であ
る。
として従来方法による校正時期決定方法を実施した際の
校正温度と重量表示誤差との関係を示す線図である。
として従来方法による校正時期決定方法を実施した際の
校正温度と重量表示誤差との関係を示す線図である。
Claims (7)
- 【請求項1】 内蔵分銅により自動校正を行なう機能を
有する秤量装置において、秤量装置の有する実際の温度
特性を示す曲線を記憶する手段と、この記憶手段が記憶
した曲線に基づいて校正時期を定める演算部とを有し、
演算部は、第1回の校正時の温度を第1の基準温度と
し、前記記憶されている曲線に基づき予め定められた重
量表示の最大許容誤差に対応しかつ当該第1の基準温度
から増加した側の第2回校正温度と、当該最大許容誤差
に対応しかつ基準温度から減少した側の第2回校正温度
とをそれぞれ設定する手段と、測定温度が上記増加側の
第2回校正温度或いは減少側の第2回校正温度となった
時に校正動作信号を発する手段と、この校正動作信号を
発した第2回校正温度を第2の基準温度に設定する手段
と、第2の基準温度に対して前記記憶されている曲線に
基づき前記重量表示の最大許容誤差に対応しかつ当該第
2の基準温度から増加した側の第3回校正温度、及び同
様に第2の基準温度から減少した側の第3回校正温度を
新たに設定する手段と、以後同様に第n番の基準温度に
対して前記記憶されている曲線に基づき前記重量表示の
最大許容誤差に対応しかつ当該第n番の基準温度から増
加した側の第n+1回校正温度、及び同様に第n番の基
準温度から減少した側の第n+1回校正温度を新たに設
定する手段とを有することにより、実際に校正を行なっ
た校正温度を順次基準温度として、次回の校正温度を順
次差し替えるよう構成したことを特徴とする電子式秤量
装置。 - 【請求項2】 前記秤量装置の有する温度特性を示す曲
線は、温度に対する重量表示の変化を示す曲線でかつ予
め定められた補正値により表示誤差を低減した温度−重
量表示曲線であることを特徴とする請求項1記載の電子
式秤量装置。 - 【請求項3】 前記秤量装置は電子天秤であって、秤量
装置の有する温度特性は、温度変化に対する電磁部マグ
ネットの磁束密度の変化に対応する重量表示の変化曲線
として示される温度特性であることを特徴とする請求項
1又は2記載の電子式秤量装置。 - 【請求項4】 前記秤量装置は電子天秤であって、秤量
装置の有する温度特性は、電磁部から出力される荷重信
号をA/D変換するためのA/D変換部に対して基準電
圧を出力する電圧レファレンス素子の有する温度変化特
性に対応する重量表示の変化曲線として示される温度特
性であることを特徴とする請求項1又は2記載の電子式
秤量装置。 - 【請求項5】 前記秤量装置は電子天秤であって、秤量
装置の有する温度特性は、電磁部から出力される電流を
電圧に変化するための基準抵抗の有する温度変化特性に
対応する重量表示の変化曲線として示される温度特性で
あることを特徴とする請求項1又は2記載の電子式秤量
装置。 - 【請求項6】 人為的に校正が行なわれたとき、この校
正時の温度を基準温度として取込み、この基準温度と最
大許容誤差とに次回の校正温度を設定することを特徴と
する請求項1記載の電子式秤量装置。 - 【請求項7】 前記秤量装置の有する温度特性を示す曲
線は、温度変化に対するヒステリシスを前提とする複数
の曲線として記憶手段に記憶されていることを特徴とす
る請求項1記載の電子式秤量装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21976097A JP3753208B2 (ja) | 1997-08-01 | 1997-08-01 | 電子式秤量装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21976097A JP3753208B2 (ja) | 1997-08-01 | 1997-08-01 | 電子式秤量装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1151757A true JPH1151757A (ja) | 1999-02-26 |
JP3753208B2 JP3753208B2 (ja) | 2006-03-08 |
Family
ID=16740581
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21976097A Expired - Lifetime JP3753208B2 (ja) | 1997-08-01 | 1997-08-01 | 電子式秤量装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP3753208B2 (ja) |
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-
1997
- 1997-08-01 JP JP21976097A patent/JP3753208B2/ja not_active Expired - Lifetime
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JP3753208B2 (ja) | 2006-03-08 |
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