JPH1143774A - 薄膜気相成長装置 - Google Patents

薄膜気相成長装置

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JPH1143774A
JPH1143774A JP21134197A JP21134197A JPH1143774A JP H1143774 A JPH1143774 A JP H1143774A JP 21134197 A JP21134197 A JP 21134197A JP 21134197 A JP21134197 A JP 21134197A JP H1143774 A JPH1143774 A JP H1143774A
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JP
Japan
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substrate
reaction vessel
bottom plate
holding means
thin film
Prior art date
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Pending
Application number
JP21134197A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Shinozaki
弘行 篠崎
Yukio Fukunaga
由紀夫 福永
Kiwamu Tsukamoto
究 塚本
Mitsunao Shibazaki
光直 柴崎
Hiroyuki Kamiyama
浩幸 上山
Takeshi Murakami
武司 村上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ebara Corp
Original Assignee
Ebara Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 大径の基板加熱保持手段であっても、メンテ
ナンスを容易に行うことができるようにした薄膜気相成
長装置を提供する。 【解決手段】 基板搬送口と排気口とを有する気密な反
応容器10と、反応容器内において基板Wを加熱し保持
する基板加熱保持手段12と、基板加熱保持手段12を
反応容器10の下側から反応容器10の底板40を挿通
して支持し、少なくとも成膜位置と搬送位置の間で昇降
させる第1の昇降機構20と、反応容器10の頂部より
基板Wに向けて成膜原料ガスを噴射するガス噴射ヘッド
14を備え、底板40は反応容器10の底部を着脱自在
に覆うとともに、底板40を昇降させる第2の昇降機構
50を設けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は薄膜気相成長装置に
係り、特に、チタン酸バリウム/ストロンチウム等の高
誘電体又は強誘電体薄膜を基板上に気相成長させる薄膜
気相成長装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体産業における集積回路の集
積度の向上はめざましく、現状のメガビットオーダか
ら、将来のギガビットオーダを睨んだDRAMの研究開
発が行われている。かかるDRAMの製造のためには、
小さな面積で大容量が得られるキャパシタ素子が必要で
ある。このような大容量素子の製造に用いる誘電体薄膜
として、誘電率が10以下であるシリコン酸化膜やシリ
コン窒化膜に替えて、誘電率が20程度である五酸化タ
ンタル(Ta25)薄膜、あるいは誘電率が300程度で
あるチタン酸バリウム(BaTiO3)、チタン酸ストロン
チウム(SrTiO3)又はこれらの混合物であるチタン酸
バリウムストロンチウム等の金属酸化物薄膜材料が有望
視されている。
【0003】このような金属酸化物薄膜を基板上に気相
成長させる際には、1又は複数の有機金属化合物の原料
ガスと酸素含有ガスとを混合して、一定の温度に加熱し
た基板に向けて噴射するようにしている。
【0004】このような薄膜気相成長装置として、図5
に示すようなものがある。ここでは、反応容器10の内
部に搬送した基板Wを基板加熱保持手段としての基板ヒ
ータ12上に載置し、この基板ヒータ12によって基板
Wを所定温度に加熱しつつ、反応容器10の上部に設置
した反応ガス供給ヘッド14からガス原料と酸素含有ガ
スとの混合ガスを基板Wに向けて噴射し、反応後のガス
を反応容器10に設けた排気口10aから外部に排気す
るようにしている。
【0005】基板ヒータ12は、円板状の基板ヒータ支
持部材16のほぼ中央に立設された支柱18により支持
されている。そして、基板ヒータ支持部材16は、周縁
部のボールブッシュ26が下方に配置された軸固定板2
2から立設された案内棒24に摺動自在に取り付けられ
て昇降自在に支持されている。軸固定板22には駆動モ
ータ28の駆動に伴って回転するボールねじ30が設け
られ、これは基板ヒータ支持部材16に固着したボール
ナット32と螺合している。
【0006】従って、駆動モータ28の駆動に伴ってボ
ールねじ30が回転し、基板ヒータ支持部材16は案内
棒24を案内として昇降する。これにより、基板ヒータ
12は、ガス供給ヘッド14と対向する成膜位置と、反
応容器10の下部に形成された基板搬送口10bに臨む
搬送位置との間を昇降する。反応容器10と基板ヒータ
支持部材16は、支柱18を包囲するように配置された
伸縮自在なベローズ34によって連結されて、反応容器
10の内部を気密に保っている。
【0007】このような装置により、前述のようなガス
原料を使用して基板W上に薄膜を成長させると、成膜反
応に伴い基板W以外の基板ヒータ12の上面等にも生成
物が付着する。このような付着は、例えば、装置の運転
/停止時のヒートサイクルに応じて剥離し、パーティク
ルの発生や基板Wの汚れを招来する。
【0008】このため、基板ヒータ12の定期的な清掃
等のメンテナンスを行う必要があり、このメンテナンス
を行うため、反応ガス供給ヘッド14を反応容器10か
ら外し、ベローズ34の下側取付フランジを外し、さら
に支柱18の基板ヒータ支持部材16への取付ボルトを
外して、基板ヒータ12を反応容器10から上方に引き
抜くことが一般に行われていた。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】近年、半導体基板が大
径化する傾向にあり、それとともに基板ヒータも大型化
して重量も増大しつつある。従って、従来のように、基
板ヒータのメンテナンス時にこれを反応容器から上部に
取り出す方法は、作業性が悪いという課題があった。
【0010】この発明は上記に鑑み、大径の基板加熱保
持手段であっても、メンテナンスを容易に行うことがで
きるようにした薄膜気相成長装置を提供することを目的
とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、基板搬送口と排気口とを有する気密な反応容器と反
応容器内において基板を加熱し保持する基板加熱保持手
段と該保持手段を前記反応容器の下側から反応容器の底
板を挿通して支持し、少なくとも成膜位置と搬送位置の
間で昇降させる第1の昇降機構と反応容器の頂部より基
板に向けて成膜原料ガスを噴射するガス噴射ヘッドとを
備え前記底板は該反応容器の底部を着脱自在に覆うとと
もに、該底板を昇降させる第2の昇降機構を設けたこと
を特徴とする薄膜気相成長装置である。
【0012】これにより、反応容器の底板を下降させて
反応容器の底部を開放し、基板加熱保持手段を反応容器
の下方まで下降させて該基板加熱保持手段のメンテナン
スを行うことができる。底板と第1の昇降機構とをベロ
ーズを介して気密的に連結するようにしてもよく、これ
により、気密性を維持しつつ被場合加熱保持手段を昇降
することができる。
【0013】請求項2に記載の発明は、前記基板加熱保
持手段と前記底板とを案内する共通の案内棒を設けたこ
とを特徴とする請求項1に記載の薄膜気相成長装置であ
る。案内棒は、通常は複数を対称に配置して安定化さ
せ、また、これらの部材の重量を負担できるように、例
えば、ボールブッシュ構造を用いる。ここで、第1の昇
降機構が第2の昇降機構より下方に位置させてもよい。
また、前記昇降機構はボールねじ機構を有するようにし
てもよい。
【0014】請求項3に記載の発明は、前記第1の昇降
機構と第2の昇降機構がそれぞれ独立に駆動されること
を特徴とする請求項1に記載の薄膜気相成長装置であ
る。これにより、相互の干渉を防いでメンテナンス作業
が容易に行える。
【0015】請求項4に記載の発明は、前記第1の昇降
機構と第2の昇降機構が共通の駆動源により駆動される
ことを特徴とする請求項1に記載の薄膜気相成長装置で
ある。これにより、駆動源を節約して設備コストの低減
を図ることができる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。なお、図5に示す従来例と同一部
材には同一符号を用い、説明を簡略化する。図1及び図
2は、本発明の第1の実施の形態を示すもので、反応容
器10の底部は別体の底板40で着脱自在に塞がれてい
る。すなわち、反応容器10の下端に形成されたフラン
ジ部10cと底板40の周縁部の間に真空シール材等を
介在させて、ボルト等の締結具により締結している。
【0017】軸固定板22には案内棒が立設され、これ
には基板ヒータ支持部材16と底板の双方が摺動自在に
支持されている。すなわち、基板ヒータ支持部材16は
周縁部のボールブッシュ26を案内棒24に挿通させ
て、底板40は周縁部のボールブッシュ26aを案内棒
24に挿通させて昇降自在に支持されている。そして、
軸固定板22と基板ヒータ支持部材16及び軸固定板と
底板の間には、それぞれ独立に軸固定板22と底板40
を昇降駆動する2つのボールねじ機構(昇降機構)2
0,50が設けられている。
【0018】すなわち、両端が反応容器10のフランジ
部10cと軸固定板22に回転自在に支承された2つの
ボールねじ30,30aと、基板ヒータ支持部材16及
び底板40にそれぞれ取り付けられてそれぞれボールね
じ30,30aと螺合するボールナット32,32a
と、軸固定板22に設けられてプーリ42,42a,4
4,44aを介してボールねじ30,30aを回転させ
る2つの駆動モータ28,28aとが設けられている。
【0019】次に、このような構成の薄膜気相成長装置
の作用について説明する。先ず、通常の成膜作業時に
は、底板40と反応容器10の底部フランジ10cとを
ボルト等の締結具により気密に固定しておく。そして、
基板ヒータ昇降機構20を駆動して、基板ヒータ12
を、図において実線で示す成膜位置においた状態で、原
料ガスを噴射ヘッド14より噴射して成膜処理を行い、
図において一点鎖線で示す搬送位置において基板Wの交
換を行なう。
【0020】そして、基板ヒータ12をメンテナンスす
る時には、まず、基板ヒータ昇降機構20を駆動させ
て、基板ヒータ支持部材を例えば搬送位置まで待避させ
る。次に、底板40を反応容器10の止めていた締結具
を取り外し、底板昇降装置50を駆動させて、底板40
を図の2点鎖線で示す停止位置まで下降させる。さら
に、基板ヒータ昇降機構20を駆動させて、基板ヒータ
12を搬送位置より下の、図において2点鎖線で示す位
置まで下降させる。
【0021】これにより、基板ヒータ12は軸固定板2
2と反応容器10の間に露出して保持されるので、メン
テナンスを容易かつ迅速に行うことができる。必要に応
じて底板40を再度降下させて、あるいは場合により上
昇させてメンテナンスの邪魔にならない位置に待避させ
る。なお、上記工程において、基板ヒータ支持部材16
と底板40とを連動させてもよいことは言うまでもな
い。
【0022】図3及び図4は、本発明の第2の実施の形
態を示すもので、この実施の形態は、第1の実施の形態
の基板ヒータ昇降機構20と底板昇降機構50を兼用さ
せることにより底板昇降機構を50を省略し、構成の簡
素化を図ったものである。
【0023】この実施の形態において、基板ヒータ12
をメンテナンスする時には、基板ヒータ昇降機構20で
基板ヒータ支持部材16をそのボールブッシュ26が底
板40のボールブッシュ26aに当接する(図面の点線
で示す)底板保持位置まで一旦上昇させて、底板40の
重量を支持する。そして、底板40を止めていたボルト
等の締結具を取り外し、基板ヒータ昇降機構20を駆動
して、基板ヒータ12と底板40を図の2点鎖線で示す
停止位置まで下降させるようにする。
【0024】なお、成膜位置の基板ヒータ12と噴射ヘ
ッド14の間隔が小さい場合には、ボールブッシュ2
6,26aの間に適当な厚さのスペーサを装着してから
基板ヒータ支持部材16を上昇させると、上昇しろが少
なくて済む。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
反応容器の底板を下降させて反応容器の底部を開放し、
基板加熱保持手段を反応容器の下方まで下降させて該基
板加熱保持手段のメンテナンスを行うことができる。従
って、大径の基板加熱保持手段であっても、メンテナン
スを容易に行うことができるような薄膜気相成長装置を
提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態の概要を示す縦断正
面図である。
【図2】図1の要部の側面図である。
【図3】本発明の第2の実施の形態の概要を示す縦断正
面図である。
【図4】図3の要部側面図である。
【図5】従来例を示す縦断正面図である。
【符号の説明】
10 反応容器 12 基板ヒータ(基板加熱保持手段) 14 反応ガス供給ヘッド 16 基板ヒータ支持部材 20 基板ヒータ昇降機構(第1の昇降機構) 24 案内棒 26,26a ボールブッシュ 28,28a 駆動モータ 30,30a ボールねじ 32,32a ボールナット 34 ベローズ 40 底板 50 底板昇降機構(第2の昇降機構) W 基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 柴崎 光直 東京都大田区羽田旭町11番1号 株式会社 荏原製作所内 (72)発明者 上山 浩幸 東京都大田区羽田旭町11番1号 株式会社 荏原製作所内 (72)発明者 村上 武司 東京都大田区羽田旭町11番1号 株式会社 荏原製作所内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板搬送口と排気口とを有する気密な反
    応容器と、 反応容器内において基板を加熱し保持する基板加熱保持
    手段と、 該保持手段を前記反応容器の下側から反応容器の底板を
    挿通して支持し、少なくとも成膜位置と搬送位置の間で
    昇降させる第1の昇降機構と、 反応容器の頂部より基板に向けて成膜原料ガスを噴射す
    るガス噴射ヘッドとを備え、 前記底板は該反応容器の底部を着脱自在に覆うととも
    に、該底板を昇降させる第2の昇降機構を設けたことを
    特徴とする薄膜気相成長装置。
  2. 【請求項2】 前記基板加熱保持手段と前記底板とを案
    内する共通の案内棒を設けたことを特徴とする請求項1
    に記載の薄膜気相成長装置。
  3. 【請求項3】 前記第1の昇降機構と第2の昇降機構が
    それぞれ独立に駆動されることを特徴とする請求項1に
    記載の薄膜気相成長装置。
  4. 【請求項4】 前記第1の昇降機構と第2の昇降機構が
    共通の駆動源により駆動されることを特徴とする請求項
    1に記載の薄膜気相成長装置。
JP21134197A 1997-07-22 1997-07-22 薄膜気相成長装置 Pending JPH1143774A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004335892A (ja) * 2003-05-09 2004-11-25 Asm Japan Kk 薄膜形成装置
CN103075890A (zh) * 2013-01-29 2013-05-01 杭州士兰明芯科技有限公司 刻蚀烘烤设备升降装置
KR101350998B1 (ko) * 2007-05-23 2014-01-14 세메스 주식회사 기판 가열 유닛 및 이를 갖는 칩 본딩 장치

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JP2004335892A (ja) * 2003-05-09 2004-11-25 Asm Japan Kk 薄膜形成装置
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